JPH041507Y2 - - Google Patents
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- JPH041507Y2 JPH041507Y2 JP4615885U JP4615885U JPH041507Y2 JP H041507 Y2 JPH041507 Y2 JP H041507Y2 JP 4615885 U JP4615885 U JP 4615885U JP 4615885 U JP4615885 U JP 4615885U JP H041507 Y2 JPH041507 Y2 JP H041507Y2
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔考案の技術分野〕
本考案は、扁平な回路基板に各種の電子部品を
装着して組立てられた被検査体としての実装回路
基板(以下、たんに回路基板という)を最終的に
導通検査する回路基板検査装置に係り、特に、各
種の電子部品を回路基板の両面に装着した被検査
体を検査する両面回路基板検査装置に関する。[Detailed description of the invention] [Technical field of the invention] This invention is a mounted circuit board (hereinafter simply referred to as a circuit board) as an object to be inspected, which is assembled by mounting various electronic components on a flat circuit board. The present invention relates to a circuit board testing device that ultimately conducts a continuity test, and particularly relates to a double-sided circuit board testing device that tests a test object having various electronic components mounted on both sides of a circuit board.
既に提案されているこの種の回路基板検査装置
は、回路基板の片面のみに各種の電子部品を挿着
した被検査体として回路基板を多数のコンタクト
ピン(コンタクトプローブともいう)で導通検査
している。
This type of circuit board testing equipment, which has already been proposed, uses a large number of contact pins (also called contact probes) to test the circuit board for continuity, with various electronic components inserted on only one side of the circuit board. There is.
即ち、上述した回路基板検査装置は、ピンボー
ド上に多数のコンタクトピンを弾発的に植設し、
この各コンタクトピンを回路基板の一面に装着さ
れた各電子部品から突出する回路基板の他面の導
体部分に上方又は下方から昇降させて圧接し、こ
れによつて電気的導通検査を施すようになつてい
る。 That is, the circuit board inspection device described above elastically plants a large number of contact pins on a pin board,
Each of these contact pins is brought up and down from above or below and pressed into contact with the conductor portion of the other side of the circuit board protruding from each electronic component mounted on one side of the circuit board, thereby performing an electrical continuity test. It's summery.
このように、被検査体としての回路基板は、そ
の一面のみに各種電子部品による突出部を形成
し、回路基板の他面は、検査回路面を形成してい
る関係上、コンタクトピンを被検査体の他面側か
ら回路基板に接触導通させて測定検査が行われ
る。 In this way, the circuit board as the object to be inspected has protrusions made of various electronic components on only one side, and the other side of the circuit board forms the inspection circuit surface, so the contact pins are not placed under inspection. Measurement and inspection are performed by contacting and conducting the circuit board from the other side of the body.
しかしながら、最近の回路基板に使用される各
種の電子部品は、超小型化するために、高密度配
列化を余儀なくされ、これに起因して、回路基板
の表裏、つまり、両面にそれぞれ装着して使用さ
れるため、これらの両面回路基板の導通検査は、
両面回路基板の上・下方向から同時に、しかも、
一挙に一工程で導通検査することが望まれてい
る。 However, in order to miniaturize the various electronic components used in recent circuit boards, they are forced to be arranged in high-density arrangements. Continuity testing of these double-sided circuit boards is used because
Simultaneously from the top and bottom of a double-sided circuit board, and
It is desired to perform continuity testing in one step at once.
本考案は、上述した事情に鑑みてなされたもの
であつて、回路基板の両面に装着された各種の電
子部品を基板の上・下方向から一工程で一挙に、
しかも、確実に導通検査して検査作業の能率化及
び信頼性の向上を図ることを目的とする回路基板
検査装置を提供するものである。
The present invention was developed in view of the above-mentioned circumstances, and it is possible to remove various electronic components mounted on both sides of a circuit board from the top and bottom of the board in one process.
Furthermore, the present invention provides a circuit board testing device that aims to improve the efficiency and reliability of testing work by performing continuity testing reliably.
本考案は、支持ベースに複数の案内支柱を植設
し、各案内支柱の上部に下向きのコンタクトピン
を有する上部ピンボードを備えた固定板を支持
し、この固定板の下位の上記各案内支柱に上向き
のコンタクトピンを有する下部ピンボードを備え
た可動板を上方へ向かつて移動自在に支持し、こ
の下部ピンボードの上位でしかも前記上部ピンボ
ードの下位において、上記各案内支柱に上下に摺
動自在に保持部材を嵌装し、固定板と保持部材と
の間および可動板と保持部材との間に圧縮ばねを
それぞれ介在させ、保持部材上には、上面に検査
すべき両面回路基板を位置決め状態で支持する回
路基板支持板を支承し、また、回路基板支持板を
前記保持部材上の所定位置にロツクするためロツ
ク装置と、このロツク装置のロツク部材のロツク
位置への変位を検出するロツク検出装置とを設
け、さらに、このロツク検出装置の検出動作がな
された時にのみ前記可動板の上昇を伴う測定検査
の開始を可能にする装置を設け、保持部材上の所
定位置に確実に回路基板が保持された場合にの
み、測定検査が開始されるようにしたものであ
る。
In the present invention, a plurality of guide columns are installed on a support base, a fixed plate with an upper pin board having downward contact pins is supported on the upper part of each guide column, and each of the above-mentioned guide columns below this fixed plate. A movable plate having a lower pin board having upward contact pins is movably supported upwardly, and above the lower pin board and below the upper pin board, the movable plate is slidable up and down on each of the guide columns. A holding member is movably fitted, compression springs are interposed between the fixed plate and the holding member and between the movable plate and the holding member, and a double-sided circuit board to be inspected is placed on the upper surface of the holding member. A locking device for supporting a circuit board support plate supported in a positioned state and locking the circuit board support plate in a predetermined position on the holding member, and detecting displacement of the locking member of the locking device to the lock position. A lock detecting device is provided, and a device is further provided that enables the start of the measurement inspection accompanied by the raising of the movable plate only when the lock detecting device performs a detection operation, thereby ensuring that the circuit is securely located at a predetermined position on the holding member. The measurement inspection is started only when the substrate is held.
以下、本考案を図示の一実施例について説明す
る。
Hereinafter, the present invention will be described with reference to an illustrated embodiment.
第1図において、符号1は、扁平な支持ベース
であつて、この支持ベース1の一側には、下部コ
ネクタ2が検査表示器3にリード線を介して接続
するようにして設けられており、上記支持ベース
1の他側には、パイロツトランプを有する電源ス
イツチ4が付設されている。又、上記支持ベース
1上の各角隅部には、複数(図では4本)の案内
支柱5が植設されており、この案内支柱5の上部
には、多数の下向きのコンタクトピンを有する上
部ピンボード6aを支持する固定板6が水平に固
着されている。さらに、この固定板6には、上記
検査表示器3にリード線を介して接続される上部
コネクタ7が固定されており、この上部コネクタ
7および上記下部コネクタ2からの電流が上記検
査表示器3に流れて導通検査表示するようになつ
ている。 In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a flat support base, and a lower connector 2 is provided on one side of the support base 1 so as to be connected to an inspection display 3 via a lead wire. A power switch 4 having a pilot lamp is attached to the other side of the support base 1. Further, a plurality of (four in the figure) guide columns 5 are installed at each corner of the support base 1, and the guide columns 5 have a large number of downward contact pins on the upper part. A fixed plate 6 supporting the upper pinboard 6a is fixed horizontally. Furthermore, an upper connector 7 that is connected to the inspection display 3 via a lead wire is fixed to the fixed plate 6, and the current from the upper connector 7 and the lower connector 2 is transmitted to the inspection display 3. It is designed to flow to the screen and display the continuity test.
一方、第2図にも示されるように、上記固定板
6の下方において、上記各案内支柱5には、下部
ピンボード8aを支持する可動板8が上・下方向
に摺動自在に嵌装されており、この下部ピンボー
ド8aの上面には多数のコンタクトピン9が上向
きに、しかも弾発的に昇降するようにして設けら
れている。なお、各コンタクトピン9の下端は、
上記下部コネクタ2に各導電線を通して連結され
ている。 On the other hand, as shown in FIG. 2, below the fixed plate 6, a movable plate 8 that supports a lower pin board 8a is fitted into each of the guide columns 5 so as to be slidable upward and downward. A large number of contact pins 9 are provided on the upper surface of the lower pin board 8a so as to move up and down in an upward and elastic manner. Note that the lower end of each contact pin 9 is
It is connected to the lower connector 2 through each conductive wire.
又、上記上部ピンボード6aと下部ピンボード
8aの間において、上記各案内支柱5には、中央
部に大きな開口を有する扁平な保持部材10が
上・下方向に摺動自在に嵌装されており、この保
持部材10は、それと可動板8の間、およびそれ
と固定板6の間にそれぞれ介装した圧縮コイルば
ね14,15によつて浮動状態に保持されてい
る。即ち、可動板8の一部をなす下側板体8b上
には、第2図に示されるように、各一対をなすガ
イドピン11が上方へ向かつて立設されており、
この各ガイドピン11の直上に位置する上記保持
部材10には各一対をなすガイドピン12が上下
に貫通して植設されている。さらに、各ガイドピ
ン12の直上に位置する上記固定板6の部分に
は、各一対をなすガイドピン13が垂設されてい
る。そして、各ガイドピン11と各ガイドピン1
2の下側への突出部との間には、保持部材10と
可動板8との間に介在するように各コイルばね1
4が弾発的に介装されており、上記各ガイドピン
12の上側突出部とガイドピン13との間には、
保持部材10と固定板6との間に介在するよう
に、各コイルばね15が弾発的に介装されてお
り、特に、上部のコイルばね15は下部のコイル
ばね14の弾力より弱く形成されている。 Further, between the upper pin board 6a and the lower pin board 8a, a flat holding member 10 having a large opening in the center is fitted into each of the guide columns 5 so as to be slidable upwardly and downwardly. The holding member 10 is held in a floating state by compression coil springs 14 and 15 interposed between it and the movable plate 8 and between it and the fixed plate 6, respectively. That is, as shown in FIG. 2, a pair of guide pins 11 are erected upwardly on a lower plate 8b forming a part of the movable plate 8.
A pair of guide pins 12 are implanted in the holding member 10 located directly above each of the guide pins 11 so as to penetrate the guide pins 12 vertically. Furthermore, a pair of guide pins 13 are vertically provided in a portion of the fixing plate 6 located directly above each guide pin 12 . Then, each guide pin 11 and each guide pin 1
2, each coil spring 1 is interposed between the holding member 10 and the movable plate 8.
4 is elastically interposed between the upper protrusion of each guide pin 12 and the guide pin 13.
Each coil spring 15 is elastically interposed between the holding member 10 and the fixed plate 6, and in particular, the upper coil spring 15 is formed to have less elasticity than the lower coil spring 14. ing.
他方、第1図及び第3図に示されるように、上
記両案内支柱5に近接した上記保持部材10上の
両側には、部分円筒状の軸受スリーブ16aを備
えた各ブラケツト16が並設されており、この各
軸受16aには、把手17を有する抽出板18と
一体をなす各ガイド軸19が水平にして摺動自在
に設けられている。抽出板18は被検査体として
の回路基板Wの支持板を構成する。又、略四角形
をなす上記抽出板18の上面の対角線上には、一
対の案内ピン20が被検査体としての回路基板W
を着脱自在に嵌合して位置規制するようにして植
設されている。 On the other hand, as shown in FIGS. 1 and 3, on both sides of the holding member 10 close to the guide columns 5, brackets 16 each having a partially cylindrical bearing sleeve 16a are arranged in parallel. Each bearing 16a is provided with a horizontally slidable guide shaft 19 which is integral with an extraction plate 18 having a handle 17. The extraction plate 18 constitutes a support plate for the circuit board W as the object to be inspected. Further, a pair of guide pins 20 are arranged diagonally on the upper surface of the extraction plate 18, which has a substantially rectangular shape.
It is implanted in such a way that it is removably fitted and its position is regulated.
なお、上記回路基板Wの両面には、前述したよ
うに、その両面に、各種の電子部品が導電接着剤
による接着等により添設されており、上記回路基
板Wの下面は、保持板10の開口を経て上昇して
くる前記各コンタクトピン9に弾発的に当接し得
るようになつている(第3図参照)。 As described above, various electronic components are attached to both sides of the circuit board W by adhesion using a conductive adhesive, etc., and the lower surface of the circuit board W is attached to the support plate 10. It is designed so that it can resiliently abut against each of the contact pins 9 rising through the opening (see FIG. 3).
又一方、上記被検査体Wを載せた上記抽出板1
8の直上前記固定板6には、前述の上部ピンボー
ド6aが垂設されており、この上部ピンボード6
aの下面には、多数の下向きのコンタクトピン2
1がユニツト22とされて、しかも、着脱自在に
付設されており、この各コンタクトピン21は、
上記被検査体Wの上面の検査部に弾発的に接触す
るようになつている。又、上記上部ピンボード6
aの下面には、複数の押圧ピン23が上記被検査
体Wの上面を押圧し得るようにして設けられてお
り、この各押圧ピン23は上記被検査体Wの浮上
りを防止し位置決めに役立つようになつている。
又、上記多数のコンタクトピン21の上端は、上
記上部コネクタ7に各導電線を介して接続されて
おり、この上部コネクタ7は、前述したように前
記検査表示器3にリード線で接続されている。 On the other hand, the extraction plate 1 on which the object W to be inspected is mounted
The above-mentioned upper pin board 6a is vertically installed on the fixed plate 6 directly above the upper pin board 6.
There are many downward contact pins 2 on the bottom surface of a.
1 is used as a unit 22, and is detachably attached, and each contact pin 21 is
It is adapted to resiliently come into contact with the inspection portion on the upper surface of the object W to be inspected. Also, the above upper pin board 6
A plurality of pressing pins 23 are provided on the lower surface of a so as to be able to press the upper surface of the object W to be inspected, and each of the pressing pins 23 prevents the object W to be inspected from floating and is used for positioning. It's becoming useful.
Further, the upper ends of the plurality of contact pins 21 are connected to the upper connector 7 through conductive wires, and the upper connector 7 is connected to the inspection display 3 through lead wires as described above. There is.
さらに、上記両ガイド軸19の両端部には、第
2図に示されるように、各ストツパ24,25が
付設されており、この両ストツパ24と25は、
抽出板18を把手17で抽出したとき及び挿入し
たときの位置規制をし得るようになつている。 Furthermore, as shown in FIG. 2, stoppers 24 and 25 are attached to both ends of both guide shafts 19, and these stoppers 24 and 25 are
The position of the extraction plate 18 when extracted and inserted can be controlled by the handle 17.
上記抽出板18の正面両側には、第1図及び第
4図に示されるように、一対の軸受26が垂直方
向に固設されており、この両軸受26の頂面に
は、その軸受孔に隣接して各係合孔26aが垂直
に穿設されている。又、この両軸受26には、抽
出板18のロツク装置を構成する各ロツクハンド
ル27の支軸27aが抜け出ないようにして摺動
自在にして嵌装されており、この各ロツクハンド
ル27の支軸27aから偏倚した位置に垂下した
各係合ピン28は、上記各係合孔26aに係合す
るようになつている。支軸27aはロツク部材を
構成する。さらに、上記各ロツクハンドル27の
支軸27aの直下に位置する上記保持部材10の
管軸10a内に固定した軸10b内部には、好ま
しくは近接スイツチにより構成される各作動スイ
ツチS1,S2が設けられている。従つて、上記両ロ
ツクハンドル27は、抽出板18を挿入した後、
両軸受26の周りに回動することにより、上記各
係合ピン28を各係合孔26aに係合すると、上
記各支軸27aは係合ピン28が係合孔26a内
に没入するまで下降し、その下端部は両管軸10
aに嵌合して抽出板18の移動を一時的に固定し
てロツクすると共に、支軸27aが近接スイツチ
S1,S2に近接することにより各スイツチS1,S2が
onとなり、後述のように回路が付勢されて、導
通検査を開始するようになつている。このよう
に、作動スイツチS1,S2はロツク検出装置を構成
する。 As shown in FIGS. 1 and 4, a pair of bearings 26 are vertically fixed on both sides of the front of the extraction plate 18, and bearing holes are provided in the top surfaces of both bearings 26. Each engagement hole 26a is vertically bored adjacent to the engagement hole 26a. Further, a support shaft 27a of each lock handle 27 constituting the locking device for the extractor plate 18 is fitted into both bearings 26 so as to be slidable so as not to come off. Each engagement pin 28 hanging down at a position offset from the shaft 27a is adapted to engage with each engagement hole 26a. The support shaft 27a constitutes a locking member. Further, inside the shaft 10b fixed in the tube shaft 10a of the holding member 10 located directly below the support shaft 27a of each of the lock handles 27, there are operating switches S 1 , S 2 preferably constituted by proximity switches. is provided. Therefore, after inserting the extraction plate 18, both the lock handles 27 are
When the respective engaging pins 28 are engaged with the respective engaging holes 26a by rotating around both bearings 26, the respective supporting shafts 27a are lowered until the engaging pins 28 are recessed into the engaging holes 26a. The lower end of both tube shafts 10
a to temporarily fix and lock the movement of the extraction plate 18, and the support shaft 27a is connected to the proximity switch.
By being close to S 1 and S 2 , each switch S 1 and S 2
The circuit is turned on and the circuit is energized to start the continuity test as described below. The actuating switches S 1 and S 2 thus constitute a lock detection device.
他方、第1図及び第2図において、上記支持基
板1の後部上面には、ブレーキ付のモータ29が
設置されており、このモータ29の出力軸29a
には、逆ハート形の第1カム部材30、及び突起
31aを有する第2カム部材31が軸装されてい
る。又、この第1カム部材30の回転領域に近接
する上記支持基板1上の位置には、各ブラケツト
32が付設されており、この各ブラケツト32に
は各作動レバー33が各支軸34によつて軸装さ
れている。さらに、この各作動レバー33の一端
部33aは上記第1カム部材30の周縁に接触し
ており、上記各作動レバー33の他端部33b
は、可動板8の下側板体8bの底面に付設された
各当接部材8cに前記各コイルばね14,15の
伸長しようとする弾力によつて弾発的に当接して
いる。さらに又、上記第2カム部材31の突起3
1aの移動軌跡上には、上限スイツチS3と下限ス
イツチS4とが設けられており、この上限スイツチ
S3は、後述のように下部ピンボード8aおよび可
動板8が上限位置に上昇したときに作動するよう
になつており、下限スイツチS4は、後述のように
下部ピンボード8aおよび可動板8が下限位置に
下降したときに作動するようになつている。 On the other hand, in FIGS. 1 and 2, a motor 29 with a brake is installed on the rear upper surface of the support substrate 1, and an output shaft 29a of this motor 29
A first cam member 30 having an inverted heart shape and a second cam member 31 having a protrusion 31a are mounted on the shaft. Further, each bracket 32 is attached to a position on the support substrate 1 close to the rotation area of the first cam member 30, and each operating lever 33 is attached to each bracket 32 by each supporting shaft 34. It is equipped with a shaft. Further, one end 33a of each operating lever 33 is in contact with the periphery of the first cam member 30, and the other end 33b of each operating lever 33 is in contact with the periphery of the first cam member 30.
are resiliently abutted against respective abutting members 8c attached to the bottom surface of the lower plate 8b of the movable plate 8 due to the elasticity of the respective coil springs 14 and 15 that tend to expand. Furthermore, the protrusion 3 of the second cam member 31
An upper limit switch S3 and a lower limit switch S4 are provided on the movement trajectory of 1a.
As described later, the lower limit switch S3 is activated when the lower pin board 8a and the movable plate 8 rise to the upper limit position, and the lower limit switch S4 is activated when the lower pin board 8a and the movable plate 8 rise to the upper limit position as described later. It is designed to operate when the lower limit position is lowered.
これらスイツチS3,S4は、前述のスイツチS1,
S2と共に第5図に示すような電気回路に組込まれ
る。同図において、R1,R2,R3,R4はリレー、
r1,r2,r3,r4はそれらリレーの接点、T1は作動
開始時に働くタイマ、T2は検査所要時間を規制
するタイマ、t1,t2はタイマT1,T2の接点、Cは
コンデンサ、Bはモータ29のブレーキ、PLは
電源パイロツトランプである。 These switches S 3 and S 4 are similar to the above-mentioned switches S 1 and
It is incorporated together with S 2 into an electric circuit as shown in FIG. In the same figure, R 1 , R 2 , R 3 , R 4 are relays,
r 1 , r 2 , r 3 , r 4 are the contacts of these relays, T 1 is the timer that operates at the start of operation, T 2 is the timer that regulates the inspection time, t 1 , t 2 are the contacts of timers T 1 , T 2 Contact point, C is a capacitor, B is a brake of the motor 29, and PL is a power pilot lamp.
以下、以上に述べた回路基板検査装置の作用に
ついて説明する。 The operation of the circuit board inspection apparatus described above will be explained below.
被検査体としての両面回路基板Wを検査のため
に抽出板18に挿着するには、予め、上記両ロツ
クハンドル27を上方へ引き上げて僅かに外方へ
回動することにより、上記各係合孔26aから各
係合ピン28を引き抜く。これによつて、上記両
ロツクハンドル27の支軸27aは保持部材10
の管軸10aから引き抜かれると共に、両作動ス
イツチS1,S2がOFFとなる。 In order to insert the double-sided circuit board W as an object to be inspected into the extraction plate 18 for inspection, each of the above-mentioned locking handles is first pulled up and rotated slightly outward. Pull out each engaging pin 28 from the matching hole 26a. As a result, the support shafts 27a of both lock handles 27 are attached to the holding member 10.
When the tube is pulled out from the tube shaft 10a, both operating switches S 1 and S 2 are turned OFF.
次に、上記抽出板18の把手17を手で前方へ
引き出すことにより、この抽出板18と一体の両
ガイド軸19は、各ブラケツト16の軸受16a
に案内されて前方へ摺動する。 Next, by manually pulling out the handle 17 of the extractor plate 18 forward, both guide shafts 19 integrated with the extractor plate 18 can be attached to the bearings 16a of each bracket 16.
It slides forward as it is guided by.
このようにして前方へ引き出された上記抽出板
18の各案内ピン20には、第3図に示されるよ
うに、両面回路基板Wが挿着される。次に再び、
上記抽出板18を原位置に挿入すると共に、前記
両ロツクハンドル27を互いに内側に向かつて回
動することにより、この両ロツクハンドル27の
各係合ピン28が各係合孔26aに係合して降下
し、支軸27aが管軸10a内に係合して抽出板
18が保持部材10上にロツクされる。一方、各
支軸27aの下端が作動スイツチS1,S2に近接す
ることにより、近接スイツチとしての作動スイツ
チS1,S2はONとなる。この場合、支軸27aが
スイツチS1,S2に直接接触することがないので、
それに衝撃力が加わることがなく、作動スイツチ
S1,S2の故障は起きにくい。 As shown in FIG. 3, a double-sided circuit board W is inserted into each guide pin 20 of the extraction plate 18 that has been pulled forward in this manner. Then again,
By inserting the extraction plate 18 into its original position and rotating both the lock handles 27 inwardly, each engagement pin 28 of both lock handles 27 engages with each engagement hole 26a. Then, the support shaft 27a engages within the tube shaft 10a, and the extraction plate 18 is locked onto the holding member 10. On the other hand, as the lower end of each support shaft 27a approaches the operating switches S 1 and S 2 , the operating switches S 1 and S 2 as proximity switches are turned on. In this case, since the support shaft 27a does not come into direct contact with the switches S 1 and S 2 ,
No impact force is applied to it, and the operating switch
Failure of S 1 and S 2 is unlikely to occur.
両側のロツクハンドル27を操作することによ
つて、ロツク部材としての両側の支軸27aが抽
出板18を完全にロツクし終つた場合にのみ、両
作動スイツチS1,S2が閉じ、第5図に示すタイマ
T1の回路が閉じる。タイマT1は、抽出板18の
ロツク後1秒ないし数秒の設定時間が経過する
と、タイマ接点t1を閉じる。これによつて、常閉
リレー接点r2,r4を経てリレーR1が付勢され、リ
レー接点r1が閉じモータ29が駆動され、その出
力軸29aに固定された第1カム部材30と第2
カム部材31が共に、第2図において時計方向に
回転するので、この第1カム部材30は、作動レ
バー33を支軸34の周りに第2図において時計
方向に旋回させる。これによつて、この作動レバ
ー33の一端部33aが下方へ押され、その他端
部33bが当接部材8cを介して可動板8を上方
へ押し上げる。 By operating the lock handles 27 on both sides, only when the support shafts 27a on both sides as locking members have completely locked the extraction plate 18, both operating switches S 1 and S 2 are closed and the fifth switch is closed. The timer shown in the diagram
The circuit of T 1 is closed. The timer T 1 closes the timer contact t 1 when a set time of one to several seconds has elapsed after the extraction plate 18 was locked. As a result, relay R1 is energized via normally closed relay contacts r2 and r4 , relay contact r1 is closed, and motor 29 is driven, and the first cam member 30 fixed to its output shaft 29a and Second
Since the cam members 31 both rotate clockwise in FIG. 2, the first cam member 30 causes the actuating lever 33 to pivot clockwise in FIG. 2 about the support shaft 34. As a result, one end 33a of the operating lever 33 is pushed downward, and the other end 33b pushes the movable plate 8 upward via the abutting member 8c.
この押し上げによる可動板8の上昇により、下
部のコイルばね14は押し上げ力を保持部材10
に伝達し、保持部材10をも上昇させる。押し上
げ力はさらに保持部材10から上部のコイルばね
15に伝達される。ところで、上部のコイルばね
15の上端は固定板6に接触しており、しかも上
部のコイルばね15は下部のコイルばね14より
も弱いから可動板8の上昇開始により、まず上部
のコイルばね15が圧縮され始める。この時、下
部のコイルばね14の圧縮は殆んどなされず、し
たがつて可動板8上の下部ピンボード8aの上向
きコンタクトピン9と、保持部材10上の回路基
板Wとの相対距離の変化は殆どない。これに対
し、上部コイルばね15の圧縮によつて保持部材
10上の回路基板Wと上部ピンボード6aの下向
きコンタクトピン21の距離は漸次縮まり、遂に
は、回路基板Wの上面の検査点が下向きコンタク
トピン21に接する。そして、押圧ピン23の下
端が回路基板Wの上面に接してその浮上りを防止
し、それを押さえて位置決めする。押圧ピン23
の位置はこのような作用が最適になされる位置に
定められる。 As the movable plate 8 rises due to this pushing up, the lower coil spring 14 applies a pushing force to the holding member 10.
The holding member 10 is also raised. The pushing up force is further transmitted from the holding member 10 to the upper coil spring 15. By the way, the upper end of the upper coil spring 15 is in contact with the fixed plate 6, and since the upper coil spring 15 is weaker than the lower coil spring 14, when the movable plate 8 starts to rise, the upper coil spring 15 first moves upward. begins to be compressed. At this time, the lower coil spring 14 is hardly compressed, and therefore the relative distance between the upward contact pin 9 of the lower pin board 8a on the movable plate 8 and the circuit board W on the holding member 10 changes. There are almost no On the other hand, due to the compression of the upper coil spring 15, the distance between the circuit board W on the holding member 10 and the downward contact pins 21 of the upper pin board 6a gradually decreases, and finally the inspection point on the upper surface of the circuit board W is directed downward. In contact with the contact pin 21. Then, the lower ends of the press pins 23 come into contact with the upper surface of the circuit board W to prevent it from floating, and are pressed and positioned. Press pin 23
The position of is determined at a position where such an effect is optimally performed.
このような状態になつた後は上部コイルばね1
5の圧縮は止まる。また、上部コイルばね15は
その弱い弾力で、下向きコンタクトピン21と回
路基板Wの上面の電子部品との最初の接触時に軟
い緩衝作用を果たし、部品を保護する。回路基板
Wの上面の電子部品は第3図にPで示すようなフ
ラツトパツケージであることが多く、そのまわり
に突出する多数の折曲導電腕P1はきわめて弱く、
例えば30グラムを越える力で変形する。上部コイ
ルばね15の軟い緩衝作用は、フラツトパツケー
ジの弱い導電腕に所定の弱い力でコンタクトピン
21を接触させることを可能にし、導電接着面の
剥離等の事故を防ぎ正確な加圧力を確保する。 After reaching this state, upper coil spring 1
5 compression stops. Moreover, the upper coil spring 15 has a weak elasticity, and when the downward contact pin 21 first contacts the electronic component on the upper surface of the circuit board W, it exerts a soft buffering effect and protects the component. The electronic components on the top surface of the circuit board W are often flat packages as shown by P in FIG. 3, and the many bent conductive arms P1 protruding around them are extremely weak.
For example, it deforms with a force exceeding 30 grams. The soft buffering action of the upper coil spring 15 makes it possible to bring the contact pin 21 into contact with the weak conductive arm of the flat package with a predetermined weak force, thereby preventing accidents such as peeling of the conductive adhesive surface and applying accurate pressing force. secure.
このようにして所定の力で緩衝作用を伴なつて
下向きコンタクトピン21と回路基板上面部品と
の接触を行ない、無理な応力なしに所定の導通関
係を確保した後、下部コイルばね14の圧縮変形
を起しつつ可動板8がさらに上昇を続け、遂には
上向きコンタクトピン9の上端が、回路基板Wの
下面の電子部品に接触して、所定の導通関係を作
るので、それを検査表示器3により読取ることが
できる。 In this way, the downward contact pin 21 is brought into contact with the upper surface component of the circuit board with a predetermined force and a buffering effect, and after ensuring a predetermined conductive relationship without undue stress, the lower coil spring 14 is compressively deformed. As the movable plate 8 continues to rise while causing a It can be read by
このようにして、可動板8が上限位置に達する
と、上限スイツチS3が第2カム31の突起31a
により押されて閉じる。すると、常閉接点t2を経
てリレーR2が作動し、その常閉接点r2が開くので
リレーR1への通電が止まる。これによつて、リ
レー接点r1が開き、モータ29が止まり、同時に
ブレーキBの回路のリレー接点r1も開き、モータ
29にブレーキがかかつてモータ29は停止す
る。 In this way, when the movable plate 8 reaches the upper limit position, the upper limit switch S 3 switches the projection 31a of the second cam 31.
Pressed to close. Then, relay R 2 is activated via normally closed contact t 2 , and normally closed contact r 2 opens, so that power to relay R 1 is stopped. As a result, the relay contact r1 opens and the motor 29 stops, and at the same time, the relay contact r1 of the brake B circuit also opens, and the brake is applied to the motor 29, causing the motor 29 to stop.
一方、リレーR2の作動により常開リレー接点r2
が閉じてリレーR3が作動し、リレー接点r3が閉じ
るために、閉じているタイマ接点t1を経てタイマ
T2が作動を開始する。このタイマT2は既述のよ
うに測定検査時間の規制用タイマで、数秒ないし
数十秒の測定検査時間の経過によつて常閉接点t2
を開く。これにより、リレーR2が非作動となり、
常開リレー接点r2が再び閉じてリレーR1が作動
し、リレー接点r1が閉じてモータ29は再び第2
図において時計方向に回転を開始する。 On the other hand, the activation of relay R 2 causes the normally open relay contact r 2
is closed and relay R 3 is activated, relay contact R 3 is closed, so the timer contact T 1 is closed and the timer is activated.
T 2 starts working. As mentioned above, this timer T 2 is a timer for regulating the measurement inspection time, and the normally closed contact t 2
open. This deactivates relay R2 and
Normally open relay contact r2 closes again, activating relay R1 , relay contact r1 closes and motor 29 again switches to the second
Start rotating clockwise in the figure.
したがつて、第1カム部材30は、下部ピンボ
ード8a、可動板8および保持部材10等の自重
によつて作動レバー33が第2図において反時計
方向に回動することを許す。ピンボード8a、可
動板8になどの下限位置への下降時に第2カム部
材31の突起31aが下限スイツチS4を閉じる。
これによつて、リレーR4が作動し、そのリレー
接点r4が開いてリレーR1が非作動となり、リレー
接点r1が開いてモータ29が停止し、ブレーキB
がかかる。 Therefore, the first cam member 30 allows the operating lever 33 to rotate counterclockwise in FIG. 2 due to the weight of the lower pin board 8a, the movable plate 8, the holding member 10, etc. When the pin board 8a, the movable plate 8, etc. are lowered to the lower limit position, the protrusion 31a of the second cam member 31 closes the lower limit switch S4 .
As a result, relay R 4 is activated, its relay contact r 4 is opened, and relay R 1 is deactivated, relay contact r 1 is opened, motor 29 is stopped, and brake B
It takes.
以上のように、ロツクハンドル27の操作によ
り支軸27aを押し込んで抽出板18を完全にロ
ツクし終つた場合にのみ、両作動スイツチS1,S2
が閉じ、それによつてはじめて、可動板8の上昇
ではじまる測定検査のための作動が開始され、ロ
ツクが不完全な場合は測定検査を行なうことがで
きない。 As described above, only when the extractor plate 18 is completely locked by pushing the support shaft 27a through the operation of the lock handle 27, both operating switches S 1 and S 2 are activated.
is closed, and only then can the operation for the measuring test begin, which begins with the raising of the movable plate 8; if the locking is incomplete, no measuring test can be carried out.
次に、上記両ロツクハンドル27を上方へ引き
上げて外方へ回動することにより、保持部材10
の管軸10aから支軸27aを引き抜き、これに
よつて、抽出板18のロツクを解除した後、その
把手17を手で持つて抽出板18を前方へ引き出
すことにより、上記両面回路基板Wを取出すこと
ができる。 Next, by pulling up both lock handles 27 and rotating them outward, the holding member 10
After pulling out the support shaft 27a from the tube shaft 10a and thereby releasing the lock of the extraction plate 18, the double-sided circuit board W is removed by holding the handle 17 with your hand and pulling out the extraction plate 18 forward. It can be taken out.
このようにして、上記両面回路基板Wの導通検
査は、反復継続して行われる。 In this way, the continuity test of the double-sided circuit board W is repeatedly and continuously performed.
以上述べたように本考案によれば、可動板を固
定板に向かつて移動させるだけで、被検査体とし
ての両面回路基板の両面の導通検査を一工程で一
挙に、しかも、確実に行うことができるばかりで
なく、ばねにより緩衝作用を伴つてコンタクトピ
ンと電子部品の接触を行うので損傷を防ぐことが
でき、また、保持部材上に回路基板支持板をロツ
ク部材により所定位置にロツクした場合にのみ測
定検査が開始されるようになつているので、被検
査体としての回路基板が正しい位置にセツトされ
ないで測定検査が開始されることが防止される。
As described above, according to the present invention, by simply moving the movable plate toward the fixed plate, continuity tests on both sides of a double-sided circuit board as an object to be inspected can be carried out in one process and reliably. Not only can the contact pin and the electronic component come into contact with each other with a shock absorbing effect from the spring, thereby preventing damage, and when the circuit board support plate is locked in place on the holding member by the locking member. Since the measurement test is started only when the circuit board as the test object is not set in the correct position, it is possible to prevent the measurement test from being started without setting the circuit board as the object to be tested in the correct position.
第1図は、本考案による回路基板検査装置の正
面図、第2図は同上側面図、第3図は、本考案の
要部を取出して示す拡大断面図、第4図は、第1
図中の鎖円A部の拡大縦断面図、第5図は、本考
案に組込まれる電気回路を示す図である。
1……支持基板、3……検査表示器、5……案
内支柱、6……固定板、6a……上部ピンボー
ド、8……可動板、8a……下部ピンボード、9
……コンタクトピン、10……保持部材、14…
…下部圧縮ばね、15……上部圧縮ばね、16…
…ブラケツト、18……抽出板(回路基板支持
板)、21……コンタクトピン、27……ロツク
ハンドル、27a……ロツクハンドル支軸(ロツ
ク部材)、28……係合ピン、29……モータ、
30……第1カム部材、31……第2カム部材、
33……作動レバー、W……両面回路基板、S1,
S2……ロツク検出装置(近接スイツチ)。
FIG. 1 is a front view of the circuit board inspection device according to the present invention, FIG. 2 is a side view of the same, FIG. 3 is an enlarged sectional view showing the main parts of the present invention, and FIG.
FIG. 5, which is an enlarged vertical cross-sectional view of chain circle A in the figure, is a diagram showing an electric circuit incorporated in the present invention. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Support board, 3... Inspection display, 5... Guide column, 6... Fixed plate, 6a... Upper pin board, 8... Movable plate, 8a... Lower pin board, 9
...Contact pin, 10...Holding member, 14...
...Lower compression spring, 15...Upper compression spring, 16...
... Bracket, 18 ... Extraction plate (circuit board support plate), 21 ... Contact pin, 27 ... Lock handle, 27a ... Lock handle support shaft (lock member), 28 ... Engagement pin, 29 ... Motor ,
30...first cam member, 31...second cam member,
33... Actuation lever, W... Double-sided circuit board, S 1 ,
S 2 ...Lock detection device (proximity switch).
Claims (1)
内支柱の上部に、下向きのコンタクトピンを有
する上部ピンボードを備えた固定板を支持し、
この固定板の下位の各案内支柱に、上向きのコ
ンタクトピンを有する下部ピンボードを備えた
可動板を上方へ向かつて移動自在に支持し、こ
の下部ピンボードの上位でしかも前記上部ピン
ボードの下位において、前記各案内支柱に上下
に摺動自在に保持部材を嵌装し、固定板と保持
部材との間および可動板と保持部材との間にそ
れぞれ圧縮ばねを介在させ、保持部材上には、
上面に検査すべき両面回路基板を位置決め状態
で支持する回路基板支持板を支承し、また、回
路基板支持板を前記保持部材上の所定位置にロ
ツクするためのロツク装置と、このロツク装置
のロツク部材のロツク位置への変位を検出する
ロツク検出装置とを設け、さらに、このロツク
検出装置の検出動作がなされた時にのみ前記可
動板の上昇を伴う測定検査の開始を可能にする
装置を設けたことを特徴とする回路基板検査装
置。 2 回路基板支持板を、保持部材上でそれに沿つ
て摺動変位自在な抽出板により構成したことを
特徴とする実用新案登録請求の範囲第1項記載
の回路基板検出装置。 3 ロツク装置のロツク部材を、回路基板支持板
に形成した軸受孔を貫通して保持部材に設けた
管軸の孔内へ挿入自在の支軸により構成し、管
軸の孔内への支軸の完全挿入によるロツクを検
出する検出装置を支軸の完全挿入を検知するス
イツチにより構成したことを特徴とする実用新
案登録請求の範囲第2項記載の回路基板検査装
置。 4 スイツチを近接スイツチとしたことを特徴と
する実用新案登録請求の範囲第3項記載の回路
基板検査装置。[Claims for Utility Model Registration] 1. A plurality of guide columns are installed on a support base, and a fixed plate equipped with an upper pin board having downward contact pins is supported on the top of each guide column,
A movable plate having a lower pin board having upwardly facing contact pins is movably supported upwardly on each guide post below the fixed plate, and is above the lower pin board and below the upper pin board. A holding member is fitted to each of the guide columns so as to be slidable up and down, compression springs are interposed between the fixed plate and the holding member and between the movable plate and the holding member, and a compression spring is provided on the holding member. ,
A circuit board support plate supporting a double-sided circuit board to be inspected in a positioned state is supported on the upper surface, and a locking device for locking the circuit board support plate in a predetermined position on the holding member, and a locking device for this locking device. A lock detection device for detecting displacement of the member to the lock position is provided, and a device is further provided that enables the start of the measurement inspection accompanied by the movement of the movable plate only when the detection operation of the lock detection device is performed. A circuit board inspection device characterized by: 2. The circuit board detection device according to claim 1, wherein the circuit board support plate is an extraction plate that is slidable along the holding member. 3. The locking member of the locking device is constituted by a support shaft that can be freely inserted into the hole of the tube shaft provided in the holding member through the bearing hole formed in the circuit board support plate, and the support shaft can be inserted into the hole of the tube shaft provided in the holding member. 3. The circuit board inspection apparatus according to claim 2, wherein the detection device for detecting locking due to complete insertion of the support shaft is constituted by a switch for detecting complete insertion of the support shaft. 4. The circuit board inspection device according to claim 3, characterized in that the switch is a proximity switch.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4615885U JPH041507Y2 (en) | 1985-03-29 | 1985-03-29 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4615885U JPH041507Y2 (en) | 1985-03-29 | 1985-03-29 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61161773U JPS61161773U (en) | 1986-10-07 |
| JPH041507Y2 true JPH041507Y2 (en) | 1992-01-20 |
Family
ID=30560299
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4615885U Expired JPH041507Y2 (en) | 1985-03-29 | 1985-03-29 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH041507Y2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0452692Y2 (en) * | 1986-10-08 | 1992-12-10 |
-
1985
- 1985-03-29 JP JP4615885U patent/JPH041507Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61161773U (en) | 1986-10-07 |
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