JPH04155309A - Matrix optical switch - Google Patents
Matrix optical switchInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、超高速光交換システム等に用いられるマトリ
クス光スィッチに関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a matrix optical switch used in ultra-high speed optical switching systems and the like.
(従来の技術)
近年の光通信システムの発展、実用化に伴い、従来にな
い新しい機能やサービスを提供するシステムが考えられ
ている。そのようなシステムで必要とされるデバイスと
して多数の光伝送路の接続を任意にしかも高速に切り換
えるマトリクス光スィッチが挙げられる。(Prior Art) With the recent development and practical use of optical communication systems, systems that provide new functions and services not available in the past are being considered. An example of a device required in such a system is a matrix optical switch that arbitrarily and quickly switches connections between a large number of optical transmission lines.
マトリクスの構成としては広帯域信号が扱える、放送モ
ード機能を持つ、マトリクス規模の拡張が容易という点
で、光分岐回路、光ゲートスイッチ、光合流回路よりな
る分岐ゲート型マトリクス光スィッチが優れている。A branch gate matrix optical switch consisting of an optical branch circuit, an optical gate switch, and an optical convergence circuit is superior in matrix configuration because it can handle wideband signals, has a broadcast mode function, and can easily expand the matrix scale.
このタイプの光スイッチとして、姫野らの試作した4X
4マトリクス光スイツチの例が、昭和60年度電子通信
学会予稿集57−3、p、 1−345頁に記載されて
いる。これは光分岐回路、光合流回路として石英系光導
波路を、光ゲートスイッチとしてInGaAsP LD
光ゲートを用いて構成したものである。As this type of optical switch, 4X prototyped by Himeno et al.
An example of a four-matrix optical switch is described in 1985 IEICE Proceedings 57-3, p. 1-345. This uses silica-based optical waveguides as optical branching circuits and optical combining circuits, and InGaAsP LD as optical gate switches.
It is constructed using optical gates.
(発明が解決しようとする課題)
従来例では光ゲートとしてLD光ゲートを用いるため光
の切り換え速度が遅く、空間分割と時分割を併用する将
来の光交換システムへの適用は困難であるという問題が
あった。(Problem to be solved by the invention) In the conventional example, since an LD optical gate is used as an optical gate, the switching speed of light is slow, and it is difficult to apply it to a future optical switching system that uses both space division and time division. was there.
本発明の目的は、高抵抗半導体基板上に光分岐回路と半
導体の電界吸収効果を用いた光ゲートスイッチと光合流
回路を製作することで、光ゲートスイッチ単体の素子容
量を下げ、超高速切り替えを可能とした分岐ゲート型マ
トリクス光スィッチを提供することにある。The purpose of the present invention is to reduce the element capacitance of a single optical gate switch and achieve ultra-high-speed switching by fabricating an optical gate switch and an optical convergence circuit using an optical branch circuit and the electric field absorption effect of semiconductors on a high-resistance semiconductor substrate. The object of the present invention is to provide a branch gate type matrix optical switch that enables the following.
(課題を解決するための手段)
本発明のマトリクス光スィッチは、高抵抗半導体基板上
に、一つの入射用の光導波路から入った光信号をm(≧
2)本の光分岐にするn個の1×mの光分岐回路と、前
記光分岐回路の各々の分岐先に光学的に結合する位置関
係にあるPIN構造を持つ半導体光導波路と、前記PI
N構造を持つ半導体光導波路に電界を印加する手段と、
前g己n個の光分岐回路の各々m個の分岐先の一つずつ
に接続された前記PIN構造を持つ半導体光導波路に光
学的に結合する位置関係にあるm個のnX1光合流回路
を備えることを特徴とする。(Means for Solving the Problem) The matrix optical switch of the present invention transmits an optical signal input from one input optical waveguide onto a high resistance semiconductor substrate m (≧
2) n 1×m optical branching circuits to form a book of optical branches, a semiconductor optical waveguide having a PIN structure in a positional relationship to be optically coupled to each branch destination of the optical branching circuit, and the PI
means for applying an electric field to a semiconductor optical waveguide having an N structure;
m nX1 optical merging circuits in a positional relationship to be optically coupled to the semiconductor optical waveguide having the PIN structure connected to one of the m branch destinations of each of the n optical branching circuits; It is characterized by being prepared.
(作用)
本発明はn個の1×mの光分岐回路と、各々の分岐先に
光学的に結合する半導体の電界吸収効果を用いた光ゲー
トスイッチと、更に、それと光学的に結合するm個のn
X1光合流回路が高抵抗半導体基板上に集積された構成
を探っている。基本的な動作は、一つの入力端から入っ
た光をm本に分岐したのち、その後段にある光ゲートス
イッチがON状態の時にのみnXl光合流回路を経由し
て出力ポートに光が出力されるので、光ゲートスイッチ
のON、OFF状態によりマトリクス光スィッチの任意
の切り換え状態が可能となる。(Function) The present invention includes n 1×m optical branch circuits, an optical gate switch using the electric field absorption effect of a semiconductor that is optically coupled to each branch destination, and an optical gate switch that uses the electric field absorption effect of a semiconductor that is optically coupled to each branch destination. n of pieces
We are exploring a configuration in which an X1 optical merging circuit is integrated on a high-resistance semiconductor substrate. The basic operation is that after the light that enters from one input terminal is branched into m lights, the light is output to the output port via the nXl light combining circuit only when the optical gate switch in the subsequent stage is in the ON state. Therefore, any switching state of the matrix optical switch is possible depending on the ON/OFF state of the optical gate switch.
ここで用いられる光ゲートスイッチは素子長が200μ
mと小型で、電圧3v程度で消光比15dB以上と優れ
た特性を有している。従って十分な低電圧で動作するマ
トリクス光スィッチが得られる。更に構成上、光分岐の
数を増やしても一つの入出力間で経由する光ゲートスイ
ッチの段数の増加がないため、分岐数の拡張も非常に容
易である。また電界吸収型の光スィッチの速度は素子の
容量によって決まり、高抵抗半導体基板を用いることに
より素子の寄生容量を大幅に低減でき、40GHz以上
の帯域が得られることが、1990年電子情報通信学会
春季全国大会予稿集4−294頁で述べられている。The optical gate switch used here has an element length of 200 μm.
It is small in size and has excellent characteristics such as an extinction ratio of 15 dB or more at a voltage of about 3 V. Therefore, a matrix optical switch that operates at a sufficiently low voltage can be obtained. Furthermore, in terms of configuration, even if the number of optical branches is increased, the number of stages of optical gate switches that pass between one input and output does not increase, so it is very easy to expand the number of branches. Furthermore, the speed of an electro-absorption type optical switch is determined by the capacitance of the element, and the use of a high-resistance semiconductor substrate can significantly reduce the parasitic capacitance of the element, making it possible to obtain a bandwidth of 40 GHz or more, as reported by the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers in 1990. It is stated in the Spring National Conference Proceedings, page 4-294.
従って本発明によるマトリクス光スィッチは、高抵抗半
導体基板上に光分岐回路と電界吸収効果を用いた光ゲー
トスイッチ、光合流回路が集積された構成であるため、
光ゲートスイッチのスイッチング速度が非常に速く、空
間的に分割された光を高速に切り換えるのみならず、時
分割された超高速の光信号を空間的に切り換える空間分
割と時分割を併用した光交換システムへの適用も可能で
ある。Therefore, the matrix optical switch according to the present invention has a configuration in which an optical branching circuit, an optical gate switch using an electric field absorption effect, and an optical combining circuit are integrated on a high-resistance semiconductor substrate.
The switching speed of an optical gate switch is extremely fast, and it not only switches spatially divided light at high speed, but also spatially switches ultra-high-speed time-divided optical signals. Optical exchange using both space division and time division. Application to systems is also possible.
(実施例)
第1図は、本発明によるマトリクス光スィッチの実施例
を示す斜視図、第2図(aXb)はそれぞれ第1図の斜
視図中のA−A’、 B−B’間の断面図である。ここ
では2×2の場合について示し、光分岐回路、光合流回
路としてはY分岐光導波路を各々用いた。材料系として
は、InGaAsP/InP系を用い、光分岐、合流回
路部と光ゲートスイッチ部では導波層波長組成の異なる
ダブルへテロDH構造の光導波路を用いた構造の場合に
つき説明するが、材料、組成、構造はこれに限定される
ものではなく、InAlAs系 InAlAs系、Ga
As/AlGaAs系の材料、更にMQW構造などを用
いてもよい。(Example) FIG. 1 is a perspective view showing an example of the matrix optical switch according to the present invention, and FIG. FIG. Here, a 2×2 case is shown, and Y-branch optical waveguides are used as the optical branching circuit and the optical combining circuit, respectively. We will explain a structure in which an InGaAsP/InP system is used as the material system, and an optical waveguide with a double hetero DH structure in which the waveguide layer wavelength composition is different in the optical branching/combining circuit section and the optical gate switch section. The material, composition, and structure are not limited to these, but include InAlAs, InAlAs, and Ga.
As/AlGaAs-based materials, MQW structures, etc. may also be used.
まず第2図を用いて本発明の実施例の製作方法について
簡単に説明する。高抵抗証基板1上にn+−InPクラ
ッド層2を厚さ0.5□m、ノンドープの1−InGa
AsP(バンドギャップ波長1.45μm)光吸収層3
を厚さ0.3pm、 p+−InPクラッド層4を厚さ
0.8.gm、MOVPE法により順次成長し、光ゲー
トスイッチとなる層構造をまず成長する。次に光分岐、
合流回路が形成される部分を高抵抗InP基板1が表面
に出るまでフォトリソグラフィ及びエツチングにより落
とし、エツチングされた部分にのみノンドープの1−I
nPクラッド層5を厚さ0.5.4m、 1−InGa
AsP(バンドギャップ波長1.1.um)ガイド層6
を0.3μm、 1−InPりランド層7を0.8μm
1 をMOVPE法により選択的に成長する。これによ
りB−B’間の断面図に示すような層構造が形成される
。光分岐回路及び光合製回路が形成される部分の1−I
nGaAsPガイド層6と光ゲートスイッチとなる1−
InGaAsP光吸収層3と光吸収面3良好な光学的結
合が為されている。First, the manufacturing method of the embodiment of the present invention will be briefly explained using FIG. An n+-InP cladding layer 2 with a thickness of 0.5 □m and non-doped 1-InGa is formed on a high-resistance substrate 1.
AsP (band gap wavelength 1.45 μm) light absorption layer 3
with a thickness of 0.3 pm, and p+-InP cladding layer 4 with a thickness of 0.8 pm. Gm, MOVPE method is used to sequentially grow a layered structure that will become an optical gate switch. Next, light branching,
The part where the confluence circuit will be formed is removed by photolithography and etching until the high resistance InP substrate 1 is exposed on the surface, and non-doped 1-I is applied only to the etched part.
The nP cladding layer 5 has a thickness of 0.5.4 m and is made of 1-InGa.
AsP (bandgap wavelength 1.1.um) guide layer 6
0.3 μm, 1-InP land layer 7 0.8 μm
1 is selectively grown using the MOVPE method. As a result, a layered structure as shown in the cross-sectional view taken along line BB' is formed. 1-I of the part where the optical branching circuit and optical combining circuit are formed
nGaAsP guide layer 6 and 1- which becomes an optical gate switch
Good optical coupling is achieved between the InGaAsP light absorption layer 3 and the light absorption surface 3.
次に、光分岐、合流回路及び光ゲートスイッチ形成のた
め、SiO2マスクパターンを通常のフォトリソグラフ
ィー法により形成する。この時のストライブの幅は1.
5μmである。このSiO2マスクを用い、n−InP
クラッド層2、及び1−InPクラッド層5が表面に露
出するまでエツチングし、まずハイメサ構造の光導波路
パターンを形成し、その後レジストマスクを用い、光ゲ
ートスイッチの導波路の片側でp側電極が形成される部
分のみ更にn”−InPクラッド層2をエツチングし、
高抵抗InP基板lを露出させる。レジストマスクを剥
離後、先はどのSiO□マスクを、そのまま選択成長用
のマスクとして用い高抵抗InP埋め込み層8で全体を
埋め込む。この時点で光分岐回路11a、 llb、光
合製回路12a、 12bは完成し、埋め込み構造の光
導波路が形成される。Next, a SiO2 mask pattern is formed by a normal photolithography method in order to form an optical branching circuit, a converging circuit, and an optical gate switch. The width of the stripe at this time is 1.
It is 5 μm. Using this SiO2 mask, n-InP
The cladding layer 2 and the 1-InP cladding layer 5 are etched until they are exposed on the surface, first forming an optical waveguide pattern with a high mesa structure, and then using a resist mask, the p-side electrode is etched on one side of the waveguide of the optical gate switch. Further etching the n''-InP cladding layer 2 only in the portion to be formed,
Expose the high resistance InP substrate l. After peeling off the resist mask, the entire structure is buried with a high-resistance InP buried layer 8 using any SiO□ mask as a mask for selective growth. At this point, the optical branching circuits 11a, llb and the optical combining circuits 12a, 12b are completed, and an optical waveguide with a buried structure is formed.
光ゲートスイッチのn側の電極を取り出すために、導波
路のp側電極が形成される部分の反対側をエツチングに
より100.zmX 100μm程度の穴を開け、n−
InPクラッド層2を表面に露出させる。最後の第2図
(a)のA−A’での断面図に示すように、光ゲートス
イッチの導波路上及び高抵抗InP基板工上に直接高抵
抗InP埋め込み層8がある側(図中では導波路の右側
)に光ゲートスイッチのp側電極9を形成し、p側電極
9と反対側でn”−InPクラッド層2が表面に出てい
る部分にn側電極10を形成し素子は完成する。基板は
研磨により厚さ約100μ門とし、光ゲートスイッチ部
分の素子長は200.gmであり、またp側電極のパッ
ド部の面積は各々80μm×80μmである。各光ゲー
トスイッチの間隔は250pm、光分岐、合流回路部の
Y分岐の分岐角は5度であり、マトリクス光スィッチと
しての素子サイズは8mmX1mmと小さい。In order to take out the n-side electrode of the optical gate switch, the opposite side of the waveguide from where the p-side electrode will be formed is etched to 100. Drill a hole of about zmX 100μm, and
InP cladding layer 2 is exposed on the surface. As shown in the final cross-sectional view taken along line A-A' in FIG. The p-side electrode 9 of the optical gate switch is formed on the right side of the waveguide, and the n-side electrode 10 is formed on the opposite side of the p-side electrode 9 where the n''-InP cladding layer 2 is exposed. is completed.The substrate is polished to a thickness of approximately 100 μm, the element length of the optical gate switch portion is 200 gm, and the area of the pad portion of the p-side electrode is 80 μm x 80 μm.Each optical gate switch The interval between the two is 250 pm, the branching angle of the Y branch in the optical branching and merging circuit section is 5 degrees, and the element size as a matrix optical switch is as small as 8 mm x 1 mm.
次にこのマトリクス光スィッチの動作について第1図を
用いて説明する。Next, the operation of this matrix optical switch will be explained using FIG. 1.
入射光の波長を1.55pmとする。光分岐回路11a
。The wavelength of the incident light is 1.55 pm. Optical branch circuit 11a
.
11bに入射された光信号14a、 14bは各々2分
割され各光ゲートスイッチに導かれる。光分岐回路のY
分岐の分岐角は5度と非常に小さく、また光分岐回路部
でのガイド層6の波長組成は1.ll1mであるため、
ここでの分岐部での過剰損失、吸収損失はほとんどない
。各光ゲートスイッチへ入射された光は、スイッチの光
吸収層3の逆バイアス電圧がOの時、光ゲートスイッチ
はON状態となるので、そのまま通過し光合製回路を経
由して出力される。光吸収層3に逆バイアス電圧が印加
されると、電界吸収効果により光は吸収され光ゲートス
イッチはOFF状態となる。この時の消光比(ON−O
FF比)は使用波長、光吸収層の波長組成、吸収層の長
さによって決まるが、本実施例の場合では、電圧3vで
消光比15dBが得られ光ゲートスイッチとしては十分
な特性が得られている。これらの光ゲートスイッチのO
N、 OFF状態により入射光14a、 14b、出射
光15a。The optical signals 14a and 14b incident on the optical signal 11b are each divided into two parts and guided to each optical gate switch. Y of optical branch circuit
The branch angle of the branch is very small, 5 degrees, and the wavelength composition of the guide layer 6 in the optical branch circuit section is 1. Since it is ll1m,
There is almost no excess loss or absorption loss at the branch. When the reverse bias voltage of the light absorption layer 3 of the switch is O, the light incident on each optical gate switch is in the ON state, so the light passes through the optical gate switch as it is and is outputted via the optical synthesis circuit. When a reverse bias voltage is applied to the light absorption layer 3, light is absorbed by the electric field absorption effect and the optical gate switch is turned off. At this time, the extinction ratio (ON-O
The FF ratio) is determined by the wavelength used, the wavelength composition of the light absorption layer, and the length of the absorption layer, but in the case of this example, an extinction ratio of 15 dB was obtained at a voltage of 3 V, which is sufficient for an optical gate switch. ing. O of these optical gate switches
N, depending on the OFF state, the incident light 14a, 14b and the outgoing light 15a.
15b間での任意の切り換えが可能となる。例えば光ゲ
ートスイッチを13a−OFF、 13b−ON、 1
3c −ON、13d−OFFと設定することで、入射
光14aは出射光15bとして、入射光14bは出射光
15aとしてそれぞれ出力される。15b can be arbitrarily switched. For example, turn the optical gate switch 13a-OFF, 13b-ON, 1
By setting 3c - ON and 13d - OFF, the incident light 14a is output as the output light 15b, and the incident light 14b is output as the output light 15a.
次にスイッチング速度について述べる。作用の項でも述
べた様に、電界効果を用いたスイッチのスイッチング速
度あるいは変調帯域は素子の容量Cによりほぼ決定され
Af= 1/(=rCR)で表される。本発明では高抵
抗半導体基板を用い、p側電極パッドの下はすべて高抵
抗半導体層である゛ため素子の寄生容量がほとんど無視
でき、その結果素子容量が非常に小さくなる構造である
。実施例の場合、素子全体の容量は0.12pFであ)
、光ゲートスイッチの変調周波数帯域は50GHz以上
あるため、超高速のスイッチングが可能である。従って
本発明によるマトリクス光スィッチは、超高速で動作す
る光ゲートスイッチを有しているため、数10Gb/s
程度の超高速光信号の切り換えを必要とする、空間分割
、時分割を併用した将来の光交換システムへの適用が可
能である。Next, we will discuss switching speed. As mentioned in the section on operation, the switching speed or modulation band of a switch using a field effect is approximately determined by the capacitance C of the element and is expressed by Af=1/(=rCR). In the present invention, a high-resistance semiconductor substrate is used, and the entire area under the p-side electrode pad is a high-resistance semiconductor layer, so that the parasitic capacitance of the element can be almost ignored, resulting in a structure in which the element capacitance is extremely small. In the case of the example, the capacitance of the entire element is 0.12 pF)
Since the modulation frequency band of the optical gate switch is 50 GHz or more, ultra-high-speed switching is possible. Therefore, since the matrix optical switch according to the present invention has an optical gate switch that operates at ultra-high speed, it can operate at several tens of Gb/s.
It is possible to apply this method to future optical switching systems that use both space division and time division, which require extremely high-speed switching of optical signals.
二こでは2X2のマトリクス光スィッチにつし】で、光
分岐、光合流回路としてY分岐を用いたものにつき説明
したが、同様な構成で4X4.8X8への拡張も十分可
能である。この場合光分岐、光合法回路部にY分岐を用
いると素子全体が長くなるが、90度ミラーなどにより
光を垂直に折り返す光分岐、光合流回路を用いれば、数
mm以内でこれらの素子が実現できる。In this article, we have described a 2×2 matrix optical switch using a Y branch as an optical branching and optical combining circuit, but it is also fully possible to expand to 4×4.8×8 with a similar configuration. In this case, if a Y-branch is used in the optical branching or optical law circuit section, the entire element will become longer; however, if an optical branching or optical convergence circuit that vertically folds the light using a 90-degree mirror or the like is used, these elements can be completed within a few mm. realizable.
(発明の効果)
以上詳細に説明したように、本発明によれば1×m光分
岐回路と光導波路とnX1光合流回路を用いることによ
り、超高速切り換えが可能なマトリクス光スィッチが得
られ、将来の数十Gb/s以上の超高速光交換システム
の実現に貢献すること大である。(Effects of the Invention) As described in detail above, according to the present invention, by using a 1×m optical branching circuit, an optical waveguide, and an nX1 optical combining circuit, a matrix optical switch capable of ultra-high-speed switching can be obtained. This will greatly contribute to the realization of ultra-high-speed optical switching systems of tens of Gb/s or more in the future.
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のマトリクス光スィッチの実施例を示す
斜視図、第2図はその部分断面図である。
図において、1は高抵抗InP基板、2はn”−InP
クラッド層、3は1−InGaAsP光吸収層、4はp
”−InPり・ ラッド層、5は1−InPクラッ
ド層、6は1−InGaAsPガイド層、7は1−In
Pクラッド層、8は高抵抗InP埋め込み層、9はp側
電極、10はn側電極、lla、 Ilbは光分岐回路
、12a、 12bは光合流回路、13a、 13b、
13c、 13dは光ゲートスイッチ、14a、 1
4bは入射光、15a、 15bは出射光である。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of a matrix optical switch of the present invention, and FIG. 2 is a partial sectional view thereof. In the figure, 1 is a high-resistance InP substrate, 2 is an n''-InP substrate
cladding layer, 3 is 1-InGaAsP light absorption layer, 4 is p
"-InP cladding layer, 5 is 1-InP cladding layer, 6 is 1-InGaAsP guide layer, 7 is 1-In
P cladding layer, 8 is a high-resistance InP buried layer, 9 is a p-side electrode, 10 is an n-side electrode, lla, Ilb are optical branching circuits, 12a, 12b are optical combining circuits, 13a, 13b,
13c, 13d are optical gate switches, 14a, 1
4b is incident light, and 15a and 15b are outgoing lights.
Claims (1)
った光信号をm(≧2)本の光に分岐するn個の1×m
の光分岐回路と、前記光分岐回路の各々の分岐先に光学
的に結合する位置関係にあるPIN構造を持つ半導体光
導波路と、前記PIN構造を持つ半導体光導波路に電界
を印加する手段と、前記n個の光分岐回路の各々m個の
分岐先の一つずつに接続された前記PIN構造を持つ半
導体光導波路に光学的に結合する位置関係にあるm個の
n×1光合流回路を備えることを特徴とするマトリクス
光スイッチ。On a high-resistance semiconductor substrate, there are n 1×m beams that split an optical signal input from one input optical waveguide into m (≧2) beams.
an optical branching circuit, a semiconductor optical waveguide having a PIN structure in a positional relationship to be optically coupled to each branch destination of the optical branching circuit, and means for applying an electric field to the semiconductor optical waveguide having the PIN structure; m n x 1 optical converging circuits in a positional relationship to be optically coupled to the semiconductor optical waveguide having the PIN structure connected to each of the m branch destinations of the n optical branch circuits; A matrix optical switch characterized by comprising:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28041490A JPH04155309A (en) | 1990-10-18 | 1990-10-18 | Matrix optical switch |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28041490A JPH04155309A (en) | 1990-10-18 | 1990-10-18 | Matrix optical switch |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04155309A true JPH04155309A (en) | 1992-05-28 |
Family
ID=17624711
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28041490A Pending JPH04155309A (en) | 1990-10-18 | 1990-10-18 | Matrix optical switch |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04155309A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05341242A (en) * | 1992-06-11 | 1993-12-24 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | Optical modulating element |
| JP2011203382A (en) * | 2010-03-24 | 2011-10-13 | Sumitomo Electric Ind Ltd | Semiconductor optical device |
-
1990
- 1990-10-18 JP JP28041490A patent/JPH04155309A/en active Pending
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| JPH05341242A (en) * | 1992-06-11 | 1993-12-24 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | Optical modulating element |
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