JPH0545346A - 超音波探触子 - Google Patents

超音波探触子

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Publication number
JPH0545346A
JPH0545346A JP23226791A JP23226791A JPH0545346A JP H0545346 A JPH0545346 A JP H0545346A JP 23226791 A JP23226791 A JP 23226791A JP 23226791 A JP23226791 A JP 23226791A JP H0545346 A JPH0545346 A JP H0545346A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wave
subject
longitudinal
focus
waves
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP23226791A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasushi Tokuda
康史 徳田
Toru Miyata
徹 宮田
Norimitsu Sakuma
宣光 佐久間
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Construction Machinery Co Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Construction Machinery Co Ltd filed Critical Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Priority to JP23226791A priority Critical patent/JPH0545346A/ja
Publication of JPH0545346A publication Critical patent/JPH0545346A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
  • Transducers For Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 探傷感度が高く、かつ測定精度の高いエコー
が得られるプローブを提供することにある。 【構成】 縦波を主体とする振動子の他に被検体内部で
横波を発生する振動子を別個に設けて横波を発生する振
動子側で焦点集束を行うようにし、それぞれを駆動する
ことで焦点集束の位置で縦波+横波のエコーを2つの振
動子により受信するようにしているので、焦点付近での
被検体の欠陥については感度が高く、精度の高いエコー
を得ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、超音波探触子(以下
プローブ)に関し、詳しくは、探傷感度が高く、かつ測
定精度の高いエコーが得られるようなプローブに関す
る。
【0002】
【従来の技術】超音波探傷装置は、超音波を利用するこ
とで被検体(検査対象物)の内部の欠陥等を非破壊で検
査することができ、被検体は、通常水等の液中に浸漬さ
れるか、プローブと被検体との間に超音波伝達媒質を介
在させてその内部に超音波が導入される。そして、使用
される超音波としては縦波と横波とがある。
【0003】横波の超音波を利用する場合にも一般的に
は縦波発生型のプローブが利用され、縦波と横波は、被
検体の表面に入射する角度で選択される。すなわち、被
検体に対してプローブの超音波入射点における入射角が
大きくなると、被検体内部に侵入した際に縦波が横波に
変換されて横波としての探傷ができ、被検体に対する入
射角が小さい場合には、縦波の超音波は、主として縦波
として被検体に侵入し、縦波の探傷となる。しかし、実
際には、純粋に縦波あるいは横波を発生させることが難
しく、図3に示すような従来の焦点型プローブでも縦波
と横波とが混在する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】図3において、9はプ
ローブであって、1はそのハウジング、2は超音波振動
子としての圧電素子、3は音響レンズ、4は、ダンパー
材、5は、リード線、6は、被検体である。そして、点
線で示すのは、このプローブ9による超音波ビームの集
束線である。なお、この点線は、直線状になっている
が、実際には、被検体6の材質に応じて被検体表面で多
少屈折する。
【0005】ところで、縦波と横波とでは媒体中での音
波の伝搬速度が相違する。超音波測定では音速により路
程を計算する関係からこれらの波が相互に干渉した場合
にいずれの波によるエコーであるかが区別つかなくな
る。その結果、欠陥までの正確な路程を計測し難い。こ
れによって探傷精度が低下する。これは、特に、被検体
の内部が多層になっていて境界面が複数ある被検体や欠
陥が平面的にみて重なる状態で異なる深さ方向にいくつ
かあるときなどに問題になる。その理由は、奥の境界面
(あるいは欠陥)での縦波の反射波と手前の境界面(あ
るいは欠陥)での反射波とが干渉するからである。
【0006】また、焦点型のプローブを用いて超音波探
傷を行った場合、焦点を絞って探傷精度を高くするとエ
コーレベルが低下して探傷感度が落ち、逆に探傷感度を
上げるために焦点を大きく採ると、探傷精度が低下して
しまい被検体によっては十分な探傷ができない欠点があ
る。この発明の目的は、このような従来技術の問題点を
解決するものであって、探傷感度が高く、かつ測定精度
の高いエコーが得られるプローブを提供することにあ
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るこの発明のプローブは、中央に円板状の第1の振動子
と、これに対して同心円状に設けられたリング状の第2
の振動子と、この第2のリング状の振動子からの超音波
を縦波の臨界角より大きく、横波の臨界角より小さい範
囲で被検体に入射させて所定の位置に集束させる音響レ
ンズとを備えていて、第1及び第2の振動子を駆動して
前記被検体からのエコーを得るものである。
【0008】
【作用】このように、縦波を主体とする振動子の他に被
検体内部で横波を発生する振動子を別個に設けて横波を
発生する振動子側で焦点集束を行うようにし、それぞれ
を駆動することで焦点集束の位置で縦波+横波のエコー
を2つの振動子により受信するようにすれば、焦点付近
での被検体の欠陥については感度が高く、精度の高いエ
コーを得ることができる。
【0009】
【実施例】図1は、この発明を適用したプローブの一実
施例の縦断面図及びその横断面図であり、図2は、その
超音波ピーク集束状態についての説明図である。なお、
図3と同等の構成は、同一の符号で示す。図1の(a)
の縦断面図及びその圧電素子に面に沿った横断面図に示
すように、プローブ10は、ハウジング1に収納されて
いる圧電素子としてハウジング1の円筒の中心線位置に
その中心を一致させて設けられた小さい円板状の圧電素
子2aと、中心がこの圧電素子2aの中心に一致してそ
の外側に設けられたリング状の圧電素子2bとからな
る。これら圧電素子は、縦波を発生するものであって、
音響レンズ3aは、リング状の圧電素子2bで発生した
縦波の超音波ビームに対して縦波の臨界角α1 と横波の
臨界角α2 との間の角度で入射させ、それを屈折させて
被検体6の内部において横波にして焦点位置Fで集束さ
せる作用をする。また、円板状の圧電素子2aで発生し
た縦波の超音波ビームを臨界角α1 よりも小さい角度で
入射させ、屈折させて被検体6の内部において縦波とし
て焦点位置F付近で絞られてここを通過するように作用
する。なお、7は、圧電素子2aのリードであり、8
は、圧電素子2bのリード線である。
【0010】その結果、図2に示すように、これら2つ
の圧電素子2a,2bが駆動された場合には、圧電素子
2aによる超音波ビームの指向性領域12aと圧電素子
2bによる超音波ビームの指向性領域12bとが重畳す
る焦点領域Fが形成される。そこで、圧電素子2aの超
音波ビームによる主として縦波(縦波+横波)が被検体
6の内部を伝搬して先の焦点領域に欠陥があるときには
その縦波のエコーが圧電素子2aにより受信されてそれ
が検出される。これとは別に圧電素子2bの超音波ビー
ムによる横波が被検体6の内部を伝搬して先の焦点領域
に欠陥があるときにはその横波のエコーが被検体6の表
面で縦波のエコーに変換されて圧電素子2bにより縦波
エコーとして受信されて検出される。ここで検出される
2つのエコー受信信号を欠陥検出信号として処理するこ
とによりエコーレベルが大きく採れるので感度は高くな
り、また、しかも、焦点は、横波側で絞られた状態にな
っているので高精度な欠陥が検出ができる。
【0011】ところで、縦波の臨界角α1 は、これより
大きな角度(法線を基準として)となると被検体6の内
部に超音波が縦波として侵入できなくなる角度である。
したがって、臨界角α1 より小さい角度では縦波と横波
とが混在する。この臨界角α1 以上のときには被検体6
の入射点で縦波が横波に変換され、横波の臨界角α2
り大きな角度になると被検体6の内部に横波としても侵
入できなくなって超音波は被検体6の表面で全反射す
る。このような臨界角α1 ,α2 は、被検体6やプロー
ブ10と被検体6との間に介在する伝播媒質に応じて相
違でする。したがって、プローブ10の音響レンズ3a
や圧電素子2a,2bの半径等は、検査対象となる被検
体6の材質や超音波伝播媒質(通常は水)に応じて決定
されることになる。例えば、被検体6が銅材のときには
水と銅との臨界角α1 は、25℃で14°前後であり、
臨界角α2 は、28°前後になる。そこで、これに応じ
て圧電素子2a,2bの半径と音響レンズ3aの曲率等
が焦点距離との関係で決定される。
【0012】なお、縦波と横波との伝播速度に相違があ
るので、被検体6の深いところで焦点位置が設定される
場合には、圧電素子2aで検出されるエコーと圧電素子
2bで検出されるエコーとの時間的なずれを調整する必
要がある。この調整として簡単な方法としては、例え
ば、縦波と横波の焦点Fのまでの路程の相違に対応する
遅延時間を算出し、圧電素子2bを先にパルス駆動し、
先に算出された所定の時間遅延の後に圧電素子2aをパ
ルス駆動するようにすればよい。しかし、焦点位置が浅
い位置のときには、横波と縦波との調整はほとんど不要
であって、図2の焦点集束状態から理解できるように、
横波で決定される焦点位置の欠陥について感度よく高い
精度で欠陥の検出が可能である。
【0013】以上説明してきたが、実施例では、中心に
設けた円板状の圧電素子に対してリング状圧電素子を1
個設けているが、各種の被検体に対応して使用できるよ
うにするために半径の相違するリング状圧電素子を中心
の円板状圧電素子に対して同心円状に多数設けてもよ
い。
【0014】
【発明の効果】以上の説明から理解できるように、この
発明にあっては、縦波を主体とする振動子の他に被検体
内部で横波を発生する振動子を別個に設けて横波を発生
する振動子側で焦点集束を行うようにし、それぞれを駆
動することで焦点集束の位置で縦波+横波のエコーを2
つの振動子により受信するようにしているので、焦点付
近での被検体の欠陥については感度が高く、精度の高い
エコーを得ることができる。その結果、それぞれの振動
子を使用することにより高感度で高精度なプローブを提
供することができ、さらに、リング状振動子のみを駆動
すれば選択的に横波のみを発生させて探傷することも可
能であり、2つの波の干渉が発生せずに正確な測定がで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 図1は、この発明を適用したプローブの一実
施例の縦断面図及びその横断面図である。
【図2】 図2は、その超音波ピーク集束状態について
の説明図である。
【図3】 図3は、従来の固定焦点型プローブの縦断面
図である。
【符号の説明】
1…ハウジング、2,2a,2b…圧電素子、3,3a
…音響レンズ、4…ダンパー材、5,7,8…リード
線、6…被検体、9,10…プローブ、12a,12b
…超音波ビームの指向性領域。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 中央に円板状の第1の振動子と、これに
    対して同心円状に設けられたリング状の第2の振動子
    と、この第2のリング状の振動子からの超音波を縦波の
    臨界角より大きく、横波の臨界角より小さい範囲で被検
    体に入射させて所定の位置に集束させる音響レンズとを
    備え、第1及び第2の振動子を駆動して前記被検体から
    のエコーを得ることを特徴とする超音波探触子。
JP23226791A 1991-08-20 1991-08-20 超音波探触子 Pending JPH0545346A (ja)

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JP23226791A JPH0545346A (ja) 1991-08-20 1991-08-20 超音波探触子

Applications Claiming Priority (1)

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JP23226791A JPH0545346A (ja) 1991-08-20 1991-08-20 超音波探触子

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Publication Number Publication Date
JPH0545346A true JPH0545346A (ja) 1993-02-23

Family

ID=16936572

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JP23226791A Pending JPH0545346A (ja) 1991-08-20 1991-08-20 超音波探触子

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JP (1) JPH0545346A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007028704A3 (de) * 2005-09-07 2007-06-07 Siemens Ag Ultraschallschwingungswandler mit einem auf einer membranfläche andegeordneten piezoelement
JP2009055458A (ja) * 2007-08-28 2009-03-12 Nippon Ceramic Co Ltd 超音波送受波器
CN106290581A (zh) * 2015-05-27 2017-01-04 中国石油化工股份有限公司 一种超声波晶片组、超声波探头及岩芯超声波测试系统
US9910016B2 (en) * 2014-10-15 2018-03-06 Fbs, Inc. Piezoelectric shear rings for omnidirectional shear horizontal guided wave excitation and sensing

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WO2007028704A3 (de) * 2005-09-07 2007-06-07 Siemens Ag Ultraschallschwingungswandler mit einem auf einer membranfläche andegeordneten piezoelement
JP2009055458A (ja) * 2007-08-28 2009-03-12 Nippon Ceramic Co Ltd 超音波送受波器
US9910016B2 (en) * 2014-10-15 2018-03-06 Fbs, Inc. Piezoelectric shear rings for omnidirectional shear horizontal guided wave excitation and sensing
CN106290581A (zh) * 2015-05-27 2017-01-04 中国石油化工股份有限公司 一种超声波晶片组、超声波探头及岩芯超声波测试系统

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