JPH04145663A - Mos型固体撮像装置およびその駆動方法 - Google Patents
Mos型固体撮像装置およびその駆動方法Info
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- JPH04145663A JPH04145663A JP2269818A JP26981890A JPH04145663A JP H04145663 A JPH04145663 A JP H04145663A JP 2269818 A JP2269818 A JP 2269818A JP 26981890 A JP26981890 A JP 26981890A JP H04145663 A JPH04145663 A JP H04145663A
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Landscapes
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- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はMOS型固体撮像装置およびその駆動方法に関
する。
する。
従来の固体撮像装置には大きく分けてMOS型固体撮像
装置とCCD型固体撮像装置がある。第4図はMOS型
固体撮像装置の回路図である。この装置は垂直シフトレ
ジスタ101、水平シフトレジスタ102、光ダイオー
ドPD、各光ダイオードの垂直、水平走査用に設けられ
た二個のM○SトランジスタスイッチTv(垂直)、T
H(水平)、さらに各水平信号線103には各水平素子
読み取りの直前に水平信号線103をビデオバイアスV
RにリセットするトランジスタTR、トランジスタTλ
をオン・オフするためのリセット信号線Rp、さらに各
水平映像信号の映像増幅器104への入力、非入力をコ
ントロールするスイッチSVよりなる。
装置とCCD型固体撮像装置がある。第4図はMOS型
固体撮像装置の回路図である。この装置は垂直シフトレ
ジスタ101、水平シフトレジスタ102、光ダイオー
ドPD、各光ダイオードの垂直、水平走査用に設けられ
た二個のM○SトランジスタスイッチTv(垂直)、T
H(水平)、さらに各水平信号線103には各水平素子
読み取りの直前に水平信号線103をビデオバイアスV
RにリセットするトランジスタTR、トランジスタTλ
をオン・オフするためのリセット信号線Rp、さらに各
水平映像信号の映像増幅器104への入力、非入力をコ
ントロールするスイッチSVよりなる。
次にこの固体撮像装置の動作について述べる。
まず最上段の垂直走査線105に垂直シフトレジスタ1
01からパルス電圧を与え最上段のトランジスタTVを
すべてオン状態にする。次にリセットトランジスタTR
をリセ・ント信号Rpによってオン状態にすることによ
って水平信号線の電位をビデオバイアスVRにセットす
る。次にトランジスタTRをオフした後水平シフトレジ
スタ1゜2からの出力によって左端のMOSトランジス
タTHを働らかせて映像信号を読み出す。ここで再びト
ランジスタTλをオン・オフして水平信号線の電位をビ
デオバイアス■hにセットする。次に第一段の左から2
個目の画素のトランジスタTHを働らかせて映像信号を
読み出す。このような操作を右端まで行ない、−段目の
映像出力を映像増幅器104から得る。次に垂直シフト
レジスタの出力を第2段目に移し、第一段と同様の操作
を行ない第2段目の出力を得る。このような操作を最下
段まで行ない、垂直ブランキング期間の後第−段から全
く同じようにして出力信号の読み出しを行なう。以上の
操作によって、光ダイオードPDへの光入射によって発
生した電子は映像増幅器104に送られ映像信号となる
。しかし、光によって発生した電子は光ダイオードがら
映像増幅器104まで、全く増幅されることなく送られ
る。
01からパルス電圧を与え最上段のトランジスタTVを
すべてオン状態にする。次にリセットトランジスタTR
をリセ・ント信号Rpによってオン状態にすることによ
って水平信号線の電位をビデオバイアスVRにセットす
る。次にトランジスタTRをオフした後水平シフトレジ
スタ1゜2からの出力によって左端のMOSトランジス
タTHを働らかせて映像信号を読み出す。ここで再びト
ランジスタTλをオン・オフして水平信号線の電位をビ
デオバイアス■hにセットする。次に第一段の左から2
個目の画素のトランジスタTHを働らかせて映像信号を
読み出す。このような操作を右端まで行ない、−段目の
映像出力を映像増幅器104から得る。次に垂直シフト
レジスタの出力を第2段目に移し、第一段と同様の操作
を行ない第2段目の出力を得る。このような操作を最下
段まで行ない、垂直ブランキング期間の後第−段から全
く同じようにして出力信号の読み出しを行なう。以上の
操作によって、光ダイオードPDへの光入射によって発
生した電子は映像増幅器104に送られ映像信号となる
。しかし、光によって発生した電子は光ダイオードがら
映像増幅器104まで、全く増幅されることなく送られ
る。
CCD型固体撮像装置においては、光電変換された信号
電荷が垂直CCDレジスタへ送られ、水平CCDレジス
タへ転送され映像増幅器へ送られるが、画素に増幅機能
を有していないことは、MOS型固体撮像装置と同様で
ある。
電荷が垂直CCDレジスタへ送られ、水平CCDレジス
タへ転送され映像増幅器へ送られるが、画素に増幅機能
を有していないことは、MOS型固体撮像装置と同様で
ある。
以上説明したように、従来のMOS型固体撮像装置にお
いては、画素自体に増幅機能を有していないので、入射
光量が小さい低照度の撮像では、MOSトランジスタよ
りなる読出回路から発生する雑音による画質の劣化が著
しいという欠点がある。
いては、画素自体に増幅機能を有していないので、入射
光量が小さい低照度の撮像では、MOSトランジスタよ
りなる読出回路から発生する雑音による画質の劣化が著
しいという欠点がある。
本発明の目的は、低照度において良好な画像の得られる
MOS型固体撮像装置を提供することにある。
MOS型固体撮像装置を提供することにある。
本発明MOS型固体撮像装置は、N(又はP)型半導体
基板に選択的に形成された島状P(又はN)型領域、前
記島状P(又はN)型領域に形成されたN” (又は
P+)領域、前記島状P(又はN)型領域と所定間隔お
いて形成されたP” (又はN” )領域、前記P+
(又はN” )領域と前記N” (又はP+)領域
と前記島状P(又はN)型領域とを含む前記N(又はP
)型半導体基板表面に形成された絶縁膜、および前記絶
縁膜上に設けられたゲート電極を有する複合MOSトラ
ンジスタを、L本の水平電極とM本の垂直読出線の交差
位置に、前記ゲート電極を前記水平電極に接続し前記N
” (又はP” )領域を前記垂直読出線に接続して
、それぞれ配置したセンサアレイと、前記センサアレイ
のM本の垂直読出線のそれぞれの一端と基準電位端との
間に挿入されたM個の第1のスイッチと、前記M本の垂
直読出線のそれぞれの他端に一端を接続されたM個の第
2のスイッチと、前記各第2のスイッチの他端と信号線
との間にそれぞれ挿入された第3のスイッチと、前記第
2のスイッチの他端と基準電位端との間にそれぞれ挿入
された電荷蓄積手段と、前記第3のスイッチを順次に開
閉するパルスを発生する水平シフトレジスタと、前記垂
直読出線に順次に所定のパルスを印加する垂直レジスタ
と、前記N(又はP)型半導体基板に所定の正(又は負
)の直流電位を印加する手段と、前記複合MOSトラン
ジスタのP” (又はN” )領域に所定の負(又は
正)の直流電位を印加する手段とを有するというもので
ある。
基板に選択的に形成された島状P(又はN)型領域、前
記島状P(又はN)型領域に形成されたN” (又は
P+)領域、前記島状P(又はN)型領域と所定間隔お
いて形成されたP” (又はN” )領域、前記P+
(又はN” )領域と前記N” (又はP+)領域
と前記島状P(又はN)型領域とを含む前記N(又はP
)型半導体基板表面に形成された絶縁膜、および前記絶
縁膜上に設けられたゲート電極を有する複合MOSトラ
ンジスタを、L本の水平電極とM本の垂直読出線の交差
位置に、前記ゲート電極を前記水平電極に接続し前記N
” (又はP” )領域を前記垂直読出線に接続して
、それぞれ配置したセンサアレイと、前記センサアレイ
のM本の垂直読出線のそれぞれの一端と基準電位端との
間に挿入されたM個の第1のスイッチと、前記M本の垂
直読出線のそれぞれの他端に一端を接続されたM個の第
2のスイッチと、前記各第2のスイッチの他端と信号線
との間にそれぞれ挿入された第3のスイッチと、前記第
2のスイッチの他端と基準電位端との間にそれぞれ挿入
された電荷蓄積手段と、前記第3のスイッチを順次に開
閉するパルスを発生する水平シフトレジスタと、前記垂
直読出線に順次に所定のパルスを印加する垂直レジスタ
と、前記N(又はP)型半導体基板に所定の正(又は負
)の直流電位を印加する手段と、前記複合MOSトラン
ジスタのP” (又はN” )領域に所定の負(又は
正)の直流電位を印加する手段とを有するというもので
ある。
又、本発明MOS型固体撮像装置の駆動方法は、N(又
はP)型半導体基板に選択的に形成された島状P(又は
N)型領域、前記島状P(又はN)型領域に形成された
N” (又はP+)領域、前記島状P(又はN)型領
域と所定間隔おいて形成されたP+ (又はN”)領域
、前記P” (又はN” )領域と前記N” (又
はP” )領域と前記島状P(又はN)型領域とを含む
前記N(又はP)型半導体基板表面に形成された絶縁膜
、および前記絶縁膜上に設けられたゲート電極を有する
複合MOSトランジスタを、L本の水平電極とM本の垂
直読出線の交差位置に、前とゲート電極を前記水平電極
に接続し前記N” (又はP” )領域を前記垂直読
出線に接続して、それぞれ配置したセンサアレイと、前
記センサアレイのM本の垂直読出線のそれぞれの一端と
基準電位端との間に挿入されたM個の第1のスイッチと
、前記M本の垂直読出線のそれぞれの他端に一端を接続
されたM個の第2のスイッチと、前記各第2のスイッチ
の他端と信号線との間にそれぞれ挿入された第3のスイ
ッチと、前記第2のスイッチの他端と基準電位端との間
にそれぞれ挿入された電荷蓄積手段と、前記第3のスイ
ッチを順次に開閉するパルスを発生する水平シフトレジ
スタと、前記垂直読出線に順次に所定のパルスを印加す
る垂直レジスタと、前記N(又はP)型半導体基板に所
定の正(又は負)の直流電位を印加する手段と、前記複
合MOSトランジスタのP” (又はN” )領域に
所定の負(又は正)の直流電位を印加する手段とを有す
るMOS型固体撮像素子の、i(1≦i≦L)番目の前
記水平電極を介して前記各複合MoSトランジスタのp
(又はn)MOSトランジスタのチャネルの表面電位を
前記P” (又はN” )領域の電位より1ボルト程
度高く(又は低く)なるように設定して前記島状P(又
はN)型領域を空乏化せしめ、前記表面電位を前記i番
目の水平電極を介して所定の電位に設定して前記島状p
(又はN)型領域及びその周辺に入射した光によって発
生した正孔(又は電子)を前記島状P(又はN)型領域
並びにその周囲の浮遊容量に一定期間蓄積する動作をi
=1からi=Lまで順次に行なったのち、M個の前記第
2のスイッチを開きM個の前記第1のスイッチを閉じて
M本の前記垂直読出線の電位を初期設定したのち、M個
の前記第1のスイッチを開き、M個の前記第2のスイッ
チを閉じたのち、i番目の前記水平電極に正(又は負)
電位のパルスを与えて前記複合MOSトラジスタのn(
又はp)MOSトランジスタを導通させ前記入射光に応
じた信号電流を前記垂直読出線に取り出して前記電荷蓄
積手段に蓄積し、前記第3のスイッチを開き、前記水平
シフトレジスタからのパルスによって順次に前言己第2
のスイッチを閉じて前記電荷蓄積手段の電荷を前記信号
線に取り出す動作を、i=1からi=Lまで順次に行な
って1フィールド分の映像情報とするというものである
。
はP)型半導体基板に選択的に形成された島状P(又は
N)型領域、前記島状P(又はN)型領域に形成された
N” (又はP+)領域、前記島状P(又はN)型領
域と所定間隔おいて形成されたP+ (又はN”)領域
、前記P” (又はN” )領域と前記N” (又
はP” )領域と前記島状P(又はN)型領域とを含む
前記N(又はP)型半導体基板表面に形成された絶縁膜
、および前記絶縁膜上に設けられたゲート電極を有する
複合MOSトランジスタを、L本の水平電極とM本の垂
直読出線の交差位置に、前とゲート電極を前記水平電極
に接続し前記N” (又はP” )領域を前記垂直読
出線に接続して、それぞれ配置したセンサアレイと、前
記センサアレイのM本の垂直読出線のそれぞれの一端と
基準電位端との間に挿入されたM個の第1のスイッチと
、前記M本の垂直読出線のそれぞれの他端に一端を接続
されたM個の第2のスイッチと、前記各第2のスイッチ
の他端と信号線との間にそれぞれ挿入された第3のスイ
ッチと、前記第2のスイッチの他端と基準電位端との間
にそれぞれ挿入された電荷蓄積手段と、前記第3のスイ
ッチを順次に開閉するパルスを発生する水平シフトレジ
スタと、前記垂直読出線に順次に所定のパルスを印加す
る垂直レジスタと、前記N(又はP)型半導体基板に所
定の正(又は負)の直流電位を印加する手段と、前記複
合MOSトランジスタのP” (又はN” )領域に
所定の負(又は正)の直流電位を印加する手段とを有す
るMOS型固体撮像素子の、i(1≦i≦L)番目の前
記水平電極を介して前記各複合MoSトランジスタのp
(又はn)MOSトランジスタのチャネルの表面電位を
前記P” (又はN” )領域の電位より1ボルト程
度高く(又は低く)なるように設定して前記島状P(又
はN)型領域を空乏化せしめ、前記表面電位を前記i番
目の水平電極を介して所定の電位に設定して前記島状p
(又はN)型領域及びその周辺に入射した光によって発
生した正孔(又は電子)を前記島状P(又はN)型領域
並びにその周囲の浮遊容量に一定期間蓄積する動作をi
=1からi=Lまで順次に行なったのち、M個の前記第
2のスイッチを開きM個の前記第1のスイッチを閉じて
M本の前記垂直読出線の電位を初期設定したのち、M個
の前記第1のスイッチを開き、M個の前記第2のスイッ
チを閉じたのち、i番目の前記水平電極に正(又は負)
電位のパルスを与えて前記複合MOSトラジスタのn(
又はp)MOSトランジスタを導通させ前記入射光に応
じた信号電流を前記垂直読出線に取り出して前記電荷蓄
積手段に蓄積し、前記第3のスイッチを開き、前記水平
シフトレジスタからのパルスによって順次に前言己第2
のスイッチを閉じて前記電荷蓄積手段の電荷を前記信号
線に取り出す動作を、i=1からi=Lまで順次に行な
って1フィールド分の映像情報とするというものである
。
次に本発明の実施例について図面を参照して説明する。
第1図は本発明MOS型固体撮像装置の第1の実施例の
回路図(便宜上、2行2列のセンサアレイを図示)、第
2図(a)は第1の実施例におけるセンサアレイの構造
を示す平面図、第2図(b)、(c)はそれぞれ第2図
(a)のA−A線断面図、B−B線断面図である。
回路図(便宜上、2行2列のセンサアレイを図示)、第
2図(a)は第1の実施例におけるセンサアレイの構造
を示す平面図、第2図(b)、(c)はそれぞれ第2図
(a)のA−A線断面図、B−B線断面図である。
まずセンサアレイの画素について説明する。
N型半導体基板1の表面部に六角形状の島状P型領域3
が設けられている。島状P型領域3から所定間隔におい
てP1領域2が取り囲んでいる。
が設けられている。島状P型領域3から所定間隔におい
てP1領域2が取り囲んでいる。
又、島状P型領域3の中央部に浅いN+領域4が設けら
れている。このようなN型半導体基板1の表面には厚さ
数十ナノメータの5i02膜(8゜9)が全面に設けら
れその上にポリシリコン膜(厚さ数百ナノメータ)など
の水平電極7が設けられている。水平電極の表面にはS
i 02膜10が設けられている。又、N+領域4と
コンタクト領域5aで接触して垂直読出線5bが設けら
れている。コンタクト領域5aは水平電極と短絡したい
よう水平電極を貫通するコンタクト孔の側面は酸化シリ
コン膜で覆われている。
れている。このようなN型半導体基板1の表面には厚さ
数十ナノメータの5i02膜(8゜9)が全面に設けら
れその上にポリシリコン膜(厚さ数百ナノメータ)など
の水平電極7が設けられている。水平電極の表面にはS
i 02膜10が設けられている。又、N+領域4と
コンタクト領域5aで接触して垂直読出線5bが設けら
れている。コンタクト領域5aは水平電極と短絡したい
よう水平電極を貫通するコンタクト孔の側面は酸化シリ
コン膜で覆われている。
このような構造の画素が水平方向に配列されて水平電極
7を共有している。このような水平列が複数本平行に配
置して六方稠密構造のセンサアレイを構成している。各
画素のP+領域は上下左右に連結されて網状をなしてい
る。又、各画素の垂直読出線5bは垂直方向にジグザグ
に連結されている6 各画素は、島状P壁領域3をソース、P+領域2をドレ
イン、SfOzM8をゲート絶縁膜とするpMOSトラ
ンジスタ(以下参照番号を(8)と記す)と、N1領域
をソース、島状P型領域上の5i02膜9をゲート絶縁
膜、N型半導体基板1をトレインとするn M OS
トランジスタ(以下参照番号(9)と記す)とを含んで
いる。水平電極7はpMoSトラジスタ(8)、nMO
Sトランジスタ(9)のゲート電極である。
7を共有している。このような水平列が複数本平行に配
置して六方稠密構造のセンサアレイを構成している。各
画素のP+領域は上下左右に連結されて網状をなしてい
る。又、各画素の垂直読出線5bは垂直方向にジグザグ
に連結されている6 各画素は、島状P壁領域3をソース、P+領域2をドレ
イン、SfOzM8をゲート絶縁膜とするpMOSトラ
ンジスタ(以下参照番号を(8)と記す)と、N1領域
をソース、島状P型領域上の5i02膜9をゲート絶縁
膜、N型半導体基板1をトレインとするn M OS
トランジスタ(以下参照番号(9)と記す)とを含んで
いる。水平電極7はpMoSトラジスタ(8)、nMO
Sトランジスタ(9)のゲート電極である。
以上説明したセンサアレイの2本の垂直読出線5のそれ
ぞれの一端と接地電位端との間に第1のスイッチ15が
挿入され、又2本の垂直読出線のそれぞれの他端に第2
のスイ、ツチ16の一端が接続され、第2のスイッチの
他端は容量17と第3のスイッチ18の一端に接続され
、第3のスイッチの他端は信号線20に接続されている
。第3のスイッチ18であるMOSトランシタのゲート
電極は、水平シフトレジスタ14の各段に接続されてい
る。垂直信号読出線7には、垂直レジスタ13により、
順次にパルスが印加される。又、N型半導体基板1には
電源11が接続され、各画素のP“領域2には電源12
が接続されている。
ぞれの一端と接地電位端との間に第1のスイッチ15が
挿入され、又2本の垂直読出線のそれぞれの他端に第2
のスイ、ツチ16の一端が接続され、第2のスイッチの
他端は容量17と第3のスイッチ18の一端に接続され
、第3のスイッチの他端は信号線20に接続されている
。第3のスイッチ18であるMOSトランシタのゲート
電極は、水平シフトレジスタ14の各段に接続されてい
る。垂直信号読出線7には、垂直レジスタ13により、
順次にパルスが印加される。又、N型半導体基板1には
電源11が接続され、各画素のP“領域2には電源12
が接続されている。
次にこの画素の動作について説明する。
N型半導体基板1に、電源11によりプラス数ボルトの
基板バイアス電圧を加え、P”領域2には数ボルト(7
ボルトと仮定する)のマイナス電圧を加えると同時に水
平方向電極7にはP+領域2に加えた電圧よりやや高い
電圧を加え、N型半導体基板1の表面電位をP+領域2
の電圧より約IV高くする。
基板バイアス電圧を加え、P”領域2には数ボルト(7
ボルトと仮定する)のマイナス電圧を加えると同時に水
平方向電極7にはP+領域2に加えた電圧よりやや高い
電圧を加え、N型半導体基板1の表面電位をP+領域2
の電圧より約IV高くする。
このときP+領域2と島状P壁領域3の間はpMOSト
ランジスタ(8)が存在する。従って島状P壁領域3の
正孔は水平電極7の下の薄いSiC2の下を通ってP+
領域2に引き込まれマイナス電位となる。その大きさは
pMOSトランジスタ(8)とチャネル領域の表面電位
に等しくなる。
ランジスタ(8)が存在する。従って島状P壁領域3の
正孔は水平電極7の下の薄いSiC2の下を通ってP+
領域2に引き込まれマイナス電位となる。その大きさは
pMOSトランジスタ(8)とチャネル領域の表面電位
に等しくなる。
またP+領域2および水平電極7の電圧が負で共に大き
い時(P+領域2の方がより負とする)は島状P壁領域
3の正孔はすべてP+領域2に引き去られ島状P壁領域
3は完全に空乏化される。次に8の下の電位が一〇、5
■になるような電圧を水平電極7に与える。このとき島
状P壁領域はポテンシャル井戸となる。光がこのセルに
当たると、島状P壁領域3およびその周辺に発生したホ
ールは島状P壁領域および、島状P壁領域と連結した浮
遊容量に流入して、その電位を上げる。今N+領域4を
ソース(通常0ボルト)、島状P壁領域3のうちその表
面にゲート絶縁膜9をもつ領域をゲート、N型半導体基
板1をドレインとするn M OS )ラジスタ(9〉
を考える。
い時(P+領域2の方がより負とする)は島状P壁領域
3の正孔はすべてP+領域2に引き去られ島状P壁領域
3は完全に空乏化される。次に8の下の電位が一〇、5
■になるような電圧を水平電極7に与える。このとき島
状P壁領域はポテンシャル井戸となる。光がこのセルに
当たると、島状P壁領域3およびその周辺に発生したホ
ールは島状P壁領域および、島状P壁領域と連結した浮
遊容量に流入して、その電位を上げる。今N+領域4を
ソース(通常0ボルト)、島状P壁領域3のうちその表
面にゲート絶縁膜9をもつ領域をゲート、N型半導体基
板1をドレインとするn M OS )ラジスタ(9〉
を考える。
このとき、島状P壁領域の電位は入射した光が大である
程ゼロに近ずくので、nMOSトランジスタ(9)のバ
ックゲート電圧は小さくなり、しきい電圧も小さくなり
ドレイン電流は大きくなる2従ってトレイン電流の大き
さから画素に入射した光量を知ることができる。この電
流は垂直読出線5に現われる。
程ゼロに近ずくので、nMOSトランジスタ(9)のバ
ックゲート電圧は小さくなり、しきい電圧も小さくなり
ドレイン電流は大きくなる2従ってトレイン電流の大き
さから画素に入射した光量を知ることができる。この電
流は垂直読出線5に現われる。
次にこの第1の実施例の駆動方法(本発明MO8型固体
撮像装置の駆動方法の第1の実施例)について説明する
。
撮像装置の駆動方法の第1の実施例)について説明する
。
P“領域2をマイナス数ボルト(7ボルトとする)、第
一段の水平電極下のN領域の表面電位をP+領域2より
1ボルト高い電位に設定すると最上段の島状P壁領域は
すべて空乏化あるいは完全空乏化する。次に第一段の水
平電極7をpMOsMOSトランシタの下の表面電位が
0.5V程度になるようにするとpMOSトランジスタ
(8)nMOSトランジスタ(9)共にオフになり島状
P型領域はフロートする。この状態で最上段は信号正孔
の蓄積を始める。この状態で第2段にも同じ操作を行な
い信号蓄積を始める。第2段の信号蓄積が終了したら次
に信号の読み出しを行なう。
一段の水平電極下のN領域の表面電位をP+領域2より
1ボルト高い電位に設定すると最上段の島状P壁領域は
すべて空乏化あるいは完全空乏化する。次に第一段の水
平電極7をpMOsMOSトランシタの下の表面電位が
0.5V程度になるようにするとpMOSトランジスタ
(8)nMOSトランジスタ(9)共にオフになり島状
P型領域はフロートする。この状態で最上段は信号正孔
の蓄積を始める。この状態で第2段にも同じ操作を行な
い信号蓄積を始める。第2段の信号蓄積が終了したら次
に信号の読み出しを行なう。
前述した信号の蓄積状態では各画素のnMOsトランジ
スタはオフになっている。この状態でまず第1のスイッ
チ16を開き、第2のスイッチ15を閉じて垂直読出線
5の電位を接地電位にし垂直読出線の電位を初期化する
。次に第1のスイッチ15を開く。
スタはオフになっている。この状態でまず第1のスイッ
チ16を開き、第2のスイッチ15を閉じて垂直読出線
5の電位を接地電位にし垂直読出線の電位を初期化する
。次に第1のスイッチ15を開く。
次に第3のスイッチをすべてオフにしたのち第2のスイ
ッチをオンにする。
ッチをオンにする。
次に垂直シフトレジスタ13により最上段の水平電極7
に正の電位を与える。
に正の電位を与える。
pMOSトランジスタ(8)はオフしつづけ、nMOS
トランジスタ(9)はオンになる。N型半導体基板1か
らN+領域4、垂直読出線5を通って容量17へ電流が
流入する。この電流は、これらのトランジスタのしきい
電圧に関係し光が全く当らない時は島状P型領域のバッ
クゲートバイアスは最大であるのでしきい電圧は大きく
なり、小さい電流しか流れない。しかし当った光の量が
大きくなるに従ってしきい電圧は小さくなり流れる電流
量は大きくなる。このような映像信号を読み出す時間は
1μs程度が適当である。なぜなら読み出し中に非常に
強い光が島状P型領域に入射するとpMOSトランジス
タはオフであるので過剰正孔はP+領域に逃げられず島
状P型領域3は周囲に対してプラスになるがらである。
トランジスタ(9)はオンになる。N型半導体基板1か
らN+領域4、垂直読出線5を通って容量17へ電流が
流入する。この電流は、これらのトランジスタのしきい
電圧に関係し光が全く当らない時は島状P型領域のバッ
クゲートバイアスは最大であるのでしきい電圧は大きく
なり、小さい電流しか流れない。しかし当った光の量が
大きくなるに従ってしきい電圧は小さくなり流れる電流
量は大きくなる。このような映像信号を読み出す時間は
1μs程度が適当である。なぜなら読み出し中に非常に
強い光が島状P型領域に入射するとpMOSトランジス
タはオフであるので過剰正孔はP+領域に逃げられず島
状P型領域3は周囲に対してプラスになるがらである。
このときには正孔は島状P型領域がらN型半導体基板1
の中に流入するため周囲のセルへの正孔の拡散が起りブ
ルーミングとなる。従って映像信号の読出時間はできる
だけ短くしたければならない。
の中に流入するため周囲のセルへの正孔の拡散が起りブ
ルーミングとなる。従って映像信号の読出時間はできる
だけ短くしたければならない。
次に第2のスイッチ16をすべて開いた後、水平シフト
レジスタ14がらの出力によって順次第3のスイッチ1
8をオンにし、容量17に蓄積されている信号電荷を順
次出力させる。
レジスタ14がらの出力によって順次第3のスイッチ1
8をオンにし、容量17に蓄積されている信号電荷を順
次出力させる。
この場合第2のスイッチ16をオフにするとセンサアレ
イと上下の周辺回路は電気的に分離される。第2のスイ
ッチ16をオフにした後垂直シフトレジスタの第1段目
の出力がセンサアレイの第1段目に与えられる。この場
合のシフトレジスタからのパルスの尖頭値はマイナス数
ボルトで始まりたとえば数μs後から−0,5ボルトを
持続するので島状P型領域は信号ホールの蓄積を行なう
と共にブルーミングも防止する。
イと上下の周辺回路は電気的に分離される。第2のスイ
ッチ16をオフにした後垂直シフトレジスタの第1段目
の出力がセンサアレイの第1段目に与えられる。この場
合のシフトレジスタからのパルスの尖頭値はマイナス数
ボルトで始まりたとえば数μs後から−0,5ボルトを
持続するので島状P型領域は信号ホールの蓄積を行なう
と共にブルーミングも防止する。
第1段の信号の読み高しが終ったら、第1段目のN型半
導体基板の表面電位をマイナス数ボルトよりやや高い電
圧(1ボルト程度)に設定すると最上段の島状P型領域
はすべて空乏化あるいは完全空乏化する0次に第一段の
水平電極7をpM。
導体基板の表面電位をマイナス数ボルトよりやや高い電
圧(1ボルト程度)に設定すると最上段の島状P型領域
はすべて空乏化あるいは完全空乏化する0次に第一段の
水平電極7をpM。
Sトランジスタ(8)のN型半導体基板の表面電位が−
0,5ボルト程度になるようにする。このときpMOS
トランジスタ(8) 、nMOSトランジスタ(9)は
共にオフになり島状P型領域はフロートする。この状態
で最上段は信号正孔の蓄積を始める。第2段目以後の信
号読みだし、および信号の蓄積は上述のように行なわれ
一フイールドの画面を構成する。このような動作をくり
返すことによって全画面より入射光に応じた信号を継続
的に読みだすことが出来る。
0,5ボルト程度になるようにする。このときpMOS
トランジスタ(8) 、nMOSトランジスタ(9)は
共にオフになり島状P型領域はフロートする。この状態
で最上段は信号正孔の蓄積を始める。第2段目以後の信
号読みだし、および信号の蓄積は上述のように行なわれ
一フイールドの画面を構成する。このような動作をくり
返すことによって全画面より入射光に応じた信号を継続
的に読みだすことが出来る。
センサアレイが六方稠密配列になっているので、画素の
高密度化が達成でき高解像度の固体撮像装置が実現でき
る。
高密度化が達成でき高解像度の固体撮像装置が実現でき
る。
島状P型領域の電位は光量によって変化する。
1フイールド(又はフレーム)期間に島状P型領域に蓄
積される電荷の光量による変化量を△QII1.nMO
Sトランジスタを通って1μs間に読み出される電荷の
光量による変化量を△Q o u tとすると電荷利得
は△Qout/QIaで与えられる。この電荷利得はn
MO8トランジスタのバックゲート効果によるものであ
り、本発明者の検討したところでは、103〜105の
非常に大きな値を実現することも可能である。
積される電荷の光量による変化量を△QII1.nMO
Sトランジスタを通って1μs間に読み出される電荷の
光量による変化量を△Q o u tとすると電荷利得
は△Qout/QIaで与えられる。この電荷利得はn
MO8トランジスタのバックゲート効果によるものであ
り、本発明者の検討したところでは、103〜105の
非常に大きな値を実現することも可能である。
又、信号続出期間を除き、ブルーミング防止機構がある
のでブルーミングは少なくなる。
のでブルーミングは少なくなる。
第3図は第2の実施例を示すセンサアレイの平面図であ
る。
る。
この実施例は第1の実施例のものに水平方向電8i19
を追加したものである。
を追加したものである。
水平電極7.垂直読出線5b上にSiO2膜を介してポ
リシリコン膜やA(膜の水平方向電極19が、各水平列
の島状P壁領域3の上方を除き、被覆されている。水平
電極7又は水平方向電極19のどちらか一方が各画素に
おいて島状P壁領域3とP+領域2で挟まれたN型半導
体基板の表面部上に5in2膜(8,9と同じ厚さ)を
介して設けられていることになる。
リシリコン膜やA(膜の水平方向電極19が、各水平列
の島状P壁領域3の上方を除き、被覆されている。水平
電極7又は水平方向電極19のどちらか一方が各画素に
おいて島状P壁領域3とP+領域2で挟まれたN型半導
体基板の表面部上に5in2膜(8,9と同じ厚さ)を
介して設けられていることになる。
この水平方向電極にP+領域2に加える電圧よりやや高
い電圧を与えることにより、島状P型頭域中の正孔をP
+領域に吸収させる。第1の実施例では、この作用を水
平電極のみによっていたのであるが、第2の実施例では
、水平方向電極を設けたので、正孔をP1領域に速やか
に吸収させることができる。水平電極と水平方向電極と
には例えば同一のパルスを印加すればよいのである。
い電圧を与えることにより、島状P型頭域中の正孔をP
+領域に吸収させる。第1の実施例では、この作用を水
平電極のみによっていたのであるが、第2の実施例では
、水平方向電極を設けたので、正孔をP1領域に速やか
に吸収させることができる。水平電極と水平方向電極と
には例えば同一のパルスを印加すればよいのである。
又、信号蓄積モードにおいては、島状P型領域周辺のN
型半導体基板の表面電1位は−0,5ボルト程度になる
のでブルーミング抑制作用は、第1の実施例より一層確
実になる。
型半導体基板の表面電1位は−0,5ボルト程度になる
のでブルーミング抑制作用は、第1の実施例より一層確
実になる。
また、信号読出し期間にも水平方向電極下のN領域の表
面ポテンシャルを−0,5ボルトにすれば、島状P壁領
域に蓄積された過剰な正孔は前述のN領域の表面を通っ
てP”領域に抜ける。従って読出し期間を長くしてもブ
ルーミングの防止ができる。
面ポテンシャルを−0,5ボルトにすれば、島状P壁領
域に蓄積された過剰な正孔は前述のN領域の表面を通っ
てP”領域に抜ける。従って読出し期間を長くしてもブ
ルーミングの防止ができる。
その他は、第1の実施例の駆動方法と同じである。
以上の実施例は、導電型と電圧の極性を逆にしてもよい
ことは改めて詳細説明を俟うまでもなく明らかなことで
ある。
ことは改めて詳細説明を俟うまでもなく明らかなことで
ある。
以上説明したように本発明によれば、p(又はn)MO
Sトランジスタの一方の活性領域中にN“ (又はP”
)領域に設けた複合トランジスタを光電変換素子とす
る高感度でブルーミング防止作用のあるMOS型固体撮
像装置を実現できる効果がある。
Sトランジスタの一方の活性領域中にN“ (又はP”
)領域に設けた複合トランジスタを光電変換素子とす
る高感度でブルーミング防止作用のあるMOS型固体撮
像装置を実現できる効果がある。
第1図は本発明MOS型固体撮像装置の第1の実施例の
回路図、第2図(a>は第1図におけるセンサアレイの
構造を示す平面図、第2図(b)、(c)はそれぞれ第
2図(a)のA−A線断面図、B−B線断面図、第3図
は本発明MOS型固体撮像装置の第2の実施例における
センサアレイの構造を示す平面図、第4図は従来のMO
S型固体撮像装置の回路図である。 1・・・N型半導体基板、2・・・P+領域、3・・・
島状P壁領域、4・・・N+領領域5a・・・コンタク
ト領域、5b・・・垂直読出線、7・・・水平電極、1
つ・・・水平方向電極。
回路図、第2図(a>は第1図におけるセンサアレイの
構造を示す平面図、第2図(b)、(c)はそれぞれ第
2図(a)のA−A線断面図、B−B線断面図、第3図
は本発明MOS型固体撮像装置の第2の実施例における
センサアレイの構造を示す平面図、第4図は従来のMO
S型固体撮像装置の回路図である。 1・・・N型半導体基板、2・・・P+領域、3・・・
島状P壁領域、4・・・N+領領域5a・・・コンタク
ト領域、5b・・・垂直読出線、7・・・水平電極、1
つ・・・水平方向電極。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、N(又はP)型半導体基板に選択的に形成された島
状P(又はN)型領域、前記島状P(又はN)型領域に
形成されたN^+(又はP^+)領域、前記島状P(又
はN)型領域と所定間隔おいて形成されたP^+(又は
N^+)領域、前記P^+(又はN^+)領域と前記N
^+(又はP^+)領域と前記島状P(又はN)型領域
とを含む前記N(又はP)型半導体基板表面に形成され
た絶縁膜、および前記絶縁膜上に設けられたゲート電極
を有する複合MOSトランジスタを、L本の水平電極と
M本の垂直読出線の交差位置に、前記ゲート電極を前記
水平電極に接続し前記N^+(又はP^+)領域を前記
垂直読出線に接続して、それぞれ配置したセンサアレイ
と、前記センサアレイのM本の垂直読出線のそれぞれの
一端と基準電位端との間に挿入されたM個の第1のスイ
ッチと、前記M本の垂直読出線のそれぞれの他端に一端
を接続されたM個の第2のスイッチと、前記各第2のス
イッチの他端と信号線との間にそれぞれ挿入された第3
のスイッチと、前記第2のスイッチの他端と基準電位端
との間にそれぞれ挿入された電荷蓄積手段と、前記第3
のスイッチを順次に開閉するパルスを発生する水平シフ
トレジスタと、前記垂直読出線に順次に所定のパルスを
印加する垂直レジスタと、前記N(又はP)型半導体基
板に所定の正(又は負)の直流電位を印加する手段と、
前記複合MOSトランジスタのP^+(又はN^+)領
域に所定の負(又は正)の直流電位を印加する手段とを
有することを特徴とするMOS型固体撮像装置。 2、N(又はP)型半導体基板に選択的に形成された島
状P(又はN)型領域、前記島状P(又はN)型領域に
形成されたN^+(又はP^+)領域、前記島状P(又
はN)型領域と所定間隔おいて形成されたP^+(又は
N^+)領域、前記P^+(又はN^+)領域と前記N
^+(又はP^+)領域と前記島状P(又はN)型領域
とを含む前記N(又はP)型半導体基板表面に形成され
た絶縁膜、および前記絶縁膜上に設けられたゲート電極
を有する複合MOSトランジスタを、L本の水平電極と
M本の垂直読出線の交差位置に、前記ゲート電極を前記
水平電極に接続し前記N^+(又はP^+)領域を前記
垂直読出線に接続して、それぞれ配置したセンサアレイ
と、前記センサアレイのM本の垂直読出線のそれぞれの
一端と基準電位端との間に挿入されたM個の第1のスイ
ッチと、前記M本の垂直読出線のそれぞれの他端に一端
を接続されたM個の第2のスイッチと、前記各第2のス
イッチの他端と信号線との間にそれぞれ挿入された第3
のスイッチと、前記第2のスイッチの他端と基準電位端
との間にそれぞれ挿入された電荷蓄積手段と、前記第3
のスイッチを順次に開閉するパルスを発生する水平シフ
トレジスタと、前記垂直読出線に順次に所定のパルスを
印加する垂直レジスタと、前記N(又はP)型半導体基
板に所定の正(又は負)の直流電位を印加する手段と、
前記複合MOSトランジスタのP^+(又はN^+)領
域に所定の負(又は正)の直流電位を印加する手段とを
有するMOS型固体撮像素子の、i(1≦i≦L)番目
の前記水平電極を介して前記各複合MOSトランジスタ
のp(又はn)MOSトランジスタのチャネルの表面電
位を前記P^+(又はN^+)領域の電位より1ボルト
程度高く(又は低く)なるように設定して前記島状P(
又はN)型領域を空乏化せしめ、前記表面電位を前記i
番目の水平電極を介して所定の電位に設定して前記島状
P(又はN)型領域及びその周辺に入射した光によって
発生した正孔(又は電子)を前記島状P(又はN)型領
域並びにその周囲の浮遊容量に一定期間蓄積する動作を
i=1からi=Lまで順次に行なったのち、M個の前記
第2のスイッチを開きM個の前記第1のスイッチを閉じ
てM本の前記垂直読出線の電位を初期設定したのち、M
個の前記第1のスイッチを開き、M個の前記第2のスイ
ッチを閉じたのち、i番目の前記水平電極に正(又は負
)電位のパルスを与えて前記複合MOSトラジスタのn
(又はp)MOSトランジスタを導通させ前記入射光に
応じた信号電流を前記垂直読出線に取り出して前記電荷
蓄積手段に蓄積し、前記第3のスイッチを開き、前記水
平シフトレジスタからのパルスによって順次に前記第2
のスイッチを閉じて前記電荷蓄積手段の電荷を前記信号
線に取り出す動作を、i=1からi=Lまで順次に行な
って1フィールド分の映像情報とすることを特徴とする
MOS型固体撮像装置の駆動方法。 3、平面形状が六角形と島状P(又はN)型領域の周辺
を所定間隔をおいて囲むP^+(又はN^+)領域を含
む複合MOSトラジスタが六方稠密に配置されている請
求項1記載のMOS型固体撮像装置。 4、N(又はP)型半導体基板に平面形状が六角形とな
るよう選択的に形成された島状P(又はN)型領域、前
記島状P(又はN)型領域に形成されたN^+(又はP
^+)領域、前記島状P(又はN)型領域の周辺を所定
間隔おいて囲んで形成されたP^+(又はN^+)領域
、前記P^+(又はN^+)領域と前記N^+(又はP
^+)領域と前記島状P(又はN)型領域とを含む前記
N(又はP)型半導体基板表面に形成された絶縁膜、お
よび前記絶縁膜上に設けられたゲート電極を有する複合
MOSトランジスタを、複数個六方稠密構造に配列し、
一水平列ごとに前記複合MOSトランジスタのゲート電
極を連結したL本の水平電極、一垂直列ごとに前記P^
+(又はN^+)領域上に絶縁膜を介してジグザグ状に
配置され前記複合MSOトランジスタのN^+(又はP
^+)領域に接続されたM本の垂直読出線、および前記
複合MOSトランジスタの島状P(又はN)型領域上を
除き絶縁膜を介して設けられ前記一水平列ごとに連結し
た水平方向電極を含むセンサアレイと、前記センサアレ
イM本の垂直読出線のそれぞれの一端と基準電位端との
間に挿入されたM個の第1のスイッチと、前記M本の垂
直読出線のそれぞれの他端に一端を接続されたM個の第
2のスイッチと、前記各第2のスイッチの他端と信号線
との間にそれぞれ挿入された第3のスイッチと、前記第
2のスイッチの他端と基準電位端との間にそれぞれ挿入
された電荷蓄積手段と、前記第3のスイッチを順次に開
閉するパルスを発生する水平シフトレジスタと、前記垂
直読出線に順次に所定のパルスを印加する垂直レジスタ
と、前記N(又はP)型半導体基板に所定の正(又は負
)の直流電位を印加する手段と、前記複合MOSトラン
ジスタのP^+(又はN)領域に所定の負(又は正)の
直流電位を印加する手段とを有することを特徴とするM
OS型固体撮像装置。 5、N(又はP)型半導体基板に平面形状が六角形とな
るよう選択的に形成された島状P(又はN)型領域、前
記島状P(又はN)型領域に形成されたN^+(又はP
^+)領域、前記島状P(又はN)型領域の周辺を所定
間隔おいて囲んで形成されたP^+(又はN^+)領域
、前記P^+(又はN^+)領域と前記N^+(又はP
^+)領域と前記島状P(又はN)型領域とを含む前記
N(又はP)型半導体基板表面に形成された絶縁膜、お
よび前記絶縁膜上に設けられたゲート電極を有する複合
MOSトランジスタを複数個六方稠密構造に配列し、一
水平列ごとに前記複合MOSトランジスタのゲート電極
を連結したL本の水平電極、一垂直列ごとに前記P^+
(又はN^+)領域上に絶縁膜を介してジグザグ状に配
置され前記複合MSOトランジスタのN^+(又はP^
+)領域に接続されたM本の垂直読出線、および前記複
合MOSトランジスタの島状P(又はN)型領域上を除
き絶縁膜を介して設けられ前記一水平列ごとに連結した
水平方向電極を含むセンサアレイと、前記センサアレイ
M本の垂直読出線のそれぞれの一端と基準電位端との間
に挿入されたM個の第1のスイッチと、前記M本の垂直
読出線のそれぞれの他端に一端を接続されたM個の第2
のスイッチと、前記各第2のスイッチの他端と信号線と
の間にそれぞれ挿入された第3のスイッチと、前記第2
のスイッチの他端と基準電位端との間にそれぞれ挿入さ
れた電荷蓄積手段と、前記第3のスイッチを順次に開閉
するパルスを発生する水平シフトレジスタと、前記垂直
読出線に順次に所定のパルスを印加する垂直レジスタと
、前記N(又はP)型半導体基板に所定の正(又は負)
の直流電位を印加する手段と、前記複合MOSトランジ
スタのP^+(又はN^+)領域に所定の負(又は正)
の直流電位を印加する手段とを有するMOS型固体撮像
装置の、i(1≦i≦L)番目の前記水平電極および水
平方向電極下の前記N(又はP)型半導体基板の表面電
位を前記P^+(又はN^+)領域の電位より1ボルト
程度高く(又は低く)なるように設定して前記島状P(
又はN)型領域を空乏化せしめ、前記表面電位を前記i
番目の水平電極及び水平方向電極を介して所定の電位に
設定して前記島状P(又はN)型領域及びその周辺に入
射した光によって発生した正孔(又は電子)を前記島状
P(又はN)型領域並びにその周囲の浮遊容量に一定期
間蓄積する動作をi=1からi=Lまで順次に行なった
のち、M個の前記第2のスイッチを開き、M個の前記第
1のスイッチを閉じてM本の前記垂直読出線の電位を初
期設定したのち、M個の前記第1のスイッチを開き、M
個の前記第2のスイッチを閉じたのち、i番目の前記水
平電極に正(又は負)電位のパルスを与えて前記複合M
OSトランジスタのn(又はp)MOSトランジスタを
導通させ前記入射光に応じた信号電流を前記垂直読出線
に取り出して前記電荷蓄積手段に蓄積し、前記第2のス
イッチを開き、前記水平シフトレジスタからのパルスに
よって順次前記第3のスイッチを閉じて前記電荷蓄積手
段の電荷を前記信号線に取り出す動作を、i=1からi
=Lまで順次に行なって1フィールド分の映像情報とす
ることを特徴とするMOS型固体撮像装置の駆動方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2269818A JPH04145663A (ja) | 1990-10-08 | 1990-10-08 | Mos型固体撮像装置およびその駆動方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2269818A JPH04145663A (ja) | 1990-10-08 | 1990-10-08 | Mos型固体撮像装置およびその駆動方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04145663A true JPH04145663A (ja) | 1992-05-19 |
Family
ID=17477604
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2269818A Pending JPH04145663A (ja) | 1990-10-08 | 1990-10-08 | Mos型固体撮像装置およびその駆動方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04145663A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5608243A (en) * | 1995-10-19 | 1997-03-04 | National Semiconductor Corporation | Single split-gate MOS transistor active pixel sensor cell with automatic anti-blooming and wide dynamic range |
-
1990
- 1990-10-08 JP JP2269818A patent/JPH04145663A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5608243A (en) * | 1995-10-19 | 1997-03-04 | National Semiconductor Corporation | Single split-gate MOS transistor active pixel sensor cell with automatic anti-blooming and wide dynamic range |
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