JPH04170003A - 薄膜サーミスタ及びその製造方法 - Google Patents
薄膜サーミスタ及びその製造方法Info
- Publication number
- JPH04170003A JPH04170003A JP27162490A JP27162490A JPH04170003A JP H04170003 A JPH04170003 A JP H04170003A JP 27162490 A JP27162490 A JP 27162490A JP 27162490 A JP27162490 A JP 27162490A JP H04170003 A JPH04170003 A JP H04170003A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thermistor
- heat
- thin film
- film
- temperature
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Thermistors And Varistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明は感熱性抵抗膜が鉄とマンガンとけい素からなる
薄膜サーミスタ及びその製造方法に関する。特に高温用
に好適な薄膜サーミスタ及びその製造方法に関するもの
である。
薄膜サーミスタ及びその製造方法に関する。特に高温用
に好適な薄膜サーミスタ及びその製造方法に関するもの
である。
[従来の技術]
従来、薄膜サーミスタの感熱性抵抗膜は酸化物材料又は
非酸化物材料により構成される。前者の酸化物材料とし
ては、Mn、C0.Niの金属複合酸化物又はMn、C
0.NiO中の2〜3成分にA交、Cr、Cu、Fe等
の中の1つ以上の成分を加えた金属複合酸化物が知られ
ている(例えば、特開昭62−291002.特開昭6
2−293701 、特開平1−50501)。また後
者の非酸化物材料としては、炭化けい素が知られている
(例えば、特公昭56−26965 、特開昭61−2
45502.特開平1−130503)。
非酸化物材料により構成される。前者の酸化物材料とし
ては、Mn、C0.Niの金属複合酸化物又はMn、C
0.NiO中の2〜3成分にA交、Cr、Cu、Fe等
の中の1つ以上の成分を加えた金属複合酸化物が知られ
ている(例えば、特開昭62−291002.特開昭6
2−293701 、特開平1−50501)。また後
者の非酸化物材料としては、炭化けい素が知られている
(例えば、特公昭56−26965 、特開昭61−2
45502.特開平1−130503)。
[発明が解決しようとする課題]
一般にサーミスタ用の材料では、温度係数であるB定数
は少なくとも100OK以上が必要である。
は少なくとも100OK以上が必要である。
しかし、前者の酸化物材料の場合に上記B定数でその抵
抗率が25℃においては数Ω・cm以上の値となる。例
えば、電気絶縁性基板上に少なくとも1対の基底電極を
備え、これに薄膜を形成したサーミスタではその膜厚が
約2μm以下であることから25℃においてその抵抗値
は数にΩ〜LookΩ以上となり゛、高抵抗のサーミス
タしか作れない問題点があった。またこの高抵抗を利用
して、前者の酸化物材料で高温用サーミスタを作ると、
その組成が酸化物であることから高温時において酸化状
態が変化しサーミスタとしての特性が安定しなくなる問
題点があった。
抗率が25℃においては数Ω・cm以上の値となる。例
えば、電気絶縁性基板上に少なくとも1対の基底電極を
備え、これに薄膜を形成したサーミスタではその膜厚が
約2μm以下であることから25℃においてその抵抗値
は数にΩ〜LookΩ以上となり゛、高抵抗のサーミス
タしか作れない問題点があった。またこの高抵抗を利用
して、前者の酸化物材料で高温用サーミスタを作ると、
その組成が酸化物であることから高温時において酸化状
態が変化しサーミスタとしての特性が安定しなくなる問
題点があった。
後者の炭化けい素の場合には、この材料は熱的安定性が
高いため高温に耐える特長がある反面、その抵抗率が比
較的高く、膜厚を数μmとしても25℃で抵抗値が数1
00にΩ以上となり、やはり高抵抗のサーミスタしか作
れない問題点があった。また炭化けい素はB定数が25
℃付近において2500に程度と低いため、酸化物材料
と異なり程々の温度係数をもつ薄膜サーミスタを作るこ
とができない問題点があった。更に炭化けい素をサーミ
スタ用の材料とする場合、その構造上けい素と炭素の組
成比の変更は難しいため、成膜条件によってのみサーミ
スタの特性を変えられるに過ぎず、各種用途にきめ細か
に対応し幅広い特性を具備したサーミスタが得がたい不
具合があった。
高いため高温に耐える特長がある反面、その抵抗率が比
較的高く、膜厚を数μmとしても25℃で抵抗値が数1
00にΩ以上となり、やはり高抵抗のサーミスタしか作
れない問題点があった。また炭化けい素はB定数が25
℃付近において2500に程度と低いため、酸化物材料
と異なり程々の温度係数をもつ薄膜サーミスタを作るこ
とができない問題点があった。更に炭化けい素をサーミ
スタ用の材料とする場合、その構造上けい素と炭素の組
成比の変更は難しいため、成膜条件によってのみサーミ
スタの特性を変えられるに過ぎず、各種用途にきめ細か
に対応し幅広い特性を具備したサーミスタが得がたい不
具合があった。
本発明の目的は、上記問題点を解決するもので電気絶縁
性基板上に少なくとも1対の基底電極を備え、これに薄
膜を形成したサーミスタにおいて、少なくとも100O
K以上のB定数を有し、膜厚が0.1〜2μm程度で数
Ω〜数100にΩの抵抗値を有し、幅広い特性を具備す
ることができ、しかも少なくとも300℃以上の温度で
安定性の良い薄膜サーミスタ及びその製造方法を提供す
ることにある。
性基板上に少なくとも1対の基底電極を備え、これに薄
膜を形成したサーミスタにおいて、少なくとも100O
K以上のB定数を有し、膜厚が0.1〜2μm程度で数
Ω〜数100にΩの抵抗値を有し、幅広い特性を具備す
ることができ、しかも少なくとも300℃以上の温度で
安定性の良い薄膜サーミスタ及びその製造方法を提供す
ることにある。
[課題を解決するための手段]
本発明者らは耐熱材料として開発されたFe5is系の
バルク材料が耐酸化性にも優れ、しかも大気中で利用で
きる高温用熱電材料であること(R。
バルク材料が耐酸化性にも優れ、しかも大気中で利用で
きる高温用熱電材料であること(R。
Kieffer、 F、Benesovsky and
C,Konopicky: Ber。
C,Konopicky: Ber。
Deunt、 Keram、 Ges、、31 (19
54) 223など)、また986℃までは状態図上安
定な材料であって(J。
54) 223など)、また986℃までは状態図上安
定な材料であって(J。
P、Piton and MJ:、Fay: C,R,
Acad、 Sci、、C266(1968) 154
) 、Lかもこの材料が半導体材料としても用いられて
いることに着目し、この材料を薄膜化することにより、
上記目的を達成できることを見出し、本発明に到達した
。
Acad、 Sci、、C266(1968) 154
) 、Lかもこの材料が半導体材料としても用いられて
いることに着目し、この材料を薄膜化することにより、
上記目的を達成できることを見出し、本発明に到達した
。
第1図に示すように、本発明の薄膜サーミスタ1は、電
気絶縁性基板2上に1対の電極3.3が設けられ、これ
らの電極3.3の上面及び電極が設けられていない基板
2の上面に感熱性抵抗膜4が設けられる。そしてこの感
熱性抵抗膜4が鉄、マンガン及びけい素からなり、その
組成が(F e 1−1M n x)1−y S i
yであって、0<x≦0.30,0.63≦y≦0.7
1であることを特徴とする。電極3.3は2対以上あっ
てもよく、また電極3.3は感熱性抵抗膜4の上面に設
けてもよい。
気絶縁性基板2上に1対の電極3.3が設けられ、これ
らの電極3.3の上面及び電極が設けられていない基板
2の上面に感熱性抵抗膜4が設けられる。そしてこの感
熱性抵抗膜4が鉄、マンガン及びけい素からなり、その
組成が(F e 1−1M n x)1−y S i
yであって、0<x≦0.30,0.63≦y≦0.7
1であることを特徴とする。電極3.3は2対以上あっ
てもよく、また電極3.3は感熱性抵抗膜4の上面に設
けてもよい。
この薄膜サーミスタを製造するには、不活性ガス雰囲気
中において、鉄とマンガンとけい素からなるターゲット
を用いて電気絶縁性基板上にスパッタリング蒸着により
、その組成が (F e 1−xM n X)l−)I S i yで
あって、0<x≦0.30,0.63≦y≦0,71で
ある感熱性抵抗膜を形成する。
中において、鉄とマンガンとけい素からなるターゲット
を用いて電気絶縁性基板上にスパッタリング蒸着により
、その組成が (F e 1−xM n X)l−)I S i yで
あって、0<x≦0.30,0.63≦y≦0,71で
ある感熱性抵抗膜を形成する。
本発明の電気絶縁性基板は、耐熱性を有し、鉄けい化物
の熱膨張率(10x 10−’deg−”)に近い熱膨
張率を有し、鉄けい化物の付着性の大きいものであれば
よい。例示すればアルミナ、フォルスライト、ステアラ
イト、ベリリア、Mg−AUスピネル等のいずれかの材
料からなる基板が好ましい。
の熱膨張率(10x 10−’deg−”)に近い熱膨
張率を有し、鉄けい化物の付着性の大きいものであれば
よい。例示すればアルミナ、フォルスライト、ステアラ
イト、ベリリア、Mg−AUスピネル等のいずれかの材
料からなる基板が好ましい。
また電極は、耐熱性と耐蝕性に優れた導電性材料により
作られる。例えば銀、金、白金、白金−金、金−パラジ
ウム−白金等が挙げられる。この電極は上記金属ペース
トを基板端部に印刷して焼付けて形成される。
作られる。例えば銀、金、白金、白金−金、金−パラジ
ウム−白金等が挙げられる。この電極は上記金属ペース
トを基板端部に印刷して焼付けて形成される。
更に感熱性抵抗膜は、気相成長法、電子ビーム蒸着法、
イオンビーム蒸着法、真空蒸着法、スパッタリング蒸着
法等により形成される。スパッタリング蒸着法が量産に
適しているため好ましい。
イオンビーム蒸着法、真空蒸着法、スパッタリング蒸着
法等により形成される。スパッタリング蒸着法が量産に
適しているため好ましい。
スパッタリング蒸着は、Arガスのような不活性ガス雰
囲気中で行われ、ターゲットには鉄とマンガンとけい素
の各粉末を所定の比率で配合し、円盤状に粉末冶金した
ものを使用する。蒸着した抵抗膜は結晶構造上、(Fe
Mn)Si*化合物を形成している必要があるため、基
板を300〜950℃の温度で加熱した状態で蒸着する
ことが望ましい。
囲気中で行われ、ターゲットには鉄とマンガンとけい素
の各粉末を所定の比率で配合し、円盤状に粉末冶金した
ものを使用する。蒸着した抵抗膜は結晶構造上、(Fe
Mn)Si*化合物を形成している必要があるため、基
板を300〜950℃の温度で加熱した状態で蒸着する
ことが望ましい。
しかし室温で蒸着した後に、次に述べる熱処理により(
FeMn)Sit化合物を得てもよい。
FeMn)Sit化合物を得てもよい。
本発明の感熱性抵抗膜は、その組成が
(F e 1−XM n x)by S i yであっ
て、0<x≦0.30,0.63≦y≦071であるこ
とを特徴とする。Mnの含有率Xが0730を越えるか
又はSiの含有率yが0.63〜071の範囲を外れる
組成になると、B定数が1000に以下となりサーミス
タの特性上好ましくない。
て、0<x≦0.30,0.63≦y≦071であるこ
とを特徴とする。Mnの含有率Xが0730を越えるか
又はSiの含有率yが0.63〜071の範囲を外れる
組成になると、B定数が1000に以下となりサーミス
タの特性上好ましくない。
この抵抗膜の厚さは01〜2μmの範囲からサーミスタ
の用途に応じて作られる。0.1μm未満の場合、電極
に接続されるリード線の電気的抵抗の影響を受は易く、
また2μmを越えると基板との熱膨張率の違いにより膜
が剥離し易くなるため、上記範囲内で作られる。
の用途に応じて作られる。0.1μm未満の場合、電極
に接続されるリード線の電気的抵抗の影響を受は易く、
また2μmを越えると基板との熱膨張率の違いにより膜
が剥離し易くなるため、上記範囲内で作られる。
スパッタリング蒸着した後、感熱性抵抗膜を形成した電
気絶縁性基板を400〜985℃の温度範囲で熱処理す
ると、サーミスタとしての感熱性の再現性がよく、かつ
熱的安定性に優れるため好ましい。この熱処理は不活性
ガス雰囲気中又は真空中がより安定した特性を得るため
に好ましいが、大気中でも特性が安定しているためよい
。また熱処理は400℃未満であるとその効果が乏しく
、985℃を越えると抵抗膜が熱的損傷を受は易くなる
。
気絶縁性基板を400〜985℃の温度範囲で熱処理す
ると、サーミスタとしての感熱性の再現性がよく、かつ
熱的安定性に優れるため好ましい。この熱処理は不活性
ガス雰囲気中又は真空中がより安定した特性を得るため
に好ましいが、大気中でも特性が安定しているためよい
。また熱処理は400℃未満であるとその効果が乏しく
、985℃を越えると抵抗膜が熱的損傷を受は易くなる
。
[作 用コ
基板上に感熱性抵抗膜を鉄とマンガンとけい素の組成比
を所定の範囲内で変えてスパッタリング蒸着することに
より、一般にサーミスタに要求されるB定数及び抵抗値
の中から所望の特性を具備することができる。また、基
板上に形成された鉄けい化物薄膜は耐熱性にも耐酸化性
にも優れ、しかも大気中で利用できる高温用熱電材料で
あるため、300℃以上の温度でも感熱性の再現性が良
好になる。
を所定の範囲内で変えてスパッタリング蒸着することに
より、一般にサーミスタに要求されるB定数及び抵抗値
の中から所望の特性を具備することができる。また、基
板上に形成された鉄けい化物薄膜は耐熱性にも耐酸化性
にも優れ、しかも大気中で利用できる高温用熱電材料で
あるため、300℃以上の温度でも感熱性の再現性が良
好になる。
[発明の効果]
以上述べたように、本発明の(FeMn)SL薄膜サー
ミスタは鉄とマ:/ガソとけい素の組成比に応じてB定
数が少なくとも100OK以Fの、サーミスタとして好
ましい値を有し、しかも室温での抵抗率が数10mΩ・
Cm〜数Ω・cmと広範囲でかつ従来のサーミスタと比
べて極めて小さいため、薄膜サーミスタ素子として従来
不可能であった数10Ω〜数1000Ωの低い抵抗値を
容易に得ることができる。
ミスタは鉄とマ:/ガソとけい素の組成比に応じてB定
数が少なくとも100OK以Fの、サーミスタとして好
ましい値を有し、しかも室温での抵抗率が数10mΩ・
Cm〜数Ω・cmと広範囲でかつ従来のサーミスタと比
べて極めて小さいため、薄膜サーミスタ素子として従来
不可能であった数10Ω〜数1000Ωの低い抵抗値を
容易に得ることができる。
特に薄膜に対してトリミング等を行えば、更に高抵抗化
することができ、高温における特性がより向上する。ま
た鉄けい化物は耐熱性に優れているため、本発明の薄膜
サーミスタは高温用に好適である。
することができ、高温における特性がより向上する。ま
た鉄けい化物は耐熱性に優れているため、本発明の薄膜
サーミスタは高温用に好適である。
[実施例]
次に本発明の実施例を比較例とともに説明する。
〈実施例1〉
電気絶縁性基板として、この例ではアルミナ基板を選定
した。ガラス粉末が混入された、所謂ガラスフリット入
り白金ペーストを基板の上面にスクリーン印刷法により
印刷し大気中にて1000℃の温度で1時間焼付けて1
対の電極を形成した。。
した。ガラス粉末が混入された、所謂ガラスフリット入
り白金ペーストを基板の上面にスクリーン印刷法により
印刷し大気中にて1000℃の温度で1時間焼付けて1
対の電極を形成した。。
この基板を9枚用意した後、各基板の上面に高周波スパ
ッタリング法により(FeMn)Si薄膜を形成し、9
種類の薄膜サーミスタを作製した。即ち、鉄とマンガン
とけい素の原子比を変えた9種類のターゲットを用意し
て、各ターゲットを高周波スパッタリング装置の陰極に
各別に設け、数mTorr程度のArガス雰囲気中で、
高周波電力aoow、成膜速度3μm/時の条件でスパ
ッタリシグし基板の上面に薄膜を形成した。
ッタリング法により(FeMn)Si薄膜を形成し、9
種類の薄膜サーミスタを作製した。即ち、鉄とマンガン
とけい素の原子比を変えた9種類のターゲットを用意し
て、各ターゲットを高周波スパッタリング装置の陰極に
各別に設け、数mTorr程度のArガス雰囲気中で、
高周波電力aoow、成膜速度3μm/時の条件でスパ
ッタリシグし基板の上面に薄膜を形成した。
蒸着後、薄膜を形成した基板を600℃の温度で熱処理
した。
した。
〈比較例1〉
実施例1の9種類のターゲットの中で、Mnの含有率が
最大のものより更にMnの含有率の大きいターゲット、
Siの含有率が最小のものより更にSiの含有率の小さ
いターゲット及びSiの含有率が最大のものより更にS
iの含有率の大きいターゲットを用いた以外は、実施例
1と同様にして3種類の薄膜サーミスタを作製した。
最大のものより更にMnの含有率の大きいターゲット、
Siの含有率が最小のものより更にSiの含有率の小さ
いターゲット及びSiの含有率が最大のものより更にS
iの含有率の大きいターゲットを用いた以外は、実施例
1と同様にして3種類の薄膜サーミスタを作製した。
実施例1及び比較例1で作製したサーミスタの特性を第
1表に示す。11種類の薄膜サーミスタはいずれも膜厚
約1μm1電極間距離1mm、薄膜の幅1mmであった
。
1表に示す。11種類の薄膜サーミスタはいずれも膜厚
約1μm1電極間距離1mm、薄膜の幅1mmであった
。
(以下、本頁余白)
第 1 表
第1表の結果から、Mnの含有率Xが0.30を越える
か、又はSiの含有率yが0.63〜0471の範囲を
外れる組成になると、B定数が1000に以下となりサ
ーミスタの特性上好ましくないことが判った。
か、又はSiの含有率yが0.63〜0471の範囲を
外れる組成になると、B定数が1000に以下となりサ
ーミスタの特性上好ましくないことが判った。
また実施例1の9種類の薄膜サーミスタはいずれも30
0〜500℃付近の温度まではB定数がほぼ一定で、5
00℃までの高温でも熱的に安定していた。500℃を
上回ると、B定数が大きくなる傾向を示し、これらの特
性は高温用サーミスタとして極めて好ましい結果であっ
た。
0〜500℃付近の温度まではB定数がほぼ一定で、5
00℃までの高温でも熱的に安定していた。500℃を
上回ると、B定数が大きくなる傾向を示し、これらの特
性は高温用サーミスタとして極めて好ましい結果であっ
た。
一方比較例1の3種類の薄膜サーミスタはB定数が10
00に以下と温度係数が小さいため、温度センサ或いは
温度補償用のサーミスタとしては不向きであった。
00に以下と温度係数が小さいため、温度センサ或いは
温度補償用のサーミスタとしては不向きであった。
〈実施例2〉
実施例1のサーミスタの電極間距離を0.1mmにした
以外は、実施例1と同様にして薄膜サーミスタを作製し
た。この結果、実施例2のサーミスタの抵抗値は実施例
1の抵抗値の約10分の1になった。
以外は、実施例1と同様にして薄膜サーミスタを作製し
た。この結果、実施例2のサーミスタの抵抗値は実施例
1の抵抗値の約10分の1になった。
〈実施例3〉
実施例1のサーミスタの膜厚を0.1μmにした以外は
、実施例1と同様にして薄膜サーミスタを作製した。こ
の結果、実施例3のサーミスタの抵抗値は実施例1の抵
抗値の約10倍になった。
、実施例1と同様にして薄膜サーミスタを作製した。こ
の結果、実施例3のサーミスタの抵抗値は実施例1の抵
抗値の約10倍になった。
第1図は本発明の方法により製造した薄膜サーミスタの
断面図。 1:薄膜サーミスタ、 2:電気絶縁性基板、 3:電極、 4:感熱性抵抗膜。 特許出願人 三菱鉱業セメント株式会社1 簿膜サーミ
スタ 第1図 手続補正書0.え) 平成3年8月5日 2、発明の名称 薄膜サーミスタ及びその製造方法3、
補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所(居所)東京都千代田区大手町−丁目6番1号氏名
(名称) 三菱マテリアル株式会社4、代理人 8、補正の内容 (1)明細書第3頁第5行目 「・・・100OK以上・・・」を 「・・・500に以上・・・」と訂正する。 (2)明細書第4頁第5行目 「・・・2500に程度と低いため、・・・」を「・・
・2500に程度であり、・・・」と訂正する。 (3)明細書第4頁第16行目 「・・・100OK以上・・・」を [・・・500に以上・・・」と訂正する。 (4)明細書第8頁第4行目〜同頁第5行目「・・・1
00OK以下・・・」を 「・・・500に以下・・・」と訂正する。 (5)明細書第9頁第15行目 「・・・100OK以上・・・」を 「・・・500に以上・・・」と訂正する。 (以下、本頁余白) (3)明細書第12頁第1表 第 1 表 を (以下、本頁余白) 第 1 表 と訂正する。 (4)明細書第12頁下から第2行目 rlooOK以下」を r500に以下Jと訂正する。 (5)明細書第13頁第8行目 「・・・100OK以下・・・」を 「・・・500に以下・・・」と訂正する。
断面図。 1:薄膜サーミスタ、 2:電気絶縁性基板、 3:電極、 4:感熱性抵抗膜。 特許出願人 三菱鉱業セメント株式会社1 簿膜サーミ
スタ 第1図 手続補正書0.え) 平成3年8月5日 2、発明の名称 薄膜サーミスタ及びその製造方法3、
補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所(居所)東京都千代田区大手町−丁目6番1号氏名
(名称) 三菱マテリアル株式会社4、代理人 8、補正の内容 (1)明細書第3頁第5行目 「・・・100OK以上・・・」を 「・・・500に以上・・・」と訂正する。 (2)明細書第4頁第5行目 「・・・2500に程度と低いため、・・・」を「・・
・2500に程度であり、・・・」と訂正する。 (3)明細書第4頁第16行目 「・・・100OK以上・・・」を [・・・500に以上・・・」と訂正する。 (4)明細書第8頁第4行目〜同頁第5行目「・・・1
00OK以下・・・」を 「・・・500に以下・・・」と訂正する。 (5)明細書第9頁第15行目 「・・・100OK以上・・・」を 「・・・500に以上・・・」と訂正する。 (以下、本頁余白) (3)明細書第12頁第1表 第 1 表 を (以下、本頁余白) 第 1 表 と訂正する。 (4)明細書第12頁下から第2行目 rlooOK以下」を r500に以下Jと訂正する。 (5)明細書第13頁第8行目 「・・・100OK以下・・・」を 「・・・500に以下・・・」と訂正する。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)電気絶縁性基板(2)上に感熱性抵抗膜(4)とこ
の抵抗膜(4)の上面又は下面に少なくとも1対の電極
(3,3)がそれぞれ設けられた薄膜サーミスタ(1)
において、前記感熱性抵抗膜(4)が鉄、マンガン及び
けい素からなり、 その組成が(Fe_1_−_xMn_x)_1_−_x
Si_yであって、0<x≦0.30,0.63≦y≦
0.71であることを特徴とする薄膜サーミスタ。 2)不活性ガス雰囲気中において、鉄とマンガンとけい
素からなるターゲットを用いて電気絶縁性基板上にスパ
ッタリング蒸着により その組成が(Fe_1_−_xMn_x)_1_−_y
Si_yであって、0<x≦0.30,0.63≦y≦
0.71である感熱性抵抗膜を形成する薄膜サーミスタ
の製造方法。 3)スパッタリング蒸着した後、感熱性抵抗膜を形成し
た電気絶縁性基板を不活性ガス雰囲気中又は真空中で4
00〜985℃の温度範囲で熱処理する請求項2記載の
薄膜サーミスタの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27162490A JPH04170003A (ja) | 1990-10-09 | 1990-10-09 | 薄膜サーミスタ及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27162490A JPH04170003A (ja) | 1990-10-09 | 1990-10-09 | 薄膜サーミスタ及びその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04170003A true JPH04170003A (ja) | 1992-06-17 |
Family
ID=17502670
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27162490A Pending JPH04170003A (ja) | 1990-10-09 | 1990-10-09 | 薄膜サーミスタ及びその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04170003A (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5916104B2 (ja) * | 1977-02-21 | 1984-04-13 | 極東開発工業株式会社 | 流動体圧送用ピストンポンプの油圧作動装置 |
| JPS62291003A (ja) * | 1986-06-10 | 1987-12-17 | 日本鋼管株式会社 | 薄膜サ−ミスタの製造方法 |
| JPS62293701A (ja) * | 1986-06-13 | 1987-12-21 | 日本鋼管株式会社 | 薄膜温度センサとその製造方法 |
-
1990
- 1990-10-09 JP JP27162490A patent/JPH04170003A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5916104B2 (ja) * | 1977-02-21 | 1984-04-13 | 極東開発工業株式会社 | 流動体圧送用ピストンポンプの油圧作動装置 |
| JPS62291003A (ja) * | 1986-06-10 | 1987-12-17 | 日本鋼管株式会社 | 薄膜サ−ミスタの製造方法 |
| JPS62293701A (ja) * | 1986-06-13 | 1987-12-21 | 日本鋼管株式会社 | 薄膜温度センサとその製造方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4276535A (en) | Thermistor | |
| JP2000150204A (ja) | Ntcサーミスタ及びチップ型ntcサーミスタ | |
| CN114807859A (zh) | 一种高电阻温度系数铂薄膜及其制备方法 | |
| JPH04170003A (ja) | 薄膜サーミスタ及びその製造方法 | |
| JPS634321B2 (ja) | ||
| JPH04170001A (ja) | 薄膜サーミスタ及びその製造方法 | |
| JPH04170002A (ja) | 薄膜サーミスタ及びその製造方法 | |
| CN110230029A (zh) | 一种尖晶石结构锰镍氧化物薄膜的制备方法 | |
| JPH04192302A (ja) | 薄膜サーミスタ素子 | |
| JP4622946B2 (ja) | 抵抗薄膜材料、抵抗薄膜形成用スパッタリングターゲット、抵抗薄膜、薄膜抵抗器およびその製造方法。 | |
| JP4136755B2 (ja) | 3元合金材料からなるptcサーミスタ | |
| JPS60208803A (ja) | 薄膜サ−ミスタの製造方法 | |
| JPS62293701A (ja) | 薄膜温度センサとその製造方法 | |
| JPS5923082B2 (ja) | サ−ミスタおよびその製造方法 | |
| JP2587426B2 (ja) | 薄膜サ−ミスタの製造方法 | |
| JPH0354843B2 (ja) | ||
| JP2727541B2 (ja) | 薄膜サーミスタの製造法 | |
| JP4073658B2 (ja) | 3元合金材料 | |
| JPH071722B2 (ja) | 薄膜抵抗体 | |
| JPH04192303A (ja) | チップ型サーミスタ | |
| JPS6395601A (ja) | 抵抗薄膜 | |
| JPH04206603A (ja) | 正特性サーミスタの製造方法 | |
| JPS634322B2 (ja) | ||
| JPH04206185A (ja) | A▲l▼Nセラミックスヒータ及びその製造方法 | |
| JPH0620803A (ja) | 薄膜抵抗器及び薄膜抵抗器の製造方法 |