JPH04138331A - ヘテロダイン受光を用いた光パルス試験器 - Google Patents
ヘテロダイン受光を用いた光パルス試験器Info
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- JPH04138331A JPH04138331A JP26024790A JP26024790A JPH04138331A JP H04138331 A JPH04138331 A JP H04138331A JP 26024790 A JP26024790 A JP 26024790A JP 26024790 A JP26024790 A JP 26024790A JP H04138331 A JPH04138331 A JP H04138331A
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- optical
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3172—Reflectometers detecting the back-scattered light in the frequency-domain, e.g. OFDR, FMCW, heterodyne detection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3181—Reflectometers dealing with polarisation
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は、光ファイバからの戻り光の偏光状態を補正
する光パルス試験器（以下、０ＴＤＲという。）につい
てのものである。
する光パルス試験器（以下、０ＴＤＲという。）につい
てのものである。
［従来の技術］
次に、従来技術による０ １’ ＩＪ Ｒの構成を第３
図により説明する。第３図の１Ａは光源、１Ｂは光分配
器、１Ｃは光周波数シフタ、１Ｄはパルス発生器、１Ｅ
は光方向性結合器、３Ａは光検出器、４Ａは検波器、７
は電気信号処理部、８は表示部、１０は光ファイバであ
る。
図により説明する。第３図の１Ａは光源、１Ｂは光分配
器、１Ｃは光周波数シフタ、１Ｄはパルス発生器、１Ｅ
は光方向性結合器、３Ａは光検出器、４Ａは検波器、７
は電気信号処理部、８は表示部、１０は光ファイバであ
る。
光源１Ａから出射する周波数ｆの光は、光分配器１Ｂで
信号光１１と局発光１２に分離される。
信号光１１と局発光１２に分離される。
信号光１１は、光周波数シフタ１Ｃとパルス発生器１Ｄ
により光源１Ａと周波数が八ｆだけ違うパルス光となり
、光方向性結合器１Ｅを通過して光ファイバ１０に入射
される。
により光源１Ａと周波数が八ｆだけ違うパルス光となり
、光方向性結合器１Ｅを通過して光ファイバ１０に入射
される。
光ファイバ１０からの戻り光１３は光方向性結合器１Ｅ
に入り、局発光１２と合波されて光検出器３Ａによって
光ヘテロダイン検波される。光検出器３Ａの出力は周波
数Δｆの信号となり、検波器４Ａを通過した後、電気信
号処理部７でＡ／Ｄ変換等の信号処理を受け、表示部８
に表示される。
に入り、局発光１２と合波されて光検出器３Ａによって
光ヘテロダイン検波される。光検出器３Ａの出力は周波
数Δｆの信号となり、検波器４Ａを通過した後、電気信
号処理部７でＡ／Ｄ変換等の信号処理を受け、表示部８
に表示される。
［発明が解決しようとする課題］
第３図の戻り光１３の偏光状態が変動すると、光方向性
結合器１Ｅで安定した合波がされないので、信号レベル
が変動し、正確な測定ができない。
結合器１Ｅで安定した合波がされないので、信号レベル
が変動し、正確な測定ができない。
この発明は、光方向性結合器］、Ｅで合波した後の）１
０波を偏光ビームスプリッタで直交偏光成分に分離し、
各偏光成分をそれぞれ光検出器・検波器で検波した後、
各偏光成分に対応する電気信号の位相を位相補正器で一
致させ、電気的に加算することにより、戻り光１３の偏
光状態の変動による信号レベルの変動を防ぐようにした
○ＴＤＲの提供を目的とする。
０波を偏光ビームスプリッタで直交偏光成分に分離し、
各偏光成分をそれぞれ光検出器・検波器で検波した後、
各偏光成分に対応する電気信号の位相を位相補正器で一
致させ、電気的に加算することにより、戻り光１３の偏
光状態の変動による信号レベルの変動を防ぐようにした
○ＴＤＲの提供を目的とする。
［１１３１１題を解決するための手段］この目的を達成
するため、この発明では、コヒーレント光を出射する光
源１Ａと、光源１の出射光を信跨光１１−と局発光１２
に分離する光分配器１Ｂと、信汚光１１の光周波数をΔ
ｆだけシフトさせる光周波数シフタ１Ｃと、光周波数シ
フタ１０をパルス駆動させるパルス発生器１Ｄと、信号
光１１を光ファイバ１０に入射させ、局発光１２と光フ
ァイバ１０からの戻り光１３を合波する光方向性結合器
１Ｅと、合波された光を直交偏光成分に分トドする偏光
ビームスプリッタ２と、偏光ビームスプリンタ２の第１
の分岐偏光成分を電気信号に変換する光検出器３Ａと、
偏光ビームスプリッタ２の第２の分岐偏光成分を電気信
号に変換する光検出器３Ｂと、光検出器３Ａで変換され
た電気信号を検波する検波器４Ａと、光検出器３Ｂで変
換された電気信号を検波する検波器４Ｂと、検波器４Ａ
と検波器４Ｂから出力される信号の位相を一致させる位
相補正器５と、位相を一致させた後の検波器４Ａと検波
器４Ｂの出力を電気的に合成する加算器６とを備える。
するため、この発明では、コヒーレント光を出射する光
源１Ａと、光源１の出射光を信跨光１１−と局発光１２
に分離する光分配器１Ｂと、信汚光１１の光周波数をΔ
ｆだけシフトさせる光周波数シフタ１Ｃと、光周波数シ
フタ１０をパルス駆動させるパルス発生器１Ｄと、信号
光１１を光ファイバ１０に入射させ、局発光１２と光フ
ァイバ１０からの戻り光１３を合波する光方向性結合器
１Ｅと、合波された光を直交偏光成分に分トドする偏光
ビームスプリッタ２と、偏光ビームスプリンタ２の第１
の分岐偏光成分を電気信号に変換する光検出器３Ａと、
偏光ビームスプリッタ２の第２の分岐偏光成分を電気信
号に変換する光検出器３Ｂと、光検出器３Ａで変換され
た電気信号を検波する検波器４Ａと、光検出器３Ｂで変
換された電気信号を検波する検波器４Ｂと、検波器４Ａ
と検波器４Ｂから出力される信号の位相を一致させる位
相補正器５と、位相を一致させた後の検波器４Ａと検波
器４Ｂの出力を電気的に合成する加算器６とを備える。
［作用コ
次に、この発明による０ＴＤＲの構成を第１図により説
明する。第１図の２は偏光ビームスプリンタ、３Ｂは光
検出器、４Ｂは検波器、５は位相補正器、６は加算器で
あり、その他の部分は第３図と同じである。
明する。第１図の２は偏光ビームスプリンタ、３Ｂは光
検出器、４Ｂは検波器、５は位相補正器、６は加算器で
あり、その他の部分は第３図と同じである。
光方向性結合器１Ｅの合波出力は、偏光ビームスプリッ
タ２で直交偏光成分に分離される。
タ２で直交偏光成分に分離される。
第２図は、光の進行方向に対して垂直な平面内で適当に
Ｘ−Ｙ軸を取った場合の戻り光１３と局発光１２の偏光
状態の例であり、戻り光１３はＸ軸に対して角度Ｏの直
線偏光、局発光１２はＸ軸にＺ−１シて角度４５°の直
線偏光になっている。
Ｘ−Ｙ軸を取った場合の戻り光１３と局発光１２の偏光
状態の例であり、戻り光１３はＸ軸に対して角度Ｏの直
線偏光、局発光１２はＸ軸にＺ−１シて角度４５°の直
線偏光になっている。
第２図の偏光状態をもつ戻り光」３と局発光１２は、偏
光ビームスプリッタ２でＸ方向とＹ方向の偏光成分に分
離される。
光ビームスプリッタ２でＸ方向とＹ方向の偏光成分に分
離される。
戻り光１３のＸ方向とＹ方向の偏光成分は、それぞれ局
発光１２のＸ方向とＹ方向の偏光成分と合波されるので
、光検出器３Ａ・３Ｂを用いて光ヘテロダ・ｒン検波さ
れ、光検出器３Ａ・３Ｂの出力は戻り光１３と局発光１
２の周波数差へｆの信号になる。
発光１２のＸ方向とＹ方向の偏光成分と合波されるので
、光検出器３Ａ・３Ｂを用いて光ヘテロダ・ｒン検波さ
れ、光検出器３Ａ・３Ｂの出力は戻り光１３と局発光１
２の周波数差へｆの信号になる。
光検出器３Ａの出力は検波器４Ａから位相補正器５の１
つの入力５Ａに入り、光検出器３Ｂの出力は検波器４Ｂ
から位相補正器５の他の入力５Ｂに入る。位相補正器５
は、入力５Ｂを入力５Ａの位相と同じにして出力５Ｃか
ら取り出す。
つの入力５Ａに入り、光検出器３Ｂの出力は検波器４Ｂ
から位相補正器５の他の入力５Ｂに入る。位相補正器５
は、入力５Ｂを入力５Ａの位相と同じにして出力５Ｃか
ら取り出す。
加算器６は検波器４Ａの出力と位相補正器５Ｃの出力を
加算する。戻り光］３が直線偏光の場合には位相補正を
必要としない。
加算する。戻り光］３が直線偏光の場合には位相補正を
必要としない。
−６＝
しかし、一般に偏光のＸ方向とＹ方向の成分間には位相
差があり、その位相差は光フアイバ１０中で変動する。
差があり、その位相差は光フアイバ１０中で変動する。
光ファイバ］、Ｏ中の位相差は、そのまま光ヘテロダイ
ン検波によって出力され、電気信号間の位相差となって
現れる。
ン検波によって出力され、電気信号間の位相差となって
現れる。
第１図では、光検出器３Ａ・３Ｂの出力を検波器４Ａ・
４Ｂで検波した後に位相補正器５で位相を一致させ、加
算器６で加算しているので、偏光の直交成分間の位相差
変動を防いでいる。
４Ｂで検波した後に位相補正器５で位相を一致させ、加
算器６で加算しているので、偏光の直交成分間の位相差
変動を防いでいる。
［発明の効果コ
この発明によれば、戻り光と局発光を直交偏光成分に分
離して光ヘテロダイン検波し、検波後の電気信号の状態
で光波段階の直交偏光成分間の位相差を打ち消す補正を
してから加算しているので、直交偏光成分間の位相差変
動の影響を防ぐことができる。
離して光ヘテロダイン検波し、検波後の電気信号の状態
で光波段階の直交偏光成分間の位相差を打ち消す補正を
してから加算しているので、直交偏光成分間の位相差変
動の影響を防ぐことができる。
第１図はこの発明による０ＴＤＲの構成図、第２図は局
発光１２と戻り光１３の偏光状態の例を示す図、第３図
は従来技術による○ＴＤＲの構成図である。 １Ａ・・・・・・光源、１Ｂ・・・・・・光分配器、１
Ｃ・・・・・・光周波数シフタ、１Ｄ・・・・・・パル
ス発生器、１Ｅ・・・・・・光方向性結合器、２・・・
・・・偏光ビームスプリッタ、３Ａ・３Ｂ・・・・・・
光検出器、４Ａ・４Ｂ・・・・・・検波器、５・・・・
・・位相補正器、６・・・・・・加算器、７・・・・・
・電気信号処理部、８・・・・・・表示部、１０・・・
・・・光ファイバ、１１・・・・・・信号光、１２・・
・・・・局発光、１３・・・・・・戻り光。 代理人 弁理士 小 俣 欽 司
発光１２と戻り光１３の偏光状態の例を示す図、第３図
は従来技術による○ＴＤＲの構成図である。 １Ａ・・・・・・光源、１Ｂ・・・・・・光分配器、１
Ｃ・・・・・・光周波数シフタ、１Ｄ・・・・・・パル
ス発生器、１Ｅ・・・・・・光方向性結合器、２・・・
・・・偏光ビームスプリッタ、３Ａ・３Ｂ・・・・・・
光検出器、４Ａ・４Ｂ・・・・・・検波器、５・・・・
・・位相補正器、６・・・・・・加算器、７・・・・・
・電気信号処理部、８・・・・・・表示部、１０・・・
・・・光ファイバ、１１・・・・・・信号光、１２・・
・・・・局発光、１３・・・・・・戻り光。 代理人 弁理士 小 俣 欽 司
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、コヒーレント光を出射する光源（１Ａ）と、光源（
１Ａ）の出射光を信号光（１１）と局発光（１２）に分
離する光分配器（１Ｂ）と、 信号光（１１）の光周波数をΔｆだけシフトさせる光周
波数シフタ（１Ｃ）と、 光周波数シフタ（１Ｃ）をパルス駆動させるパルス発生
器（１Ｄ）と、 信号光（１１）を光ファイバ（１０）に入射させ、局発
光（１２）と光ファイバ（１０）からの戻り光（１３）
を合波する光方向性結合器（１Ｅ）と、合波された光を
直交偏光成分に分離する偏光ビームスプリッタ（２）と
、 偏光ビームスプリッタ（２）の第１の分岐偏光成分を電
気信号に変換する第１の光検出器（３Ａ）と、 偏光ビームスプリッタ（２）の第２の分岐偏光成分を電
気信号に変換する第２の光検出器（３Ｂ）と、 第１の光検出器（３Ａ）で変換された電気信号を検波す
る第１の検波器（４Ａ）と、 第２の光検出器（３Ｂ）で変換された電気信号を検波す
る第２の検波器（４Ｂ）と、 第１の検波器（４Ａ）と第２の検波器（４Ｂ）から出力
される信号の位相を一致させる位相補正器（５）と、 位相を一致させた後の第１の検波器（４Ａ）と第２の検
波器（４Ｂ）の出力を電気的に合成する加算器（６）と
を備えることを特徴とするヘテロダイン受光を用いた光
パルス試験器。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26024790A JPH04138331A (ja) | 1990-09-28 | 1990-09-28 | ヘテロダイン受光を用いた光パルス試験器 |
| BE9100894A BE1005213A3 (nl) | 1990-09-28 | 1991-09-26 | Apparaat voor het testen van optische vezel door optische heterodyne techniek te gebruiken. |
| GB9120504A GB2248990B (en) | 1990-09-28 | 1991-09-26 | Apparatus for testing optical fiber by using optical heterodyne technique |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26024790A JPH04138331A (ja) | 1990-09-28 | 1990-09-28 | ヘテロダイン受光を用いた光パルス試験器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04138331A true JPH04138331A (ja) | 1992-05-12 |
Family
ID=17345399
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26024790A Pending JPH04138331A (ja) | 1990-09-28 | 1990-09-28 | ヘテロダイン受光を用いた光パルス試験器 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04138331A (ja) |
| BE (1) | BE1005213A3 (ja) |
| GB (1) | GB2248990B (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11013322B2 (en) | 2019-07-12 | 2021-05-25 | Lg Electronics Inc. | Refrigerator |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3122293B2 (ja) * | 1993-10-29 | 2001-01-09 | 安藤電気株式会社 | Ｏｔｄｒ測定装置 |
| JP2001281102A (ja) | 2000-03-30 | 2001-10-10 | Ando Electric Co Ltd | 光ファイバの特性測定装置及び特性測定方法 |
| US6563590B2 (en) * | 2001-02-16 | 2003-05-13 | Corning Incorporated | System and method for measurement of the state of polarization over wavelength |
| CN109143263B (zh) * | 2018-07-05 | 2022-11-01 | 夏和娣 | 一种混合型测风激光雷达 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2165118B (en) * | 1984-09-29 | 1988-01-20 | Plessey Co Plc | Otdr for sensing distortions in optical fibres |
| JPS63313030A (ja) * | 1987-06-15 | 1988-12-21 | Yokogawa Electric Corp | 光ファイバ試験装置 |
| GB2215549B (en) * | 1988-03-08 | 1992-02-12 | Stc Plc | Sensor |
-
1990
- 1990-09-28 JP JP26024790A patent/JPH04138331A/ja active Pending
-
1991
- 1991-09-26 GB GB9120504A patent/GB2248990B/en not_active Expired - Fee Related
- 1991-09-26 BE BE9100894A patent/BE1005213A3/nl not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11013322B2 (en) | 2019-07-12 | 2021-05-25 | Lg Electronics Inc. | Refrigerator |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB2248990A (en) | 1992-04-22 |
| BE1005213A3 (nl) | 1993-05-25 |
| GB9120504D0 (en) | 1991-11-06 |
| GB2248990B (en) | 1994-08-31 |
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