JPH0413652Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0413652Y2 JPH0413652Y2 JP1983123665U JP12366583U JPH0413652Y2 JP H0413652 Y2 JPH0413652 Y2 JP H0413652Y2 JP 1983123665 U JP1983123665 U JP 1983123665U JP 12366583 U JP12366583 U JP 12366583U JP H0413652 Y2 JPH0413652 Y2 JP H0413652Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- valve
- sampling
- gas
- sample gas
- metering tube
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案はタール等の高沸点物を含むガスの成分
を測定するガス分析計、例えばプロセスガスクロ
マトグラフのリモートサンプリング装置に関し、
特にサンプリング弁および計量管の洗浄に関する
ものである。
を測定するガス分析計、例えばプロセスガスクロ
マトグラフのリモートサンプリング装置に関し、
特にサンプリング弁および計量管の洗浄に関する
ものである。
ナフサ分解炉出口などから高温度（例300℃〜
400℃）のサンプルガスを採取してその成分を測
定するような場合、精度良く測定するための要件
の一つは、サンプルガス中の非測定成分であるタ
ールをいかに取り除くかにある。
400℃）のサンプルガスを採取してその成分を測
定するような場合、精度良く測定するための要件
の一つは、サンプルガス中の非測定成分であるタ
ールをいかに取り除くかにある。
第１図は従来例におけるサンプリング装置の構
成を示し、１はプロセス流体が流れる管、２は管
１に挿入され、サンプルガスを採取するためのプ
ローブ、３はゲート弁、４は遮断弁である。５は
サンプリングボツクスでこの中には、ガス透過性
膜を用いた第１のフイルタ６、脱脂綿を用いた第
２のフイルタ７、サンプリング弁８、計量管９等
が収納されている。１０はアナライザである。な
おサンプリングボツクス５内は例えば160℃に保
温されている。
成を示し、１はプロセス流体が流れる管、２は管
１に挿入され、サンプルガスを採取するためのプ
ローブ、３はゲート弁、４は遮断弁である。５は
サンプリングボツクスでこの中には、ガス透過性
膜を用いた第１のフイルタ６、脱脂綿を用いた第
２のフイルタ７、サンプリング弁８、計量管９等
が収納されている。１０はアナライザである。な
おサンプリングボツクス５内は例えば160℃に保
温されている。
以上のような構成において、ゲート弁３を通し
て差し込まれたプローブ２から採取されたサンプ
ルガスは、遮断弁４、第１のフイルタ６、第２の
フイルタ７を通りサンプリング弁８へ導かれる。
なお第１のフイルタ６へ導入されたサンプルガス
の一部は矢印Ａ方向へベントする。
て差し込まれたプローブ２から採取されたサンプ
ルガスは、遮断弁４、第１のフイルタ６、第２の
フイルタ７を通りサンプリング弁８へ導かれる。
なお第１のフイルタ６へ導入されたサンプルガス
の一部は矢印Ａ方向へベントする。
サンプリング弁８へ導入されたサンプルガスは
実線で示された経路に沿つて、イ→ロ→計量管９
→ト→チのように流れ矢印Ｂ方向へベントする。
この経路をサンプリング弁８が閉の状態とする。
この時アナライザ１０からはキヤリアガスが矢印
Ｃ方向へ、ハ→ニ→ホ→ヘを経由して矢印Ｄ方向
へ流れている。次にサンプリング弁８が開になる
と、点線で示してある部分が開通し、実線で示し
てある部分が閉塞する。するとサンプルガスの一
部は計量管９内に閉じ込められ、その他のサンプ
ルガスは、イ→チをへて矢印Ｂ方向へバイパスす
る。そして計量管９内のサンプルガスはキヤリア
ガスの経路に従い、矢印Ｃ→ハ→ロ→ト→ヘ→矢
印Ｄのように流れアナライザ１０内に取り込まれ
る。
実線で示された経路に沿つて、イ→ロ→計量管９
→ト→チのように流れ矢印Ｂ方向へベントする。
この経路をサンプリング弁８が閉の状態とする。
この時アナライザ１０からはキヤリアガスが矢印
Ｃ方向へ、ハ→ニ→ホ→ヘを経由して矢印Ｄ方向
へ流れている。次にサンプリング弁８が開になる
と、点線で示してある部分が開通し、実線で示し
てある部分が閉塞する。するとサンプルガスの一
部は計量管９内に閉じ込められ、その他のサンプ
ルガスは、イ→チをへて矢印Ｂ方向へバイパスす
る。そして計量管９内のサンプルガスはキヤリア
ガスの経路に従い、矢印Ｃ→ハ→ロ→ト→ヘ→矢
印Ｄのように流れアナライザ１０内に取り込まれ
る。
前記のような従来例においては、フイルターが
２段がまえで設けられてそれなりの効果をもつて
はいるが十分とは言えず、サンプリング弁８や計
量管９内へ侵入するタール分を完全に阻止するま
でには至らない。
２段がまえで設けられてそれなりの効果をもつて
はいるが十分とは言えず、サンプリング弁８や計
量管９内へ侵入するタール分を完全に阻止するま
でには至らない。
タール分がサンプリング弁８や計量管９内へ侵
入すると水分を強く吸着するので、水分が測定成
分である場合は精度不良の原因となり、また水分
が測定成分でない場合であつてもサンプリングバ
ルブの切換不良や早期破損の原因となる。この様
な精度不良やサンプリングバルブの切換不良を防
止する考案として実公昭56−47557が知られてい
る。この考案は４方切換弁側は水蒸気により洗浄
を行い、試料計量弁側は設けた管路から保温した
不活性ガスを試料と共通な入口側から流して試料
計量部を経由させ排出導管側に流すものである。
入すると水分を強く吸着するので、水分が測定成
分である場合は精度不良の原因となり、また水分
が測定成分でない場合であつてもサンプリングバ
ルブの切換不良や早期破損の原因となる。この様
な精度不良やサンプリングバルブの切換不良を防
止する考案として実公昭56−47557が知られてい
る。この考案は４方切換弁側は水蒸気により洗浄
を行い、試料計量弁側は設けた管路から保温した
不活性ガスを試料と共通な入口側から流して試料
計量部を経由させ排出導管側に流すものである。
しかしながらこの様な洗浄方法において、とく
に試料計量部に侵入する凝縮物が粘性の低いもの
であればそれなりに機能するかもしれないが、例
えばタールなどの様に粘性が高いものが含まれて
いた場合、そのタール分を計量部全体の管路に広
げてしまう事になる。そのため精度向上どころか
精度低下に寄与する事になりかねない。本考案は
この様な不具合や第１図に示すようなサンプリン
グ弁８や計量管９内へタールが侵入する事によつ
て引起こされる不具合を解決する為に成されたも
ので計量管９の排出側から加熱した窒素ガスやエ
タンガスを一定のサンプリング周期毎に吹込んで
サンプリング弁や計量管内に付着したタールをプ
ロセス側に押し戻す事によりランニング時間を長
くして、分析精度の劣化防止をはかるとともに故
障の少ないサンプリング装置を提供する事を目的
としたものである。
に試料計量部に侵入する凝縮物が粘性の低いもの
であればそれなりに機能するかもしれないが、例
えばタールなどの様に粘性が高いものが含まれて
いた場合、そのタール分を計量部全体の管路に広
げてしまう事になる。そのため精度向上どころか
精度低下に寄与する事になりかねない。本考案は
この様な不具合や第１図に示すようなサンプリン
グ弁８や計量管９内へタールが侵入する事によつ
て引起こされる不具合を解決する為に成されたも
ので計量管９の排出側から加熱した窒素ガスやエ
タンガスを一定のサンプリング周期毎に吹込んで
サンプリング弁や計量管内に付着したタールをプ
ロセス側に押し戻す事によりランニング時間を長
くして、分析精度の劣化防止をはかるとともに故
障の少ないサンプリング装置を提供する事を目的
としたものである。
第２図は本考案実施例の構成図である。第２図
において第１図と同一要素には同一符号を付して
その重複説明は省略するが、この例においては第
１図に示すサンプリングボツクス内にパージガス
導入弁１１、余熱管１２、三方継手１３、ベント
弁１４が付加される。（なお、余熱管１２は例え
ば250℃程度に加熱する） 本考案による各弁の動作をサンプリング周期を
例えば10分として第２図、第３図により説明す
る。
において第１図と同一要素には同一符号を付して
その重複説明は省略するが、この例においては第
１図に示すサンプリングボツクス内にパージガス
導入弁１１、余熱管１２、三方継手１３、ベント
弁１４が付加される。（なお、余熱管１２は例え
ば250℃程度に加熱する） 本考案による各弁の動作をサンプリング周期を
例えば10分として第２図、第３図により説明す
る。
まず遮断弁４を２分間開く、このときサンプリ
ング弁８、パージガス導入弁１１は閉じており、
ベント弁１４は開いている。そしてサンプルガス
は第１のフイルター６、第２のフイルター７を経
てサンプリング弁８に入り、実線で示された経路
イ→ロ→計量管９→ト→チのように流れ矢印Ｂ方
向へベントする。２分経過後遮断弁４を閉じ同時
にサンプリング弁を開にする。すると計量管９の
中にサンプルガスが閉じ込められると同時に矢印
Ｃ方向からサンプリング弁のハ→ニ→ホ→ヘの経
路で流れていたキヤリアガスの流れがハ→ロ→計
量管９→ト→ヘのように切換わりサンプルガスを
アナライザ１０内へ取込む。約30秒間経過後サン
プリング弁８を閉にする。サンプリング弁が閉に
なり約30秒経つたらパージガス導入弁１１を開き
パージガスを流し同時にベント弁１４を閉じる。
するとパージガスは余熱管１２、三方継手１３を
経てサンプリング弁８に入り前記サンプルガスの
流れと逆方向にチ→ト→計量管９→ロ→イと流
れ、第２のフイルター７、第１のフイルター６を
通つて矢印Ａ方向へベントする。前記パージガス
６としては例えば窒素ガスやエタンガス等を使用
するが、測定ガスと同じ種類か又は測定ガスに近
い成分のガスが望ましい。パージガスの導入は約
７分間行いこの過程で計量管９やサンプリング弁
８内に付着したタールが除去される。そしてこの
パージが終了したらパージガス導入弁１１を閉
じ、ベント弁１４を開く。次に遮断弁４が開かれ
サンプリングが10分周期で繰り返えされる。
ング弁８、パージガス導入弁１１は閉じており、
ベント弁１４は開いている。そしてサンプルガス
は第１のフイルター６、第２のフイルター７を経
てサンプリング弁８に入り、実線で示された経路
イ→ロ→計量管９→ト→チのように流れ矢印Ｂ方
向へベントする。２分経過後遮断弁４を閉じ同時
にサンプリング弁を開にする。すると計量管９の
中にサンプルガスが閉じ込められると同時に矢印
Ｃ方向からサンプリング弁のハ→ニ→ホ→ヘの経
路で流れていたキヤリアガスの流れがハ→ロ→計
量管９→ト→ヘのように切換わりサンプルガスを
アナライザ１０内へ取込む。約30秒間経過後サン
プリング弁８を閉にする。サンプリング弁が閉に
なり約30秒経つたらパージガス導入弁１１を開き
パージガスを流し同時にベント弁１４を閉じる。
するとパージガスは余熱管１２、三方継手１３を
経てサンプリング弁８に入り前記サンプルガスの
流れと逆方向にチ→ト→計量管９→ロ→イと流
れ、第２のフイルター７、第１のフイルター６を
通つて矢印Ａ方向へベントする。前記パージガス
６としては例えば窒素ガスやエタンガス等を使用
するが、測定ガスと同じ種類か又は測定ガスに近
い成分のガスが望ましい。パージガスの導入は約
７分間行いこの過程で計量管９やサンプリング弁
８内に付着したタールが除去される。そしてこの
パージが終了したらパージガス導入弁１１を閉
じ、ベント弁１４を開く。次に遮断弁４が開かれ
サンプリングが10分周期で繰り返えされる。
上記構成において、タール分はフイルター６お
よび７を通過してサンプリング弁側に徐々に侵入
してくる訳であるが、本考案においてはある一定
時間毎に計量管の排出側から逆方向にパージして
いるのでその侵入速度を緩めることが出来、長期
間にわたつて高精度の測定が可能となる。
よび７を通過してサンプリング弁側に徐々に侵入
してくる訳であるが、本考案においてはある一定
時間毎に計量管の排出側から逆方向にパージして
いるのでその侵入速度を緩めることが出来、長期
間にわたつて高精度の測定が可能となる。
以上実施例と共に具体的に説明した様に、本考
案によれば一定時間毎に計量管の排出側から加熱
した不活性ガスを流し、プロセス側に押し戻す様
にしたので測定精度が高く、サンプリング弁８の
切換不良の起きにくいサンプリング装置を実現で
き、更に余熱管を加熱状態にあるサンプリングボ
ツクス内に配置しているので余熱管の加熱エネル
ギーはこれを常温に配置した場合に比較して少な
くてよく、実用上の効果は大である。
案によれば一定時間毎に計量管の排出側から加熱
した不活性ガスを流し、プロセス側に押し戻す様
にしたので測定精度が高く、サンプリング弁８の
切換不良の起きにくいサンプリング装置を実現で
き、更に余熱管を加熱状態にあるサンプリングボ
ツクス内に配置しているので余熱管の加熱エネル
ギーはこれを常温に配置した場合に比較して少な
くてよく、実用上の効果は大である。
第１図は従来のサンプリング装置を示す構成
図、第２図は本考案によるサンプリング装置を示
す構成図、第３図は弁の動作を示す説明図であ
る。 ４……遮断弁、６……第１のフイルター、７…
…第２のフイルター、８……サンプリング弁、９
……計量管、１１……パージガス導入弁、１２…
…余熱管、１３……三方断手、１４……ベント
弁。
図、第２図は本考案によるサンプリング装置を示
す構成図、第３図は弁の動作を示す説明図であ
る。 ４……遮断弁、６……第１のフイルター、７…
…第２のフイルター、８……サンプリング弁、９
……計量管、１１……パージガス導入弁、１２…
…余熱管、１３……三方断手、１４……ベント
弁。
Claims (1)
- プロセスから採取したサンプルガスが流れる管
路を開閉する遮断弁と、前記サンプルガスが導入
されるサンプリング弁と、該サンプリング弁に接
続された計量管と、少なくとも前記サンプリング
弁および計量管を加熱状態で収納するサンプリン
グボツクスを有し、前記遮断弁が開のときに前記
サンプルガスが前記計量管を通つて流れ、前記サ
ンプリング弁が開のときに前記サンプルガスを前
記計量管に閉じこめ、このサンプルガスをキヤリ
アガスにより搬送する様にしたサンプリング装置
において、前記計量管の排出側の管路に設けられ
たベント弁と、該ベント弁と前記計量管を接続す
る３方弁と、該３方弁に加熱手段を有する管路を
介して接続されたパージガス導入弁と、前記遮断
弁、サンプリング弁、ベント弁およびパージガス
導入弁の開閉を制御するサンプリング周期設定手
段とを有するとともに、前記加熱手段を前記サン
プリングボツクス内に配置したことを特徴とする
サンプリング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12366583U JPS6031663U (ja) | 1983-08-09 | 1983-08-09 | サンプリング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12366583U JPS6031663U (ja) | 1983-08-09 | 1983-08-09 | サンプリング装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6031663U JPS6031663U (ja) | 1985-03-04 |
| JPH0413652Y2 true JPH0413652Y2 (ja) | 1992-03-30 |
Family
ID=30282207
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12366583U Granted JPS6031663U (ja) | 1983-08-09 | 1983-08-09 | サンプリング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6031663U (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7326568B1 (ja) * | 2022-09-26 | 2023-08-15 | 岩井機械工業株式会社 | サンプリングシステム |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5139586B2 (ja) * | 1973-07-02 | 1976-10-28 | ||
| JPS5913638Y2 (ja) * | 1979-09-18 | 1984-04-23 | 英彦 尾藤 | 赤道座表目盛を有する外球と地平座標目盛を有する内球とを組合せた天球儀 |
-
1983
- 1983-08-09 JP JP12366583U patent/JPS6031663U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6031663U (ja) | 1985-03-04 |
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