JPH04179041A - 試料ステージ - Google Patents
試料ステージInfo
- Publication number
- JPH04179041A JPH04179041A JP2302436A JP30243690A JPH04179041A JP H04179041 A JPH04179041 A JP H04179041A JP 2302436 A JP2302436 A JP 2302436A JP 30243690 A JP30243690 A JP 30243690A JP H04179041 A JPH04179041 A JP H04179041A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tilt stage
- tilt
- stage
- center
- guide member
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光学顕微鏡や電子顕微鏡に使用される全方位
に傾斜観察可能な試料ステージに係り、特に、ステージ
傾斜時に発生するチルトステージの加工精度や組立精度
に起因する観察像の顕微鏡視野からの逃げを防止し、観
察位置が、常に、顕**視野の中心に来るようにする調
整機構をもつ試料ステージに関する。
に傾斜観察可能な試料ステージに係り、特に、ステージ
傾斜時に発生するチルトステージの加工精度や組立精度
に起因する観察像の顕微鏡視野からの逃げを防止し、観
察位置が、常に、顕**視野の中心に来るようにする調
整機構をもつ試料ステージに関する。
従来の試料ステージは、第3図に示すように、−軸のチ
ルトステージ2及び4を重ね合わせ、各チルトステージ
を任意の角度に傾斜させることにより、観察試料を任意
の方向から観察できるようになっていた。本試料ステー
ジと類似のステージは、特開昭60−39749号に記
載されている。
ルトステージ2及び4を重ね合わせ、各チルトステージ
を任意の角度に傾斜させることにより、観察試料を任意
の方向から観察できるようになっていた。本試料ステー
ジと類似のステージは、特開昭60−39749号に記
載されている。
上記従来技術は、任意の傾斜で、常に、像を顕微鏡の視
野で観察するには、各チルトステージの傾斜中心と試料
表面の観察点○を正確に一致させる必要があるにのため
には、チルトステージの加工寸法誤差や組立誤差を極力
小さくする必要がある。しかし、電子顕微鏡のように一
万倍以上の高倍率で観[察が要求されるような用途では
、加工精度や組立精度のみで対応するには限界がある。
野で観察するには、各チルトステージの傾斜中心と試料
表面の観察点○を正確に一致させる必要があるにのため
には、チルトステージの加工寸法誤差や組立誤差を極力
小さくする必要がある。しかし、電子顕微鏡のように一
万倍以上の高倍率で観[察が要求されるような用途では
、加工精度や組立精度のみで対応するには限界がある。
例えば、高密度化が進んでいる半導体のような微細構造
の観察を高分解能で行うためには、数万倍から十万倍と
いう高倍率でのlll察が要求される。
の観察を高分解能で行うためには、数万倍から十万倍と
いう高倍率でのlll察が要求される。
このとき、上、下のチルトステージの傾斜中心がΔ2ず
れている状態で角度θ傾斜させたとすると、顕微鏡視野
上での観察像はΔZXsinOだけXまたはY方向にず
れる。例えば、ΔZが10μmとすると観察像は数百間
ずれるためM察像は視野外へ逃げてしまう。観察像を視
野上にとどめるには、傾斜中心のずれΔ2を1μm程度
に抑える必要があるが、これを実現することは非常に困
難である。
れている状態で角度θ傾斜させたとすると、顕微鏡視野
上での観察像はΔZXsinOだけXまたはY方向にず
れる。例えば、ΔZが10μmとすると観察像は数百間
ずれるためM察像は視野外へ逃げてしまう。観察像を視
野上にとどめるには、傾斜中心のずれΔ2を1μm程度
に抑える必要があるが、これを実現することは非常に困
難である。
本発明の目的は、上下二段に重ね合わせて任意方向から
の観察が可能な試料ステージにおいて。
の観察が可能な試料ステージにおいて。
上下のチルトステージの傾斜中心のずれを補正する機構
をもつ試料ステージを提供する。
をもつ試料ステージを提供する。
上記目的を達成するために、本発明は下部のXチルトス
テージと上部のXチルトステージの間にくさび状のスペ
ーサを設置し、スペーサの傾斜方向にスペーサをスライ
ドさせるようにした。また、XチルトステージがZ方向
にのみ動くように、Xチルトステージの案内部材にZ方
向案内部材を設けた。
テージと上部のXチルトステージの間にくさび状のスペ
ーサを設置し、スペーサの傾斜方向にスペーサをスライ
ドさせるようにした。また、XチルトステージがZ方向
にのみ動くように、Xチルトステージの案内部材にZ方
向案内部材を設けた。
さらに、上、下チルトステージの傾斜中心のずれを補正
するために、Xチルトステージを支持する四個のX案内
ローラを設け1円周方向に位置する一対のローラを互い
に逆方向にXチルトステージ円筒面の接線方向に移動可
能にした。
するために、Xチルトステージを支持する四個のX案内
ローラを設け1円周方向に位置する一対のローラを互い
に逆方向にXチルトステージ円筒面の接線方向に移動可
能にした。
上部のXチルトステージと下部のXチルトステージの間
にくさび状のスペーサを設け、Xチルトステージを支持
するX案内部材をZ案内部材で2方向にのみ可動に支持
することは、スペーサをくさびの傾斜方向に微動させる
ことによりXチルトステージはZ方向に微動し、Xチル
トステージの傾斜中心に対してXチルトステージの傾斜
中心を一致させることができる。
にくさび状のスペーサを設け、Xチルトステージを支持
するX案内部材をZ案内部材で2方向にのみ可動に支持
することは、スペーサをくさびの傾斜方向に微動させる
ことによりXチルトステージはZ方向に微動し、Xチル
トステージの傾斜中心に対してXチルトステージの傾斜
中心を一致させることができる。
また、Xチルトステージを支持する四個のX案内ローラ
を設け、Xチルトステージの円周方向に位置する一対の
X案内ローラを互いに逆方向に移動することは、Xチル
トステージの支持点の距離を変化させることになり、X
チルトステージはZ方向に微動し、Xチルトステージの
傾斜中心にXチルトステージの傾斜中心を一致させるこ
とができる。
を設け、Xチルトステージの円周方向に位置する一対の
X案内ローラを互いに逆方向に移動することは、Xチル
トステージの支持点の距離を変化させることになり、X
チルトステージはZ方向に微動し、Xチルトステージの
傾斜中心にXチルトステージの傾斜中心を一致させるこ
とができる。
以下、本発明の一実施例を第1図、第2図を用いて説明
する。下面が曲率半径R2の円筒状のXチルトステージ
2は、曲率半径R2の円弧状の案内面1aを持つY案内
部材1にY方向に傾斜自由に支持されている。Xチルト
ステージ2の上面にはくさび状のスペーサ7が設けられ
ている。スペーサ7はXチルトステージ2の上面に設け
られた案内面2aによってスペーサ7の傾斜方向(X方
向)にのみ移動可能なように案内されている。スペーサ
7のX方向のどちらか一方の端面には、Yチルトステー
ジに固定され、ボールねじとモータで構成されたスペー
サ駈動機構8が接続されている。スペーサ7の上面には
、下面にスペーサ7の傾斜角度と同一の角度を持つ傾斜
面3bを持ち、上面に曲率半径R4の円弧状の案内面3
aを持つX案内部材3が設置されている。X案内部材3
は、Yチルトステージ3の上面に設けられたZ案内部材
9でX方向のみ自由度をもつように支持されている。ま
た、下面が曲率半径R4の円筒状のXチルトステージは
、X案内部材3にX方向に傾斜自由に支持されている。
する。下面が曲率半径R2の円筒状のXチルトステージ
2は、曲率半径R2の円弧状の案内面1aを持つY案内
部材1にY方向に傾斜自由に支持されている。Xチルト
ステージ2の上面にはくさび状のスペーサ7が設けられ
ている。スペーサ7はXチルトステージ2の上面に設け
られた案内面2aによってスペーサ7の傾斜方向(X方
向)にのみ移動可能なように案内されている。スペーサ
7のX方向のどちらか一方の端面には、Yチルトステー
ジに固定され、ボールねじとモータで構成されたスペー
サ駈動機構8が接続されている。スペーサ7の上面には
、下面にスペーサ7の傾斜角度と同一の角度を持つ傾斜
面3bを持ち、上面に曲率半径R4の円弧状の案内面3
aを持つX案内部材3が設置されている。X案内部材3
は、Yチルトステージ3の上面に設けられたZ案内部材
9でX方向のみ自由度をもつように支持されている。ま
た、下面が曲率半径R4の円筒状のXチルトステージは
、X案内部材3にX方向に傾斜自由に支持されている。
Xチルトステージ4の上面には試料保持台5が設けられ
ており、観察試料6を保持している。
ており、観察試料6を保持している。
Xチルトステージ4の曲率半径R4は、Yチルトステー
ジ2と曲率中心が一致するように設定されており、Yチ
ルトステージ2とXチルトステージ4は試料6表面の観
察点Oを中心に傾斜することになる。しかし、加工誤差
や組立誤差などにより、Yチルトステージ2の曲率中心
とXチルトステージ4の曲率中心を正確に一致させるこ
とは困難で、通常はΔ2ずれることになる。このとき、
スペーサ7をスペーサ駈動機構8によりX方向に動かす
ことにより、X案内部材3とXチルトステージ4がX方
向に移動し、両チルトステージの曲率中心のずれΔZを
補正することができる。また、X案内部材3は、Z案内
部材9によりXX方向の動きを拘束されているため、観
察点○がXX方向に移動することもない。従って、本実
施例によれば、Yチルトステージ2とXチルトステージ
4を任意の角度に傾斜させてもis点○のずれを最少限
に食い止めることができ、観察点0を顕微鏡視野内で任
意の方向から観察することが可能となる。
ジ2と曲率中心が一致するように設定されており、Yチ
ルトステージ2とXチルトステージ4は試料6表面の観
察点Oを中心に傾斜することになる。しかし、加工誤差
や組立誤差などにより、Yチルトステージ2の曲率中心
とXチルトステージ4の曲率中心を正確に一致させるこ
とは困難で、通常はΔ2ずれることになる。このとき、
スペーサ7をスペーサ駈動機構8によりX方向に動かす
ことにより、X案内部材3とXチルトステージ4がX方
向に移動し、両チルトステージの曲率中心のずれΔZを
補正することができる。また、X案内部材3は、Z案内
部材9によりXX方向の動きを拘束されているため、観
察点○がXX方向に移動することもない。従って、本実
施例によれば、Yチルトステージ2とXチルトステージ
4を任意の角度に傾斜させてもis点○のずれを最少限
に食い止めることができ、観察点0を顕微鏡視野内で任
意の方向から観察することが可能となる。
本発明の他の実施例を第3図及び第4図により説明する
。下面が曲率半径R2の円筒状のYチルトステージ2は
、曲率半径R2の円弧状の案内面1aを持つY案内部材
1にX方向に傾斜自由に支持されている。Yチルトステ
ージ2の上面にはXチルトステージ4の軸方向と周方向
に配置された四個のX案内ローラ10が設けられている
。
。下面が曲率半径R2の円筒状のYチルトステージ2は
、曲率半径R2の円弧状の案内面1aを持つY案内部材
1にX方向に傾斜自由に支持されている。Yチルトステ
ージ2の上面にはXチルトステージ4の軸方向と周方向
に配置された四個のX案内ローラ10が設けられている
。
下面が曲率半径R4の円筒面をもつXチルトステージは
、X案内ローラ10によりX方向に傾斜自由に支持され
、Yチルトステージ2に設けたスラスト軸受14により
X方向には拘束されている。
、X案内ローラ10によりX方向に傾斜自由に支持され
、Yチルトステージ2に設けたスラスト軸受14により
X方向には拘束されている。
X案内ローラ10は、Yチルトステージ2の上面にX方
向に設置された案内部材13に取り付けられている。ま
た、Xチルトステージ4の軸方向(X方向)に位置する
二個のX案内ローラ10a。
向に設置された案内部材13に取り付けられている。ま
た、Xチルトステージ4の軸方向(X方向)に位置する
二個のX案内ローラ10a。
10a’及び10b、10b’は互いに連結部材13で
連結さている。連結部材13にはローラ駆動機構11が
接続されており、第3図中、二点鎖線で示したように対
面するX案内ローラ10a。
連結さている。連結部材13にはローラ駆動機構11が
接続されており、第3図中、二点鎖線で示したように対
面するX案内ローラ10a。
10b及び10a”、10b’ を互いに反対方向に駆
動するようになっている。
動するようになっている。
Xチルトステージ4の上面には試料保持台5が設けられ
ており観察試料6を保持している。
ており観察試料6を保持している。
Xチルトステージ4の曲率中心とYチルトステージの曲
率中心が一致するように設置されていることは、上述の
実施例と同様である。ここで、第3図に二点鎖線で示し
たように、ローラ駆動機構11でX案内ローラ10を互
いに近づくように駆動すると、Xチルトステージ4の支
持点の距離りがLlに短くなり、Xチルトステージ4は
2+方向に移動する。また、逆にX案内ローラ10をは
なすとXチルトステージ4を2一方向に移動させること
ができる。従って、Xチルトステージ4とYチルトステ
ージ2の曲率中心のずれを補正でき、顕微鏡の視野内で
観察点0を任意方向から観察することが可能となる。
率中心が一致するように設置されていることは、上述の
実施例と同様である。ここで、第3図に二点鎖線で示し
たように、ローラ駆動機構11でX案内ローラ10を互
いに近づくように駆動すると、Xチルトステージ4の支
持点の距離りがLlに短くなり、Xチルトステージ4は
2+方向に移動する。また、逆にX案内ローラ10をは
なすとXチルトステージ4を2一方向に移動させること
ができる。従って、Xチルトステージ4とYチルトステ
ージ2の曲率中心のずれを補正でき、顕微鏡の視野内で
観察点0を任意方向から観察することが可能となる。
本発明によれば、YチルトステージとXチルトステージ
の間に設置したくさび状のスペーサを移動させることに
より、XチルトステージのX方向位置を変えることがで
きるので、両チルトステージの曲率中心のずれを補正し
、l!察点と一致させることができる。このため、チル
トステージの傾斜による観察点の移動を防ぎ、i聖像の
逃げを最小限にした観察が可能となる。
の間に設置したくさび状のスペーサを移動させることに
より、XチルトステージのX方向位置を変えることがで
きるので、両チルトステージの曲率中心のずれを補正し
、l!察点と一致させることができる。このため、チル
トステージの傾斜による観察点の移動を防ぎ、i聖像の
逃げを最小限にした観察が可能となる。
また、Xチルトステージを支持するX案内ローラを移動
することによっても、Xチルトステージの2方向の位置
を変えることができ、曲率中心のずれを補正することが
できる。従って、観察像の逃げが最小限の観察を行える
。
することによっても、Xチルトステージの2方向の位置
を変えることができ、曲率中心のずれを補正することが
できる。従って、観察像の逃げが最小限の観察を行える
。
第1図は本発明の一実施例を示す説明図、第2図は第1
図の■矢視図、第3図は本発明の他の実施例を示す説明
図、第4図は第3図の■矢視図、第S図は従来の試料ス
テージを示す斜視図である。 1・・・Y案内部材、2・・・チルトステージ、3・・
・X案内部材、4・・Xチルトステージ、7・・スペー
サ、8・・・スペーサ駆動機構、9・・・2案内部材、
10・・・X案内ローラ、11・・ローラ駆動機構、1
3・・・案内部材、14・・・スラスト軸受。 代理人 弁理士 、J\川用男分 ′ニー 第2m 第3図 纂4閃
図の■矢視図、第3図は本発明の他の実施例を示す説明
図、第4図は第3図の■矢視図、第S図は従来の試料ス
テージを示す斜視図である。 1・・・Y案内部材、2・・・チルトステージ、3・・
・X案内部材、4・・Xチルトステージ、7・・スペー
サ、8・・・スペーサ駆動機構、9・・・2案内部材、
10・・・X案内ローラ、11・・ローラ駆動機構、1
3・・・案内部材、14・・・スラスト軸受。 代理人 弁理士 、J\川用男分 ′ニー 第2m 第3図 纂4閃
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、円弧状のY案内部材にY方向に傾斜自由に支持され
た下面が円筒面状のYチルトステージと、前記Yチルト
ステージ上に設置された円弧状のX案内部材にX方向に
傾斜自由に支持され、前記Yチルトステージと曲率中心
が概略一致するように設置された下面が円筒面状のXチ
ルトステージと、前記Xチルトステージ上に試料面が前
Yチルトステージと前記Xチルトステージの曲率中心に
概略一致するように設置された試料保持台とで構成され
た試料ステージにおいて、前記Yチルトステージと前記
X案内部材の間にくさび状のスペーサをくさびの傾斜方
向にのみ移動可能に設置し、前記スペーサの可動方向に
対面したどちらか一方のスペーサの端面にスペーサ駆動
機構を設け、前記X案内部材をZ方向にのみ移動可能に
案内するZ案内部材を設けたことを特徴とする試料ステ
ージ。 2、円弧状のY案内部材にY方向に傾斜自由に支持され
た下面が円筒面状のYチルトステージと、前記Yチルト
ステージ上にY軸及びX軸に対称に設置された四個のX
案内ローラと、前記X案内ローラにX方向に傾斜自由に
支持され、前記Yチルトステージと曲率中心が概略一致
するように設置された下面が円筒面状のXチルトステー
ジと、前記Xチルトステージ上に試料面が前記Yチルト
ステージと前記Xチルトステージの曲率中心に概略一致
するように設置された試料保持台とで構成された試料ス
テージにおいて、前記Yチルトステージの上面に前記X
案内ローラを前記Xチルトステージの円筒面の接線方向
に移動可能に支持する案内部材を設け、X軸に対称に位
置する二個のX案内ローラを互いに連結する連結部材と
、Y軸に対称に位置する二個のX案内ローラを互いに反
対方向に駆動するローラ駆動機構を設けたことを特徴と
する試料ステージ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2302436A JPH04179041A (ja) | 1990-11-09 | 1990-11-09 | 試料ステージ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2302436A JPH04179041A (ja) | 1990-11-09 | 1990-11-09 | 試料ステージ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04179041A true JPH04179041A (ja) | 1992-06-25 |
Family
ID=17908908
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2302436A Pending JPH04179041A (ja) | 1990-11-09 | 1990-11-09 | 試料ステージ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04179041A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06222279A (ja) * | 1992-12-23 | 1994-08-12 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 傾斜可能な光学顕微鏡ステージ |
| JP2014074459A (ja) * | 2012-10-04 | 2014-04-24 | Precise Gauges Co Ltd | 回転機構 |
| JP2017053493A (ja) * | 2016-12-01 | 2017-03-16 | プレサイスゲージ株式会社 | 回転機構 |
| JP2017075701A (ja) * | 2016-12-01 | 2017-04-20 | プレサイスゲージ株式会社 | 回転機構 |
| JP2019015404A (ja) * | 2018-10-03 | 2019-01-31 | プレサイスゲージ株式会社 | 回転機構 |
-
1990
- 1990-11-09 JP JP2302436A patent/JPH04179041A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06222279A (ja) * | 1992-12-23 | 1994-08-12 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 傾斜可能な光学顕微鏡ステージ |
| JP2014074459A (ja) * | 2012-10-04 | 2014-04-24 | Precise Gauges Co Ltd | 回転機構 |
| JP2017053493A (ja) * | 2016-12-01 | 2017-03-16 | プレサイスゲージ株式会社 | 回転機構 |
| JP2017075701A (ja) * | 2016-12-01 | 2017-04-20 | プレサイスゲージ株式会社 | 回転機構 |
| JP2019015404A (ja) * | 2018-10-03 | 2019-01-31 | プレサイスゲージ株式会社 | 回転機構 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN101308333B (zh) | 一种用于微刻的投影曝光设备的成像装置的光学元件的操纵装置 | |
| JPS62276612A (ja) | 位置決め装置 | |
| JPS62501731A (ja) | 透過及び/又は落射顕微鏡 | |
| NL8402862A (nl) | Inrichting voor het positioneren van een werkstuk in een gelocaliseerd vacuum bewerkingsstelsel. | |
| US4538885A (en) | Optical microscope system | |
| JPH06208000A (ja) | 分子線ビーム−光学装置 | |
| US3870416A (en) | Wafer alignment apparatus | |
| US4771178A (en) | Goniometer stage | |
| US10768405B2 (en) | Microscope having an objective-exchanging device | |
| JPH04179041A (ja) | 試料ステージ | |
| JPH0917024A (ja) | 対物レンズの位置合せ方法及び装置 | |
| CN118276271A (zh) | 一种检测掩模白板缺陷的物镜光机结构 | |
| JP2591844B2 (ja) | 粗位置決め装置 | |
| CN112820615A (zh) | 电子显微镜台 | |
| JPH1184260A (ja) | 位相差顕微鏡 | |
| US4837444A (en) | Electron microscope | |
| JP2005258100A (ja) | 光学部材の位置決め装置、光学部材の組立装置、及び光学部材の位置決め方法 | |
| JP2000028898A (ja) | 光学素子支持装置及び鏡筒並びに露光装置 | |
| CN111796409B (zh) | 一种物镜调节装置、成像组件及显微镜 | |
| JPS63298951A (ja) | 走査顕微鏡 | |
| JPH0560935A (ja) | 光フアイバ光線入射位置調整装置 | |
| JPH095602A (ja) | レンズ鏡枠 | |
| JPH05188255A (ja) | ズームレンズの取付構造 | |
| NL2037271B1 (en) | A positioning system for positioning an object within an XYZ-system of coordinates. | |
| JPH02163601A (ja) | 走査型トンネル顕微鏡 |