JPH0413924A - センサ信号処理回路 - Google Patents
センサ信号処理回路Info
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- JPH0413924A JPH0413924A JP2118021A JP11802190A JPH0413924A JP H0413924 A JPH0413924 A JP H0413924A JP 2118021 A JP2118021 A JP 2118021A JP 11802190 A JP11802190 A JP 11802190A JP H0413924 A JPH0413924 A JP H0413924A
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- switching
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、センサ信号処理回路、特にセンサ素子と一体
的に組み込まれ、劣悪な環境条件においても安定した信
号処理作用を達成可能なセンサ信号処理回路の改良に関
する。
的に組み込まれ、劣悪な環境条件においても安定した信
号処理作用を達成可能なセンサ信号処理回路の改良に関
する。
[従来の技術]
各種の物理条件に応じて、電気的な検出信号を出力する
センサが広く用いられており、例えば磁気抵抗素子に永
久磁石などを接近させることにより所望の電気的出力を
得ることができる。
センサが広く用いられており、例えば磁気抵抗素子に永
久磁石などを接近させることにより所望の電気的出力を
得ることができる。
通常の場合、これらのセンサ信号は信号処理回路によっ
てデジタル的に処理され、センサ出力電圧が所定値を越
えたときにパルス状のデジタル出力が得られる。
てデジタル的に処理され、センサ出力電圧が所定値を越
えたときにパルス状のデジタル出力が得られる。
このようなセンサ素子は、例えば回転体の回転検出セン
サとして用いられ、ファクトリオートメーションあるい
はカーエレクトロニクス用の制御信号を検出するために
好適である。
サとして用いられ、ファクトリオートメーションあるい
はカーエレクトロニクス用の制御信号を検出するために
好適である。
従来において、このようなセンサ素子から得られるアナ
ログ信号をパルス状のデジタル出力として取り出すため
に各種の信号処理回路が提案されているが、通常の場合
、これらの処理回路はセンサ素子の出力値と基準値とを
比較してデジタル信号に変換する回路から成る。
ログ信号をパルス状のデジタル出力として取り出すため
に各種の信号処理回路が提案されているが、通常の場合
、これらの処理回路はセンサ素子の出力値と基準値とを
比較してデジタル信号に変換する回路から成る。
従来において、このような信号処理回路はセンサ素子と
は別個に制御部に内蔵されており、センサ素子とはケー
ブル等で連結されている。
は別個に制御部に内蔵されており、センサ素子とはケー
ブル等で連結されている。
しかしながら近年においては、装置を小型化し、かつケ
ーブル等の伝送路における電圧降下あるいはノイズ混入
をさけるために、信号処理回路をセンサ素子と一体的に
組み込むことが行われるようになってきた。このような
センサ素子一体型の信号処理回路によれば、検出地点か
らデジタル信号として出力可能であり、装置を全体的に
小型化しながら高精度の検出信号を得ることが可能とな
る。
ーブル等の伝送路における電圧降下あるいはノイズ混入
をさけるために、信号処理回路をセンサ素子と一体的に
組み込むことが行われるようになってきた。このような
センサ素子一体型の信号処理回路によれば、検出地点か
らデジタル信号として出力可能であり、装置を全体的に
小型化しながら高精度の検出信号を得ることが可能とな
る。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、一方において信号処理回路を検出地点に
設置することから、劣悪な環境、例えば温度変化の激し
い条件においても正しい検出信号を保証しなければなら
ず、このような信頼性の高い、かつ安定した検出作用か
可能な回路を得ることができないという問題があった。
設置することから、劣悪な環境、例えば温度変化の激し
い条件においても正しい検出信号を保証しなければなら
ず、このような信頼性の高い、かつ安定した検出作用か
可能な回路を得ることができないという問題があった。
本発明は、上記従来の課題に鑑みなされたものであり、
その目的は、環境温度変化に対しても安定した検出作用
を可能とする改良されたセンサ信号処理回路を提供する
ことにある。
その目的は、環境温度変化に対しても安定した検出作用
を可能とする改良されたセンサ信号処理回路を提供する
ことにある。
[課題を解決するための手段]
上記目的を達成するために、本発明は、センサ出力を基
準値と比較するためのスイッチングトランジスタ対を含
み、一方のスイッチングトランジスタのベースにはセン
サ出力が供給され、他方のスイッチングトランジスタの
ベースには比較基準電圧が供給され、かつそのコレクタ
から処理出力が取り出される。
準値と比較するためのスイッチングトランジスタ対を含
み、一方のスイッチングトランジスタのベースにはセン
サ出力が供給され、他方のスイッチングトランジスタの
ベースには比較基準電圧が供給され、かつそのコレクタ
から処理出力が取り出される。
そして、前記スイッチングトランジスタ対の共通エミッ
タには抵抗を介して定電圧を供給する定電圧源が接続さ
れ、更に前記定電圧源には温度補償用トランジスタが接
続されている。
タには抵抗を介して定電圧を供給する定電圧源が接続さ
れ、更に前記定電圧源には温度補償用トランジスタが接
続されている。
そして、前記定電圧源からの定電圧がベースに供給され
たバイアス用トランジスタによって各トランジスタには
バイアス電流が供給されている。
たバイアス用トランジスタによって各トランジスタには
バイアス電流が供給されている。
[作用]
従って、本発明によれば、環境温度条件が大幅に変動し
た場合においても、各トランジスタのベース・エミッタ
間電圧は互いに温度による変動を打ち消し合うように作
用し、この結果、スイッチング動作時の温度特性を広範
囲の温度変化に対して安定化させることが可能となる。
た場合においても、各トランジスタのベース・エミッタ
間電圧は互いに温度による変動を打ち消し合うように作
用し、この結果、スイッチング動作時の温度特性を広範
囲の温度変化に対して安定化させることが可能となる。
[実施例]
以下、図面に基づいて本発明の好適な実施例を説明する
。
。
第1,2図には、本発明に係るセンサ処理信号処理回路
の好適な実施例がそれぞれ出力rLJ状態およびrHJ
状態として示されている。
の好適な実施例がそれぞれ出力rLJ状態およびrHJ
状態として示されている。
詳細には図示していないセンサ素子、例えば磁気抵抗素
子のアナログ出力は所定の基準値と比較されrLJまた
はrHJのパルス状デジタル信号として出力される。
子のアナログ出力は所定の基準値と比較されrLJまた
はrHJのパルス状デジタル信号として出力される。
前記アナログデジタル変換を行うために、本実施例の回
路は一対のスイッチングトランジスタ対Q3.Q4を含
み、両スイッチングトランジスタQ3.Q4のエミッタ
は共通接続されている。
路は一対のスイッチングトランジスタ対Q3.Q4を含
み、両スイッチングトランジスタQ3.Q4のエミッタ
は共通接続されている。
そして、一方のスイッチングトランジスタQ3のベース
にはコンデンサC1を介して入力端子INからセンサ素
子の出力が印加される。
にはコンデンサC1を介して入力端子INからセンサ素
子の出力が印加される。
実施例において、前記スイッチングトランジスタQ3の
コレクタは後に詳述する温度補償用トランジスタQ1を
介して接地されている。
コレクタは後に詳述する温度補償用トランジスタQ1を
介して接地されている。
他方のスイッチングトランジスタQ4はそのべ−スに基
準電圧が供給されており、この基準電圧はバイアス抵抗
R4、R5にて形成されている。
準電圧が供給されており、この基準電圧はバイアス抵抗
R4、R5にて形成されている。
そして、このスイッチングトランジスタQ4のコレクタ
は抵抗R7を介して接地されている。両スイッチングト
ランジスタQ3.Q4の各ベース電位A、Bそして他方
のスイッチングトランジスタQ4のコレクタ電位Cが第
3図に示され、後の作用説明において各電位の変化を詳
細に説明する。
は抵抗R7を介して接地されている。両スイッチングト
ランジスタQ3.Q4の各ベース電位A、Bそして他方
のスイッチングトランジスタQ4のコレクタ電位Cが第
3図に示され、後の作用説明において各電位の変化を詳
細に説明する。
本発明において特徴的なことは、前記スイッチングトラ
ンジスタ対Q3.Q4に定電圧を供給し、更に各トラン
ジスタのベース・エミッタ間電圧が比較的大きな温度依
存性を有することから、このような温度依存特性を互い
に打ち消し合うようにトランジスタを配置したことにあ
り、このために本実施例では、定電流源工、とツェナー
ダイオードD1から成る定電圧源が設けられている。
ンジスタ対Q3.Q4に定電圧を供給し、更に各トラン
ジスタのベース・エミッタ間電圧が比較的大きな温度依
存性を有することから、このような温度依存特性を互い
に打ち消し合うようにトランジスタを配置したことにあ
り、このために本実施例では、定電流源工、とツェナー
ダイオードD1から成る定電圧源が設けられている。
定電流源工。には電源vcoが供給されており、この定
電流源■ とツェナーダイオードD1とによって定電圧
V が得られ、この定電圧Voが抵抗R3を介して前記
スイッチングトランジスタ対Q3.Q4の共通エミッタ
に供給されている。
電流源■ とツェナーダイオードD1とによって定電圧
V が得られ、この定電圧Voが抵抗R3を介して前記
スイッチングトランジスタ対Q3.Q4の共通エミッタ
に供給されている。
前記定電圧源のツェナーダイオードD1のアノードは、
前記温度補償用トランジスタQ1のエミッタに接続され
、温度補償用トランジスタQ1のコレクタとベースは共
通接続されて接地されている。
前記温度補償用トランジスタQ1のエミッタに接続され
、温度補償用トランジスタQ1のコレクタとベースは共
通接続されて接地されている。
前記スイッチングトランジスタQ4のコレクタ電位すな
わちC電位から信号処理出力を取り出すために、実施例
においては、トランジスタQ5とQ6が設けられている
。すなわち、トランジスタQ5はそのベースが前記0点
に接続され、そのエミッタが接地され、更に、コレクタ
が出力トランジスタQ6のベースに接続されている。
わちC電位から信号処理出力を取り出すために、実施例
においては、トランジスタQ5とQ6が設けられている
。すなわち、トランジスタQ5はそのベースが前記0点
に接続され、そのエミッタが接地され、更に、コレクタ
が出力トランジスタQ6のベースに接続されている。
出力トランジスタQ6はそのエミッタが接地され、コレ
クタが出力端子OUTに接続されている。
クタが出力端子OUTに接続されている。
前記各トランジスタに温度補償されたバイアス電流を供
給するためにバイアス用トランジスタQ2が設けられて
おり、そのコレクタには電源vccが接続され、また、
そのベースには前記定電圧化された電圧Voが供給され
ている。
給するためにバイアス用トランジスタQ2が設けられて
おり、そのコレクタには電源vccが接続され、また、
そのベースには前記定電圧化された電圧Voが供給され
ている。
そして、バイアス用トランジスタQ2のエミッタからは
、両スイッチングトランジスタQ3 。
、両スイッチングトランジスタQ3 。
Q にそれぞれ抵抗R1,R2、そして抵抗R4゜R5
から定電流化されたバイアス電流が供給されている。す
なわち、直列接続された抵抗R1゜R2の中間接続点が
スイッチングトランジスタQ3のベースに接続され、同
様に直列接続された抵抗R4,R5の中間接続点がスイ
ッチングトランジスタQ4のベースに接続されている。
から定電流化されたバイアス電流が供給されている。す
なわち、直列接続された抵抗R1゜R2の中間接続点が
スイッチングトランジスタQ3のベースに接続され、同
様に直列接続された抵抗R4,R5の中間接続点がスイ
ッチングトランジスタQ4のベースに接続されている。
同様に、バイアス用トランジスタQ2のエミッタは抵抗
Rを介して出力トランジスタQ6のベ−ス及び出力トラ
ンジスタQ5のエミッタに接続されている。
Rを介して出力トランジスタQ6のベ−ス及び出力トラ
ンジスタQ5のエミッタに接続されている。
更に、実施例においては、スイッチングトランジスタQ
のベースと出力トランジスタQ6のベ−スとの間に抵
抗R6が接続されている。
のベースと出力トランジスタQ6のベ−スとの間に抵
抗R6が接続されている。
本発明の実施例は以上の構成から成り、以下にその作用
を説明する。
を説明する。
第3図には磁気抵抗素子のようなセンサ素子から第3図
(a)に示されるような正弦波信号が供給されたときの
各点A、B、Cの電位変化が示されている。
(a)に示されるような正弦波信号が供給されたときの
各点A、B、Cの電位変化が示されている。
実施例においては、センサ素子の正弦波信号からゼロク
ロス点においてデジタル信号を出力する構成が示されて
いる。
ロス点においてデジタル信号を出力する構成が示されて
いる。
IN入力電圧はコンデンサCIを介してスイッチングト
ランジスタQ3のベースにA電位として供給され、この
ときのコンデンサC1及び抵抗R2の時定数からA電位
は入力電圧かられずかに遅延した信号として示されてい
る。
ランジスタQ3のベースにA電位として供給され、この
ときのコンデンサC1及び抵抗R2の時定数からA電位
は入力電圧かられずかに遅延した信号として示されてい
る。
第1図は入力電圧がスイッチングトランジスタQ4のベ
ース電位であるB電位より低い状態を示しており、実施
例において、このB電位はゼロクロス基準電位に設定さ
れている。
ース電位であるB電位より低い状態を示しており、実施
例において、このB電位はゼロクロス基準電位に設定さ
れている。
本発明において、この基準電圧であるB電位は各トラン
ジスタのベース・エミッタ間電位に依存することなく、
この結果、信号処理回路を温度変化の激しい環境におい
た場合でも、温度特性を著しく低減することが可能とな
る。
ジスタのベース・エミッタ間電位に依存することなく、
この結果、信号処理回路を温度変化の激しい環境におい
た場合でも、温度特性を著しく低減することが可能とな
る。
以下に、スイッチングトランジスタQ3.Q4の各部の
電位を詳細に説明する。
電位を詳細に説明する。
実施例において、前記定電圧V。は、定電流源I とツ
ェナーダイオードD1から成る定電圧源によって、電源
電圧vccが変動した場合においてもほぼ一定値に保た
れるが、本発明においては、前記定電圧源に温度補償用
トランジスタQ1が接続されているので、定電圧■。自
体は温度補償用トランジスタのベース・エミッタ間電圧
に依存して変動を有する。すなわち、定電圧V。はツェ
ナー電圧をVDI、そして温度補償用トランジスタQ
のベース・エミッタ間電圧をvBE(Ql)とすれば、 VB6(Q2) ・・・ (2) で示される。そして、バイアストランジスタQ2と温度
補償用トランジスタQ1のとのベース・エミッタ間電圧
はほぼ同一値に選択することができ、これがほぼ同様の
温度環境にさらされるので、VO=7旧+VBE(Ql
) で示される。
ェナーダイオードD1から成る定電圧源によって、電源
電圧vccが変動した場合においてもほぼ一定値に保た
れるが、本発明においては、前記定電圧源に温度補償用
トランジスタQ1が接続されているので、定電圧■。自
体は温度補償用トランジスタのベース・エミッタ間電圧
に依存して変動を有する。すなわち、定電圧V。はツェ
ナー電圧をVDI、そして温度補償用トランジスタQ
のベース・エミッタ間電圧をvBE(Ql)とすれば、 VB6(Q2) ・・・ (2) で示される。そして、バイアストランジスタQ2と温度
補償用トランジスタQ1のとのベース・エミッタ間電圧
はほぼ同一値に選択することができ、これがほぼ同様の
温度環境にさらされるので、VO=7旧+VBE(Ql
) で示される。
次に、バイアス電流を供給するバイアストランジスタQ
のエミッタ電位V(Q2E)は前記定電圧V からト
ランジスタQ2のベース拳エミッタ間電圧を差し引いた
値となり、すなわち、(2)式のVBE(Ql)とVB
P、(Q2)はほぼ等しい値となり、この結果トランジ
スタQ2のエミッタ電位V (Q2E)は V (02E)”VDt −(3)と
なり、ツェナーダイオードD1のツェナー電圧にほぼ等
しくなる。
のエミッタ電位V(Q2E)は前記定電圧V からト
ランジスタQ2のベース拳エミッタ間電圧を差し引いた
値となり、すなわち、(2)式のVBE(Ql)とVB
P、(Q2)はほぼ等しい値となり、この結果トランジ
スタQ2のエミッタ電位V (Q2E)は V (02E)”VDt −(3)と
なり、ツェナーダイオードD1のツェナー電圧にほぼ等
しくなる。
従って、スイッチングトランジスタQ4のベース電位す
なわちB電位は前記トランジスタQ2のエミッタ電位を
バイアス抵抗R4,R5で分圧した値となり、すなわち
、B電位VBが VB=V、1(R5/R4+R5) ・・・ (4)
となる。
なわちB電位は前記トランジスタQ2のエミッタ電位を
バイアス抵抗R4,R5で分圧した値となり、すなわち
、B電位VBが VB=V、1(R5/R4+R5) ・・・ (4)
となる。
V (Q E)−V。−VB、(Q2)=vDl+v
BE(Ql) この結果、B電位VBはツェナー電圧とバイアス抵抗値
のみによって定まる一定値となることが理解され、温度
変化に依存するトランジスタのベース・エミッタ間電圧
とは無関係になることが明らかである。
BE(Ql) この結果、B電位VBはツェナー電圧とバイアス抵抗値
のみによって定まる一定値となることが理解され、温度
変化に依存するトランジスタのベース・エミッタ間電圧
とは無関係になることが明らかである。
また、スイッチングトランジスタQ4のエミッタ電位V
(04E)は前記B電位にトランジスタQ4のベース
・エミッタ間電圧を加えた値となり、V(Q E);v
Dl(R5/R4+R5)十V(Q) ・・・
(5) BE 4 となる。
(04E)は前記B電位にトランジスタQ4のベース
・エミッタ間電圧を加えた値となり、V(Q E);v
Dl(R5/R4+R5)十V(Q) ・・・
(5) BE 4 となる。
両端電圧vR3は
V R3=VDI VDI (R5/ R4+R5)
=V (1−R5/R4+R5) 従って、共通抵抗Rの両端電位vR3は前記定電圧■
と、このトランジスタQ4のエミッタ電位との差となり
、 V =V −’V (04E) R30 =VD1+vBE(Ql) VDl(R5/R4 +R5)−vBE と示される。
=V (1−R5/R4+R5) 従って、共通抵抗Rの両端電位vR3は前記定電圧■
と、このトランジスタQ4のエミッタ電位との差となり
、 V =V −’V (04E) R30 =VD1+vBE(Ql) VDl(R5/R4 +R5)−vBE と示される。
そして、トランジスタQ1とQ4のベース・エミッタ間
電圧はそれぞれほぼ同一特性でかつ同一の温度環境にさ
らされるので、両者は(6)式において互いに打ち消さ
れ、この結果、抵抗R3の・・・ (7) と表わされ、このことから、両スイッチングトランジス
タQ3.Q4に供給されるエミッタ電流は、ツェナーダ
イオードのツェナー電圧VD1と抵抗R4,R5によっ
てのみ定まり、ツェナー電圧に起因する以外の温度依存
性を有しないことが理解される。
電圧はそれぞれほぼ同一特性でかつ同一の温度環境にさ
らされるので、両者は(6)式において互いに打ち消さ
れ、この結果、抵抗R3の・・・ (7) と表わされ、このことから、両スイッチングトランジス
タQ3.Q4に供給されるエミッタ電流は、ツェナーダ
イオードのツェナー電圧VD1と抵抗R4,R5によっ
てのみ定まり、ツェナー電圧に起因する以外の温度依存
性を有しないことが理解される。
以上のようにして、本発明によれば、定電圧源と温度補
償用トランジスタを直列接続することにより、信号処理
回路に供給される定電圧にはスイッチングトランジスタ
の温度特性を補償する電位骨が重畳することとなり、こ
れによって、温度変化により変動するトランジスタのベ
ース・エミッタ間電圧変動分を互いに打ち消して、極め
て安定化された出力信号を得ることが可能となる。
償用トランジスタを直列接続することにより、信号処理
回路に供給される定電圧にはスイッチングトランジスタ
の温度特性を補償する電位骨が重畳することとなり、こ
れによって、温度変化により変動するトランジスタのベ
ース・エミッタ間電圧変動分を互いに打ち消して、極め
て安定化された出力信号を得ることが可能となる。
以下に、本実施例の動作を詳細に説明する。
第1図には、IN入力電圧がコンデンサC1を介してA
点電位として供給され、これが図における基準電圧、す
なわちトランジスタQ4のベース電圧より低い、第3図
(b)でハツチングを施した状態の電流経路を示してい
る。
点電位として供給され、これが図における基準電圧、す
なわちトランジスタQ4のベース電圧より低い、第3図
(b)でハツチングを施した状態の電流経路を示してい
る。
電源電圧V。0は定電圧源と温度補償用トランジスタQ
1を通って実線で示した如き電流路を形成している。
1を通って実線で示した如き電流路を形成している。
また、バイアストランジスタQ2からは破線で示される
バイアス電流が両スイッチングトランジスタのベース電
位を定めるために流れている。
バイアス電流が両スイッチングトランジスタのベース電
位を定めるために流れている。
前述した如く、IN入力電圧に基づくA電位がゼロクロ
ス電位以下にあるので、第1図の状態では、共通抵抗R
3からの電流はスイッチングトランジスタQ3にほとん
ど流れ、従って、トランジスタQ3がON、そしてトラ
ンジスタQ4がOFFに保たれる。
ス電位以下にあるので、第1図の状態では、共通抵抗R
3からの電流はスイッチングトランジスタQ3にほとん
ど流れ、従って、トランジスタQ3がON、そしてトラ
ンジスタQ4がOFFに保たれる。
従って、この状態では、出力トランジスタQ5のベース
電位はほぼゼロとなるので、トランジスタQ5がOFF
となり、この結果、出力トランジスタQ6のベースには
バイアストランジスタQ2から十分なベース電流が供給
されることとなり、トランジスタQ6がONとなり、出
力OUTにはrLJ信号が出力される。
電位はほぼゼロとなるので、トランジスタQ5がOFF
となり、この結果、出力トランジスタQ6のベースには
バイアストランジスタQ2から十分なベース電流が供給
されることとなり、トランジスタQ6がONとなり、出
力OUTにはrLJ信号が出力される。
そして、実施例においては、前記トランジスタQ3のコ
レクタは温度補償用トランジスタQ1に流れるので、こ
のとき温度補償用トランジスタQ1のベース・エミッタ
間電圧はその電流値の増大によって上昇し、この結果、
前記定電圧V。も上昇することによってトランジスタQ
3のON状態がいっそう強められ、これによって、耐ノ
イズ特性を著しく高めることが可能となる。
レクタは温度補償用トランジスタQ1に流れるので、こ
のとき温度補償用トランジスタQ1のベース・エミッタ
間電圧はその電流値の増大によって上昇し、この結果、
前記定電圧V。も上昇することによってトランジスタQ
3のON状態がいっそう強められ、これによって、耐ノ
イズ特性を著しく高めることが可能となる。
一方、A電位がゼロクロス基準値を越えると、それまで
ON状態であったスイッチングトランジスタQ3のベー
ス電流が絞られるので、共通抵抗R3を通る定電流がほ
とんど他方のトランジスタQ4側に切り換わり、第2図
で示される如く、トランジスタQ から抵抗R7を流れ
る電流に切り換わる。
ON状態であったスイッチングトランジスタQ3のベー
ス電流が絞られるので、共通抵抗R3を通る定電流がほ
とんど他方のトランジスタQ4側に切り換わり、第2図
で示される如く、トランジスタQ から抵抗R7を流れ
る電流に切り換わる。
従って、トランジスタQ5がON状態となり、この結果
、出力トランジスタQ6のベース電位か低下するので、
トランジスタQ6がOFFとなり、OUT端子からrH
J信号が出力される。
、出力トランジスタQ6のベース電位か低下するので、
トランジスタQ6がOFFとなり、OUT端子からrH
J信号が出力される。
従って、以上の切換作用によってゼロクロス基準値を越
えたときにパルス出力が得られることが理解される。
えたときにパルス出力が得られることが理解される。
更に抵抗R6は、出力トランジスタQ5の0N10FF
に従ってトランジスタQ4のベースに供給される基準電
圧にヒステリシスを与える作用をもつ。これにより、セ
ンサ出力電圧にノイズが混入した場合にもチャタリング
のない出力を得ることが可能となる。
に従ってトランジスタQ4のベースに供給される基準電
圧にヒステリシスを与える作用をもつ。これにより、セ
ンサ出力電圧にノイズが混入した場合にもチャタリング
のない出力を得ることが可能となる。
第2図において、スイッチングトランジスタQ4と出力
トランジスタQ5のON作用により、トランジスタQ4
のベース電位すなわちB電位は第3図(c)で示される
ようにその基準値が低下し、この結果ヒステリシス電位
を与えることが可能となり、第2図のrHJ出カ状態を
安定に維持することが可能となる。
トランジスタQ5のON作用により、トランジスタQ4
のベース電位すなわちB電位は第3図(c)で示される
ようにその基準値が低下し、この結果ヒステリシス電位
を与えることが可能となり、第2図のrHJ出カ状態を
安定に維持することが可能となる。
以上のようにして、IN8人カミに応じて本発明によれ
ば、rLJ及びrHJの切換を行うパルス状のデジタル
信号が得られ、このような切換状態は実施例において極
めて安定化した状態に保持される。
ば、rLJ及びrHJの切換を行うパルス状のデジタル
信号が得られ、このような切換状態は実施例において極
めて安定化した状態に保持される。
そして、本発明によれば、前述した如く、一対のスイッ
チングトランジスタに流れる電流を各トランジスタのベ
ース・エミッタ電位にががゎりなく決定できるので、環
境温度の変動による影響を受けることなく、安定した信
号処理作用を行うことが可能となる。
チングトランジスタに流れる電流を各トランジスタのベ
ース・エミッタ電位にががゎりなく決定できるので、環
境温度の変動による影響を受けることなく、安定した信
号処理作用を行うことが可能となる。
なお、本実施例ではセンサ素子出力とトランジスタQ3
のベース電圧の直流バイアス電位を除く目的でカップリ
ングコンデンサCIを用いているが、トランジスタQ3
と対になるトランジスタQ4のベース電位を決定する抵
抗R4またはR5を可変とすることで、カップリングコ
ンデンサC1を省略することも可能である。
のベース電圧の直流バイアス電位を除く目的でカップリ
ングコンデンサCIを用いているが、トランジスタQ3
と対になるトランジスタQ4のベース電位を決定する抵
抗R4またはR5を可変とすることで、カップリングコ
ンデンサC1を省略することも可能である。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明によれば、センサ素子と一
体化して小型化された処理回路を得ることが可能となり
、かっセンサ素子の設置箇所における環境温度の変動に
対しても安定した処理作用を行い、かつ電源電圧の変動
に対しても、定電流を与えるので、このような変動に依
存することなく、信頼性の高い検出作用を行うことが可
能となる。
体化して小型化された処理回路を得ることが可能となり
、かっセンサ素子の設置箇所における環境温度の変動に
対しても安定した処理作用を行い、かつ電源電圧の変動
に対しても、定電流を与えるので、このような変動に依
存することなく、信頼性の高い検出作用を行うことが可
能となる。
第1.2図はそれぞれ本発明に係るセンサ信号処理回路
の好適な実施例を示す回路図であり、それぞれ、rLJ
及びrHJ出力状態を示す。 第3図は前記実施例における各部の波形図である。 Q3.Q4 Is −°′ Dl °。 Ql ・・・ Q2 ・・・ Q5・Q6 R3°゛。 Re ”’ ・・・ スイッチングトランジスタ 定電流源 ツェナーダイオード 温度補償用トランジスタ バイアストランジスタ ・・・ 出力トランジスタ 共通抵抗 ヒステリシス設定用抵抗
の好適な実施例を示す回路図であり、それぞれ、rLJ
及びrHJ出力状態を示す。 第3図は前記実施例における各部の波形図である。 Q3.Q4 Is −°′ Dl °。 Ql ・・・ Q2 ・・・ Q5・Q6 R3°゛。 Re ”’ ・・・ スイッチングトランジスタ 定電流源 ツェナーダイオード 温度補償用トランジスタ バイアストランジスタ ・・・ 出力トランジスタ 共通抵抗 ヒステリシス設定用抵抗
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 センサ素子と一体的に組み込まれたセンサ信号処理回
路において、 エミッタが互いに共通接続された一対のスイッチング用
トランジスタであって、一方のスイッチングトランジス
タのベースにセンサ素子の出力が供給され、また他方の
スイッチングトランジスタのベースには基準電圧が供給
され、更にそのコレクタから処理出力が取り出されるス
イッチングトランジスタ対と、 前記スイッチングトランジスタ対の共通エミッタに抵抗
を介して定電圧を供給する定電圧源と、前記定電圧源に
接続された温度補償用トランジスタと、 前記スイッチングトランジスタの処理出力が供給されセ
ンサ出力に応じてオンオフ信号を出力する出力トランジ
スタと、 前記定電圧源からの定電圧がベースに供給され、各トラ
ンジスタにバイアス電流を供給するバイアス用トランジ
スタと、 を含み、 スイッチングトランジスタ、温度補償用トランジスタ及
びバイアス用トランジスタのベース・エミッタ間電圧が
互いに打ち消し合い、スイッチング動作時の温度特性を
広範囲の温度変化に対して安定化させたことを特徴とす
るセンサ信号処理回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2118021A JPH076805B2 (ja) | 1990-05-08 | 1990-05-08 | センサ信号処理回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2118021A JPH076805B2 (ja) | 1990-05-08 | 1990-05-08 | センサ信号処理回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0413924A true JPH0413924A (ja) | 1992-01-17 |
| JPH076805B2 JPH076805B2 (ja) | 1995-01-30 |
Family
ID=14726107
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2118021A Expired - Lifetime JPH076805B2 (ja) | 1990-05-08 | 1990-05-08 | センサ信号処理回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH076805B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7206041B2 (en) | 1998-10-28 | 2007-04-17 | Dai Nippon Printing Co., Ltd. | Liquid-crystal display |
-
1990
- 1990-05-08 JP JP2118021A patent/JPH076805B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7206041B2 (en) | 1998-10-28 | 2007-04-17 | Dai Nippon Printing Co., Ltd. | Liquid-crystal display |
| US7405780B2 (en) | 1998-10-28 | 2008-07-29 | Dai Nippon Printing Co., Ltd. | Liquid-crystal display |
| US7623201B2 (en) | 1998-10-28 | 2009-11-24 | Dai Nippon Printing Co., Ltd. | Liquid-crystal display |
| US7932971B2 (en) | 1998-10-28 | 2011-04-26 | Dai Nippon Printing Co., Ltd. | Liquid-crystal display |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH076805B2 (ja) | 1995-01-30 |
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