JPH0415061U - - Google Patents

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JPH0415061U
JPH0415061U JP5391390U JP5391390U JPH0415061U JP H0415061 U JPH0415061 U JP H0415061U JP 5391390 U JP5391390 U JP 5391390U JP 5391390 U JP5391390 U JP 5391390U JP H0415061 U JPH0415061 U JP H0415061U
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ultrasonic probe
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ultrasonic
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/04—Wave modes and trajectories
    • G01N2291/044—Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第１図ないし第９図は本考案の第１の実施例を
示し、第１図は超音波検査装置の縦断面図、第２
図はスキヤナを示す斜視図、第３図はテストピー
スを示す斜視図、第４図はテストピースに対する
超音波プローブのＸ軸方向の位置を調整する状態
を示す平面図、第５図は超音波プローブをテスト
ピースに平行に調節する状態を示す平面図、第６
図はオシロスコープに表示された反射波の状態を
示す波形図、第７図イは超音波プローブのＹ軸方
向の位置を調整する状態を示す平面図、第７図ロ
は反射波の変化を示す波形図、第８図は超音波プ
ローブの被検査体に対するＸ軸方向の位置を調整
する状態を示す超音波検査装置の縦断面図、第９
図は超音波プローブのＺ軸方向の位置を調整する
状態を示す超音波検査装置の縦断面図、第１０図
は本考案の第２の実施例を示すテストピースの斜
視図、第１１図は本考案の第３の実施例を示すテ
ストピースの斜視図、第１２図および第１３図は
従来技術を示し、第１２図は超音波プローブによ
る被検査体の検査状態を示す平面図、第１３図は
第１２図中の矢示−方向断面図である。 ３……被検査体、１１……超音波検査装置、１
３……スキヤナ本体、２０……超音波プローブ、
２２……回転支持台、２２Ａ……支持面、２５，
３１，４１……テストピース、２６，３３Ａ，４
３Ａ……初期設定面。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. Ｘ，Ｙ，Ｚ方向の３軸方向に移動可能で、かつ
    水平方向および垂直方向に回動可能に構成された
    スキヤナ本体と、該スキヤナ本体の先端側に取付
    けられ、被検査体に向けて超音波を発信すること
    により該被検査体の検査を行う超音波プローブと
    、前記被検査体を支持し、該被検査体を超音波プ
    ローブに対して回転させる回転支持台とからなる
    超音波検査装置において、前記回転支持台には、
    前記超音波プローブの初期設定を行うときに、前
    記被検査体に替えてテストピースを設け、該テス
    トピースには回転支持台の直径方向に伸長して回
    転支持台の中心軸に対し対称形状をなし、該回転
    支持台の支持面に対して所定角度をもつた初期設
    定面を形成し、前記超音波プローブから該テスト
    ピースの初期設定面に向けて超音波を発信しつつ
    、前記スキヤナ本体を作動させることにより、初
    期設定面からの反射波に基づき前記超音波プロー
    ブの初期設定を行う構成としたことを特徴とする
    超音波検査装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015526742A (ja) * 2012-09-05 2015-09-10 ユナイテッド テクノロジーズ コーポレイションＵｎｉｔｅｄ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎ 超音波検査用の浮動ヘッド輪郭追従ホルダ
WO2017006702A1 (ja) * 2015-07-09 2017-01-12 Ntn株式会社 等速自在継手の外側継手部材の製造方法および溶接部の超音波探傷検査方法
JP2021076500A (ja) * 2019-11-11 2021-05-20 株式会社東芝 超音波探傷装置及びジェットポンプビームの検査方法

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