JPH041371B2 - - Google Patents
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- JPH041371B2 JPH041371B2 JP58103008A JP10300883A JPH041371B2 JP H041371 B2 JPH041371 B2 JP H041371B2 JP 58103008 A JP58103008 A JP 58103008A JP 10300883 A JP10300883 A JP 10300883A JP H041371 B2 JPH041371 B2 JP H041371B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chip
- shift register
- path
- paths
- control
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3185—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
- G01R31/318505—Test of Modular systems, e.g. Wafers, MCM's
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2294—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing by remote test
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はデータ処理システムに関する。一層詳
しく言えば、本発明はこのようなシステムをテス
トする装置に関する。
しく言えば、本発明はこのようなシステムをテス
トする装置に関する。
データ処理システムをテストする従来の装置が
英国特許明細書第1536147号に記載されている。
この英国特許明細書では、システムの内部データ
記憶回路が相互に接続してあつて複数の直列シフ
ト・レジスタ経路を構成している。通常は、これ
らの経路は機能抑止状態にあり、シフトするのを
阻止されている。しかしながら、診断作動モード
では、或る選択された経路を使用可能とし、その
内容をシフトできるようにする。これにより、テ
スト・パターンがその経路の記憶回路に直列でシ
フトされ得、こうして、これら記憶回路の内容が
シフト・アウトされて点検を受けることができ
る。
英国特許明細書第1536147号に記載されている。
この英国特許明細書では、システムの内部データ
記憶回路が相互に接続してあつて複数の直列シフ
ト・レジスタ経路を構成している。通常は、これ
らの経路は機能抑止状態にあり、シフトするのを
阻止されている。しかしながら、診断作動モード
では、或る選択された経路を使用可能とし、その
内容をシフトできるようにする。これにより、テ
スト・パターンがその経路の記憶回路に直列でシ
フトされ得、こうして、これら記憶回路の内容が
シフト・アウトされて点検を受けることができ
る。
データ処理システムは、普通、複数のモジユー
ル、たとえば、大規模集積回路(LSI)チツプで
構成されている。各モジユールは上記したように
いくつかのシフト・レジスタ経路を含んでいるこ
とが望ましい。しかしながら、この場合次のよう
な問題が生じる。すなわち、モジユールのピンま
たは端子の数が限られ、それゆえに、経路に必要
なすべての接続を行ない、選択、制御、データ入
出力に利用できるピンが充分にないことがあると
いう問題がある。本発明の一目的はこの問題を軽
減することにある。
ル、たとえば、大規模集積回路(LSI)チツプで
構成されている。各モジユールは上記したように
いくつかのシフト・レジスタ経路を含んでいるこ
とが望ましい。しかしながら、この場合次のよう
な問題が生じる。すなわち、モジユールのピンま
たは端子の数が限られ、それゆえに、経路に必要
なすべての接続を行ない、選択、制御、データ入
出力に利用できるピンが充分にないことがあると
いう問題がある。本発明の一目的はこの問題を軽
減することにある。
本発明によれば、複数の直列シフト・レジスタ
経路を包含するデータ処理モジユールであつて、
これらの直列シフト・レジスタ経路がモジユール
上の共通の入力、出力端子の間に並列に接続して
あり、さらに、経路の1つを選択してテストデー
タおよび結果をその経路を通して直列にシフトさ
せる選択手段が設けてあるデータ処理モジユール
において、前記選択手段が、 (a) 共通の入力端子に接続した制御シフト・レジ
スタと、 (b) 制御シフト・レジスタが共通の入力端子から
直列にシフトするように制御メツセージを受け
るのを可能とし、この制御メツセージが経路の
1つを識別する情報を含んでいる手段と、 (c) 制御シフト・レジスタ内の制御メツセージに
応答してそのメツセージによつて識別される経
路を選択する手段と を包含することを特徴とするデータ処理モジユー
ルを得ることができる。
経路を包含するデータ処理モジユールであつて、
これらの直列シフト・レジスタ経路がモジユール
上の共通の入力、出力端子の間に並列に接続して
あり、さらに、経路の1つを選択してテストデー
タおよび結果をその経路を通して直列にシフトさ
せる選択手段が設けてあるデータ処理モジユール
において、前記選択手段が、 (a) 共通の入力端子に接続した制御シフト・レジ
スタと、 (b) 制御シフト・レジスタが共通の入力端子から
直列にシフトするように制御メツセージを受け
るのを可能とし、この制御メツセージが経路の
1つを識別する情報を含んでいる手段と、 (c) 制御シフト・レジスタ内の制御メツセージに
応答してそのメツセージによつて識別される経
路を選択する手段と を包含することを特徴とするデータ処理モジユー
ルを得ることができる。
ここで、共通入力端子がデータを経路にシフト
するばかりでなく、シフトに必要な経路を選択す
る制御メツセージを受けるのにも使用されること
は了解されたい。これにより、必要端子数を大幅
に節減できる。
するばかりでなく、シフトに必要な経路を選択す
る制御メツセージを受けるのにも使用されること
は了解されたい。これにより、必要端子数を大幅
に節減できる。
制御メツセージは経路あるいは選択経路に対す
る作動モードを特定するフアンクシヨン・コード
を含んでいてもよい。
る作動モードを特定するフアンクシヨン・コード
を含んでいてもよい。
本発明によるデータ処理システムの1つを以
下、添付図面を参照しながら説明する。
下、添付図面を参照しながら説明する。
全体的な説明
第1図を参照して、データ処理システムは複数
のプリント配線ボード10を包含する。各ボード
は複数の大規模集積回路(LSI)チツプ11を支
持している。これらのチツプの各々は二安定素子
やレジスタのようなデータ記憶回路を包含し、こ
れらの記憶回路は論理ゲートやマルチプレクサの
ような組合わせ論理回路と接続してシステムの正
規の処理動作に必要な処理回路を形成している。
これらの処理回路やそれが相互接続する方法は本
発明の部分を構成しないので、ここでは詳しく説
明しない。
のプリント配線ボード10を包含する。各ボード
は複数の大規模集積回路(LSI)チツプ11を支
持している。これらのチツプの各々は二安定素子
やレジスタのようなデータ記憶回路を包含し、こ
れらの記憶回路は論理ゲートやマルチプレクサの
ような組合わせ論理回路と接続してシステムの正
規の処理動作に必要な処理回路を形成している。
これらの処理回路やそれが相互接続する方法は本
発明の部分を構成しないので、ここでは詳しく説
明しない。
相互接続して正規処理回路を形成すると共に、
データ記憶回路は診断やテストを行なえるように
直列にも相互に接続されて各チツプに4つのシフ
ト・レジスタ経路12を形成する。代表的なもの
を挙げると、各経路は72までの個々のビツトを包
含し得る。通常は、すべてのチツプ内のすべての
経路は機能抑止状態にあり、その内容をシフトす
るのを妨げられている。この状態で、データ記憶
回路はそれぞれの正規処理機能を果たす。しかし
ながら、診断動作モードでは、1つの経路が選択
され、シフト作用可能とされる。これで、テス
ト・パターンがこの選択経路の記憶回路にシフト
可能となり、選択経路の内容を順次読出すことが
できる。
データ記憶回路は診断やテストを行なえるように
直列にも相互に接続されて各チツプに4つのシフ
ト・レジスタ経路12を形成する。代表的なもの
を挙げると、各経路は72までの個々のビツトを包
含し得る。通常は、すべてのチツプ内のすべての
経路は機能抑止状態にあり、その内容をシフトす
るのを妨げられている。この状態で、データ記憶
回路はそれぞれの正規処理機能を果たす。しかし
ながら、診断動作モードでは、1つの経路が選択
され、シフト作用可能とされる。これで、テス
ト・パターンがこの選択経路の記憶回路にシフト
可能となり、選択経路の内容を順次読出すことが
できる。
このシステムは診断ユニツト13も包含し、こ
の診断ユニツトは経路の選択を制御し、テスト・
パターンを発生し、経路の内容を受取つてそれを
点検する。診断ユニツト13はライン14に直列
データ入力信号LDIを発生し、これはすべてのボ
ード10に分配され、各チツプ11の直列入力端
子15に送られる。この端子15はチツプの経路
12のすべての入力部に並列に接続してある。
の診断ユニツトは経路の選択を制御し、テスト・
パターンを発生し、経路の内容を受取つてそれを
点検する。診断ユニツト13はライン14に直列
データ入力信号LDIを発生し、これはすべてのボ
ード10に分配され、各チツプ11の直列入力端
子15に送られる。この端子15はチツプの経路
12のすべての入力部に並列に接続してある。
経路の内容はマルチプレクサ16に送られ、こ
れは出力の1つを選択し、制御信号GO=1のと
き、マルチプレクサ18を介して直列出力端子1
7にこの出力を送る。(信号GOはすべてのチツ
プに送られる。)出力端子17はボードの他のチ
ツプからの同様な出力を持つマルチプレクサ19
に接続している。マルチプレクサ19の出力部は
他のボードからの同様な出力を持つ別のマルチプ
レクサ20に接続しており、直列データ出力信号
LDOを発生し、これは診断ユニツト13にもど
される。
れは出力の1つを選択し、制御信号GO=1のと
き、マルチプレクサ18を介して直列出力端子1
7にこの出力を送る。(信号GOはすべてのチツ
プに送られる。)出力端子17はボードの他のチ
ツプからの同様な出力を持つマルチプレクサ19
に接続している。マルチプレクサ19の出力部は
他のボードからの同様な出力を持つ別のマルチプ
レクサ20に接続しており、直列データ出力信号
LDOを発生し、これは診断ユニツト13にもど
される。
各ボードはマスタ・シフト・レジスタと呼ぶシ
フト・レジスタ21を包含する。通常は、このレ
ジスタは機能抑止状態にあり、その内容をシフト
するのを妨げられている。レジスタ21は診断ユ
ニツトからのボード選択信号BSELによつて使用
可能となる。このとき、このレジスタは、クロツ
ク信号CLKの制御の下にライン14から一度に
1ビツトずつそこにシフトされるメツセージを持
つ(このクロツク信号はチツプ11のすべてに送
られる)。データもレジスタ21からシフトされ、
マルチプレクサ19を通して診断ユニツトにもど
される。
フト・レジスタ21を包含する。通常は、このレ
ジスタは機能抑止状態にあり、その内容をシフト
するのを妨げられている。レジスタ21は診断ユ
ニツトからのボード選択信号BSELによつて使用
可能となる。このとき、このレジスタは、クロツ
ク信号CLKの制御の下にライン14から一度に
1ビツトずつそこにシフトされるメツセージを持
つ(このクロツク信号はチツプ11のすべてに送
られる)。データもレジスタ21からシフトされ、
マルチプレクサ19を通して診断ユニツトにもど
される。
マスタ・シフト・レジスタ21にシフトされる
メツセージはチツプ11の1つを識別するチツプ
選択コードを含む。これはデコーダ回路22によ
つて復号化され、その特定のチツプに対するチツ
プ選択信号CSELを発生する。或る値のチツプ選
択コードは放送コードとして作用し、デコーダ2
2の出力をすべて使用可能にし、チツプ選択信号
CSELをすべてのチツプに同時に送る。
メツセージはチツプ11の1つを識別するチツプ
選択コードを含む。これはデコーダ回路22によ
つて復号化され、その特定のチツプに対するチツ
プ選択信号CSELを発生する。或る値のチツプ選
択コードは放送コードとして作用し、デコーダ2
2の出力をすべて使用可能にし、チツプ選択信号
CSELをすべてのチツプに同時に送る。
各チツプは制御シフト・レジスタと呼ぶシフ
ト・レジスタ23を含む。通常は、このレジスタ
ぱ機能抑止状態にある。レジスタ23はチツプ選
択信号CSELのAND可能および制御信号GOの反
転によつて使用可能とされる。このとき、レジス
タ23はクロツクCLKの制御の下に端子15か
ら一度に1ビツトずつそこにシフトされるメツセ
ージを有する。データもこのレジスタからシフ
ト・アウトされ、GO=0のとき、マルチプレク
サ18によつて診断ユニツトにもどされる。
ト・レジスタ23を含む。通常は、このレジスタ
ぱ機能抑止状態にある。レジスタ23はチツプ選
択信号CSELのAND可能および制御信号GOの反
転によつて使用可能とされる。このとき、レジス
タ23はクロツクCLKの制御の下に端子15か
ら一度に1ビツトずつそこにシフトされるメツセ
ージを有する。データもこのレジスタからシフ
ト・アウトされ、GO=0のとき、マルチプレク
サ18によつて診断ユニツトにもどされる。
制御シフト・レジスタ23にシフトされたメツ
セージはチツプ上の4つの経路12のうちの1つ
を特定する経路選択コードを含む。このコードは
マルチプレクサ16を制御して特定経路の出力部
を選択する。このコードはデコーダ回路24によ
つても復号化され、特定経路のための経路選択信
号LSELを発生する。
セージはチツプ上の4つの経路12のうちの1つ
を特定する経路選択コードを含む。このコードは
マルチプレクサ16を制御して特定経路の出力部
を選択する。このコードはデコーダ回路24によ
つても復号化され、特定経路のための経路選択信
号LSELを発生する。
このメツセージはループ・フアンクシヨン・コ
ードも含み、このコードは経路についての所望の
動作モードを特定する。これはデコーダ回路25
によつて復号化され、経路に対するフアンクシヨ
ン制御信号FNを発生する。フアンクシヨン制御
信号の最初の3つは次の意味を持つ。
ードも含み、このコードは経路についての所望の
動作モードを特定する。これはデコーダ回路25
によつて復号化され、経路に対するフアンクシヨ
ン制御信号FNを発生する。フアンクシヨン制御
信号の最初の3つは次の意味を持つ。
RUN:チツプ内のすべての経路が正規のRUN
動作モードに置かれ、チツプのすべてのデータ記
憶回路がそれぞれ正規の処理機能を果たす。
動作モードに置かれ、チツプのすべてのデータ記
憶回路がそれぞれ正規の処理機能を果たす。
HOLD:チツプ内にすべての経路がホール
ド・モードに置かれ、それぞれの内容が凍結さ
れ、重ねて書込みを行なうのを防いでいる。
ド・モードに置かれ、それぞれの内容が凍結さ
れ、重ねて書込みを行なうのを防いでいる。
SHIFT:経路選択信号LSELによつて特定さ
れた経路の1つがSHIFTモードに置かれ、その
内容が各クロツクパルス毎に1ステツプずつ第1
図で見て左から右にシフトされる。同時に、チツ
プの残りに3つの経路がHOLDモードに置かれ
る。
れた経路の1つがSHIFTモードに置かれ、その
内容が各クロツクパルス毎に1ステツプずつ第1
図で見て左から右にシフトされる。同時に、チツ
プの残りに3つの経路がHOLDモードに置かれ
る。
機能制御信号はGO=1の場合のみ有効であ
り、GO=0のときはすべての経路は凍結され
る。
り、GO=0のときはすべての経路は凍結され
る。
動作
最初に、各チツプの制御シフト・レジスタ23
がRUNフアンクシヨン・コードを含み、GO=1
と仮定すると、すべての処理回路は通常次のよう
に作動する。
がRUNフアンクシヨン・コードを含み、GO=1
と仮定すると、すべての処理回路は通常次のよう
に作動する。
(a) まず、GO信号が取出される。これは処理回
路の動作を一時的に凍結する。
路の動作を一時的に凍結する。
(b) 次に、ボード選択信号BSELがボードの1つ
またはそれ以上のものに与えられ、その(また
は各)ボードのマスタ・シフト・レジスタ21
を使用可能とする。
またはそれ以上のものに与えられ、その(また
は各)ボードのマスタ・シフト・レジスタ21
を使用可能とする。
(c) このとき、ライン14を通して、選択された
ボードのマスタ・シフト・レジスタ21にメツ
セージがシフトされる。これはボード内のチツ
プを1つ選択する(あるいは、放送コードの場
合には、ボード上のすべてのチツプを選択す
る)。
ボードのマスタ・シフト・レジスタ21にメツ
セージがシフトされる。これはボード内のチツ
プを1つ選択する(あるいは、放送コードの場
合には、ボード上のすべてのチツプを選択す
る)。
(d) これで、信号BSELが除かれ、これ以上のデ
ータがマスタ・シフト・レジスタにシフトされ
るのを防ぐ。
ータがマスタ・シフト・レジスタにシフトされ
るのを防ぐ。
(e) ここで、ライン14を通して、その(あるい
は、各)選択されたチツプの制御シフト・レジ
スタ23にメツセージがシフトされる。これは
必要な経路を選択させ、経路に対する機能制御
信号を発生する。
は、各)選択されたチツプの制御シフト・レジ
スタ23にメツセージがシフトされる。これは
必要な経路を選択させ、経路に対する機能制御
信号を発生する。
(f) GO信号が再格納される。
たとえば、上記の手順は次の要領で使用され得
る。
る。
(a) 放送コードを用いて、システム内にすべての
経路をHOLDモードにセツトする。
経路をHOLDモードにセツトする。
(b) 次に、1つの選択された経路がSHIFTモー
ドにセツトされ、その内容を診断ユニツト13
にシフト・アウトされて点検を受けると共に、
テスト・パターンが診断ユニツトからこの経路
にシフトされる。
ドにセツトされ、その内容を診断ユニツト13
にシフト・アウトされて点検を受けると共に、
テスト・パターンが診断ユニツトからこの経路
にシフトされる。
(c) 最後に、放送コードが再び使用されて全経路
をRUNモードにもどす。
をRUNモードにもどす。
要するに、個々の経路が3段階のプロセスによ
つて選定されるわけである。最初に、ボードが選
択され、次にそのボード上の1つのチツプが選択
され、次にそのチツプ内の1つの経路が選択され
るのである。チツプおよび経路はライン14を通
して順次診断ユニツト13から送られてくるメツ
セージによつて選択される。各チツプ11はこれ
らのメツセージを受取るのにただ1つの入力端子
15を持つだけでよく、この同じ端子を経路12
に対する入力データを受取るのにも用いる。
つて選定されるわけである。最初に、ボードが選
択され、次にそのボード上の1つのチツプが選択
され、次にそのチツプ内の1つの経路が選択され
るのである。チツプおよび経路はライン14を通
して順次診断ユニツト13から送られてくるメツ
セージによつて選択される。各チツプ11はこれ
らのメツセージを受取るのにただ1つの入力端子
15を持つだけでよく、この同じ端子を経路12
に対する入力データを受取るのにも用いる。
可能性のある変形例
上記のシステムにおいて、デコーダ22は各チ
ツプ11に対して別々のチツプ選択ラインCSEL
を有する。したがつて、たとえば、1グループ10
個のチツプがあれば、このようなラインが10本あ
ることになる。これはデコーダ22(これ自体が
LSIチツプである可能性がある)で利用できる出
力ピンが充分にない場合には問題となるかも知れ
ない。
ツプ11に対して別々のチツプ選択ラインCSEL
を有する。したがつて、たとえば、1グループ10
個のチツプがあれば、このようなラインが10本あ
ることになる。これはデコーダ22(これ自体が
LSIチツプである可能性がある)で利用できる出
力ピンが充分にない場合には問題となるかも知れ
ない。
第2図を参照して、ここに示す上記システムの
変形例において、1グループ10個のチツプのうち
1個をデコーダ22から通じる5本1組の選択ラ
イン30によつて選択する。これらのラインはツ
ー・アウト・オブ・フアイブ・コードを搬送し、
このコードは次のようにしてチツプの1つを識別
する。
変形例において、1グループ10個のチツプのうち
1個をデコーダ22から通じる5本1組の選択ラ
イン30によつて選択する。これらのラインはツ
ー・アウト・オブ・フアイブ・コードを搬送し、
このコードは次のようにしてチツプの1つを識別
する。
チツプ番号 コード
0 10001
1 10010
2 10100
3 11000
4 01001
5 01010
6 01100
7 00101
8 00110
9 00011
図示のように、各チツプは2つの選択端子3
1,32を有し、これらの端子はそのチツプに対
するコードの2つのものに相当する2つのライン
30に接続してある。たとえば、第0番のチツプ
の端子31,32はライン30のうちの最初と最
後のものに接続してある。端子31,32からの
信号はチツプのアンド・ゲート33に組合わせて
あり、そのチツプに対してチツプ選択信号CSEL
を発生する。
1,32を有し、これらの端子はそのチツプに対
するコードの2つのものに相当する2つのライン
30に接続してある。たとえば、第0番のチツプ
の端子31,32はライン30のうちの最初と最
後のものに接続してある。端子31,32からの
信号はチツプのアンド・ゲート33に組合わせて
あり、そのチツプに対してチツプ選択信号CSEL
を発生する。
上記コードのうちの1つがライン30に与えら
れたときにはいつでも、ただ1つだけのチツプの
端子31,32の両方が付勢され、そのチツプの
みが選択されることになる。デコーダ22はすべ
てのライン30を付勢することによつて上記の放
送コードを処理してすべてのチツプを選択する。
れたときにはいつでも、ただ1つだけのチツプの
端子31,32の両方が付勢され、そのチツプの
みが選択されることになる。デコーダ22はすべ
てのライン30を付勢することによつて上記の放
送コードを処理してすべてのチツプを選択する。
上記の変形例では、ツー・アウト・オブ・フア
イブ・コードを用いてデコーダ22からの出力数
を10から5まで減じる。各チツプ11は1つだけ
でなく2つの選択入力信号を受けるので余分な端
子を必要とする。
イブ・コードを用いてデコーダ22からの出力数
を10から5まで減じる。各チツプ11は1つだけ
でなく2つの選択入力信号を受けるので余分な端
子を必要とする。
ボード10を選択して診断ユニツト13からの
ボード選択ラインBSELの数を減らすために同様
な符号化装置を用いてもよい。
ボード選択ラインBSELの数を減らすために同様
な符号化装置を用いてもよい。
第1図はシステムのブロツク回路ダイアグラム
である。第2図はシステムの変形例を示す図であ
る。 〔主要部分の符号の説明〕、プリント配線ボー
ド……10、大規模集積回路チツプ……11、シ
フト・レジスタ経路……12、診断ユニツト……
13、直列入力端子……15、マルチプレクサ…
…16,18,19,20、直列出力端子……1
7、シフト・レジスタ……21、デコーダ回路…
…22、シフト・レジスタ……23、デコーダ回
路……24、デコーダ回路……25。
である。第2図はシステムの変形例を示す図であ
る。 〔主要部分の符号の説明〕、プリント配線ボー
ド……10、大規模集積回路チツプ……11、シ
フト・レジスタ経路……12、診断ユニツト……
13、直列入力端子……15、マルチプレクサ…
…16,18,19,20、直列出力端子……1
7、シフト・レジスタ……21、デコーダ回路…
…22、シフト・レジスタ……23、デコーダ回
路……24、デコーダ回路……25。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 複数のモジユールからなるデータ処理システ
ムにおいて、前記各モジユールが、 共通入力ラインに対し、相互に並列に接続され
た複数の直列シフトレジスタ経路、及び 該共通入力ラインに接続された制御シフトレジ
スタを備え、かつ 前記データ処理システムが、更に、該共通入力
ラインに接続されたマスターシフトレジスタを備
え、前記直列シフトレジスタのいずれか一つは、 () 前記モジユールの一つを選択するために、
前記共通入力ラインから前記マスターシフトレ
ジスタへ第1の制御メツセージをシフトし、か
つ () 前記モジユールの経路のいずれか一つを選
択するために、共通入力ラインから選択された
モジユールの制御シフトレジスタへ第2の制御
メツセージをシフトすることによつて選択する
ことを特徴とするデータ処理システム。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB8217006 | 1982-06-11 | ||
| GB8217006 | 1982-06-11 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS593561A JPS593561A (ja) | 1984-01-10 |
| JPH041371B2 true JPH041371B2 (ja) | 1992-01-10 |
Family
ID=10530972
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58103008A Granted JPS593561A (ja) | 1982-06-11 | 1983-06-10 | デ−タ処理システム |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
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Family Cites Families (8)
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1986
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Also Published As
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