JPH041467U - - Google Patents

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JPH041467U
JPH041467U JP4104090U JP4104090U JPH041467U JP H041467 U JPH041467 U JP H041467U JP 4104090 U JP4104090 U JP 4104090U JP 4104090 U JP4104090 U JP 4104090U JP H041467 U JPH041467 U JP H041467U
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JP
Japan
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leads
tape substrate
test
electrodes
aligned
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JP4104090U
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Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案によるテープ基板検査装置の構
成図、第2図はテープ基板と検査針の横断面図を
示している。 1……IC、2,3……リード、4……テープ
基板(フイルム)、5,5′……検査針、6……
ベース板、7……ハンドラ・コントローラ、8…
…IC電気特性検査装置、9……電気導通判定装
置。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. フイルムキヤリア方式によりテープ基板上に実
    装されたICの電気特性検査で、該ICの電極に
    接続された複数のリードと対になる複数の検査針
    とを位置合わせし、前記リードと前記検査針とを
    接触させて電気的に接続する検査装置において、
    前記ICの電極と接続するリードと検査針の他に
    、電気導通を確認する為の複数のリードと該リー
    ドと対になる検査針を設けたことを特徴とするテ
    ープ基板検査装置。
JP4104090U 1990-04-17 1990-04-17 Pending JPH041467U (ja)

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JP4104090U JPH041467U (ja) 1990-04-17 1990-04-17

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JP4104090U JPH041467U (ja) 1990-04-17 1990-04-17

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JPH041467U true JPH041467U (ja) 1992-01-08

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JP4104090U Pending JPH041467U (ja) 1990-04-17 1990-04-17

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