JPH04181526A - 導波路型光検出装置 - Google Patents

導波路型光検出装置

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JPH04181526A
JPH04181526A JP2309243A JP30924390A JPH04181526A JP H04181526 A JPH04181526 A JP H04181526A JP 2309243 A JP2309243 A JP 2309243A JP 30924390 A JP30924390 A JP 30924390A JP H04181526 A JPH04181526 A JP H04181526A
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JP
Japan
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grating coupler
light
optical
waveguide
optical waveguide
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JP2309243A
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English (en)
Inventor
Yoshinobu Nakayama
義宣 中山
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Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、光ディスク用ピックアップ光学系等に用いら
れる導波路型光検出装置に関する。
従来の技術 従来における導波路型光検出装置の一例を第15図に基
づいて説明する。基板1上にはバッファ層2を介して光
導波路3が形成されており、その端部に設けられた半導
体レーザ4より出射された光は、その光導波路3中を進
行していき、グレーティング5、グレーティングカプラ
6を順次介して、光情報記録媒体としての光磁気ディス
ク7の表面に照射され、これにより情報の記録を行う。
また、その光磁気ディスク7からの反射光は、グレーテ
ィングカプラ6により再び光導波路3内に導かれ、グレ
ーティング5により2分割されて進み、これにより左右
画側に2個ずつ設けられた光検出器8に導かれ、これに
より再生信号である光磁気信号Rfや、フォーカスエラ
ー信号Fo、トラックエラー信号Trの検出を行うこと
ができる。
そして、これら横比された信号は、アンプ9を介して、
外部に送られることにより各種制御が行われる。
ここで、上述したような従来例におけるフォーカスエラ
ー信号FOの一般的な検出方法としては、例えば、周知
のナイフェツジ法なる方法がある。
この方法は、第16図に示すように、対物レンズ10に
より集光され光ディスク面11に照射された光が再び対
物レンズ10を介して、集光レンズ12により集光され
ビーム13の一部がナイフェツジ14によりカットされ
、受光素子15の2分割受光面a、bに受光されること
によって、FO=a−bの値を求めることができるもの
である。
この場合、第16図(b)に示すようにビーム13が光
ディスク面11に対して合焦時にある場合には、ビーム
は平行状態のままであり、この時受光面a、bでの受光
量は第17図(b)に示すようにa=bとなって等しく
なり、これによりFOの値は検出されない。しかし、第
16図(a)に示すように合焦時よりも光ディスク面1
1が近づきビームが発散状態になると受光量は第17図
(a)に示すようにa ) bとなり、また、第16図
(c)に示すように合焦時よりも光ディスク面11が遠
ざかりビームが集光状態になると受光量は第17図(c
)に示すようにa (bとなり、これにより、FOの値
が検出されフォーカス制御が行われることになる。
発明が解決しようとする課題 上述したような光ピツクアップ光学系をもつ装置の場合
、部品点数を減らし装置の小型化、集積化を図ることが
できると共に、シーク時の高速アクセスを行うことがで
きるという点で有利である。
しかし、このように半導体レーザ4から出射された光を
一旦光導波路3内に導き、グレーティングカプラ6によ
って再び外部へ光を出す方式においては、光の損失が非
常に大きくなり、これにより書込み時において十分大き
なパワーを得ることができなくなるという問題がある。
また、上述したような光ピツクアップ光学系におけるグ
レーティングカプラ6を用いて、受光素子8によりフォ
ーカスエラー信号FOを検出する方式では、合焦点の近
傍では高い検出感度を必要とし、しかも、大きなフォー
カスずれに対しては(感度は低くしても)広い検出範囲
でカバーする必要があるが、これを実現する手段として
、グレーティングカプラ6の結合方向の長さの長い(す
なわち、感度の高い)ものと、その結合方向の長さの短
い(すなわち、感度は低いが、検出範囲は広い)ものを
組み合わせる必要がある。
このような要望に応えるものとして、特願平2−588
86号に「光検出装置」として本出願人により出願され
ているものがある。ここでは、グレーティングカプラ6
の結合方向の長さの異なるものを組み合わせることによ
って、高感度なフォーカスエラー信号FOの検出を行う
ことができることの原理的な説明を行ったが、しかし、
この場合、2種類以上のグレーティングカプラ6が一体
どのような周期、結合方向の長さのものを具体的に組合
わせて設計すれば、高感度な信号検出を行うことができ
るのかを示していない。
課題を解決するための手段 そこで、このような問題点を解決するために、請求項1
記載の発明では、基板上に光導波路が形成され、この光
導波路上に最適な垂直入射結合条件から僅かにずらした
位置にグレーティングカプラが形成され、このグレーテ
ィングカプラを挾んだ光結合方向に受光素子が設けられ
、前記グレーティングカプラから入射し前記光導波路内
に導波された導波光を前記受光素子に検出させることに
より再生信号やフォーカスエラー信号の検出を行う導波
路型光検出装置において、前記光結合方向の長さがDl
 で最適垂直入射条件を満たす前記グレーティングカプ
ラの周期をA。とするとき、グレーティングカプラの周
期へ〇 は、少なくとも、の範囲で作製され、かつ、D
l  より小さい光結合方向の長さD” (=D、/m
、m>1)のグレーティングカプラの周期Δmは、少な
くとも、の範囲で作製される少なくとも1つのグレーテ
ィングカプラを有するようにした。
請求項2記載の発明では、基板上に光導波路が形成され
、この光導波路上に最適な垂直入射結合条件から僅かに
ずらした位置にグレーティングカプラが形成され、この
グレーティングカプラを挾んだ光結合方向に受光素子が
設けられ、前記グレーティングカプラから入射し前記光
導波路内に導波された導波光を前記受光素子に検出させ
ることにより再生信号やフォーカスエラー信号の検出を
行う導波路型光検出装置において、平行ビームが対物レ
ンズにより光ディスク面上にスポット状態で合焦してい
る際に、前記光ディスク面からの反射光が再び前記対物
レンズにより平行ビームとなって前記受光素子に照射さ
れた時のビーム半径をh n++axとし、ビーム波長
を^とし、前記対物レンズの焦点距離をfとし、光軸か
らの距離をh (<h、max)とし、合焦点からの許
容ずれ量をδとするとき、前記グレーティングカプラの
結合方向の長さDは、 の範囲で作製される少なくとも1つのグレーティングカ
プラを有するようにした。
作用 請求項1記載の発明においては、入射結合角幅をとるた
めのグレーティングカプラと、光検出感度の高いグレー
ティングカプラとの各々の周期の理想的な構成を示すこ
とができ、このことは、感度の高いグレーティングカプ
ラの最初の零クロス位置の範囲に他のグレーティングカ
プラの最初の零クロス位置を収めることができることを
意味し、これにより、ビームの垂直入射結合の時に限ら
ず検出感度の非常に優れたフォーカスエラー信号の検出
を行うことができる。
請求項2記載の発明においては、グレーティングカプラ
の結合方向の長さDの大きさは、対物レンズの性能、焦
点検出の感度を決めるδ及び入射光の波長λて規定でき
るため、これにより本構成の光ピツクアップに使えるグ
レーティングカプラのDの上限を決定することが可能と
なる。
実施例 まず、本発明の第一の実施例を第1図ないし第5図に基
づいて説明する。なお、具体的な数値例については後述
する。
まず、第1図〜第3rgJにおいて、レーザ光源として
の半導体レーザ16から出射された光が光情報記録媒体
としての光ディスク17により反射され信号検出光学系
18内に導かれた光路上には、光導波路素子19が配設
されている。この光導波路素子19は、基板20上にバ
ッファ層21を介して光導波路22が形成されている。
また、光ディスク17からの反射光23の光軸Aからは
ずれた位置にはグレーティングカプラ24が形成されて
おり、さらに、このグレーティングカプラ24を挟んだ
両端部には受光素子25が形成されている。
第3図は、その光導波路素子19をフォーカスエラー信
号が検出できる光学系内に配設した時の様子を示すもの
である。この場合、半導体レーザ16から出射された光
は、コリメートレンズ26により平行化され、偏光ビー
ムスプリッタ27を透過し、l/4波長板28を介して
、対物レンズ29により集光されて光ディスク17の表
面に照射され、その反射光23は偏光ビームスプリッタ
27により反射され信号検出光学系18内に配設された
光導波路素子19の表面に光ビームBが照射される。こ
れにより、グレーティングカプラ24を通して入射した
光は光導波路22内を進行していき受光素子25に検出
され、アンプ30を介して外部に送ることによりフォー
カスエラー信号FOの値を求めることができる。
上述したように、フォーカスエラー信号Foを検出する
ことによって、対物レンズ29により集光される光ビー
ムBの焦点が光ディスク17面上に位置しているか否か
を調べることができることになる。すなわち、光ディス
ク17面上で合焦となる時には光導波路素子19へ向か
う反射光23のビーム状態は平行となり、光ディスク1
7が合焦位置より遠い時には光導波路素子19へ向かう
反射光23のビーム状態は集束光ぎみとなり、逆に、光
ディスク17が合焦位置より近い時には光導波路素子1
9へ向かう反射光23のビーム状態は発散光ぎみとなる
。従って、このような反射光23のビーム状態の傾きを
グレーティングカプラ24により検出するようにすれば
よいことになる。
そこで、今、反射光23の光導波路素子19への入射角
θにより導波光Cの光量がどのように変化するかを調べ
てみる。第4図はその動作原理を示したものである。光
導波路22上に形成されたグレーティングカプラ24は
、結合条件として、垂直入射(θ=0°)条件から僅か
にずらして形成しである。従って、第4図(a)に示す
ように、θ=0″′において、最大光量で導波結合はし
ないが対称な構造をもつため、導波光Cは左右へ同一光
量だけ導波していき、第5図(a)に示すように左右対
称な波形が得られる。ところが、第4図(b)(c)に
示すように、入射角θが垂直から僅かにずれる(θ〉O
20<O)と、左右へ導波する導波光Cの光量がアンバ
ランスとなり、これにより左右で検出された光量の信号
の差をとると、第5図(b)に示すような8字カーブが
求められ、θ=O°で信号出力がOとなる波形を得るこ
とができる。
従って、このような動作原理を用いて、反射光23を光
導波路素子19のグレーティングカプラ24から入射さ
せ、これにより得られた導波光Cを左右の受光素子25
に検出してその差信号をとることによって、合焦時には
グレーティングカプラ24に垂直に入射するため、フォ
ーカスエラー信号F○はFo=Oとなり検出されず、一
方、合焦位置からはずれ光ディスク17が対物レンズ2
9から遠ざかったり近づきすぎたりしたような場合には
左右の受光素子25の出力に差が現われるため、Fo≠
0となりデフォーカス状態を検出することができること
になる。
次に、本発明の第二の実施例を第6図ないし第8図に基
づいて説明する。なお、具体例な数値例については後述
する。
上述した第一の実施例では、光導波路素子19に形成さ
れるグレーティングカプラ24を1個として形成したが
、ここでは、形状の異なる2個のグレーティングカプラ
を用いて形成したものである。すなわち、光導波路素子
19には、反射光23の光軸からはずれた位置に、結合
幅(開口)の大きいグレーティングカプラとしての第一
グレーティングカプラ31、及び、結合幅(開口)の小
さいグレーティングカプラとしての第ニゲレーティング
カプラ32が形成されている。以下、そのような結合幅
(以下、開口と呼ぶ)の異なるグレーティングカプラ3
1.32を形成した理由について説明する。
第7図(a)に示すような結合方向に対して開口の大き
い第一グレーティング31の場合、その結合特性は第7
図(b)に示すようになり、出力信号(フォーカスエラ
ー信号)の波形33の山の幅が非常に狭く、その狭い領
域内での出力の値が大きなものとなる。また、第8図(
a)に示すような開口の小さい第ニゲレーティング32
の場合、その結合特性は第8図(b)に示すようになり
、波形34の山の幅が広がった形状となる。従って、こ
のような第一グレーティング31と第ニゲレーティング
32とを組合わせることにより、その結合特性は両者を
合わせもったものとなり、第6図(C)に示すような波
形35となる。
従って、本実施例では、大小異なる開口を有する第−及
び第ニゲレーティングカプラ31.32を形成すること
によって、合焦点近傍のフォーカスエラー信号はその検
出感度が高く、合焦点から遠ざかったところでは、その
フォーカスエラー信号の横比感度は低くなるがその分法
範囲に渡って制御を行うことが可能となる。
なお、波形33,34.35を表わすグラフにおいて、
縦軸はフォーカスエラー信号FOの出力値を示し、横軸
はデフォーカス量を表わし、d−fで示したものである
。ただし、波形dは対物レンズ29と光ディスク17ど
の間の距離を示し、fはその間の焦点距離を示す。また
、光導波路素子19は、第3図に示すように、接着剤3
6を用いて偏光ビームスプリッタ27の側面に接着する
ことができる。
次に、これまで述べてきた2つの実施例をもとに、具体
的な数値を挙げた例を順次述べる。まず、第一の具体例
について述べる。
本具体例では、基板20上に光導波路22が形成され、
この光導波路22上に最適な垂直入射結合条件から僅か
にずらした位置にグレーティングカプラ24が形成され
、このグレーティングカプラ24を挾んだ光結合方向に
受光素子25が設けられ、前記グレーティングカプラ2
4から入射し前記光導波路22内に導波された導波光を
前記受光素子25に検出させることにより再生信号やフ
オーカスエラー信号の検出を行う導波路型光検出装置に
おいて、前記光結合方向の長さがDl で最適垂直入射
条件を満たす前記グレーティングカプラ24の周期をΛ
0とするとき、そのグレーティングカプラ24の周期A
1は、少なくとも、の範囲で作製され、かつ、Dl  
より小さい光結合方向の長さD ” (= D 、 /
 m 、 m > 1 )のグレーティングカプラ24
の周期Amは、少なくとも、・・・(2) の範囲で作製される少なくとも1つのグレーティングカ
プラ24を有するものである。以下、このような(1)
、(2)式のように設定した理由について述べる。
第13図(a)は、同一の結合方向の長さをもつグレー
ティングカプラであり、周期が、A+、A±。、A−の
3種類の結合光量と入射角θlの関係を示したものであ
る。結合光量か最初に零になる入射角θiで、すぐ隣の
グレーティングカプラの光量のピークがくるようにした
とき、これら3つの周期は、結合方向の長さDを用いる
と、の間係がある。すなわち、この場合、グレーティン
グの結合方向の長さD当りの周期数は、1つずつ異なる
ようになっている。
次に、結合方向の長さが、D+、D±9.D−となって
いる場合の結合する入射角幅を示す。入射角幅2Δθi
は、垂直入射のとき(すなわち、λ/N=D/n、nは
グレーティングカプラの周期数)、 λ 2Δθ1=sin−”(−)    ・・(4)ハ であることから、Dの値が大きいほど、はぼ反比例して
Δθiが決まることになる。従って、D+〉D±。〉D
−とすれば、△θlは第13図(b)のようになる。
これまで述べてきたような知識を利用すれば、第13図
(g)(’h)のようになる条件は容易に求まり、結合
方向の長さの大きい方をり1、周期をA1  とすると
き、小さい方をD 、 m = p 、 7m、 m〉
lとすれば、まず、第13図(g)については、・・・
(5) となる。
また、第13図(h)については、 ・・・(6) となる。
この時、もし、(g)、(h)のグレーティングカプラ
Δ2が、A1 に対して右側(入射角θ1が大きい方)
になった場合、(g)に対しては、A、 =□    
・・・(7) −− (m+ 1 ) (h)に対しては、 A、 =□    ・・・(8) −−(m−1) となる。
ここで、第13図(c)のような配置をする場合、m、
 ) m、 ) 1として、第9図(a)(b)に相当
し、その周期は、 A1 A、 =□    ・・・(10) − 十(m、 −1) となる。なお、第10図(a)は第9図(a)の波形3
7を示し、第10図(b)は第9図(a)の波形38を
示す。また、第11図は第9図(C)の波形39を示す
。さらに、第12図(a)は第9図(c)の波形40を
示し、第12図(b)は第9図(d)の波形41を示す
また、第13図(C)とは反対に右ヘシフトするときに
は、第9図(c)(d)に相当し、A、 =□    
・・・(11) −− (m、 −1) A1 ハ。
となる。
また、垂直入射条件を満たす周期A。に対し、A1 は
、Δ。>A、のときは、 D。
となり、Δ。<A、のときは、 A。くA1く□  ・・・(14) □−1 となっていなければならない。たたし、(13)式は第
9図(aHb)の場合とし、(14)式は第9図(c)
(d、)の場合とする。
このように設定することにより、A1 のグレーティン
グカプラの結合特性の裾は垂直入射θ1=Oのときを挾
んで左右対称に結合し、これにより前述した2つの実施
例(第1図、第6図参照)中で受光素子25に検出され
る際に示した垂直入射の場合における信号検出を行うこ
とができる。
従って、第13図(d)に示すように、A1のグレーテ
ィングの結合光量を1番高くし、A1、八つに従って小
さな結合光量になるようにすれば、垂直入射付近の感度
は高く、垂直入射θ1;oから離れるに従って感度は低
くなるものの、広い範囲に渡ってフォーカスエラー信号
の検出を行うことができる。
その第13図(d)は、滑らかに光量が減ることを重視
しているが、広い入射角幅をもつ方のグレーティングカ
プラによる光量が十分とれるときは、第13図(e)に
示すように、2種類のグレーティングを用いて行っても
よい。
また、第13図(C)に示すように、一方の結合光量が
零になる入射角を一致させるのは、垂直入射付近の検出
感度を十分にとれるようにするためであったが、検出感
度に特に配慮する必要のないときは、第13図(f)に
示すように、必ずしも結合特性のピーク値に一番近い零
の位置を揃える必要はない。すなわち、 D。
□+1 Dつ □くA8<A。  ・・・(15b) −4 +  1 D。
(A、 <Δ。  ・・・(15c) □+1 A。
または。
□−1 □−1 Δ。
となる範囲で振ってもよい。なお、(13)弐Gま第9
図(a)(b)の場合とし、(14)弐〇ま第9図(c
od)の場合とする。
これら(15a)〜(16c)の範囲で振る際も、なる
べく各グレーティングは、垂直入射条イ牛から離れるよ
うに周期を決めることが望ましい。
また、第13図(i)も第13図(f)の場合と同様で
ある。
第9図は、このようにして構成したグレーティングカプ
ラ群の特性を示したものであり、焦点付近で、第14図
(aHb)に示したような場合に比べ、フォーカス制御
に必要な合焦付近の高い感度と、広域的な引込みができ
る特性とを兼ね備えているのがわかる。
次に、本発明の第二の具体例について述べる。
本具体例では、基板20上に光導波路22が形成され、
この光導波路22上に最適な垂直入射結合条件から僅か
にずらした位置にグレーティングカプラ24が形成され
、このグレーティングカプラ24を挾んだ光結合方向に
受光素子25が設けられ、前記グレーティングカプラ2
4から入射し前記光導波路22内に導波された導波光を
前記受光素子25に検出させることにより再生信号やフ
ォーカスエラー信号の検出を行う導波路型光検出装置に
おいて、平行ビームが対物レンズ29により光ディスク
面17a上にスポット状態で合焦している際に、前記光
ディスク面17aからの反射光が再び前記対物レンズ2
9により平行ビームとなって前記受光素子25に照射さ
れた時のビーム半径をh waxとし、ビーム波長をλ
とし、前記対物レンズの焦点距離をfとし、光軸からの
距離をh(<hmax)とし、合焦点からの許容ずれ量
をδとするとき、前記グレーティングカプラの結合方向
の長さDは、 の範囲で作製される少なくとも1つのグレーティングカ
プラを有するようにしたものである。
以下、この(17)式に示すような値に設定した理由に
ついて述べる。ここでは、具体的な構成例と光ピッグア
ップとして適用できる範囲を示していくことにする。
まず、光ピツクアップの対物レンズを通して戻ってきた
光の焦点ずれ量Δδに対するビーム周辺の平行度からの
角度ずれ量θiをhと、焦点距離fとで表してみると、 t“ となる。
一方、グレーティングカプラの結合方向長さDと、最適
結合角から入射光量の最初の極小になるところ(理論上
は、光量がOとなる)までの角度=結合幅をΔθiとす
ると垂直入射結合条件の近傍では、 λ θi=2Δθi#□ ・・・(19) となり、(18)式の角度まで入射光が変化しても、(
19)式のΔθiの方が大きければ、グレーティングカ
プラは、光導波路へ光を結合することができることから
、グレーティングカプラの結方向長さDは、次式の範囲
になければならない。
この(20)式において、λ=0.78μm、f=2m
m%h=0.5mmの焦点ずれδ=10μmとすると、
グレーティングカプラの結合方向長さDは、およそD(
300μmとなっていなければならない。
このDの値は大きいほどフォーカスエラー信号の検出感
度を向上させることができるが、検出範囲を示すδをそ
れに伴って小さくしなければならなくなるため、バラン
スを考えなければならない。
ビーム内のグレーティングカプラの占める面積を増やす
ためには、ビーム径h maxに対してDを大きくする
必要がある。このだめの一つの手段として、λを小さく
するのが効果的である。
本具体例における受光素子25の実装時には、平行ビー
ムの光軸に垂直に設置しなければならないが、この装着
時のアライメント精度をラフにする手段として、ビーム
半径h wax及びfを小さくすることが有効である。
二のようにすることによって、同じ焦点ずれ量δに対し
、Dはh maxに対して同じ比率で決まり、小さいD
に対して入射角の許容範囲は広がり、この時δに対する
感度はほぼ同じである。
このことに鑑みて、これらの構成で適切なビーム径の範
囲は、NA=0.45 (f=2hmax )のとき、
およそ、 0.6mm(hmax(1,4mm   −=(21)
となるべきである。
この場合、下限の0.6mmの値は、光ディスクの保護
膜厚からきていて、その膜厚は周知の1.2mmであり
、対物レンズのワーキングデイスタンス(WD)がとれ
るようにするためには、少なくとも、f)1.2mmで
なければならないことによる。もちろん、波長を短くし
、同じ集光ビームスポットが得られるならば、f=kh
maxとしたときのkの値がNA=0.45のときのに
#2より小さくでき、h maxも若干小さくできる。
また、上限の1.4mmの値は、δ=±10μmの合焦
時からはずれたときの再外殻光線のグレーティングカプ
ラの入射角がO,ldeg程度になることによりとった
ものである。この時、受光素子のアライメント精度が、
良くても0.01deg程度であることによる。アライ
メント誤差が多少あっても安定に信号検出できるために
は、最低でも二の0.Oldegの10倍位のグレーテ
ィングカプラを作製する位置は、このh maxより小
さいh((hmax)の位置に作るため、このh ma
xを(20)式に適用して得たDのグレーティングカプ
ラをh(hmaxの位置に配置すれば、フォーカスエラ
ー信号等の検出される信号の安定性、hの大きさに反比
例して改善されることになる。
発明の効果 請求項1記載の発明は、基板上に光導波路が形成され、
この光導波路上に最適な垂直入射結合条件から僅かにず
らした位置にグレーティングカプラが形成され、このグ
レーティングカプラを挾んだ光結合方向に受光素子が設
けられ、前記グレーティングカプラから入射し前記光導
波路内に導波された導波光を前記受光素子に検出させる
ことにより再生信号やフォーカスエラー信号の検出を行
う導波路型光検出装置において、前記光結合方向の長さ
がDl で最適垂直入射条件を満たす前記グレーティン
グカプラの周期をΛ0とするとき、グレーティングカプ
ラの周期A1は、少なくとも、の範囲で作製され、かつ
、D、  より小さい光結合方向の長さD” (=D、
/m、rn)1)のグレーティングカプラの周期Amは
、少なくとも、の範囲で作製される少なくとも1つのグ
レーティングカプラを有するようにしたので、入射結合
角幅をとるためのグレーティングカプラと、光検出感度
の高いグレーティングカプラとの各々の周期の理想的な
構成を示すことができ、このことは感度の高いグレーテ
ィングカプラの最初の零クロス位置の範囲に他のグレー
ティングカプラの最初の零クロス位置を収めることがで
きることを意味するものであり、これにより、ビームの
垂直入射結合の時に限らず、検出感度の非常に優れたフ
ォーカスエラー信号の検出を行うことが可能となるもの
である。
請求項2記載の発明は、基板上に光導波路が形成され、
この光導波路上に最適な垂直入射結合条件から僅かにず
らした位置にグレーテイングカプラが形成され、このグ
レーティングカプラを挾んだ光結合方向に受光素子が設
けられ、前記グレーティングカプラから入射し前記光導
波路内に導波された導波光を前記受光素子に検出させる
ことにより再生信号やフォーカスエラー信号の検出を行
う導波路型光検出装置において、平行ビームが対物レン
ズにより光ディスク面上にスポット状態で合焦している
際に、前記光ディスク面からの反射光が再び前記対物レ
ンズにより平行ビームとなって前記受光素子に照射され
た時のビーム半径をh maxとし、ビーム波長をλと
し、前記対物レンズの焦点距離をfとし、光軸からの距
離をh (<hmax)とし、合焦点からの許容ずれ量
をδとするとき、前記グレーティングカプラの結合方向
の長さDは、 の範囲で作製される少なくとも1つのグレーティングカ
プラを有するようにしたので、グレーティングカプラの
結合方向の長さDの大きさは、対物レンズの性能、焦点
検出の感度を決めるδ及び入射光の波長λで規定できる
ため、これにより本構成の光ピツクアップに使えるグレ
ーティングカプラのDの上限を決定することができるも
のである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第一の実施例を示す光導波路素子の正
面図、第2図はその側面図、第3図は他の光学系を含め
て示す構成図、第4図は光導波路素子に入射する光の入
射角の条件により導波光の光量が変化する様子を示す説
明図、第5図は光導波路内に導波される導波光の様子を
示す波形図、第6図(a)は本発明の第二の実施例を示
す構成図、第6図(b)はその光導波路内に導波される
導波光の様子を示す波形図、第7図及び第8図はそのグ
レーティングカプラを作製するための説明図、第9図は
グレーティングカプラ群の特性を示す特性図、第1O図
は第9図(a)の導波光の結合方向を示す側面図、第1
1図は第9図(b)の導波光の結合方向を示す側面図、
第12図は第9図(c)の導波光の結合方向を示す側面
図、第13図は結合光量と入射角との関係を示す波形図
、第14図は第9図と対比されるグレーディングカプラ
の特性を示す特性図、第15図は従来例を示す構成図、
第16図はナイフェツジ法によりフォーカスエラー信号
を検出する原理を示す説明図、第17図はその受光素子
に検出されるビーム状態を示す正面図である。 20・・・基板、22・・・光導波路、24・・・グレ
ーティングカプラ、25・・・受光素子、31..32
・・・グレーティングカプラ 出 願 人    株式会社 リ コ −、¥)LL 
図 (a)        (b)(c) 、%5図 (C)             (a)、:%13図
(沖Z) /1IAzk柱早

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、基板上に光導波路が形成され、この光導波路上に最
    適な垂直入射結合条件から僅かにずらした位置にグレー
    ティングカプラが形成され、このグレーティングカプラ
    を挾んだ光結合方向に受光素子が設けられ、前記グレー
    テイングカプラから入射し前記光導波路内に導波された
    導波光を前記受光素子に検出させることにより再生信号
    やフォーカスエラー信号の検出を行う導波路型光検出装
    置において、前記光結合方向の長さがD_1で最適垂直
    入射条件を満たす前記グレーテイングカプラの周期をΛ
    _0とするとき、そのグレーテイングカプラの周期Λ_
    1は、少なくとも、 〔D_1/(D_1/Λ_0+1)〕<Λ_1<〔D_
    1/(D_1/Λ_2−1)〕の範囲で作製され、かつ
    、D_1より小さい光結合方向の長さD^m(=D_1
    /m、m>l)のグレーテイングカプラの周期Λ^mは
    、少なくとも、{D_1/〔D_1/Λ_0+(m+l
    )〕}<Λ^m<{D_2/〔D_1/Λ_0−(m+
    l)〕}の範囲で作製される少なくとも1つのグレーテ
    ィングカプラを有することを特徴とする導波路型光検出
    装置。 2、基板上に光導波路が形成され、この光導波路上に最
    適な垂直入射結合条件から僅かにずらした位置にグレー
    ティングカプラが形成され、このグレーティングカプラ
    を挾んだ光結合方向に受光素子が設けられ、前記グレー
    テイングカプラから入射し前記光導波路内に導波された
    導波光を前記受光素子に検出させることにより再生信号
    やフォーカスエラー信号の検出を行う導波路型光検出装
    置において、平行ビームが対物レンズにより光ディスク
    面上にスポット状態で合焦している際に、前記光ディス
    ク面からの反射光が再び前記対物レンズにより平行ビー
    ムとなって前記受光素子に照射された時のビーム半径を
    hmaxとし、ビーム波長をλとし、前記対物レンズの
    焦点距離をfとし、光軸からの距離をh(<hmax)
    とし、合焦点からの許容ずれ量をδとするとき、前記グ
    レーティングカプラの結合方向の長さDは、 D<〔(λf^2)/(2|δ|h)〕 の範囲で作製される少なくとも1つのグレーティングカ
    プラを有することを特徴とする導波路型光検出装置。
JP2309243A 1990-11-15 1990-11-15 導波路型光検出装置 Pending JPH04181526A (ja)

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