JPH04169094A - 薄膜エレクトロルミネッセンス素子の製造法 - Google Patents
薄膜エレクトロルミネッセンス素子の製造法Info
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- JPH04169094A JPH04169094A JP2294846A JP29484690A JPH04169094A JP H04169094 A JPH04169094 A JP H04169094A JP 2294846 A JP2294846 A JP 2294846A JP 29484690 A JP29484690 A JP 29484690A JP H04169094 A JPH04169094 A JP H04169094A
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Landscapes
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野〕
本発明は、薄膜エレクトロルミネッセンス(以下ELと
いう)素子の製造法に関する。
いう)素子の製造法に関する。
従来、透明基板上に透明電極、第1の絶縁層。
発光層、第2の絶縁層及び背面電極を順次積層してなる
薄膜EL素子において薄膜EL素子の発光輝度を向上さ
せるために通常、その製造工程において、−船釣には発
光層の形成後基板を真空下、500〜600℃で1〜2
時間程度加熱する熱処理が行われている(日経エレクト
ロニクス1979年4月号)。
薄膜EL素子において薄膜EL素子の発光輝度を向上さ
せるために通常、その製造工程において、−船釣には発
光層の形成後基板を真空下、500〜600℃で1〜2
時間程度加熱する熱処理が行われている(日経エレクト
ロニクス1979年4月号)。
この従来の薄膜EL素子において発光層としてMnを少
量添加したZnSを用いたものであって第1及び第2の
絶縁層を有するものが、現在、最も高い発光輝度を示す
ものとされている。
量添加したZnSを用いたものであって第1及び第2の
絶縁層を有するものが、現在、最も高い発光輝度を示す
ものとされている。
しかし、この薄膜EL素子においても、フレーム周波数
が数十Hzである線順次走査による発光時の輝度は20
〜30フートランバートであり、CRT (カソード・
レイ・チューブ)などと比べると実用的なデイスプレィ
パネルとするには、未だ、発光輝度が不充分である。
が数十Hzである線順次走査による発光時の輝度は20
〜30フートランバートであり、CRT (カソード・
レイ・チューブ)などと比べると実用的なデイスプレィ
パネルとするには、未だ、発光輝度が不充分である。
本発明は、優れた発光輝度を有する薄膜EL素子の製造
法を提供するものである。
法を提供するものである。
本発明は、透明基板上に、透明電極、発光層、背面電極
、発光層の少なくとも片面の絶縁層を形成する薄膜エレ
クトロルミネッセンス素子の製造法において、発光層の
形成を■族の元素とVIB族の元素(ただし、酸素は除
く)とから構成される化合物を蒸発源としてイオウ酸化
物雰囲気下で真空成膜法により形成することを特徴とす
るものである。
、発光層の少なくとも片面の絶縁層を形成する薄膜エレ
クトロルミネッセンス素子の製造法において、発光層の
形成を■族の元素とVIB族の元素(ただし、酸素は除
く)とから構成される化合物を蒸発源としてイオウ酸化
物雰囲気下で真空成膜法により形成することを特徴とす
るものである。
発光層は、Mn、Tb、Eu、Ce等の遷移金属、希土
類などからなる発光性付活元素(発光中心)を含むZn
S、CaS、SrS、Zn5e等の母材物質からなる螢
光体からなり酸素を含むものである。形成方法としては
、電子ビーム蒸着法又は抵抗加熱蒸着法等の真空成膜法
が用いられる。
類などからなる発光性付活元素(発光中心)を含むZn
S、CaS、SrS、Zn5e等の母材物質からなる螢
光体からなり酸素を含むものである。形成方法としては
、電子ビーム蒸着法又は抵抗加熱蒸着法等の真空成膜法
が用いられる。
これらの真空成膜法において、ターゲット等の蒸発源と
しては、発光中心を添加(ドープ)した母材物質が使用
される。発光中心を添加(ドープ)していない母材物質
をターゲット等の蒸発源として用いるときは、Mn5O
,、MnO,MnS。
しては、発光中心を添加(ドープ)した母材物質が使用
される。発光中心を添加(ドープ)していない母材物質
をターゲット等の蒸発源として用いるときは、Mn5O
,、MnO,MnS。
M n Cl□等の発光性付活元素の化合物を蒸発源と
して別に使用する。発光中心を添加(ドープ)した母材
物質を用いるとき発光中心は母材物質に対して0.00
1〜10重量%添加されているのが好ましい。母材物質
としては特に硫化物が好ましい。
して別に使用する。発光中心を添加(ドープ)した母材
物質を用いるとき発光中心は母材物質に対して0.00
1〜10重量%添加されているのが好ましい。母材物質
としては特に硫化物が好ましい。
発光層の形成は、イオウ酸化物雰囲気下に行われる。イ
オウ酸化物雰囲気下とは、SOx (x>0)で表わさ
れる酸化イオウガスを含む雰囲気であって、他にA r
、 N2等の不活性ガスを含んでいてもよい。イオウ
酸化物雰囲気は、イオウ酸化物ガスの分圧をlXl0”
’〜1xlO−’h−ル(Torr)とされるのが好ま
しい。
オウ酸化物雰囲気下とは、SOx (x>0)で表わさ
れる酸化イオウガスを含む雰囲気であって、他にA r
、 N2等の不活性ガスを含んでいてもよい。イオウ
酸化物雰囲気は、イオウ酸化物ガスの分圧をlXl0”
’〜1xlO−’h−ル(Torr)とされるのが好ま
しい。
電子ビーム蒸着法又は抵抗加熱蒸着法により得られる発
光層は結晶性に優れ、また、蒸着時の真空度を1×10
−8〜lXl0−’と高(できるため、不純物の混入を
防ぐことができ、高輝度の薄膜EL素子が得やすい。ま
た、成膜速度を速くすることができるので短時間で発光
層を形成することができる。
光層は結晶性に優れ、また、蒸着時の真空度を1×10
−8〜lXl0−’と高(できるため、不純物の混入を
防ぐことができ、高輝度の薄膜EL素子が得やすい。ま
た、成膜速度を速くすることができるので短時間で発光
層を形成することができる。
このようにして作成される発光層には、酸素が導入され
ており、この酸素が発光層のVIB族元素の欠陥を埋め
る役目を果たすためと考えられるが、結果として発光輝
度が向上する。
ており、この酸素が発光層のVIB族元素の欠陥を埋め
る役目を果たすためと考えられるが、結果として発光輝
度が向上する。
透明基板としてはガラス板等が使用される。
透明電極は、Snow 、In、Ol、インジウムスズ
オキサイド(ITo)等からなり、それらを電子ビーム
蒸着法、真空蒸着法、スパッタリング法、 CVD (
Chemical Vapor Deposition
)法、プラズマCVD法等によって成膜した後、エツチ
ングレジストの塗布中エツチングΦエツチングレジスト
除去によりパターンニングすることにより形成される。
オキサイド(ITo)等からなり、それらを電子ビーム
蒸着法、真空蒸着法、スパッタリング法、 CVD (
Chemical Vapor Deposition
)法、プラズマCVD法等によって成膜した後、エツチ
ングレジストの塗布中エツチングΦエツチングレジスト
除去によりパターンニングすることにより形成される。
背面電極は、透明電極と同様のものでもよ(、アルミニ
ウム、クロム、金等の金属からなるものであってもよい
。これらを透明電極の場合と同様に成膜した後、パター
ンニングして背面電極とする。
ウム、クロム、金等の金属からなるものであってもよい
。これらを透明電極の場合と同様に成膜した後、パター
ンニングして背面電極とする。
絶縁Mは、Ta21s、 Y2O3,S io2. A
12o、、S i、N、、AIN、SrT io、等か
らなり、これらの層を2層以上積層して絶縁層としても
よい。これらの層の形成方法は、透明電極の形成方法と
同様である。
12o、、S i、N、、AIN、SrT io、等か
らなり、これらの層を2層以上積層して絶縁層としても
よい。これらの層の形成方法は、透明電極の形成方法と
同様である。
透明電極、第一の絶縁層1発光層、第二の絶縁層及び背
面電極が、この順序で、透明基板上に順次形成される。
面電極が、この順序で、透明基板上に順次形成される。
ただし、第−及び第二の絶縁層のうちどちらか一つはな
くてもよい。また、発光層を形成後前記と同様の絶縁層
を積層し、さらに発光層を形成してもよい。
くてもよい。また、発光層を形成後前記と同様の絶縁層
を積層し、さらに発光層を形成してもよい。
本発明においては、これらの工程中発光層の形成膜に、
真空下又はA r 、 N 2等の不活性ガス雰囲気下
に200〜650℃で加熱処理をしてもよい。
真空下又はA r 、 N 2等の不活性ガス雰囲気下
に200〜650℃で加熱処理をしてもよい。
第1図は本発明により得られる薄膜EL素子の一例を示
す断面図であり、透明基板1の上に透明電極2.第一の
絶縁層39発光層4.第二の絶縁層5及び背面電極6を
この順に積層して作製したものである。
す断面図であり、透明基板1の上に透明電極2.第一の
絶縁層39発光層4.第二の絶縁層5及び背面電極6を
この順に積層して作製したものである。
実施例
第1図に示すような構造の薄膜EL素子を作成した。
透明基板1としてのホウケイ酸ガラス上にITO膜をス
パッタリング法で形成し、これをエツチングして透明電
極2としてのストライプ状ITO透明電極(膜厚0.2
μm、幅0.15mm、電極間隔0.1m++)320
本を形成した。この上に、第一の絶縁層3としてSi3
N4膜プラズマCVD法で0.22μmの厚さに形成し
た。
パッタリング法で形成し、これをエツチングして透明電
極2としてのストライプ状ITO透明電極(膜厚0.2
μm、幅0.15mm、電極間隔0.1m++)320
本を形成した。この上に、第一の絶縁層3としてSi3
N4膜プラズマCVD法で0.22μmの厚さに形成し
た。
次いで、発光層4として電子ビーム蒸着法によりマンガ
ン付活硫化亜鉛(ZnS:Mn)層0.6μmの厚さに
形成した。ターゲットとしてはMnをZnSに対して0
.5重量%添加したZn、Sペレットを使用し、電子ビ
ーム蒸着槽内は、−旦lXl0−’h−ルまで減圧にし
だ後S02を導入し、lXl0−’トールとした。また
、基板温度は200℃とし、成膜速度は、60nm/分
とした。
ン付活硫化亜鉛(ZnS:Mn)層0.6μmの厚さに
形成した。ターゲットとしてはMnをZnSに対して0
.5重量%添加したZn、Sペレットを使用し、電子ビ
ーム蒸着槽内は、−旦lXl0−’h−ルまで減圧にし
だ後S02を導入し、lXl0−’トールとした。また
、基板温度は200℃とし、成膜速度は、60nm/分
とした。
次いで、第二の絶縁層5としてSi、Na膜をスパッタ
リング法で0.22μmの厚さに形成した。
リング法で0.22μmの厚さに形成した。
最後に、電子ビーム蒸着法でAg層を形成し、エツチン
グして背面電極6としてのストライプ状A!の背面電極
(膜厚0.2μm、幅0.15mm、電極間隔0.1m
m)を200本、ITO透明電極と直交するように形成
した。
グして背面電極6としてのストライプ状A!の背面電極
(膜厚0.2μm、幅0.15mm、電極間隔0.1m
m)を200本、ITO透明電極と直交するように形成
した。
比較例
実施例において、発光層の形成を、電子ビーム蒸着槽内
を1×10−7トールまで減圧にした後SO2を導入し
ないで行ったこと以外は、実施例(こ準じて、薄膜EL
素子を得た。
を1×10−7トールまで減圧にした後SO2を導入し
ないで行ったこと以外は、実施例(こ準じて、薄膜EL
素子を得た。
実施例、比較例により得られた薄膜EL素子の発光輝度
特性を周波数150 Hzの余弦波電圧を用いて駆動し
、透明電極と背面電極の間【こ印加する駆動電圧(Vr
ms)と発光輝度の関係(印加電圧−発光輝度特性)を
第2図に示す。第2図中、グラフ7は実施例についての
、グラフ8は比較側番こついての結果である。
特性を周波数150 Hzの余弦波電圧を用いて駆動し
、透明電極と背面電極の間【こ印加する駆動電圧(Vr
ms)と発光輝度の関係(印加電圧−発光輝度特性)を
第2図に示す。第2図中、グラフ7は実施例についての
、グラフ8は比較側番こついての結果である。
これらの結果から明らかであるように、発光開始電圧よ
り30V高い印加電圧にお(Aて、発光輝度は実施例の
場合では380cd/ゴ(176Vにおいて)及び比較
例の場合では230cd/m’(174Vにおいて)で
あった。
り30V高い印加電圧にお(Aて、発光輝度は実施例の
場合では380cd/ゴ(176Vにおいて)及び比較
例の場合では230cd/m’(174Vにおいて)で
あった。
本発明によれば、発光輝度の優れた薄膜EL素子を容易
に製造することができる。
に製造することができる。
第1図は本発明の薄膜EL素子の断面図、第2図は実施
例及び比較例で得られた薄膜EL素子の印加電圧−発光
輝度特性を示すグラフである。 l・・・透明基板、2・・・透明電極、3・・・第一の
絶縁層、4・・・発光層、5・・・第二の絶縁膜、6・
・・背面電極、7・・・実施例の結果を示すグラフ、8
・・・比較例の結果を示すグラフ。
例及び比較例で得られた薄膜EL素子の印加電圧−発光
輝度特性を示すグラフである。 l・・・透明基板、2・・・透明電極、3・・・第一の
絶縁層、4・・・発光層、5・・・第二の絶縁膜、6・
・・背面電極、7・・・実施例の結果を示すグラフ、8
・・・比較例の結果を示すグラフ。
Claims (1)
- 1.透明基板上に、透明電極、発光層、背面電極、発光
層の少なくとも片面の絶縁層を形成する薄膜エレクトロ
ルミネッセンス素子の製造法において、発光層の形成を
II族の元素とVIB族の元素(ただし、酸素は除く)とか
ら構成される化合物を蒸発源としイオウ酸化物雰囲気下
で真空成膜法により形成することを特徴とする薄膜エレ
クトロルミネッセンス素子の製造法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2294846A JPH04169094A (ja) | 1990-10-31 | 1990-10-31 | 薄膜エレクトロルミネッセンス素子の製造法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2294846A JPH04169094A (ja) | 1990-10-31 | 1990-10-31 | 薄膜エレクトロルミネッセンス素子の製造法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04169094A true JPH04169094A (ja) | 1992-06-17 |
Family
ID=17813013
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2294846A Pending JPH04169094A (ja) | 1990-10-31 | 1990-10-31 | 薄膜エレクトロルミネッセンス素子の製造法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04169094A (ja) |
-
1990
- 1990-10-31 JP JP2294846A patent/JPH04169094A/ja active Pending
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