JPH0418283A - Ｉｃ収納チューブ - Google Patents
Ｉｃ収納チューブInfo
- Publication number
- JPH0418283A JPH0418283A JP2112253A JP11225390A JPH0418283A JP H0418283 A JPH0418283 A JP H0418283A JP 2112253 A JP2112253 A JP 2112253A JP 11225390 A JP11225390 A JP 11225390A JP H0418283 A JPH0418283 A JP H0418283A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tube
- antistatic agent
- adhesive tape
- adhesive
- sliding surface
- Prior art date
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- Pending
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- Packaging Frangible Articles (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、半導体集積回路装置（以下、ＩＣと称す）
の収納チューブに関するものである。
の収納チューブに関するものである。
以下、面実装タイプ樹脂封止形ＩＣの収納チューブを例
にとって説明する。
にとって説明する。
第４図は従来のこの種の収納チューブ（以下、チューブ
と称す）を示す斜視図、第５図は第４図のチューブにＩ
Ｃが収納されている状態を示す側面図、第６図はチュー
ブに収納されたＩＣを対客先の出荷形態の一つである粘
着式テープにテーピングしＩＣの接着強度を測定する模
様を示す概略図である。
と称す）を示す斜視図、第５図は第４図のチューブにＩ
Ｃが収納されている状態を示す側面図、第６図はチュー
ブに収納されたＩＣを対客先の出荷形態の一つである粘
着式テープにテーピングしＩＣの接着強度を測定する模
様を示す概略図である。
第４図〜第６図において、１は母材が絶縁性プラスチッ
クでなる透明のチューブで、ｌａはこのチューブ１のＩ
Ｃ滑走面である。２はチューブ１の端部に嵌め込まれる
止め栓、３はチューブ１に収納されるＩＣ５４はチュー
ブ１の表面にコーティングされた静電気防止剤である。
クでなる透明のチューブで、ｌａはこのチューブ１のＩ
Ｃ滑走面である。２はチューブ１の端部に嵌め込まれる
止め栓、３はチューブ１に収納されるＩＣ５４はチュー
ブ１の表面にコーティングされた静電気防止剤である。
５は出荷形態の一つである粘着式テープで、５ａ、５ｂ
はこのテープ５の台紙部分と粘着テープ部分を示す。
はこのテープ５の台紙部分と粘着テープ部分を示す。
６は粘着式テープ５にテーピングされたＩＣ３の接着強
度を測定する際ＩＣ３をつかむクリップ、７はこのクリ
ップ６に取付けられた紐、８はこの紐７に引掛けて用い
る荷重測定用プッシュプルゲージである。
度を測定する際ＩＣ３をつかむクリップ、７はこのクリ
ップ６に取付けられた紐、８はこの紐７に引掛けて用い
る荷重測定用プッシュプルゲージである。
次に動作について説明する。ウェハ→ダイシング→ダイ
ボンディング→ワイヤボンディング→樹脂封止→外装メ
ツキ−リード加工→チューブ１収納といった周知の技術
でアセンブリされたＩＣは、続いてチューブが複数本か
ら構成されるロット単位毎に図示しない電気特性検査装
置（以下、テスト装置と称す）のハンドラーに投入され
る。ハンドラーはチューブｌを１本ずつ分離し、チュー
ブ１の中にある複数のＩＣ３を個々に分離してテストス
テーションへ供給する。テストステーションでテストの
終えたＩＣ３は、ハンドラーの収納部分にセットされた
空のチューブ１の滑走面１ａと接触しながら収納される
。
ボンディング→ワイヤボンディング→樹脂封止→外装メ
ツキ−リード加工→チューブ１収納といった周知の技術
でアセンブリされたＩＣは、続いてチューブが複数本か
ら構成されるロット単位毎に図示しない電気特性検査装
置（以下、テスト装置と称す）のハンドラーに投入され
る。ハンドラーはチューブｌを１本ずつ分離し、チュー
ブ１の中にある複数のＩＣ３を個々に分離してテストス
テーションへ供給する。テストステーションでテストの
終えたＩＣ３は、ハンドラーの収納部分にセットされた
空のチューブ１の滑走面１ａと接触しながら収納される
。
以上を繰り返してロットのテストが完了すると、次にＩ
Ｃ３の外観を検査する工程に送られる。外観検査工程に
来たロットは、透明なチューブ１の表面から目視検査さ
れ、ＩＣ３の外部リード曲りなどの外観不良が取除かれ
る。
Ｃ３の外観を検査する工程に送られる。外観検査工程に
来たロットは、透明なチューブ１の表面から目視検査さ
れ、ＩＣ３の外部リード曲りなどの外観不良が取除かれ
る。
以上の工程を完了すると、一つの出荷形態であるチュー
ブ収納が出来上がるが、客先の要求によってこの出荷形
態が粘着式テーピングとなるケースがある。
ブ収納が出来上がるが、客先の要求によってこの出荷形
態が粘着式テーピングとなるケースがある。
次に粘着式テーピングの動作を説明すると、図示しない
テーピングマシンに外観検査を終えたロットのチューブ
１がセットされる。テーピングマシンにはリールに巻か
れた粘着式テープらが供給される構造となっており、反
対側にはＩＣ３を接着した粘着式テープ５が空リールに
巻取られる様になっている。ＩＣ３の入ったチューブ１
をテーピングマシンは１杢ずつ分離し、続いてＩＣ３を
１個ずつ分離してピックアップし、そして供給されて来
た粘着式テープ５の粘着テープ５ｂの中心位置まで搬送
下降させる。粘着テープ５ｂの下には棒状の硬質ゴムが
突起しており、上記下降動作（押荷重は設定されている
）によってＩＣ３はピックアップ部分と硬質ゴムに挟ま
れる形となって接着される。以上を繰り返して粘着式テ
ーピングが進行し、巻取リールに巻取られて完了する。
テーピングマシンに外観検査を終えたロットのチューブ
１がセットされる。テーピングマシンにはリールに巻か
れた粘着式テープらが供給される構造となっており、反
対側にはＩＣ３を接着した粘着式テープ５が空リールに
巻取られる様になっている。ＩＣ３の入ったチューブ１
をテーピングマシンは１杢ずつ分離し、続いてＩＣ３を
１個ずつ分離してピックアップし、そして供給されて来
た粘着式テープ５の粘着テープ５ｂの中心位置まで搬送
下降させる。粘着テープ５ｂの下には棒状の硬質ゴムが
突起しており、上記下降動作（押荷重は設定されている
）によってＩＣ３はピックアップ部分と硬質ゴムに挟ま
れる形となって接着される。以上を繰り返して粘着式テ
ーピングが進行し、巻取リールに巻取られて完了する。
以上述べた従来のチューブｌは表面に静電気防止剤４が
コーティングされており、且つＩＣ３が滑走する接触部
分が平面構造となっているため、ＩＣ３をチューブｌに
出し入れする場合や、ＩＣ３が入った状態でチューブ１
を搬送する場合において、ＩＣ３の裏面に静電気防止剤
４が付着し易いものであった。そしてこれが原因となっ
て、外観検査後、粘着式チー１５にテーピングする際に
おいて、ＩＣ３が粘着テープ５ｂに付着せず、又付いて
も強度が弱く、はずれ易いという問題があった。
コーティングされており、且つＩＣ３が滑走する接触部
分が平面構造となっているため、ＩＣ３をチューブｌに
出し入れする場合や、ＩＣ３が入った状態でチューブ１
を搬送する場合において、ＩＣ３の裏面に静電気防止剤
４が付着し易いものであった。そしてこれが原因となっ
て、外観検査後、粘着式チー１５にテーピングする際に
おいて、ＩＣ３が粘着テープ５ｂに付着せず、又付いて
も強度が弱く、はずれ易いという問題があった。
なおＩＣ３の粘着テープ５ｂに付く接着強度は、垂直方
向の引き剥がしカで概ね１５０ｇ以上を確保する様にし
ているが、上述した原因によりこれを下回るものが多数
発生している。
向の引き剥がしカで概ね１５０ｇ以上を確保する様にし
ているが、上述した原因によりこれを下回るものが多数
発生している。
この接着強度を測定する様子を示したのが第６図である
。ここで、この問題を解決する手段として、静電気防止
剤のコーティングを必要としない導電性のカーボン練込
みプラスチックチューブとする（着色が不透明な黒色）
ことや、またはチューブを金属材で作ることなどの対策
が考えられるが、いずれもチューブ内のＩＣの外観が透
視出来なくなるため、外観目視検査が出来ないという別
の問題が出て来る。
。ここで、この問題を解決する手段として、静電気防止
剤のコーティングを必要としない導電性のカーボン練込
みプラスチックチューブとする（着色が不透明な黒色）
ことや、またはチューブを金属材で作ることなどの対策
が考えられるが、いずれもチューブ内のＩＣの外観が透
視出来なくなるため、外観目視検査が出来ないという別
の問題が出て来る。
なお昨今では目視検査に代わる自動外観検査機が各メー
カーから販売されつつあるが、装置費用が高いという欠
点がある。
カーから販売されつつあるが、装置費用が高いという欠
点がある。
この発明は上記の様な問題点を解消するためになされた
もので、透明性を生がしたプラスチックチューブのまま
、ＩＣの粘着テープ接着面に静電気防止剤が付着しにく
い構造のチューブを得ることを目的とする。
もので、透明性を生がしたプラスチックチューブのまま
、ＩＣの粘着テープ接着面に静電気防止剤が付着しにく
い構造のチューブを得ることを目的とする。
この発明に係る収納チューブは、ＩＣが滑走する接触平
面となる部分に透明性の母材とは別の静電気防止剤コー
トを必要としない導電性プラスチック材を配置したもの
である。
面となる部分に透明性の母材とは別の静電気防止剤コー
トを必要としない導電性プラスチック材を配置したもの
である。
また別の手段として、チューブの母材は従来のままで、
接触平面を廃止して複数の突起状細条に形成したもので
ある。
接触平面を廃止して複数の突起状細条に形成したもので
ある。
この発明におけるチューブは、ＩＣの滑走する部分で且
つｒＣの粘着テープ接着面となる部分との接着面に、静
電気防止剤を必要としない部材を配したことによって、
静電気防止剤がＩＣに付着しない。
つｒＣの粘着テープ接着面となる部分との接着面に、静
電気防止剤を必要としない部材を配したことによって、
静電気防止剤がＩＣに付着しない。
また、上記接触面を平面がら複数の突起状の細条とした
ことにより、接触面積が大幅に減少することで、静電気
防止剤が付着しにくくなる。
ことにより、接触面積が大幅に減少することで、静電気
防止剤が付着しにくくなる。
以下、この発明の実施例を図について説明する。
上記第５図に対応する第１図において、チューブ１のＩ
Ｃの滑走接触面となる部分を透明な母材とは別の導電性
プラスチック１０としたものである。
Ｃの滑走接触面となる部分を透明な母材とは別の導電性
プラスチック１０としたものである。
なおその他は従来と同様である。
また第２図、第３図の実施例のものは、チューブ１の母
材全体は従来のままで、ＩＣの滑走接触面の部分を平面
から複数の突起状の細条！Ｉとしたものである。なおそ
の他は従来と同様である。
材全体は従来のままで、ＩＣの滑走接触面の部分を平面
から複数の突起状の細条！Ｉとしたものである。なおそ
の他は従来と同様である。
以上のようにこの発明に係るチューブによれば、ＩＣの
粘着テープ接着面にチューブにコーティングされた静電
気防止剤が付着しない部材を配し、あるいはＩＣとの接
触面積を大幅に減らした構造としたので、従来の問題で
あったＩＣが粘着テープに接着しない、または接着強度
が弱いということがなくなり、手直し及び客先クレーム
を減らすことが出来る効果がある。
粘着テープ接着面にチューブにコーティングされた静電
気防止剤が付着しない部材を配し、あるいはＩＣとの接
触面積を大幅に減らした構造としたので、従来の問題で
あったＩＣが粘着テープに接着しない、または接着強度
が弱いということがなくなり、手直し及び客先クレーム
を減らすことが出来る効果がある。
第１図はこの発明の一実施例を示す側面図、第２図、第
３図はこの発明の他の実施例を示す斜視図と側面図、第
４図は従来のチューブを示す斜視図、第５図は第４図の
チューブにｒＣが収納されている状態を示す側面図、第
６図は粘着式テープにテーピングしたＩＣの接着強度を
測定する模様を示す概略図である。 図中、１はチューブ、ＩａはＩＣ滑走面、２は止め栓、
３はＩＣ１４は静電気防止剤、■０は導電性プラスチッ
ク、１１は突起状の細条である。 なお、図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
３図はこの発明の他の実施例を示す斜視図と側面図、第
４図は従来のチューブを示す斜視図、第５図は第４図の
チューブにｒＣが収納されている状態を示す側面図、第
６図は粘着式テープにテーピングしたＩＣの接着強度を
測定する模様を示す概略図である。 図中、１はチューブ、ＩａはＩＣ滑走面、２は止め栓、
３はＩＣ１４は静電気防止剤、■０は導電性プラスチッ
ク、１１は突起状の細条である。 なお、図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
Claims (2)
- （１）表面に静電気防止剤を塗布し母材が透明のプラス
チック部材でなるチューブの中にＩＣがのるＩＣ滑走面
を有する収納チューブにおいて、上記ＩＣ滑走面の部分
に母材とは別の導電性プラスチックを配置したことを特
徴とするＩＣ収納チューブ。 - （２）表面に静電気防止剤を塗布し母材が透明のプラス
チック部材でなるチューブの中にＩＣがのるＩＣ滑走面
を有する収納チューブにおいて、上記ＩＣ滑走面に複数
の突起状の細条を形成し、ＩＣとの接触面積を大幅に減
少させたことを特徴とするＩＣ収納チューブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2112253A JPH0418283A (ja) | 1990-04-27 | 1990-04-27 | Ｉｃ収納チューブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2112253A JPH0418283A (ja) | 1990-04-27 | 1990-04-27 | Ｉｃ収納チューブ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0418283A true JPH0418283A (ja) | 1992-01-22 |
Family
ID=14582081
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2112253A Pending JPH0418283A (ja) | 1990-04-27 | 1990-04-27 | Ｉｃ収納チューブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0418283A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5547082A (en) * | 1994-03-14 | 1996-08-20 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Component tray with removable insert |
-
1990
- 1990-04-27 JP JP2112253A patent/JPH0418283A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5547082A (en) * | 1994-03-14 | 1996-08-20 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Component tray with removable insert |
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