JPH04136538U - 差圧測定装置 - Google Patents
差圧測定装置Info
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- JPH04136538U JPH04136538U JP4342991U JP4342991U JPH04136538U JP H04136538 U JPH04136538 U JP H04136538U JP 4342991 U JP4342991 U JP 4342991U JP 4342991 U JP4342991 U JP 4342991U JP H04136538 U JPH04136538 U JP H04136538U
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 溶接による歩留が良好安価で、信頼性の高い
差圧測定装置を実現する。 【構成】 ブロック状の受圧部に隔液ダイアフラムの周
縁部が隔液リングにより溶接固定される差圧測定装置に
おいて、前記隔液ダイアフラムと前記隔液リングとが該
隔液ダイアフラムと該隔液リングと溶接容易でかつ前記
受圧部と溶接容易な材質からなる中間リングを介して前
記受圧部に溶接固定されたことを特徴とする差圧測定装
置である。
差圧測定装置を実現する。 【構成】 ブロック状の受圧部に隔液ダイアフラムの周
縁部が隔液リングにより溶接固定される差圧測定装置に
おいて、前記隔液ダイアフラムと前記隔液リングとが該
隔液ダイアフラムと該隔液リングと溶接容易でかつ前記
受圧部と溶接容易な材質からなる中間リングを介して前
記受圧部に溶接固定されたことを特徴とする差圧測定装
置である。
Description
【0001】
本考案は、溶接による歩留が良好安価で、信頼性の高い差圧測定装置に関する
ものである。
【0002】
図2は、従来より一般に使用されている従来例の構成説明図で、例えば、実開
昭60―181642号に示されている。
【0003】
図において、
1はハウジングで、円柱状の首部1Aと、首部1Aの端部外周縁部1Cにおい
て溶接接続されたブロック状の受圧部1Bとよりなる。
ハウジング1の両側に高圧側フランジ2、低圧側フランジ3が溶接等によって
固定されており、両フランジ2,3には測定せんとする圧力PH の高圧流体の導
入口4、圧力PL の低圧流体の導入口5が設けられている。
【0004】
ハウジング1内に圧力測定室6が形成されており、この圧力測定室6内にセン
タダイアフラム7とシリコンダイアフラム8が設けられている。
センタダイアフラム7とシリコンダイアフラム8はそれぞれ別個に圧力測定室
6の壁に固定されており、センタダイアフラム7とシリコンダイアフラム8の両
者でもって圧力測定室6を2分している。
センタダイアフラム7と対向する圧力測定室6の壁には、バックプレ―ト6A
,6Bが形成されている。
【0005】
センタダイアフラム7は周縁部をハウジング1に溶接されている。
シリコンダイアフラム8は全体が単結晶のシリコン基板から形成されている。
シリコン基板の一方の面にボロン等の不純物を選択拡散して4っのストレンゲ
―ジ80を形成し、他方の面を機械加工、エッチングし、全体が凹形のダイアフ
ラムを形成する。
【0006】
4っのストレインゲ―ジ80は、シリコンダイアフラム8が差圧ΔPを受けて
たわむ時、2つが引張り、2つが圧縮を受けるようになっており、これらがホイ
―トストン・ブリッジ回路に接続され、抵抗変化が差圧ΔPの変化として検出さ
れる。
シリコンダイアフラム8は、首部1Aを2個のセンサ室81,82に分ける。
【0007】
支持体9の圧力測定室6側端面に、低融点ガラス接続等の方法でシリコンダイ
アフラム8が接着固定されている。
ハウジング1と高圧側フランジ2、および低圧側フランジ3との間に、圧力導
入室10,11が形成されている。
この圧力導入室10,11内に隔液ダイアフラム12,13を設け、この隔液
ダイアフラム12,13と対向するハウジング1の壁10A,11Aに隔液ダイ
アフラム12,13と類似の形状のバックプレ―トが形成されている。
隔液ダイアフラム12,13は、受圧部1Bに図3に示すごとく、隔液リング
121,131により周縁部が溶接されている。
【0008】
隔液ダイアフラム12,13とバックプレ―ト10A,11Aとで形成される
空間と、圧力測定室6は、連通孔14,15を介して導通している。
そして、隔液ダイアフラム12,13間にシリコンオイル等の封入液101,
102が満たされ、この封入液が連通孔16,17を介してシリコンダイアフラ
ム8の上下面にまで至っている。
封入液101,102は、センタダイアフラム7とシリコンダイアフラム8と
によって2分されているが、その量が、ほぼ均等になるように配慮されている。
18は、受圧部1Bとフランジ2,3との間に設けられたガスケットで、この
場合は、Oリングが使用されている。
【0009】
以上の構成において、高圧側から圧力が作用した場合、隔液ダイアフラム12
に作用する圧力が封入液101によってシリコンダイアフラム8に伝達される。
一方、低圧側から圧力が作用した場合、隔液ダイアフラム13に作用する圧力
が封入液102によってシリコンダイアフラム8に伝達される。
【0010】
この結果、高圧側と低圧側との圧力差に応じてシリコンダイアフラム8が歪み
、この歪み量がストレインゲ―ジ80によって電気的に取出され、差圧の測定が
行なわれる。
【0011】
しかしながら、この様な装置においては、通常は、受圧部1Bと隔液ダイアフ
ラム12,13と隔液リング121,131とは同一材料が使用され、一般には
ステンレスが使用される。
しかし、腐蝕性の強い測定流体に使用する場合には、隔液ダイアフラム12,
13と隔液リング121,131と耐食性の良好な、例えば、モネル等が使用さ
れる場合がある。この場合、受圧部1B3のステンレスと隔液ダイアフラム12
,13と隔液リング121,131のモネルとの溶接性は良くなく、溶接歩留が
悪く、コストが掛かると共に、製品の信頼性を損う。
【0012】
本考案は、この問題点を、解決するものである。
本考案の目的は、溶接による歩留が良好安価で、信頼性の高い差圧測定装置を
提供するにある。
【0013】
この目的を達成するために、本考案は、ブロック状の受圧部に隔液ダイアフラ
ムの周縁部が隔液リングにより溶接固定される差圧測定装置において、
前記隔液ダイアフラムと前記隔液リングとが該隔液ダイアフラムと該隔液リン
グと溶接容易でかつ前記受圧部と溶接容易な材質からなる中間リングを介して前
記受圧部に溶接固定されたことを特徴とする差圧測定装置を構成したものである
。
【0014】
以上の構成において、高圧側から圧力が作用した場合、隔液ダイアフラムに作
用する圧力が封入液によってシリコンダイアフラムに伝達される。
一方、低圧側から圧力が作用した場合、隔液ダイアフラムに作用する圧力が封
入液によってシリコンダイアフラムに伝達される。
従って、高圧側と低圧側との圧力差に応じてシリコンダイアフラムが歪み、こ
の歪み量がストレインゲ―ジによって電気的に取出され、差圧の測定が行なわれ
る。
【0015】
而して、隔液ダイアフラムと隔液リングとが、隔液ダイアフラムと隔液リング
と溶接容易で、かつ、受圧部と溶接容易な材質からなる中間リングを介して受圧
部に溶接固定されたので、溶接が確実にでき、歩留が向上し、製造コストの低下
と、信頼性の向上とが図れる。
以下、実施例に基づき詳細に説明する。
【0016】
図1は本考案の一実施例の要部構成説明図である。
【0017】
図において、
隔液ダイアフラム21,22と隔液リング211,221とが、隔液ダイアフ
ラム21,22と隔液リング211,221と溶接容易で、かつ、受圧部1Bと
溶接容易な材質からなる中間リング212,222を介して受圧部1Bに溶接固
定されている。
この場合は、隔液ダイアフラム21,22と隔液リング211,221とはモ
ネルからなり、中間リング212,222は純ニッケルあるいは高ニッケル合金
からなり、受圧部1Bはステンレスよりなる。
【0018】
以上の構成において、高圧側から圧力が作用した場合、隔液ダイアフラム12
に作用する圧力が封入液101によってシリコンダイアフラム8に伝達される。
一方、低圧側から圧力が作用した場合、隔液ダイアフラム13に作用する圧力
が封入液102によってシリコンダイアフラム8に伝達される。
従って、高圧側と低圧側との圧力差に応じてシリコンダイアフラム8が歪み、
この歪み量がストレインゲ―ジ80によって電気的に取出され、差圧の測定が行
なわれる。
【0019】
而して、隔液ダイアフラム21,22と隔液リング211,221とが、隔液
ダイアフラム21,22と隔液リング211,221と溶接容易で、かつ、受圧
部1Bと溶接容易な材質からなる中間リング212,222を介して受圧部1B
に溶接固定された。
【0020】
この結果、
(1)隔液ダイアフラム21,22と隔液リング211,221と受圧部1Bの
溶接が確実に出来、歩留が向上し、製造コストを低下出来る。
(2)隔液ダイアフラム21,22と隔液リング211,221と受圧部1Bの
溶接が確実にでき、信頼性の向上が図れる。
【0021】
以上説明したように、本考案は、ブロック状の受圧部に隔液ダイアフラムの周
縁部が隔液リングにより溶接固定される差圧測定装置において、
前記隔液ダイアフラムと前記隔液リングとが該隔液ダイアフラムと該隔液リン
グと溶接容易でかつ前記受圧部と溶接容易な材質からなる中間リングを介して前
記受圧部に溶接固定されたことを特徴とする差圧測定装置を構成した。
【0022】
この結果、隔液ダイアフラムと隔液リングとが、隔液ダイアフラムと隔液リン
グと溶接容易で、かつ、受圧部と溶接容易な材質からなる中間リングを介して受
圧部に溶接固定されたので、溶接が確実に出来る。
【0023】
従って、
(1)隔液ダイアフラムと隔液リングと受圧部の溶接が確実に出来、歩留が向上
し、製造コストを低下出来る。
(2)隔液ダイアフラムと隔液リングと受圧部の溶接が確実にでき、信頼性の向
上が図れる。
【0024】
従って、本考案によれば、溶接による歩留が良好安価で、信頼性の高い差圧測
定装置を実現することが出来る。
【図1】本考案の一実施例の要部構成説明図である。
【図2】従来より一般に使用されている従来例の構成説
明図である。
明図である。
【図3】図2の詳細説明図である。
1…ハウジング
1A…首部
1B…受圧部
1C…溶接部
2…高圧側フランジ
3…低圧側フランジ
4,5…導入口
6…圧力測定室
6A…バックプレ―ト
6B…バックプレ―ト
7…センタダイアフラム
8…シリコンダイアフラム
9…支持体
10…圧力導入室
10A…バックプレ―ト
11…圧力導入室
11A…バックプレ―ト
14…連通孔
15…連通孔
16…連通孔
17…連通孔
18…Oリング
21,22…隔液ダイアフラム
80…ストレインゲ―ジ
81…センサ室
82…センサ室
101…封入液
102…封入液
211…隔液リング
212…中間リング
221…隔液リング
222…中間リング
Claims (1)
- 【請求項1】ブロック状の受圧部に隔液ダイアフラムの
周縁部が隔液リングにより溶接固定される差圧測定装置
において、前記隔液ダイアフラムと前記隔液リングとが
該隔液ダイアフラムと該隔液リングと溶接容易でかつ前
記受圧部と溶接容易な材質からなる中間リングを介して
前記受圧部に溶接固定されたことを特徴とする差圧測定
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4342991U JPH04136538U (ja) | 1991-06-11 | 1991-06-11 | 差圧測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4342991U JPH04136538U (ja) | 1991-06-11 | 1991-06-11 | 差圧測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04136538U true JPH04136538U (ja) | 1992-12-18 |
Family
ID=31923766
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4342991U Withdrawn JPH04136538U (ja) | 1991-06-11 | 1991-06-11 | 差圧測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04136538U (ja) |
-
1991
- 1991-06-11 JP JP4342991U patent/JPH04136538U/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19950907 |