JPH04174302A - 移動部材の変位検出方法 - Google Patents

移動部材の変位検出方法

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JPH04174302A
JPH04174302A JP30133290A JP30133290A JPH04174302A JP H04174302 A JPH04174302 A JP H04174302A JP 30133290 A JP30133290 A JP 30133290A JP 30133290 A JP30133290 A JP 30133290A JP H04174302 A JPH04174302 A JP H04174302A
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JP
Japan
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displacement
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intensity
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Pending
Application number
JP30133290A
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English (en)
Inventor
Shinji Kato
真司 加藤
Akio Sato
彰生 佐藤
Muneya Takagi
高木 宗谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyota Motor Corp
Original Assignee
Toyota Motor Corp
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Publication date
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  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野] 本発明は、移動部材の位置および/または移動速度を検
出するための変位検出方法に関する。
〔従来の技術〕
移動部材の位置を検出し、移動部材が設定位置にくると
、その移動を停止させたり等するための変位検出装置に
おいて、レザービームあるいは電子線のような高エネル
ギー密度のビームによって金属材の表面を熱処理し、金
属材の表面の所定位置に局部的に磁気変質部を設けて基
準尺を形成し、この基準尺に対向して磁気特性を検出す
る磁気検出器を設け、前記基準尺と磁気検出器との相対
変位移動を検出したものが特公昭62−32407に開
示されている。
これは第12図に示すように、ピストン9の表面に一定
間隔で磁気変質部10を数個設けることにより、基準尺
を形成し、この基準尺の移動変位を前記磁気検出器11
で検出する。すなわち、前記磁気検出器11に対向する
位置に磁気変質部lOがくると磁気検出器11がそれを
検出し、図示しない制動装置に信号を送る。この制動装
置は基準位置からいくつ磁気変質部10が磁気検出器1
1を通過したかを検知してピストン9を停止させたり、
あるいは磁気検出器11が、各磁気変質部10間を通過
する時間を測定することにより、ピストンの移動速度を
制御している。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかし、従来のように磁気検出器が検出した磁気変質部
すなわち基準尺の数によって移動部材が基準位置から変
位した位置を決定していたのでは、基準尺と次の基準尺
との間隔を小さくしなければ正確な変位位置が測定でき
ない。
また基準尺の間隔を小さくした場合、それを検出する検
出器の検出面積を小さくしなければならない。検出器の
検出面積を小さくすることは、非常に困難であり変位位
置の測定精度も落ちる等の問題があった。
本発明では、装置を複雑にすることなく部材の変位した
位置及び部材が変位している速度をより正確に測定する
ことを目的とする。
従来は信号レベルの高低をパルス的(非連続的)に読み
取っていたのに対して本発明では信号レベルの高低を連
続的につまりアナログ的に読み取ることにより上述の問
題点を解決することを課題とする。
〔課題を解決するための手段〕
本発明では以下のような手段を用いて上述の課題を解決
した。すなわち、透磁率および/または導電率を変化さ
せた基準尺が変位方向に対して断続的に表面に形成され
た被検出体と、該被検出体に対向した電磁気特性を検出
する電磁気センサーとからなり、前記基準尺を電磁気セ
ンサーで検出することにより被検出体と電磁気センサー
との相対変位移動を検出する変位検出方法において、加
熱部分と非加熱部分の表面面積比および/または体積比
を部材の変位方向に変化させて処理部の透磁率および/
または導電率が単調に増加または減少するように作製さ
れた基準尺のパターンを電磁気センサーで読み取るとき
、2つ以上の基準尺から同時に電磁気特性を読み取り、
このとき読み取った信号強度の値とあらかじめ決定して
おいた信号強度と前記相対変位移動との関係から相対変
位移動を決定することにより被検出体の変位をアナログ
的に検出する。
〔作用〕
2つ以上の基準尺か、ら同時に信号強度を読み取ること
により、基準の位置からの変位に対して信号強度を連続
的に変化させることができる。
また、信号強度の値に対応して部材の位置を決定できる
ように基準尺のパターンが設けであるため、その位置の
信号強度の値を読み取るだけで部材の変位がリニアに決
定出来るため、変位を正確に決定することが出来る。
また、部材の変位する速度も変位した時間を測定するこ
とにより同様に正確に決定することが出来る。
〔実施例〕
(第1実施例) 第3図に示すように、鋼材(SUS304)からなる外
径38mmの円筒部材1の表面に急冷凝固により非晶質
化する合金粉末2を幅5mm厚さ2mmに配置した。こ
の合金粉末の成分はFeb。
L、  8at%5i−17at%Bである。
続いて合金粉末上に第3図に示すようにC02レーザ3
を照射し、かつそのレーザを、配置した粉体の長さ方向
に走査して粉末を母材1上に溶着させ、肉盛り層4を形
成した。このときのレーザ照射条件は次の通りである。
レーザビーム:集光レンズにてφ2mmの大きさに集光
したレーザビームを幅5 mmとなるようにビームオシレー タにて整形した。
レーザ出カニ2.5Kw レーザ走査速度: 200mm/m i n肉盛層4の
表面に研削加工により、肉盛層4の厚さを0.6mmと
なるように加工した。
加工後の肉盛層4上に第3図に示すようにYAGレーザ
5をスポット状に照射し、非晶質層6を形成した。
このときのYAGレーザ照射条件は、次の通りである。
レーザビーl、:集光レンズにてφ2m、mの大きさに
集光。
放電電圧  :440V パルス幅  :0,5mS 非晶質スポットの照射間隔は、第5図に示すように間隔
aつまり検出方向Xでは、パターン開始位置で0.1m
m、パターン終了位置で2.0mmその中面部では開始
位置から終了位置まで増加するようにした。
また、間隔すつまり検出方向と直角方向Yでは非晶質ス
ポットの照射間隔を一定の0.3mmとした。
上述の方法で製作した非晶質層・結晶層パターンから検
出コイル7により信号検出している概略図を第1図に示
す。第1図に示す変位検出回路をさらにくわしく説明し
た回路図を第2図に示す。
以下に第2図に示す回路図により変位の検出方法を述べ
る。
まず、発振回路により2 MHzの励磁電流をコイル7
に供給する。コイル7に供給された励磁電流によりコイ
ル7の回りに磁界が生し、この磁界により被検出体の回
りに磁束密度の分布が発生する。
この磁束密度によりコイル7に電圧が発生する。
コイル7に発生した脈流電圧を平滑回路にて一定電圧に
し、増幅回路にて増幅し信号強度(V)とした。
なお、被検出体の透磁率の値に比例して発生する磁束密
度が大きくなるため、コイルに発生する電圧も高くなり
、信号強度(v)が決定する。
比較検出回路にてあらかじめインプットしておいた信号
強度(V)と変位量との関係より変位量を検出した。
また、検出に使用したコイルの大きさは直径5mmであ
る。
その検出結果を第6図に示す。本発明による方法では加
熱部分と非加熱部分との表面面積比に応じて信号強度が
連続的に変化しており、信号強度(電圧)を読み取るこ
とにより位置及び速度の検出ができる。
(第2実施例) 第1実施例の非処理部材の母材である鋼材(SUS30
4)の代わりにフェライト士オーステナイトの2層ステ
ンレス(SUS329J1)を用い、肉盛り層をこの母
材上に形成させないで直接YAGレーザを第1実施例と
同じ条件で照射し、基準尺のパターンを作成した。  
レーザ未照射部の金属組織はフェライトとオーステナイ
トの混合組織であるが、レーザ照射部はフェライトのみ
の組織となっている。
この組織の変化により透磁率および/または導電率が変
化する。この変化を電磁気センサーで検出する。
第7図に第1実施例と同様の条件で、被検出体をセンサ
ーで検出した結果を示す。
このときも第1実施例と同様、被検出体の基準位置から
の変位量が増加するに従って信号強度が単調に減少して
いる。よって、アナログ的に検出できる。
なお、第2実施例の方法場合、肉盛り層を形成させる手
間が省け、変位検出器を製作するときコスト低減となる
が、肉盛り層を用いたものの方が非晶質化したときに電
磁気特性がより変化する材料を用いることが出来るため
、非検出体の変位を正確に測定しやすい。
(第3実施例) 第1実施例、第2実施例がレーザビームを部材に照射す
ることによって加熱部分の表面面積比を変化させて磁気
特性および/または導電率が変化した基準尺のパターン
を作成したのに対して、第3実施例では表面面積比の代
わりに体積比を変化させて基準尺のパターンを作成した
以下にその具体的方法を述べる。
第1実施例と同様な方法で円筒部材表面に肉盛り層を形
成、加工後YAGレーザの出力を変化させ、再溶融させ
る深さを変化させた。この時、溶融深さは肉盛り層の長
手方向に対して単調に浅くなるよう処理した。
また、この時、非結晶質化層の体積は溶融深さに比例す
る。
その検出結果を第11図に示す。
本実施例による方法では再溶融層の深さにより信号強度
が連続的に変化しており、第1.第2実施例と同様、信
号強度を読み取ることにより位置及び速度の検出がアナ
ログ的に行える。
また、加熱部分の表面面積比及び体積比両方を変化させ
ることにより信号強度をより変化させることが出来る。
また、レーザビームを部材に照射することによって加熱
部分の表面面積比および/または体積比を変化させて磁
気特性および/または導電率が変化した基準尺のパター
ンを作成する方法としては、第8図に示すように、レー
ザのスポットのピッチをY方向すなわち変位方向と直角
方向のみに変化さたり、第9図に示すようにレーザのス
ポットのピッチをX、Y両方向部ち変位方向、変位方向
と直角方向とも変化させたり、第10図に示すように、
加熱層を変位方向と直角方向に線状に作成する等、本実
施例に限らずいろいろ考えられる。
また、円周方向の位置検出の他面線状の位置検出その他
の一次元的な変位検出も可能である。
〔発明の効果〕
信号強度を連続的に変化させることができ、信号強度の
値に対応して部材の位置を決定できるように基準尺のパ
ターンを設けておけば、その位置の信号強度の値を読み
取るだけで部材の変位がリニアに決定出来るため、変位
を正確に決定することが出来る。
また、部材の変位する速度も同様に正確に測定すること
が出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明第1実施例による信号検出時の外観図、 第2図は本発明第1実施例による変位検出回路のブロッ
クダイアグラム、 第3図は本発明第1実施例による部材への肉盛り層形成
時の外観図、 第4図は本発明第1実施例による基準尺のパターン形成
時の外観図、 第5図は本発明第1実施例による基準尺のパターン形成
後の外観図、 第6図は本発明第1実施例による信号検出結果を示すグ
ラフ、 第7図は本発明第2実施例による信号検出結果を示すグ
ラフ、 第8図、第9図、第10図は基準尺のパターンを変化さ
せた部材の外観図、 第11図は本発明第3実施例による信号検出結果を示す
グラフ、 第12図は従来技術の作用説明図である。 1−・−円筒部材、    2・・−合金粉末、3−C
O,レーザ、  4−肉盛り層、訃−YAGレーザ、 
6−非晶質層、 7・−=検出コイル、   8−変位検出回路、a−・
−変位方向レーザ照射間隔、 b −変位方向と直角方向レーザ照射間隔、9− ピス
トン、   1o−磁気変質部、11・・・磁気検出器
。 第4図 セ 0諭駅 焚 〉 域 枦嵌 終 ≧ 第9図 一3$o−豪 鰹 ≧

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 透磁率および/または導電率を変化させた基準尺が変位
    方向に対して断続的に表面に形成された被検出体と、該
    被検出体に対向した電磁気特性を検出する電磁気センサ
    ーとからなり、前記基準尺を電磁気センサーで検出する
    ことにより被検出体と電磁気センサーとの相対変位移動
    を検出する変位検出方法において、被検出体中で基準尺
    が占める表面面積比および/または体積比を部材の変位
    方向に変化させて処理部の透磁率および/または導電率
    が単調に増加または減少するように作製された基準尺の
    パターンを電磁気センサーで読み取るとき、2つ以上の
    基準尺から同時に電磁気特性を読み取り、この読み取っ
    た信号強度の値を、あらかじめ決定しておいた信号強度
    と前記相対変位移動との関係から相対変位移動に変換す
    ることにより被検出体の変位をアナログ的に検出するこ
    とを特徴とする移動部材の変位検出方法。
JP30133290A 1990-11-07 1990-11-07 移動部材の変位検出方法 Pending JPH04174302A (ja)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6432117A (en) * 1987-07-29 1989-02-02 Hitachi Ltd Absolute position detector

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6432117A (en) * 1987-07-29 1989-02-02 Hitachi Ltd Absolute position detector

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