JPH06194133A - 半田付外観検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、半田付けの外観を検査する半田付
外観検査方法に関し、リングライトによる半田フィレッ
ト部からのパターンの特徴抽出線上の値について、標準
パターンの予め求めたＭＦ関数とのパターンマッチング
を行い、簡単な処理、迅速かつ正確に半田付けフィレッ
ト部の良否の判定を行うことを目的とする。 【構成】 リングライト２で照明した半田フィレット部
からの光沢パターンを撮影するカメラ１と、このカメラ
１によって撮影した光沢パターンについて、予め定めた
特徴抽出線７上からＭＦ関数の透過型メンバーシップ関
数の領域内の値および禁止型メンバーシップ関数の領域
内の値をもとに、マッチングするパターン照合処理６と
を備え、このパターン照合処理６がマッチングすると決
定したＭＦ関数の半田付け状態を、撮影した光沢パター
ンの状態と判定するように構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、半田付けの外観を検査
する半田付外観検査方法に関するものである。

【０００２】最近、プリント基板上に実装した電子部品
の半田付け部を、自動半田付外観検査装置で検査する方
法が多く発表され、製品化されている。なかでも保守
性、安定性、およびスピードなどの視点から光学式の装
置が多く発表されている。

【０００３】この際、光学式の半田付外観検査におい
て、簡単な構成で高精度かつ迅速に半田付け部の良否判
定などの検査を行うことが望まれている。

【０００４】

【従来の技術】従来、光学式の検査装置は、下記のよう
なものがある。 （１） 照明ライトを半田フィレット部に当て、その反
射面積で合否を判断する。

【０００５】（２） 数段のリングライトを半田フィレ
ット部に順次当て、反射される光沢の位置の変化で判断
する疑似３次元方式がある。 （３） 疑似３次元方式で使用する数段のリングライト
を図７に示すように１段のみとし、１段のリングライト
２２による照明によりできる部品２３のピンの半田フィ
レット上のパターン形状をカメラ２１で撮影し、この撮
影した画像をニューラルネットワークで判断する。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の（１）
の方法によれば、半田フィレット部からの反射した面積
で合否を判断するため、半田付けの合否の判断が正確で
ないという問題がある。

【０００７】上述した従来の（２）の方法によれば、ラ
イトを切り換えて反射される光沢の位置の変化で判断す
る必要があったり、ＲＧＢの高解像度のカラーカメラが
必要になったりし、半田付けの合否の判定に時間がかか
ってしまう共に高解像度のカラーカメラが必要となって
高価であるという問題があった。

【０００８】上述した従来の（３）の方法によれば、図
７に示すようにリングライト２２による半田フィレット
部のパターンの認識が大変であると共に高速に処理が難
しいという問題があった。

【０００９】本発明は、これらの問題を解決するため、
リングライトによる半田フィレット部からのパターンの
特徴抽出線上の値について、標準パターンの予め求めた
ＭＦ関数とのパターンマッチングを行い、簡単な処理、
迅速かつ正確に半田付けフィレット部の良否の判定を行
うことを目的としている。

【００１０】

【課題を解決するための手段】図１を参照して課題を解
決するための手段を説明する。図１において、カメラ１
は、リングライト２で照明した半田フィレット部からの
光沢パターンを撮影するものである。

【００１１】パターン照合処理６は、カメラ１によって
撮影した光沢パターンについて、予め定めた特徴抽出線
７上からＭＦ関数の透過型メンバーシップ関数の領域内
の値および禁止型メンバーシップ関数の領域内の値をも
とに、マッチングするＭＦ関数を決定するものである。

【００１２】

【作用】本発明は、図１に示すように、カメラ１によっ
てリングライト２で照明した半田フィレット部からの光
沢パターンを撮影し、パターン照合処理７がカメラ１に
よって撮影した光沢パターンについて、予め定めた特徴
抽出線７上からＭＦ関数の透過型メンバーシップ関数の
領域内の値および禁止型メンバーシップ関数の領域内の
値をもとに、マッチングするＭＦ関数を決定し、この決
定したＭＦ関数の半田付け状態を、撮影した光沢パター
ンの状態と判定するようにしている。

【００１３】また、カメラ１によってリングライト２で
照明した半田フィレット部からの光沢パターンを撮影
し、パターン照合処理６がカメラ１によって撮影した光
沢パターンについて、予め定めた特徴抽出線７上からＭ
Ｆ関数が１峰性透過型メンバーシップ関数のときに透過
型メンバーシップ関数の領域内の最大値および禁止型メ
ンバーシップ関数の領域内の最大値の反転を求め、一
方、１峰性透過型メンバーシップ関数でないときに透過
型メンバーシップ関数の領域内の最大値をそれぞれ求
め、これら求めた最大値のうちの最小値を算出すること
を全てのＭＦ関数について繰り返し、これら算出した値
のうちの最大値のＭＦ関数の半田付け状態を当該光沢パ
ターンの状態と決定するようにしている。

【００１４】従って、リングライト２による半田フィレ
ット部からの光沢パターンの特徴抽出線７上の値につい
て、予め求めた標準パターンのＭＦ関数とのパターンマ
ッチングを行って半田付け状態を決定することにより、
少ないデータ量のマッチングによって迅速かつ正確に半
田付けフィレット部の良否を判定することが可能とな
る。

【００１５】

【実施例】次に、図１から図６を用いて本発明の実施例
の構成および動作を順次詳細に説明する。

【００１６】図１は、本発明の１実施例構成図を示す。
図１において、カメラ１は、リングライト２で照明した
部品３の半田付フィレット部からの光沢パターンを撮影
するものである。この撮影して得た光沢パターンを画像
メモリ４に格納する。

【００１７】リングライト２は、被検査基板３１上に配
置して半田付けした部品３、例えばＬＳＩのピンの半田
付フィレット部で反射させた光沢パターンを生成するも
のである。このリングライト２を用いて照明することに
より、半田フィレット部の状態（正常、半田未着、不濡
れなど）に対応して光沢パターンが後述する図２および
図３に示すように変化する。従って、本発明は、この半
田フィレット部からの光沢パターンの形状を超高速に判
定するものである（図６参照）。

【００１８】部品３は、被検査基板３１上に配置して半
田付けを行う対象の部品であって、ピンを持つＬＳＩ、
ＩＣなどの部品である。画像メモリ４は、カメラ１によ
って撮影した部品３の半田フィレット部からの光沢パタ
ーンを一時的に格納するものである。

【００１９】ファジィニューロンＬＳＩチップ５は、画
像メモリ４から光沢パターンを入力および予め求めたＭ
Ｆ関数の書込みを行い、光沢パターンとＭＦ関数とのマ
ッチング度合いを値として出力するものである。ここで
は、各ＭＦ関数毎にファジィニューロンＬＳＩチップ５
を設け、同一の光沢パターンをそれぞれ入力して並列に
ＭＦ関数とのマッチングの度合いを値として出力し、最
もマッチングするＭＦ関数の半田付け状態を当該光沢パ
ターンの半田付け状態と決定することにより、並列に超
高速に部品３のピンの半田付け状態を判定することが可
能となる。尚、ここでは、ＭＦ関数毎にファジィニュー
ロンＬＳＩチップ５を設けてその値をホストへ出力し、
当該ホストでその値をもとに部品３のピンの半田付け状
態を決定しているが、１つのファジィニューロンＬＳＩ
チップ５で順次その値を求め、これらの値から部品３の
ピンの半田付け状態を決定するようにしてもよい。

【００２０】パターン照合処理６は、ファジィニューロ
ンＬＳＩチップ５内で行う処理であって、部品３のピン
の光沢パターンと、ＭＦ関数とのマッチング度合いを表
す数値を求めるＬＳＩチップである（図６参照）。

【００２１】次に、図２を用いて半田付状態と光沢パタ
ーン例を説明する。ここで、図中の（ａ）から（ｆ）の
上段は側面図を示し、下段は平面図を示す。図２の
（ａ）は、正常状態を示す。上段の側面図の（イ）の黒
い部分が半田付けした部分を示す。下段の平面図の
（ロ）の半分のリングがリングライト２で部品３のピン
の半田付け部分を照射してカメラ１で撮影した光沢パタ
ーンを示す。この半分のリングの光沢パターンが得られ
たときは、部品３のピンの半田付け状態が正常（良品）
である。

【００２２】図２の（ｂ）は、半田なし状態を示す。上
段の側面図の（イ）で半田なしのため、半田付けした部
分がない。下段の平面図の（ロ）で半田なしのため、光
沢パターンがなく、部品３のピンの半田付け状態が半田
なしである。

【００２３】図２の（ｃ）は、半田未着状態を示す。上
段の側面図の（イ）の黒い部分が半田の部分を示す。下
段の平面図の（ロ）の半分のリングがリングライト２で
部品３のピンの半田付け部分を照射してカメラ１で撮影
した光沢パターンを示す。この半分のリングの光沢パタ
ーンが得られたときは、部品３のピンの半田付け状態が
半田未着である。

【００２４】図２の（ｄ）は、不濡れ状態を示す。上段
の側面図の（イ）の黒い部分が半田の部分を示す。下段
の平面図の（ロ）のリングがリングライト２で部品３の
ピンの半田付け部分を照射してカメラ１で撮影した光沢
パターンを示す。これらのリングの光沢パターンが得ら
れたときは、部品３のピンの半田付け状態が不濡れであ
る。

【００２５】図２の（ｅ）は、半田過多状態を示す。上
段の側面図の（イ）の黒い部分が半田付けした部分を示
す。下段の平面図の（ロ）のリングがリングライト２で
部品３のピンの半田付け部分を照射してカメラ１で撮影
した光沢パターンを示す。このリングの光沢パターンが
得られたときは、部品３のピンの半田付け状態が半田過
多である。

【００２６】図２の（ｆ）は、半田過少状態を示す。上
段の側面図の（イ）の黒い部分が半田付けした部分を示
す。下段の平面図の（ロ）のリングの１部がリングライ
ト２で部品３のピンの半田付け部分を照射してカメラ１
で撮影した光沢パターンを示す。このリングの１部の光
沢パターンが得られたときは、部品３のピンの半田付け
状態が半田過少である。

【００２７】次に、図３を用いて、特徴線抽出線とＭＦ
関数例について詳細に説明する。図３の（ａ）は、半田
付正常例を示す。図３の（ａ−１）は、カメラ１によっ
て撮影した半田フィレット部の画像を示す。

【００２８】図３の（ａ−２）は、（ａ−１）の半田フ
ィレット部の光沢パターンの部分拡大を示す。ここで、
太線が光沢パターンである。この光沢パターンは、半田
フィレット部の半田付け状態によって特徴をもつため、
全面のパターンマッチングを行うことなく、本発明で
は、光沢パターン上に特徴抽出線、、を設定し、
この特徴抽出線、、についてのみメンバーシップ
関数とマッチングを行うために、右側に示すメンバーシ
ップ関数を予め求め、当該半田付正常時の標準パターン
のメンバーシップ関数として登録しておく。

【００２９】図３の（ａ−３）は、図３の（ａ）の半田
付正常時の標準パターンのメンバーシップ関数を示す。
これは、後述する図５に示すように、半田付正常時の光
沢パターンを複数収集し、図３の（ａ−２）で設定した
特徴抽出線、、についてそれぞれ求めたメンバー
シップ関数である（図５の説明参照）。ここで、透過は
透過型メンバーシップ関数を表し、禁止は禁止型メンバ
ーシップ関数を表す。透過型メンバーシップ関数は、こ
の領域内に光沢パターンが透過すべき範囲を示す。禁止
型メンバーシップ関数は、この領域内に光沢パターンが
透過してはいけない範囲を示す。半田付正常の場合に
は、特徴抽出線は透過および禁止からなり、１峰性透
過型メンバーシップ関数となる。特徴抽出線、は透
過−１と透過−２の２つがあり、２峰性透過型メンバー
シップ関数となる。

【００３０】以上のように、半田付正常時の半田フィレ
ット部からの光沢パターンについて、特徴抽出線、
、について図示のようにそれぞれメンバーシップ関
数を求め、登録する。

【００３１】図３の（ｂ）は、半田未着例を示す。図３
の（ｂ−１）は、カメラ１によって撮影した半田フィレ
ット部の画像を示す。

【００３２】図３の（ｂ−２）は、（ｂ−１）の半田フ
ィレット部の光沢パターンの部分拡大を示す。ここで、
太線が光沢パターンである。この光沢パターンは、半田
フィレット部の半田付け状態によって特徴をもつため、
全面のパターンマッチングを行うことなく、本発明で
は、光沢パターン上に特徴抽出線、、を設定し、
この特徴抽出線、、についてのみメンバーシップ
関数とマッチングを行うために、右側に示すメンバーシ
ップ関数を予め求め、当該半田付未着時の標準パターン
のメンバーシップ関数として登録しておく。

【００３３】図３の（ｂ−３）は、図３の（ｂ）の半田
付未着時の標準パターンのメンバーシップ関数を示す。
これは、後述する図５に示すようにして、半田付未着時
の光沢パターンを複数収集し、図３の（ｂ−２）で設定
した特徴抽出線、、についてそれぞれ求めたメン
バーシップ関数である。半田付未着の場合には、特徴抽
出線は禁止および透過からなり、１峰性透過型メンバ
ーシップ関数となる。特徴抽出線、は透過−１と透
過−２の２つがあり、２峰性透過型メンバーシップ関数
となる。

【００３４】以上のように、半田付未着時の半田フィレ
ット部からの光沢パターンについて、特徴抽出線、
、について図示のようにそれぞれメンバーシップ関
数を求め、登録する。

【００３５】図３の（ｃ）は、半田不濡れ例を示す。図
３の（ｃ−１）は、カメラ１によって撮影した半田フィ
レット部の画像を示す。

【００３６】図３の（ｃ−２）は、（ｃ−１）の半田フ
ィレット部の光沢パターンの部分拡大を示す。ここで、
太線が光沢パターンである。この光沢パターンは、半田
フィレット部の半田付け状態によって特徴をもつため、
全面のパターンマッチングを行うことなく、本発明で
は、光沢パターン上に特徴抽出線、、を設定し、
この特徴抽出線、、についてメンバーシップ関数
とマッチングを行うために、右側に示すメンバーシップ
関数を予め求め、当該半田付不濡れ時の標準パターンの
メンバーシップ関数として登録しておく。

【００３７】図３の（ｃ−３）は、図３の（ｃ）の半田
付不濡れ時の光沢パターンのメンバーシップ関数を示
す。これは、後述する図５に示すようにして、半田付不
濡れ時の光沢パターンを複数収集し、図３の（ｃ−２）
で設定した特徴抽出線、についてそれぞれ求めたメ
ンバーシップ関数である。半田付不濡れの場合には、特
徴抽出線は透過−１、透過−２および禁止からなり、
２峰性透過型メンバーシップ関数となる。特徴抽出線
は透過−１と透過−２の２つがあり、２峰性透過型メン
バーシップ関数となる。特徴抽出線はここではマッチ
ングの対象としないＤｏｎｔ’ ｃａｒｅ）。

【００３８】以上のように、半田付不濡れ時の半田フィ
レット部からの光沢パターンについて、特徴抽出線、
について図示のようにそれぞれメンバーシップ関数を
求め、登録する。

【００３９】図４は、本発明の正常時の光沢パターン例
を示す。これは、既述した図３の（ａ）の半田付正常時
の光沢パターン例を示す。（ａ）は、リード部の全体が
均一に半田付けが十分なされているときの光沢パターン
を示す。（ｂ）は、（ａ）よりも少し半田量が少ないと
きの光沢パターンを示す。（ｃ）は、（ｂ）よりも更に
半田量が少なく若干半田量が左右対象でないときの光沢
パターンを示す。これらいずれの光沢パターンも正常時
の光沢パターンであり、これらの正常時の光沢パターン
を後述する図６のフローチャートに従い、判定する。

【００４０】次に、図５を用いて、図４の（ａ−３）、
（ｂ−３）、（ｃ−３）のメンバーシップ関数（ＭＦ関
数）を算出して登録するときの手順を詳細に説明する。
図５において、Ｓ１は、同じカテゴリーの複数パターン
を収集する。これは、半田フィレット部の同じカテゴリ
ーの複数パターン、例えば既述した図４の正常時の複数
の光沢パターンを収集する。

【００４１】Ｓ２は、特徴抽出線を設定する。これは、
既述した図３の（ａ）に示すように、光沢パターンのマ
ッチングを行うための特徴抽出線、ここでは、特徴抽出
線、、をそれぞれ、Ｓ１で収集した複数の光沢パ
ターンに設定する。

【００４２】Ｓ３は、光沢パターンの頻度を算出する。
これは、Ｓ２で設定した光沢パターンの特徴抽出線、
、、例えば右側の（イ）の特徴抽出線上の頻度を
右側の（ロ）に示すように求める。

【００４３】Ｓ４は、各特徴線、、のメンバーシ
ップ関数（ＭＦ関数）を作成して保存する。これは、Ｓ
３で算出した特徴抽出線、、上の複数の光沢パタ
ーンである、右側の（ロ）の頻度について、ある上辺閾
値よりも大の部分を上辺、この上辺の肩から頻度の零の
部分を結んで斜辺幅とした形状を作成し、これをメンバ
ーシップ関数（ＭＦ関数）として作成し、保存する。

【００４４】以上によって、同じカテゴリー（例えば正
常、半田なし、半田未着、不濡れ、半田過多、半田過少
など）の複数の光沢パターンを収集し、これら複数の光
沢パターンの特徴抽出線、、上の頻度を求め、こ
の頻度からメンバーシップ関数を求める。そして、カテ
ゴリーに対応づけてメンバーシップ関数（ＭＦ関数）を
登録する。

【００４５】次に、図６のフローチャートに示す順序に
従い、半田フィレット部の光沢パターンとマッチングす
るメンバーシップ関数を見つけて半田付け状態を自動判
定する手順を詳細に説明する。

【００４６】図６において、Ｓ１１は、半田フィレット
部の光沢パターンの取り込みを行う。これは、図１の被
検査基板３１上の部品３のピンの半田付け状態をカメラ
１で撮影した光沢パターンを取り込む。

【００４７】Ｓ１２は、１峰性か判別する。これは、図
５で保存した先頭の標準パターンのメンバーシップ関数
が１峰性か判別する。ＹＥＳの場合（１峰性の場合）に
は、Ｓ１３に進む。一方、ＮＯの場合（１峰性でない場
合）には、Ｓ１４に進む。

【００４８】Ｓ１３は、Ｓ１２のＹＥＳで１峰性と判明
したので、 ・１峰性透過型メンバーシップ関数の最大値を算出 ・禁止型メンバーシップ関数の最大値の反転を算出 する。これは、例えば図３の正常時の（ａ−３）の特徴
抽出線のメンバーシップ関数のうちの１峰性透過型メ
ンバーシップ関数の領域内（＝透過と記載した領域内）
に対応する光沢パターンの最大値を算出、および禁止型
メンバーシップ関数の領域内（＝禁止と記載した領域
内）に対応する光沢パターンの最大値の反転した値を算
出する。

【００４９】Ｓ１４は、Ｓ１２のＮＯで１峰性でないと
判明したので、 ・メンバーシップ関数の最大値をそれぞれ算出 する。これは、例えば図３の正常時の（ａ−３）の特徴
抽出線のメンバーシップ関数のうちの透過型メンバー
シップ関数の領域内（＝透過−１と記載した領域内）に
対応する光沢パターンの最大値を算出、および透過型メ
ンバーシップ関数の領域内（＝透過−２と記載した領域
内）に対応する光沢パターンの最大値を算出する。

【００５０】Ｓ１５は、１パターン内出力値の最小値を
出力する。これは、Ｓ１３あるいはＳ１４で算出した値
のうちの最小値を、当該１パターンを代表する最小値と
して出力する。

【００５１】Ｓ１６は、全ての標準パターン（図５で保
存した正常、半田なし、半田着、不濡れ、半田過多、半
田過少などの標準のメンバーシップ関数）についてマッ
チング処理（Ｓ１２からＳ１５のマッチング処理）を終
わりか判別する。ＹＥＳの場合には、Ｓ１７に進む。Ｎ
Ｏの場合には、次の標準パターン（次の標準のメンバー
シップ関数）について、Ｓ１２からＳ１５のマッチング
処理を繰り返す。

【００５２】Ｓ１７は、全パターン出力のうち、最大値
のパターンをマッチングと決定する。これは、Ｓ１５で
出力した各標準パターン（標準のメンバーシップ関数）
とのマッチング処理した後の最小値のうちの、最大値の
標準パターン（標準となるメンバーシップ関数）の半田
付状態（正常、半田なし、半田着、不濡れ、半田過多、
半田過少など）をＳ１１で取り込んだ光沢パターンの半
田付け状態と決定する。

【００５３】以上によって、図１のリングライト２で部
品３のピンの半田フィレット部を照明してそのときにカ
メラ１で撮影した光沢パターンについて、図５で予め保
存した全ての半田付け状態のメンバーシップ関数とマッ
チング処理（Ｓ１２からＳ１５）を行い、各標準パター
ン（標準のメンバーシップ関数）の最小値のうちの最大
値のものの半田付け状態と検出する。これにより、光沢
パターンの特徴抽出線、、上の各透過型メンバー
シップ関数の領域内の最大値および禁止型メンバーシッ
プ関数の領域内の最大値の反転した値を算出してパター
ン内の最小値を求めた後、全パターンのうちの最大値の
ものの半田付け状態と決定する。この際、マッチング処
理は、既述した図１に示すように複数のファジィニュー
ロンＬＳＩチップ５を用いて標準パターン（標準のメン
バーシップ関数）毎に並列に実行して各標準パターンの
最小値を求め、このうちから最大値をものの半田付け状
態と検出しているため、極めて高速かつ精度高く半田フ
ィレット部の半田付け状態を検出することが可能とな
る。

【００５４】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
リングライト２による半田フィレット部からのパターン
の特徴抽出線７上の値について予め求めたパターンのＭ
Ｆ関数とのパターンマッチングを行って半田付け状態を
決定する構成を採用しているため、少ないデータ量のマ
ッチングによって迅速かつ正確に半田フィレット部の合
否を判定することができる。この際、半田フィレット部
の標準（正常、半田なし、半田未着、不濡れ、半田過
多、半田過少など）の光沢パターンについて、特徴抽出
線、、上のメンバーシップ関数（ＭＦ関数）を予
め求めて登録しておき、検査しようとする部品３のピン
などの半田フィレット部のカメラ１で撮影した光沢パタ
ーンについて、登録したメンバーシップ関数とマッチン
グ処理（図６のＳ１２からＳ１５）によって標準の各パ
ターンの値を並列に求めた後、そのうちの最大値のもの
の半田付状態と検出することにより、簡単なマッチング
処理、極めて高速、並列、かつ精度高く半田フィレット
部の半田付け状態を自動検出して検査することが可能と
なる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の１実施例構成図である。

【図２】本発明の半田付状態と光沢パターン例である。

【図３】本発明の特徴抽出線とＭＦ関数例である。

【図４】本発明の正常時の光沢パターン例である。

【図５】本発明のメンバーシップ関数の保存フローチャ
ートである。

【図６】本発明のパターン照合処理フローチャートであ
る。

【図７】リングライトによる検査説明図である。

【符号の説明】

１：カメラ ２：リングライト ３：部品 ３１：被検査基板 ４：画像メモリ ５：ファジィニューロンＬＳＩチップ ６：パターン照合処理 ７：特徴抽出線 、、：特徴抽出線の例

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】半田付けの外観を検査する半田付外観検査
   方法において、 リングライト（２）で照明した半田フィレット部からの
   光沢パターンを撮影するカメラ（１）と、 このカメラ（１）によって撮影した光沢パターンについ
   て、予め定めた特徴抽出線（７）上からＭＦ関数の透過
   型メンバーシップ関数の領域内の値および禁止型メンバ
   ーシップ関数の領域内の値をもとに、マッチングするパ
   ターン照合処理（６）とを備え、 このパターン照合処理（６）がマッチングすると決定し
   たＭＦ関数の半田付け状態を、上記撮影した光沢パター
   ンの状態と判定するように構成したことを特徴とする半
   田付外観検査方法。
2. 【請求項２】半田付けの外観を検査する半田付外観検査
   方法において、 リングライト（２）で照明した半田フィレット部からの
   光沢パターンを撮影するカメラ（１）と、 このカメラ（１）によって撮影した光沢パターンについ
   て、予め定めた特徴抽出線（７）上から、ＭＦ関数が１
   峰性透過型メンバーシップ関数のときに透過型メンバー
   シップ関数の領域内の最大値、および禁止型メンバーシ
   ップ関数の領域内の最大値の反転した値を求め、一方、
   １峰性透過型メンバーシップ関数でないときに透過型メ
   ンバーシップ関数の領域内の最大値を求めるパターン照
   合処理（６）とを備え、 これら求めた値のうちの最小値のＭＦ関数の半田付け状
   態を当該光沢パターンの状態と判定するように構成した
   ことを特徴とする半田付外観検査方法。