JPH0416552B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0416552B2 JPH0416552B2 JP57107335A JP10733582A JPH0416552B2 JP H0416552 B2 JPH0416552 B2 JP H0416552B2 JP 57107335 A JP57107335 A JP 57107335A JP 10733582 A JP10733582 A JP 10733582A JP H0416552 B2 JPH0416552 B2 JP H0416552B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sno
- film
- etching
- hydrogen
- hcl
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F71/00—Manufacture or treatment of devices covered by this subclass
- H10F71/138—Manufacture of transparent electrodes, e.g. transparent conductive oxides [TCO] or indium tin oxide [ITO] electrodes
Landscapes
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
- ing And Chemical Polishing (AREA)
- Manufacturing Of Printed Circuit Boards (AREA)
- Weting (AREA)
Description
本発明は、各種表示体、例えば、液晶パネルや
エレクトロクロミツクなどにおける表示媒体の駆
動用電極として、酸化錫(SnO2)膜を用いる際
の、パターニング工程におけるエツチングに関す
る。 一般に、SnO2膜のパターニングのプロセスは、
ガラス基板上に、物理的又は化学的蒸着法により
SnO2薄膜(約300〓程度)を形成した後、フオト
レジスト材を塗布、乾燥し、その後、所要のパタ
ーン(例えば、数字、文字、図形などの形状)に
作成した露光マスクを用いて所要部分のみを感光
させ、その後、不要部分のレジストを除去して、
所要のパターン以外の部分のSnO2膜を表面に露
出させる。しかる後、本件が関係するエツチング
工程に入り、以下に述べるエツチング液に浸漬さ
せ、その不要部分のSnO2膜を除去して所要のパ
ターンを形成した後、最後に、所要パターンの表
面に残つているレジスト膜を除去してパターニン
グは完了する。 さて、従来、SnO2膜のエツチング法は、次の
化学式に示すようなモデルで、塩酸水溶液
(HCl)と亜鉛粉末(Zn)を併用して、還元性の
強い発生基の水素H+を発生させ、その還元力に
よりSnO2膜を金属錫化させ、ガラス表面から析
出解離させていくプロセスにより、SnO2膜を除
去(エツチング)できると考えられてきた。 Zn+2HCl→ZnCl2+2H+ (1) SnO2+4H+→Sn+2H2O (2) しかるに、実際には、この発生基の水素(H+)
の状態は長く続かず、たちまちのうちにイオン性
を失ない、水素ガスとなつてZnやSnO2膜の表面
に吸着し、HClとZnとの反応は抑制又は停止さ
せてしまう。つまり(1)式は、 Zn+2HCl→ZnCl2+2H+→ZnCl2+H2↑ ……(3) となりやすい。 このため(2)式に示す反応は続かず、従つて実際
のエツチングの品質としては不完全なものとな
り、除去すべき部分にSnO2膜が残つたり、その
残つたSnO2膜を除去しようとして、長時間浸漬
しておくと、今度は、除去すべきでない部分のエ
ツジ部から浸食が起こり(オーバーエツチングと
称する)、実使用に耐えない品質に作り込んでし
まう事になり、ひいては、止留りの低下、手間の
増大など、著しく生産性を落す結果になつてい
た。 本発明は、かかる不具合点を解消するために、
発生基の水素の発生を永続的かつ活発に起こさせ
るための手段を発明したものである。 着眼点として、ガス化してしまつた水素分子が
SnO2膜やZn粉末の表面に吸着、する前に、他の
物質に吸着させ、常にSnO2とZnと、そしてHCl
とが互に接触し反応が持続できるように、その吸
着物質を考案することにあつた。 気体吸着力の大きい元素を調査した結果、次の
ようなデータが得られた。(抜萃)
エレクトロクロミツクなどにおける表示媒体の駆
動用電極として、酸化錫(SnO2)膜を用いる際
の、パターニング工程におけるエツチングに関す
る。 一般に、SnO2膜のパターニングのプロセスは、
ガラス基板上に、物理的又は化学的蒸着法により
SnO2薄膜(約300〓程度)を形成した後、フオト
レジスト材を塗布、乾燥し、その後、所要のパタ
ーン(例えば、数字、文字、図形などの形状)に
作成した露光マスクを用いて所要部分のみを感光
させ、その後、不要部分のレジストを除去して、
所要のパターン以外の部分のSnO2膜を表面に露
出させる。しかる後、本件が関係するエツチング
工程に入り、以下に述べるエツチング液に浸漬さ
せ、その不要部分のSnO2膜を除去して所要のパ
ターンを形成した後、最後に、所要パターンの表
面に残つているレジスト膜を除去してパターニン
グは完了する。 さて、従来、SnO2膜のエツチング法は、次の
化学式に示すようなモデルで、塩酸水溶液
(HCl)と亜鉛粉末(Zn)を併用して、還元性の
強い発生基の水素H+を発生させ、その還元力に
よりSnO2膜を金属錫化させ、ガラス表面から析
出解離させていくプロセスにより、SnO2膜を除
去(エツチング)できると考えられてきた。 Zn+2HCl→ZnCl2+2H+ (1) SnO2+4H+→Sn+2H2O (2) しかるに、実際には、この発生基の水素(H+)
の状態は長く続かず、たちまちのうちにイオン性
を失ない、水素ガスとなつてZnやSnO2膜の表面
に吸着し、HClとZnとの反応は抑制又は停止さ
せてしまう。つまり(1)式は、 Zn+2HCl→ZnCl2+2H+→ZnCl2+H2↑ ……(3) となりやすい。 このため(2)式に示す反応は続かず、従つて実際
のエツチングの品質としては不完全なものとな
り、除去すべき部分にSnO2膜が残つたり、その
残つたSnO2膜を除去しようとして、長時間浸漬
しておくと、今度は、除去すべきでない部分のエ
ツジ部から浸食が起こり(オーバーエツチングと
称する)、実使用に耐えない品質に作り込んでし
まう事になり、ひいては、止留りの低下、手間の
増大など、著しく生産性を落す結果になつてい
た。 本発明は、かかる不具合点を解消するために、
発生基の水素の発生を永続的かつ活発に起こさせ
るための手段を発明したものである。 着眼点として、ガス化してしまつた水素分子が
SnO2膜やZn粉末の表面に吸着、する前に、他の
物質に吸着させ、常にSnO2とZnと、そしてHCl
とが互に接触し反応が持続できるように、その吸
着物質を考案することにあつた。 気体吸着力の大きい元素を調査した結果、次の
ようなデータが得られた。(抜萃)
【表】
この中から、特にH2ガス吸着量に着目すると、
Pd,Pt,Niが、その性質が強いことがわかる。 我々は、これらの元素から、イオン化傾向の強
いNiに着目し、量産上、入手しやすい塩化ニツ
ケル(NiCl)を対象にして実験を行なつた結果、
次のような条件下で、期待通りのエツチング残り
や、オーバーエツチングのない優れたパターニン
グが可能となつた。 (イ) SnO2膜 200〜500Å (ロ) HCl濃度 0.4〜2.0wt%(規定0.5〜1.0N) (ハ) NiCl濃度 1.0〜5.0wt% (ニ) Zn粉末量 軽い散布程度 (ホ) 浸漬時間 2〜3分
Pd,Pt,Niが、その性質が強いことがわかる。 我々は、これらの元素から、イオン化傾向の強
いNiに着目し、量産上、入手しやすい塩化ニツ
ケル(NiCl)を対象にして実験を行なつた結果、
次のような条件下で、期待通りのエツチング残り
や、オーバーエツチングのない優れたパターニン
グが可能となつた。 (イ) SnO2膜 200〜500Å (ロ) HCl濃度 0.4〜2.0wt%(規定0.5〜1.0N) (ハ) NiCl濃度 1.0〜5.0wt% (ニ) Zn粉末量 軽い散布程度 (ホ) 浸漬時間 2〜3分
Claims (1)
- 1 塩化ニツケル1.0〜5.0wt%および塩酸水溶液
を含んだエツチング液と、亜鉛を用いることを特
徴とする酸化錫膜のエツチング法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57107335A JPS58224171A (ja) | 1982-06-22 | 1982-06-22 | 酸化錫膜のエツチング法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57107335A JPS58224171A (ja) | 1982-06-22 | 1982-06-22 | 酸化錫膜のエツチング法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58224171A JPS58224171A (ja) | 1983-12-26 |
| JPH0416552B2 true JPH0416552B2 (ja) | 1992-03-24 |
Family
ID=14456437
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57107335A Granted JPS58224171A (ja) | 1982-06-22 | 1982-06-22 | 酸化錫膜のエツチング法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58224171A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5976396A (en) | 1998-02-10 | 1999-11-02 | Feldman Technology Corporation | Method for etching |
| DE102017121228A1 (de) * | 2017-09-13 | 2019-03-14 | Helmholtz-Zentrum Berlin Für Materialien Und Energie Gmbh | Verfahren zur Oberflächenbehandlung einer Probe die mindestens eine Oberfläche eines Metalloxids aufweist und Metalloxid mit behandelter Oberfläche |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4921688A (ja) * | 1972-06-23 | 1974-02-26 |
-
1982
- 1982-06-22 JP JP57107335A patent/JPS58224171A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58224171A (ja) | 1983-12-26 |
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