JPH04157315A - 直線位置検出装置 - Google Patents
直線位置検出装置Info
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- JPH04157315A JPH04157315A JP27911490A JP27911490A JPH04157315A JP H04157315 A JPH04157315 A JP H04157315A JP 27911490 A JP27911490 A JP 27911490A JP 27911490 A JP27911490 A JP 27911490A JP H04157315 A JPH04157315 A JP H04157315A
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Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
係り、特に磁気抵抗変化を出力交流信号の電気的位相角
の変化として検出する位相シフト方式の直線位置検出装
置に関する。
トランスが従来からよく知られている。
め、外乱による影響を受けて誤差を生じ易いという欠点
がある0例えば、温度変化の影響を受けてコイルの抵抗
が変化し、これによって検出信号レベルが変動したり、
また、検出器からその検出信号を利用する回路までの信
号伝送路におけるレベルの減衰量がその伝送距離によっ
てまちまちであり、さらに、ノイズによるレベル変動が
そのまま検出誤差となって顕れてしまうなどといった欠
点を有している。
動に影響されることな(正確に直線位置を検出すること
のできる位相シフト方式の直線位置検出装置を先に提案
している(実開昭57−135917号公報、実開昭5
8−136718号公報又は実開昭59−175105
号公報等)。
第6図を用いて説明する。
出するものであり、ボビン63に収納されたコイルアン
センブリと、このボビン63内に直線移動可能に挿入さ
れたロッド62とから構成される。
個のコア65と、各コア65の間に設けられた非磁性体
のスペーサ66と、これらコア65及びスペーサ66の
周囲を覆うスリーブ67とから構成される。コア65と
スペーサ66は所定のピッチPで繰り返し設けられてお
り、例えばそれぞれの軸方向の長さはP/2 (Pは任
意の値)であり、1ピッチPの磁気目盛りを構成してい
る。
で形成された樹脂製のボビン63の各溝に巻回された4
個の1次コイルA、B、C,Dと、これに対応して設け
られた2次コイルa、b、c。
る円筒ケース64に収納されている。
位置関係に応じて、各コイルには大きさの異なる磁気抵
抗が生じる。それは、1次コイルBの中心が1次コイル
Aに対してrp(n−1/4)」だけ右方向にずれてお
り、1次コイルCの中心が1次コイルAに対してr P
(n −2/ 4 ) Jだけ右方向にずれており、
1次コイルDの中心が1次コイルAに対してr P (
n −3/ 4 ) Jだけ右方向にずれているからで
ある。ここで、nは任意の自然数である。
り部は、コイルの磁気回路に生ゼしめる磁気抵抗が三角
関数状に変化するように寸法及び形状を定めることがで
きる。ここで、コア65の繰り返しピッチ「P」を位相
角で2πとすると、軸方向の長さ[’/4Jは位相角で
π/2に対応する。従って、第6図のようにコイルの中
心がスペーサ66の中心に位置するような1次コイルA
に生じる磁気抵抗の大きさがαsinθ(αは磁気抵抗
変化係数、θはコア65の直線位置に対応する位相)の
割合で変化するものと仮定すると、1次コイルB、C,
Dに生じる各磁気抵抗の太きさはそれぞれαcosθ、
−αsinθ、−αCosθの割合で変化するようにな
る。
構成が異なる他は第6図のものと同じ構成である。第7
図の位置検出器71が第6図のものと異なる点は、1次
コイルAと1次コイルCと。
/4)Jの間隔で隣合って設けられている点である。
ト方式によって出力信号を得るには、互いに磁気抵抗変
化が逆相である1次コイルA、 Cを共通の1次交流信
号(例えば正弦波信号)によって励磁して2次コイルa
、Qから差動出力を得る。同じく互いに磁気抵抗変化が
逆相である1次コイルB、Dも共通の1次交流信号(例
えば余弦波信号)によって励磁して2次コイルb、dか
ら差動出力を得る。その結果、各2次コイルa、Q。
、コア65 (75)の直線位置(1ピッチ内の直線変
位′I&)に応じた位相角θだけ1次交流信号の電気角
を位相シフトした2次信号出力が得られる。
62(72)の各コア65 (75)が所定の形状に完
全に同一に加工され、また各スペーサ66 (76)も
同サイズに形成され、さらに、コイルアンセンブリの各
コイルの抵抗値及びインダクタンス値も完全に同一であ
る場合に、理論的に検出誤差のない位置検出を行うこと
ができる。
出器を製作した場合、製造誤差によって。
た形状となり、またスペーサの間隔にもずれが生じ、各
コイルに対して生じる磁気抵抗変化にもバラツキが生じ
る。また、各1次及び2次コイルの抵抗値及びインダク
タンス値も完全に同一とはならずにそれぞればらついた
値となる。このようなロッド62 (72)における磁
気目盛り部の形状の相違から生じる誤差をロッド誤差(
もしくは目盛り誤差)といい、コイルの特性の相違から
生じる誤差をヘッド誤差という。
ンブリの軸方向における長さをピッチPの2倍から3倍
(2P〜3P)の範囲に設定すると、コイルアンセンブ
リ内に3〜4個のコアが存在することとなり、各1次コ
イルA、B、C,Dに対して磁気抵抗変化を生じさせる
コア65(75)の組み合わせが各コイル間で異なる。
ぞれの1次コイルA、B、C,Dに生じる磁気抵抗変化
がロッド誤差の影響を受けてばらつくために、位置検出
精度が大きな誤差を有することになる。
出装置を構成するロッドの形状の相違から生じるロッド
誤差を抑制することのできる直線位置検出装置を提供す
ることを目的とする。
磁される1次コイルを少なくとも有するコイル部と、こ
のコイル部に対して相対的に直線変位可能に設けられ、
この直線変位に伴って前記コイル部の磁気回路における
磁気抵抗が変化するように、直線変位方向に沿って設け
られた磁気目盛り部と、この磁気目盛り部と前記コイル
部との間の相対的位置関係によって生じる前記コイル部
の磁気回路の磁気抵抗変化に基づき、前記磁気目盛り部
の位置を示すデータを前記コイル部から取り出す位置検
出精度とを具備し、前記コイル部を前記目盛り部の目盛
りの1ピッチ内に設けたことを特徴とするものである。
設けられているので、磁気抵抗の変化に関与する磁気目
盛り部の目盛りがコイル部に対して1個だけ存在するよ
うになる1位置検出回路は磁気目盛り部の1個の目盛り
とコイル部との間の相対的位置関係によって生じるコイ
ル部の磁気回路の磁気抵抗変化に基づき、磁気目盛りの
位置を示すデータを取り出している。従って、磁気目盛
り部に製造誤差が存在し、磁気目盛り部の形状等が完全
に同一でなくても、本発明の直線位置検出装置はコイル
部内に存在する1個の目盛りに対しては正確な位置を検
出することが可能となり、検出精度を大幅に向上するこ
とができる。
。
出するものであり、ボビン13に収納されたコイルアン
センブリと、このボビン13内に直線移動可能に挿入さ
れたロッド12とから構成される1本実施例の特徴は、
磁性体部15と非磁性体部16の交互配列における1ピ
ッチ分の間隔rPJ内にコイルアンセンブリを構成する
コイル部が配電されていることである。
の周囲の軸方向に交互に設けられた所定幅のリング状の
非磁性体部16とからなる磁気目盛り部17を具備して
いる。この磁性体部15と非磁性体部16とはコイルア
ンセンブリに形成された磁気回路に対して磁気抵抗の変
化を与えるような構成になっていればどのような材質の
もので構成してもよい9例えば、非磁性体部16を非磁
性体又は空気等で構成してもよい、また、鉄製のロッド
12にレーザ焼き付けを行うことにより。
なる磁性体部15と非磁性体部16とを交互に形成する
ようにしてもよい。
ッチ分の間隔は「P」である。その場合、例えば、磁性
体部15と非磁性体部16の長さは等しく rP/2」
であってもよいし、また、必ずしも等しくなくてもよい
。
で形成された樹脂製のボビン13の弁溝に巻回された4
個の1次コイルIA、IB、IC。
c、ldとから構成される。ボビン13は鉄等の磁性体
からなる円筒ケース14に収納されている。
15及び非磁性体部16の相対的位置関係に応じて、各
コイルには大きさの異なる磁気抵抗が生じる。それは、
1次コイルIDが1次コイルIAに対してrP/4Jだ
け右方向にずれており、1次コイルICが1次コイルI
Aに対して12P/4ノだけ右方向にずれており、1次
コイルIDが1次コイルIAに対してr3P/4Jだけ
右方向にずれているからである。
ッチrPJを位相角で2πとすると、軸方向の長さrP
/4Jは位相角でπ/2となる。
sinθ(αは磁気抵抗変化係数、θはコイルと磁性体
部15(非磁性体部16)との間における直線位置を示
す位相角)の割合で変化するものと仮定すると、1次コ
イルIB、IC,10に生じる各磁気抵抗の大きさはそ
れぞれαcosθ、−αsinθ、−αcosθの割合
で変化するようになる。
コイルIA、IB、Ic、IDは4相で動作するように
構成されいる。各1次コイルIA。
dの軸方向における長さは、それぞれ「P/4」以下で
ある。
イルにおける磁気回路のりラフタンスが距離rPJを一
周期として周期的に変化し、しかもそのリラクタンス変
化の位相が各コイル毎に90度(π/2)ずつずれるよ
うにすることができる、従って、1次コイルIAとIC
とでは180度(π)だけずれており、1次コイルID
とIDとでも180度(π)だけずれている。
、lb、lc、ldの結線形式を第2図に示す。第2図
において、1次コイルIA及びICは正弦信号sinω
tで互いに逆相に励磁され。
に結線されている。同様に、1次コイルIB及びIDは
余弦信号cosωtで互いに逆相に励磁され、2次コイ
ル1b及び1dの出力は同相で加算されるように結線さ
れている。2次コイルla、lb、lc、ldの出力は
最終的に加算され、出力信号Yとして位相差検出回路2
2に取り込まれる。
直線位置に応じた位相角θだけ基準交流信号(sinω
を又はQO8ωt)を位相シフトしたものとなる。その
理由は、各コイルのりラフタンスが90度(π/2)ず
つずれており、かつ一方の対(1次コイルIA、iC)
と他方の対(1次コイルIB、ID)の励磁信号の電気
的位相が90度ずれているためである。従って、出力信
号YはY=Ks i n ((1) を十〇)となる、
ここで、には定数である。
所定の比例係数(又は関数)に従って比例しているので
、出力信号Yにおける基準信号Sinωt(又はcos
ωt)からの位相ずれθを測定することにより直線位置
を検出することができる。但し5位相ずれ量θが全角2
πのとき、糞線位随は前述の1ピッチ分の距離rPJに
相当する。すなわち、出力信号Yにおける電気的位相ず
れ量θによれば、rPJの範囲内でのアブソリュートな
直線位置が検出できるのである。この電気的位相ずれ量
θを測定することによって、rPJの範囲内の直線位置
をかなりの高分解能で精度よく割り出すことが可能とな
る。
15と非磁性体部16に限らず、磁気抵抗変化を生せし
めることのできるその他の材質を用いてもよい0例えば
、銅等のように導電率の高い材質と鉄等のように導電率
の低い材質(非導電体でもよい)との組合せ(導電率の
異なる材質)により磁気目盛り部17を形成し、渦電流
損に応°じた磁気抵抗変化を生ぜしめるようにしてもよ
い。
良導電体のパターンを形成するようにしてもよい。パタ
ーンの形状等は磁気抵抗の変化を効率よく生せしめるも
のであれば、いかなる形状のものでもよい。
との位相ずれ量θを求めるための手段は適宜に構成する
ことができる。第2図はこの位相ずれ量θをデジタル量
で求めるようにした回路例を示す図である。特に5図示
しないが、積分回路を用いて基準交流信号sinωtと
出力信号Y=Kgin (ωt+θ)との0位相の時間
差分を求めることにより、位相ずれ量θをアナログ量で
求めることもできる。
tと余弦信号QO8ωtを発生する回路であり、位相差
検出回路22は位相ずれ量θを測定するための回路であ
る。
がカウンタ24でカウントされる。カウンタ24は例え
ばモジュロM (Mは任意の整数)であり、そのカウン
ト値がレジスタ45に与えられる。カウンタ24の4/
M分周された出方からは、クロックパルスCPを4/M
分周したパルスPcが取り出され、1/2分周用のフリ
ップフロップ25のC入力に与えられる。
bはフリップフロップ29に加わり、傘Q (Qの前の
傘は反転出力を意味する)出方から出力されたパルスP
aはフリップフロップ26に加わり、これらフリップフ
ロップ26及び29の出力がローパスフィルタ27.4
0及び増幅器28.41を介して、正弦信号sinωt
と余弦信号aosωtとして、コイルアンセンブリの各
1次コイルIA、IB、IC,IDに供給される。
nωt、cosωtの2πラジアン分の位相角に相当す
る。すなわち、カウンタ23の1カウント値は2π/M
ラジアンの位相角を示している。
増幅器42を介してコンパレータ43に加わり、出力信
号Yの正・負極性に応じた方形波信号がコンパレータ4
3から出力される。このコンパレータ43の出力信号の
立ち上がりに応答して立ち上がり検出回路44からパル
スTsが出力され、このパルスTsに応じてカウンタ3
4のカウント値をレジスタ45に書き込む。その結果。
取り込まれる。これによって、シリンダロッド12の直
線位置をアブソリュートで、しかも高精度に検出するこ
とが可能となる。
が付しであるので、その説明は省略する。
、ボビン37の両端の溝にダミー用の1次コイルQC,
00,OA、IBを巻回している点である。すなわち、
1次コイルLAの左側にはダミー用の1次コイルOD及
びOCが、1次コイルIDの右側にはダミー用の1次コ
イルOA及びOBがそれぞれ設けられている。
A及びICを有し、1次コイルlCは両側に1次コイル
IB及びLDを有しているが、1次コイルIAの左側と
1次コイルIDの右側にはそのようなコイルを有しない
ため、各コイル間の磁気バランスが悪くなり、それが検
出誤差として現れる。そこで、本実施例ではコイルアン
センブリにダミー用の1次コイルを設け、磁気バランス
を補正している。なお、ダミー用1次コイルの外側に2
次コイルla、lb、lc、ldの出力とは直接関係な
いダミー用の2次コイルを設けてもよい。
a = 1 dの結線形式は第2図と同様にする。
に直列に接続し、1次コイルOCとIA、1AとIC,
ICとOAが互いに正弦信号sinωtで逆相に励磁さ
れるように結線する。同様に、1次コイルOD、IB、
ID、OBも順番に直列に接続し、1次コイルODとI
B、IBとID、IDとOBが互いに余弦信号e08ω
tで逆相に励磁されるように結線する。2次コイル1a
〜1dは順番に直列に接続され、その出力が同相で加算
されるように結線されている。従って、2次コイル18
〜1dの出力は最終的に加算され、出力信号Yとして位
相差検出回路22に取り込まれる。
が付しであるので、その説明は省略する。
る。
、磁性体部15と非磁性体部16の交互配列における1
ピッチrPJ内に設けられたコイルアンセンブリをロッ
ド12の軸方向に複数個設け、その両端にダミー用1次
コイルを設けた点である。
〜ID及び2次コイル18〜1dの他に。
ッチrPJ内に配置された1次コイル2A〜2D、3A
〜3D、2次コイル2a〜2d、3a〜3d及びダミー
用1次コイルOA〜ODをそれぞれ有している。1次コ
イルIA〜IDと2次コイル18〜1dとで第1の位置
検出器を、1次コイル2A〜2Dと2次コイル2a〜2
dとで第2の位置検出器を、1次コイル3A〜3Dと2
次コイル38〜3dとで第3の位置検出器を構成してい
る。すなわち、本実施例の位置検出器41は、第1図の
位置検出器11がロッド12の軸方向に3個設けられた
構成である。
ー用1次コイルOA〜OD及び2次コイルl a 〜1
d 、 2 a 〜2 d 、 3 a 〜3 d結
線形式は第3図と同様にする。すなわち、1次コイルO
C,IA、IC,2A、2G、3A、3C,OAを順番
に直列に接続し、1次コイルOCとIA、IAとIC1
ICと2A、2Aと2C12Cと3A、3Aと3C13
CとOAが互いに正弦信号Sinωtで逆相に励磁され
るように結線する。同様に、1次コイルOD、IB、L
D、2B、2D。
DとIB、IBとID、IDと2B、2Bと2D、2D
と3B、3Bと3D3DとOBが互いに余弦信号CO8
ωtで逆相に励磁されるように結線する。2次コイル1
8〜ld、2a〜2d。
加算されるように結線されている。従って。
は最終的に加算され、出力信号Yとして位相差検出回路
22に取り込まれる。
って、第1、第2及び第3の位置検出器で検出されたロ
ッド誤差が平均化され、ロッド誤差の減少した出力信号
Yを位相差検出回路22に出力することが可能となる。
が付しであるので、その説明は省略する。
る。
、磁性体部15と非磁性体部16の交互配列における1
ピッチ「PJ内に6個の1次コイルと2次コイルを設け
、この1次コイルを3相の交流信号で励磁し、それをロ
ッド12の軸方向に複数個設け、その両端にダミー用1
次コイルを設けた点である。
部16の交互配列における1ピッチrPJ内に1次コイ
ルIA〜IF及び2次コイル18〜1fを有し、同様に
1次コイル2A〜2F及び2次コイル2a〜2fも1ピ
ッチ内に有している。
1次コイルICは1次コイルIAに対してr2P/6J
、1次コイルIDは1次コイルIAに対してr3F/
6」、1次コイルIEは1次コイルIAに対して「4P
/6J、1次コイルIFは1次コイルIAに対してr5
P/6Jだけ右方向にずれている。
の位置検出器を、1次コイル2A〜2Fと2次コイル2
8〜2fとで第2の位置検出器をそれぞれ構成している
。すなわち1本実施例の位置検出器51は、3相励磁さ
れる位置検出器がロッド12の軸方向に2個設けられた
構成である。
ルOA〜OF及び2次コイル1a〜1f。
コイ/L10D、LA、LD、2A、2D、OAを順番
に直列に接続し、1次コイルODとIA、IAとID、
LDと2A、2Aと2D、2DとOAを互いに正弦信号
sinωtで逆相に励磁されるように結線する。同様に
、1次コイルOE、IB、IE、2B、2E、OBを順
番に直列に接続し、1次コイルOEとIB、IBとIE
、IEと2B、2Bと2E、2EとOBが互いに正弦信
号sin (ωを一π/3)で逆相に励磁されるように
結線し、1次コイルOF、IC,IF、2C。
C1ICとlF、IFと2C12Cと2F、2FとOC
が互いに正弦信号sin (ωt−2π/3)で逆相に
励磁されるように結線する。2次コイル1a〜if、2
a〜2fは順番に直列に接続され、その出力が同相で加
算されるように結線されている。従って、2次コイル1
a〜1f、2a〜2fの出力は最終的に加算され、出力
信号Yとして位相差検出回路22に取り込まれる。
力信号を加算して出力することによって。
均化され、ロッド誤差の減少した出力信号Yを位相差検
出回路22に出力することが可能となる。また、第5図
の実施例のように1次コイルを3相励磁することによっ
て、高調波成分の誤差を減少することができる。
の場合について説明したが、これに限らす2相、3相、
その他の相数で構成することも可能である。
合について説明したが、ロッドの動きに連動するような
位置に別途形成してもよい。
てsinθ又はCOSθ等のりラフタンス変化をもたら
すものであればよい。
の相違から生じるロッド誤差を抑制することができ、位
置検出精度を大幅に向上することが可能となる。
す図、 第2図は第1図の直線位置検出装置からの検出信号を位
置信号に変換する位置変換手段の構成を示す図、 第3図は本発明の直線位置検出装置の第2の実施例を示
す図。 第4図は本発明の直線位置検出装置の第3の実施例を示
す図。 第5図は本発明の直線位置検出装置の第4の実施例を示
す図、 第6図及び第7図は従来の直線位置検出装置の構成を示
す図である。 11.36,41.51・・・位置検出器、12・・・
ロッド、13・・・ボビン、14・・・円筒ケース、1
5・・・非磁性体部、16・・・磁性体部、17・・・
磁気目盛り部 特許出願人 株式会社 ニスジー 代 理 人 弁理士 飯塚 義仁
Claims (7)
- (1)所定の交流信号により励磁される1次コイルを少
なくとも有するコイル部と、 このコイル部に対して相対的に直線変位可能に設けられ
、この直線変位に伴って前記コイル部の磁気回路におけ
る磁気抵抗が目盛りの1ピッチを1サイクルとして周期
的に変化するように、直線変位方向に沿って複数ピッチ
の目盛りを設けてなる磁気目盛り部と、 この磁気目盛り部と前記コイル部との間の相対的位置関
係によって生じる前記コイル部の磁気回路の磁気抵抗変
化に基づき、前記磁気目盛り部の位置を示すデータを前
記コイル部から取り出す位置検出回路とを具備し、 前記コイル部を前記目盛り部の目盛りの1ピッチ内に設
けたことを特徴とする直線位置検出装置。 - (2)前記コイル部が、それぞれ位相のずれた複数の基
準交流信号によって個別に励磁される複数の1次コイル
と、 この1次コイルの励磁によって前記基準交流信号の前記
相対的位置に応じて位相シフトされた出力信号を発生す
る複数の2次コイルとを有するものであることを特徴と
する請求項1に記載の直線位置検出装置。 - (3)前記目盛り部の目盛りの1ピッチ内に設けられた
前記コイル部を直線変位方向に複数個設けたことを特徴
とする請求項1に記載の直線位置検出装置。 - (4)前記1次コイルの直線変位方向の両側にダミー用
の1次コイルを有することを特徴とする請求項1に記載
の直線位置検出装置。 - (5)前記位置検出回路が、位相のずれた複数の基準交
流信号によって前記各1次コイルを個別に励磁する回路
と、前記各1次コイルに対応する2次コイルの出力を合
計して、前記磁気目盛り部の相対的直線位置に従って前
記基準交流信号を位相シフトした出力信号を発生する出
力回路と、前記基準交流信号の所定の1つと前記出力回
路からの出力信号との位相差を検出し、検出した位相差
データを前記磁気目盛り部の位置データとして出力する
回路とを有するものであることを特徴とする請求項2に
記載の直線位置検出措置。 - (6)前記磁気目盛り部は透磁率の異なる2種類の材質
の繰り返しからなることを特徴とする請求項2に記載の
直線位置検出装置。 - (7)前記磁気目盛り部は導電率の異なる2種類の材質
の繰り返しからなることを特徴とする請求項2に記載の
直線位置検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2279114A JP3030651B2 (ja) | 1990-10-19 | 1990-10-19 | 直線位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2279114A JP3030651B2 (ja) | 1990-10-19 | 1990-10-19 | 直線位置検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04157315A true JPH04157315A (ja) | 1992-05-29 |
| JP3030651B2 JP3030651B2 (ja) | 2000-04-10 |
Family
ID=17606617
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2279114A Expired - Lifetime JP3030651B2 (ja) | 1990-10-19 | 1990-10-19 | 直線位置検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3030651B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003513262A (ja) * | 1999-11-04 | 2003-04-08 | エリオット インダストリーズ リミテッド | 誘導位置検出装置 |
| WO2013014991A1 (ja) * | 2011-07-22 | 2013-01-31 | 村田機械株式会社 | 磁気式変位センサと変位検出方法 |
-
1990
- 1990-10-19 JP JP2279114A patent/JP3030651B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003513262A (ja) * | 1999-11-04 | 2003-04-08 | エリオット インダストリーズ リミテッド | 誘導位置検出装置 |
| WO2013014991A1 (ja) * | 2011-07-22 | 2013-01-31 | 村田機械株式会社 | 磁気式変位センサと変位検出方法 |
| JP2013024779A (ja) * | 2011-07-22 | 2013-02-04 | Murata Mach Ltd | 磁気式変位センサと変位検出方法 |
| TWI507662B (zh) * | 2011-07-22 | 2015-11-11 | Murata Machinery Ltd | Magnetic displacement sensor and displacement detection method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3030651B2 (ja) | 2000-04-10 |
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