JPH04143931A - Exposing device for optical disk master disk - Google Patents

Exposing device for optical disk master disk

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Publication number
JPH04143931A
JPH04143931A JP26733090A JP26733090A JPH04143931A JP H04143931 A JPH04143931 A JP H04143931A JP 26733090 A JP26733090 A JP 26733090A JP 26733090 A JP26733090 A JP 26733090A JP H04143931 A JPH04143931 A JP H04143931A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
focus error
optical system
detection optical
error detection
exposure
Prior art date
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Pending
Application number
JP26733090A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshiyuki Ogasawara
小笠原 利之
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH04143931A publication Critical patent/JPH04143931A/en
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ この発明は、光ディスク原盤露光装置に関し、特に、そ
のフォーカスエラー検出方式の改良に関するものである
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an optical disk master exposure apparatus, and particularly to an improvement in its focus error detection method.

[従来の技術] 一般に、光ディスク原盤露光装置のフォーカスエラー検
出光学系は一つであり、その波長(例えば633nm)
は露光用レーザ光束の波長λ。(例えば458nm)と
は異なっている。また、対物レンズの焦点位置は波長に
よって異なり5且つ第3図に示すように(変位の方向は
対物レンズに近づく方向)、同一波長(例えば波長λ)
であっても、その波長のフォーカスエラー信号特性(S
カーブ特性)の中で、露光用レーザ光束の焦点位置(露
光点)は例えばSであったりtであったりする。
[Prior Art] Generally, an optical disk master exposure device has one focus error detection optical system, and its wavelength (for example, 633 nm)
is the wavelength λ of the exposure laser beam. (for example, 458 nm). In addition, the focal position of the objective lens differs depending on the wavelength5, and as shown in Fig.
Even if the focus error signal characteristic (S
curve characteristics), the focal position (exposure point) of the exposure laser beam is, for example, S or t.

[発明が解決しようとする課題] しかしながら、上記従来の光ディスク原盤露光装置のフ
ォーカスエラー検出光学系の検出方式は一般に非点収差
法であるが、そのSカーブ特性は合焦の前後で必ずしも
リニアリティーが対称ではない、したがって、S及びt
(第3図参照)において感度が異なり、フォーカスサー
ボゲインが変化する。そして、露光溝形状を変化させる
場合にフォーカスサーボ回路のオフセットを調整して露
光点を変える時でもフォーカスサーボゲインは一定では
なく、フォーカスサーボ制御精度が一定でなく露光品質
が不安定になるという問題点があった。
[Problems to be Solved by the Invention] However, the detection method of the focus error detection optical system of the conventional optical disk master exposure device described above is generally an astigmatism method, but its S-curve characteristic does not necessarily have linearity before and after focusing. not symmetric, therefore S and t
(See FIG. 3), the sensitivity differs and the focus servo gain changes. Furthermore, when changing the exposure groove shape, the focus servo gain is not constant even when adjusting the offset of the focus servo circuit to change the exposure point, resulting in inconsistent focus servo control accuracy and unstable exposure quality. There was a point.

そこで、この発明は上述した従来の問題点を解消°して
、フォーカスサーボ回路のオフセットを調整して露光点
を変える場合に、フォーカスサーボゲインが一定で調整
を容易に行なうことのできる光ディスク原盤露光装置を
提供することを課題としている。
Therefore, the present invention solves the above-mentioned conventional problems and provides an optical disc master exposure system that allows easy adjustment with a constant focus servo gain when adjusting the offset of the focus servo circuit to change the exposure point. The challenge is to provide equipment.

[課題を解決するための手段] この発明の要旨とするところは、半導体レーザを光源と
して、対物レンズの変位とフォーカスエラー電圧の関係
に所定の特性を有し、露光用レーザー光束のフォーカス
エラーを検出するフォーカスエラー検出光学系を備えた
光ディスク原盤露光装置において、前記フォーカスエラ
ー検出光学系とは別の異なる波長の前記半導体レーザ及
び異なる前記所定の特性を有するもう一つのフォーカス
エラー検出光学系と、前記露光用レーザ光束の合焦位置
近傍で露光点をずらして露光を行なう時に、フォーカス
サーボゲインが一定となるような前記所定の特性を有す
る前記フォーカスエラー検出光学系を選択するための切
り換え手段とを具備したことにある。
[Means for Solving the Problems] The gist of the present invention is to use a semiconductor laser as a light source, have a predetermined relationship between the displacement of an objective lens and a focus error voltage, and reduce the focus error of a laser beam for exposure. In an optical disk master exposure apparatus equipped with a focus error detection optical system for detecting, the semiconductor laser has a different wavelength from that of the focus error detection optical system, and another focus error detection optical system has different predetermined characteristics; a switching means for selecting the focus error detection optical system having the predetermined characteristic such that the focus servo gain is constant when performing exposure by shifting the exposure point near the focus position of the exposure laser beam; The reason is that it is equipped with the following.

[作  用コ したがって、露光用レーザ光源の合焦点近傍で露光点を
変える場合、フォーカスサーボゲインが一定となる最適
な所定の特性を有するフォーカスエラー検出光学系を選
択するように切換手段を作動させるので、露光点の調整
が容易で正確になる。
[Function] Therefore, when changing the exposure point near the focal point of the exposure laser light source, the switching means is operated to select the focus error detection optical system having the optimal predetermined characteristics that keep the focus servo gain constant. Therefore, adjustment of the exposure point becomes easy and accurate.

[実施例] 以下、この発明の実施例を図面を参照して説明する。[Example] Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図は光ディスク原盤露光装置のフォーカス検出光学
系を示しており、同図において、la。
FIG. 1 shows a focus detection optical system of an optical disk master exposure device, and in the same figure, la.

1bはそれぞれ光源である波長λ1.λ2の半導体レー
ザ(LD)、2a、2bは半導体レーザla。
1b are light sources with wavelengths λ1. λ2 semiconductor laser (LD), 2a and 2b are semiconductor lasers la.

1bからの発散光を平行光束にするコリメータレンズ、
3a、3bは波長λ4.λ2における偏光ビームスプリ
ッタ(P、B、S) 、4a、4.bは1/4波長板、
5a、5bはダイクロイックミラー6は対物レンズ、7
は対物レンズ6のアクチュエータ、8はディスク原盤、
9a、9bはミラー10a、10bは集光レンズ、ll
a、llbはシリンドリカルレンズ、12a’、12b
は受光素子である4分割Pinフォトダイオード、13
a。
A collimator lens that converts the diverging light from 1b into a parallel beam,
3a and 3b are wavelengths λ4. Polarizing beam splitter (P, B, S) at λ2, 4a, 4. b is a quarter wavelength plate,
5a and 5b, dichroic mirror 6 is an objective lens, 7
is the actuator of the objective lens 6, 8 is the disk master,
9a, 9b are mirrors 10a, 10b are condensing lenses, ll
a, llb are cylindrical lenses, 12a', 12b
is a 4-split Pin photodiode which is a light receiving element, 13
a.

13bはフォーカスエラー電圧検出回路、14は2系統
のフォーカスエラー検出光学系の何れかを選択するため
の切換え手段である切換えスイッチである。
Reference numeral 13b represents a focus error voltage detection circuit, and reference numeral 14 represents a changeover switch which is a switching means for selecting either of the two focus error detection optical systems.

このように、添字a系統及び添字す系統でそれぞれ波長
の異なる別々の非点収差法のフォーカスエラー検出光学
系が形成されている。
In this way, separate focus error detection optical systems using astigmatism methods having different wavelengths are formed for the subscript a system and the subscript s system.

上記構成において1例えば添字a系統(波長λ□)のフ
ォーカスエラー検出光学系では、半導体レーザ1aから
の発散光はコリメータレンズ2aにより平行光束とされ
、偏光ビームスプリッタ3aに入射して1/4波長板4
aを通過し、ダイクロインクミラー58で直角に偏向反
射されて対物レンズ6に入射する。この対物レンズ6に
入射した光束はディスク原盤8に集光される。また、露
光用レーザ光束は矢印15より入射され、ダイクロイッ
クミラー58を通過して対物レンズ6によりディスク原
fI18に集光される。この対物レンズ6はアクチュエ
ータフにより微小移動させられることにより焦点の調整
が行なわれる。
In the above configuration, for example, in the focus error detection optical system of the subscript a system (wavelength λ□), the diverging light from the semiconductor laser 1a is made into a parallel light beam by the collimator lens 2a, and is incident on the polarizing beam splitter 3a with a wavelength of 1/4 Board 4
a, is deflected and reflected at right angles by the dichroic ink mirror 58, and enters the objective lens 6. The light beam incident on the objective lens 6 is focused on the disk master 8 . Further, the exposure laser beam enters from the arrow 15, passes through the dichroic mirror 58, and is focused by the objective lens 6 onto the disk original fI18. The objective lens 6 is moved minutely by an actuator to adjust its focus.

一方、ディスク原盤8に当って反射した光束はダイクロ
イックミラー58で直角に偏向反射されて1/4波長板
4aを介して偏光ビームスプリッタ3a及びミラー9a
によりそ九ぞれ直角に偏向反射され、集光レンズ10a
、シリンドリカルレンズllaを介してフォトダイオー
ド12aに集光される。ディスク原盤8上で最適の状態
に露光されている(露光点がディスク原盤8上にある)
場合に、このフォトダイオード12aでも合焦していて
最小の光スポットが当たる様に調整されているので、デ
ィスク原盤8上で露光点が少しでもずれていると、フォ
トダイオード12aでも合焦がずれて、光スポットが楕
円となり、4分割ビンフォトダイオードの差信号が大き
くなりまたは変化し、受光光量が合焦時よりも多くなる
(フォーカスエラー)ので、それをフォーカスエラー電
圧検出回路13aで検出してフォーカスエラー信号を図
示しない所定の回路に出力する。
On the other hand, the light beam that has hit the disk master 8 and is reflected is polarized and reflected at right angles by the dichroic mirror 58 and then passes through the quarter wavelength plate 4a to the polarizing beam splitter 3a and the mirror 9a.
are deflected and reflected at right angles by the condenser lens 10a.
, the light is focused on the photodiode 12a via the cylindrical lens lla. The disc master 8 is exposed in the optimum condition (the exposure point is on the disc master 8)
In this case, the photodiode 12a is also in focus and adjusted so that the smallest light spot hits it, so if the exposure point on the disk master 8 is even slightly shifted, the photodiode 12a will also be out of focus. As a result, the light spot becomes an ellipse, the difference signal of the 4-split bin photodiode increases or changes, and the amount of received light becomes greater than when in focus (focus error), which is detected by the focus error voltage detection circuit 13a. and outputs a focus error signal to a predetermined circuit (not shown).

ところで、波長λ、及びλ2のフォーカスエラー検出光
学系のそれぞれのSカーブ特性は、第2図に示すように
(変位の方向は対物レンズに近づく方向)、0点の露光
用レーザー光束における合焦点(=第3図の点S)を挾
んで略等距離に位置しており、v、uはλ0.λ2のそ
れぞれの波長における合焦点である。また、t、sは第
3図に示した従来の一つの波長λ、のフォーカスエラー
検出光学系の露光点であり、この場合、露光点しでは波
長λ、の検出光学系を、露光点Sでは波長λ2の検出光
学系を切換えスイッチ14によって適宜選択すれば、そ
れぞれ例えば−P (V)の一定のフォーカスサーボゲ
インが得られる。
By the way, the respective S-curve characteristics of the focus error detection optical system for wavelengths λ and λ2 are as shown in Fig. 2 (the direction of displacement is the direction approaching the objective lens), and the focused point in the exposure laser beam at the 0 point. (= point S in Figure 3) and are located approximately equidistant from each other, and v and u are λ0. This is the focal point at each wavelength of λ2. Further, t and s are the exposure points of the conventional focus error detection optical system of one wavelength λ shown in FIG. Now, if the detection optical system for the wavelength λ2 is appropriately selected by the changeover switch 14, a constant focus servo gain of, for example, -P (V) can be obtained.

したがって、対物レンズ6の変位がVより遠い側では波
長λ、の検出光学系を、■よりも近づく側では波長λ2
の検出光学系を選択すれば良い。
Therefore, on the side where the displacement of the objective lens 6 is farther than V, the detection optical system with wavelength λ is used, and on the side where the displacement of objective lens 6 is closer than ■, the detection optical system with wavelength λ2 is used.
It is sufficient to select the detection optical system.

[発明の効果コ 以上説明したように、この発明によれば、波長の異なる
2つのフォーカスエラー検出光学系を設け、必要に応し
て切換えて最適な検出光学系を使用するようにしたので
、フォーカスサーボ回路のオフセットを調整して、露光
用レーザー光束の合焦点近傍で露光点を変える場合、フ
ォーカスサーボゲインが変動せず一定となり、露光品質
が安定する。また、従来の一つのフォーカスエラー検出
光学系の場合に比較して、フォーカスエラー検出光学系
の検出範囲が広くなるという効果を奏する。
[Effects of the Invention] As explained above, according to the present invention, two focus error detection optical systems with different wavelengths are provided, and the optimum detection optical system is used by switching as necessary. When adjusting the offset of the focus servo circuit to change the exposure point near the focal point of the exposure laser beam, the focus servo gain remains constant without fluctuation, and the exposure quality is stabilized. Furthermore, compared to the conventional case of a single focus error detection optical system, there is an effect that the detection range of the focus error detection optical system is widened.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はこの発明の光ディスク原盤露光装置を示す概略
構成図、第2図は異なった波長の2つのフォーカスエラ
ー検出光学系のフォーカスエラー電圧の特性線図、第3
図は従来の単一のフォーカスエラー検出光学系のフォー
カスサーボゲインの特性線図である。 la、lb・・・半導体レーザ、6・・・対物レンズ、
14・・・切換え手段、15・・・露光用レーザ光束。 (ほか1名)
FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing an optical disk master exposure apparatus of the present invention, FIG. 2 is a characteristic line diagram of focus error voltage of two focus error detection optical systems of different wavelengths, and FIG.
The figure is a characteristic diagram of focus servo gain of a conventional single focus error detection optical system. la, lb... semiconductor laser, 6... objective lens,
14...Switching means, 15...Laser beam for exposure. (1 other person)

Claims (1)

【特許請求の範囲】 半導体レーザを光源として、対物レンズの変位とフォー
カスエラー電圧の関係に所定の特性を有し、露光用レー
ザー光束のフォーカスエラーを検出するフォーカスエラ
ー検出光学系を備えた光ディスク原盤露光装置において
、 前記フォーカスエラー検出光学系とは別の異なる波長の
前記半導体レーザ及び異なる前記所定の特性を有するも
う一つのフォーカスエラー検出光学系と、 前記露光用レーザ光束の合焦位置近傍で露光点をずらし
て露光を行なう時に、フォーカスサーボゲインが一定と
なるような前記所定の特性を有する前記フォーカスエラ
ー検出光学系を選択するための切り換え手段とを具備し
たことを特徴とする光ディスク原盤露光装置。
[Claims] An optical disc master using a semiconductor laser as a light source, which has a predetermined characteristic in the relationship between the displacement of an objective lens and a focus error voltage, and is equipped with a focus error detection optical system that detects a focus error of an exposure laser beam. In the exposure apparatus, the semiconductor laser having a different wavelength from the focus error detection optical system and another focus error detection optical system having the different predetermined characteristics, and the exposure apparatus include the semiconductor laser having a different wavelength from the focus error detection optical system, and another focus error detection optical system having different predetermined characteristics; An optical disk master exposure apparatus characterized by comprising: switching means for selecting the focus error detection optical system having the predetermined characteristics such that the focus servo gain is constant when performing exposure with shifted points. .
JP26733090A 1990-10-04 1990-10-04 Exposing device for optical disk master disk Pending JPH04143931A (en)

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