JPH04170003A - 薄膜サーミスタ及びその製造方法 - Google Patents

薄膜サーミスタ及びその製造方法

Info

Publication number
JPH04170003A
JPH04170003A JP27162490A JP27162490A JPH04170003A JP H04170003 A JPH04170003 A JP H04170003A JP 27162490 A JP27162490 A JP 27162490A JP 27162490 A JP27162490 A JP 27162490A JP H04170003 A JPH04170003 A JP H04170003A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thermistor
heat
thin film
film
temperature
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP27162490A
Other languages
English (en)
Inventor
Masashi Komabayashi
正士 駒林
Masami Koshimura
正己 越村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Materials Corp
Original Assignee
Mitsubishi Materials Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Materials Corp filed Critical Mitsubishi Materials Corp
Priority to JP27162490A priority Critical patent/JPH04170003A/ja
Publication of JPH04170003A publication Critical patent/JPH04170003A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Thermistors And Varistors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は感熱性抵抗膜が鉄とマンガンとけい素からなる
薄膜サーミスタ及びその製造方法に関する。特に高温用
に好適な薄膜サーミスタ及びその製造方法に関するもの
である。
[従来の技術] 従来、薄膜サーミスタの感熱性抵抗膜は酸化物材料又は
非酸化物材料により構成される。前者の酸化物材料とし
ては、Mn、C0.Niの金属複合酸化物又はMn、C
0.NiO中の2〜3成分にA交、Cr、Cu、Fe等
の中の1つ以上の成分を加えた金属複合酸化物が知られ
ている(例えば、特開昭62−291002.特開昭6
2−293701 、特開平1−50501)。また後
者の非酸化物材料としては、炭化けい素が知られている
(例えば、特公昭56−26965 、特開昭61−2
45502.特開平1−130503)。
[発明が解決しようとする課題] 一般にサーミスタ用の材料では、温度係数であるB定数
は少なくとも100OK以上が必要である。
しかし、前者の酸化物材料の場合に上記B定数でその抵
抗率が25℃においては数Ω・cm以上の値となる。例
えば、電気絶縁性基板上に少なくとも1対の基底電極を
備え、これに薄膜を形成したサーミスタではその膜厚が
約2μm以下であることから25℃においてその抵抗値
は数にΩ〜LookΩ以上となり゛、高抵抗のサーミス
タしか作れない問題点があった。またこの高抵抗を利用
して、前者の酸化物材料で高温用サーミスタを作ると、
その組成が酸化物であることから高温時において酸化状
態が変化しサーミスタとしての特性が安定しなくなる問
題点があった。
後者の炭化けい素の場合には、この材料は熱的安定性が
高いため高温に耐える特長がある反面、その抵抗率が比
較的高く、膜厚を数μmとしても25℃で抵抗値が数1
00にΩ以上となり、やはり高抵抗のサーミスタしか作
れない問題点があった。また炭化けい素はB定数が25
℃付近において2500に程度と低いため、酸化物材料
と異なり程々の温度係数をもつ薄膜サーミスタを作るこ
とができない問題点があった。更に炭化けい素をサーミ
スタ用の材料とする場合、その構造上けい素と炭素の組
成比の変更は難しいため、成膜条件によってのみサーミ
スタの特性を変えられるに過ぎず、各種用途にきめ細か
に対応し幅広い特性を具備したサーミスタが得がたい不
具合があった。
本発明の目的は、上記問題点を解決するもので電気絶縁
性基板上に少なくとも1対の基底電極を備え、これに薄
膜を形成したサーミスタにおいて、少なくとも100O
K以上のB定数を有し、膜厚が0.1〜2μm程度で数
Ω〜数100にΩの抵抗値を有し、幅広い特性を具備す
ることができ、しかも少なくとも300℃以上の温度で
安定性の良い薄膜サーミスタ及びその製造方法を提供す
ることにある。
[課題を解決するための手段] 本発明者らは耐熱材料として開発されたFe5is系の
バルク材料が耐酸化性にも優れ、しかも大気中で利用で
きる高温用熱電材料であること(R。
Kieffer、 F、Benesovsky and
 C,Konopicky: Ber。
Deunt、 Keram、 Ges、、31 (19
54) 223など)、また986℃までは状態図上安
定な材料であって(J。
P、Piton and MJ:、Fay: C,R,
Acad、 Sci、、C266(1968) 154
) 、Lかもこの材料が半導体材料としても用いられて
いることに着目し、この材料を薄膜化することにより、
上記目的を達成できることを見出し、本発明に到達した
第1図に示すように、本発明の薄膜サーミスタ1は、電
気絶縁性基板2上に1対の電極3.3が設けられ、これ
らの電極3.3の上面及び電極が設けられていない基板
2の上面に感熱性抵抗膜4が設けられる。そしてこの感
熱性抵抗膜4が鉄、マンガン及びけい素からなり、その
組成が(F e 1−1M n x)1−y S i 
yであって、0<x≦0.30,0.63≦y≦0.7
1であることを特徴とする。電極3.3は2対以上あっ
てもよく、また電極3.3は感熱性抵抗膜4の上面に設
けてもよい。
この薄膜サーミスタを製造するには、不活性ガス雰囲気
中において、鉄とマンガンとけい素からなるターゲット
を用いて電気絶縁性基板上にスパッタリング蒸着により
、その組成が (F e 1−xM n X)l−)I S i yで
あって、0<x≦0.30,0.63≦y≦0,71で
ある感熱性抵抗膜を形成する。
本発明の電気絶縁性基板は、耐熱性を有し、鉄けい化物
の熱膨張率(10x 10−’deg−”)に近い熱膨
張率を有し、鉄けい化物の付着性の大きいものであれば
よい。例示すればアルミナ、フォルスライト、ステアラ
イト、ベリリア、Mg−AUスピネル等のいずれかの材
料からなる基板が好ましい。
また電極は、耐熱性と耐蝕性に優れた導電性材料により
作られる。例えば銀、金、白金、白金−金、金−パラジ
ウム−白金等が挙げられる。この電極は上記金属ペース
トを基板端部に印刷して焼付けて形成される。
更に感熱性抵抗膜は、気相成長法、電子ビーム蒸着法、
イオンビーム蒸着法、真空蒸着法、スパッタリング蒸着
法等により形成される。スパッタリング蒸着法が量産に
適しているため好ましい。
スパッタリング蒸着は、Arガスのような不活性ガス雰
囲気中で行われ、ターゲットには鉄とマンガンとけい素
の各粉末を所定の比率で配合し、円盤状に粉末冶金した
ものを使用する。蒸着した抵抗膜は結晶構造上、(Fe
Mn)Si*化合物を形成している必要があるため、基
板を300〜950℃の温度で加熱した状態で蒸着する
ことが望ましい。
しかし室温で蒸着した後に、次に述べる熱処理により(
FeMn)Sit化合物を得てもよい。
本発明の感熱性抵抗膜は、その組成が (F e 1−XM n x)by S i yであっ
て、0<x≦0.30,0.63≦y≦071であるこ
とを特徴とする。Mnの含有率Xが0730を越えるか
又はSiの含有率yが0.63〜071の範囲を外れる
組成になると、B定数が1000に以下となりサーミス
タの特性上好ましくない。
この抵抗膜の厚さは01〜2μmの範囲からサーミスタ
の用途に応じて作られる。0.1μm未満の場合、電極
に接続されるリード線の電気的抵抗の影響を受は易く、
また2μmを越えると基板との熱膨張率の違いにより膜
が剥離し易くなるため、上記範囲内で作られる。
スパッタリング蒸着した後、感熱性抵抗膜を形成した電
気絶縁性基板を400〜985℃の温度範囲で熱処理す
ると、サーミスタとしての感熱性の再現性がよく、かつ
熱的安定性に優れるため好ましい。この熱処理は不活性
ガス雰囲気中又は真空中がより安定した特性を得るため
に好ましいが、大気中でも特性が安定しているためよい
。また熱処理は400℃未満であるとその効果が乏しく
、985℃を越えると抵抗膜が熱的損傷を受は易くなる
[作 用コ 基板上に感熱性抵抗膜を鉄とマンガンとけい素の組成比
を所定の範囲内で変えてスパッタリング蒸着することに
より、一般にサーミスタに要求されるB定数及び抵抗値
の中から所望の特性を具備することができる。また、基
板上に形成された鉄けい化物薄膜は耐熱性にも耐酸化性
にも優れ、しかも大気中で利用できる高温用熱電材料で
あるため、300℃以上の温度でも感熱性の再現性が良
好になる。
[発明の効果] 以上述べたように、本発明の(FeMn)SL薄膜サー
ミスタは鉄とマ:/ガソとけい素の組成比に応じてB定
数が少なくとも100OK以Fの、サーミスタとして好
ましい値を有し、しかも室温での抵抗率が数10mΩ・
Cm〜数Ω・cmと広範囲でかつ従来のサーミスタと比
べて極めて小さいため、薄膜サーミスタ素子として従来
不可能であった数10Ω〜数1000Ωの低い抵抗値を
容易に得ることができる。
特に薄膜に対してトリミング等を行えば、更に高抵抗化
することができ、高温における特性がより向上する。ま
た鉄けい化物は耐熱性に優れているため、本発明の薄膜
サーミスタは高温用に好適である。
[実施例] 次に本発明の実施例を比較例とともに説明する。
〈実施例1〉 電気絶縁性基板として、この例ではアルミナ基板を選定
した。ガラス粉末が混入された、所謂ガラスフリット入
り白金ペーストを基板の上面にスクリーン印刷法により
印刷し大気中にて1000℃の温度で1時間焼付けて1
対の電極を形成した。。
この基板を9枚用意した後、各基板の上面に高周波スパ
ッタリング法により(FeMn)Si薄膜を形成し、9
種類の薄膜サーミスタを作製した。即ち、鉄とマンガン
とけい素の原子比を変えた9種類のターゲットを用意し
て、各ターゲットを高周波スパッタリング装置の陰極に
各別に設け、数mTorr程度のArガス雰囲気中で、
高周波電力aoow、成膜速度3μm/時の条件でスパ
ッタリシグし基板の上面に薄膜を形成した。
蒸着後、薄膜を形成した基板を600℃の温度で熱処理
した。
〈比較例1〉 実施例1の9種類のターゲットの中で、Mnの含有率が
最大のものより更にMnの含有率の大きいターゲット、
Siの含有率が最小のものより更にSiの含有率の小さ
いターゲット及びSiの含有率が最大のものより更にS
iの含有率の大きいターゲットを用いた以外は、実施例
1と同様にして3種類の薄膜サーミスタを作製した。
実施例1及び比較例1で作製したサーミスタの特性を第
1表に示す。11種類の薄膜サーミスタはいずれも膜厚
約1μm1電極間距離1mm、薄膜の幅1mmであった
(以下、本頁余白) 第  1  表 第1表の結果から、Mnの含有率Xが0.30を越える
か、又はSiの含有率yが0.63〜0471の範囲を
外れる組成になると、B定数が1000に以下となりサ
ーミスタの特性上好ましくないことが判った。
また実施例1の9種類の薄膜サーミスタはいずれも30
0〜500℃付近の温度まではB定数がほぼ一定で、5
00℃までの高温でも熱的に安定していた。500℃を
上回ると、B定数が大きくなる傾向を示し、これらの特
性は高温用サーミスタとして極めて好ましい結果であっ
た。
一方比較例1の3種類の薄膜サーミスタはB定数が10
00に以下と温度係数が小さいため、温度センサ或いは
温度補償用のサーミスタとしては不向きであった。
〈実施例2〉 実施例1のサーミスタの電極間距離を0.1mmにした
以外は、実施例1と同様にして薄膜サーミスタを作製し
た。この結果、実施例2のサーミスタの抵抗値は実施例
1の抵抗値の約10分の1になった。
〈実施例3〉 実施例1のサーミスタの膜厚を0.1μmにした以外は
、実施例1と同様にして薄膜サーミスタを作製した。こ
の結果、実施例3のサーミスタの抵抗値は実施例1の抵
抗値の約10倍になった。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の方法により製造した薄膜サーミスタの
断面図。 1:薄膜サーミスタ、 2:電気絶縁性基板、 3:電極、 4:感熱性抵抗膜。 特許出願人 三菱鉱業セメント株式会社1 簿膜サーミ
スタ 第1図 手続補正書0.え) 平成3年8月5日 2、発明の名称 薄膜サーミスタ及びその製造方法3、
補正をする者 事件との関係   特許出願人 住所(居所)東京都千代田区大手町−丁目6番1号氏名
(名称)   三菱マテリアル株式会社4、代理人 8、補正の内容 (1)明細書第3頁第5行目 「・・・100OK以上・・・」を 「・・・500に以上・・・」と訂正する。 (2)明細書第4頁第5行目 「・・・2500に程度と低いため、・・・」を「・・
・2500に程度であり、・・・」と訂正する。 (3)明細書第4頁第16行目 「・・・100OK以上・・・」を [・・・500に以上・・・」と訂正する。 (4)明細書第8頁第4行目〜同頁第5行目「・・・1
00OK以下・・・」を 「・・・500に以下・・・」と訂正する。 (5)明細書第9頁第15行目 「・・・100OK以上・・・」を 「・・・500に以上・・・」と訂正する。 (以下、本頁余白) (3)明細書第12頁第1表 第  1  表 を (以下、本頁余白) 第  1  表 と訂正する。 (4)明細書第12頁下から第2行目 rlooOK以下」を r500に以下Jと訂正する。 (5)明細書第13頁第8行目 「・・・100OK以下・・・」を 「・・・500に以下・・・」と訂正する。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)電気絶縁性基板(2)上に感熱性抵抗膜(4)とこ
    の抵抗膜(4)の上面又は下面に少なくとも1対の電極
    (3,3)がそれぞれ設けられた薄膜サーミスタ(1)
    において、前記感熱性抵抗膜(4)が鉄、マンガン及び
    けい素からなり、 その組成が(Fe_1_−_xMn_x)_1_−_x
    Si_yであって、0<x≦0.30,0.63≦y≦
    0.71であることを特徴とする薄膜サーミスタ。 2)不活性ガス雰囲気中において、鉄とマンガンとけい
    素からなるターゲットを用いて電気絶縁性基板上にスパ
    ッタリング蒸着により その組成が(Fe_1_−_xMn_x)_1_−_y
    Si_yであって、0<x≦0.30,0.63≦y≦
    0.71である感熱性抵抗膜を形成する薄膜サーミスタ
    の製造方法。 3)スパッタリング蒸着した後、感熱性抵抗膜を形成し
    た電気絶縁性基板を不活性ガス雰囲気中又は真空中で4
    00〜985℃の温度範囲で熱処理する請求項2記載の
    薄膜サーミスタの製造方法。
JP27162490A 1990-10-09 1990-10-09 薄膜サーミスタ及びその製造方法 Pending JPH04170003A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27162490A JPH04170003A (ja) 1990-10-09 1990-10-09 薄膜サーミスタ及びその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27162490A JPH04170003A (ja) 1990-10-09 1990-10-09 薄膜サーミスタ及びその製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04170003A true JPH04170003A (ja) 1992-06-17

Family

ID=17502670

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP27162490A Pending JPH04170003A (ja) 1990-10-09 1990-10-09 薄膜サーミスタ及びその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04170003A (ja)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5916104B2 (ja) * 1977-02-21 1984-04-13 極東開発工業株式会社 流動体圧送用ピストンポンプの油圧作動装置
JPS62291003A (ja) * 1986-06-10 1987-12-17 日本鋼管株式会社 薄膜サ−ミスタの製造方法
JPS62293701A (ja) * 1986-06-13 1987-12-21 日本鋼管株式会社 薄膜温度センサとその製造方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5916104B2 (ja) * 1977-02-21 1984-04-13 極東開発工業株式会社 流動体圧送用ピストンポンプの油圧作動装置
JPS62291003A (ja) * 1986-06-10 1987-12-17 日本鋼管株式会社 薄膜サ−ミスタの製造方法
JPS62293701A (ja) * 1986-06-13 1987-12-21 日本鋼管株式会社 薄膜温度センサとその製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4276535A (en) Thermistor
JP2000150204A (ja) Ntcサーミスタ及びチップ型ntcサーミスタ
CN114807859A (zh) 一种高电阻温度系数铂薄膜及其制备方法
JPH04170003A (ja) 薄膜サーミスタ及びその製造方法
JPS634321B2 (ja)
JPH04170001A (ja) 薄膜サーミスタ及びその製造方法
JPH04170002A (ja) 薄膜サーミスタ及びその製造方法
CN110230029A (zh) 一种尖晶石结构锰镍氧化物薄膜的制备方法
JPH04192302A (ja) 薄膜サーミスタ素子
JP4622946B2 (ja) 抵抗薄膜材料、抵抗薄膜形成用スパッタリングターゲット、抵抗薄膜、薄膜抵抗器およびその製造方法。
JP4136755B2 (ja) 3元合金材料からなるptcサーミスタ
JPS60208803A (ja) 薄膜サ−ミスタの製造方法
JPS62293701A (ja) 薄膜温度センサとその製造方法
JPS5923082B2 (ja) サ−ミスタおよびその製造方法
JP2587426B2 (ja) 薄膜サ−ミスタの製造方法
JPH0354843B2 (ja)
JP2727541B2 (ja) 薄膜サーミスタの製造法
JP4073658B2 (ja) 3元合金材料
JPH071722B2 (ja) 薄膜抵抗体
JPH04192303A (ja) チップ型サーミスタ
JPS6395601A (ja) 抵抗薄膜
JPH04206603A (ja) 正特性サーミスタの製造方法
JPS634322B2 (ja)
JPH04206185A (ja) A▲l▼Nセラミックスヒータ及びその製造方法
JPH0620803A (ja) 薄膜抵抗器及び薄膜抵抗器の製造方法