JPH04166761A - 超音波探触子 - Google Patents
超音波探触子Info
- Publication number
- JPH04166761A JPH04166761A JP2292455A JP29245590A JPH04166761A JP H04166761 A JPH04166761 A JP H04166761A JP 2292455 A JP2292455 A JP 2292455A JP 29245590 A JP29245590 A JP 29245590A JP H04166761 A JPH04166761 A JP H04166761A
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- JP
- Japan
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- ultrasonic
- piezoelectric vibrator
- ultrasonic probe
- vibrator
- piezoelectric
- Prior art date
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- Pending
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
]産業上の利用分野]
この発明は例えば液中において被検材の欠陥検出などに
用いられる超音波探触子、特に直交する方向の超音波ヒ
ームの形式に鴛するものである。
用いられる超音波探触子、特に直交する方向の超音波ヒ
ームの形式に鴛するものである。
I従来の技術[
液中へ被検材と超音波探触子を隔離して配設し、超音波
を用いて被検材の欠陥検出か行われている。
を用いて被検材の欠陥検出か行われている。
第5図は従来の圧電振動子による超音波ヒーム形式の一
例、 4は保護層、5は超音波を減衰させる背板、13は圧電
振動子、Rは圧電振動子13超音波放射゛面の曲率半径
、Dは圧電振動子13の開口寸法である。
例、 4は保護層、5は超音波を減衰させる背板、13は圧電
振動子、Rは圧電振動子13超音波放射゛面の曲率半径
、Dは圧電振動子13の開口寸法である。
従来の超音波探触子は上記のように構成され、超音波送
受波面か曲率半径Rの球面をなす円形状圧電振動子3は
、超音波送受波面には保護14がまた背面には背板5が
設けられている。圧電振動子3の開口寸法りを小ざくす
ると焦点位置におけるビーム巾が広い超音波ヒームが形
成される。
受波面か曲率半径Rの球面をなす円形状圧電振動子3は
、超音波送受波面には保護14がまた背面には背板5が
設けられている。圧電振動子3の開口寸法りを小ざくす
ると焦点位置におけるビーム巾が広い超音波ヒームが形
成される。
第6図aは従来の圧電振動子の超音波ビーム形成の他の
一例、第6図すは第6図aの直交方向における超音波指
向持重の一例、 方形状の圧電振動子13は一方向に円柱状曲面をなして
おり、第6図aに示すように円柱状曲面によって超音波
ビームか形成される。また第6図すに示すとありこれと
直交する方向における圧電振動子13から放射される超
音波は集束されず圧電振動子13全而から均一に放射さ
れる。従って焦点位置における超音波ビームは直交する
2方向にラインフォーカスをなしている。
一例、第6図すは第6図aの直交方向における超音波指
向持重の一例、 方形状の圧電振動子13は一方向に円柱状曲面をなして
おり、第6図aに示すように円柱状曲面によって超音波
ビームか形成される。また第6図すに示すとありこれと
直交する方向における圧電振動子13から放射される超
音波は集束されず圧電振動子13全而から均一に放射さ
れる。従って焦点位置における超音波ビームは直交する
2方向にラインフォーカスをなしている。
上記に示す超音波ビームを備えた超音波探触子が液中に
あける被検材の欠陥検出に供されている。
あける被検材の欠陥検出に供されている。
1発明が解決しようとする課題1
上記のような従来の超音波探触子ては、超音波送受波面
が球面をなす円形状圧電振動子13から放射される超音
波ビームは集束され、直交する2方向に関しては同一の
指向特性を示している。
が球面をなす円形状圧電振動子13から放射される超音
波ビームは集束され、直交する2方向に関しては同一の
指向特性を示している。
従って例えば水中にて旋回送り機構により搬送される管
または棒の欠陥検出において、径方向と長さ方向で欠陥
検出寸法が異なるとき、上記要件に適合した分解能にて
感度良く欠陥検出が行えない。さらに被検材の移動ピッ
チか小さくなり検査に時間を要する。
または棒の欠陥検出において、径方向と長さ方向で欠陥
検出寸法が異なるとき、上記要件に適合した分解能にて
感度良く欠陥検出が行えない。さらに被検材の移動ピッ
チか小さくなり検査に時間を要する。
また一方向か円柱状曲面をなす方形状の圧電振動子13
から放射される超音波ビームは、−方向においては集束
されるがこれと直交する方向の超音波は集束されないの
で、従って直交する2方向について被検材は指定された
欠陥寸法即ち分解能にて欠陥検出が行えず、更に欠陥信
号対雑音比(S/凡)も小さくなる。
から放射される超音波ビームは、−方向においては集束
されるがこれと直交する方向の超音波は集束されないの
で、従って直交する2方向について被検材は指定された
欠陥寸法即ち分解能にて欠陥検出が行えず、更に欠陥信
号対雑音比(S/凡)も小さくなる。
被検材搬送方向に所定巾の超音波ビームか得られないと
、被検材の移動ピッチと整合できないので全表面にnり
欠陥検出か効率良く行えないという問題点がめった。
、被検材の移動ピッチと整合できないので全表面にnり
欠陥検出か効率良く行えないという問題点がめった。
この発明はかかる問題点を解決するためになされたもの
で、被検材内の直交する2方向に亙り指定された欠陥検
出寸法による分解能が得られ且つ効率良く欠陥検出か行
える超音波探触子を冑ることを目的とする。
で、被検材内の直交する2方向に亙り指定された欠陥検
出寸法による分解能が得られ且つ効率良く欠陥検出か行
える超音波探触子を冑ることを目的とする。
]課題を解決するための手段二
この発明Iこ係る超音波探触子は、超音波送受波面か球
面状で且つ開口部が長方形をなす圧電振動子を設けたも
のである。
面状で且つ開口部が長方形をなす圧電振動子を設けたも
のである。
1作用]
この発明においては、超音波送受波面が球面状をなし且
つ周波数の高い圧電振動子が用いられた超音波探触子は
、開口部を方形状にすると形成される超音波ビームは開
口寸法に依存する。
つ周波数の高い圧電振動子が用いられた超音波探触子は
、開口部を方形状にすると形成される超音波ビームは開
口寸法に依存する。
即ち開口寸法が大きくなるとビームは集束されてビーム
巾が細くなる。しかし開口寸法が小さくなるに従いビー
ム巾は広くなる。
巾が細くなる。しかし開口寸法が小さくなるに従いビー
ム巾は広くなる。
従って開口部か長方形をなす超音波探触子がらは直交す
る2方向についてそれぞれビーム巾の具なる超音波が放
射される。ご−ムは広がりをもっているので直交する2
方向の焦点位置において長さの異なるライシンを一カス
が形成される。
る2方向についてそれぞれビーム巾の具なる超音波が放
射される。ご−ムは広がりをもっているので直交する2
方向の焦点位置において長さの異なるライシンを一カス
が形成される。
上記のとあり変形自在な高分子圧電体またはセラミック
圧電体を用いて、球面の曲率半径ならびに開口部の寸法
を選定することにより、上記ラインフォーカスの寸法を
欠陥検出寸法と整合させることかでき、被検材の欠陥検
出寸法に適合した超音波じ−ムを形成させ信号対雑音化
かすぐれた適正な検査か行える。
圧電体を用いて、球面の曲率半径ならびに開口部の寸法
を選定することにより、上記ラインフォーカスの寸法を
欠陥検出寸法と整合させることかでき、被検材の欠陥検
出寸法に適合した超音波じ−ムを形成させ信号対雑音化
かすぐれた適正な検査か行える。
また被検材の移動ピッチと超音波ビームの整合により検
査効率か向上できる。
査効率か向上できる。
「実施例]
この発明の一実施例を添付図面を参照して詳細に説明す
るg 第1図aはこの発明の一実施例を示す正面図、第1図す
は第1図aのA−A断面図である。
るg 第1図aはこの発明の一実施例を示す正面図、第1図す
は第1図aのA−A断面図である。
図において、4.5は上記従来探触子と同一て必り、1
は超音波探触子、2はケース、3は高分子圧電体などが
用いられる圧電振動子、6tよ超音波を放射する開口部
、7は圧電振動子3の一方の面に付設された第1電極、
8は圧電振動子3の他方の面に付設された第2電極、9
は・ソート線、10はケーブルを示している。
は超音波探触子、2はケース、3は高分子圧電体などが
用いられる圧電振動子、6tよ超音波を放射する開口部
、7は圧電振動子3の一方の面に付設された第1電極、
8は圧電振動子3の他方の面に付設された第2電極、9
は・ソート線、10はケーブルを示している。
上記のように構成された超音波探触子においては、超音
波探触子ユの超音波を放射するケース2正而には方形状
の開口部6か設けられている。ケース2内部には超音波
伝搬時減衰の大きな材質よりなる背板5を設は前面は凹
面状の球面をなしている。
波探触子ユの超音波を放射するケース2正而には方形状
の開口部6か設けられている。ケース2内部には超音波
伝搬時減衰の大きな材質よりなる背板5を設は前面は凹
面状の球面をなしている。
圧電振動子3は高周波且つ広帯域特性を備え任意形状の
加工か容易で音響インピーダンスは水に近似して小さい
値の高分子圧電体が上記背板5前面に設けられ、圧電振
動子3の両面には第1電恒7ならびに第2電極8か付設
されている。更に圧電振動子3前面には防水構造ならび
に水との音響インピーダンス整合のため、例えばポリエ
チレン、ポリイミド、ポリエステル、ポリプロピレンな
とのフィルムを用いた保護葡4か設けられている。上記
球面状の圧電振動子3の開口部6は方形状をなしている
。
加工か容易で音響インピーダンスは水に近似して小さい
値の高分子圧電体が上記背板5前面に設けられ、圧電振
動子3の両面には第1電恒7ならびに第2電極8か付設
されている。更に圧電振動子3前面には防水構造ならび
に水との音響インピーダンス整合のため、例えばポリエ
チレン、ポリイミド、ポリエステル、ポリプロピレンな
とのフィルムを用いた保護葡4か設けられている。上記
球面状の圧電振動子3の開口部6は方形状をなしている
。
リード線8とケーブル10を介して圧電振動子3への付
勢ならびに圧電振動子3がらの信号伝達か行われている
。
勢ならびに圧電振動子3がらの信号伝達か行われている
。
第2図は第]図aのA−A要部甑面図を示し、高周波圧
電振動子3は曲率半径R1開口部6の開口寸法りて且つ
超音波の波長か人のとき、これを用いた超音波探触子ユ
か形成する焦点位置にあける一3dbの超音波ビーム巾
d−3はにて示される。
電振動子3は曲率半径R1開口部6の開口寸法りて且つ
超音波の波長か人のとき、これを用いた超音波探触子ユ
か形成する焦点位置にあける一3dbの超音波ビーム巾
d−3はにて示される。
周波数ならびに球面の曲率半径Rか一定のときは焦点位
置にあける超音波ビーム巾は開口部6の開口寸法りの関
数となる。
置にあける超音波ビーム巾は開口部6の開口寸法りの関
数となる。
第3図は第1図aのB−8要部断面図を示し、A−A断
面とB−8断面は直交しており、圧電振動子3の開口部
6の開口寸法りか異なる他は同一構成をなしている。
面とB−8断面は直交しており、圧電振動子3の開口部
6の開口寸法りか異なる他は同一構成をなしている。
上記において開口部6の開口寸法りか小さくなると超音
波ビーム巾CL3は広くなる。開口部6か方形状をなす
超音波探触子ユか形成する超音波ビームは直交する2方
向についてそれぞれ異なる。
波ビーム巾CL3は広くなる。開口部6か方形状をなす
超音波探触子ユか形成する超音波ビームは直交する2方
向についてそれぞれ異なる。
また高周波且つ広帯載持[生を備えた高分子圧電体(ユ
パルス巾の短い信号にて付勢てきるので、被@材表面近
1労ならびに深さ方向の欠陥検出の分解能か向上できる
。
パルス巾の短い信号にて付勢てきるので、被@材表面近
1労ならびに深さ方向の欠陥検出の分解能か向上できる
。
例えば水中(音速1500m s)にあ(ブる、開口
部6の開口寸法D 5.1mmX 1Qmm、周波数2
0\・IH2、の圧電振動子3か焦点距離10mmにて
形成する超音波ビーム(よ、水平方向ビーム巾d1=0
. 15mm垂直方向ヒームビーム巾0.077mmと
なり、水浸探@【こおいて直交する2方向の欠陥検出寸
法か80μmX150μmの超音波探触子ユか得られる
。
部6の開口寸法D 5.1mmX 1Qmm、周波数2
0\・IH2、の圧電振動子3か焦点距離10mmにて
形成する超音波ビーム(よ、水平方向ビーム巾d1=0
. 15mm垂直方向ヒームビーム巾0.077mmと
なり、水浸探@【こおいて直交する2方向の欠陥検出寸
法か80μmX150μmの超音波探触子ユか得られる
。
第4図aは水浸探傷の一例を示す側面図、第4区すは第
4図aの正面図を示し、 水漕9内水中に焦点距離F隔てて超音波探触子ユと被検
材10としての管または丸棒か浸漬され、被検材10は
回転しつつ矢示の方向へ搬送される。
4図aの正面図を示し、 水漕9内水中に焦点距離F隔てて超音波探触子ユと被検
材10としての管または丸棒か浸漬され、被検材10は
回転しつつ矢示の方向へ搬送される。
超音波探触子ユからむ2射される超音波ビーム(は、焦
・点距離Fに1之置する被検材10の搬送方向のビーム
巾d1、これと直交する方向のビーム巾d2とし且つa
=波パルスのパルス巾か珀いとき、搬送される被検材1
Qの全面検査に際し移動ピンチをじ一ムFi] (j
1 寸法と等しくなし、且つ搬送方向ならび(ここれと
直交する方向のビーム巾寸法を欠陥検出寸法と整合させ
ると、被検材10の検査効率か向上できると共に信号対
雑音比か改良され欠陥検ま能も向上できる。
・点距離Fに1之置する被検材10の搬送方向のビーム
巾d1、これと直交する方向のビーム巾d2とし且つa
=波パルスのパルス巾か珀いとき、搬送される被検材1
Qの全面検査に際し移動ピンチをじ一ムFi] (j
1 寸法と等しくなし、且つ搬送方向ならび(ここれと
直交する方向のビーム巾寸法を欠陥検出寸法と整合させ
ると、被検材10の検査効率か向上できると共に信号対
雑音比か改良され欠陥検ま能も向上できる。
更に深さ方向については表面近傍から分解能のすくれた
欠陥検出か行える。
欠陥検出か行える。
上記のとあり、任意形状への適合か容易な高周波高分子
圧電体は超音波送受波面か球面状で且つ開口部6か方形
状をなしているので、球面の曲率半径ならひに方形状の
開口を所定の寸法とすることにより、直交する2方向の
それぞれのビーム中部ちラインフォーカスの寸法を欠陥
検出寸法に整合できる。
圧電体は超音波送受波面か球面状で且つ開口部6か方形
状をなしているので、球面の曲率半径ならひに方形状の
開口を所定の寸法とすることにより、直交する2方向の
それぞれのビーム中部ちラインフォーカスの寸法を欠陥
検出寸法に整合できる。
併せてパルス巾の囲い超音波パルスを用いて細径管など
において信号対雑音比か改良された微小欠陥検出か容易
に行える。
において信号対雑音比か改良された微小欠陥検出か容易
に行える。
また圧電振動子3にセラミック圧電1本を用いても同等
の動作か行える。
の動作か行える。
1発明の効果]
この発明は以上説明したとあり、曲面形状をなす高周波
圧電振動子の開口部を方形状とする簡単な構造により、 直交する2方向について超音波ビーム巾を被検材の欠陥
検出寸法に整合できる。
圧電振動子の開口部を方形状とする簡単な構造により、 直交する2方向について超音波ビーム巾を被検材の欠陥
検出寸法に整合できる。
被検材の移動ピッチと超音波ビーム巾を整合させ全表面
に亙る検査が効率良く行える。
に亙る検査が効率良く行える。
更に改良された信号対雑音比による微小欠陥検出かでき
。
。
パルス巾の短い超音波パルスを用いて被検材の深さ方向
の欠陥検出の分解能か向上できるという効果かある。
の欠陥検出の分解能か向上できるという効果かある。
第1図はこの説明の一実施例を示す正面図、第2図は第
1図のA−A断面図、第2図は第1図のA−A要部断面
図、第3図(よ第1図aのB−B要部石面図、第4図a
は水浸探傷の一例を示す側面図、第4図b1は第4区a
の正面図、第5図は従来の圧電振動子による超音波ビー
ム形成の一例、第6図aは従来の圧電振動子による超音
波ビーム形成の他の一例、第6図すは第6図aの直交方
向の超音波パルス[生の一例である。 図において3は圧電振動子、4は保護層、5は背板、6
は開口部、Rは曲率半径、Dは開口寸法である。 なあ、各区中同−符号は同一または相当部分を示す。 特許出願人 株式会社 トキメツクBL=− 3、圧電膜(重力子 4 保護層 5 背板 6 開口部 巳゛曲率手径 D゛開口寸)去 第2図 第3図 第4図す 、8 ) \ 第6図a 第6図b
1図のA−A断面図、第2図は第1図のA−A要部断面
図、第3図(よ第1図aのB−B要部石面図、第4図a
は水浸探傷の一例を示す側面図、第4図b1は第4区a
の正面図、第5図は従来の圧電振動子による超音波ビー
ム形成の一例、第6図aは従来の圧電振動子による超音
波ビーム形成の他の一例、第6図すは第6図aの直交方
向の超音波パルス[生の一例である。 図において3は圧電振動子、4は保護層、5は背板、6
は開口部、Rは曲率半径、Dは開口寸法である。 なあ、各区中同−符号は同一または相当部分を示す。 特許出願人 株式会社 トキメツクBL=− 3、圧電膜(重力子 4 保護層 5 背板 6 開口部 巳゛曲率手径 D゛開口寸)去 第2図 第3図 第4図す 、8 ) \ 第6図a 第6図b
Claims (4)
- (1)超音波の送受波を行う圧電振動子前面に保護層を
また後面に超音波を減衰させる背板を備えた超音波探触
子において、 超音波送受波面が球面状で且つ開口部が長方形をなす圧
電振動子を備えたことを特徴とする超音波探触子。 - (2)圧電振動子は高分子圧電体である請求項1記載の
超音波探触子。 - (3)圧電振動子はセラミック圧電体である請求項1記
載の超音波探触子。 - (4)球面は凹面である請求項1記載の超音波探触子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2292455A JPH04166761A (ja) | 1990-10-30 | 1990-10-30 | 超音波探触子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2292455A JPH04166761A (ja) | 1990-10-30 | 1990-10-30 | 超音波探触子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04166761A true JPH04166761A (ja) | 1992-06-12 |
Family
ID=17782025
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2292455A Pending JPH04166761A (ja) | 1990-10-30 | 1990-10-30 | 超音波探触子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04166761A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010133856A (ja) * | 2008-12-05 | 2010-06-17 | Sanyo Special Steel Co Ltd | 丸棒鋼の中心部欠陥の検出評価方法 |
| JP2012093247A (ja) * | 2010-10-27 | 2012-05-17 | Jfe Steel Corp | 漏洩弾性表面波を用いた欠陥検出方法及び欠陥検出装置 |
| JP2012093246A (ja) * | 2010-10-27 | 2012-05-17 | Jfe Steel Corp | 超音波プローブ及び欠陥検出方法 |
| JP2013242220A (ja) * | 2012-05-21 | 2013-12-05 | Sanyo Special Steel Co Ltd | アレイ探触子、当該アレイ探触子を有する水浸超音波探傷装置、及び、その方法 |
-
1990
- 1990-10-30 JP JP2292455A patent/JPH04166761A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010133856A (ja) * | 2008-12-05 | 2010-06-17 | Sanyo Special Steel Co Ltd | 丸棒鋼の中心部欠陥の検出評価方法 |
| JP2012093247A (ja) * | 2010-10-27 | 2012-05-17 | Jfe Steel Corp | 漏洩弾性表面波を用いた欠陥検出方法及び欠陥検出装置 |
| JP2012093246A (ja) * | 2010-10-27 | 2012-05-17 | Jfe Steel Corp | 超音波プローブ及び欠陥検出方法 |
| JP2013242220A (ja) * | 2012-05-21 | 2013-12-05 | Sanyo Special Steel Co Ltd | アレイ探触子、当該アレイ探触子を有する水浸超音波探傷装置、及び、その方法 |
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