JPH04158209A - 放射線厚さ計及び放射線を用いた厚さ測定方法 - Google Patents

放射線厚さ計及び放射線を用いた厚さ測定方法

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JPH04158209A
JPH04158209A JP28404190A JP28404190A JPH04158209A JP H04158209 A JPH04158209 A JP H04158209A JP 28404190 A JP28404190 A JP 28404190A JP 28404190 A JP28404190 A JP 28404190A JP H04158209 A JPH04158209 A JP H04158209A
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JP
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signal
radiation
time
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pressure
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JP28404190A
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Yasushi Nakamura
靖 中村
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Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は物体を透過した後の透過放射線の線量りもとづ
−・て前記物体の厚ざを測定するようにした放射好厚さ
計及び放射線を用いた厚さ測定方法。
轡に、放射−卓さ計の製作及び保守の容易化を図ること
のできる厚さ計ならびF゛厚さ測定方法に関する。
〔従来の技術〕
第3図は従来の放射線厚さ計1の構成図である。
図において、24線#谷器3/2:収容された放射線源
、44@77、2 ′に対して所定の間隔Gを有する測
定空所5を介して対向配置され尭かつl源2が放射する
放射a2aを検出して検出した放射#2mの線量に応じ
た第1検出信号4aを出力するようでした放射線検出器
、6は検出信号4aを電圧信号に変換しかつ増幅して前
記線fに比例した電圧Eを有する第2検出信号6aとし
て出力するようにしたプリアンプで、7は検出器4とア
ンプ6とを固定的に取り付けた取付枠である。8は線源
2と検出器4とが上述の関係配置を保持するように容器
3と取付枠7とを固定した架台、9は上述の放射線源2
乃至架台8からなる放射線検出部、1が工検出信号6a
が入力され、かつ信号6aが表す電圧値E/c対して後
述する記憶並びに演算を行って空所5で図示したように
挿入された紙状または板状の被測定#!111の厚さX
を表す厚さ信号1がを出力するよう(した信号処理部で
、放射線厚さ計1は上述した噴出部9と処理部1oとで
構成されている。
厚さ計1は上述のように構成されており、この結果被測
定物11に入射した放射線2aは該被測定物11の厚さ
Xに応じて減衰して放射線検出器4(入射するので、測
定空所57(被測定物11が挿入された状態で検出信号
6aが呈する電圧Eの値Bx)x(2)式右辺のように
表され、ここに、E。
は被測定物11の厚さXが零である場合、つまり空所5
に被測定物11が挿入され℃いない場合の電圧Eの値で
、UI!Iは被測定物11の放射線2a#c対する吸収
係数、 Dt!1は被測定物11の密度である。
Ex=E0−eXp(−Uffl値Dm@x)・−・・
・・(4)ところが、(す式から6)式が導かれるので
、厚さ計1九音いては、予め5111疋iE’ i /
−訊nか埴−繊密fDmとが予め言号!6理部10(記
憶させられており、ヱた。空所5/C被−J11宕吻1
1が挿入されていない状態における時刻【3で処理部1
0に第1制御信号10bが入力されることによって該処
理e10が時刻【、における前記電圧値Eoを記憶し。
さらに、時刻【3よりも優の、空vr5に被測定物11
が挿入された状!!!九おける時刻【4で6浬部10に
第2制句信号10Cが入力されることによって。
処理部10が時刻【、において信号6aが呈する電圧E
の値Exと前記各記順値Um−Dm及びEoとを用いて
(5)式右辺の演算を行ってC9式左辺のXを表す上述
の厚さ信号10aを出力するよって該処理部10が構成
されている。故だ、厚さ計11Cよれば信号IQa/c
よって厚さXを測定することができることになる。
x=−(t/(UIt1@D−)I−tn(Ex/Eo
>−・−・C5)〔発明つ1解決しようとする課、頂〕 厚さ計1でおいCは上述のよってL℃厚さXの測定が行
われるが、この場合、放射線2aは実際Cは被測定物1
1中だけでなく空所5(存在する空気のような気体12
中でも−jtC衰して、この結果、上述した電圧値Eo
は、空所5に放射縁2aを減衰させる何物も存在しない
場合で信号61が呈する電圧Eの値を”0(1とし、か
つ気体12の放射#J2!に対する吸収係数なU□とし
、かつ前述の時刻t3における気体12の密度をDaと
して(0式で表されることになり、ここ(密度Daは経
時的に変化する量であるから、Eoを予め測定して決定
した定数として(ジ式右辺の演算を行って厚さXを求め
る厚さ測定方法lcは密度Daの経時変化にもとづ(測
定誤差が含まれることになる。
E、 =E0.・eXp(−Uae[)a@G〕…(1
)  −・・−、・((3)したがって、厚さ計1の場
合、厚さ信号l0a中r−Dユの経時変化にもとづく測
定誤差が生じないようにするためて、Exを測定する都
度事前に。
あるいはExの測定を中断してB、を測定しなければな
らないので、厚さ測定の作業が面倒であるという問題点
があり、このため、第4図のIRKを有する放射線厚さ
計13を採用することによつ℃上記の問題点を解決する
ことが従来性われている。
そうして、第4図/cSい1:、第3図と異なる所Vま
、間隔Gの測定空所5と全く同じ寸法構成の測定空所1
4ヶM己、かつこの空所14と空所5とが短で)くかつ
太い連通路で遅過ずるよって配置された第3図の放射l
@検出部9と全く同451に構成された放射線検出部1
5が検出部9のほか(投けられτいることと、第3図の
信号処理部lOのかわりに、検出部9が出力する検出信
号6aと噴出部15が出力する前記信号61(対応した
検出信号15aとが入力される信号処理部16が設けら
れていることで、この場合、空所14(は被測定物11
が挿入されないように放射線検出部15が構成されてい
るので、検出信号151は常時気体12の密度Daの経
時変化に応じた(51式左辺の電圧値E0を呈すること
になる。そうして、第4図でおいては、信号処理部16
が、信号61が常時呈する電圧値Exと信号15aが常
時呈する電圧値E、とを用いて(52式右辺の演算を行
って【5)式左辺のXを表す信号16aを出力するよう
に構成されていて。
放射@厚さ計131検出部9及び15と信号処理部16
とで構成されている。
厚さ計13は上述のよう(aCi5!されているので。
気体12の密度り、の変化(もとづ(誤差を含むことの
ない正確な厚さ測定を信号16a/cよって行い得るこ
とが明らかであるが、この厚さ計13の場合、検出B9
と同じ構成の放射線検出部が二組必要でありかつ検出部
9及び15を構成する放射線源2.#源容器3.放射線
検出器4及びブIJアンプ6はいずれも製作に面倒な作
業を要するため厚さ計13の構成が複雑で、この結果厚
さ計13の製作並び保守が容易でないという問題点があ
る。
本発明の目的#工、放射線検出部15のかわりに気体1
2の圧力と温度とを測定する圧力計と@置針とを用いる
ことによって厚さ計の構成を簡単にし、もって厚さ計の
j11昨並びに保守を容易で行うことができるようにす
ることにある。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的を達成するため1本発明によれば、放射線源と
、この放射4I源(対して所定の間隔Gを有する測定空
所を介して対向配電されかつ前記放射#源が放射する放
射縁を検出して検出した前記放射1nstic応じた第
1検出信号を出力する放射線検出器と、前記第1検出信
号を電圧信号に変涜しかつ増幅して前記線量に比例した
電圧Eを有する第2検出信号として出力するプリアンプ
と、前記測定空所における気体の圧力Pを検出して前記
圧力Pを表す圧力信号を出力する圧力計と。
前記測定空所における前記気体の絶対温度Tを検出して
前記絶対温度Tを表す温度信号を出力する温度計と、前
記第2横田信号と前記圧力信号と前記温度信号とが入力
され、かつ前記測定空所に被測定物が挿入されていない
伏!1における時刻t。
で第1制御信号が入力されることによつ℃前記時刻tI
Kおける前記第2検出信号の前記電圧Eの値Eoaと前
記時刻t、VCおける前記圧力信号が表す前記圧力Pの
値Pg1と前記時刻t、における前記温度信号が表す前
記絶対温度Tの値Taとを記憶し、かつ前記時刻t1よ
りも遅い時刻tよで第2制御信号が入力されることによ
つ″CmCm側1. [おける前記第2慣出信号の前記
電圧Eの!@Bxと前記時刻【、における前記圧力信号
が表す前記圧力Pの値Pbと前記時刻り、における前記
温度信号が表す前記絶対温度Tの値Tbと前記各記憶値
Eが゜Pa及びTaとを用いて(1)右辺辺の演算を行
ってこの演算結果のXを表す厚さ信号を出力する信号処
理部とを備え、前記厚さ信号によって前記測定空所(挿
入された前記被測定物の厚さXを測定する放射線厚さ計
であつ℃、ここに。
UIlfiは前記被測定物の前記放射!I(対する吸収
係数。
D、は前記被測定物の密度。
U8は前記気体の前記放射線に対する吸収係数。
Mは前記気体の分子量、 Bは普遍気体定数。
であるように放射線厚さ計を構成し。
!=−(1/(U!n@Dm) l−[tn(Ex/E
oa)+U、−((P b/Tb ) (P a/T 
a ) l・(M/R)・G〕・・・(1)また5本発
明によれば。
放射線源と、この放射線源に対して所定の間隔G?呵す
る測定空所を介して対向配電さnかつ前記放射線源が放
射する放射檜を検出して検出した前記放射線の@i[に
応じた第1検出信号を出力する放射1ilJ!検出器と
、=記第1慣出信号を電圧信号にf慣しかつ1繻して前
記a1/C比例した電圧Eを有する第2検出信号として
圧力するプリアンプと、前記測定空所における気体の圧
力Pを検出して前記圧力Pを表す圧力信号を出力する出
力計と。
前記測定空所における前記気体の絶対温度Tを検出して
前記絶対温度Tを表すa度信号を出力する温度計と、前
記圧力信号と前記温度信号とが入力され、かつ前記測定
空所に被測定物が挿入されていない状@における時刻t
、で第1制御信号が入力されることによって前記時刻t
、/cおける前記圧力信号が表す前記圧力Pの値PRと
前記時刻t。
における前記温度信号が表する前記絶対温度Tの値Ta
とを記憶し、かつ前記時刻を童よりも遅い時刻1.で第
2制御信号が入力されることによって前記時刻t1にお
ける前記圧力信号が表す前記圧力Pの値Pbと前記時刻
1tにおげろ前記温度信号が表す前記絶対温度Tの値T
bと前記各記憶櫃Pa及びTaとを用いて(2右方辺の
演算を行ってこの演算結果のΔDaを表す府芙変化信号
を出力する第1信号処理部と、前記第2恢呂信号と前記
密度変化信号とが入力され、かつ前記時刻【Iで前記第
1制呻信号が人カされることによって前記時刻【1/c
:F6げる前記第2検出信号の前記電圧Eの値Eoaを
記1し、かつ前記時刻1で前記第2制御信号が人力され
ることによって前記時刻t、 +における前記第2検出
信号の前記電圧Eのl1g、と前記時刻1以f4cおい
て前記密度変化信号が表す前記ΔDaと前記記憶値Fi
oaとを用いてG)右辺辺の演算を行ってこの演算結果
のXを表す厚さ信号を出力する第2信号処理部とを備え
、前記厚さ信号によって前記測定空所(挿入された前記
被測定物の厚さXを測定する放射線厚さ計であって。
ここ/c。
Mは前記気体の分子量。
Rは普遍気体定数。
Ulは前記被測定物の前記放射線に対する吸収係数。
Dmは前記被測定物のそ皇。
Uatヱ前記気体の前記放射線九対する吸収係数、であ
るように放射線源さ計をSaし。
ΔD a== ((Pb/Tb)−(Pl/T3 ) 
l ・(M/R) 囮・・C2>x= −(l/(Ur
naDff(1) l”(tn (Ex/E0.)+U
a@ΔDa@G1・・・・・・・・・ (3) さら(1本発明によれば。
放射′aTNと、この放射線検出器して所定の間隔Gを
有する測定空所を介して対向配置されかつ前記放射線源
が放射する放射線を検出して検出した前記放射線の線量
に応じた第1検出信号を出方する放射線検出器と、前記
第1検出信号を電圧信号に変換しかつ増幅して前記線量
に比例した電圧Eを有する第2検出信号として出力する
プリアンプとを備えた放射線検出srcおげろ前記測定
空所に挿入される被測定物の前記放射蕨九対する吸収係
数Uffiと前記被仰]定物の密度Dmと前記測定空所
における気体の前記放射線に対する吸収係数Uaとを測
定してそれぞれの測定値を記憶する第1手順と。
前記測定空所に前記被測定物が播入され℃いない伏僧に
ある場合の時刻【1における前記第2検出信号の前記電
圧Eの値E。aを記憶すると共に。
前記時刻監、での前記測定空所でおける前記気体の圧力
Pを測定して測定結果の圧力値Paを記憶しかつ前記時
刻1.での前記測定空所でおける前記気体の絶対@fT
を測定して測定結果のmtL値T値上1憶する第3手順
と。
前記時刻t1よりも遅い時刻t、でおける前記第2検出
信号の前記電圧Eの値Exを記憶すると共に、前記時刻
1での前記渭1定空所でおける前記気体の圧力Pを測定
して測定結果の圧力値Pbを記憶しかつ前記時刻t、で
の前記測定空所における前記気体の絶対温度Tを測定し
て測定結果の温度値Tbを記憶する第3手順と。
前記第1乃至第3手順で記憶した前記各記憶値Unn’
 Dffl”a’ E0a、Pa”r8. EX、Pb
及びTbを用いて(1)右辺辺の演1を行う第4手順と
からなり、前記第4手、頃の演算1笥果としての前記(
1)左辺辺1) xを前記g1釧定物の値さの測定値と
する放射線を牛−・た4さ測定方法であって、二二Il
c。
Uoは前記4vL測定物の前記放射線に対する吸収係数
DB rl FTo 4e a 、jIt i 物’3
 FJ! K、Uaは前」ピ気不ユリ躬4ピ放射Δて対
する吸収係数。
Mis前記気体の分子量。
Rは普遍気体定数 であるように放射組を用いた厚さ測定方法を構成する。
X = −+ 1/(Urn−D、 > l・Cl n
 (E x/E 。3 )+U 、 −[F’fi/T
o )−(Pa/Ta) 1・lid/R)−G:)−
・・= (1)〔作用〕 上記の;ウニ構成すると、 (23式と(31式とから
(1J式が得られることは明らかであり、また、CD式
が6)式/C2げろ這圧値E0の測定空所における気体
の!WitDaの変化にもとづく変化を考慮した式にな
っていることを後述のようにして証明することができる
ので、したがって、本発明によれば、いずれも表昨九面
倒な作業を要する放射線源2、線源容1s3.放射線検
出器4及びプリアンプ6を備えた上述1つ放射線検出部
150;不要で、この検出部15のD・わりに上記気体
の圧力と温度とを検出する圧力計と温度計とを用いるこ
とによって厚さ計の*成が簡単化されることでなるので
、WI局、本発明によれば厚ざ計の、a作並びに保守を
容易だ行うことができることになる。
〔実厖例〕
第1図は本発明(よる放射線厚さ計の一実施例17の構
成図で1本図においては、第3図におけるものと同じも
の(第3図の場合と同じ符号がつけである。
第1図において、18は測定空所5における気体12の
圧力Pを検出してこの圧力Pを表す圧力信号18a出力
するようにした圧力計、19は空所5における気体12
の絶対a度Tを検出してこの温IfTを表す温度信号1
9aを出力するようにしたm[計、20はプリアンプ6
6”−出力する第2検出信号6aと圧力信号18aと温
度信号19mと!11制御信20aと第2制御信号20
bとが入力され、これらの信号を用いて以下で説明する
信号fiF1行って出力信号20Cを出力するよってし
た信号処1部で、厚さ計17は放射線検出部9と圧力計
18と温度計19と信号処理部2oとでfR成されてい
る。
さ℃、厚3計17は上述のよ5+こ構成され℃いるので
、第2凍出信号6aが呈する前述の′亀王値Eo&工(
6)式で示したように気体12の密度Da に応じ℃変
化することになり、したかつ℃、今、測定空所5て被測
定物11が挿入されていない吠聾における時刻り、の時
!1匿Daがり、1で電圧E0がE。aであったとする
と(61式からfTJ式が得られ、また1時刻t。
よりも優の時刻りの時密度DaがDa□で電圧E0がE
。bであったとすると同じく(6)式から3)式が得ら
れるので、Da2””Dal+ΔDaとすると■式と侶
)式とから9)式が導かれる。
”oa=Eoo・exP(Ul・Da+”G)   =
=  (のEoo;”oo ” exP (Ul ・D
Bz・G )   ・−”=  (g)EOt) = 
Eg3 ’ eXp (−(J aaΔDJl’G) 
  −=  (9)故九、上述の時刻りで検出信号6a
が呈する電圧ED頃がExであったとすると、 T51
式のE。
が(9)式のE。bVC等しいとすること九よって、密
度Daf′)経時変化ΔDa紮考・献し゛・−仮測定物
11の1−vさXを正しく求めろ演1式(10)が得ら
れろことになろ。
χ=−11/(U、・Dカ))・tzn (F;、/E
o3)+U、 。
ΔD、−Gl四−・(y)) Lかろ(2、二こで1式体12o〕浬切気体であるとす
ると、Mを気体12の分子−,Rを*a気体定数として
、質tWの気体12つ1占めろg撰Vとこの気体12の
圧力及び温度P、Tとの間に川辺の(11)式の関係O
りあり2また上述の密度り、と誓1Wと@遺Vとの間y
r +x (12)式の関係があるので、(11)式と
(12)式とから(13)式が得もねる。
PV−W−(R/M)−T     囮−(値)D、 
= WlV         曲・・ (12)Da=
{P/T)−(M/R)    −・・−(13)した
がって、上述の時刻【、の時気体12の圧力及び履″v
:、がそれぞれP、 、 Taであったとし、また、上
述の時刻I、のJ#気坏12’JJ)圧力及び温度o1
; t”−ぞバPb、Tbであったと′しろと1時刻t
でJ〕密鮫I)3.と俄刻t2での漕寡D□、との上述
したi J D 3−D ;12 0al+S (13
)式(もユづ(・て(14)式び〕・よ5 に;’7 
”1ノ)で @ y) 〔x4)式ブ)ΔD3を(10
)式(代入するととによって(T5)式がイ尋らtt 
”:r :と江なろ。
ΔD、1(Pb/Tb)−(Pa、/T1口・(\(/
It、 )−(14)x=−値I((:、、・DIT(
1)l−[zn(Bx/Bo、)−+4J、−I(Ph
4b)−(Pl、Ir、 ) l−(M/R)−0J・
・・・(15) ところが、第1図/C第3いて1;、信号処理部2゜が
、上述1〕時刻1で該処理部2o九第1制釘信号203
つ)入力されろこと九よって、この時刻t。
rおける第2険出信号6aの電圧Eの値Iε。、と。
時刻【、に寸v;け石工力信号18aが表す爪体12勺
圧力PのrjiP、と、時刻t、 cおけろ温度信号1
9aが表す気体12の絶対温度Tの値゛raとな記憶し
、さらて、−上述の時刻t、で処理部2o/C第2制1
1111信号20F)つ;入力されろことてよって、こ
の処r3K・571) y予め肥!iaさせらh−(い
ろ上述の各物理iitUm、 [;1. ■指、 M及
びRと、時刻”1/jjrTける信号61の電圧Eの頭
F+Jxと1時刻暖、におけろ圧力信号182 ウ’1
表す圧力Pn値Pbと1時刻t。
(おけろ温度信号19aが畏す@IfTの値’rbと。
A?T述した処理部20における各記憶値E0□、P。
及びT1とを用いて(15)右辺辺の演算を行ってこの
償算萌果としての(L5)左辺辺のXを表す厚さ信号と
しての紡述の信号20Cを出力するように構成されてい
る。
したがって、厚さ計17(よれば、厚さ信号20CrC
よつ℃被測定物11の+9[さXを気体12の密度の変
化(もとづく誤差を含むことなく正しく測定することが
できろわけで、この厚さ計17の場合、−度処理部20
W:電圧値E、1.圧力値P□及び温度fiTaを記憶
させろと、以後、はぼ連続的に気体12の密IfD□の
経時変化(もとづく上記測定誤差を補償した厚さ信号2
0Cが得られることがと述した所から明らかであるから
、1マさ計17(よれば正確な厚さ測定を常時極めて容
易(行うことができること(なる、そうして、また、こ
の厚ご1117の場合、いずれもN1九面倒な作業なダ
する衣?1線挿2.線源容43.放剰線検出器4及びブ
11ア/プロを備えた上述の放射@噴出部15のかわり
(圧力計18と温度計19と髪用いろこと(よって′γ
さ計17つ壱祝う1上述した従来の1厚さ計13のF′
値Iay、よりも」単(なっていることが明らかである
から、厚さ計17の構成でよれば、該厚さ計の製作並び
【保守をまことに容易(行うことかでオること(なる。
第2図は木発明九よる第1図(示した!!楕例とは異な
る実施例として0放躬線厚さ計21の構成図で、木’;
;’+の第1図とりなる所は、圧力信号18aと温度信
号19aとが入力され、かつ−上述の時刻1tで第1制
仰信号20aが入力されろこと℃より℃この時刻【、に
おけろ信号18mが表す圧力値Paと時刻1.におけろ
信号19aが表すa#c傭Taとを記憶し、かつ上述の
時刻1で第2制匈信号2が)が入力されろこと(よって
この時刻1゜(おけろ信号18濡が表す圧力値Pbと時
刻【、−おけろ信号192が表す温度値TI、と前記の
各組Ta4i:jIVPa及びTaとを用いて(14)
右辺の演算を行りてこの演算結果のΔDaを表すお質変
化信号22aを出力する第11号処理部22と、第2検
出信号61と密度変化信号22aとが入力され、かつ時
刻値で第1制御信号20aが入力されることによってこ
の時刻E1における検出信号6aの電圧値goaを記憶
し、かつ時刻上、で第2制岬信号20bが入力されるこ
とによってこの時刻【!における信号6aの電圧値Ex
と時刻1以降において信号22aが表す密度変化量lD
aと前記紀l値Eoaとを用いて(10)右辺辺の演算
を行ってこの演算結果のXを表す厚さ信号231を出力
する第2信号処理部23とが、第1図の信号処理部20
のかわり(設けられていることで、厚さ計21ににいて
も、信号23mでよって被測定物11の厚さXを正確に
測定することができ、また、この場合厚さ計21の製昨
羞び(保守を容易に行い得ることは特(説明するまでも
なく明らかである。
〔発明の効果〕
上述したよう(2本発明においては。
放射線源と、この放射線源に対して所矩の間隔G?有す
る聾(定空所を介して対向配置されかつ放射嘘源〇−放
射する放射−を検出して検出した前記放射線の11で応
じた第1検出情号を吊刀する放射−検出器と、前記第1
検出儒号を一4圧信号(変ゆしかつ増感して前記線量に
比例した電圧Eを有する再2S:15信号として出力す
るプリアンプと。
演り定空所における気体の子方Pを検出して圧力Pを表
す圧力信号を出力する圧力計と、クリ定空所における前
記気体の絶対温度Tをゆ出して絶対温度Tを表す温度信
号を出力するH2計と、第2検出信号と圧力信号と温度
信号とが入力され、かつ測定空所に被測定物が挿入され
ていない状態における時刻【1で第1制御信号が入力さ
れることによつ1時刻【、ににける第2噴出信号の電圧
Eの値EI、aと時刻t1における圧力信号が表す圧力
Pの値P3と時刻【、における[Mlf信号が表す絶対
温度Tの値Taとを記憶し、かつ時刻t1よりも遅い時
刻1で第2制御信号が入力されろことてよって時刻t!
における第2慣出信号の電圧Eの値Exと時刻【。
におけろ圧力信号り;表す圧力Pの値Pbと時刻hにお
ける温【信号が表す、8対温′xTf)値Tbと前記各
記Iii値E 、;1 * PB及びTaとを用いて(
11式右辺の演算を行ってこの演算電果7’2 Xを表
す4さ信号を出力する信号処1部とを備え、厚さ信号(
よって測定空所に挿入された被測定物の厚ざXを測定す
る放射線厚さ計であって、ここ/c。
U!!Iは前記被測定物の前記放射婦九対する吸収係数
DInは前記被測定物の密度。
U2は前記気体の駒組放射線に対する吸収係数。
Mは両組気体の分子着。
Rは普遍気体定数。
であるよって放射線厚さ計を構成し。
x=−(1/(UIl、@D−)l・Ctn (E X
/B 0a)+U a・((Pb/Tb)  (Pa/
Ta)I・(ル’R)−G:l・−・−・(1)また2
本発明九おいては。
放射線源と、この放射線源(対して所定の聞漏Gを有す
る測定空所を介して対向配置lすれかつ放射a源が放射
する放射線を検出して検出した放射線の線量に応じた第
1検出信号を出力する放射線検出器と、第1検出信号を
電圧信号に変換しかつ噌1!L″C荊記−童に比例した
電圧Eを有する第2検出信号として圧力するプリアンプ
と、測定空所における気体の圧力Pを検出して圧力Pを
表す圧力信号を出力する圧力計と、測定9所における前
記気体の糖対温度Tを検出して絶対温度Tを表す温度信
号を出力する温室計と2圧力信号と温度信号とが入力さ
れ、かつ測定空所に被測定物が挿入されていたい伏角に
おける時刻【、で第1制御信号が入力されることによっ
て時刻【1における圧力信号が表す圧力Pの値P、と時
刻!、における温度信号が一冴する絶対温度Tの値Ta
とを記憶し、かつ時刻1.よりも遅い時刻−で第2制岬
信号が入力されることによって時刻(、九おける圧力信
号が表す圧力Pの値Pbと時刻ttにおける温度信号が
表す絶対温度Tの値Tbと前記各記憶値P、及びTaと
音用いて(2)右辺辺の演算を行ってこの演算結果のΔ
Daを表す密度変化信号を出力する第1信号処理部と、
第2検出信号と密度変化信号とが入力され、かつ時刻1
にで第1fllJ御信号が入力されろことによって時刻
【Iにおける第2慣出信号の電圧Eの1直Boaを記4
シ、y+・つ時刻【、で第2制−言号つ・人力尽、7′
Lるこ5f工って時刻【、にSける第2慣出信号の屯2
Eの値Exと時刻t!以降ておいて密定♂化1号が表す
@記ΔDaと前記記ji直E0aとを用いて(31式右
辺の演算を行ってこの、X d侍14:のXを表す厚さ
信号を出力する第2信号処場部とを備え、厚さ官号てよ
って測定空所(挿入された被測定物の厚さXを測定する
放射線厚さ計であって、ここに。
Mに前記気体の分子量。
R2は普遍気体定数。
Urnは前記被測定物の前記放射線に対する吸収係数、 D工は前記被測定物の密度。
U、は前記気体の前記放射lIi!に対する吸収係数、
であるよって放射線厚さ計を構成し。
ΔD、={(Pb/Tb3−CP、/T(1)l・(M
/R)・・・・・・(2)x=−(1/(Um’Dm)
)・【tn(Ex/Eoa)−+−U、・ΔD、・G)
・・・・・−・・(3) さらで1本発明ににいて4゜ 放射@原と、この放射書源(対して所定の間隔Gを有す
る刊定空、折を介して対向配置さ飢かつ放射#源が1M
1’lする放射@を検出して慣用した放耐薔の@労で応
じた第1検出信号を圧力する放射線検出器と、第I検出
信号を訂圧言号lc更鷹しかつ増福して@記綴tF比ダ
」した電圧EをKする第2検出信号として上刃するアリ
アンプとを備えた放射線検出部でおける前記測定空所に
挿入される被グIj宝物の前記放射111!九対する吸
収係数U。と被測定物の密Y Dmと測定空所におけろ
気坏の前記放射線に対する吸収係数Uaとを伸j定して
それぞれの測定値を紀1する第1手順と。
測定空所に被測定物が挿入されていない状nにある場合
の時刻1.におゆる第2検出信号の電圧Eの1直E。a
を記憶すると共で1時刻(菫での測定空所における気体
の圧力Pを測定して測定結果の圧力値Paを記憶しかつ
時刻t1での測定空所における気体の絶対温、IfTな
測定して測定結果の温度値Taを記憶する第3手、獣と
峙刈1.よりも遅い時刻t、5%ける第2検出信号の電
圧Eの値Exを記憶すると共に、時刻りでの測定空所に
おける気体の圧力Pを測定して測定結果の圧力値Pbを
記憶しかつ時刻りでの測定空所における気体の絶対温度
Tを測定して測定結果の温度値Tbを記憶する第3手順
と。
第1乃至第3手順で記憶した前記各記憶値Um。
Dm、U3 * B 03 、P3 、 Ta* EX
、Pi)及びTI)を弔いて(11式右辺の演算を行う
第4手順とからなり、第4手順の演算結果としての(υ
左辺辺のXを被測定物の厚さの測定値とする放射線を用
いた厚さ測定方法であって、ここく。
Uoは前記被測定物の前記放射線九対する吸収係数。
Doは前記被測定物の密度。
Uaは前記気体の前記放射線(対する吸収係数、Mは前
記気体の分子量。
Rは普遍気体定数 であるように放射線を用いた厚さ測定方法を構成した。
X=  +t/(Um−Dm)+−[zrt(Ex/E
oa)+U、*f<F”b/Tb)−(F’a/Ta)
l−(M/R)−G)・・・・−・ (1) このため、と記のように構構成ると、C)式と(3)式
とから+11弐〇−得られることは明らかであり、また
、σ)弐が6)式九おける亀圧菫Eoの測定空所におけ
る気体の密’1t−Daの変化にもとづく変化を考寵し
た式になっていることを前述のようにして証明すること
ができるので、したがつτ1本発明によれば、いずれも
製作(面倒な1業を要する放射線源2.線源容器3.放
射線検出器4及びアリアンプ6を備えた上述の放射線検
出部15が不要で。
この検出部15のかわりに上記気体の圧力と温度とを検
出する圧力計と温度計とを用いることによって厚さ計の
構成が簡単化されること(なるので。
結局、本発明vcは厚さ計の製作並びに保守を容易に行
うことができるという効果がある・
【図面の簡単な説明】
第1図は本発1jJ]fCよる放射線厚さ計の一実施愕
の構成図。 第2図は本発明(よる放射線厚さ計の第1図に示口た実
抱例とは異なる実癩例のW4戎図。 第3図は従来の放射縁厚さ計の値I成図。 第4図は第3図に示した放射襟慎さ軒とは異なる従来の
放射線・厚さ計の嘴或図である。 1、13.17.21・・・・・・放射線厚さ計、2・
・・・・・放射11[、2a・・・・・・放射線、4・
・・・・・放射線検出器、  4a・・・第1検出信号
、5.14・・・・・・測定空所、6・・・・・・プリ
アンプ、 5a・・・・・・第2検出信号、9.15・
・・・−・放射線検出器、  10.16.20・−・
−・−信号処理部、 10al 20CI231・・・
・・・厚さ信号、  11・・・・・・被測定物、12
・・・・・・気体。 18・・・・・・圧力計、181・・・・・・圧力信号
、  19・・・・・・温度計。 19m・・・・・・1変信号、20a・・・・・・第1
制御信号、20b・・・・・・第2制御信号、22・・
・・・・第1信号処理部、22a・・・・・・密度変化
信号、23・・・・・・第2信号処理部。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)放射線源と、この放射線源に対して所定の間隔G
    を有する測定空所を介して対向配置されかつ前記放射線
    源が放射する放射線を検出して検出した前記放射線の線
    量に応じた第1検出信号を出力する放射線検出器と、前
    記第1検出信号を電圧信号に変換しかつ増幅して前記線
    量に比例した電圧Eを有する第2検出信号として出力す
    るプリアンプと、前記測定空所における気体の圧力Pを
    検出して前記圧力Pを表す圧力信号を出力する圧力計と
    、前記測定空所における前記気体の絶対温度Tを検出し
    て前記絶対温度Tを表す温度信号を出力する温度計と、
    前記第2検出信号と前記圧力信号と前記温度信号とが入
    力され、かつ前記測定空所に被測定物が挿入されていな
    い状態における時刻t_1で第1制御信号が入力される
    ことによつて前記時刻t_1における前記第2検出信号
    の前記電圧Eの値E_0_aと前記時刻t_1における
    前記圧力信号が表す前記圧力Pの値P_aと前記時刻t
    _1における前記温度信号が表す前記絶対温度Tの値T
    _aとを記憶し、かつ前記時刻t_1よりも遅い時刻t
    _2で第2制御信号が入力されることによって前記時刻
    t_2における前記第2検出信号の前記電圧Eの値E_
    xと前記時刻t_2における前記圧力信号が表す前記圧
    力Pの値P_bと前記時刻t_2における前記温度信号
    が表す前記絶対温度Tの値T_bと前記各記憶値E_0
    _a・P_a及びT_aとを用いて(1)式右辺の演算
    を行つてこの演算結果のxを表す厚さ信号を出力する信
    号処理部とを備え、前記厚さ信号によつて前記測定空所
    に挿入された前記被測定物の厚さxを測定する放射線厚
    さ計であつて、ここに、 U_mは前記被測定物の前記放射線に対する吸収係数。 D_mは前記被測定物の密度、 U_aは前記気体の前記放射線に対する吸収係数、Mは
    前記気体の分子量、 Rは普遍気体定数、 であることを特徴とする放射線厚さ計。 X=−{1/(U_m・D_m)}・〔ln(E_x/
    E_0_a)+U_a・{(P_b/T_b)−(P_
    a/T_a)}・(M/R)・G〕…(1)2)放射線
    源と、この放射線源に対して所定の間隔Gを有する測定
    空所を介して対向配置されかつ前記放射線源が放射する
    放射線を検出して検出した前記放射線の線量に応じた第
    1検出信号を出力する放射線検出器と、前記第1検出信
    号を電圧信号に変換しかつ増幅して前記線量に比例した
    電圧Eを有する第2検出信号として出力するプリアンプ
    と、前記測定空所における気体の圧力Pを検出して前記
    圧力Pを表す圧力信号を出力する圧力計と、前記測定空
    所における前記気体の絶対温度Tを検出して前記絶対温
    度Tを表す温度信号を出力する温度計と、前記圧力信号
    と前記温度信号とが入力され、かつ前記測定空所に被測
    定物が挿入されていない状態における時刻t_1で第1
    制御信号が入力されることによって前記時刻t_1にお
    ける前記圧力信号が表す前記圧力Pの値P_aと前記時
    刻t_1における前記温度信号が表す前記絶対温度Tの
    値T_aとを記憶し、かつ前記時刻t_1よりも遅い時
    刻t_2で第2制御信号が入力されることによつて、前
    記時刻t_2における前記圧力信号が表す前記圧力Pの
    値P_bと前記時刻t_2における前記温度信号が表す
    前記絶対温度Tの値T_bと前記各記憶値P_a及びT
    _aとを用いて(2)式右辺の演算を行つてこの演算結
    果のΔD_aを表す密度変化信号を出力する第1信号処
    理部と、前記第2検出信号と前記密度変化信号とが入力
    され、かつ前記時刻t_1で前記第1制御信号が入力さ
    れることによつて前記時刻をt_1における前記第2検
    出信号の前記電圧Eの値E_0_aを記憶し、かつ前記
    時刻t_2で前記第2制御信号が入力されることによつ
    て前記時刻t_2における前記第2検出信号の前記電圧
    Eの値E_xと前記時刻t_2以降において前記密度変
    化信号が表す前記ΔD_aと前記記憶値E_0_aとを
    用いて(3)式右辺の演算を行つてこの演算結果のxを
    表す厚さ信号を出力する第2信号処理部とを備え、前記
    厚さ信号によつて前記測定空所に挿入された前記被測定
    物の厚さxを測定する放射線厚さ計であつて、ここに、 Mは前記気体の分子量、 Rは普遍気体定数、 U_mは前記被測定物の前記放射線に対する吸収係数、 D_mは前記被測定物の密度、 U_aは前記気体の前記放射線に対する吸収係数、であ
    ることを特徴とする放射線厚さ計。 ΔD_a={(P_b/T_b)−(P_a/T_a)
    }・(M/R)…(2)x=−{1/(U_m・D_m
    )}・(ln(E_x/E_0_a)+U_a・ΔD_
    a・G}…(3) 3)放射線源と、この放射線源に対して所定の間層Gを
    有する測定空所を介して対向配電されかつ前記放射線源
    が放射する放射線を検出して検出した前記放射線の線量
    に応じた第1検出信号を出力する放射線検出器と、前記
    第1検出信号を電圧信号に変換しかつ増幅して前記線量
    に比例した電圧Eを有する第2検出信号として出力する
    プリアンプとを備えた放射線検出部における前記測定空
    所に挿入される被測定物の前記放射線に対する吸収係数
    U_mと前記被測定物の密度D_mと前記測定空所にお
    ける気体の前記放射線に対する吸収係数U_aとを測定
    してそれぞれの測定値を記憶する第1手順と、 前記測定空所に前記被測定物が挿入されていない状態に
    ある場合の時刻t_1における前記第2検出信号の前記
    電圧Eの値E_0_aを記憶すると共に、前記時刻t_
    1での前記測定空所における前記気体の圧力Pを測定し
    て測定結果の圧力値P_aを記憶しかつ前記時刻t_1
    での前記測定空所における前記気体の絶対温度Tを測定
    して測定結果の温度値T_aを記憶する第3手順と、 前記時刻t_1よりも遅い時刻t_2における前記第2
    検出信号の前記電圧Eの値E_xを記憶すると共に、前
    記時刻t_2での前記測定空所における前記気体の圧力
    Pを測定して測定結果の圧力値P_bを記憶しかつ前記
    時刻t_2での前記測定空所における前記気体の絶対温
    度Tを測定して測定結果の温度値T_bを記憶する第3
    手順と、 前記第1乃至第3手順で記憶した前記各記憶値U_m・
    D_m・U_a・E_0_a・P_a・T_a・E_x
    ・P_b及びT_bを用いて(1)式右辺の演算を行う
    第4手順とからなり、前記第4手順の演算結果としての
    前記(1)式左辺のxを前記被測定物の厚さの測定値と
    する放射線を用いた厚さ測定方法であつて、ここに、U
    _mは前記被測定物の前記放射線に対する吸収係数、 D_mは前記被測定物の密度、 U_aは前記気体の前記放射線に対する吸収係数、Mは
    前記気体の分子量、 Rは普遍気体定数 であることを特徴とする放射線を用いた厚さ測定方法。 X=−{1/(U_m・D_m)}・〔ln(E_x/
    E_0_a)+Ua・{(P_b/T_b)−(P_a
    /T_a)}・(M/R)・G〕……(1)
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013108859A (ja) * 2011-11-22 2013-06-06 Yokogawa Electric Corp 放射線検査装置
JP2014016312A (ja) * 2012-07-11 2014-01-30 Yokogawa Electric Corp 放射線測定方法
WO2018186155A1 (ja) * 2017-04-05 2018-10-11 株式会社日立製作所 中性子強度モニタリングシステムおよび方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5335056B2 (ja) * 1972-09-22 1978-09-25
JPS6079207A (ja) * 1983-10-06 1985-05-07 Sumitomo Metal Ind Ltd 放射線板厚測定方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5335056B2 (ja) * 1972-09-22 1978-09-25
JPS6079207A (ja) * 1983-10-06 1985-05-07 Sumitomo Metal Ind Ltd 放射線板厚測定方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013108859A (ja) * 2011-11-22 2013-06-06 Yokogawa Electric Corp 放射線検査装置
JP2014016312A (ja) * 2012-07-11 2014-01-30 Yokogawa Electric Corp 放射線測定方法
WO2018186155A1 (ja) * 2017-04-05 2018-10-11 株式会社日立製作所 中性子強度モニタリングシステムおよび方法
JP2018179580A (ja) * 2017-04-05 2018-11-15 株式会社日立製作所 中性子強度モニタリングシステムおよび方法

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