JPS6142212B2 - - Google Patents
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- JPS6142212B2 JPS6142212B2 JP55164194A JP16419480A JPS6142212B2 JP S6142212 B2 JPS6142212 B2 JP S6142212B2 JP 55164194 A JP55164194 A JP 55164194A JP 16419480 A JP16419480 A JP 16419480A JP S6142212 B2 JPS6142212 B2 JP S6142212B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gas
- valve
- sample gas
- purge
- sampling
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/22—Devices for withdrawing samples in the gaseous state
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はガスクロマトグラフ等の分折機器によ
つて目的ガスの成分を測定分折するに当つて、従
来方法において生じる問題点、特にサンプルガス
取出点とサンプルガス前処理用のサンプリングラ
ツク間において生じるトラブルを解決し、その円
滑正確な測定分折結果が得られるように改善した
ものに関する。
つて目的ガスの成分を測定分折するに当つて、従
来方法において生じる問題点、特にサンプルガス
取出点とサンプルガス前処理用のサンプリングラ
ツク間において生じるトラブルを解決し、その円
滑正確な測定分折結果が得られるように改善した
ものに関する。
例えば高炉操業に当つて、その炉内に発生する
高炉ガスの成分の測定分折は、ガス利用率、鉱石
の還元状態を把握するためのソリユーシヨンロ
ス、エネルギー源としてのガス発生量、あるいは
銑鉄生産速度の検討、これらに基づく操業指針の
設定や補正等の点においてきわめて重要な一翼を
担うものである。従来このためのガスサンプリン
グにおいては、型式内容において若干の相違はあ
るが概ね第１図に例示するような手段が採用され
ている。即ち第１図は高炉におけるガスサンプリ
ング手段を示しているが、Ａはサンプリングガス
取出点、Ｂはサンプリングガスの前処理機関とし
てのサンプリングラツク、Ｃは分折装置であり、
高炉で発生する高炉ガスは、ダストキヤツチヤ出
口等の排出流路１における適宜の地点に挿設され
た採取パイプ２により一部が連続的に取り出さ
れ、ボールコツク３を介してフイルタ内蔵のプロ
ーブ４にてダストを除去され、切替弁５より測定
弁６をへて流路７を介しサンプリングラツクＢ側
のドレンポツト８においてドレンを除き、１次フ
イルタ９２次フイルタ１０等の２段、３段のフイ
ルタ装置によつて更にダストが除去され、減圧弁
１１によつて、例えば取出点Ａにおける採取ガス
圧1.5Kg/cm2程度のガス圧を0.2Kg/cm2程度に減圧
し、この減圧されたサンプルガスを脱湿器１２に
よつて完全に除湿して後、分折装置Ｃにおける例
えばアナライザ１３へ導入し、アナライザ１３に
おいてプログラマ１４の６分サイクル等に従つ
て、例ばH2、N2、CO、CO2の４成分を分折測定
するのであり、これらの分折成分信号はプロセサ
１５をへて記録計１６、計算機１７に入力され、
特に計算機１７ではこの入力を補正、検量線修正
等の作業を行ない、各種のデータとして採用する
のである。図のサンプリングラツクＢにおいて、
１７は１次フイルタ９および脱湿器１２における
各フローメータ、１８は標準ガスの供給路で、こ
れは一部フローメータよりの遅れを出さないため
に減圧弁１１と脱湿器１２間に電磁弁等を介して
ブローされるためのものであり、１９は圧力計を
示し、また２０はドレンポツト８よりの、２１は
１次フイルタ９よりの、また２２は脱湿器１２よ
りの各サンプルガス過剰流量の排出路であり、こ
れらサンプルガスの過剰分は何れもベント管２３
等で外部に放出されるのである。また２４は取出
点Ａにおけるパージガス（例えばN2等）の供給
路であり、これはサンプルガスの取出し直前にお
いて、パージ弁２５を介して切替弁５プローブ４
採取パイプ２の採取ルートを逆洗するためのもの
である。
高炉ガスの成分の測定分折は、ガス利用率、鉱石
の還元状態を把握するためのソリユーシヨンロ
ス、エネルギー源としてのガス発生量、あるいは
銑鉄生産速度の検討、これらに基づく操業指針の
設定や補正等の点においてきわめて重要な一翼を
担うものである。従来このためのガスサンプリン
グにおいては、型式内容において若干の相違はあ
るが概ね第１図に例示するような手段が採用され
ている。即ち第１図は高炉におけるガスサンプリ
ング手段を示しているが、Ａはサンプリングガス
取出点、Ｂはサンプリングガスの前処理機関とし
てのサンプリングラツク、Ｃは分折装置であり、
高炉で発生する高炉ガスは、ダストキヤツチヤ出
口等の排出流路１における適宜の地点に挿設され
た採取パイプ２により一部が連続的に取り出さ
れ、ボールコツク３を介してフイルタ内蔵のプロ
ーブ４にてダストを除去され、切替弁５より測定
弁６をへて流路７を介しサンプリングラツクＢ側
のドレンポツト８においてドレンを除き、１次フ
イルタ９２次フイルタ１０等の２段、３段のフイ
ルタ装置によつて更にダストが除去され、減圧弁
１１によつて、例えば取出点Ａにおける採取ガス
圧1.5Kg/cm2程度のガス圧を0.2Kg/cm2程度に減圧
し、この減圧されたサンプルガスを脱湿器１２に
よつて完全に除湿して後、分折装置Ｃにおける例
えばアナライザ１３へ導入し、アナライザ１３に
おいてプログラマ１４の６分サイクル等に従つ
て、例ばH2、N2、CO、CO2の４成分を分折測定
するのであり、これらの分折成分信号はプロセサ
１５をへて記録計１６、計算機１７に入力され、
特に計算機１７ではこの入力を補正、検量線修正
等の作業を行ない、各種のデータとして採用する
のである。図のサンプリングラツクＢにおいて、
１７は１次フイルタ９および脱湿器１２における
各フローメータ、１８は標準ガスの供給路で、こ
れは一部フローメータよりの遅れを出さないため
に減圧弁１１と脱湿器１２間に電磁弁等を介して
ブローされるためのものであり、１９は圧力計を
示し、また２０はドレンポツト８よりの、２１は
１次フイルタ９よりの、また２２は脱湿器１２よ
りの各サンプルガス過剰流量の排出路であり、こ
れらサンプルガスの過剰分は何れもベント管２３
等で外部に放出されるのである。また２４は取出
点Ａにおけるパージガス（例えばN2等）の供給
路であり、これはサンプルガスの取出し直前にお
いて、パージ弁２５を介して切替弁５プローブ４
採取パイプ２の採取ルートを逆洗するためのもの
である。
このような従来のサンプリング手段における問
題点は、特に取出点Ａ並びにサンプリングラツク
Ｂにおいて多発するトラブルである。例えば取出
点Ａにおいては、前記取出点Ａにおけるパージガ
スによる採取ルートの逆洗後におけるパージガス
の置換不良や、パージガス、サンプルガス洩れ等
のトラブルが多く、ガス洩れは弁構造の改良によ
つて防止できるとしても、パージガスの逆洗置換
の不良事故は防止が難しく、パージガスの採取ル
ート内残存によつて分析結果は狂うおそれがあ
り、更にサンプリングラツクＢ側では、サンプル
ガス中に残るパージガス残量における置換不良
は、ダスト、ドレン等の除去によるサンプルガス
流量の低下、延いては排気量の低下と相まつて
益々解決困難である。これを解決するるため前記
ラツクＢ側における多量のガス放出が必要であ
り、このことはサンプルガスの大量採取、大量放
出のため、各バルブ、配管、フイルタ９，１０や
フローメータ１７におけるダスト、ドレンの増大
による閉塞事故を生じ、長時間の運転が困難とな
り、放出量の変化による一定流量の維持困難、こ
れかまたパージガス置換不良による指示異常等に
つながるように、悪循環的なトラブルを次々と生
じるのであり、しかもサンプリングラツクＢにお
けるサンプルガスの排出路２０，２１，２２にお
ける放出は、測定分析中、連続に行なわれている
のであり、その解決はきわめて困難である。
題点は、特に取出点Ａ並びにサンプリングラツク
Ｂにおいて多発するトラブルである。例えば取出
点Ａにおいては、前記取出点Ａにおけるパージガ
スによる採取ルートの逆洗後におけるパージガス
の置換不良や、パージガス、サンプルガス洩れ等
のトラブルが多く、ガス洩れは弁構造の改良によ
つて防止できるとしても、パージガスの逆洗置換
の不良事故は防止が難しく、パージガスの採取ル
ート内残存によつて分析結果は狂うおそれがあ
り、更にサンプリングラツクＢ側では、サンプル
ガス中に残るパージガス残量における置換不良
は、ダスト、ドレン等の除去によるサンプルガス
流量の低下、延いては排気量の低下と相まつて
益々解決困難である。これを解決するるため前記
ラツクＢ側における多量のガス放出が必要であ
り、このことはサンプルガスの大量採取、大量放
出のため、各バルブ、配管、フイルタ９，１０や
フローメータ１７におけるダスト、ドレンの増大
による閉塞事故を生じ、長時間の運転が困難とな
り、放出量の変化による一定流量の維持困難、こ
れかまたパージガス置換不良による指示異常等に
つながるように、悪循環的なトラブルを次々と生
じるのであり、しかもサンプリングラツクＢにお
けるサンプルガスの排出路２０，２１，２２にお
ける放出は、測定分析中、連続に行なわれている
のであり、その解決はきわめて困難である。
本発明はこのようなサンプルガス取出点とサン
プリングラツク間に亘る前記の問題点を、サンプ
ルガス放出手段の改変によつて容易に解決できる
ようにしたものであり、従つてその特徴とする処
は、高炉ガス等の目的ガスの一部をその排出流路
取出点より分析測定用のサンプルガスとして、そ
の分析測定の間に亘つて連続的に取出し、該サン
プルガスを浄化手段、減圧手段並びに放出手段を
具備したサンプリングラツクを経由して、ガスク
ロマトグラフ等の分析機器に定量的に供給してそ
の分析測定を行なうに当り、前記サンプルガス取
出点において、パージガスによる取出点の逆洗
後、サンプルガスの取出し開始と共に該サンプル
ガスを取出流路に設けた放散弁を介して所定期間
放散し、該放散を終了した後、取出流路に設けた
測定弁を介してサンプルガスをサンプリングラツ
ク側に連続的に送るようにした点にある。
プリングラツク間に亘る前記の問題点を、サンプ
ルガス放出手段の改変によつて容易に解決できる
ようにしたものであり、従つてその特徴とする処
は、高炉ガス等の目的ガスの一部をその排出流路
取出点より分析測定用のサンプルガスとして、そ
の分析測定の間に亘つて連続的に取出し、該サン
プルガスを浄化手段、減圧手段並びに放出手段を
具備したサンプリングラツクを経由して、ガスク
ロマトグラフ等の分析機器に定量的に供給してそ
の分析測定を行なうに当り、前記サンプルガス取
出点において、パージガスによる取出点の逆洗
後、サンプルガスの取出し開始と共に該サンプル
ガスを取出流路に設けた放散弁を介して所定期間
放散し、該放散を終了した後、取出流路に設けた
測定弁を介してサンプルガスをサンプリングラツ
ク側に連続的に送るようにした点にある。
以下図示の実施例に基いて本発明を詳述する
と、第２図は従来方法の取出点要部構造の詳細
図、第３図は本発明方法による取出点要部実施例
の詳細図、第４図は同弁動作のタイムスケジユー
ル図、第５図は同ドレンポツト要部構造の詳細
図、第６図は同ドレンポツト排出弁と他の弁との
連動タイムスケジユール図を示しているが、第２
図において、従来方法では、図示のように、採取
パイプ２ボールコツク３プローブ４による採取側
には、パージガスの供給路２４がパージ弁２５−
１，２５−２，２５−３を介して連通し、またサ
ンプリングラツクＢ側には測定弁６−１，６−２
を介してサンプルガス流路７が連通されている。
従つてサンプルガス採取に先立つてのパージガス
の逆洗に当つては、弁２５−１，２５−２を開と
し、弁２５−３と流路７側の弁６−１を閉とし
て、供給路２４よりN2等によるパージガスを採
取パイプ２側に矢印P1のように給送して、採取ル
ート内の逆洗を行ない、しかる後、サンプルガス
の採取に当つては、弁２５−１，２５−２を閉と
し、流路７側の弁６−１，６−２を開として、目
的の荒ガスの流路１内よりその一部をサンプルガ
スとして採取し、流路７をへて矢印P2のようにサ
ンプリングラツクＢ側に送り込み、ここに測定作
業が開始される。このさい採取パイプ２よりプロ
ーブ４に亘る採取ルート内には測定開始直後には
パージガス（N2等）の残量があり、また流路７
（サンプルガス移送ライン）は相当の距離がある
ため、サンプリングラツクＢ内でサンプルガスの
前処理を行なうに当つては、目的量よりも過大な
量のサンプルガスが送られ、時間的な遅れも含め
て過剰な流量のサンプルガスは、ラツクＢ内で、
図例のようにドレンポツト８における第１段の放
出、更に第１フイルタ９における第２段の放出、
脱湿器１２における第３の放出のように、多量の
ガス放出を行なつているのである。ダストやドレ
ンを含んだ荒ガスのかかる大量の移動流通は、各
バルブ配管、フイルタ、フローメータ等のラツク
内各機器部材におけるつまりを生じ易く、その影
響は時間の経過と共に増大し、これは放出量の変
化、従つて一定流量の維持困難を生じ、残存パー
ジガスの置換不良による指示異常を最終的には招
来する。従つてまた各部点検、保守の必要が生じ
ると共に放出量を必要量以上に設定して解決しよ
うとすれば、これは同時にダスト、ドレンの増大
侵入により再びバルブ、配管等のつまりを増大さ
せる等の悪循環的な各種トラブルの発生となる訳
である。
と、第２図は従来方法の取出点要部構造の詳細
図、第３図は本発明方法による取出点要部実施例
の詳細図、第４図は同弁動作のタイムスケジユー
ル図、第５図は同ドレンポツト要部構造の詳細
図、第６図は同ドレンポツト排出弁と他の弁との
連動タイムスケジユール図を示しているが、第２
図において、従来方法では、図示のように、採取
パイプ２ボールコツク３プローブ４による採取側
には、パージガスの供給路２４がパージ弁２５−
１，２５−２，２５−３を介して連通し、またサ
ンプリングラツクＢ側には測定弁６−１，６−２
を介してサンプルガス流路７が連通されている。
従つてサンプルガス採取に先立つてのパージガス
の逆洗に当つては、弁２５−１，２５−２を開と
し、弁２５−３と流路７側の弁６−１を閉とし
て、供給路２４よりN2等によるパージガスを採
取パイプ２側に矢印P1のように給送して、採取ル
ート内の逆洗を行ない、しかる後、サンプルガス
の採取に当つては、弁２５−１，２５−２を閉と
し、流路７側の弁６−１，６−２を開として、目
的の荒ガスの流路１内よりその一部をサンプルガ
スとして採取し、流路７をへて矢印P2のようにサ
ンプリングラツクＢ側に送り込み、ここに測定作
業が開始される。このさい採取パイプ２よりプロ
ーブ４に亘る採取ルート内には測定開始直後には
パージガス（N2等）の残量があり、また流路７
（サンプルガス移送ライン）は相当の距離がある
ため、サンプリングラツクＢ内でサンプルガスの
前処理を行なうに当つては、目的量よりも過大な
量のサンプルガスが送られ、時間的な遅れも含め
て過剰な流量のサンプルガスは、ラツクＢ内で、
図例のようにドレンポツト８における第１段の放
出、更に第１フイルタ９における第２段の放出、
脱湿器１２における第３の放出のように、多量の
ガス放出を行なつているのである。ダストやドレ
ンを含んだ荒ガスのかかる大量の移動流通は、各
バルブ配管、フイルタ、フローメータ等のラツク
内各機器部材におけるつまりを生じ易く、その影
響は時間の経過と共に増大し、これは放出量の変
化、従つて一定流量の維持困難を生じ、残存パー
ジガスの置換不良による指示異常を最終的には招
来する。従つてまた各部点検、保守の必要が生じ
ると共に放出量を必要量以上に設定して解決しよ
うとすれば、これは同時にダスト、ドレンの増大
侵入により再びバルブ、配管等のつまりを増大さ
せる等の悪循環的な各種トラブルの発生となる訳
である。
本発明方法では、これを第３，４図に例示する
ような手段に改変することにより、前記取出点Ａ
サンプリングラツクＢにおけるトラブルを解決す
るのであり、即ち第３図において、パージガス供
給路２４側にパージ弁２５−１，２５−２，２５
−３を設置することは従来と同様であるが、サン
プリングラツクＢに通ずるサンプルガスの流路７
には、従来の測定弁６−１，６−２の内、前位の
測定弁６−１を電動型式のものとすると共に、こ
の測定弁６−１より前位に同じく電電動型式の放
散弁２６を分岐路を介して新設するのである。即
ち本発明では、サンプルガスの取出点Ａにおい
て、サンプルガスの放散弁２６を設け、かつパー
ジガスの供給路２４側のパージ弁２５−１，２５
−２と、測定弁６−１放散弁２７とを、第４図示
のようなタイムスケジユールの下に、連動的にそ
の開閉を行なうようにするのである。同図におい
てａ，a′はパージ弁２５−１，２５−２の弁開と
弁閉を示し、ｂ，b′は放散弁２６の弁開と弁閉を
示し、ｃ，c′は測定弁６−１の弁開と弁閉を示す
が、図示スケジユールのように、先ずパージ弁２
５−１，２５−２を開として、採取パイプ２側に
N2等によるパージガスを逆洗し、パージ弁２５
−１，２５−２の閉と共に、測定弁６−１を閉と
した状態で放散弁２６を所要時間T1開として、
ガス流路１よりのガスを採取パイプ２プローブ４
をへて外界に放散し、放散弁２６を閉としてT2
時間着れて測定弁６−１を所要時間T2開とし
て、サンプルガスを測定弁６−２の開と共に流路
７をへてサンプリングラツクＢ側に送るのであ
り、所要時間T2経過と共に測定弁６−１を閉と
し、T3時間遅れてパージ弁２５−１，２５−２
をパージガス逆洗のために開くという一連の弁動
作を行なうようにするのであり、このさい前記各
所要時間T1は０〜10sec程度（適切例としては
10sec）、T2は０〜6sec程度（適切例としては
2sec）、T3は同じく０〜6sec程度（適切例として
は3sec）のように設定する。
ような手段に改変することにより、前記取出点Ａ
サンプリングラツクＢにおけるトラブルを解決す
るのであり、即ち第３図において、パージガス供
給路２４側にパージ弁２５−１，２５−２，２５
−３を設置することは従来と同様であるが、サン
プリングラツクＢに通ずるサンプルガスの流路７
には、従来の測定弁６−１，６−２の内、前位の
測定弁６−１を電動型式のものとすると共に、こ
の測定弁６−１より前位に同じく電電動型式の放
散弁２６を分岐路を介して新設するのである。即
ち本発明では、サンプルガスの取出点Ａにおい
て、サンプルガスの放散弁２６を設け、かつパー
ジガスの供給路２４側のパージ弁２５−１，２５
−２と、測定弁６−１放散弁２７とを、第４図示
のようなタイムスケジユールの下に、連動的にそ
の開閉を行なうようにするのである。同図におい
てａ，a′はパージ弁２５−１，２５−２の弁開と
弁閉を示し、ｂ，b′は放散弁２６の弁開と弁閉を
示し、ｃ，c′は測定弁６−１の弁開と弁閉を示す
が、図示スケジユールのように、先ずパージ弁２
５−１，２５−２を開として、採取パイプ２側に
N2等によるパージガスを逆洗し、パージ弁２５
−１，２５−２の閉と共に、測定弁６−１を閉と
した状態で放散弁２６を所要時間T1開として、
ガス流路１よりのガスを採取パイプ２プローブ４
をへて外界に放散し、放散弁２６を閉としてT2
時間着れて測定弁６−１を所要時間T2開とし
て、サンプルガスを測定弁６−２の開と共に流路
７をへてサンプリングラツクＢ側に送るのであ
り、所要時間T2経過と共に測定弁６−１を閉と
し、T3時間遅れてパージ弁２５−１，２５−２
をパージガス逆洗のために開くという一連の弁動
作を行なうようにするのであり、このさい前記各
所要時間T1は０〜10sec程度（適切例としては
10sec）、T2は０〜6sec程度（適切例としては
2sec）、T3は同じく０〜6sec程度（適切例として
は3sec）のように設定する。
上記のような放散弁２６の設置とパージ弁２５
および測定弁６のタイムスケジユールにより、本
発明のサンプルガス採取は次のように行なわれる
ことになる。即ち先ずサンプルガス採取に先立つ
パージガスの逆洗に当つては、パージガス供給路
２４におけるパージ弁２５−１，２５−２開、パ
ージ弁２５−３閉の状態とし、サンプリングガス
流路７における測定弁６−１，６−２および放散
弁２６を閉とした状態で、パージガスを供給路２
４からプローブ４ボールコツク３採取パイプ２に
通して逆洗を行ない、その終了と共にパージ弁２
５−１，２５−２を閉、パージ弁２５−３を開と
し、測定弁６−１，６−２閉、放散弁２６を開と
して採取パイプ２ボールコツク３プローブ４を介
し流路１内の目的ガスを放散弁２６よりT1時間
に亘つて外部に放散し、この放散終了後、放散弁
２６を閉とし、T2時間遅れて測定弁６−１，６
−２を開として、サンプルガスを採取パイプ２側
より流路７をへてサンプリングラツクＢのドレン
ポツト８に送り込むのであり、ドレンポツト８に
おいてはドレン除去のみで従来のドレンポツト８
における排出路２０による第１段目のガス放散を
行なうことなく、第１フイルタ９第２フイルタ１
０によるダスト除去および第１フイルタ９におけ
る排出路２１による第２段のガス放出を介して、
減圧弁１１に送り込み、所定減圧後、脱湿器１２
によつて完全除湿と排出路２２による第３段のガ
ス放出を介し、所定量のサンプルガスを分析装置
Ｃ側に送つて、所定の成分分析測定を行なうこと
になる。このさい排出路２１による第２段のガス
放出は6.6→２/min、排出路２２による第３段
のガス放出は1.1→0.1/min程度のように大幅に
減少できることが確認された。また前記取出点Ａ
における放散弁２６による採取ガスの１次放散に
よつてパージガスは完全に排除され、従来のパー
ジガスの置換不良による残存によるトラブルは全
く予防することができたことも確認されたもので
あり、更にサンプリングラツクＢ側において、サ
ンプル圧が低下しても測定分析が可能であること
も確認された。即ち従来方法のものでは、高炉ガ
スの場合、そのサンプル圧（炉頂ガス圧力）が
0.5Kg/cm2以下になると、放出量の限界によりパー
ジガス置換が不可能で、測定困難であつたが、本
発明の前記方法による場合、そのサンプル圧が
0.1Kg/cm2までは充分に測定可能であることも確認
されたのである。尚前記本発明による操作に当
り、パージ弁２５−１，２５−２，２５−３の３
個を用い、逆洗の終了と共に、パージ返２５−
１，２５−２を閉とし、パージ返２５−３を開と
することは、以下の理由によるものである。
および測定弁６のタイムスケジユールにより、本
発明のサンプルガス採取は次のように行なわれる
ことになる。即ち先ずサンプルガス採取に先立つ
パージガスの逆洗に当つては、パージガス供給路
２４におけるパージ弁２５−１，２５−２開、パ
ージ弁２５−３閉の状態とし、サンプリングガス
流路７における測定弁６−１，６−２および放散
弁２６を閉とした状態で、パージガスを供給路２
４からプローブ４ボールコツク３採取パイプ２に
通して逆洗を行ない、その終了と共にパージ弁２
５−１，２５−２を閉、パージ弁２５−３を開と
し、測定弁６−１，６−２閉、放散弁２６を開と
して採取パイプ２ボールコツク３プローブ４を介
し流路１内の目的ガスを放散弁２６よりT1時間
に亘つて外部に放散し、この放散終了後、放散弁
２６を閉とし、T2時間遅れて測定弁６−１，６
−２を開として、サンプルガスを採取パイプ２側
より流路７をへてサンプリングラツクＢのドレン
ポツト８に送り込むのであり、ドレンポツト８に
おいてはドレン除去のみで従来のドレンポツト８
における排出路２０による第１段目のガス放散を
行なうことなく、第１フイルタ９第２フイルタ１
０によるダスト除去および第１フイルタ９におけ
る排出路２１による第２段のガス放出を介して、
減圧弁１１に送り込み、所定減圧後、脱湿器１２
によつて完全除湿と排出路２２による第３段のガ
ス放出を介し、所定量のサンプルガスを分析装置
Ｃ側に送つて、所定の成分分析測定を行なうこと
になる。このさい排出路２１による第２段のガス
放出は6.6→２/min、排出路２２による第３段
のガス放出は1.1→0.1/min程度のように大幅に
減少できることが確認された。また前記取出点Ａ
における放散弁２６による採取ガスの１次放散に
よつてパージガスは完全に排除され、従来のパー
ジガスの置換不良による残存によるトラブルは全
く予防することができたことも確認されたもので
あり、更にサンプリングラツクＢ側において、サ
ンプル圧が低下しても測定分析が可能であること
も確認された。即ち従来方法のものでは、高炉ガ
スの場合、そのサンプル圧（炉頂ガス圧力）が
0.5Kg/cm2以下になると、放出量の限界によりパー
ジガス置換が不可能で、測定困難であつたが、本
発明の前記方法による場合、そのサンプル圧が
0.1Kg/cm2までは充分に測定可能であることも確認
されたのである。尚前記本発明による操作に当
り、パージ弁２５−１，２５−２，２５−３の３
個を用い、逆洗の終了と共に、パージ返２５−
１，２５−２を閉とし、パージ返２５−３を開と
することは、以下の理由によるものである。
即ちパージ弁として３個の弁を用いることは、
逆洗パージ用ガスN2の測定ライン側への漏込み
防止のためである。一般にこの種の測定におい
て、サンプルガス圧力は2.5Kg/cm2程度であるに対
し、パージガスN2の圧力は５Kg/cm2程度のように
高くしてあるため、パージ弁２５−１，２５−２
を閉としていても、測定ライン側へのN2の漏込
みの危険があり、更にパージ終了時点ではパージ
弁２５−１とパージ弁２５−２との間にN2圧力
が封じ込められた状態であるため、この封じ込め
られたN2ガスがパージ弁２５−２側から測定ラ
インへ漏れ込む危険が生じる。このためパージ弁
２５−１，２５−２を閉とすると共に、パージ弁
２５−３は開として、封じ込められたN2ガスを
大気に開設してゼロとするものである。
逆洗パージ用ガスN2の測定ライン側への漏込み
防止のためである。一般にこの種の測定におい
て、サンプルガス圧力は2.5Kg/cm2程度であるに対
し、パージガスN2の圧力は５Kg/cm2程度のように
高くしてあるため、パージ弁２５−１，２５−２
を閉としていても、測定ライン側へのN2の漏込
みの危険があり、更にパージ終了時点ではパージ
弁２５−１とパージ弁２５−２との間にN2圧力
が封じ込められた状態であるため、この封じ込め
られたN2ガスがパージ弁２５−２側から測定ラ
インへ漏れ込む危険が生じる。このためパージ弁
２５−１，２５−２を閉とすると共に、パージ弁
２５−３は開として、封じ込められたN2ガスを
大気に開設してゼロとするものである。
本発明方法によるサンプルガス取出点Ａにおけ
る放散弁２６の新設と、これによるパージガス逆
洗後のサンプルガス放散操作によれば、従来のド
レンポツト８における第１段のサンプルガス排出
路２０によるガス放出はこれを全く不要化し、サ
ンプリングラツクＢにおける測定中の大量のガス
放出を著しく減減できるが、このさいサンプリン
グラツクＢを含めて、サンプルガス取出点Ａより
ラツクＢ内の各配管、バルブおよびフイルタ等
（但しドレンポツト８を除く）には、従来蒸気ト
レスを実施し、ドレンポツト８において露点以下
にしてドレン化することが従来行なわれている
が、実際にはフローメータ等にドレンの侵入する
ことが多く、本発明ではこの蒸気トレスを、サン
プリングラツクＢより手前の流路７内で中止する
ようにし、これによりドレンポツト８におけるド
レン量を増大するようにして併せてこのドレンポ
ツト８に取付けられた排出弁を前述の放散弁２６
を含む取出点Ａにおける測定１パージシステムと
協動させるようにし、ドレン集約化とドレン抜き
の容易と自動化、ラツク内における残圧ガスの排
出、取出点Ａより遠距離による応答性の向上を得
るようにした。その実施例は第５，６図に示す通
りである。即ち第５図示のように、ドレンポツト
８に電動型式の排出弁２７を排出路２８と共に装
設し、第６図示のように先に第４図で述べたパー
ジ弁２５−１，２５−２放散弁２６測定弁６−１
のタイムスケジユールに組合せ、ページ弁２５−
１，２５−２のパージガス逆送用の弁開ａとスタ
ートを同じくして、排出弁２７を弁開ｄとし、流
路７内に残る残圧ガスとサンプリングラツクＢ内
に流さず、このドレンポツト８に底部より排出路
２８によりドレンと共に外界に排出させるのであ
り、次いで放散弁２６による弁開ｂによる１次ガ
ス放散後、T2時間遅れての測定用サンプルガス
導入のための測定弁６−１の開放後、T4時間
（T4：０〜6sec、適切例としては4sec）遅れて、
即ちT4秒間、遠距離による応答性を上げるた
め、排出弁２７を開状態に保持して、サンプルガ
スの導入を行なうようにするのである。尚この他
の本発明目的を達成するための好ましい参考手段
としては、取出点Ａにおける各弁の構造、特にパ
ージガス用弁としては、従来空気式三方向ボール
弁構造のものを用いているが、これはボールとパ
ツキンの接触面の大小から考慮すると、より接触
面の大きくとれる二方用ホール弁の採用が好まし
く、また取出点Ａにおけるプローブ４に用いるフ
イルタは、高炉ガスのような荒ガスの場合は、従
来の70ミクロン程度のものを用いるより20ミクロ
ン程度のフイルタを用いることが好ましく、第１
段フイルタ９は10ミクロン程度、第２段のフイル
タ１０は0.1ミクロン程度の組合せが好ましく、
また本発明ではそのパージ操作に当り、従来の非
サンプリング時に亘る連続パージ方式に変え、間
欠パージ方式とし、前記プローブ４におけるフイ
ルタの目の大きさを1/3以下のものとすることと
相まつて、間欠パージ方式（間隔は適宜選択可能
である）とすることにより、パージ効果の点で好
ましい。
る放散弁２６の新設と、これによるパージガス逆
洗後のサンプルガス放散操作によれば、従来のド
レンポツト８における第１段のサンプルガス排出
路２０によるガス放出はこれを全く不要化し、サ
ンプリングラツクＢにおける測定中の大量のガス
放出を著しく減減できるが、このさいサンプリン
グラツクＢを含めて、サンプルガス取出点Ａより
ラツクＢ内の各配管、バルブおよびフイルタ等
（但しドレンポツト８を除く）には、従来蒸気ト
レスを実施し、ドレンポツト８において露点以下
にしてドレン化することが従来行なわれている
が、実際にはフローメータ等にドレンの侵入する
ことが多く、本発明ではこの蒸気トレスを、サン
プリングラツクＢより手前の流路７内で中止する
ようにし、これによりドレンポツト８におけるド
レン量を増大するようにして併せてこのドレンポ
ツト８に取付けられた排出弁を前述の放散弁２６
を含む取出点Ａにおける測定１パージシステムと
協動させるようにし、ドレン集約化とドレン抜き
の容易と自動化、ラツク内における残圧ガスの排
出、取出点Ａより遠距離による応答性の向上を得
るようにした。その実施例は第５，６図に示す通
りである。即ち第５図示のように、ドレンポツト
８に電動型式の排出弁２７を排出路２８と共に装
設し、第６図示のように先に第４図で述べたパー
ジ弁２５−１，２５−２放散弁２６測定弁６−１
のタイムスケジユールに組合せ、ページ弁２５−
１，２５−２のパージガス逆送用の弁開ａとスタ
ートを同じくして、排出弁２７を弁開ｄとし、流
路７内に残る残圧ガスとサンプリングラツクＢ内
に流さず、このドレンポツト８に底部より排出路
２８によりドレンと共に外界に排出させるのであ
り、次いで放散弁２６による弁開ｂによる１次ガ
ス放散後、T2時間遅れての測定用サンプルガス
導入のための測定弁６−１の開放後、T4時間
（T4：０〜6sec、適切例としては4sec）遅れて、
即ちT4秒間、遠距離による応答性を上げるた
め、排出弁２７を開状態に保持して、サンプルガ
スの導入を行なうようにするのである。尚この他
の本発明目的を達成するための好ましい参考手段
としては、取出点Ａにおける各弁の構造、特にパ
ージガス用弁としては、従来空気式三方向ボール
弁構造のものを用いているが、これはボールとパ
ツキンの接触面の大小から考慮すると、より接触
面の大きくとれる二方用ホール弁の採用が好まし
く、また取出点Ａにおけるプローブ４に用いるフ
イルタは、高炉ガスのような荒ガスの場合は、従
来の70ミクロン程度のものを用いるより20ミクロ
ン程度のフイルタを用いることが好ましく、第１
段フイルタ９は10ミクロン程度、第２段のフイル
タ１０は0.1ミクロン程度の組合せが好ましく、
また本発明ではそのパージ操作に当り、従来の非
サンプリング時に亘る連続パージ方式に変え、間
欠パージ方式とし、前記プローブ４におけるフイ
ルタの目の大きさを1/3以下のものとすることと
相まつて、間欠パージ方式（間隔は適宜選択可能
である）とすることにより、パージ効果の点で好
ましい。
本発明によるガスサンプリング法は、以上の通
りであり、前記取出点Ａにおける放散弁２６の新
設とこれによるパージ弁２５および測定弁６と協
動しての採取サンプルガスの取出点における１次
放散とその後のサンプルガス取出移送により、従
来の取出点ＡよりサンプリングラツクＢに亘つて
生じる各種のトラブル、即ちパージガスのサンプ
ルガス残存によるパージガス置換不良事故を完全
に解消し、かつパージガス置換不良を主因とする
指示異常、必要量以上のサンプルガス放出量設
定、これに伴なう大量のサンプルガス採取、バル
ブ、配管、フイルタその他の各器材におけるダス
ト、ドレンの大量侵入、放出量の変化に伴なう一
定流量維持の困難等の悪循環的な各トラブルを同
時に解消でき、正確かつ容易な必要成分の測定分
析を行なうことが可能となるのであり、トラブル
解消による保守管理手間の掛らないこと、測定条
件の向上に著しく寄与でき、従来方式によるもの
が３ケ月間に約30件のトラブルを発生していたの
に対し、本発明方式によるものでは同一条件で３
ケ月間におけるトラブル発生はゼロのように、優
れた効果を実際に発揮できたものであり、ガスサ
ンプリング方法の改善として卓越した価値を有す
るものといえる。
りであり、前記取出点Ａにおける放散弁２６の新
設とこれによるパージ弁２５および測定弁６と協
動しての採取サンプルガスの取出点における１次
放散とその後のサンプルガス取出移送により、従
来の取出点ＡよりサンプリングラツクＢに亘つて
生じる各種のトラブル、即ちパージガスのサンプ
ルガス残存によるパージガス置換不良事故を完全
に解消し、かつパージガス置換不良を主因とする
指示異常、必要量以上のサンプルガス放出量設
定、これに伴なう大量のサンプルガス採取、バル
ブ、配管、フイルタその他の各器材におけるダス
ト、ドレンの大量侵入、放出量の変化に伴なう一
定流量維持の困難等の悪循環的な各トラブルを同
時に解消でき、正確かつ容易な必要成分の測定分
析を行なうことが可能となるのであり、トラブル
解消による保守管理手間の掛らないこと、測定条
件の向上に著しく寄与でき、従来方式によるもの
が３ケ月間に約30件のトラブルを発生していたの
に対し、本発明方式によるものでは同一条件で３
ケ月間におけるトラブル発生はゼロのように、優
れた効果を実際に発揮できたものであり、ガスサ
ンプリング方法の改善として卓越した価値を有す
るものといえる。
第１図は従来のサンプリング手段１例の説明
図、第２図は従来手段の取出点要部の説明図、第
３図は本発明方法によるサンプリング手段実施例
の同じく取出点要部の説明図、第４図は同パー
ジ、測定弁作動システムのタイムスケジユール説
明図、第５図は同ドレンポツト要部の説明図、第
６図は同ポツト排出弁とパージ、測定弁システム
の連動タイムスケジユール説明図である。 Ａ……サンプルガス取出点、Ｂ……サンプリン
グラツク、Ｃ……分析装置、２５，２５−１，２
５−２，２５−３……パージ弁、６，６−１，６
−２……測定弁、２６……放散弁、２７……排出
弁、２……採取パイプ、７……サンプルガス流
路、２４……パージガス供給路、９，１０……フ
イルタ、１１……減圧弁、１２……脱湿器、２８
……残存ガス ドレン排出路。
図、第２図は従来手段の取出点要部の説明図、第
３図は本発明方法によるサンプリング手段実施例
の同じく取出点要部の説明図、第４図は同パー
ジ、測定弁作動システムのタイムスケジユール説
明図、第５図は同ドレンポツト要部の説明図、第
６図は同ポツト排出弁とパージ、測定弁システム
の連動タイムスケジユール説明図である。 Ａ……サンプルガス取出点、Ｂ……サンプリン
グラツク、Ｃ……分析装置、２５，２５−１，２
５−２，２５−３……パージ弁、６，６−１，６
−２……測定弁、２６……放散弁、２７……排出
弁、２……採取パイプ、７……サンプルガス流
路、２４……パージガス供給路、９，１０……フ
イルタ、１１……減圧弁、１２……脱湿器、２８
……残存ガス ドレン排出路。
Claims (1)
- １ 高炉ガス等の目的ガスの一部をその排出流路
取出点より分折測定用のサンプルガスとして、そ
の分折測定の間に亘つて連続的に取出し、該サン
プルガスを浄化手段、減圧手段並びに放出手段を
具備したサンプリングラツクを経由して、ガスク
ロマトグラフ等の分折機器に定量的に供給してそ
の分折測定を行なうに当り、前記サンプルガス取
出点において、パージガスによる取出点の逆洗
後、サンプルガスの取出開始と共に該サンプルガ
スを取出流路に設けた放散弁を介して所定期間放
散し、該放散を終了して後、取出流路に設けた測
定弁を介してサンプルガスをサンプリングラツク
側に連続的に送るようにしたことを特徴とするガ
スサンプリング方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16419480A JPS5786739A (en) | 1980-11-19 | 1980-11-19 | Gas sampling method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16419480A JPS5786739A (en) | 1980-11-19 | 1980-11-19 | Gas sampling method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5786739A JPS5786739A (en) | 1982-05-29 |
| JPS6142212B2 true JPS6142212B2 (ja) | 1986-09-19 |
Family
ID=15788461
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16419480A Granted JPS5786739A (en) | 1980-11-19 | 1980-11-19 | Gas sampling method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5786739A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10706755B2 (en) | 2018-08-07 | 2020-07-07 | Samsung Display Co., Ltd. | Organic light emitting diode display and repairing method thereof |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59149056U (ja) * | 1983-03-28 | 1984-10-05 | 横河電機株式会社 | ガスクロマトグラフのサンプリング装置 |
| JPS6040951A (ja) * | 1983-08-15 | 1985-03-04 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | サンプリング装置 |
| JPS62198730A (ja) * | 1986-02-26 | 1987-09-02 | Data Syst:Kk | 不純物分離装置 |
| KR100989991B1 (ko) | 2003-07-19 | 2010-10-26 | 주식회사 포스코 | 습식 집진형 제강 배가스 분석계 샘플러 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS552026B2 (ja) * | 1975-02-18 | 1980-01-18 | ||
| JPS5487591A (en) * | 1977-12-23 | 1979-07-12 | Fuji Electric Co Ltd | Exhaust gas sampling device |
-
1980
- 1980-11-19 JP JP16419480A patent/JPS5786739A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10706755B2 (en) | 2018-08-07 | 2020-07-07 | Samsung Display Co., Ltd. | Organic light emitting diode display and repairing method thereof |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5786739A (en) | 1982-05-29 |
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