JPH041471Y2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH041471Y2
JPH041471Y2 JP17404084U JP17404084U JPH041471Y2 JP H041471 Y2 JPH041471 Y2 JP H041471Y2 JP 17404084 U JP17404084 U JP 17404084U JP 17404084 U JP17404084 U JP 17404084U JP H041471 Y2 JPH041471 Y2 JP H041471Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
output
input
gauge
constant
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP17404084U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6189136U (ja
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP17404084U priority Critical patent/JPH041471Y2/ja
Publication of JPS6189136U publication Critical patent/JPS6189136U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH041471Y2 publication Critical patent/JPH041471Y2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measuring Fluid Pressure (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本考案は、シリコン等の半導体単結晶の持つピ
エゾ抵抗効果を利用して圧力を電気信号に変換す
る半導体圧力変換器に係り、特にせん断形ゲージ
を用いた半導体圧力変換器の温度補償を効果的に
実現する半導体圧力変換器の改良に関する。
〈従来技術〉 従来の半導体圧力変換器は、同一の半導体チツ
プ上に測定すべき圧力を検知する圧力検出素子と
半導体チツプの温度変化を検出する温度検出素子
とを形成し、この温度検出素子で測定された温度
特性を各半導体圧力変換器に対応したメモリ中に
記憶させ、この特性を用いて圧力検出素子で得た
被測定圧力に対して補正演算を実行している。
しかし、各半導体圧力変換器ごとに温度特性を
測定しこれを各半導体圧力変換器に固有の特性デ
ータとして多数のデータを1体的に取扱うことは
このための調整工数の増加とコストの上昇を招く
問題がある。
〈考案の目的〉 本考案は、前記の従来技術に鑑み、簡単な構成
で汎用性のある温度補償を実現することの出来る
半導体圧力変換器を提供することを目的とする。
〈本考案の構成〉 この目的を達成する本考案の構成は、結晶面が
(100)の面方向の半導体単結晶のダイヤフラムの
起歪部上に伝導形がP形で結晶軸が〈100〉方向
に形成されてなるせん断形ゲージと、このせん断
形ゲージの入力端に定電流が供給されたときの出
力端に発生する電圧Esiと入力端の電圧ERiとせん
断形ゲージの入力端に定電圧が供給されたときの
その出力端の電圧Esvと基準温度においてせん断
形ゲージの入力端に定電流が供給されたときの入
力端の電圧ERi0と定数Cとを用いて E0=Esi1−CESV/ESi/ERi/ERiO−1 なる出力電圧E0を演算する演算手段とを具備し、
ダイヤフラムに印加される被測定圧力に対応した
出力電圧E0を出力することを特徴とするもので
ある。
〈実施例〉 以下、本考案の実施例について図面に基づいて
説明する。
第1図イは本考案の一実施例のダイヤフラムの
要部平面図、ロはセンサ部の断面図を示す。1は
ダイヤフラムであり、シリコン単結晶の一主面に
設けられた矩形状の凹部2を有し、更に凹部2の
形成により単結晶の厚さの薄くなつた起歪部3
と、その周辺の固定部4とを有している。固定部
4は連通孔5を有する基板6にガラス薄膜7を介
して陽極接合等により固定されている。起歪部3
上にはその中心を通る縦の結晶軸〈110〉方向に
対して45°方向の〈100〉軸の方向にせん断形ゲー
ジ8が不純物の拡散により伝導形がP形として形
成されている。ダイヤフラム1には上部より被測
定圧力Pが印加され歪を生じさせ、これをせん断
形ゲージ8で検出する。
第1図ハにせん断形ゲージの構成を拡大して示
した。第1図ハに示すせん断ゲージはゲージ長が
lでゲージ幅がwであり、このせん断形ゲージの
長手方向に入力端9,10が形成され、ここに電
圧または電流が印加される。被測定圧力Pがダイ
ヤフラム1に与えられるとこれによつて生じたせ
ん断応力τsに対応した電圧がゲージ長lのほぼ中
央に形成された出力端11,12から得られる。
第2図は第1図に示したセンサ部を用いて被測
定圧力Pをこれに対応した電圧E0に変換する変
換回路のブロツク図である。
せん断形ゲージ8の入力端9はスイツチSW1
介して定電流源CCSの1端に接続され、その他端
はせん断形ゲージ8の入力端10に接続されてい
る。更に入力端9はスイツチSW2を介して定電圧
源CVSの1端に接続されその他端は入力端10
に接続されている。せん断形ゲージ8の入力端
9,10はまたスイツチSW3を介して増幅器Q1
の入力端に接続されている。せん断ゲージ8の出
力端11,12はスイツチSW4を介して増幅器
Q2の入力端に接続され、同様にスイツチSW5
介して増幅器Q3の入力端に接続されている。こ
れ等のスイツチSW1〜SW5は発振器OSCにより
制御される。スイツチ群SW1,SW5は同時に開閉
され、スイツチ群SW2,SW3,SW4も同時に開閉
されるが、これ等のスイツチ群は互いに相補的に
動作する。
増幅器Q1の出力端は割算器Q4の入力端に接続
され、一方、増幅器Q2とQ3の各出力端は減算器
Q5の各入力端に接続されている。割算器Q4は減
算器Q6を介してその出力端と減算器Q5の出力端
とは割算器Q7の各入力端に接続されている。割
算器Q7の出力端から出力電圧E0が得られる。な
お、割算器Q4の入力の他端には電圧ERi0が設定さ
れている。増幅器Q1〜Q3、割算器Q4,Q7および
減算器Q5,Q6などで演算回路PCCを構成してい
る。
以上の如く構成された第2図に示す回路の動作
につき次に説明する。
先ず、発振器OSCによりスイツチSW1を閉じ、
せん断形ゲージ8に定電流源CCSより定電流Ii
供給する。任意温度tにおけるせん断形ゲージ8
の単位厚みの抵抗率、即ちシート抵抗をRspt、せ
ん断ピエゾ抵抗係数をπ〓pt、せん断応力をτpとす
れば、その出力電圧Esiは Esi=IiRspt(ΔRspt/Rspt) =IiRsptπ〓ptτp (1) で示すことができる。基準温度t0でのシート抵抗
をRsp0、せん断ピエゾ抵抗係数をπ〓p0とすれば、 Rspt=Rsp0(1+f(t)) (2) π〓pt=π〓p0(1+g(t)) (3) となる。ここで、f(t)はシート抵抗の抵抗温度変
化率をα1,α2,〜とすれば次式の如き温度の多項
式で表わせる。
f(t)=α1t+α2t2+… (4) また、g(t)はピエゾ抵抗係数の温度変化率を
β1,β2,〜とすれば次式の如き温度の多項式で表
わせる。
g(t)=β1t+β2t2+… (5) (2)、(3)式を(1)式に代入して Esi=IiRsp0π〓p0τp(1+f(t))(1+g(t)) (6) であり、tp=KP(K:一定)、A=IiRsp0π〓ptKと
おけば、 Esi=AP(1+f(t))(1+g(t)) (7) となる。この出力電圧EsiはスイツチSW4を介し
て増幅器Q2に入力される。この出力電圧Esiは温
度の関数を含む被測定圧力Pに対応した出力であ
る。
次に、結晶面が(100)面のダイヤフラム1の
面で結晶軸が〈100〉の方向に定電流Iiを流すよ
うに形成された状態のせん断形ゲージ8の入力端
9,10間には、この定電流Iiに対応した出力電
圧ERiが生じるが、この出力電圧ERiはダイヤフラ
ム1に印加される応力の影響を受けない点につい
て説明する。
ダイヤフラム1に応力が加わつた状態において
は、シリコン結晶中の電界強度(Ex、Ey、Ez
と電流密度(Jx、Jy、Jz)との間には、ρを応力
が印加されない状態の抵抗率、Δρij(テンソル、
i、jは指標)を応力による抵抗率の変化とすれ
ば、オームの法則により次のような関係が成り立
つ。
Ex Ey Ez=ρ+Δρxx Δρxy Δρxz Δρxy ρ+Δρyy Δρyz Δρxz Δρyz ρ+Δρzz×Jx Jy Jz ……(8) 但し、xは電流が入力する入力端9,10の方
向(〈100〉軸)、Yはこの電流の方向に直角な出
力端13,14の方向を示し、Zは紙面に垂直な
方向を示している。結晶に応力が加わつたとき
の、抵抗率は A〓=1/ρΔρxx Δρyy Δρzz Δρyz Δρxz Δρxy で、ピエゾ抵抗係数は Aβ=π11 π12 π13 π14 π15 π16 π21 π22 π23 π24 π25 π26 π31 π32 π33 π34 π35 π36 π41 π42 π43 π44 π45 π46 π51 π52 π53 π54 π55 π56 π61 π62 π63 π64 π65 π66 となり、応力に関しては、σx,σy,σzをそれぞれ
応力のX方向、Y方向、Z方向の成分、τyz,τxz
τxyをそれぞれ剪断応力成分とすると、 A〓=σx σy σz τyz τxz τxy となる。これ等は、 A〓=A〓・A〓 ……(9) の関係がある。
以上の(8)、(9)式を用い、電流をX軸方向にのみ
流すのでJY=JZ=0を考慮して、電界のX方向成
分Exを求めると、 (Ex/ρ)=Jx(1+π11σx+π12σy +π13σz+π14τyz+π15τxz+π16τxy)……(10
) となる。(Ey/ρ)、(Ez/ρ)についても同様に
して求めることができるが、省略する。
ここで、π14,π15は、立方晶の場合にはゲージ
に流す電流の方向の如何にかかわらずゼロである
ので、(10)式は (Ex/ρ)=Jx(1+π11σx+π12σy +π13σz+π16τxy) ……(11) となる。
出力電圧ERiは、シート抵抗の単位厚みをmと
すれば、 ERi=Ex・l Ii=Jx・m・w の関係があるので、これ等の関係を(11)式に代
入し、かつ(ρl/mw)=Rt(せん断形ゲージのゲ
ージ抵抗)の関係を用いると、 ERi=Rt・Ii(1+π11σx +π12σy+π13σz+π16τxy) ……(12) となる。
ところで、π11,π12は電流方向と〈100〉軸と
のなす角度をθとするとθ=0、つまり電流方向
が〈100〉方向では、通常使用する〈110〉軸の値
が70×10-12dyn/cm2程度であるのに対して、それ
ぞれ7×10-12dyn/cm2程度、−1×10-12dyn/cm2
程度と小さく、またπ13はθにかかわらず−1×
10-12dyn/cm2程度、さらにπ16はゼロである。
したがつて、θ=0では()の中のピエゾ抵抗
係数πの項が無視できるので ERi=Rt・Ii なり、応力の影響を受けることはなく、このため
ピエゾ抵抗係数の温度係数による影響もない。
R0を基準温度でのゲージ抵抗とすれば、Rtは Rt=R0(1+f(t)) で示されるので、ERiは ERi=IiR0(1+f(t)) ……(13) となる。ここでIiR0は基準温度において入力端
9,10間に生ずる電圧であるのでERi0=IiR0
おくと、(13)式は、 ERi=ERi0(1+f(t)) (14) で示される。
この電圧は温度の関数であり発振器OSCより
制御されたスイツチSW3を介して増幅器Q2に入
力される。なお、出力電圧ERi0は基準温度t0にお
ける入力端9,10間の電圧であり、割算器Q4
の入力にあらかじめ設定される。
次に、発振器OSCよりスイツチSW1をオフと
し、スイツチSW2,SW5をオンとする。この状態
ではせん断形ゲージ8の入力端9,10間に定電
圧源CVSより定電圧Vsが印加される。ここで、
せん断形ゲージ8の任意温度tでのシート抵抗を
Rsvt、シート抵抗の単位厚みをm、圧力ゲージの
固有抵抗をρとすれば、 Rsvt=ρ/m で表わすことができる。
また、せん断形ゲージ8の持つ抵抗値Rvtは Rvt=ρl/mw で表わすことができる。これ等の関係から、 Rsvt=WRvt/l の関係を得ることができる。この関係を定電流駆
動の式(1)に代入し、せん断形ゲージ8の任意温度
tにおけるせん断ピエゾ抵抗係数をπ〓vt、出力電
圧をEsvとすると、 Esv=Ii・(WRvt/l)・π〓vt・τp となる。
ここで、電流(Ii)と抵抗(Rvt)の積(Ii
Rvt)はとりもなおさず印加された電圧Vsを示し
ている。つまり、 Vs=Ii・Rvt となる。これ等の関係を用いると Esv=(W/l)Vs・π〓vt・τp ……(15) となる。印加された電圧Vsは定電圧源CVSから
供給され温度の影響を受けることはない。
したがつて、定電圧駆動したときの出力電圧
Esvは、ゲージの形状W、lに依存するが、温度
の影響はせん断ピエゾ抵抗係数π〓vtにのみ依存
し、(2)式に対応するシート抵抗の温度係数に依存
することはない。基準温度t0でのせん断ピエゾ抵
抗係数をπ〓v0とすれば、 π〓vt=π〓v0(1+g(t)) (16) となるのでこれを(15)式に代入すると次式を得
る。
Esv=w/lVsπ〓v0(1+g(t))τp (17) ここで、τp=KPを用いて(17)式を変形する
と、 B=w/lVsπ〓v0K (18) となる。Bは基準温度t0においてせん断形ゲージ
8に定電圧を供給し単位圧力を印加したときの出
力電圧を表わし、一定値をとる。そこで(17)式
は Esv=BP(1+g(t)) (19) となる。
この出力電圧Esvは発振器OSCにより制御され
たスイツチSW5を介して増幅器Q3に入力される。
以上の(7)式、(14)式、および(19)式で示さ
れる各出力電圧に基づいて演算回路PCCにより
次の様にして温度の影響を除去する演算がなされ
る。
(14)式より f(t)=ERi/ERi0−1 (20) (19)式より g(t)=Esv/BP−1 (21) (7)式より、f(t)g(t)≪1として Esi=AP(1+f(t))(1+g(t)) ≒AP(1+f(t)+g(t)) (22) (22)式に(20)、(21)式を代入して Esi=AP(ERi/ERi0+Esv/BP−1) ここでA/B=C、E0=APとおくと E0=Esi1−CESV/ESi/ERV/ERiO−1 (23) となる。この式を変形して、 E0=Esi−CEsv/ERi/ERiO−1 (24) の演算を演算回路PCCにおいて演算する。演算
回路PCCにおいては、割算器Q4で増幅器Q1(簡単
のため利得1とする)の出力電圧ERiと設定電圧
ERi0との比ERi/ERi0をとる割算を実行し、その出
力に対して減算器Q6で1を減算する演算をして
(ERi/ERi0)−1なる出力を割算器Q7に入力する。
一方、増幅器Q2(簡単のため利得1とする)の出
力電圧Esiと増幅器Q3(利得C)の出力電圧CEsv
を減算器Q5で減算しEsi−CEsvなる出力を出す。
割算器Q7では減算器Q6の出力と減算器Q5の出力
との比をとることにより(24)式の演算結果が得
られる。
以上の如くして、温度の影響が除去された被測
定圧力Pに対応した出力電圧E0が得られる。
以上の実施例の説明ではダイヤフラムの形状は
矩形状のものとして説明したが、これに限らず円
形その他のものでも良い。せん断形ゲージの形状
も実施例に示す形状に限られず同様な効果が得ら
れるものであれば任意の形状のものが使用でき
る。
〈考案の効果〉 以上、実施例とともに具体的に説明した様に、
本考案によれば、シリコンのダイヤフラム上にせ
ん断形ゲージを形成し、定電流あるいは定電圧で
ドライブすることにより、それ等の入力端あるい
は出力端の電圧を検出して簡単な所定の演算を実
行するだけで温度の影響を受けない半導体圧力変
換器が実現できる。このため信頼性が高くかつ調
整工数を大幅に削減することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図イは本考案の一実施例のダイヤフラムの
要部平面図、第1図ロはセンサ部の断面図、第1
図ハはせん断形ゲージの構成を拡大した拡大図、
第2図は第1図に示したセンサ部の出力電圧を圧
力に変換する変換回路である。 1……ダイヤフラム、3……起歪部、4……固
定部、5……連通孔、6……基板、7……ガラス
薄膜、8……せん断形ゲージ、9,10……入力
端、11,12……出力端、P……被測定圧力、
CCS……定電流源、CVS……定電圧源、OSC…
…発振器、PCC……演算回路、Vs……定電圧、Ii
……定電流、E0……出力電圧。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 結晶面が(100)の面方向の半導体単結晶のダ
    イヤフラムの起歪部上に伝導形がP形で結晶軸が
    〈100〉方向に入力端が形成されると共にこの結晶
    軸とは直角方向で中央部近傍に出力端が形成され
    たせん断形ゲージと、前記せん断形ゲージの前記
    入力端に定電流が供給されたときの前記出力端に
    発生する電圧Esiと前記入力端の電圧ERiと前記入
    力端に定電圧が供給されたときの前記出力端の電
    圧Esvと基準温度において前記入力端に定電流が
    供給されたときの入力端の電圧ERi0と定数Cとを
    用いて E0=Esi[1−C(Esv/Esi)] /[(ERi/ERi0)−1] なる出力電圧E0を演算する演算手段とを具備し、
    前記ダイヤフラムに印加される被測定圧力に対応
    した前記出力電圧E0を出力することを特徴とす
    る半導体圧力変換器。
JP17404084U 1984-11-16 1984-11-16 Expired JPH041471Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17404084U JPH041471Y2 (ja) 1984-11-16 1984-11-16

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17404084U JPH041471Y2 (ja) 1984-11-16 1984-11-16

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6189136U JPS6189136U (ja) 1986-06-10
JPH041471Y2 true JPH041471Y2 (ja) 1992-01-20

Family

ID=30731670

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP17404084U Expired JPH041471Y2 (ja) 1984-11-16 1984-11-16

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH041471Y2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0654274B2 (ja) * 1988-07-26 1994-07-20 株式会社豊田中央研究所 半導体圧力変換器
JP2010156621A (ja) * 2008-12-27 2010-07-15 New Japan Radio Co Ltd センサ用半導体装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6189136U (ja) 1986-06-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS59217375A (ja) 半導体機械−電気変換装置
WO2004090556A1 (ja) シリコン集積化加速度センサ
JPH041471Y2 (ja)
JPS61107774A (ja) 圧力感知装置及びその製作方法
JPH041470Y2 (ja)
JPS60122336A (ja) トランスデユ−サ
JP2638714B2 (ja) 高速動圧力の測定装置
JPH041472Y2 (ja)
JPH0533017Y2 (ja)
JP3259693B2 (ja) 秤量装置のスパン温度補償方法及び秤量装置
JPH0682844B2 (ja) 半導体歪変換装置
JPH08105913A (ja) シリコン加速度計
JPH0438273Y2 (ja)
JPH0542610B2 (ja)
JPH0511479Y2 (ja)
JPS622484Y2 (ja)
JPH06742Y2 (ja) 半導体圧力変換器
JPH05296706A (ja) 形状計測センサ
JPH0126028B2 (ja)
JPH0514186Y2 (ja)
JP2000241271A (ja) 圧力検出装置
JP3287244B2 (ja) 加速度検出装置
JPS633222Y2 (ja)
JPH0744992Y2 (ja) 圧力センサ
JPH0542608B2 (ja)