JPH04154017A - 銅―クロム電極材料の製造方法 - Google Patents
銅―クロム電極材料の製造方法Info
- Publication number
- JPH04154017A JPH04154017A JP27539590A JP27539590A JPH04154017A JP H04154017 A JPH04154017 A JP H04154017A JP 27539590 A JP27539590 A JP 27539590A JP 27539590 A JP27539590 A JP 27539590A JP H04154017 A JPH04154017 A JP H04154017A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- powder
- copper
- infiltration
- electrode material
- skeleton
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000010949 copper Substances 0.000 title claims abstract description 91
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 title claims abstract description 29
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 24
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 22
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 18
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims description 4
- 230000008595 infiltration Effects 0.000 claims abstract description 33
- 238000001764 infiltration Methods 0.000 claims abstract description 32
- 239000011812 mixed powder Substances 0.000 claims abstract description 19
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims abstract description 12
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims abstract description 12
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims abstract description 4
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 28
- GXDVEXJTVGRLNW-UHFFFAOYSA-N [Cr].[Cu] Chemical compound [Cr].[Cu] GXDVEXJTVGRLNW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 4
- 239000000843 powder Substances 0.000 abstract description 46
- 229910017813 Cu—Cr Inorganic materials 0.000 abstract description 16
- 238000005245 sintering Methods 0.000 abstract description 10
- 238000009826 distribution Methods 0.000 abstract description 7
- 239000011800 void material Substances 0.000 abstract description 3
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 29
- 238000000034 method Methods 0.000 description 21
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 2
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000009770 conventional sintering Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000007872 degassing Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000007943 implant Substances 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Manufacture Of Switches (AREA)
- High-Tension Arc-Extinguishing Switches Without Spraying Means (AREA)
- Powder Metallurgy (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
人 産業上の利用分野
本発明は、銅−クロム電極材料の製造方法に関する。
発明の概要
本発明は、l!(以下、Cuと表す)とクロム(以下、
Crと表す)からなる電極材料を製造するにあたり、先
ず50μmi下の粒径を60%以上持つCu粉末とCr
粉末との混合粉を容器内に自然に充填し、不活性雰囲気
下においてCuの融点以上の温度で加熱して、Cu −
Crインゴットを得た後、Cu −Crインゴットの空
隙にCuを溶浸させるか、混合粉上にCuを置き焼結と
併せてCuの溶浸を行ってCu −Cr電極材料を得る
ものである。
Crと表す)からなる電極材料を製造するにあたり、先
ず50μmi下の粒径を60%以上持つCu粉末とCr
粉末との混合粉を容器内に自然に充填し、不活性雰囲気
下においてCuの融点以上の温度で加熱して、Cu −
Crインゴットを得た後、Cu −Crインゴットの空
隙にCuを溶浸させるか、混合粉上にCuを置き焼結と
併せてCuの溶浸を行ってCu −Cr電極材料を得る
ものである。
従来の技術
真空インタラプタの電極材料として要求される重要な性
能の一つとして、電流遮断性能の高いことがあげられる
。
能の一つとして、電流遮断性能の高いことがあげられる
。
近年、この電流遮断性能が良好な電極材料として、高融
点材としてCr1導電材としてCuを用し)たC u
−Cr電極材料が開発されている。
点材としてCr1導電材としてCuを用し)たC u
−Cr電極材料が開発されている。
従来、このCu −Cr電極@料は、溶浸法あるいば焼
結法によ吻製作されている。
結法によ吻製作されている。
溶浸法は、Cr粉末を真空あるいは水素中等の不活性雰
囲気中で1000℃す上の温度で加熱、脱ガス処理して
Crのスケルトン([[体)を得、このスケルトン上に
Cuを設置し、Cuの融点以上の温度で加熱してCuを
Crスケルトンの空隙に溶かし込んでCu−Crの合金
を得ろ方法である。
囲気中で1000℃す上の温度で加熱、脱ガス処理して
Crのスケルトン([[体)を得、このスケルトン上に
Cuを設置し、Cuの融点以上の温度で加熱してCuを
Crスケルトンの空隙に溶かし込んでCu−Crの合金
を得ろ方法である。
また、焼結法は、Cr粉末とCu粉末を所望の割合で混
合してなる混合粉を981〜6867MPm (100
0〜7000 kgf/ej)の圧力で加圧成形し、そ
の後、真空あるいは水素中等の不活性雰囲気中でCuの
融点す下の温度で加熱して、粉末同士を融着させろこと
によりCu Cr脛合を得ろ方法である、 発明が解決しようとする!!理 しかしながら、上記溶浸法己こ;よ、 ■ Cu粉末の粒径、かさ密度、粉度分布等、Cu粉末
の粉体物性値によりスケルトンの空隙率が決定してしま
うため、任意のCu−Cr比率の電極材料が得に(い、 ■ CrのスケルトンにCrを溶浸する際、Cr表面が
酸化していると、溶浸が不十分になり、電極表面や内部
に巣が発生することがある、 などの問題点がある。
合してなる混合粉を981〜6867MPm (100
0〜7000 kgf/ej)の圧力で加圧成形し、そ
の後、真空あるいは水素中等の不活性雰囲気中でCuの
融点す下の温度で加熱して、粉末同士を融着させろこと
によりCu Cr脛合を得ろ方法である、 発明が解決しようとする!!理 しかしながら、上記溶浸法己こ;よ、 ■ Cu粉末の粒径、かさ密度、粉度分布等、Cu粉末
の粉体物性値によりスケルトンの空隙率が決定してしま
うため、任意のCu−Cr比率の電極材料が得に(い、 ■ CrのスケルトンにCrを溶浸する際、Cr表面が
酸化していると、溶浸が不十分になり、電極表面や内部
に巣が発生することがある、 などの問題点がある。
また、焼結法には、
■ 製造に際し、高度な技術を要する、■ 製造条件に
よっては電極内部に巣が残ることがある、 ■ プレス成形機等の高価な設備が必要である、などの
問題点がある。
よっては電極内部に巣が残ることがある、 ■ プレス成形機等の高価な設備が必要である、などの
問題点がある。
MMを解決するための手段
上記事情にかんがみ、Cu粉末とCr粉末との混合粉−
tIJ!、これを容器に自重充填し、七〇を焼結させて
スケルトン上とした浸;こCuを溶浸すること、あるい
は焼結を併せてCuを溶浸することを試みた。このとき
、Cu粉末の粒度の影響をみるため、Cu粉末の粒径を
変えて電極材料を作製し、作製過程、作製された電極材
料を観察した。
tIJ!、これを容器に自重充填し、七〇を焼結させて
スケルトン上とした浸;こCuを溶浸すること、あるい
は焼結を併せてCuを溶浸することを試みた。このとき
、Cu粉末の粒度の影響をみるため、Cu粉末の粒径を
変えて電極材料を作製し、作製過程、作製された電極材
料を観察した。
出発原糾として、粒径100〜60μmに80%が分布
するCr粉末に下記のCu粉末を混合し、Cuの粒径の
依存性を調査した。
するCr粉末に下記のCu粉末を混合し、Cuの粒径の
依存性を調査した。
Cr25重量%、Cu75重量%となるように上記それ
ぞれの粉体を秤量して十分:こ混合し、この混合粉を内
径80mのアルミナ容器に250g充填し、10−’T
orrの真空中で1130℃に1時間加熱した。
ぞれの粉体を秤量して十分:こ混合し、この混合粉を内
径80mのアルミナ容器に250g充填し、10−’T
orrの真空中で1130℃に1時間加熱した。
加熱中、Cuが溶けろため混合粉体(よ大きく収縮する
。得られたスケルトンの外径は下表の通りとなった。
。得られたスケルトンの外径は下表の通りとなった。
次tこ、上記スケルトン上にその空隙を埋めるのに十分
なCu塊(前記嵐3と同じ粒径かっ分布率の焼結体で、
直径35m、厚さ8調、重量70g)を設置し、10−
’Torrの真空中で1130℃に1時間加熱しCuを
スケルトン中に溶浸させた。
なCu塊(前記嵐3と同じ粒径かっ分布率の焼結体で、
直径35m、厚さ8調、重量70g)を設置し、10−
’Torrの真空中で1130℃に1時間加熱しCuを
スケルトン中に溶浸させた。
&1.Na2のCu粉末を使用したインゴット(電極材
料)では、Cuがスケルトン周囲にはみ出した。インゴ
ットを切断し、内部を調べてみると、インゴット内に巣
が存在していた、&3のC11粉末を用いたインゴット
では、余剰のCuが周囲にはみ出すことなく、内部に巣
の存在も見らnなかった。
料)では、Cuがスケルトン周囲にはみ出した。インゴ
ットを切断し、内部を調べてみると、インゴット内に巣
が存在していた、&3のC11粉末を用いたインゴット
では、余剰のCuが周囲にはみ出すことなく、内部に巣
の存在も見らnなかった。
上記結果は、k ’3. jMl 2のCu粉末のよう
に、Cu粉末の粒径が大きb)とスケルトンを得るとき
の収縮が小さいため溶浸工程でCuが溶は込んだ際、C
uがスケルトンの空隙を貫通し、周囲にしみ出すためで
ある。
に、Cu粉末の粒径が大きb)とスケルトンを得るとき
の収縮が小さいため溶浸工程でCuが溶は込んだ際、C
uがスケルトンの空隙を貫通し、周囲にしみ出すためで
ある。
N113のCu粉末について、異なる粒度分布について
も同様の試作、調査を行ったところ、粒度分布が60%
より少なくなると、粒径の大きいCu粉末が増えること
から、インゴットに巣が発生し、溶浸用銅の:よみ出し
が生じてしまう。
も同様の試作、調査を行ったところ、粒度分布が60%
より少なくなると、粒径の大きいCu粉末が増えること
から、インゴットに巣が発生し、溶浸用銅の:よみ出し
が生じてしまう。
なお、上記のようにスケルトンを作製した後にCuを溶
浸させる場合だけでな(、混合粉の焼結と同時に溶浸を
行った場合にもほぼ同様の結果が得られた。
浸させる場合だけでな(、混合粉の焼結と同時に溶浸を
行った場合にもほぼ同様の結果が得られた。
上記より、第一番目の発明に係ろCu−Cr電極材料の
製造方法は、50μm息下の粒径を60%以上持つCu
粉末とCr粉末との混合粉を容器内に充填した後、不活
性雰囲気下においてCuの融点以上の温度で加熱してC
u−Crインゴットを得、このCu−Crインゴット上
に溶浸用銅を設置し加熱して溶浸用銅をCu −Crイ
ンゴットの空隙に溶浸させることを特徴とするものであ
る。
製造方法は、50μm息下の粒径を60%以上持つCu
粉末とCr粉末との混合粉を容器内に充填した後、不活
性雰囲気下においてCuの融点以上の温度で加熱してC
u−Crインゴットを得、このCu−Crインゴット上
に溶浸用銅を設置し加熱して溶浸用銅をCu −Crイ
ンゴットの空隙に溶浸させることを特徴とするものであ
る。
また、第二番目の発明に係るC u −Cr電極材料の
製造方法は、50μm以下の粒径を60%以上持っCu
粉末とCr粉末との混合粉を容器内に充填し、その上に
lW浸用銅を設置し、不活性雰囲気下においてCuの融
点以上の温度で加熱することを特徴とするものである。
製造方法は、50μm以下の粒径を60%以上持っCu
粉末とCr粉末との混合粉を容器内に充填し、その上に
lW浸用銅を設置し、不活性雰囲気下においてCuの融
点以上の温度で加熱することを特徴とするものである。
作 用
上記方法においては、Cu粉末とCr粉末との混合粉が
密に溶着するため、溶浸用銅が周囲にしみ出すことなく
、巣のない緊密な組成の電極材料が得られる。
密に溶着するため、溶浸用銅が周囲にしみ出すことなく
、巣のない緊密な組成の電極材料が得られる。
26例
真空インタラプタは、その概略構造の一例:e!!す第
5図に示すようなものであり、相互に−is状をなす一
対のリード庫11,12の対向増面には、それぞれ電極
13.14が一体的に設けである。これら電[13,1
4を囲む筒状のシールド15の外周中央部は、このシー
ルド15を囲む一対の絶縁筒16゜17の間に挟まれた
状態で保持されている。
5図に示すようなものであり、相互に−is状をなす一
対のリード庫11,12の対向増面には、それぞれ電極
13.14が一体的に設けである。これら電[13,1
4を囲む筒状のシールド15の外周中央部は、このシー
ルド15を囲む一対の絶縁筒16゜17の間に挟まれた
状態で保持されている。
一方の前記リード棒11ζよ、一方の絶縁筒16の一端
に接合された金属端板18を機密に貫通した状態で、こ
の金属端板18に一体的に固定されている。図示しない
型動装置に連結されろ他方のリードl112は、他方の
絶縁筒17の多端に機密に接合された他方の金属端板1
9にベフーズ20を介して連結され、駆動装置の作動に
伴って電極13.14の対向方向に注m勤可能に可動側
の電極14が固定側の電極13に対して開閉力作するよ
うになっている。
に接合された金属端板18を機密に貫通した状態で、こ
の金属端板18に一体的に固定されている。図示しない
型動装置に連結されろ他方のリードl112は、他方の
絶縁筒17の多端に機密に接合された他方の金属端板1
9にベフーズ20を介して連結され、駆動装置の作動に
伴って電極13.14の対向方向に注m勤可能に可動側
の電極14が固定側の電極13に対して開閉力作するよ
うになっている。
上記電l!l113,14を作製する電極材料は次のよ
うに製作されろ。
うに製作されろ。
先ず、粒径100〜60μmに80%が分布するCr粉
末と粒径50μm以下に80%が分布するCu粉末とを
、Cr重量%、Cu75重量%となるようにそれぞれ秤
量に混合し、その混合粉1を第1図(alに示すように
、内径80膳のアルミナ容112内に自重で水平に25
0g充填する。
末と粒径50μm以下に80%が分布するCu粉末とを
、Cr重量%、Cu75重量%となるようにそれぞれ秤
量に混合し、その混合粉1を第1図(alに示すように
、内径80膳のアルミナ容112内に自重で水平に25
0g充填する。
次いで、上記容器2を真空炉内に入れ、10−’Tor
rの真空中で脱ガスしつつあるいは不活性ガス中で11
30℃に1時間加熱保持する。加熱中、Cuが溶けるた
め、第1図(blに示すようにスケルトン1aは大きく
収縮したものとなる。
rの真空中で脱ガスしつつあるいは不活性ガス中で11
30℃に1時間加熱保持する。加熱中、Cuが溶けるた
め、第1図(blに示すようにスケルトン1aは大きく
収縮したものとなる。
このスケルトン1m上に第1図(0)に示すように溶浸
用#i43を置く。溶浸用l1lI3としては、スケル
トン1aの径の80%未満の直径の丸棒(あるいは円板
)とし、その量は、スケルトン1aの空隙を埋めるのに
十分な量とする。
用#i43を置く。溶浸用l1lI3としては、スケル
トン1aの径の80%未満の直径の丸棒(あるいは円板
)とし、その量は、スケルトン1aの空隙を埋めるのに
十分な量とする。
ここでは、粒径50μm以下の為のが80%分布するC
u粉末の焼結体であって、直径が35閣、厚さが81で
重量が70gのものを採用した。
u粉末の焼結体であって、直径が35閣、厚さが81で
重量が70gのものを採用した。
スケルトンla上に溶浸用113を置いた状態で、10
−’Torrの真空中においである一;よ不活性ガス中
において1130℃に1時間加熱保持し、Cuをスケル
トン1aの空隙に溶浸させた。Cuが周囲に:よみ出す
ことがなく、内部に巣も存在しない緊密な電極材料が得
られた。例えば、密度比98%のものが得られる4なお
、溶浸温度は、下限をCuの融点以上とし、上限をCu
の融点+60℃程度とする。
−’Torrの真空中においである一;よ不活性ガス中
において1130℃に1時間加熱保持し、Cuをスケル
トン1aの空隙に溶浸させた。Cuが周囲に:よみ出す
ことがなく、内部に巣も存在しない緊密な電極材料が得
られた。例えば、密度比98%のものが得られる4なお
、溶浸温度は、下限をCuの融点以上とし、上限をCu
の融点+60℃程度とする。
溶浸温度が高すぎると、Cuのしみ出しにより巣が生じ
てしまうことがあるからである。
てしまうことがあるからである。
前述のように、Cu粉末においては、粒径50μmi下
のものが60%以上含まれるものとする。前述の41.
Na2の如く粒径がそれ以上大きかったり、粒度分布が
60%未満であると、第2図に示すように、スケルトン
1&におけろ空隙4が大きくなって、Cuを啓浸させた
ときに空隙4を通じてCuがしみ出してしまうという不
具合が生じる。図中、3aがしみ出しなCuであるっ また、スケルトンla上に載せろ溶浸用銅3の直径:よ
前述のようにスケルトン1aの直径の80%未満とする
580%以上のもの(例えば直径42寵のもの)で(よ
、第3図に示すように溶浸用W43がスケルトン1aの
外m縁からばみ出し、スケルトン作製後部にしみ込まな
くなってしまう。
のものが60%以上含まれるものとする。前述の41.
Na2の如く粒径がそれ以上大きかったり、粒度分布が
60%未満であると、第2図に示すように、スケルトン
1&におけろ空隙4が大きくなって、Cuを啓浸させた
ときに空隙4を通じてCuがしみ出してしまうという不
具合が生じる。図中、3aがしみ出しなCuであるっ また、スケルトンla上に載せろ溶浸用銅3の直径:よ
前述のようにスケルトン1aの直径の80%未満とする
580%以上のもの(例えば直径42寵のもの)で(よ
、第3図に示すように溶浸用W43がスケルトン1aの
外m縁からばみ出し、スケルトン作製後部にしみ込まな
くなってしまう。
なお、電極材料におけるCuの成分割合は、80〜40
重量%とする。Cuが80重量%息1では、スケルトン
1aを製造する際、Cuがしみ出し、溶浸後内部に巣が
残ることがあり、また、Cuが<OIi量%量子以下t
電極としての性能が維持できないからである。
重量%とする。Cuが80重量%息1では、スケルトン
1aを製造する際、Cuがしみ出し、溶浸後内部に巣が
残ることがあり、また、Cuが<OIi量%量子以下t
電極としての性能が維持できないからである。
Crの成分割合は、60〜20重量%とする。
上述のようにして得られた電極材料に機械加工を施し、
電極13.14とする。
電極13.14とする。
上記実施例方法1よ、焼結体であるスケルトン作製後の
!S浸を行うものであるが、焼結と溶浸を同時に行うよ
うにしてもよい。その実施例方法を114図に示す 出発原糾としては、前述の実施例と同様に、粒径100
〜60μmのものが80%存在するCr粉末と、粒径5
0μm以下のものが80%存在するCu粉末とを採用し
、Cr25重量%、Cu75重量%となるようにそれぞ
れの粉体を重量し十分に混合する。
!S浸を行うものであるが、焼結と溶浸を同時に行うよ
うにしてもよい。その実施例方法を114図に示す 出発原糾としては、前述の実施例と同様に、粒径100
〜60μmのものが80%存在するCr粉末と、粒径5
0μm以下のものが80%存在するCu粉末とを採用し
、Cr25重量%、Cu75重量%となるようにそれぞ
れの粉体を重量し十分に混合する。
この混合粉1を第4図(alに示すように、内径8G−
のアルミナ容iIz内に自重で水平に250g充填する
。
のアルミナ容iIz内に自重で水平に250g充填する
。
肩合粉1の上に溶浸用@3を置く。溶浸用@3としては
、粒径50μm以下のものが80%分布するCu粉末の
焼結体であって、直径が35層、厚さが8職で、重量が
70gのものを採用した。
、粒径50μm以下のものが80%分布するCu粉末の
焼結体であって、直径が35層、厚さが8職で、重量が
70gのものを採用した。
濁合粉1上に溶浸用wI3を載せた状態でこれらを真空
炉内にセットし、10“Torrの真空中あるいは不活
性ガス中で1130℃に1時間加熱保持した。混合粉1
におけるCuとCrが融着すると共に、′a浸用銅3が
溶けて、Cu−Crの空隙に浸入する。焼結溶浸後の状
態を篤4図1b)に示す、3bは得られたインプラ)1
bの残余のCuである。
炉内にセットし、10“Torrの真空中あるいは不活
性ガス中で1130℃に1時間加熱保持した。混合粉1
におけるCuとCrが融着すると共に、′a浸用銅3が
溶けて、Cu−Crの空隙に浸入する。焼結溶浸後の状
態を篤4図1b)に示す、3bは得られたインプラ)1
bの残余のCuである。
以上のように、本発明方法は、スケルトンを得た後にC
uを溶浸させる方法、焼結と溶浸を一工程で行う方法で
あるが、電極径が70寵以上のような大きな電極を製造
する場合は、スケルトンを得た後にCuを溶浸させたほ
うが好適である。粉体上に溶浸用銅を設置した場合には
、巣ができることがあるからである。
uを溶浸させる方法、焼結と溶浸を一工程で行う方法で
あるが、電極径が70寵以上のような大きな電極を製造
する場合は、スケルトンを得た後にCuを溶浸させたほ
うが好適である。粉体上に溶浸用銅を設置した場合には
、巣ができることがあるからである。
発明の効果
本発明に係ろCu −Cr電極材料の製造方法によれば
、Cu粉末における粒径及び粒度分布を規定し、1然充
填した後、Cuを溶浸あるいは焼結と溶浸を行うように
したので、均−で巣のない@富なCu −Cr電極材料
が得られろ。
、Cu粉末における粒径及び粒度分布を規定し、1然充
填した後、Cuを溶浸あるいは焼結と溶浸を行うように
したので、均−で巣のない@富なCu −Cr電極材料
が得られろ。
また、本発明方法によれば、得られる電極材料のCu−
Crの組成策域が大きく、任意のCu / Cr比率の
電極材料を得ることが可能となる。
Crの組成策域が大きく、任意のCu / Cr比率の
電極材料を得ることが可能となる。
さらに、従来の焼結方法に比べ、高圧工程が不要である
ので、製造工程がWM易であり、製造設備の簡素化、低
コスト化が図れる。
ので、製造工程がWM易であり、製造設備の簡素化、低
コスト化が図れる。
第1図は本発明の一実施例に係るC u −Cr電極材
料製造工程の説明図、第2図は溶浸用銅がしみ出す様子
の説明図、第3図は溶浸用銅が溢流する様子の説明図、
第4図(よ他の実施例方法の説明図、第5図は真空イン
タラプタの一例の断面図である。 図面中、 1ミよ混合粉、 1aはスケルトン、 1bはインゴット、 2はアルミナ容器、 3は溶浸用銅、 13.141よ電極である。 特許出願 株式会社 明 代 理
料製造工程の説明図、第2図は溶浸用銅がしみ出す様子
の説明図、第3図は溶浸用銅が溢流する様子の説明図、
第4図(よ他の実施例方法の説明図、第5図は真空イン
タラプタの一例の断面図である。 図面中、 1ミよ混合粉、 1aはスケルトン、 1bはインゴット、 2はアルミナ容器、 3は溶浸用銅、 13.141よ電極である。 特許出願 株式会社 明 代 理
Claims (2)
- (1)50μm以下の粒径を60%以上持つ銅粉末とク
ロム粉末との混合粉を容器内に充填した後、不活性雰囲
気下において銅の融点以上の温度で加熱して銅−クロム
インゴットを得、この銅−クロムインゴット上に溶浸用
銅を設置し加熱して溶浸用銅を銅−クロムインゴットの
空隙に溶浸させることを特徴とする銅−クロム電極材料
の製造方法。 - (2)50μm以下の粒径を60%以上持つ銅粉末とク
ロム粉末との混合粉を容器内に充填し、その上に溶浸用
銅を設置し、不活性雰囲気下において銅の融点以上の温
度で加熱することを特徴とする銅−クロム電極材料の製
造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27539590A JPH04154017A (ja) | 1990-10-16 | 1990-10-16 | 銅―クロム電極材料の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27539590A JPH04154017A (ja) | 1990-10-16 | 1990-10-16 | 銅―クロム電極材料の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04154017A true JPH04154017A (ja) | 1992-05-27 |
Family
ID=17554904
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27539590A Pending JPH04154017A (ja) | 1990-10-16 | 1990-10-16 | 銅―クロム電極材料の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04154017A (ja) |
-
1990
- 1990-10-16 JP JP27539590A patent/JPH04154017A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3957453A (en) | Sintered metal powder electric contact material | |
| JPH056780B2 (ja) | ||
| US4503010A (en) | Process of producing a compound material of chromium and copper | |
| JPS59163726A (ja) | 真空しや断器 | |
| US3305324A (en) | Tungsten powder bodies infiltrated with copper-titanium-bismuth or copper-titanium-tin | |
| JPH04154017A (ja) | 銅―クロム電極材料の製造方法 | |
| US3449120A (en) | Method of producing tungsten powder bodies infiltrated with zirconium | |
| JPH04154018A (ja) | 銅―クロム電極材料の製造方法 | |
| US3393056A (en) | Tungsten powder bodies | |
| US3384464A (en) | Tungsten structures | |
| US3318696A (en) | Method of producing a porous tungsten structure with an impervious skin | |
| US3353931A (en) | Tungsten-indium powder bodies infiltrated with copper | |
| JPS62188707A (ja) | 鉄系金属板の表面に超硬質層を一体的に形成するハ−ドフエ−シング法 | |
| JP3106598B2 (ja) | 電極材料の製造方法 | |
| US5701993A (en) | Porosity-free electrical contact material, pressure cast method and apparatus | |
| JP3298129B2 (ja) | 電極材料の製造方法 | |
| JP2001307602A (ja) | 真空バルブ用接点材料およびその製造方法 | |
| JP2853308B2 (ja) | 電極材料の製造方法 | |
| JPH05114328A (ja) | 電極材料の製造方法 | |
| JP2822583B2 (ja) | 真空インタラプタの製造方法 | |
| JPH0458130B2 (ja) | ||
| JP3859393B2 (ja) | 真空バルブ接点材料の製造方法 | |
| CN121470990A (zh) | 一种便于焊接的灭弧室陶瓷外壳的成型工艺及成型结构 | |
| JPH04129120A (ja) | 電極材料の製造方法 | |
| JP2822584B2 (ja) | 真空インタラプタの製造方法 |