JPH041512A - 半田部の外観検査方法 - Google Patents
半田部の外観検査方法Info
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- JPH041512A JPH041512A JP2101979A JP10197990A JPH041512A JP H041512 A JPH041512 A JP H041512A JP 2101979 A JP2101979 A JP 2101979A JP 10197990 A JP10197990 A JP 10197990A JP H041512 A JPH041512 A JP H041512A
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- Japan
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- solder
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
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- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は半田部の外観検査方法に関し、１、様々な形状
を有する半田部の輝度の分布状態を予めコンピュータに
登録しておき、観察された半田部の輝度の分布状態を、
登録された輝度の分布状態と照合することにより、半田
部の形状を推定するようにしたものである。
を有する半田部の輝度の分布状態を予めコンピュータに
登録しておき、観察された半田部の輝度の分布状態を、
登録された輝度の分布状態と照合することにより、半田
部の形状を推定するようにしたものである。
（従来の技術）
電子部品の電極部を基板に接着する半田部をカメラによ
り観察し、その形状の良否を検査することが知られてい
る。従来、このような外観検査は、半田部に照明光を照
射し、その反射光をカメラにより観察して、チエツクエ
リアにおける多数の画素の明暗の比率から、半田部の形
状の良否を判別していた。しかしながらこのような従来
手段は、画素の単なる明暗の比率から、半田部の形状の
良否を判断していたため、検査精度が悪く、また観察さ
れた半田部がどのような形状を有しているか検出できな
いものであった。
り観察し、その形状の良否を検査することが知られてい
る。従来、このような外観検査は、半田部に照明光を照
射し、その反射光をカメラにより観察して、チエツクエ
リアにおける多数の画素の明暗の比率から、半田部の形
状の良否を判別していた。しかしながらこのような従来
手段は、画素の単なる明暗の比率から、半田部の形状の
良否を判断していたため、検査精度が悪く、また観察さ
れた半田部がどのような形状を有しているか検出できな
いものであった。
（発明が解決しようとする諜Ｂ）
ところで、電子部品の電極部を基板に接着する半田部の
形状は様々ではあるが、それでも有限（例えば１０〜２
０種類程度）の典型的な形状に大別できるものである。
形状は様々ではあるが、それでも有限（例えば１０〜２
０種類程度）の典型的な形状に大別できるものである。
またこのように様々な形状の半田部を有限の典型的な形
状別に大別した場合、大別された各々の半田部は、それ
ぞれ特有の滑らかな平坦面や傾斜面を有し、しかもその
表面は鏡面性を有するものである。したがってこのよう
に形状別に大別された半田部に対して、特定の方向から
照明光を照射し、その反射光を特定の方向のカメラによ
り観察すれば、それぞれの半田部個有の輝度の分布状態
が得られるものである。
状別に大別した場合、大別された各々の半田部は、それ
ぞれ特有の滑らかな平坦面や傾斜面を有し、しかもその
表面は鏡面性を有するものである。したがってこのよう
に形状別に大別された半田部に対して、特定の方向から
照明光を照射し、その反射光を特定の方向のカメラによ
り観察すれば、それぞれの半田部個有の輝度の分布状態
が得られるものである。
そこで本発明は、上記のような半田部の光学的な特性に
着眼し、これを利用して、半田部の形状を正確簡単に推
定できる手段を提供することを目的とする。
着眼し、これを利用して、半田部の形状を正確簡単に推
定できる手段を提供することを目的とする。
（課題を解決するための手段）
このために本発明は、
半田部に向って、特定の方向から照明光を照射し、且つ
その反射光を特定の方向に設けられたカメラにより観察
した場合の様々の半田部の輝度の分布状態を予めコンピ
ュータに登録しておき、 上記と同一条件の照明光とカメラにより観察された半田
部の輝度の分布状態を、上記予め登録された輝度の分布
状態と照合することにより、この半田部の形状を推定す
るようにしたものである。
その反射光を特定の方向に設けられたカメラにより観察
した場合の様々の半田部の輝度の分布状態を予めコンピ
ュータに登録しておき、 上記と同一条件の照明光とカメラにより観察された半田
部の輝度の分布状態を、上記予め登録された輝度の分布
状態と照合することにより、この半田部の形状を推定す
るようにしたものである。
（作用）
上記構成によれば、カメラにより観察された半田部の輝
度の分布状態を、上記予め登録された輝度の分布状態と
照合することにより、この半田部の形状を推定し、その
結果から、半田部の形状の良否を判断する。
度の分布状態を、上記予め登録された輝度の分布状態と
照合することにより、この半田部の形状を推定し、その
結果から、半田部の形状の良否を判断する。
（実施例）
次に、図面を参照しながら本発明の詳細な説明する。
第１図は、外観検査装置の側面図であって、２は基板１
に実装されたＱＦＰやＳＯＰのような電子部品であり、
電極部であるリード３は、半田部４により基板ｌに接着
されている。５はカメラ、６はリング状の光源であり、
上方から半田部４に照明光を照射し、その反射光を上方
のカメラ５により観察する。半田部４はリフローにより
加熱処理されており、その表面は光沢のある鏡面となっ
ている。
に実装されたＱＦＰやＳＯＰのような電子部品であり、
電極部であるリード３は、半田部４により基板ｌに接着
されている。５はカメラ、６はリング状の光源であり、
上方から半田部４に照明光を照射し、その反射光を上方
のカメラ５により観察する。半田部４はリフローにより
加熱処理されており、その表面は光沢のある鏡面となっ
ている。
ところで上述したように、電極部を基板に接着する半田
部の形状は様々ではあるが、有限の典型的な形状に大別
できる。また半田部の表面は鏡面性を有しており、上記
のように半田部を典型的な形状別に大別した場合、大別
された各々の半田部は、それぞれ特有の滑らかな平坦面
や傾斜面を有するものである。したがってこのように形
状別に大別された半田部に対して、特定の方向から照明
光を照射し、その反射光を特定の方向のカメラにより観
察すれば、それぞれの半田部個有の輝度の分布状態が得
られるものである。
部の形状は様々ではあるが、有限の典型的な形状に大別
できる。また半田部の表面は鏡面性を有しており、上記
のように半田部を典型的な形状別に大別した場合、大別
された各々の半田部は、それぞれ特有の滑らかな平坦面
や傾斜面を有するものである。したがってこのように形
状別に大別された半田部に対して、特定の方向から照明
光を照射し、その反射光を特定の方向のカメラにより観
察すれば、それぞれの半田部個有の輝度の分布状態が得
られるものである。
第２図は、典型的な形状を有する半田部の（ｉ）側断面
図、（ｉｉ ）正面図、特定の方向（本実施例では上方
）の光源６から照明光を照射し、特定の方向（同じく上
方）のカメラ５により観察した場合の（ｉｉｉ ）輝度
の分布状態図、を示すものである。
図、（ｉｉ ）正面図、特定の方向（本実施例では上方
）の光源６から照明光を照射し、特定の方向（同じく上
方）のカメラ５により観察した場合の（ｉｉｉ ）輝度
の分布状態図、を示すものである。
同図（ａ）の半田部４ａは、（ｉ）の側断面図に示すよ
うに、断面略三角形状にヌレ性よく形成されており、形
状、量は共に良好である。
うに、断面略三角形状にヌレ性よく形成されており、形
状、量は共に良好である。
また（ ｉｉ ）の正面図に示すように、その正面形状
は半円形であり、その全面は球面である。このような良
好な形状の半田部４ａに対して、上方から照射された光
は、すべて側方に反射されるため（矢印参照）、反射光
は殆ど上方のカメラ５に入射せず、（ｉｉｉ ）の輝度
の分布状態図に示すように、半田部４ａ全体は影線で示
すように暗く観察される。またリード３は、光沢のある
平坦な金属面であるので、上方から照射された光は上方
へ垂直に反射され、反射光はカメラ５に十分に入射する
ので、その全体は明るく観察される。図中、Ａはチエツ
クエリアである。
は半円形であり、その全面は球面である。このような良
好な形状の半田部４ａに対して、上方から照射された光
は、すべて側方に反射されるため（矢印参照）、反射光
は殆ど上方のカメラ５に入射せず、（ｉｉｉ ）の輝度
の分布状態図に示すように、半田部４ａ全体は影線で示
すように暗く観察される。またリード３は、光沢のある
平坦な金属面であるので、上方から照射された光は上方
へ垂直に反射され、反射光はカメラ５に十分に入射する
ので、その全体は明るく観察される。図中、Ａはチエツ
クエリアである。
また同図（ｂ）に示す半田部４ｂは、２段丘形であり、
平坦な中段面ａに入射した光は、上方へ垂直に反射され
るので、（ｉｉｉ ）の輝度の分布状態図に示すように
、この中段面ａは明るい三ケ月状に観察されるが、この
中段面ａ以外は全て傾斜面であるので、光は側方へ反射
され、暗く観察される。
平坦な中段面ａに入射した光は、上方へ垂直に反射され
るので、（ｉｉｉ ）の輝度の分布状態図に示すように
、この中段面ａは明るい三ケ月状に観察されるが、この
中段面ａ以外は全て傾斜面であるので、光は側方へ反射
され、暗く観察される。
また同図（Ｃ）に示す半田部４ｃは略鞍形であり、（ｉ
ｉｉ）の輝度の分布状態図に示すように、平坦な上面中
央部すのみが明るく観察される。
ｉｉ）の輝度の分布状態図に示すように、平坦な上面中
央部すのみが明るく観察される。
また同図（ｄ）の半田部４ｄの形状は山形であって、平
坦な頂上部Ｃのみが明るく観察される。
坦な頂上部Ｃのみが明るく観察される。
またリード３の先端面に対するヌレ性は不良であり、谷
部にフラフクス４１ｄが溜っている。
部にフラフクス４１ｄが溜っている。
（ｉｉｉ ）の輝度の分布状態図に示すように、このフ
ラフクス４１ｄは、中間輝度の灰色に観察される。
ラフクス４１ｄは、中間輝度の灰色に観察される。
また同図（ｅ）、 （ｆ）は共に未着であって、一方
の半田部４ｅは、その平坦な中央部のみが細長状に明る
く観察され、また他方の半田部４ｆは、その上面全面が
平坦なことから、全面が明るく観察される。
の半田部４ｅは、その平坦な中央部のみが細長状に明る
く観察され、また他方の半田部４ｆは、その上面全面が
平坦なことから、全面が明るく観察される。
第２図に示す半田部４ａ〜４ｆは、実際に形成されやす
い典型的な形状を有する半田部を例示したものであって
、これらの半田部４ａ〜４ｆは、平坦面と傾斜面から成
る各々個有の形状を有しており、したがってこれらの半
田部４３〜４ｆに、上方から光を照射し、その反射光を
上方のカメラ５により観察すると、（ｉｉｉ ）に図示
するような各々の半田部４ａ〜４ｆに特有の輝度の分布
状態が得られる。
い典型的な形状を有する半田部を例示したものであって
、これらの半田部４ａ〜４ｆは、平坦面と傾斜面から成
る各々個有の形状を有しており、したがってこれらの半
田部４３〜４ｆに、上方から光を照射し、その反射光を
上方のカメラ５により観察すると、（ｉｉｉ ）に図示
するような各々の半田部４ａ〜４ｆに特有の輝度の分布
状態が得られる。
したがって第２図に示されるような典型的な形状を有す
る半田部４ａ〜４ｆの輝度の分布状態を予めコンピュー
タに登録しておき、上記と同一条件の光源６とカメラ５
により観察された半田部４の輝度の分布状態と、予め登
録された輝度の分布状態とを照合して、最もマツチング
するものを抽出することにより、その半田部４がどのよ
うな形状の半田部かを推定することができる。
る半田部４ａ〜４ｆの輝度の分布状態を予めコンピュー
タに登録しておき、上記と同一条件の光源６とカメラ５
により観察された半田部４の輝度の分布状態と、予め登
録された輝度の分布状態とを照合して、最もマツチング
するものを抽出することにより、その半田部４がどのよ
うな形状の半田部かを推定することができる。
すなわち例えば、観察された半田部４の輝度の分布状態
が、第２図（ｉｉｉ ）のａｏの分布状態とマツチング
することが検出されたならば、その半田部４は、第２図
の（ｉ）、 （ｉｉ）に示すような側断面形状や正面
形状を有する半田部４ａに形状が近似する半田部である
ことが推定できる。また同様にして、観察された半田部
４の輝度の分布状態が、それぞれｂｏ 〜ｆ′の分布状
態とマツチングすることが検出されたならば、これらは
それぞれ半田部４ｂ〜４ｆに近似する形状を有する半田
部であることが推定できる。
が、第２図（ｉｉｉ ）のａｏの分布状態とマツチング
することが検出されたならば、その半田部４は、第２図
の（ｉ）、 （ｉｉ）に示すような側断面形状や正面
形状を有する半田部４ａに形状が近似する半田部である
ことが推定できる。また同様にして、観察された半田部
４の輝度の分布状態が、それぞれｂｏ 〜ｆ′の分布状
態とマツチングすることが検出されたならば、これらは
それぞれ半田部４ｂ〜４ｆに近似する形状を有する半田
部であることが推定できる。
第２図は、典型的な６種類の半田部４ａ〜４ｆと、それ
ぞれの輝度の分布状態を示しているが、どのような形状
の半田部の輝度の分布状態を何種類コンピュータに予め
登録してお（かは、要求される精度や検査時間等に応じ
て自由に決定できる。
ぞれの輝度の分布状態を示しているが、どのような形状
の半田部の輝度の分布状態を何種類コンピュータに予め
登録してお（かは、要求される精度や検査時間等に応じ
て自由に決定できる。
半田部の形状の良否判断の方法は種々考えられるのであ
って、例えば上記ａ’ 、 ｂ’ の分布状態とマツ
チングすることが検出されたならば良と判断し、それ以
外のものは否と判断してもよいが、次にこれ以外の良否
判断方法を説明する。
って、例えば上記ａ’ 、 ｂ’ の分布状態とマツ
チングすることが検出されたならば良と判断し、それ以
外のものは否と判断してもよいが、次にこれ以外の良否
判断方法を説明する。
第３図は、基準パターンの輝度の分布状態図であって、
チエツクエリアＡ内の各々の画素Ｇ１〜Ｇｎの２値化値
若しくは多値化値と、上記ａ′ 〜ｆ° のように観察
された半田部４ａ〜４ｆのチエツクエリアＡ内の各々の
画素のそれとを逐一照合し、例えば８５％以上のマツチ
ング率の場合は、良と判断する。この場合、第２図にお
いてｅ′ に示すものも良と判断されてしまう震れがあ
るので、中央部に明を有するものは、マツチング率を満
足しても、否と判断するように予め登録しておく。
チエツクエリアＡ内の各々の画素Ｇ１〜Ｇｎの２値化値
若しくは多値化値と、上記ａ′ 〜ｆ° のように観察
された半田部４ａ〜４ｆのチエツクエリアＡ内の各々の
画素のそれとを逐一照合し、例えば８５％以上のマツチ
ング率の場合は、良と判断する。この場合、第２図にお
いてｅ′ に示すものも良と判断されてしまう震れがあ
るので、中央部に明を有するものは、マツチング率を満
足しても、否と判断するように予め登録しておく。
また第２図（ｉｉｉ ）に示すように、リード部分３′
の先端面に沿って細長いチエツクエリアＢを設定し、こ
のチエツクエリアＢ内の画素の全部、若しくは例えば９
５％以上が暗と検出されたならば、良と判断し、それ以
外は不良と判断する。あるいは又、時間を要することが
許容されるならば、上記した複数の良否判断方法を組み
合わせて、精密に判断を行うようにしてもよい。なお上
記実施例は、電極部としてリード３を例にとって説明し
たが、本発明は、コンデンサチップや抵抗チップのよう
なリードレスの電子部品の電極部を基板に接着する半田
部の外観検査にも適用できるものである。
の先端面に沿って細長いチエツクエリアＢを設定し、こ
のチエツクエリアＢ内の画素の全部、若しくは例えば９
５％以上が暗と検出されたならば、良と判断し、それ以
外は不良と判断する。あるいは又、時間を要することが
許容されるならば、上記した複数の良否判断方法を組み
合わせて、精密に判断を行うようにしてもよい。なお上
記実施例は、電極部としてリード３を例にとって説明し
たが、本発明は、コンデンサチップや抵抗チップのよう
なリードレスの電子部品の電極部を基板に接着する半田
部の外観検査にも適用できるものである。
（発明の効果）
以上説明したように本発明は、半田部に向って、特定の
方向から照明光を照射し、且つその反射光を特定の方向
に設けられたカメラにより観察した場合の様々の半田部
の輝度の分布状態を予めコンピュータに登録しておき、 上記と同一条件の照明光とカメラにより観察された半田
部の輝度の分布状態を、上記予め登録された輝度の分布
状態と照合することにより、この半田部の形状を推定す
るようにしているので、半田部の形状を簡単に推定でき
、またその結果にしたがって、半田部の形状の良否の判
断を迅速正確に行うことができる。
方向から照明光を照射し、且つその反射光を特定の方向
に設けられたカメラにより観察した場合の様々の半田部
の輝度の分布状態を予めコンピュータに登録しておき、 上記と同一条件の照明光とカメラにより観察された半田
部の輝度の分布状態を、上記予め登録された輝度の分布
状態と照合することにより、この半田部の形状を推定す
るようにしているので、半田部の形状を簡単に推定でき
、またその結果にしたがって、半田部の形状の良否の判
断を迅速正確に行うことができる。
図は本発明の実施例を示すものであって、第図は観察装
置の側面図、第２図は観察図、第図は基準パターンの輝
度の分布状態図である。 ・・・基板 ・・・電子部品 ・・・電極部 ・・・半田部 ・・・カメラ 光源
置の側面図、第２図は観察図、第図は基準パターンの輝
度の分布状態図である。 ・・・基板 ・・・電子部品 ・・・電極部 ・・・半田部 ・・・カメラ 光源
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 電子部品の電極部を基板に接着する半田部の外観検査
方法であって、 半田部に向って、特定の方向から照明光を照射し、且つ
その反射光を特定の方向に設けられたカメラにより観察
した場合の様々の半田部の輝度の分布状態を予めコンピ
ュータに登録しておき、 上記と同一条件の照明光とカメラにより観察された半田
部の輝度の分布状態を、上記予め登録された輝度の分布
状態と照合することにより、この半田部の形状を推定す
るようにしたことを特徴とする半田部の外観検査方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2101979A JP2563640B2 (ja) | 1990-04-18 | 1990-04-18 | 半田部の外観検査方法 |
| US08/200,960 US5495424A (en) | 1990-04-18 | 1994-02-24 | Method and apparatus for inspecting solder portions |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2101979A JP2563640B2 (ja) | 1990-04-18 | 1990-04-18 | 半田部の外観検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH041512A true JPH041512A (ja) | 1992-01-07 |
| JP2563640B2 JP2563640B2 (ja) | 1996-12-11 |
Family
ID=14314978
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2101979A Expired - Fee Related JP2563640B2 (ja) | 1990-04-18 | 1990-04-18 | 半田部の外観検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2563640B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06194133A (ja) * | 1992-12-25 | 1994-07-15 | Iwaki Electron Corp Ltd | 半田付外観検査方法 |
| JP2006177723A (ja) * | 2004-12-21 | 2006-07-06 | Daihatsu Motor Co Ltd | 半田付け検査方法及び半田付け検査装置 |
| JP2012108012A (ja) * | 2010-11-18 | 2012-06-07 | Panasonic Corp | 半田付け検査方法及び半田付け検査装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6141906A (ja) * | 1984-08-03 | 1986-02-28 | Hitachi Denshi Ltd | はんだ面の状態認識方法 |
-
1990
- 1990-04-18 JP JP2101979A patent/JP2563640B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6141906A (ja) * | 1984-08-03 | 1986-02-28 | Hitachi Denshi Ltd | はんだ面の状態認識方法 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06194133A (ja) * | 1992-12-25 | 1994-07-15 | Iwaki Electron Corp Ltd | 半田付外観検査方法 |
| JP2006177723A (ja) * | 2004-12-21 | 2006-07-06 | Daihatsu Motor Co Ltd | 半田付け検査方法及び半田付け検査装置 |
| JP2012108012A (ja) * | 2010-11-18 | 2012-06-07 | Panasonic Corp | 半田付け検査方法及び半田付け検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2563640B2 (ja) | 1996-12-11 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |