JPH0464430B2 - - Google Patents

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JPH0464430B2
JPH0464430B2 JP60065316A JP6531685A JPH0464430B2 JP H0464430 B2 JPH0464430 B2 JP H0464430B2 JP 60065316 A JP60065316 A JP 60065316A JP 6531685 A JP6531685 A JP 6531685A JP H0464430 B2 JPH0464430 B2 JP H0464430B2
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JP
Japan
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pin
holding member
guide
compression spring
circuit board
Prior art date
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JP60065316A
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Japanese (ja)
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JPS61223666A (en
Inventor
Ko Nakajima
Katsutoshi Saida
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YOKO KK
Original Assignee
YOKO KK
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Publication date
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Publication of JPS61223666A publication Critical patent/JPS61223666A/en
Publication of JPH0464430B2 publication Critical patent/JPH0464430B2/ja
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、扁平な回路基板に各種の電子部品を
装着して組立てられた被検査体としての実装回路
基板(以下、たんに回路基板という)を最終的に
導通検査する回路基板検査装置に係り、特に、各
種の電子部品を回路基板の両面に装着した被検査
体を検査する両面回路基板検査装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a mounted circuit board (hereinafter simply referred to as a circuit board) as an object to be inspected, which is assembled by mounting various electronic components on a flat circuit board. The present invention relates to a circuit board testing device that ultimately conducts a continuity test, and particularly relates to a double-sided circuit board testing device that tests a test object having various electronic components mounted on both sides of a circuit board.

〔発明の技術的背景とその問題点〕[Technical background of the invention and its problems]

既に提案されているこの種の回路基板検査装置
は、回路基板の片面のみに各種の電子部品を挿着
した被検査体として回路基板を多数のコンタクト
ピン(コンタクトプローブともいう)で導通検査
している。
This type of circuit board testing equipment, which has already been proposed, uses a large number of contact pins (also called contact probes) to test the circuit board for continuity, with various electronic components inserted on only one side of the circuit board. There is.

即ち、上述した回路基板検査装置は、ピンボー
ド上に多数のコンタクトピンを弾発的に植設し、
この各コンタクトピンを回路基板の一面に装着さ
れた各電子部品から突出する回路基板の他面の導
体部分に上方又は下方から昇降させて圧接し、こ
れによつて電気的導通検査を施すようになつてい
る。
That is, the circuit board inspection device described above elastically plants a large number of contact pins on a pin board,
Each of these contact pins is brought up and down from above or below and pressed into contact with the conductor portion of the other side of the circuit board protruding from each electronic component mounted on one side of the circuit board, thereby performing an electrical continuity test. It's summery.

このように、被検査体としての回路基板は、そ
の一面のみに各種電子部品による突出部を形成
し、回路基板の他面は、検査回路面を形成してい
る関係上、コンタクトピンを被検査体の他面側か
ら回路基板に接触導通させて測定検査が行われ
る。
In this way, the circuit board as the object to be inspected has protrusions made of various electronic components on only one side, and the other side of the circuit board forms the inspection circuit surface, so the contact pins are not placed under inspection. Measurement and inspection are performed by contacting and conducting the circuit board from the other side of the body.

しかしながら、最近の回路基板に使用される各
種の電子部品は、超小型化するために、高密度配
列化を余儀なくされ、これに起因して、回路基板
の表裏、つまり、両面にそれぞれ装着して使用さ
れるため、これらの両面回路基板の導通検査は、
両面回路基板の上・下方向から同時に、しかも、
一挙に一工程で導通検査することが望まれてい
る。
However, in order to miniaturize the various electronic components used in recent circuit boards, they are forced to be arranged in high-density arrangements. Continuity testing of these double-sided circuit boards is used because
Simultaneously from the top and bottom of a double-sided circuit board, and
It is desired to perform continuity testing in one step at once.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明は、上述した事情に鑑みてなされたもの
であつて、回路基板の両面に装着された各種の電
子部品を基板の上・下方向から一工程で一挙に、
しかも、確実に導通検査して検査作業の能率化及
び信頼性の向上を図ることを目的とする回路基板
検査装置を提供するものである。
The present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, and it is possible to remove various electronic components mounted on both sides of a circuit board from the top and bottom of the board in one process.
Furthermore, the present invention provides a circuit board testing device that aims to improve the efficiency and reliability of testing work by performing continuity testing reliably.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

本発明は、支持ベースに複数の案内支柱を植設
し、各案内支柱の上部に下向きのコンタクトピン
を有する上部ピンボードを備えた固定板を支持
し、この固定板の下位の上記各案内支柱に上向き
のコンタクトピンを有する下部ピンボードを備え
た可動板を上方へ向かつて移動自在に支持し、こ
の下部ピンボードの上位でしかも前記上部ピンボ
ードの下位において、上記各案内支柱に上下に摺
動自在に保持部材を嵌装し、固定板と保持部材と
の間に上部圧縮ばねを、可動板と保持部材との間
に下部圧縮ばねをそれぞれ介装して保持部材を浮
動状態にし、上部圧縮ばねを下部圧縮ばねより弱
くし、かつ保持部材には上下両面に被検査部を有
する回路基板を保持し、下部ピンボードの上昇に
より、それと上部ピンボードとの間に保持部材上
の両面回路基板を挟むようにし、両面回路基板を
一工程で確実に導通検査し得るように構成したも
のである。
In the present invention, a plurality of guide columns are installed on a support base, a fixed plate having an upper pin board having downward contact pins is supported on the upper part of each guide column, and each of the above-mentioned guide columns below the fixed plate. A movable plate having a lower pin board having upward contact pins is movably supported upwardly, and above the lower pin board and below the upper pin board, the movable plate is slidable up and down on each of the guide columns. A holding member is movably fitted, an upper compression spring is interposed between the fixed plate and the holding member, a lower compression spring is interposed between the movable plate and the holding member, the holding member is placed in a floating state, and the upper The compression spring is made weaker than the lower compression spring, and the holding member holds a circuit board having parts to be inspected on both the upper and lower sides, and as the lower pin board rises, the double-sided circuit on the holding member is placed between it and the upper pin board. The structure is such that a double-sided circuit board can be reliably tested for continuity in one process by sandwiching the board between them.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下、本発明を図示の一実施例について説明す
る。
Hereinafter, the present invention will be described with reference to an illustrated embodiment.

第1図において、符号1は、扁平な支持ベース
であつて、この支持ベース1の一側には、下部コ
ネクタ2が検査表示器3にリード線を介して接続
するようにして設けられており、上記支持ベース
1の他側には、パイロツトランプを有する電源ス
イツチ4が付設されている。又、上記支持ベース
1上の各角隅部には、複数(図では4本)の案内
支柱5が植設されており、この案内支柱5の上部
には、多数の下向きのコンタクトピンを有する上
部ピンボード6aを支持する固定板6が水平に固
着されている。さらに、この固定板6には、上記
検査表示器3にリード線を介して接続される上部
コネクタ7が固定されており、この上部コネクタ
7および上記下部コネクタ2からの電流が上記検
査表示器3に流れて導通検査表示するようになつ
ている。
In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a flat support base, and a lower connector 2 is provided on one side of the support base 1 so as to be connected to an inspection display 3 via a lead wire. A power switch 4 having a pilot lamp is attached to the other side of the support base 1. Further, a plurality of (four in the figure) guide columns 5 are installed at each corner of the support base 1, and the guide columns 5 have a large number of downward contact pins on the upper part. A fixed plate 6 supporting the upper pinboard 6a is fixed horizontally. Furthermore, an upper connector 7 that is connected to the inspection display 3 via a lead wire is fixed to the fixed plate 6, and the current from the upper connector 7 and the lower connector 2 is transmitted to the inspection display 3. It is designed to flow to the screen and display the continuity test.

一方、第2図にも示されるように、上記固定板
6の下方において、上記各案内支柱5には、下部
ピンボード8aを支持する可動板8が上・下方向
に摺動自在に嵌装されており、この下部ピンボー
ド8aの上面には多数のコンタクトピン9が上向
きに、しかも弾発的に昇降するようにして設けら
れている。なお、各コンタクトピン9の下端は、
上記下部コネクタ2に各導電線を通して連結され
ている。
On the other hand, as shown in FIG. 2, below the fixed plate 6, a movable plate 8 that supports a lower pin board 8a is fitted into each of the guide columns 5 so as to be slidable upward and downward. A large number of contact pins 9 are provided on the upper surface of the lower pin board 8a so as to move up and down in an upward and elastic manner. Note that the lower end of each contact pin 9 is
It is connected to the lower connector 2 through each conductive wire.

又、上記上部ピンボード6aと下部ピンボード
8aの間において、上記各案内支柱5には、中央
部に大きな開口を有する扁平な保持部材10が
上・下方向に摺動自在に嵌装されており、この保
持部材10は、それと可動板8の間、およびそれ
と固定板6の間にそれぞれ介装した圧縮コイルば
ね14,15によつて浮動状態に保持されてい
る。即ち、可動板8の一部をなす下側板体8b上
には、第2図に示されるように、各一対をなすガ
イドピン11が上方へ向かつて立設されており、
この各ガイドピン11の直上に位置する上記保持
部材10には各一対をなすガイドピン12が上下
に貫通して植設されている。さらに、各ガイドピ
ン12の直上に位置する上記固定板6の部分に
は、各一対をなすガイドピン13が垂設されてい
る。そして各ガイドピン11と各ガイドピン12
の下側への突出部との間には、保持部材10と可
動板8との間に介在するように各コイルばね14
が弾発的に介装されており、上記各ガイドピン1
2の上側突出部とガイドピン13との間には、保
持部材10と固定板6との間に介在するように、
各コイルばね15が弾発的に介装されており、特
に、上部のコイルばね15は下部のコイルばね1
4の弾力より弱く形成されている。
Further, between the upper pin board 6a and the lower pin board 8a, a flat holding member 10 having a large opening in the center is fitted into each of the guide columns 5 so as to be slidable upwardly and downwardly. The holding member 10 is held in a floating state by compression coil springs 14 and 15 interposed between it and the movable plate 8 and between it and the fixed plate 6, respectively. That is, as shown in FIG. 2, a pair of guide pins 11 are erected upwardly on a lower plate 8b forming a part of the movable plate 8.
A pair of guide pins 12 are implanted in the holding member 10 located directly above each of the guide pins 11 so as to penetrate the guide pins 12 vertically. Furthermore, a pair of guide pins 13 are vertically provided in a portion of the fixing plate 6 located directly above each guide pin 12 . And each guide pin 11 and each guide pin 12
Each coil spring 14 is interposed between the holding member 10 and the movable plate 8, and
is elastically interposed, and each guide pin 1
2 and the guide pin 13, so as to be interposed between the holding member 10 and the fixing plate 6.
Each coil spring 15 is elastically interposed, and in particular, the upper coil spring 15 is connected to the lower coil spring 1.
The elasticity is weaker than that of 4.

他方、第1図及び第3図に示されるように、上
記両案内支柱5に近接した上記保持部材10上の
両側には、部分円筒状の軸受スリーブ16aを備
えた各ブラケツト16が並設されており、この各
軸受16aには、把手17を有する抽出板18と
一体をなす各ガイド軸19が水平にして摺動自在
に設けられている。抽出板18は被検査体として
の回路基板Wの支持板を構成する。又、略四角形
をなす上記抽出板18の上面の対角線上には、一
対の案内ピン20が被検査体としての回路基板W
を着脱自在に嵌合して位置規制するようにして植
設されている。
On the other hand, as shown in FIGS. 1 and 3, on both sides of the holding member 10 close to the guide columns 5, brackets 16 each having a partially cylindrical bearing sleeve 16a are arranged in parallel. Each bearing 16a is provided with a horizontally slidable guide shaft 19 which is integral with an extraction plate 18 having a handle 17. The extraction plate 18 constitutes a support plate for the circuit board W as the object to be inspected. Further, a pair of guide pins 20 are arranged diagonally on the upper surface of the extraction plate 18, which has a substantially rectangular shape.
It is implanted in such a way that it is removably fitted and its position is regulated.

なお、上記回路基板Wの両面には、前述したよ
うに、その両面に、各種の電子部品が導電接着剤
による接着等により添設されており、上記回路基
板Wの下面は、保持板10の開口を経て上昇して
くる前記各コンタクトピン9に弾発的に当接し得
るようになつている(第3図参照)。
As described above, various electronic components are attached to both sides of the circuit board W by adhesion using a conductive adhesive, etc., and the lower surface of the circuit board W is attached to the support plate 10. It is designed so that it can resiliently abut against each of the contact pins 9 rising through the opening (see FIG. 3).

又一方、上記被検査体Wを載せた上記抽出板1
8の直上前記固定板6には、前述の上部ピンボー
ド6aが垂設されており、この上部ピンボード6
aの下面には、多数の下向きのコンタクトピン2
1がユニツト22とされて、しかも、着脱自在に
付設されており、この各コンタクトピン21は、
上記被検査体wの上面の検査部に弾発的に接触す
るようになつている。又、上記上部ピンボード6
aの下面には、複数の押圧ピン23が上記被検査
体Wの上面を押圧し得るようにして設けられてお
り、この各押圧ピン23は上記被検査体Wの浮上
りを防止し位置決めに役立つようになつている。
又、上記多数のコンタクトピン21の上端は、上
記上部コネクタ7に各導電線を介して接続されて
おり、この上部コネクタ7は、前述したように前
記検査表示器3にリード線で接続されている。
On the other hand, the extraction plate 1 on which the object W to be inspected is mounted
The above-mentioned upper pin board 6a is vertically installed on the fixed plate 6 directly above the upper pin board 6.
There are many downward contact pins 2 on the bottom surface of a.
1 is used as a unit 22, and is detachably attached, and each contact pin 21 is
It is adapted to resiliently come into contact with the inspection portion on the upper surface of the object to be inspected w. Also, the above upper pin board 6
A plurality of pressing pins 23 are provided on the lower surface of a so as to be able to press the upper surface of the object W to be inspected, and each of the pressing pins 23 prevents the object W to be inspected from floating and is used for positioning. It's becoming useful.
Further, the upper ends of the plurality of contact pins 21 are connected to the upper connector 7 through conductive wires, and the upper connector 7 is connected to the inspection display 3 through lead wires as described above. There is.

さらに、上記両ガイド軸19の両端部には、第
2図に示されるように、各ストツパ24,25が
付設されており、この両ストツパ24と25は、
抽出板18を把手17で抽出したとき及び挿入し
たときの位置規制をし得るようになつている。
Furthermore, as shown in FIG. 2, stoppers 24 and 25 are attached to both ends of both guide shafts 19, and these stoppers 24 and 25 are
The position of the extraction plate 18 when extracted and inserted can be controlled by the handle 17.

上記抽出板18の正面両側には、第1図及び第
4図に示されるように、一対の軸受26が垂直方
向に固設されており、この両軸受26の頂面に
は、その軸受孔に隣接して各係合孔26aが垂直
に穿設されている。又、この両軸受26には、抽
出板18のロツク装置を構成するロツクハンドル
27の支軸27aが抜け出ないようにして摺動自
在にして嵌装されており、この各ロツクハンドル
27の支軸27aから偏倚した位置に垂下した各
係合ピン28は、上記各係止孔26aに係合する
ようになつている。支軸27aはロツク部材を構
成する。さらに、上記各ロツクハンドル27の支
軸27aの直下に位置する上記保持部材10の管
軸10a内に固定した軸10b内部には、好まし
くは近接スイツチにより構成される各作動スイツ
チS1,S2が設けられている。従つて、上記両ロツ
クハンドル27は、抽出板18を挿入した後、両
軸受26の周りに回動することにより、上記各係
合ピン28を各係合孔26aに係合すると、上記
各支軸27aは係合ピン28が係合孔26a内に
没入するまで下降し、その下端部は両管軸10a
に嵌合して抽出板18の移動を一時的に固定して
ロツクすると共に、支軸27aが近接スイツチ
S1,S2に近接することにより各スイツチS1,S2
onとなり、後述のように回路が付勢されて、導
通検査を開始するようになつている。このよう
に、作動スイツチS1,S2はロツク検出装置を構成
する。
As shown in FIGS. 1 and 4, a pair of bearings 26 are vertically fixed on both sides of the front of the extraction plate 18, and bearing holes are provided in the top surfaces of both bearings 26. Each engagement hole 26a is vertically bored adjacent to the engagement hole 26a. Further, a support shaft 27a of a lock handle 27 that constitutes a locking device for the extractor plate 18 is fitted into both bearings 26 so as to be slidable so as not to come off. Each of the engaging pins 28 hanging down at a position offset from 27a is adapted to engage with each of the locking holes 26a. The support shaft 27a constitutes a locking member. Further, inside the shaft 10b fixed in the tube shaft 10a of the holding member 10 located directly below the support shaft 27a of each of the lock handles 27, there are operating switches S 1 , S 2 preferably constituted by proximity switches. is provided. Therefore, when the two lock handles 27 rotate around the two bearings 26 after inserting the extraction plate 18 and engage the respective engagement pins 28 in the respective engagement holes 26a, each of the above-mentioned supports is rotated. The shaft 27a descends until the engagement pin 28 is recessed into the engagement hole 26a, and its lower end is connected to both tube shafts 10a.
This temporarily fixes and locks the movement of the extraction plate 18, and the support shaft 27a is connected to the proximity switch.
By being close to S 1 and S 2 , each switch S 1 and S 2
The circuit is turned on and the circuit is energized to start the continuity test as described below. The actuating switches S 1 and S 2 thus constitute a lock detection device.

他方、第1図及び第2図において、上記支持基
板1の後部上面には、ブレーキ付のモータ29が
設置されており、このモータ29の出力軸29a
には、逆ハート形の第1カム部材30、及び突起
31aを有する第2カム部材31が軸装されてい
る。又、この第1カム部材30の回転領域に近接
する上記支持基板1上の位置には、各ブラケツト
32が付設されており、この各ブラケツト32に
は各作動レバー33が各支軸34によつて軸装さ
れている。さらに、この各作動レバー33の一端
部33aは上記第1カム部材30の周縁に接触し
ており、上記各作動レバー33の他端部33b
は、可動板8の下側板体8bの底面に付設された
各当接部材8cに前記各コイルばね14,15の
伸長しようとする弾力によつて弾発的に当接して
いる。さらに又、上記第2カム部材31の突起3
1aの移動軌跡上には、上限スイツチS3と下限ス
イツチS4とが設けられており、この上限スイツチ
S3は、後述のように下部ピンボード8aおよび可
動板8が上限位置に上昇したときに作動するよう
になつており、下限スイツチS4は、後述のように
下部ピンボード8aおよび可動板8が下限位置に
下降したときに作動するよになつている。
On the other hand, in FIGS. 1 and 2, a motor 29 with a brake is installed on the rear upper surface of the support substrate 1, and an output shaft 29a of this motor 29
A first cam member 30 having an inverted heart shape and a second cam member 31 having a protrusion 31a are mounted on the shaft. Further, each bracket 32 is attached to a position on the support substrate 1 close to the rotation area of the first cam member 30, and each operating lever 33 is attached to each bracket 32 by each supporting shaft 34. It is equipped with a shaft. Further, one end 33a of each operating lever 33 is in contact with the periphery of the first cam member 30, and the other end 33b of each operating lever 33 is in contact with the periphery of the first cam member 30.
are resiliently abutted against respective abutting members 8c attached to the bottom surface of the lower plate 8b of the movable plate 8 due to the elasticity of the respective coil springs 14 and 15 that tend to expand. Furthermore, the protrusion 3 of the second cam member 31
An upper limit switch S3 and a lower limit switch S4 are provided on the movement trajectory of 1a.
As described later, the lower limit switch S3 is activated when the lower pin board 8a and the movable plate 8 rise to the upper limit position, and the lower limit switch S4 is activated when the lower pin board 8a and the movable plate 8 rise to the upper limit position as described later. It is designed to operate when the lower limit position is reached.

これらスイツチS3,S4は、前述のスイツチS1
S2と共に第5図に示すような電気回路に組込まれ
る。同図において、R1,R2,R3,R4はリレー、
r1,r2,r3,r4はそれらリレーの接点、T1は作動
開始時に働くタイマ、T2は検査所要時間を規制
するタイマ、t1,t2はタイマT1,T2の接点、Cは
コンデンサ、Bはモータ29のブレーキ、PLは
電源パイロツトランプである。
These switches S 3 and S 4 are similar to the above-mentioned switches S 1 and
It is incorporated together with S 2 into an electric circuit as shown in FIG. In the same figure, R 1 , R 2 , R 3 , R 4 are relays,
r 1 , r 2 , r 3 , r 4 are the contacts of these relays, T 1 is the timer that operates at the start of operation, T 2 is the timer that regulates the inspection time, t 1 , t 2 are the contacts of timers T 1 , T 2 Contact point, C is a capacitor, B is a brake of the motor 29, and PL is a power pilot lamp.

以下、以上に述べた回路基板検査装置の作用に
ついて説明する。
The operation of the circuit board inspection apparatus described above will be explained below.

被検査体としての両面回路基板Wを検査のため
に抽出板18に挿着するには、予め、上記両ロツ
クハンドル27を上方へ引き上げて僅かに外方へ
回動することにより、上記各係合孔26aから各
係合ピン28を引き抜く。これによつて、上記両
ロツクハンドル27の支軸27aは保持部材10
の管軸10aから引き抜かれると共に、両作動ス
イツチS1,S2がOFFとなる。
In order to insert the double-sided circuit board W as an object to be inspected into the extraction plate 18 for inspection, each of the above-mentioned locking handles is first pulled up and rotated slightly outward. Pull out each engaging pin 28 from the matching hole 26a. As a result, the support shafts 27a of both lock handles 27 are attached to the holding member 10.
When the tube is pulled out from the tube shaft 10a, both operating switches S 1 and S 2 are turned OFF.

次に、上記抽出板18の把手17を手で前方へ
引き出すことにより、この抽出板18と一体の両
ガイド軸19は、各ブラケツト16の軸受16a
に案内されて前方へ摺動する。
Next, by manually pulling out the handle 17 of the extractor plate 18 forward, both guide shafts 19 integrated with the extractor plate 18 can be attached to the bearings 16a of each bracket 16.
It slides forward as it is guided by.

このようにして前方へ引き出された上記抽出板
18の各案内ピン20には、第3図に示されるよ
うに、両面回路基板Wが挿着される。次に再び、
上記抽出板18を原位置に挿入すると共に、前記
両ロツクハンドル27を互いに内側に向かつて回
動することにより、この両ロツクハンドル27の
各係合ピン28が各係合孔26aに係合して降下
し、支軸27aが管軸10a内に係合して抽出板
18が保持部材10上にロツクされる。一方、各
支軸27aの下端が作動スイツチS1,S2に近接す
ることにより、近接スイツチとしての作動スイツ
チS1,S2はONとなる。この場合、支軸27aが
スイツチS1,S2に直接接触することがないので、
それに衝撃力が加わることがなく、作動スイツチ
S1,S2の故障は起きにくい。
As shown in FIG. 3, a double-sided circuit board W is inserted into each guide pin 20 of the extraction plate 18 that has been pulled forward in this manner. Then again,
By inserting the extraction plate 18 into its original position and rotating both the lock handles 27 inwardly, each engagement pin 28 of both lock handles 27 engages with each engagement hole 26a. Then, the support shaft 27a engages within the tube shaft 10a, and the extraction plate 18 is locked onto the holding member 10. On the other hand, as the lower end of each support shaft 27a approaches the operating switches S 1 and S 2 , the operating switches S 1 and S 2 as proximity switches are turned on. In this case, since the support shaft 27a does not come into direct contact with the switches S 1 and S 2 ,
No impact force is applied to it, and the operating switch
Failure of S 1 and S 2 is unlikely to occur.

両側のロツクハンドル27を操作することによ
つて、ロツク部材としての両側の支軸27aが抽
出板18を完全にロツクし終つた場合にのみ、両
作動スイツチS1,S2が閉じ、第5図に示すタイマ
T1の回路が閉じる。タイマT1は、抽出板18の
ロツク後1秒ないし数秒の設定時間が経過する
と、タイマ接点t1を閉じる。これによつて、常閉
リレー接点r2,r4を経てリレーR1が付勢され、リ
レー接点r1が閉じモータ29が駆動され、その出
力軸29aに固定された第1カム部材30と第2
カム部材31が共に、第2図において時計方向に
回転するので、この第1カム部材30は、作動レ
バー33を支軸34の周りに第2図において時計
方向に旋回させる。これによつて、この作動レバ
ー33の一端部33aが下方へ押され、その他端
部33bが当接部材8cを介して可動板8を上方
へ押し上げる。
By operating the lock handles 27 on both sides, only when the support shafts 27a on both sides as locking members have completely locked the extraction plate 18, both operating switches S 1 and S 2 are closed, and the fifth switch is closed. The timer shown in the diagram
The circuit of T 1 is closed. The timer T 1 closes the timer contact t 1 when a set time of one to several seconds has elapsed after the extraction plate 18 was locked. As a result, relay R1 is energized via normally closed relay contacts r2 and r4 , relay contact r1 is closed, and motor 29 is driven, and the first cam member 30 fixed to its output shaft 29a and Second
Since the cam members 31 both rotate clockwise in FIG. 2, the first cam member 30 causes the actuating lever 33 to pivot clockwise in FIG. 2 about the support shaft 34. As a result, one end 33a of the operating lever 33 is pushed downward, and the other end 33b pushes the movable plate 8 upward via the abutting member 8c.

この押し上げによる可動板8の上昇により、下
部のコイルばね14は押し上げ力を保持部材10
に伝達し、保持部材10をも上昇させる。押し上
げ力はさらに保持部材10から上部のコイルばね
15に伝達される。ところで、上部のコイルばね
15の上端は固定板6に接触しており、しかも上
部のコイルばね15は下部のコイルばね14より
も弱いから可動板8の上昇開始により、まず上部
のコイルばね15が圧縮され始める。この時、下
部のコイルばね14の圧縮は殆んどなされず、し
たがつて可動板8上の下部ピンボード8aの上向
きコンタクトピン9と、保持部材10上の回路基
板Wとの相対距離の変化は殆んどない。これに対
し、上部コイルばね15の圧縮によつて保持部材
10上の回路基板Wと上部ピンボード6aの下向
きコンタクトピン21の距離は漸次縮まり、遂に
は、回路基板Wの上面の検査点が下向きコンタク
トピン21に接する。そして、押圧ピン23の下
端が回路基板Wの上面に接してその浮上りを防止
し、それを押さえて位置決めする。押圧ピン23
の位置はこのような作用が最適になされる位置に
定められる。
As the movable plate 8 rises due to this pushing up, the lower coil spring 14 applies a pushing force to the holding member 10.
The holding member 10 is also raised. The pushing up force is further transmitted from the holding member 10 to the upper coil spring 15. By the way, the upper end of the upper coil spring 15 is in contact with the fixed plate 6, and since the upper coil spring 15 is weaker than the lower coil spring 14, when the movable plate 8 starts to rise, the upper coil spring 15 first moves upward. begins to be compressed. At this time, the lower coil spring 14 is hardly compressed, and therefore the relative distance between the upward contact pin 9 of the lower pin board 8a on the movable plate 8 and the circuit board W on the holding member 10 changes. There are almost no On the other hand, due to the compression of the upper coil spring 15, the distance between the circuit board W on the holding member 10 and the downward contact pins 21 of the upper pin board 6a gradually decreases, and finally the inspection point on the upper surface of the circuit board W points downward. In contact with the contact pin 21. Then, the lower ends of the press pins 23 come into contact with the upper surface of the circuit board W to prevent it from floating, and are pressed and positioned. Press pin 23
The position of is determined at a position where such an effect is optimally performed.

このような状態になつた後は上部コイルばね1
5の圧縮は止まる。また、上部コイルばね15は
その弱い弾力で、下向きコンタクトピン21と回
路基板Wの上面の電子部品との最初の接触時に軟
い緩衝作用を果たし、部品を保護する。回路基板
Wの上面の電子部品は第3図にPで示すようなフ
ラツトパツケージであることが多く、そのまわり
に突出する多数の折曲導電腕P1はきわめて弱く、
例えば30グラムを越える力で変形する。上部コイ
ルばね15の軟い緩衝作用は、フラツトパツケー
ジの弱い導電腕に所定の弱い力でコンタクトピン
21を接触させることを可能にし、導電接着面の
剥離等の事故を防ぎ正確な加圧力を確保する。
After reaching this state, upper coil spring 1
5 compression stops. In addition, the upper coil spring 15 has a weak elasticity, and when the downward contact pin 21 first comes into contact with the electronic component on the upper surface of the circuit board W, it exerts a soft buffering effect and protects the component. The electronic components on the top surface of the circuit board W are often flat packages as shown by P in FIG. 3, and the many bent conductive arms P1 protruding around them are extremely weak.
For example, it deforms with a force exceeding 30 grams. The soft buffering action of the upper coil spring 15 makes it possible to bring the contact pin 21 into contact with the weak conductive arm of the flat package with a predetermined weak force, thereby preventing accidents such as peeling of the conductive adhesive surface and applying accurate pressing force. secure.

このようにして所定の力で緩衝作用を伴なつて
下向きコンタクトピン21と回路基板上面部品と
の接触を行ない、無理な応力なしに所定の導通関
係を確保した後、下部コイルばね14の圧縮変形
を起しつつ可動板8がさらに上昇を続け、遂には
上向きコンタクトピン9の上端が、回路基板Wの
下面の電子部品に接触して、所定の導通関係を作
るので、それを検査表示器3により読取ることが
できる。
In this way, the downward contact pin 21 is brought into contact with the upper surface component of the circuit board with a predetermined force and a buffering effect, and after ensuring a predetermined conductive relationship without undue stress, the lower coil spring 14 is compressively deformed. As the movable plate 8 continues to rise while causing a It can be read by

このようにして、可動板8が上限位置に達する
と、上限スイツチS3が第2カム31の突起31a
により押されて閉じる。すると、常閉接点t2を経
てリレーR2が作動し、その常閉接点r2が開くので
リレーR1への通電が止まる。これによつて、リ
レー接点r1が開き、モータ29が止まり、同時に
ブレーキBの回路のリレー接点r1も開き、モータ
29にブレーキがかかつてモータ29は停止す
る。
In this way, when the movable plate 8 reaches the upper limit position, the upper limit switch S 3 switches the projection 31a of the second cam 31.
Pressed to close. Then, relay R 2 is activated via normally closed contact t 2 , and normally closed contact r 2 opens, so that power to relay R 1 is stopped. As a result, the relay contact r1 opens and the motor 29 stops, and at the same time, the relay contact r1 of the brake B circuit also opens, and the brake is applied to the motor 29, causing the motor 29 to stop.

一方、リレーR2の作動により常開リレー接点r2
が閉じてリレーR3が作動し、リレー接点r3が閉じ
るために、閉じているタイマ接点t1を経てタイマ
T2が作動する。このタイマT2は既述のように測
定検査時間の規制用タイマで、数秒ないし数十秒
の測定検査時間の経過によつて常閉接点t2を開
く。これにより、リレーR2が非作動となり、常
閉リレー接点r2が再び閉じてリレーR1が作動し、
リレー接点r1が閉じてモータ29は再び第2図に
おいて時計方向に回転を開始する。
On the other hand, the activation of relay R 2 causes the normally open relay contact r 2
is closed and relay R 3 is activated, relay contact R 3 is closed, so the timer contact T 1 is closed and the timer is activated.
T 2 is activated. As described above, this timer T2 is a timer for regulating the measurement and inspection time, and the normally closed contact t2 opens when the measurement and inspection time of several seconds to several tens of seconds has elapsed. This deactivates relay R 2 , closes normally closed relay contact r 2 again and activates relay R 1 ,
Relay contact r1 closes and motor 29 again begins to rotate clockwise in FIG.

したがつて、第1カム部材30は、下部ピンボ
ード8a、可動板8および保持部材10等の自重
によつて作動レバー33が第2図において反時計
方向に回動することを許す。ピンボード8a、可
動板8になどの下限位置への下降時に第2カム部
材31の突起31aが下限スイツチS4を閉じる。
これによつて、リレーR4が作動し、そのリレー
接点r4が開いてリレーR1が非作動となり、リレー
接点r1が開いてモータ29が停止し、ブレーキB
がかかる。
Therefore, the first cam member 30 allows the operating lever 33 to rotate counterclockwise in FIG. 2 due to the weight of the lower pin board 8a, the movable plate 8, the holding member 10, etc. When the pin board 8a, the movable plate 8, etc. are lowered to the lower limit position, the protrusion 31a of the second cam member 31 closes the lower limit switch S4 .
As a result, relay R 4 is activated, its relay contact r 4 is opened, and relay R 1 is deactivated, relay contact r 1 is opened, motor 29 is stopped, and brake B
It takes.

以上のように、ロツクハンドル27の操作によ
り支軸27aを押し込んで抽出板18を完全にロ
ツクし終つた場合にのみ、両作動スイツチS1,S2
が閉じ、それによつてはじめて、可動板8の上昇
ではじまる測定検査のための作動が開始され、ロ
ツクが不完全な場合は測定検査を行なうことがで
きない。
As described above, only when the extractor plate 18 is completely locked by pushing the support shaft 27a through the operation of the lock handle 27, the double operation switches S 1 and S 2 are activated.
is closed, and only then can the operation for the measuring test begin, which begins with the raising of the movable plate 8; if the locking is incomplete, no measuring test can be carried out.

次に、上記両ロツクハンドル27を上方へ引き
上げて外方へ回動することにより、保持部材10
の管軸10aから支軸27aを引き抜き、これに
よつて、抽出板18のロツクを解除した後、その
把手17を手で持つて抽出板18を前方へ引き出
すことにより、上記両面回路基板Wを取出すこと
ができる。
Next, by pulling up both lock handles 27 and rotating them outward, the holding member 10
After pulling out the support shaft 27a from the tube shaft 10a and thereby releasing the lock of the extraction plate 18, the double-sided circuit board W is removed by holding the handle 17 with your hand and pulling out the extraction plate 18 forward. It can be taken out.

このようにして、上記両面回路基板Wの導通検
査は、反復継続して行われる。
In this way, the continuity test of the double-sided circuit board W is repeatedly and continuously performed.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上述べたように本発明によれば、可動板を固
定板に向かつて移動させるだけで、被検査体とし
ての両面回路基板の両面の導通検査を一工程で一
挙に、しかも、確実に行うことができるばかりで
なく、取扱い操作も簡単であるとともに、両面回
路基板を支持する保持部材を上下の圧縮ばねを介
して浮動状態に支持し、一方の圧縮ばねを他方の
圧縮ばねより弱くすることにより弱い圧縮ばねの
側で緩衝作用を伴つて、まずコンタクトピンと回
路基板の接触を行わせ、次いで強いばねの側でヒ
コンタクトピンと回路基板の接触を行わせるよう
にしたので、上部ピンボードや下部ピンボードの
微細な各コンタクトピンを折曲げたり、損傷する
ことなく、また回路基板の電子部品の損傷もな
く、長期に亘つて検査を行うことができる。
As described above, according to the present invention, by simply moving the movable plate toward the fixed plate, the continuity test on both sides of the double-sided circuit board as the object to be inspected can be carried out in one process and reliably. In addition to being easy to handle, the holding member that supports the double-sided circuit board is supported in a floating state via upper and lower compression springs, and one compression spring is made weaker than the other. The contact pin and circuit board are first brought into contact with the weaker compression spring side with a buffering effect, and then the contact pin and the circuit board are brought into contact with the stronger spring side, so the upper pin board and the lower pin Inspections can be carried out over a long period of time without bending or damaging the minute contact pins of the board, and without damaging the electronic components of the circuit board.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、本発明による回路基板検査装置の正
面図、第2図は同上側面図、第3図は、本発明の
要部を取出して示す拡大断面図、第4図は、第1
図中の鎖円A部の拡大縦断面図、第5図は、本発
明に組込まれる電気回路を示す図である。 1……支持基板、3……検査表示器、5……案
内支柱、6……固定板、6a……上部ピンボー
ド、8……可動板、8a……下部ピンボード、9
……コンタクトピン、10……保持部材、14…
…下部圧縮ばね、15……上部圧縮ばね、16…
…ブラケツト、18……抽出板、21……コンタ
クトピン、27……ロツクハンドル、27a……
ロツクハンドル支軸、28……係合ピン、29…
…モータ、30……第1カム部材、31……第2
カム部材、33……作動レバー、W……両面回路
基板。
FIG. 1 is a front view of a circuit board inspection apparatus according to the present invention, FIG. 2 is a side view of the same, FIG. 3 is an enlarged sectional view showing main parts of the present invention, and FIG.
FIG. 5, an enlarged vertical cross-sectional view of chain circle A in the figure, is a diagram showing an electric circuit incorporated in the present invention. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Support board, 3... Inspection display, 5... Guide column, 6... Fixed plate, 6a... Upper pin board, 8... Movable plate, 8a... Lower pin board, 9
...Contact pin, 10...Holding member, 14...
...Lower compression spring, 15...Upper compression spring, 16...
...Bracket, 18...Extraction plate, 21...Contact pin, 27...Lock handle, 27a...
Lock handle support shaft, 28...Engagement pin, 29...
...Motor, 30...First cam member, 31...Second
Cam member, 33... Operating lever, W... Double-sided circuit board.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 支持ベースに複数の案内支柱を植設し、各案
内支柱の上部に、下向きのコンタクトピンを有す
る上部ピンボードを備えた固定板を支持し、この
固定板の下位の上記各案内支柱に、上向きのコン
タクトピンを有する下部ピンボードを備えた可動
板を上方に向かつて移動自在に支持し、この下部
ピンボードの上位でしかも前記上部ピンボードの
下位において、上記各案内支柱に上下摺動自在に
保持部材を嵌装し、固定板と保持部材との間に上
部圧縮ばねを、可動板と保持部材との間に下部圧
縮ばねをそれぞれ介装して保持部材を浮動状態に
し、上部圧縮ばねの力を下部圧縮ばねの力より弱
くし、かつ保持部材には、上下両面に被検査部を
有する回路基板を着脱自在に保持する手段を設け
たことを特徴とする回路基板検査装置。 2 上部圧縮ばねおよび下部圧縮ばねをいずれも
コイルばねとし、固定板から下方へ突出するガイ
ドピンと保持部材から上方へ突出するガイドピン
との間に上部圧縮ばねをはめ、可動板から上方へ
突出するガイドピンと保持部材から下方へ突出す
るガイドピンとの間に下部圧縮ばねをはめたこと
を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の回路基
板検査装置。
[Scope of Claims] 1. A plurality of guide columns are installed on a support base, and a fixed plate having an upper pin board having downward contact pins is supported on the upper part of each guide column, and a lower part of the fixed plate is supported. A movable plate having a lower pin board having upwardly facing contact pins is supported on each of the guide columns so as to be movable upwardly, and above the lower pin board and below the upper pin board, each of the guide posts A holding member is fitted onto the column so that it can slide up and down, and an upper compression spring is interposed between the fixed plate and the holding member, and a lower compression spring is interposed between the movable plate and the holding member to float the holding member. 1. A circuit characterized in that the force of the upper compression spring is made weaker than the force of the lower compression spring, and the holding member is provided with means for detachably holding a circuit board having a portion to be inspected on both upper and lower surfaces. Board inspection equipment. 2. Both the upper compression spring and the lower compression spring are coil springs, and the upper compression spring is fitted between a guide pin that projects downward from the fixed plate and a guide pin that projects upward from the holding member, and the guide projects upward from the movable plate. 2. The circuit board inspection device according to claim 1, wherein a lower compression spring is fitted between the pin and a guide pin projecting downward from the holding member.
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