JPH04155692A - 半導体メモリの行デコーダ回路 - Google Patents
半導体メモリの行デコーダ回路Info
- Publication number
- JPH04155692A JPH04155692A JP2279747A JP27974790A JPH04155692A JP H04155692 A JPH04155692 A JP H04155692A JP 2279747 A JP2279747 A JP 2279747A JP 27974790 A JP27974790 A JP 27974790A JP H04155692 A JPH04155692 A JP H04155692A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- node
- transistor
- turned
- circuit
- level
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title description 6
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 abstract description 2
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 10
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000008267 milk Substances 0.000 description 1
- 210000004080 milk Anatomy 0.000 description 1
- 235000013336 milk Nutrition 0.000 description 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Static Random-Access Memory (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体メモリの行デコーダ回路に関する。
従来、半導体メモリでは、ワード線又はデイジット線、
メモリセルに何らかの不良があった場合歩留りが低下し
ないように、予め冗長(以後リダンダンシーと呼ぶ)の
ワード線、デイジット線を含むメモリセルを配置してお
き、不良ワード又は不良デイジットを置換するという方
式がとられている。
メモリセルに何らかの不良があった場合歩留りが低下し
ないように、予め冗長(以後リダンダンシーと呼ぶ)の
ワード線、デイジット線を含むメモリセルを配置してお
き、不良ワード又は不良デイジットを置換するという方
式がとられている。
第6図に、このような従来例を示す、第7図は第6図の
回路の動作状態を示すタイミング図である。第7図中、
実線は置換時、破線は置換してない時の波形を示す。
回路の動作状態を示すタイミング図である。第7図中、
実線は置換時、破線は置換してない時の波形を示す。
第6図、第7図において、活性化時にハイレベルとなり
、非活性化時にロウレベルとなる制御信号φPをゲート
入力とするPチャネル型電界効果トランジスタ(以後P
MO3)−ランジスタと呼ぶ)Qmのソースが電源に接
続され、ドレインが節点NVIに接続されている。アド
レス信号φ1.φ2.φ3をそれぞれのゲート入力とす
る3つのチャネル型電界効果トランジスタ(以後NMO
Sトランジスタと呼ぶ) Ql4. Ql5. Qg6
が、トランジスタQ13と直列に接続されている。
、非活性化時にロウレベルとなる制御信号φPをゲート
入力とするPチャネル型電界効果トランジスタ(以後P
MO3)−ランジスタと呼ぶ)Qmのソースが電源に接
続され、ドレインが節点NVIに接続されている。アド
レス信号φ1.φ2.φ3をそれぞれのゲート入力とす
る3つのチャネル型電界効果トランジスタ(以後NMO
Sトランジスタと呼ぶ) Ql4. Ql5. Qg6
が、トランジスタQ13と直列に接続されている。
即ち、トランジスタQI4のドレインを節点NVIと接
続し、トランジスタQ14のソースとトランジスタQ1
5のトレイン、トランジスタQ1.のソースとトランジ
スタQrbのドレインをそれぞれ接続し、トランジスタ
Q16のソースは接地レベルに接続されている。第3図
のデコーダ回路が非活性化時には、制御信号φPとアド
レス信号φ、。
続し、トランジスタQ14のソースとトランジスタQ1
5のトレイン、トランジスタQ1.のソースとトランジ
スタQrbのドレインをそれぞれ接続し、トランジスタ
Q16のソースは接地レベルに接続されている。第3図
のデコーダ回路が非活性化時には、制御信号φPとアド
レス信号φ、。
φ2.φ3との少なくとも1つはロウレベルであり、ト
ランジスタQ13はオン、トランジスタQ 14+ Q
15+ Q lbの少なくとも1つはオフしており、
節点NVIをハイレベルにプリチャージしている。制御
信号φPとアドレス信号φl、φ2゜φ、がすべてハイ
レベルになると、トランジスタQ13がオフ、トランジ
スタQ 14+ Q 15. Q 16がオンして、節
点NVIのチャージを引き抜きロウレベルとすることに
より、第3図のデコーダ回路を活性化する0節点NVI
はインバータ11の入力であり、インバータ11の出力
である節点NV2は、ゲートを電源に接続した複数のN
MOSトランジスタのドレインに接続されている。ここ
では、トランジスタQ9 、 Qto、 Qll、 Q
l2の4つの場合について述べるが、この数を限定する
ものではない。トランジスタQ9のソースはNMOSト
ランジスタQ1のゲートと接続され、トランジスタQ1
のソースは節点NV5と接続されている。トランジスタ
Q1のトレインは、ワード活性化信号φROに接続され
2節点NV5はワード線WLOに接続されている1節点
NV3は、デコーダの活性化時に節点NVIのロウレベ
ルをインバータ11トランジスタQ9を介して受け、電
源からトランジスタQ9の閾値電圧VT(以下VTと略
す)分、下がったハイレベルとなる。その後、ワード活
性化信号φRQが電源レベルのハイレベルとなると、ト
ランジスタQ1のゲートとドレイン間の容量を介して、
トランジスタQ1のゲートは電源より2V丁以上の高い
レベルまで達する。従って、ワード&i、WLOは、電
源レベルまで上がる。
ランジスタQ13はオン、トランジスタQ 14+ Q
15+ Q lbの少なくとも1つはオフしており、
節点NVIをハイレベルにプリチャージしている。制御
信号φPとアドレス信号φl、φ2゜φ、がすべてハイ
レベルになると、トランジスタQ13がオフ、トランジ
スタQ 14+ Q 15. Q 16がオンして、節
点NVIのチャージを引き抜きロウレベルとすることに
より、第3図のデコーダ回路を活性化する0節点NVI
はインバータ11の入力であり、インバータ11の出力
である節点NV2は、ゲートを電源に接続した複数のN
MOSトランジスタのドレインに接続されている。ここ
では、トランジスタQ9 、 Qto、 Qll、 Q
l2の4つの場合について述べるが、この数を限定する
ものではない。トランジスタQ9のソースはNMOSト
ランジスタQ1のゲートと接続され、トランジスタQ1
のソースは節点NV5と接続されている。トランジスタ
Q1のトレインは、ワード活性化信号φROに接続され
2節点NV5はワード線WLOに接続されている1節点
NV3は、デコーダの活性化時に節点NVIのロウレベ
ルをインバータ11トランジスタQ9を介して受け、電
源からトランジスタQ9の閾値電圧VT(以下VTと略
す)分、下がったハイレベルとなる。その後、ワード活
性化信号φRQが電源レベルのハイレベルとなると、ト
ランジスタQ1のゲートとドレイン間の容量を介して、
トランジスタQ1のゲートは電源より2V丁以上の高い
レベルまで達する。従って、ワード&i、WLOは、電
源レベルまで上がる。
また、節点NV5はソースを接地レベルとするNMOS
)ランジスタQ2のドレインに接続され、トランジスタ
Q2のゲートには、インバータエ2による節点NV2の
インバート信号NV4が入力されている。従って、トラ
ンジスタQ2はデコーダの活性化時にオフ、非活性化時
にオンし、ワード線WLOを非選択時に接地レベルにお
さえている。このトランジスタQ9 、Ql、Q2によ
る精成回路が同様に3つあり、そのそれぞれにワード活
性化信号φR1+ φR2+ φλ3が入力され、それ
ぞれワード線WLI、WL2.WL3が接続されている
。また、ドレインをワード線に接続し、ソースを接地レ
ベルとするトランジスタのゲートには節点NV4が接続
されている。ワード活性化信号φ□はアドレス信号によ
りデコードされて1つだけ発生される信号で、デコーダ
に含まれるワード線と1対1対応しており、ワードを直
接活性化する信号であるが、リダンダンシーで置換され
ている場合は、リダンダンシーアドレス選択信号により
非活性化され、リダンダンシーワードが選択される。
)ランジスタQ2のドレインに接続され、トランジスタ
Q2のゲートには、インバータエ2による節点NV2の
インバート信号NV4が入力されている。従って、トラ
ンジスタQ2はデコーダの活性化時にオフ、非活性化時
にオンし、ワード線WLOを非選択時に接地レベルにお
さえている。このトランジスタQ9 、Ql、Q2によ
る精成回路が同様に3つあり、そのそれぞれにワード活
性化信号φR1+ φR2+ φλ3が入力され、それ
ぞれワード線WLI、WL2.WL3が接続されている
。また、ドレインをワード線に接続し、ソースを接地レ
ベルとするトランジスタのゲートには節点NV4が接続
されている。ワード活性化信号φ□はアドレス信号によ
りデコードされて1つだけ発生される信号で、デコーダ
に含まれるワード線と1対1対応しており、ワードを直
接活性化する信号であるが、リダンダンシーで置換され
ている場合は、リダンダンシーアドレス選択信号により
非活性化され、リダンダンシーワードが選択される。
前述した従来のデコーダ回路は、ドレインをワード線W
Lnに接続しソースを接地レベルとするトランジスタQ
2 、Q4 、Q6 、Qgが、デコーダの非活性化時
にすべてオンするりダンダンシーで置換されていても同
様である。また、スタンバイ時において、ビット線はプ
リチャージ電源から1 / 2 V c cレベルを供
給される。前述の結果、ワードII W L nとビッ
ト線の短絡による不良ワードがリダンダンシーで置換さ
れていた場合、スタンバイ時にビット線のプリチャージ
レベル(VcC/2等のレベル)からビット線へ、ビッ
ト線からビット線とワード線の短絡部を介してワード線
へ、さらにワード線からドレインをワード線に接続し、
ソースを接地レベルとするフローティング防止用トラン
ジスタQ2 、Q4 、Q6 、Qsを介して、接地レ
ベルへ流れるリーク電流が生じ、スタンバイ時の消費電
流が増加するという欠点を有する。
Lnに接続しソースを接地レベルとするトランジスタQ
2 、Q4 、Q6 、Qgが、デコーダの非活性化時
にすべてオンするりダンダンシーで置換されていても同
様である。また、スタンバイ時において、ビット線はプ
リチャージ電源から1 / 2 V c cレベルを供
給される。前述の結果、ワードII W L nとビッ
ト線の短絡による不良ワードがリダンダンシーで置換さ
れていた場合、スタンバイ時にビット線のプリチャージ
レベル(VcC/2等のレベル)からビット線へ、ビッ
ト線からビット線とワード線の短絡部を介してワード線
へ、さらにワード線からドレインをワード線に接続し、
ソースを接地レベルとするフローティング防止用トラン
ジスタQ2 、Q4 、Q6 、Qsを介して、接地レ
ベルへ流れるリーク電流が生じ、スタンバイ時の消費電
流が増加するという欠点を有する。
本発明の目的は、前記欠点と解決し、スタンバイ時の消
費電流を減少させた半導体メモリの行デコーダ回路を提
供することにある。
費電流を減少させた半導体メモリの行デコーダ回路を提
供することにある。
本発明の半導体メモリの行デコーダ回路の構成は、リダ
ンダンシーで置換されているかどうかを判定しその判定
された出力信号を保持する第1の回路と、前記第1の回
路の出力信号を判定して、一主極をワード線に接続し他
主極を接地レベルとするトランジスタが前記リダンダン
シーで置換されていなければ、デコーダの非活性化時に
オン、活性化時にオフさせ、前記リダンダンシーで置換
されていればスタンバイ時にオフ、アクティブ時にオン
させる第2の回路とを設けたことを特徴とする。
ンダンシーで置換されているかどうかを判定しその判定
された出力信号を保持する第1の回路と、前記第1の回
路の出力信号を判定して、一主極をワード線に接続し他
主極を接地レベルとするトランジスタが前記リダンダン
シーで置換されていなければ、デコーダの非活性化時に
オン、活性化時にオフさせ、前記リダンダンシーで置換
されていればスタンバイ時にオフ、アクティブ時にオン
させる第2の回路とを設けたことを特徴とする。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の第1の実施例の行デコーダ回路を示す
回銘図、第2図はその動作波形を示すタイミング図であ
る。
回銘図、第2図はその動作波形を示すタイミング図であ
る。
第1図、第2図において、本実施例は、プリチャージ信
号φPをゲート入力信号としソースを電源に接続しドレ
インを節点NVIに接続したPMOSトランジスタQ2
5と、アドレス信号φ1゜φ2.φ3をそれぞれのゲー
ト入力信号とする3つのNMOS)ランジスタQ26.
Q2フ、Q28とが直列に接続されている。即ち、トラ
ンジスタQ26のドレインを節点NVIに接続し、トラ
ンジスタQ26のソースとトランジスタQ27のトレイ
ンを接続し、トランジスタQ27のソースとトランジス
タQ28のドレインを接続して、トランジスタQ211
のソースを接地している8節点NVIは、インバータエ
1の入力となりインバータエ1の出力が節点NV2と接
続されている。さらに節点NV2は、ゲートを電源接続
したNMOS )−ランジスタQ5 、 Q6 、 Q
17. Qlgのドレインに接続されており、また回路
ブロックBLOCKI、BL○CK2.BLOCK3.
BLOCK4の回路の入力信号となっている。トランジ
スタQ5のソースは、ドレインにワード活性化信号φR
Qを入力し、ソースを節点NV5に接続したNMOS)
ランジスタQ、のゲートに接続されている0節点NV5
はワード線WLOに接続され、そらにソースを接地レベ
ルとし、ゲートを節点NV4と接続したNMOSトラン
ジスタのトレインに接続されている。トランジスタQl
、Q2 、Q5により構成される回路と同様の回路が、
トランジスタQv 、Q4.Qbとワード線WLI、)
−ランジスタQ +3. Q 14. Q lフとワー
ド1iWL2.)ランジスタQ +5+ Q 161
Q 1gとワード線WL3のそれぞれにより構成されて
いる。また、それぞれワード活性化信号φ81.φ8□
、φ乳3が同様に入力されている。BLOCKIとBL
OCK3.BLOCK2とBLOCK4はそれぞれ同様
の回路なので、BLOCKIとB LOCK 2につい
て説明を行う。
号φPをゲート入力信号としソースを電源に接続しドレ
インを節点NVIに接続したPMOSトランジスタQ2
5と、アドレス信号φ1゜φ2.φ3をそれぞれのゲー
ト入力信号とする3つのNMOS)ランジスタQ26.
Q2フ、Q28とが直列に接続されている。即ち、トラ
ンジスタQ26のドレインを節点NVIに接続し、トラ
ンジスタQ26のソースとトランジスタQ27のトレイ
ンを接続し、トランジスタQ27のソースとトランジス
タQ28のドレインを接続して、トランジスタQ211
のソースを接地している8節点NVIは、インバータエ
1の入力となりインバータエ1の出力が節点NV2と接
続されている。さらに節点NV2は、ゲートを電源接続
したNMOS )−ランジスタQ5 、 Q6 、 Q
17. Qlgのドレインに接続されており、また回路
ブロックBLOCKI、BL○CK2.BLOCK3.
BLOCK4の回路の入力信号となっている。トランジ
スタQ5のソースは、ドレインにワード活性化信号φR
Qを入力し、ソースを節点NV5に接続したNMOS)
ランジスタQ、のゲートに接続されている0節点NV5
はワード線WLOに接続され、そらにソースを接地レベ
ルとし、ゲートを節点NV4と接続したNMOSトラン
ジスタのトレインに接続されている。トランジスタQl
、Q2 、Q5により構成される回路と同様の回路が、
トランジスタQv 、Q4.Qbとワード線WLI、)
−ランジスタQ +3. Q 14. Q lフとワー
ド1iWL2.)ランジスタQ +5+ Q 161
Q 1gとワード線WL3のそれぞれにより構成されて
いる。また、それぞれワード活性化信号φ81.φ8□
、φ乳3が同様に入力されている。BLOCKIとBL
OCK3.BLOCK2とBLOCK4はそれぞれ同様
の回路なので、BLOCKIとB LOCK 2につい
て説明を行う。
まずBLOCKIの構成を説明する0節点NV2とアド
レス信号T「とリダンダンシーアドレス選択信号φDを
入力とする入力ナント回路N1の出力が接点NV13に
接続され、節点NV7はソースを節点NV8に接続する
NMOS)ランジスタのドレインと、トレインを節点N
V8に接続するPMO8)ランジスタのソースに接続さ
れている0節点NV8はインバータエ3の入力でありイ
ンバータエ3の出力は節点NV3に接続されている。さ
らに、節点NV3は、インバータエ2とインバータエ4
の入力となっておりインバータエ2の出力はトランジス
タQllのゲートに接続され、インバータエ4の出力は
節点N■8に接続され、トランジスタQ12のゲートに
接続されている。また、節点NV3はパワーオン時のワ
ンショット信号φONをゲート入力信号とし、ソースを
接地したトランジスタQ29のドレインに接続されてお
り、節点NV3がBLOCKlの出力となっている。
レス信号T「とリダンダンシーアドレス選択信号φDを
入力とする入力ナント回路N1の出力が接点NV13に
接続され、節点NV7はソースを節点NV8に接続する
NMOS)ランジスタのドレインと、トレインを節点N
V8に接続するPMO8)ランジスタのソースに接続さ
れている0節点NV8はインバータエ3の入力でありイ
ンバータエ3の出力は節点NV3に接続されている。さ
らに、節点NV3は、インバータエ2とインバータエ4
の入力となっておりインバータエ2の出力はトランジス
タQllのゲートに接続され、インバータエ4の出力は
節点N■8に接続され、トランジスタQ12のゲートに
接続されている。また、節点NV3はパワーオン時のワ
ンショット信号φONをゲート入力信号とし、ソースを
接地したトランジスタQ29のドレインに接続されてお
り、節点NV3がBLOCKlの出力となっている。
次に、BLOCK2の構成を説明する。BLOCKlの
出力である節点NV3をゲートに接続しソースを節点N
V4に接続したNMOS)ランジスタのトレインと、節
点NV3を入力とするインバータエ5の出力をゲートに
接続し、ドレインを節点NV4に接続したPMOSトラ
ンジスタQ8のソースが接続され、その中間節点にプリ
チャージ信号φpが接続されている。また、インバータ
I5の出力をゲート入力とし、ソースを節点NV4に接
続したNMO3)ランジスタQ9のドレインと節点NV
3をゲート入力とし、ドレインを節点NV4に接続した
PMO5)ランジスタQ、。のソースが接続され、その
中間節点に節点NV2を入力とするインバータI6の出
力が接続されている0節点NV4は、BLOCK2の出
力となってトランジスタQ2とQ4のゲートに接続され
ている。BLOCK3JfBLOCK1<7)入力信号
iがφXに変わっただけであり、BLOCK4はBLO
CK2と全く同じ回路である。
出力である節点NV3をゲートに接続しソースを節点N
V4に接続したNMOS)ランジスタのトレインと、節
点NV3を入力とするインバータエ5の出力をゲートに
接続し、ドレインを節点NV4に接続したPMOSトラ
ンジスタQ8のソースが接続され、その中間節点にプリ
チャージ信号φpが接続されている。また、インバータ
I5の出力をゲート入力とし、ソースを節点NV4に接
続したNMO3)ランジスタQ9のドレインと節点NV
3をゲート入力とし、ドレインを節点NV4に接続した
PMO5)ランジスタQ、。のソースが接続され、その
中間節点に節点NV2を入力とするインバータI6の出
力が接続されている0節点NV4は、BLOCK2の出
力となってトランジスタQ2とQ4のゲートに接続され
ている。BLOCK3JfBLOCK1<7)入力信号
iがφXに変わっただけであり、BLOCK4はBLO
CK2と全く同じ回路である。
次に第2図も用いて動作について説明する。まず電流投
入時に発生するワンショット信号φ。、によりトランジ
スタQ29はオンし、節点NV3をロウレベルとした後
オフする。即ちBLOCKIの出力は初期状態ロウレベ
ルである。パワーオン後の内部回路初期状B設定動作が
完了した後、ワード1liWLoに対応するアドレスを
選択した場合を考えると、プリチャージ信号φPとアド
レス信号φl、φ2.φ3のすべてがハイレベルになり
トランジスタQ25がオフ、トランジスタQ26゜Q2
71 Q2gのすべてがオンし、節点NVIをロウレベ
ルに引き抜く0節点NVIがロウレベルとなることによ
り、節点NVIを入力とするインバータ11の出力節点
NV2はハイレベルとなり、デコーダを活性化状態とす
る。3人力ナンドN1の入力は初期状態ですべてロウレ
ベルなのでナンドN1の出力節点NV7は初期状態ハイ
レベルである0節点NV3のロウレベルはインバータI
2により反転されてNMO5)ランジスタQ1tをオン
させ、また直接PMOSトランジスタQ12をオンさせ
る。従って節点NV7のレベルはそのまま、節点NV8
に伝えられる状態となっている。デコーダの活性化状態
でワード1WLOがリダンダンシーで置換していなけれ
ば、リダンダンシーアドレス選択信号φDは発生しない
ので、節点NV2とアドレス信号T1がハイレベルとな
ってもナンドN1の出力NVIは、ハイレベルのままで
あり、BLOCKIの状態は変化せず節点NV3はロウ
レベルのままである。WJ点NV3のレベルによりトラ
ンジスタQ7.Q8がオフ、トランジスタQ9 、 Q
toがオンし、節点NV2の反転信号が節点NV4に伝
えられ、トランジスタQ2とQ4はオフする。また、ト
ランジスタQ1とQ3のゲートには節点NV2のハイレ
ベルがトランジスタQs、Q6により7丁分下がったレ
ベルで伝えられる。即ち、トランジスタQ1とQ3のゲ
ートレベルは、VCC−V丁となりトランジスタQlと
Q3はオンする。この状態でワード活性化信号φλ0が
発生しトランジスタQ1のゲートとドレイン間の寄生容
量によりブートアップされ、トランジスタQtのゲート
はVcc十V丁以上のレベlしまで上がる。従ってWL
Oにはワード活性化信号φλ0のレベルがそのまま伝え
られWLOはVccレベルまで上がる。デコーダの非活
性化時にはアドレス信号φ1.φ2.φ3の少なくとも
1つはロウレベルであり、またプリチャージ信号φPは
ロウレベル又は−度ロウレベルに落ちて、再びハイレベ
ルとなった状態である。いずれにせよ、プリチャージ信
号φPがロウレベルとなることにより、トランジスタQ
25がオンし、アドレス信号φ1.φ2.φ3の少なく
とも1つがロウレベルとなることにより、トランジスタ
Q26. Q2g。
入時に発生するワンショット信号φ。、によりトランジ
スタQ29はオンし、節点NV3をロウレベルとした後
オフする。即ちBLOCKIの出力は初期状態ロウレベ
ルである。パワーオン後の内部回路初期状B設定動作が
完了した後、ワード1liWLoに対応するアドレスを
選択した場合を考えると、プリチャージ信号φPとアド
レス信号φl、φ2.φ3のすべてがハイレベルになり
トランジスタQ25がオフ、トランジスタQ26゜Q2
71 Q2gのすべてがオンし、節点NVIをロウレベ
ルに引き抜く0節点NVIがロウレベルとなることによ
り、節点NVIを入力とするインバータ11の出力節点
NV2はハイレベルとなり、デコーダを活性化状態とす
る。3人力ナンドN1の入力は初期状態ですべてロウレ
ベルなのでナンドN1の出力節点NV7は初期状態ハイ
レベルである0節点NV3のロウレベルはインバータI
2により反転されてNMO5)ランジスタQ1tをオン
させ、また直接PMOSトランジスタQ12をオンさせ
る。従って節点NV7のレベルはそのまま、節点NV8
に伝えられる状態となっている。デコーダの活性化状態
でワード1WLOがリダンダンシーで置換していなけれ
ば、リダンダンシーアドレス選択信号φDは発生しない
ので、節点NV2とアドレス信号T1がハイレベルとな
ってもナンドN1の出力NVIは、ハイレベルのままで
あり、BLOCKIの状態は変化せず節点NV3はロウ
レベルのままである。WJ点NV3のレベルによりトラ
ンジスタQ7.Q8がオフ、トランジスタQ9 、 Q
toがオンし、節点NV2の反転信号が節点NV4に伝
えられ、トランジスタQ2とQ4はオフする。また、ト
ランジスタQ1とQ3のゲートには節点NV2のハイレ
ベルがトランジスタQs、Q6により7丁分下がったレ
ベルで伝えられる。即ち、トランジスタQ1とQ3のゲ
ートレベルは、VCC−V丁となりトランジスタQlと
Q3はオンする。この状態でワード活性化信号φλ0が
発生しトランジスタQ1のゲートとドレイン間の寄生容
量によりブートアップされ、トランジスタQtのゲート
はVcc十V丁以上のレベlしまで上がる。従ってWL
Oにはワード活性化信号φλ0のレベルがそのまま伝え
られWLOはVccレベルまで上がる。デコーダの非活
性化時にはアドレス信号φ1.φ2.φ3の少なくとも
1つはロウレベルであり、またプリチャージ信号φPは
ロウレベル又は−度ロウレベルに落ちて、再びハイレベ
ルとなった状態である。いずれにせよ、プリチャージ信
号φPがロウレベルとなることにより、トランジスタQ
25がオンし、アドレス信号φ1.φ2.φ3の少なく
とも1つがロウレベルとなることにより、トランジスタ
Q26. Q2g。
Q29の少なくとも1つがオフし、節点NVIは、プリ
チャージされ、ハイレベルとなる0節点NV1がハイレ
ベルになることにより、節点NV2はロウレベルとなり
、トランジスタQl、Q2はオフする。また節点NV2
がロウレベルとなることにより節点NV4はハイレベル
となりトランジスタQ2.Q4はオンし、ワード線WL
O,WLIを接地レベルとする0次にワード線WLOが
リダンダンシーで置換されていたとすると、デコーダの
活性化時に、節点NVIがロウレベル、節点NV2がハ
イレベルとなり、トランジスタQt。
チャージされ、ハイレベルとなる0節点NV1がハイレ
ベルになることにより、節点NV2はロウレベルとなり
、トランジスタQl、Q2はオフする。また節点NV2
がロウレベルとなることにより節点NV4はハイレベル
となりトランジスタQ2.Q4はオンし、ワード線WL
O,WLIを接地レベルとする0次にワード線WLOが
リダンダンシーで置換されていたとすると、デコーダの
活性化時に、節点NVIがロウレベル、節点NV2がハ
イレベルとなり、トランジスタQt。
Q3のゲートがVCCV丁レベルしになる所は、リダン
ダンシーで置換されていない時と同様である。しかし、
BLOCKIとBLOCK2の動作が異なる。ワード線
WLOがリダンダンシーで置換されているので、リダン
ダンシーアドレス選択信号φDが発生し、3人力ナンド
N1のすべての入力がハイレベルとなり、ナンドN1の
出力、即ち節点NV7がハイレベルからロウレベルに変
化する1節点NV7のレベルは節点NV8へそのまま伝
えられ、インバータエ3により節点NV3はハイレベル
となる。さらに、節点NV3がハイレベルとなることに
よりトランジスタQ1tとQ1□はオフし、以後の節点
NV7のレベルを受けなくなる。また、節点NV3のハ
イレベルはインバータエ4によりロウレベルとしてイン
バータI3の入力に伝えられ、節点NV3のハイレベル
がラッチされる。′!?i点NV3のハイレベルにより
トランジスタQ7.Q8がオン、トランジスタQ9.Q
l。
ダンシーで置換されていない時と同様である。しかし、
BLOCKIとBLOCK2の動作が異なる。ワード線
WLOがリダンダンシーで置換されているので、リダン
ダンシーアドレス選択信号φDが発生し、3人力ナンド
N1のすべての入力がハイレベルとなり、ナンドN1の
出力、即ち節点NV7がハイレベルからロウレベルに変
化する1節点NV7のレベルは節点NV8へそのまま伝
えられ、インバータエ3により節点NV3はハイレベル
となる。さらに、節点NV3がハイレベルとなることに
よりトランジスタQ1tとQ1□はオフし、以後の節点
NV7のレベルを受けなくなる。また、節点NV3のハ
イレベルはインバータエ4によりロウレベルとしてイン
バータI3の入力に伝えられ、節点NV3のハイレベル
がラッチされる。′!?i点NV3のハイレベルにより
トランジスタQ7.Q8がオン、トランジスタQ9.Q
l。
がオフし、節点NV4 、即ちトランジスタQ2とQ4
のゲートにはプリチャージ信号φPが入力される。従っ
てトランジスタQ2.Q4はスタンバイ時にオフ、アク
ティブ時にオンすることになる。ワード活性化信号φλ
0はリダンダンシーアドレス選択信号φ。により非活性
化される。従ってワード線WLOもハイレベルとならな
い。
のゲートにはプリチャージ信号φPが入力される。従っ
てトランジスタQ2.Q4はスタンバイ時にオフ、アク
ティブ時にオンすることになる。ワード活性化信号φλ
0はリダンダンシーアドレス選択信号φ。により非活性
化される。従ってワード線WLOもハイレベルとならな
い。
以上説明した回路動作により、ワード線WLOがリダン
ダンシーで置換されていない時は、トランジスタQ2が
デコーダの活性化時にオフして、ワード線を接地レベル
から切り離し、非活性化時には、オンしてワード線WL
Oを接地レベルに抑える。また、ワードlI!WLOが
リダンダンシーで置換されている時は、アクティブ時に
オンして、ワード線WLOを接地レベルに抑え、スタン
バイ時にオフして、ワードをフローティングとし、リー
クしないようにしている。尚、第2図において、実線は
置換時、破線は置換されていない場合をそれぞれ示す。
ダンシーで置換されていない時は、トランジスタQ2が
デコーダの活性化時にオフして、ワード線を接地レベル
から切り離し、非活性化時には、オンしてワード線WL
Oを接地レベルに抑える。また、ワードlI!WLOが
リダンダンシーで置換されている時は、アクティブ時に
オンして、ワード線WLOを接地レベルに抑え、スタン
バイ時にオフして、ワードをフローティングとし、リー
クしないようにしている。尚、第2図において、実線は
置換時、破線は置換されていない場合をそれぞれ示す。
第3図は、本発明の第2の実施例の回路図である。
第3図において、本実施例は、第1図のBLOCK2と
BLOCK4の動作を他の回路形式で実現したものであ
る。これらBLOCK2とBLOCK4の回路以外は、
第1図の回路とまったく等しく、またBLOCK2とB
LOCK4tl’Lい回路なので、ここではBLOCK
2のみを図示し、説明する。
BLOCK4の動作を他の回路形式で実現したものであ
る。これらBLOCK2とBLOCK4の回路以外は、
第1図の回路とまったく等しく、またBLOCK2とB
LOCK4tl’Lい回路なので、ここではBLOCK
2のみを図示し、説明する。
第4図は第3図の回路の動作波形を示すタイミング図で
ある。第4図に図示されていない波形は、第2図と同様
であるので、省略する。
ある。第4図に図示されていない波形は、第2図と同様
であるので、省略する。
節点NV2を入力とするインバータエ5の出力と判定ラ
ッチ回路BLOCK1の出力節点NV6を入力とするイ
ンバータエ6の出力がそれぞれ、ナンドN2の入力とな
り、節点NV6とプリチャージ信号φPがナンドN3の
入力となっている。
ッチ回路BLOCK1の出力節点NV6を入力とするイ
ンバータエ6の出力がそれぞれ、ナンドN2の入力とな
り、節点NV6とプリチャージ信号φPがナンドN3の
入力となっている。
ナンドN2の出力とナンドN3の出力がそれぞれナンド
N4の入力となり、ナンドN4の出力NV7はワード線
と接地レベル間に接続されたトランジスタQ2.Q4の
ゲート入力となっている。
N4の入力となり、ナンドN4の出力NV7はワード線
と接地レベル間に接続されたトランジスタQ2.Q4の
ゲート入力となっている。
前述の実施例と同様にデコーダが活性化すると、WLO
がリダンダンシーで置換されていなければBLOCKI
の出力節点NV6はロウレベルである0節点NV6は、
プリチャージ信号φPと共にナンドN3に入力されてお
り、節点NV6はロウレベルなので、プリチャージ信号
φPに関係なく、ナンドN3の出力はハイレベルとなる
。また節点NV2と節点NV6は、共にそれぞれインバ
ータI5.I6を介してナンドN2に入力されており、
節点NV2はハイレベルなので、節点NV2の反転信号
を入力にもつナンド2の出力は、ハイレベルとなる。さ
らに、ナンドN2とナンドN3の出力は共にナンドN4
の入力となっており、ナンドN4の出力は、BLOCK
2の出力となり、トランジスタQ2.Q4のゲートに接
続されている。ナンドN2とナンドN3の出力は、共に
ハイレベルなのでナンドN4の出力はロウレベルとなり
トランジスタQ2.Q4をオフし、ワード線WLOとW
LIを接地レベルから切り離す。
がリダンダンシーで置換されていなければBLOCKI
の出力節点NV6はロウレベルである0節点NV6は、
プリチャージ信号φPと共にナンドN3に入力されてお
り、節点NV6はロウレベルなので、プリチャージ信号
φPに関係なく、ナンドN3の出力はハイレベルとなる
。また節点NV2と節点NV6は、共にそれぞれインバ
ータI5.I6を介してナンドN2に入力されており、
節点NV2はハイレベルなので、節点NV2の反転信号
を入力にもつナンド2の出力は、ハイレベルとなる。さ
らに、ナンドN2とナンドN3の出力は共にナンドN4
の入力となっており、ナンドN4の出力は、BLOCK
2の出力となり、トランジスタQ2.Q4のゲートに接
続されている。ナンドN2とナンドN3の出力は、共に
ハイレベルなのでナンドN4の出力はロウレベルとなり
トランジスタQ2.Q4をオフし、ワード線WLOとW
LIを接地レベルから切り離す。
その後、ワード活性化信号φKOによりワード線WLO
がハイレベルとなる。デコーダが非活性化すると、節点
NV2がロウレベルとなるので、ナンドN2の入力がす
べてハイレベルとなり、ナンドN2の出力はロウレベル
となる。従って、ナンドN2の出力を入力とするナンド
N4の出力は、無条件にハイレベルとなりトランジスタ
Q2とQ4がオンし、ワード線WLOとWLIを接地レ
ベルとする。WLOがリダンダンシーで置換されていた
場合は、BLOCKIの出力節点NV6がハイレベルと
なり、ナンドN2の出力を無条件にハイレベルとする。
がハイレベルとなる。デコーダが非活性化すると、節点
NV2がロウレベルとなるので、ナンドN2の入力がす
べてハイレベルとなり、ナンドN2の出力はロウレベル
となる。従って、ナンドN2の出力を入力とするナンド
N4の出力は、無条件にハイレベルとなりトランジスタ
Q2とQ4がオンし、ワード線WLOとWLIを接地レ
ベルとする。WLOがリダンダンシーで置換されていた
場合は、BLOCKIの出力節点NV6がハイレベルと
なり、ナンドN2の出力を無条件にハイレベルとする。
埜た、節点NV6は、プリチャージ信号φPと共にナン
ドN3の入力となっており節点NV6はハイレベル固定
であるので、信号φPによりナンドN3の出力が制御さ
れ、スタンバイ時にハイレベル、アクティブ時にロウレ
ベルとなる。さらにナンドN2の出力も節点NV6によ
りハイレベル固定となっているのでナンドN4の出力、
即ちトランジスタQ2とQ4のゲートはナンドN3の出
力により制御される。従って、ナンドN4の出力節点N
V7はスタンバイ時にロウベレル、アクティブ時にハイ
レベルとなり、トランジスタQ2.Q4は、アクティブ
時にオンしてワード1iWLo、WLIを接地レベルに
抑え、スタンバイ時にオフしてワードをフローティング
とすることによりリークしないようにしている。
ドN3の入力となっており節点NV6はハイレベル固定
であるので、信号φPによりナンドN3の出力が制御さ
れ、スタンバイ時にハイレベル、アクティブ時にロウレ
ベルとなる。さらにナンドN2の出力も節点NV6によ
りハイレベル固定となっているのでナンドN4の出力、
即ちトランジスタQ2とQ4のゲートはナンドN3の出
力により制御される。従って、ナンドN4の出力節点N
V7はスタンバイ時にロウベレル、アクティブ時にハイ
レベルとなり、トランジスタQ2.Q4は、アクティブ
時にオンしてワード1iWLo、WLIを接地レベルに
抑え、スタンバイ時にオフしてワードをフローティング
とすることによりリークしないようにしている。
第5図は本発明の第3の実施例の行デコーダ回路を示す
回路図である。
回路図である。
第5図において、本実施例は、第1図と異なる部分のみ
を示しており、図示されてない回路部分は第1図と同様
である。
を示しており、図示されてない回路部分は第1図と同様
である。
本実施例は、第1の実施例の回路の各ワード線WLO,
WLI、WL2.WL3と接地レベル間にそれぞれN0
M5)ランジスタQ 3s 、 Q 32 。
WLI、WL2.WL3と接地レベル間にそれぞれN0
M5)ランジスタQ 3s 、 Q 32 。
Q33. Q34が接続され、それぞれのトランジスタ
のゲートにプリチャージ信号φpの逆相信号φPが入力
されている。従って、トランジスタQ31゜Q32.
Q33. Q34はスタンバイ時にオンしてワードがフ
ローティングになるのを防ぎ、アクティブ時にはオフし
てワードを接地レベルから切り離す、このトランジスタ
QSII Q321 Q31. Q34はサイズを非常
に小さくし、電流能力を小さくしである0本実施例では
、ワード線がリダンダンシー置換されていた時第1の実
施例ではスタンバイ時にワードをフローティングとして
いる所を、能力のlJXさいトランジスタQ3+、 Q
gz、 Q33. Q34をインさせることにより、ワ
ードのフローティングを防止し、第1の実施例と同様の
効果を有するという利点がある。
のゲートにプリチャージ信号φpの逆相信号φPが入力
されている。従って、トランジスタQ31゜Q32.
Q33. Q34はスタンバイ時にオンしてワードがフ
ローティングになるのを防ぎ、アクティブ時にはオフし
てワードを接地レベルから切り離す、このトランジスタ
QSII Q321 Q31. Q34はサイズを非常
に小さくし、電流能力を小さくしである0本実施例では
、ワード線がリダンダンシー置換されていた時第1の実
施例ではスタンバイ時にワードをフローティングとして
いる所を、能力のlJXさいトランジスタQ3+、 Q
gz、 Q33. Q34をインさせることにより、ワ
ードのフローティングを防止し、第1の実施例と同様の
効果を有するという利点がある。
前述した従来の行デコーダ回路では避けられないリダン
ダンシーで置換された不良ワード線とビット線の短絡に
よるスタンバイ時の消費電流の増加に対し、本実施例は
選択されたアドレスのワード線がリダンダンシーで置換
されているかどうかを判定・記憶し、リダンダンシーで
置換されていれば、デコーダの非活性化時にワードを接
地させるトランジスタをスタンバイ時にオフさせる回路
を有する。
ダンシーで置換された不良ワード線とビット線の短絡に
よるスタンバイ時の消費電流の増加に対し、本実施例は
選択されたアドレスのワード線がリダンダンシーで置換
されているかどうかを判定・記憶し、リダンダンシーで
置換されていれば、デコーダの非活性化時にワードを接
地させるトランジスタをスタンバイ時にオフさせる回路
を有する。
以上説明したように、第1乃至第3の実施例は、第1の
節点と第1の制御信号と、該第1の制御信号をゲート入
力とし、ソースを電源に接続した第1の電界効果トラン
ジスタと、ドレインを第1の節点に接続し、アドレス信
号をゲート入力とし、ソースを接地レベルとした第2の
電界効果トランジスタと、第1の節点を入力する第1の
インバータと第1のインバータの出力をドレうに接続し
、ゲートを電源に接続した第3の電界効果トランジスタ
と、第2の節点と、第2の節点をソースに接続し、第2
の制御信号をドレインに入力し、第、3の電界効果トラ
ンジスタのソースをゲートに接続した第4の電界効果ト
ランジスタと、第2節点と接線された第1のワード線と
、第1のワード線が冗長回路で置換されているかどうか
を判定。
節点と第1の制御信号と、該第1の制御信号をゲート入
力とし、ソースを電源に接続した第1の電界効果トラン
ジスタと、ドレインを第1の節点に接続し、アドレス信
号をゲート入力とし、ソースを接地レベルとした第2の
電界効果トランジスタと、第1の節点を入力する第1の
インバータと第1のインバータの出力をドレうに接続し
、ゲートを電源に接続した第3の電界効果トランジスタ
と、第2の節点と、第2の節点をソースに接続し、第2
の制御信号をドレインに入力し、第、3の電界効果トラ
ンジスタのソースをゲートに接続した第4の電界効果ト
ランジスタと、第2節点と接線された第1のワード線と
、第1のワード線が冗長回路で置換されているかどうか
を判定。
記憶する第1の回路と、ドレインを第2節点と接続し、
ソース接地レベルとする第5の電界効果トランジスタと
、第5の電界効果トランジスタのゲートに接続される出
力信号をもち、第5のトランジスタのオン、オフを制御
する第2の回路とを有する。
ソース接地レベルとする第5の電界効果トランジスタと
、第5の電界効果トランジスタのゲートに接続される出
力信号をもち、第5のトランジスタのオン、オフを制御
する第2の回路とを有する。
以上説明したように、本発明はワード線とビット線が短
終して不良となり、リダンダンシーで置換されたワード
線があった場合、リダンダンシーで置換されているかど
うかを判定し、判定出力を保持する回路の出力信号で、
不良ワード線を例えばドレインに接続し、ソースを例え
ば接地レベルとしたトランジスタをスタンバイ時にオフ
させることにより、スタンバイ時に不良ワードと不良ビ
ット線の短終部を通して流れる定常電流を低減する効果
がある。
終して不良となり、リダンダンシーで置換されたワード
線があった場合、リダンダンシーで置換されているかど
うかを判定し、判定出力を保持する回路の出力信号で、
不良ワード線を例えばドレインに接続し、ソースを例え
ば接地レベルとしたトランジスタをスタンバイ時にオフ
させることにより、スタンバイ時に不良ワードと不良ビ
ット線の短終部を通して流れる定常電流を低減する効果
がある。
第1図は本発明の第1実施例の半導体メモリの行デコー
ダ回路を示す回路図、第2図は第1図の回路のタイミン
グ図、第3図は本発明の第2の実施例の一部を示す回路
図、第4図は第3図の回路のタイミング図、第5図は本
発明の第3の実施例の一部を示す回路図、第6図は従来
例を示す回路図、第7図は第6図の回路のタイミング図
である。 図中、Q1〜Q34・・・電界効果トランジスタ、■1
〜Ill・・・インバータ、N1〜N4・・・ナンド、
φl〜φX・・・アドレス信号、WLO〜WL3・・・
ワード線、NVI〜NV7・・・節点。
ダ回路を示す回路図、第2図は第1図の回路のタイミン
グ図、第3図は本発明の第2の実施例の一部を示す回路
図、第4図は第3図の回路のタイミング図、第5図は本
発明の第3の実施例の一部を示す回路図、第6図は従来
例を示す回路図、第7図は第6図の回路のタイミング図
である。 図中、Q1〜Q34・・・電界効果トランジスタ、■1
〜Ill・・・インバータ、N1〜N4・・・ナンド、
φl〜φX・・・アドレス信号、WLO〜WL3・・・
ワード線、NVI〜NV7・・・節点。
Claims (1)
- リダンダンシーで置換されているかどうかを判定しその
判定された出力信号を保持する第1の回路と、前記第1
の回路の出力信号を判定して、一主極をワード線に接続
し他主極を接地レベルとするトランジスタが前記リダン
ダンシーで置換されていなければ、デコーダの非活性化
時にオン、活性化時にオフさせ、前記リダンダンシーで
置換されていればスタンバイ時にオフ、アクティブ時に
オンさせる第2の回路とを設けたことを特徴とする半導
体メモリの行デコーダ回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2279747A JPH04155692A (ja) | 1990-10-18 | 1990-10-18 | 半導体メモリの行デコーダ回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2279747A JPH04155692A (ja) | 1990-10-18 | 1990-10-18 | 半導体メモリの行デコーダ回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04155692A true JPH04155692A (ja) | 1992-05-28 |
Family
ID=17615342
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2279747A Pending JPH04155692A (ja) | 1990-10-18 | 1990-10-18 | 半導体メモリの行デコーダ回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04155692A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08102529A (ja) * | 1994-09-30 | 1996-04-16 | Nec Corp | 半導体記憶装置 |
| WO2004077444A1 (ja) * | 2003-02-27 | 2004-09-10 | Fujitsu Limited | 半導体記憶装置及びそのリフレッシュ方法 |
| US7239548B2 (en) | 2004-12-24 | 2007-07-03 | Spansion Llc | Method and apparatus for applying bias to a storage device |
| JP2007257707A (ja) * | 2006-03-22 | 2007-10-04 | Elpida Memory Inc | 半導体記憶装置 |
-
1990
- 1990-10-18 JP JP2279747A patent/JPH04155692A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08102529A (ja) * | 1994-09-30 | 1996-04-16 | Nec Corp | 半導体記憶装置 |
| WO2004077444A1 (ja) * | 2003-02-27 | 2004-09-10 | Fujitsu Limited | 半導体記憶装置及びそのリフレッシュ方法 |
| US7248525B2 (en) | 2003-02-27 | 2007-07-24 | Fujitsu Limited | Semiconductor memory device and refresh method for the same |
| US7580308B2 (en) | 2003-02-27 | 2009-08-25 | Fujitsu Microelectronics Limited | Semiconductor memory device and refresh method for the same |
| US7675801B2 (en) | 2003-02-27 | 2010-03-09 | Fujitsu Microelectronics Limited | Semiconductor memory device and refresh method for the same |
| US7764560B2 (en) | 2003-02-27 | 2010-07-27 | Fujitsu Semiconductor Limited | Semiconductor memory device and refresh method for the same |
| US7239548B2 (en) | 2004-12-24 | 2007-07-03 | Spansion Llc | Method and apparatus for applying bias to a storage device |
| JP2007257707A (ja) * | 2006-03-22 | 2007-10-04 | Elpida Memory Inc | 半導体記憶装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6519192B2 (en) | Semiconductor memory device having a large band width and allowing efficient execution of redundant repair | |
| US6449199B2 (en) | Semiconductor memory device with improved flexible redundancy scheme | |
| TW588358B (en) | Semiconductor memory device and its refreshing method | |
| US5590085A (en) | Column redundancy device for semiconductor memory | |
| US6175533B1 (en) | Multi-port memory cell with preset | |
| CN110890118B (zh) | 半导体存储器装置和具有其的存储器系统 | |
| US5751643A (en) | Dynamic memory word line driver | |
| US20120287741A1 (en) | Semiconductor storage | |
| JP2778234B2 (ja) | 冗長デコーダ回路 | |
| JPH09120682A (ja) | 半導体メモリ装置 | |
| TWI653635B (zh) | 修復電路及包含該修復電路的半導體記憶體裝置 | |
| KR20000071561A (ko) | 반도체 기억 장치 | |
| JP2001325794A (ja) | 半導体記憶装置 | |
| JPH087595A (ja) | 読み出しモードにおける寄生を減じた、特にメモリ冗長回路用の不揮発性でプログラム可能な双安定マルチバイブレータ | |
| US5696716A (en) | Programmable memory element | |
| JPH04155692A (ja) | 半導体メモリの行デコーダ回路 | |
| US9685225B2 (en) | Semiconductor storage device for controlling word lines independently of power-on sequence | |
| JP2010182365A (ja) | アンチヒューズ回路及び半導体記憶装置 | |
| JPH0746508B2 (ja) | ワード・デコード回路 | |
| US6741493B1 (en) | Split local and continuous bitline requiring fewer wires | |
| JPH1027475A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
| US20060176743A1 (en) | Write driver circuit for memory array | |
| JPH08279299A (ja) | 半導体集積回路および半導体メモリ | |
| US11289154B2 (en) | Circuit and method of writing to a bit cell | |
| JPS5846175B2 (ja) | プログラム可能回路 |