JPH0418356B2 - - Google Patents
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- JPH0418356B2 JPH0418356B2 JP57080825A JP8082582A JPH0418356B2 JP H0418356 B2 JPH0418356 B2 JP H0418356B2 JP 57080825 A JP57080825 A JP 57080825A JP 8082582 A JP8082582 A JP 8082582A JP H0418356 B2 JPH0418356 B2 JP H0418356B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electronic
- memory
- circuit
- output
- readout
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07C—TIME OR ATTENDANCE REGISTERS; REGISTERING OR INDICATING THE WORKING OF MACHINES; GENERATING RANDOM NUMBERS; VOTING OR LOTTERY APPARATUS; ARRANGEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS FOR CHECKING NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
- G07C9/00—Individual registration on entry or exit
- G07C9/00174—Electronically operated locks; Circuits therefor; Nonmechanical keys therefor, e.g. passive or active electrical keys or other data carriers without mechanical keys
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Lock And Its Accessories (AREA)
- Testing Of Coins (AREA)
- Radar Systems Or Details Thereof (AREA)
- Cash Registers Or Receiving Machines (AREA)
- Control Of Vending Devices And Auxiliary Devices For Vending Devices (AREA)
- Burglar Alarm Systems (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は電子判別システムに関する。特定の人
物を認識し判別するこの種のシステムは、種々の
分野で応用されている。特に、ドアの開放、タイ
ムコントロール及びコピー機器のような複数の人
間に使われる機器の制御にこの種の判別システム
が使用され、或いはクレジツトカードによる紙幣
の引出しにも使用されている。
物を認識し判別するこの種のシステムは、種々の
分野で応用されている。特に、ドアの開放、タイ
ムコントロール及びコピー機器のような複数の人
間に使われる機器の制御にこの種の判別システム
が使用され、或いはクレジツトカードによる紙幣
の引出しにも使用されている。
通常使われているタイプの判別システムは携帯
部を有し、この携帯部は判別コードを記憶し、判
別されるべき人間が携帯するクレジツトカードあ
るいはバツジの形態をしている(米国特許第
3637994号参照)。判別コードは孔によるか、或い
は磁気テープによつてバツジに記憶されている。
しかし、この種のバツジの使用には数多くの不都
合があり、例えば、大型で簡単に破損する。孔を
あけたバツジの場合、判別コードは比較的簡単に
識別できる。判別コードの媒体が磁気テープの場
合、磁気テープはキズ或いは磁気の影響で使用不
能になる。更に、このようなタイプのバツジを読
み出しに使われる装置は必然的に複雑であり、判
別コード読み出しのためにバツジの移動させる機
械式の駆動システムを特別に設けなければならな
い。その結果、読み出し装置の製作費は高くなる
という欠点がある。
部を有し、この携帯部は判別コードを記憶し、判
別されるべき人間が携帯するクレジツトカードあ
るいはバツジの形態をしている(米国特許第
3637994号参照)。判別コードは孔によるか、或い
は磁気テープによつてバツジに記憶されている。
しかし、この種のバツジの使用には数多くの不都
合があり、例えば、大型で簡単に破損する。孔を
あけたバツジの場合、判別コードは比較的簡単に
識別できる。判別コードの媒体が磁気テープの場
合、磁気テープはキズ或いは磁気の影響で使用不
能になる。更に、このようなタイプのバツジを読
み出しに使われる装置は必然的に複雑であり、判
別コード読み出しのためにバツジの移動させる機
械式の駆動システムを特別に設けなければならな
い。その結果、読み出し装置の製作費は高くなる
という欠点がある。
別の判別システムでは、携帯部が電子キーとな
つている。この電子キーは従来のキーに類似して
いるが、判別コードの記憶手段を有する。この判
別コードは、電子回路から成る読出システムによ
つて検出或いは識別される(米国特許第4038637
号参照)。
つている。この電子キーは従来のキーに類似して
いるが、判別コードの記憶手段を有する。この判
別コードは、電子回路から成る読出システムによ
つて検出或いは識別される(米国特許第4038637
号参照)。
フランス特許第2363837号では、プログラム可
能なキーシステムが開示されている。このシステ
ムでは、判別コードは電子キーに設けたシフトレ
ジスタ内に記憶されている。電子キー内のデータ
或いはコードは、電子錠に設けたクロツクからの
パルスで読み取られる。このようにして得られた
コードは電子錠内に記憶されたコードと比較さ
れ、両コードが一致すれば、例えば、ラツチの開
放その他の必要な動作を行わせる。
能なキーシステムが開示されている。このシステ
ムでは、判別コードは電子キーに設けたシフトレ
ジスタ内に記憶されている。電子キー内のデータ
或いはコードは、電子錠に設けたクロツクからの
パルスで読み取られる。このようにして得られた
コードは電子錠内に記憶されたコードと比較さ
れ、両コードが一致すれば、例えば、ラツチの開
放その他の必要な動作を行わせる。
しかし、このシステムでは、電子キーが複製さ
れる危険率が高く、この種の装置に慣れた技術者
は、判別コードを決定するシフトレジスタの内容
を比較的簡単に読み出すことが可能である。
れる危険率が高く、この種の装置に慣れた技術者
は、判別コードを決定するシフトレジスタの内容
を比較的簡単に読み出すことが可能である。
したがつて、本発明の目的は、従来の欠点を有
しない判別システムを提供することであり、電子
キー内に設けたシフトレジスタの内容を単に読み
出しても、判別コードは認識できないという特徴
がある。
しない判別システムを提供することであり、電子
キー内に設けたシフトレジスタの内容を単に読み
出しても、判別コードは認識できないという特徴
がある。
本発明の他の目的は、読出し過程で記憶回路の
内容が1回又はそれ以上変更し、したがつて、複
製が極めて困難な電子判別システムの提供にあ
る。
内容が1回又はそれ以上変更し、したがつて、複
製が極めて困難な電子判別システムの提供にあ
る。
本発明による電子判別システムは、電子判別コ
ードを有する予めプログラミングされた受動記憶
部を有し、この記憶部は、例えば、パラレル・シ
リアル・シフトレジスタから構成できる読出可能
記憶回路に接続している。本システムは、更に、
携帯部或いは電子キーと接続可能の固定部或いは
読取部を有している。この読取部は電源と、電子
判別コードを前記携帯部の記憶部に記憶させるた
めのパルスを供給する電子手段と、携帯部の記憶
部の内容を読み出して読取部の記憶回路に移すた
めの電子手段と、前記読取部で予めプログラムさ
れたコードと比較するための手段とを有する。本
発明によれば、携帯部の記憶回路はそれ自身ルー
プしている。携帯部の記憶回路の内容を読み出す
ための手段は、この記憶回路のビツト数と倍数だ
け異る所定数のクロツクパルスを発生し、読出動
作毎に記憶部の内容の順列を変える。上記所定数
のクロツクパルスを出力した後にのみ、携帯部の
記憶回路の内容を読取部の記憶回路へ移すことが
出来るように、論理ゲートを携帯部に設ける。
ードを有する予めプログラミングされた受動記憶
部を有し、この記憶部は、例えば、パラレル・シ
リアル・シフトレジスタから構成できる読出可能
記憶回路に接続している。本システムは、更に、
携帯部或いは電子キーと接続可能の固定部或いは
読取部を有している。この読取部は電源と、電子
判別コードを前記携帯部の記憶部に記憶させるた
めのパルスを供給する電子手段と、携帯部の記憶
部の内容を読み出して読取部の記憶回路に移すた
めの電子手段と、前記読取部で予めプログラムさ
れたコードと比較するための手段とを有する。本
発明によれば、携帯部の記憶回路はそれ自身ルー
プしている。携帯部の記憶回路の内容を読み出す
ための手段は、この記憶回路のビツト数と倍数だ
け異る所定数のクロツクパルスを発生し、読出動
作毎に記憶部の内容の順列を変える。上記所定数
のクロツクパルスを出力した後にのみ、携帯部の
記憶回路の内容を読取部の記憶回路へ移すことが
出来るように、論理ゲートを携帯部に設ける。
このように、携帯部の記憶回路(以下、単にメ
モリとする場合がある)のビツト数に等しい読出
パルス数を用いて、ビツト毎に直列信号を読取部
のメモリに転送するだけでは、携帯部のメモリの
内容は読み出すことができない。逆に、携帯部の
メモリ内容を読み出す前に、メモリ内容の何回か
の配列変更を行う。
モリとする場合がある)のビツト数に等しい読出
パルス数を用いて、ビツト毎に直列信号を読取部
のメモリに転送するだけでは、携帯部のメモリの
内容は読み出すことができない。逆に、携帯部の
メモリ内容を読み出す前に、メモリ内容の何回か
の配列変更を行う。
このように、電子錠のみが順列設定数の結果を
知つているので、本発明の判別システムの安全性
は非常に高い。
知つているので、本発明の判別システムの安全性
は非常に高い。
この発明の好ましい実施例では、読取部は、読
出回路からのクロツクパルスの設定数を計数する
ためのクロツク変調回路を有する。このクロツク
変調回路は、判別コードのビツト数に等しい読出
パルス(或いはクロツクパルス)数を追加出力で
きるように、読出停止回路に接続している。
出回路からのクロツクパルスの設定数を計数する
ためのクロツク変調回路を有する。このクロツク
変調回路は、判別コードのビツト数に等しい読出
パルス(或いはクロツクパルス)数を追加出力で
きるように、読出停止回路に接続している。
携帯部は、更に、読取装置(固定部)からの所
定数の連続クロツクパルスを計数するための手
段、及び論理ゲートを有する。この手段及びゲー
トは、直前に指定された順列を作成する上述の所
定数のクロツクパルスを出力した後にのみ、携帯
部のメモリの内容を読取装置(固定部)のメモリ
へ転送できるようにするためのものである。
定数の連続クロツクパルスを計数するための手
段、及び論理ゲートを有する。この手段及びゲー
トは、直前に指定された順列を作成する上述の所
定数のクロツクパルスを出力した後にのみ、携帯
部のメモリの内容を読取装置(固定部)のメモリ
へ転送できるようにするためのものである。
変形例として、携帯部のメモリの出力及びクロ
ツク変調回路の出力信号を受ける論理ゲートを読
出装置(固定部)に設けてもよい。この簡単な変
形例からも上述の例と同じ結果を得ることができ
る。
ツク変調回路の出力信号を受ける論理ゲートを読
出装置(固定部)に設けてもよい。この簡単な変
形例からも上述の例と同じ結果を得ることができ
る。
読取部(固定部或いは電子錠)に設けたローデ
イング・パルス発生手段はローデイング回路を有
し、このローデイング回路は、クロツクパルスを
受けてローデイング・パルスを出力するNAND
ゲートに接続したマスタースレーブ・ダブル・フ
リツプフロツプを有することが望ましい。
イング・パルス発生手段はローデイング回路を有
し、このローデイング回路は、クロツクパルスを
受けてローデイング・パルスを出力するNAND
ゲートに接続したマスタースレーブ・ダブル・フ
リツプフロツプを有することが望ましい。
携帯部のシフトレジスタの内容を読み取る目的
で固定部に設けた手段は、NANDゲートに接続
したマスタースレーブ・ダブル・フリツプフロツ
プを含む読出回路を有し、NANDゲートは、上
述のパルスを受け、ローデイング・パルスを出力
する手段の出力端に接続している。このように、
読出回路は、ローデイング・パルスが転送される
とトリガされ、一連のパルスを出力する。この出
力パルスは、シリアル・パラレル・シフトレジス
タに記憶されているデータの直列読出に続いて、
携帯部のシフトレジスタの内容の順列変更を行
う。
で固定部に設けた手段は、NANDゲートに接続
したマスタースレーブ・ダブル・フリツプフロツ
プを含む読出回路を有し、NANDゲートは、上
述のパルスを受け、ローデイング・パルスを出力
する手段の出力端に接続している。このように、
読出回路は、ローデイング・パルスが転送される
とトリガされ、一連のパルスを出力する。この出
力パルスは、シリアル・パラレル・シフトレジス
タに記憶されているデータの直列読出に続いて、
携帯部のシフトレジスタの内容の順列変更を行
う。
順列変更後、読出停止回路は、読出パルス数
を、携帯部のシフトレジスタ内のビツト数に限定
する。この読出停止回路はパルス・カウンタを有
し、このカウンタは、順列変更後に計数されるパ
ルス数がシフトレジスタのビツト数に等しい場
合、即ち、携帯部のシフトレジスタの内容が一旦
読み出されると、読出回路からの読出パルスを受
ける。
を、携帯部のシフトレジスタ内のビツト数に限定
する。この読出停止回路はパルス・カウンタを有
し、このカウンタは、順列変更後に計数されるパ
ルス数がシフトレジスタのビツト数に等しい場
合、即ち、携帯部のシフトレジスタの内容が一旦
読み出されると、読出回路からの読出パルスを受
ける。
携帯部の記憶回路は複数のスイツチを有し、こ
のスイツチは、例えば、ヒユーズ或いは切断可能
な接続線等によつて構成され、そのスイツチ位置
によつて電子判別コードを決める。携帯部のシフ
トレジスタの各フリツプフロツプは複数のスイツ
チの1個に接続し、そのスイツチ位置は、一方の
入力端にローデイング・パルスが印加される2個
のNANDゲートを介してフリツプフロツプの状
態を制御する。この2個のNANDゲートの内、
第1NANDゲートは、他の入力端を介して上記ス
イツチに接続し、第2NANDゲートは他の入力端
で、第1NANDゲートからの出力を受ける。
のスイツチは、例えば、ヒユーズ或いは切断可能
な接続線等によつて構成され、そのスイツチ位置
によつて電子判別コードを決める。携帯部のシフ
トレジスタの各フリツプフロツプは複数のスイツ
チの1個に接続し、そのスイツチ位置は、一方の
入力端にローデイング・パルスが印加される2個
のNANDゲートを介してフリツプフロツプの状
態を制御する。この2個のNANDゲートの内、
第1NANDゲートは、他の入力端を介して上記ス
イツチに接続し、第2NANDゲートは他の入力端
で、第1NANDゲートからの出力を受ける。
したがつて、ローデイング・パルスが、2個の
NANDゲートの入力端の1個に印加されると、
接続されているスイツチの状態に対応する状態に
なる。その結果、多数のスイツチの位置によつて
最初に決定された判別コードは、ローデイング・
パルスの作用で、シフトレジスタのフリツプフロ
ツプに転送される。
NANDゲートの入力端の1個に印加されると、
接続されているスイツチの状態に対応する状態に
なる。その結果、多数のスイツチの位置によつて
最初に決定された判別コードは、ローデイング・
パルスの作用で、シフトレジスタのフリツプフロ
ツプに転送される。
更に、本発明に係る実施例では、読取部(固定
部)内に、連続テスト可能回路を有する。この回
路は一連のフリツプフロツプを有し、フリツプフ
ロツプをゼロにリセツトするのは、読取部(固定
部)に予めプログラムされたコードと比較する手
段による正の比較結果による。したがつて、アラ
ームを動作させる前に、一連のフリツプフロツプ
の数に等しい空テストが可能である。
部)内に、連続テスト可能回路を有する。この回
路は一連のフリツプフロツプを有し、フリツプフ
ロツプをゼロにリセツトするのは、読取部(固定
部)に予めプログラムされたコードと比較する手
段による正の比較結果による。したがつて、アラ
ームを動作させる前に、一連のフリツプフロツプ
の数に等しい空テストが可能である。
電子キーを挿入する時と取り外した後にシステ
ムのフリツプフロツプ全体を「0」にリセツトす
るための適当なタイミング手段を設けてもよい。
ムのフリツプフロツプ全体を「0」にリセツトす
るための適当なタイミング手段を設けてもよい。
図示例では、いわゆる負論理が使われている。
つまり、アース電位にはレベル「1」、供給電圧
にはレベル「0」を対応させている。供給電圧は
およそ+5ボルトくらいで低く、使用者の危険を
避けるため、電流は数ミリアンペアに抑えられて
いる。
つまり、アース電位にはレベル「1」、供給電圧
にはレベル「0」を対応させている。供給電圧は
およそ+5ボルトくらいで低く、使用者の危険を
避けるため、電流は数ミリアンペアに抑えられて
いる。
特に、第1図及び第2図に示すように、本発明
の判別システムは、第2図に示されている電子キ
ー或いは携帯部又は取り換え可能部、及び第1図
に示す電子錠或いは読取装置(固定部)を有す
る。電子キーは従来のキーの形態を有する。電子
キーは、温度や溶剤に対して強い抵抗力を持つ堅
いプラステイツク材でできた2枚の板ではさまれ
たグラスフアイバー等の板で構成するのが望まし
い。電子キーは従来のタイプのバツジに比べて非
常に強く、磨耗も少ない。
の判別システムは、第2図に示されている電子キ
ー或いは携帯部又は取り換え可能部、及び第1図
に示す電子錠或いは読取装置(固定部)を有す
る。電子キーは従来のキーの形態を有する。電子
キーは、温度や溶剤に対して強い抵抗力を持つ堅
いプラステイツク材でできた2枚の板ではさまれ
たグラスフアイバー等の板で構成するのが望まし
い。電子キーは従来のタイプのバツジに比べて非
常に強く、磨耗も少ない。
電子キーはプラステイツク材に埋め込まれた導
電素子によつて成る電子接点を有し、電子錠の役
割をする読取装置(固定部)に設けたバネで支え
られたスチールボール(図示せず)と接続する。
又、別の方法、例えば、光電子結合で接点を構成
する方法も考えられる。
電素子によつて成る電子接点を有し、電子錠の役
割をする読取装置(固定部)に設けたバネで支え
られたスチールボール(図示せず)と接続する。
又、別の方法、例えば、光電子結合で接点を構成
する方法も考えられる。
第2図では、電子キーは、パラレル・シリア
ル・シフトレジスタ9を有し、このレジスタ9
は、錠を介してアースに接続した16個のスイツチ
10によつて駆動される。スイツチ10の配置に
より判別コードのビツト全体が決定される。尚、
電子キーの主な端子だけを第2図に示した。
ル・シフトレジスタ9を有し、このレジスタ9
は、錠を介してアースに接続した16個のスイツチ
10によつて駆動される。スイツチ10の配置に
より判別コードのビツト全体が決定される。尚、
電子キーの主な端子だけを第2図に示した。
第1図では、図示しない接続線により、電子キ
ーの中で接続する端子11,12は、システムの
アースに接続されるために使用される。端子L1
3は、スイツチ装置10に含まれるコードをレジ
スタ9に記憶するパルスを受けるための端子であ
る。H端子14は、シフトレジスタ9に記憶され
たデータを読み取る一連のパルスを受けるための
端子である。キーの中で図示しない接続線によつ
て結ばれた端子A15及び16は、錠内に設けた
電源に接続するための端子である。出力端子S1
7はシフトレジスタ9の出力端子Qに接続してい
る。
ーの中で接続する端子11,12は、システムの
アースに接続されるために使用される。端子L1
3は、スイツチ装置10に含まれるコードをレジ
スタ9に記憶するパルスを受けるための端子であ
る。H端子14は、シフトレジスタ9に記憶され
たデータを読み取る一連のパルスを受けるための
端子である。キーの中で図示しない接続線によつ
て結ばれた端子A15及び16は、錠内に設けた
電源に接続するための端子である。出力端子S1
7はシフトレジスタ9の出力端子Qに接続してい
る。
電子キーは受動回路であり、電源を有しない。
電子キーが錠に連結されない限り、シフトレジス
タ9はデータも有せず、読み取りを実行しても、
判別コードは供給されない。
電子キーが錠に連結されない限り、シフトレジス
タ9はデータも有せず、読み取りを実行しても、
判別コードは供給されない。
第1図の電子錠はローデイング回路18を含
み、その入力端は、電子キーが錠即ちシステムの
アースと接続したとき、端子12と接続し、その
出力端は端子Lにローデイング・パルスを供給す
る。
み、その入力端は、電子キーが錠即ちシステムの
アースと接続したとき、端子12と接続し、その
出力端は端子Lにローデイング・パルスを供給す
る。
又、ローデイング回路18の出力端は、接続線
19を介して読取回路20の入力に接続し、端子
Hにクロツク回路21からの一連のパルスを出力
する。
19を介して読取回路20の入力に接続し、端子
Hにクロツク回路21からの一連のパルスを出力
する。
読取回路20の出力端は、接続線20aと20
bにより、クロツク変調回路122の入力に接続
し、クロツク変調回路122の出力端は接続線1
35と139によつて、読取停止回路23の入力
端に接続している。シフトレジスタ9の内容が一
旦読み取られると、つまり、16個の読取パルスの
全部が端子Hに現われると、クロツクパルスの出
力を停止する読取停止パルスを端子Hに出力する
ために、読取停止回路の出力を接続線24を介し
て読取回路20に戻す。
bにより、クロツク変調回路122の入力に接続
し、クロツク変調回路122の出力端は接続線1
35と139によつて、読取停止回路23の入力
端に接続している。シフトレジスタ9の内容が一
旦読み取られると、つまり、16個の読取パルスの
全部が端子Hに現われると、クロツクパルスの出
力を停止する読取停止パルスを端子Hに出力する
ために、読取停止回路の出力を接続線24を介し
て読取回路20に戻す。
シフトレジスタ9の出力端Qに接続された端子
Sは、シフトレジスタ9内のデータを表わすシリ
アル信号を受ける。端子Sは回路25の入力端E
に接続している。回路25は、シリアル・パラレ
ル変換を行い、更に、キーからのデータを、電子
錠に設けたスイツチ26のスイツチ位置で決まる
判別コードと比較する。
Sは、シフトレジスタ9内のデータを表わすシリ
アル信号を受ける。端子Sは回路25の入力端E
に接続している。回路25は、シリアル・パラレ
ル変換を行い、更に、キーからのデータを、電子
錠に設けたスイツチ26のスイツチ位置で決まる
判別コードと比較する。
電子錠は、更に、連続テスト可能回路27を含
む。この回路27は、接続線28によつてアラー
ム装置に接続している。アラーム装置は、連続し
た4回の判別失敗の後作動する。キーの端子Aに
接続した回路29は、電源を+5ボルトに安定さ
せるためのものである。
む。この回路27は、接続線28によつてアラー
ム装置に接続している。アラーム装置は、連続し
た4回の判別失敗の後作動する。キーの端子Aに
接続した回路29は、電源を+5ボルトに安定さ
せるためのものである。
第1ゼロ・リセツト回路30は、キーと錠が接
続したとき、電子キーのカウンタとフリツプフロ
ツプをゼロにリセツトする。
続したとき、電子キーのカウンタとフリツプフロ
ツプをゼロにリセツトする。
第2ゼロ・リセツト回路31は、キーを外した
とき、全部のフリツプフロツプ及びカウンタをゼ
ロにリセツトし、電源を切る。
とき、全部のフリツプフロツプ及びカウンタをゼ
ロにリセツトし、電源を切る。
ラツチコントロール回路32は、回路25で実
行された比較が正の場合に、信号を受ける。
行された比較が正の場合に、信号を受ける。
次に、上述の回路の変形例について説明する。
ローデイング回路18、第1フリツプフロツプ
33(マスター)、第2のフリツプフロツプ34
(スレーブ)によつて構成されるマスタースレー
ブ・ダブル・フリツプフロツプである。2個のフ
リツプフロツプは従来の方法で接続されている。
第2フリツプフロツプ34は、クロツク回路21
からのクロツク信号を入力端子Tで受ける。フリ
ツプフロツプ34の出力端Qは、NANDゲート
35の一方の入力端に接続し、NANDゲート3
5の他の入力端子はクロツク信号を受ける。
33(マスター)、第2のフリツプフロツプ34
(スレーブ)によつて構成されるマスタースレー
ブ・ダブル・フリツプフロツプである。2個のフ
リツプフロツプは従来の方法で接続されている。
第2フリツプフロツプ34は、クロツク回路21
からのクロツク信号を入力端子Tで受ける。フリ
ツプフロツプ34の出力端Qは、NANDゲート
35の一方の入力端に接続し、NANDゲート3
5の他の入力端子はクロツク信号を受ける。
キーが錠に接続したとき、第1フリツプフロツ
プ33の入力端は、2個のタイマー36,37
を介してシステムのアースに接続し、端子12を
介して端子Tと接続する。この条件では、システ
ムは負論理で効果的に作動する。
プ33の入力端は、2個のタイマー36,37
を介してシステムのアースに接続し、端子12を
介して端子Tと接続する。この条件では、システ
ムは負論理で効果的に作動する。
読取回路20は、ローデイング回路18と同一
タイプであり、ローデイング回路18と同様に接
続したダブル・フリツプフロツプ(マスタースレ
ーブ)38,39を有する。第1フリツプフロツ
プ38の入力端は接続線19を介してローデイ
ング・パルスを受ける。ローデイング回路18の
NANDゲート35と同様に、第2フリツプフロ
ツプ39の出力に接続したNANDゲート41は、
端子Hに一連のパルスを供給する。これらのパル
スは、後述するクロツクパルス或いは読取パルス
である。
タイプであり、ローデイング回路18と同様に接
続したダブル・フリツプフロツプ(マスタースレ
ーブ)38,39を有する。第1フリツプフロツ
プ38の入力端は接続線19を介してローデイ
ング・パルスを受ける。ローデイング回路18の
NANDゲート35と同様に、第2フリツプフロ
ツプ39の出力に接続したNANDゲート41は、
端子Hに一連のパルスを供給する。これらのパル
スは、後述するクロツクパルス或いは読取パルス
である。
NORゲート137aの出力端は、接続線13
9を介して読取停止回路23に接続している。読
取停止回路23は、カウンタ42を含み、カウン
タ42の出力端QA,QB,QC,QDはNANDゲート
42aの入力端に接続している。ゲート42aの
出力端は単安定マルチバイブレータ43の入力端
Aに接続している。
9を介して読取停止回路23に接続している。読
取停止回路23は、カウンタ42を含み、カウン
タ42の出力端QA,QB,QC,QDはNANDゲート
42aの入力端に接続している。ゲート42aの
出力端は単安定マルチバイブレータ43の入力端
Aに接続している。
NANDゲート41の出力パルス、或いは端子
Hに到達し且つNORゲート137aを介してカ
ウンタ42の入力端Hに印加されたクロツクパル
スは16まで計数される。このカウント数16は、図
示の例では、キーのシフトレジスタ9のビツト
数、つまりスイツチ10の数に対応する。上述の
カウント数に達すると、単安定マルチバイブレー
タ43の出力端は信号を出力し、この信号は、
接続線24を介して読取回路20の第1フリツプ
フロツプ38の駆動入力端に印加される。この
場合、回路20は第1フリツプフロツプ38をゼ
ロにリセツトするので、回路20からの読取パル
スの出力を停止する。
Hに到達し且つNORゲート137aを介してカ
ウンタ42の入力端Hに印加されたクロツクパル
スは16まで計数される。このカウント数16は、図
示の例では、キーのシフトレジスタ9のビツト
数、つまりスイツチ10の数に対応する。上述の
カウント数に達すると、単安定マルチバイブレー
タ43の出力端は信号を出力し、この信号は、
接続線24を介して読取回路20の第1フリツプ
フロツプ38の駆動入力端に印加される。この
場合、回路20は第1フリツプフロツプ38をゼ
ロにリセツトするので、回路20からの読取パル
スの出力を停止する。
このように、シフトレジスタ9のビツト全体を
読み取る。
読み取る。
端子Sに現れ、レジスタ9の内容を表わすシリ
アル信号は、シリアル・パラレル変換器25の入
力端Eに供給される。シリアル・パラレル変換器
25は2個のシリアル・パラレル・シフトレジス
タ45a,45b及び比較器25を有する。2個
のレジスタ45a,45b内でのシリアル・パラ
レル変換を、シフトレジスタ9の読取りと同期さ
せるため、クロツクパルス或いは読取パルスは、
接続線46a及び46b、更にNORゲート13
7aの出力端に接続したインバータ46dを介
し、レジスタ45a及び45bの入力端Hに印加
される。電子錠で予めプログラムされた比較コー
ドは、スイツチ26のスイツチ位置によつて設定
され、比較器内のシリアル・パラレル変換結果と
比較される。比較器は直列に接続された4個の比
較器47a,47b,47c,47dを有し、こ
れらの比較器は変換レジスタ45a及び45bに
接続すると共に、更に、4個毎にグループ分けさ
れたスイツチ26に接続している。
アル信号は、シリアル・パラレル変換器25の入
力端Eに供給される。シリアル・パラレル変換器
25は2個のシリアル・パラレル・シフトレジス
タ45a,45b及び比較器25を有する。2個
のレジスタ45a,45b内でのシリアル・パラ
レル変換を、シフトレジスタ9の読取りと同期さ
せるため、クロツクパルス或いは読取パルスは、
接続線46a及び46b、更にNORゲート13
7aの出力端に接続したインバータ46dを介
し、レジスタ45a及び45bの入力端Hに印加
される。電子錠で予めプログラムされた比較コー
ドは、スイツチ26のスイツチ位置によつて設定
され、比較器内のシリアル・パラレル変換結果と
比較される。比較器は直列に接続された4個の比
較器47a,47b,47c,47dを有し、こ
れらの比較器は変換レジスタ45a及び45bに
接続すると共に、更に、4個毎にグループ分けさ
れたスイツチ26に接続している。
比較結果が負か正かによつて、最後段の比較器
47dからの比較結果は「0」か「1」の論理信
号で表わされる。接続線51に現われるこの比較
結果は、接続線63と53を介して読取停止回路
の出力信号を受けるフリツプフロツプ52の入力
端子Dに印加される。比較結果が正のとき、フリ
ツプフロツプ52の出力端からの信号が出力
し、接続線54及びアンプ55を介して接続線5
4によつてリレー56に印加され、ラツチコント
ロール回路32のストツチ57を閉じる。
47dからの比較結果は「0」か「1」の論理信
号で表わされる。接続線51に現われるこの比較
結果は、接続線63と53を介して読取停止回路
の出力信号を受けるフリツプフロツプ52の入力
端子Dに印加される。比較結果が正のとき、フリ
ツプフロツプ52の出力端からの信号が出力
し、接続線54及びアンプ55を介して接続線5
4によつてリレー56に印加され、ラツチコント
ロール回路32のストツチ57を閉じる。
同時に、フリツプフロツプ52の出力端から
出た信号は、接続線58を通つてNANDゲート
59に印加される。NANDゲート59の出力端
は、インバータ59aを介して、縦続接続した連
続テスト可能回路27の3個のフリツプフロツプ
60,61,62のゼロ・リセツト駆動入力端
に接続し、アラーム28に接続している。第1フ
リツプフロツプ60の入力端Tは、接続線63を
介し、読取停止回路23の出力信号を受ける。
出た信号は、接続線58を通つてNANDゲート
59に印加される。NANDゲート59の出力端
は、インバータ59aを介して、縦続接続した連
続テスト可能回路27の3個のフリツプフロツプ
60,61,62のゼロ・リセツト駆動入力端
に接続し、アラーム28に接続している。第1フ
リツプフロツプ60の入力端Tは、接続線63を
介し、読取停止回路23の出力信号を受ける。
比較結果が負の場合には、ゼロ信号がフリツプ
フロツプ52の入力端に現われるので、リレー5
6は励磁されず、ラツチは開状態にならない。し
かし、ローデイング命令が第1フリツプフロツプ
60の入力端Tに作用して第1フリツプフロツプ
60の状態が1ステツプ進む。フリツプフロツプ
60,61,62を縦続接続したために、連続テ
スト可能回路27により、アラーム28がトリガ
される前に4回のテスト失敗が許される。
フロツプ52の入力端に現われるので、リレー5
6は励磁されず、ラツチは開状態にならない。し
かし、ローデイング命令が第1フリツプフロツプ
60の入力端Tに作用して第1フリツプフロツプ
60の状態が1ステツプ進む。フリツプフロツプ
60,61,62を縦続接続したために、連続テ
スト可能回路27により、アラーム28がトリガ
される前に4回のテスト失敗が許される。
電源安定化回路29は、電源に接続した入力端
子64を有し、例えば+5ボルトの電源は電子錠
内に設けられるが、図示していない。電子キーの
対応する端子と接続する端子15,16は、コン
デンサ65及びダイオード66を介して接続して
いる。
子64を有し、例えば+5ボルトの電源は電子錠
内に設けられるが、図示していない。電子キーの
対応する端子と接続する端子15,16は、コン
デンサ65及びダイオード66を介して接続して
いる。
電子キーが電子錠と接続すると、電流が端子1
5と16間に流れる。スイツチ67はリレー68
の動作により閉じるので、電流は実質上キー内に
は流れない。したがつて、キーが振動したとして
も、電子錠の供給電源電圧は変動することはな
い。
5と16間に流れる。スイツチ67はリレー68
の動作により閉じるので、電流は実質上キー内に
は流れない。したがつて、キーが振動したとして
も、電子錠の供給電源電圧は変動することはな
い。
電子錠は、更に、第1ゼロ・リセツト回路30
内に、単安定マルチバイブレータ70を有し、こ
の単安定マルチバイブレータ70は、接続線71
を介して入力端でタイマー36の出力信号を受
ける。この場合、単安定マルチバイブレータ70
は、接続線71に現われた信号の立下り(即ち、
キーを電子錠に接続した時)で動作する。単安定
マルチバイブレータ70の出力端は、接続線7
2を介してNANDゲート73の一方の入力端に
接続している。NANDゲート73の出力信号は、
インバータ74及び接続線75,76a,76b
を介し、シリアル・パラレル変換器25のレジス
タ45a及び45bを、ゼロにセツトする。単安
定マルチバイブレータ70の出力端は、更に、
NANDゲート79の一方の入力端に接続し、ゲ
ート79の他方の入力端は読取停止回路23の出
力信号を受ける。NANDゲート79の出力は、
接続線79aを介してカウンタ42をゼロにリセ
ツトする。
内に、単安定マルチバイブレータ70を有し、こ
の単安定マルチバイブレータ70は、接続線71
を介して入力端でタイマー36の出力信号を受
ける。この場合、単安定マルチバイブレータ70
は、接続線71に現われた信号の立下り(即ち、
キーを電子錠に接続した時)で動作する。単安定
マルチバイブレータ70の出力端は、接続線7
2を介してNANDゲート73の一方の入力端に
接続している。NANDゲート73の出力信号は、
インバータ74及び接続線75,76a,76b
を介し、シリアル・パラレル変換器25のレジス
タ45a及び45bを、ゼロにセツトする。単安
定マルチバイブレータ70の出力端は、更に、
NANDゲート79の一方の入力端に接続し、ゲ
ート79の他方の入力端は読取停止回路23の出
力信号を受ける。NANDゲート79の出力は、
接続線79aを介してカウンタ42をゼロにリセ
ツトする。
キーを引き出して、読取りを終了した際にゼ
ロ・リセツトする回路31は、縦続接続した単安
定マルチバイブレータ80と81を有し、単安定
マルチバイブレータ80の出力端Qは単安定マル
チバイブレータ81の入力端と接続している。
単安定マルチバイブレータ80は、接続線82を
介してその入力端子Bで、タイマー37の出力信
号を受ける。このような接続によつて、接続線8
2に現われる信号の立上り(即ち、キーを外した
時)で、単安定マルチバイブレータ80が動作す
る。パルス幅の非常に小さいパルスを出力する第
2単安定マルチバイブレータ81の出力端は、
接続線83を介してNANDゲート73の第2入
力端に接続している。NANDゲート73は、上
述したように、シリアル・パラレル変換器25を
ゼロにリセツトする。キーが取り外されると、連
続テスト可能回路27のフリツプフロツプ60,
61,2をゼロにリセツトするため、単安定マル
チバイブレータ81の出力端は、接続線84を
介してNANDゲート59の入力端子の1つに接
続している。
ロ・リセツトする回路31は、縦続接続した単安
定マルチバイブレータ80と81を有し、単安定
マルチバイブレータ80の出力端Qは単安定マル
チバイブレータ81の入力端と接続している。
単安定マルチバイブレータ80は、接続線82を
介してその入力端子Bで、タイマー37の出力信
号を受ける。このような接続によつて、接続線8
2に現われる信号の立上り(即ち、キーを外した
時)で、単安定マルチバイブレータ80が動作す
る。パルス幅の非常に小さいパルスを出力する第
2単安定マルチバイブレータ81の出力端は、
接続線83を介してNANDゲート73の第2入
力端に接続している。NANDゲート73は、上
述したように、シリアル・パラレル変換器25を
ゼロにリセツトする。キーが取り外されると、連
続テスト可能回路27のフリツプフロツプ60,
61,2をゼロにリセツトするため、単安定マル
チバイブレータ81の出力端は、接続線84を
介してNANDゲート59の入力端子の1つに接
続している。
キーを取り外すと、タイマー37の出力端に接
続した接続線82に現われた信号の立上り部分
が、インバータ85を介してフリツプフロツプ8
6の入力端Tに印加され、フリツプフロツプ86
は、その出力端に接続した増幅器87を介して
電源安定化回路29のリレー68を駆動する。そ
の結果、供給電源は切られる。キーが錠から外さ
れると、フリツプフロツプ86は、接続線84a
を介して単安定マルチバイブレータ81の出力端
Qに接続した入力端に印加される信号により、
ゼロにリセツトされる。
続した接続線82に現われた信号の立上り部分
が、インバータ85を介してフリツプフロツプ8
6の入力端Tに印加され、フリツプフロツプ86
は、その出力端に接続した増幅器87を介して
電源安定化回路29のリレー68を駆動する。そ
の結果、供給電源は切られる。キーが錠から外さ
れると、フリツプフロツプ86は、接続線84a
を介して単安定マルチバイブレータ81の出力端
Qに接続した入力端に印加される信号により、
ゼロにリセツトされる。
更に、NANDゲート88は、インバータ74
及び接続線75を介してNANDゲート73の出
力信号を受けると共に、接続線89を介してイン
バータ85の出力信号を受ける。タイマー37の
時間遅延終了後にキーを取り外したとき、
NANDゲート88の出力信号は、接続線90及
びインバータ91を介してフリツプフロツプ52
の入力端に印加され、フリツプフロツプ52を
ゼロにリセツトする。
及び接続線75を介してNANDゲート73の出
力信号を受けると共に、接続線89を介してイン
バータ85の出力信号を受ける。タイマー37の
時間遅延終了後にキーを取り外したとき、
NANDゲート88の出力信号は、接続線90及
びインバータ91を介してフリツプフロツプ52
の入力端に印加され、フリツプフロツプ52を
ゼロにリセツトする。
キーのシフトレジスタ9及び設定変更可能のメ
モリとして動作するスイツチ10の詳細な構成の
一部を第3図に示す。スイツチ10aは開状態で
あり、この状態は、本実施例で選択した負論理で
は信号「1」に対応する。アースに接続した閉状
態のスイツチ10bは、信号「0」に対応する。
その他のスイツチは第3図には示していない。フ
リツプフロツプ92a及び92bはシフトレジス
タ9の最初の2個のビツトに対応し、第2図に示
した接続線117を介して電子錠の読取回路20
からの読取パルスあるいはクロツク信号をその入
力端子で受ける。フリツプフロツプ92a,9
2b,……等は通常の縦続接続であり、上段のフ
リツプフロツプの出力端Q及びは次段のフリツ
プフロツプの入力端S及びRに接続している。
モリとして動作するスイツチ10の詳細な構成の
一部を第3図に示す。スイツチ10aは開状態で
あり、この状態は、本実施例で選択した負論理で
は信号「1」に対応する。アースに接続した閉状
態のスイツチ10bは、信号「0」に対応する。
その他のスイツチは第3図には示していない。フ
リツプフロツプ92a及び92bはシフトレジス
タ9の最初の2個のビツトに対応し、第2図に示
した接続線117を介して電子錠の読取回路20
からの読取パルスあるいはクロツク信号をその入
力端子で受ける。フリツプフロツプ92a,9
2b,……等は通常の縦続接続であり、上段のフ
リツプフロツプの出力端Q及びは次段のフリツ
プフロツプの入力端S及びRに接続している。
2個のNANDゲート95aと96aは、フリ
ツプフロツプ92aに接続し、この2個の
NANDゲートの出力端は夫々フリツプフロツプ
92aを「1」状態にする入力端P、及びフリツ
プフロツプ92aを「0」状態にする入力端に
接続している。
ツプフロツプ92aに接続し、この2個の
NANDゲートの出力端は夫々フリツプフロツプ
92aを「1」状態にする入力端P、及びフリツ
プフロツプ92aを「0」状態にする入力端に
接続している。
第1NANDゲート95aの第1入力端は接続線
97aを介してスイツチ10aに接続し、第2入
力端は接続線98aを介してインバータ99の出
力端に接続している。インバータ99は、第2図
にも示した接続線112及び端子Lを介して負荷
パルスを受ける。
97aを介してスイツチ10aに接続し、第2入
力端は接続線98aを介してインバータ99の出
力端に接続している。インバータ99は、第2図
にも示した接続線112及び端子Lを介して負荷
パルスを受ける。
インバータ99の出力も同様に接続線100a
を介してNANDゲート96aの一方の入力端に
接続し、NANDゲート96aの他の入力端は、
接続線101aを介してNANDゲート95aの
出力を受ける。
を介してNANDゲート96aの一方の入力端に
接続し、NANDゲート96aの他の入力端は、
接続線101aを介してNANDゲート95aの
出力を受ける。
添字bを付けた同様の素子が、フリツプフロツ
プ92b及びスイツチ10bに接続される。尚、
シフトレジスタ9の夫々のビツトに対応する他の
フリツプフロツプの同様の素子についても同じこ
とが言える。
プ92b及びスイツチ10bに接続される。尚、
シフトレジスタ9の夫々のビツトに対応する他の
フリツプフロツプの同様の素子についても同じこ
とが言える。
スイツチ10aの場合は、信号「1」は
NANDゲート95aの入力端97aに印加され
る。インバータ99が存在するので、負のローデ
イング・パルスは第2入力端98aに信号「1」
を出力し、入力端98aはNANDゲート95a
の出力端に信号「0」を出力する。第2NANDゲ
ート96aは、その入力端101aで上記の信号
「0」を受け、更に、他の入力端で信号「1」を
受けてフリツプフロツプ92aのゼロ・リセツト
入力端に信号「1」を出力させる。フリツプフ
ロツプ92bに接続した回路では、スイツチ10
bが閉になると、フリツプフロツプ92bの論理
状態は、フリツプフロツプ92aの状態と反対に
なる。この場合、端子Lにローデイング・パルス
が現われると、スイツチ10の位置で決定される
判別コードは、フリツプフロツプ92の論理状態
の形で転送される。フリツプフロツプ92aの状
態は、入力端に印加された読取信号によつて直
列的に読み取られる。ローデイング・パルスが無
い場合は、全てのフリツプフロツプは図示の例で
はゼロの状態にある。
NANDゲート95aの入力端97aに印加され
る。インバータ99が存在するので、負のローデ
イング・パルスは第2入力端98aに信号「1」
を出力し、入力端98aはNANDゲート95a
の出力端に信号「0」を出力する。第2NANDゲ
ート96aは、その入力端101aで上記の信号
「0」を受け、更に、他の入力端で信号「1」を
受けてフリツプフロツプ92aのゼロ・リセツト
入力端に信号「1」を出力させる。フリツプフ
ロツプ92bに接続した回路では、スイツチ10
bが閉になると、フリツプフロツプ92bの論理
状態は、フリツプフロツプ92aの状態と反対に
なる。この場合、端子Lにローデイング・パルス
が現われると、スイツチ10の位置で決定される
判別コードは、フリツプフロツプ92の論理状態
の形で転送される。フリツプフロツプ92aの状
態は、入力端に印加された読取信号によつて直
列的に読み取られる。ローデイング・パルスが無
い場合は、全てのフリツプフロツプは図示の例で
はゼロの状態にある。
第1のフリツプフロツプ92aの駆動入力端S
とRは、インバータ102と103によつて、第
2図にも示した接続線113に接続している。
とRは、インバータ102と103によつて、第
2図にも示した接続線113に接続している。
第1図に戻ると、クロツク変調回路122は3
個のカウンタ124,125,126を有する。
第1カウンタ124は、読取回路20からの読取
パルス或いはクロツクパルスを入力端Hで受け
る。予めプログラムされ得る4個のスイツチ12
4aは、そのスイツチ位置によりセツト数を決
め、カウンタ124の出力端QA,QB,QC,QDに
接続している。第2カウンタ125は、その入力
端Hで、第1カウンタ124の出力QDを受ける。
カウンタ125は、同様に、4個のスイツチ12
5aに接続し、スイツチ125aはそのスイツチ
位置によつてセツト数を決め、カウンタ125の
出力QA,QB,QC,QDに接続している。NANDゲ
ート127は、その入力端で、8個のスイツチ1
24aと125aに接続している。ゲート127
の出力端は接続線128を介して第3カウンタ1
26の入力端Hに接続し、カウンタ126は、カ
ウンタ124,125の場合と同様に、4個のス
イツチ126aに接続している。4個のスイツチ
126aは、NANDゲート129の入力に接続
している。
個のカウンタ124,125,126を有する。
第1カウンタ124は、読取回路20からの読取
パルス或いはクロツクパルスを入力端Hで受け
る。予めプログラムされ得る4個のスイツチ12
4aは、そのスイツチ位置によりセツト数を決
め、カウンタ124の出力端QA,QB,QC,QDに
接続している。第2カウンタ125は、その入力
端Hで、第1カウンタ124の出力QDを受ける。
カウンタ125は、同様に、4個のスイツチ12
5aに接続し、スイツチ125aはそのスイツチ
位置によつてセツト数を決め、カウンタ125の
出力QA,QB,QC,QDに接続している。NANDゲ
ート127は、その入力端で、8個のスイツチ1
24aと125aに接続している。ゲート127
の出力端は接続線128を介して第3カウンタ1
26の入力端Hに接続し、カウンタ126は、カ
ウンタ124,125の場合と同様に、4個のス
イツチ126aに接続している。4個のスイツチ
126aは、NANDゲート129の入力に接続
している。
上述の種々の手段によつて、ゲート129の出
力端は、回路20からのクロツクパルスの出力後
に信号を出す。このパルスの数は、スイツチ12
4a,125a,126aのスイツチ位置によつ
て決まる。最初の2個のカウンタ124と125
で決まるパルス数は、1サイクル内の読取パルス
数に相当する。カウンタ126によつて決まる数
はサイクル数に対応する。変調回路122によつ
て決まる数は、上述の2数の積である。他の手段
も、上述の計数動作に使用できることは勿論であ
る。
力端は、回路20からのクロツクパルスの出力後
に信号を出す。このパルスの数は、スイツチ12
4a,125a,126aのスイツチ位置によつ
て決まる。最初の2個のカウンタ124と125
で決まるパルス数は、1サイクル内の読取パルス
数に相当する。カウンタ126によつて決まる数
はサイクル数に対応する。変調回路122によつ
て決まる数は、上述の2数の積である。他の手段
も、上述の計数動作に使用できることは勿論であ
る。
3個のカウンタ124,125,126は、ゼ
ロ・リセツト回路30によつて制御される
NANDゲート79の出力端に接続した接続線1
31を介して、夫々のカウンタの入力端Rに信号
を入力することにより、ゼロにリセツトされる。
ロ・リセツト回路30によつて制御される
NANDゲート79の出力端に接続した接続線1
31を介して、夫々のカウンタの入力端Rに信号
を入力することにより、ゼロにリセツトされる。
このように決定されたクロツクパルス数が読出
回路20から出力されると、NANDゲート12
9の出力信号が、接続線135を介して、NOR
ゲート137aの一方の入力端に出力される。
NORゲート137aは、接続線138を介して
他の入力端で、読出回路20からのクロツクパル
スを受ける。出力されたクロツクパルス数が、3
個のスイツチ・グループ124a,125a,1
26aによつて設定された数に等しくない限り、
NORゲート137はブロツクされたままで、信
号を出力しない。
回路20から出力されると、NANDゲート12
9の出力信号が、接続線135を介して、NOR
ゲート137aの一方の入力端に出力される。
NORゲート137aは、接続線138を介して
他の入力端で、読出回路20からのクロツクパル
スを受ける。出力されたクロツクパルス数が、3
個のスイツチ・グループ124a,125a,1
26aによつて設定された数に等しくない限り、
NORゲート137はブロツクされたままで、信
号を出力しない。
第2図から判るように、シフトレジスタ9の出
力端Qは、接続線113を介して入力端Eに接続
しているので、シフトレジスタ9はそれ自身で閉
回路を構成している。この接続により、端子Hに
現われ、接続線117を介してシフトレジスタ9
のフリツプフロツプ92の全入力端Hに印加され
るクロツクパルス毎に、シフトレジスタ9の内容
の配列順序が変わる。3個のカウンタ124,1
25,126によつて設定されるクロツクパルス
数によつて生じた配列順序変更後、NORゲート
137aが開く。NORゲート137aを介して
読取回路20から出力される新たな読出パルス
は、接続線139を介して読取停止回路23の入
力端に伝送され、読出パルスは回路23で計数さ
れる。
力端Qは、接続線113を介して入力端Eに接続
しているので、シフトレジスタ9はそれ自身で閉
回路を構成している。この接続により、端子Hに
現われ、接続線117を介してシフトレジスタ9
のフリツプフロツプ92の全入力端Hに印加され
るクロツクパルス毎に、シフトレジスタ9の内容
の配列順序が変わる。3個のカウンタ124,1
25,126によつて設定されるクロツクパルス
数によつて生じた配列順序変更後、NORゲート
137aが開く。NORゲート137aを介して
読取回路20から出力される新たな読出パルス
は、接続線139を介して読取停止回路23の入
力端に伝送され、読出パルスは回路23で計数さ
れる。
電子キーは、更に、クロツクパルス数を検査
(チエツク)する回路139を有し、この回路1
39は電子錠のクロツク変調回路122に類似し
ている。制御回路149は3個のカウンタ15
0,151,152を含む。夫々4個のスイツチ
を有するプログラミング・スイツチ150aと1
51aに夫々接続した場合の2個のカウンタ15
0及び151は、NANDゲート153に信号を
供給し、NANDゲート153の出力端は、接続
線154を介して第3カウンタ152の入力端に
接続している。カウンタ152は、ANDゲート
155の4個の入力端に接続した4個のプログラ
ミング・スイツチに接続している。ANDゲート
155の出力端はANDゲート157の入力端の
一方に、接続線156を介して接続している。
ANDゲート157の他の入力端は、接続線15
8を介して、シフトレジスタ9の出力端Qに接続
している。ANDゲート157の出力端は出力端
子Sに接続している。端子Hに現われる読出パル
ス或いはクロツクパルスは、接続線149aを介
して、第1カウンタ150の入力端Hに伝送され
る。
(チエツク)する回路139を有し、この回路1
39は電子錠のクロツク変調回路122に類似し
ている。制御回路149は3個のカウンタ15
0,151,152を含む。夫々4個のスイツチ
を有するプログラミング・スイツチ150aと1
51aに夫々接続した場合の2個のカウンタ15
0及び151は、NANDゲート153に信号を
供給し、NANDゲート153の出力端は、接続
線154を介して第3カウンタ152の入力端に
接続している。カウンタ152は、ANDゲート
155の4個の入力端に接続した4個のプログラ
ミング・スイツチに接続している。ANDゲート
155の出力端はANDゲート157の入力端の
一方に、接続線156を介して接続している。
ANDゲート157の他の入力端は、接続線15
8を介して、シフトレジスタ9の出力端Qに接続
している。ANDゲート157の出力端は出力端
子Sに接続している。端子Hに現われる読出パル
ス或いはクロツクパルスは、接続線149aを介
して、第1カウンタ150の入力端Hに伝送され
る。
3個のカウンタ150,151及び152は、
シユミツトトリガ119によりゼロにリセツトさ
れる。このシユミツトトリガ119は、抵抗12
0を介して電源に接続し、コンデンサ121を介
してアースに接続し、3個のカウンタ150,1
51及び152の入力端R2に接続線149bを
介して接続している。したがつて、電子キーを取
り外すと、ゼロ・リセツトが行われる。
シユミツトトリガ119によりゼロにリセツトさ
れる。このシユミツトトリガ119は、抵抗12
0を介して電源に接続し、コンデンサ121を介
してアースに接続し、3個のカウンタ150,1
51及び152の入力端R2に接続線149bを
介して接続している。したがつて、電子キーを取
り外すと、ゼロ・リセツトが行われる。
図示した判別システムは、次のように動作す
る。電子錠にキーをさし込むと、電源がシステム
全体に入り、端子15と16は短絡され、電子錠
に設けたクロツク回路21は、一連のパルスを発
生する。タイマー36にセツトしてある時間が経
過すると、単安定マルチバイブレータ70から、
電子錠の種々の素子をゼロにリセツトするパルス
が発生する。第2タイマー37は立上り信号を出
力し、この信号は第2遅延時間後、ローデイング
回路から立下りローデイング・パルスを出力させ
る。このパルスは、接続線19aを介して、ロー
デイング回路18のマスターフリツプフロツプ3
3をゼロにリセツトする。更に、接続線112a
を介して伝送されたこのローデイング・パルスが
端子Lに現われると、シフトレジスタ9の全フリ
ツプフロツプのローデイングが行われる。即ち、
全フリツプフロツプは、接続しているスイツチ1
0のスイツチ位置に対応するデータを受ける。説
明を簡単にするため、第2図では、スイツチ10
は全て開状態で示されていることに注意する必要
がある。実際には、これらのスイツチのいくつか
は閉状態であり、キーの中でまず予めプログラム
されたコードを決定する。
る。電子錠にキーをさし込むと、電源がシステム
全体に入り、端子15と16は短絡され、電子錠
に設けたクロツク回路21は、一連のパルスを発
生する。タイマー36にセツトしてある時間が経
過すると、単安定マルチバイブレータ70から、
電子錠の種々の素子をゼロにリセツトするパルス
が発生する。第2タイマー37は立上り信号を出
力し、この信号は第2遅延時間後、ローデイング
回路から立下りローデイング・パルスを出力させ
る。このパルスは、接続線19aを介して、ロー
デイング回路18のマスターフリツプフロツプ3
3をゼロにリセツトする。更に、接続線112a
を介して伝送されたこのローデイング・パルスが
端子Lに現われると、シフトレジスタ9の全フリ
ツプフロツプのローデイングが行われる。即ち、
全フリツプフロツプは、接続しているスイツチ1
0のスイツチ位置に対応するデータを受ける。説
明を簡単にするため、第2図では、スイツチ10
は全て開状態で示されていることに注意する必要
がある。実際には、これらのスイツチのいくつか
は閉状態であり、キーの中でまず予めプログラム
されたコードを決定する。
接続線19を介して読出回路20に伝送された
ローデイング・パルスは、読出回路20からクロ
ツクパルスあるいは読出パルスの発生を開始させ
る。接続線20a及び20bを介してクロツク変
調回路122に入力されたこれらのパルスは、ク
ロツク変調回路122によつて計数される。同時
に、同一のクロツクパルスが端子Hに現われ、接
続線117を介してシフトレジスタ9のフリツプ
フロツプ92のクロツク入力端Hに伝送され、ク
ロツクパルス毎に1ビツトのシフトが行われ、ル
ープ接続されているのでシフトレジスタ9の内容
の配列順序変更が生ずる。
ローデイング・パルスは、読出回路20からクロ
ツクパルスあるいは読出パルスの発生を開始させ
る。接続線20a及び20bを介してクロツク変
調回路122に入力されたこれらのパルスは、ク
ロツク変調回路122によつて計数される。同時
に、同一のクロツクパルスが端子Hに現われ、接
続線117を介してシフトレジスタ9のフリツプ
フロツプ92のクロツク入力端Hに伝送され、ク
ロツクパルス毎に1ビツトのシフトが行われ、ル
ープ接続されているのでシフトレジスタ9の内容
の配列順序変更が生ずる。
更に、接続線149aを介して制御回路149
の入力端に入力された同一のクロツクパルスは、
制御回路149で計数される。勿論、3個のスイ
ツチグループ150a,151a及び152aを
用いた制御回路149のプログラミングは、3個
のスイツチグループ124a,125a及び12
6aのスイツチ位置によつて決定される錠のクロ
ツク変調回路122のプログラミングと同じであ
る。
の入力端に入力された同一のクロツクパルスは、
制御回路149で計数される。勿論、3個のスイ
ツチグループ150a,151a及び152aを
用いた制御回路149のプログラミングは、3個
のスイツチグループ124a,125a及び12
6aのスイツチ位置によつて決定される錠のクロ
ツク変調回路122のプログラミングと同じであ
る。
制御回路149の2個のカウンタ150及び1
51は、クロツク変調回路122の2個のカウン
タ124及び125と同一の役割をし、1サイク
ル内でのクロツクパルス数を計数する。制御回路
149の第3カウンタ152は、クロツク変調回
路122の第3カウンタ126と同一の役割を
し、サイクル数を計数する。
51は、クロツク変調回路122の2個のカウン
タ124及び125と同一の役割をし、1サイク
ル内でのクロツクパルス数を計数する。制御回路
149の第3カウンタ152は、クロツク変調回
路122の第3カウンタ126と同一の役割を
し、サイクル数を計数する。
ANDゲート155の出力端に信号が現われな
い限り、ANDゲート157はブロツクされたま
まであり、シフトレジスタ9に含まれるデータは
端子Sに伝送されず、電子錠の比較回路25にも
伝送されない。
い限り、ANDゲート157はブロツクされたま
まであり、シフトレジスタ9に含まれるデータは
端子Sに伝送されず、電子錠の比較回路25にも
伝送されない。
クロツクパルスのセツト数が、クロツク変調回
路122から出力し、制御回路149によつてチ
エツクされると、別の一連のクロツクパルス或い
は読出パルスが端子Hに現われ、そのパルス数は
電子錠に設けた読出停止回路で計数される。この
状態では、信号はANDゲート155から出力し
続けるのでANDゲート157は開状態である。
したがつて、シフトレジスタ9の内容は、端子S
を介して錠の比較回路25に連続して送られる。
この直列信号は、回路25のレジスタ45a及び
45bによつて並列に変換され、スイツチ26の
スイツチ位置によつて設定されたデータと比較さ
れる。説明を簡単にするため、スイツチ26は全
て開かれて示されている。実際は、クロツクパル
スによる内容の配列順序変更後、電子キー内の判
別コードに相当する電子錠内の予めプログラムさ
れたコードを特定するために、スイツチのいくつ
かは閉じている。
路122から出力し、制御回路149によつてチ
エツクされると、別の一連のクロツクパルス或い
は読出パルスが端子Hに現われ、そのパルス数は
電子錠に設けた読出停止回路で計数される。この
状態では、信号はANDゲート155から出力し
続けるのでANDゲート157は開状態である。
したがつて、シフトレジスタ9の内容は、端子S
を介して錠の比較回路25に連続して送られる。
この直列信号は、回路25のレジスタ45a及び
45bによつて並列に変換され、スイツチ26の
スイツチ位置によつて設定されたデータと比較さ
れる。説明を簡単にするため、スイツチ26は全
て開かれて示されている。実際は、クロツクパル
スによる内容の配列順序変更後、電子キー内の判
別コードに相当する電子錠内の予めプログラムさ
れたコードを特定するために、スイツチのいくつ
かは閉じている。
シフトレジスタ9の内容を適切に変更するため
に、クロツク変調回路122によつて計数され且
つ制御回路149によつてチエツクされたクロツ
クパルス数が、シフトレジスタ9のビツト数の倍
数であつてはならないということに留意する必要
がある。そうでなければ、配列順序変更を行つて
も、シフトレジスタの内容は何ら変更しないから
である。
に、クロツク変調回路122によつて計数され且
つ制御回路149によつてチエツクされたクロツ
クパルス数が、シフトレジスタ9のビツト数の倍
数であつてはならないということに留意する必要
がある。そうでなければ、配列順序変更を行つて
も、シフトレジスタの内容は何ら変更しないから
である。
第1の変形例では、回路122の最初の2個の
カウンタ124及び125によつて決定され且つ
制御回路149の最初の2個のカウンタ150及
び151によつてチエツクされたパルス数は、シ
フトレジスタ9のビツト数よりも大きい。したが
つて、配列順序変更後に端子Hに現われる読出パ
ルスは、ANDゲート155に信号が印加されな
いので、ゲート157がブロツクされない状態
で、シフトレジスタ9の全内容の読出を効果的に
行うことができる。
カウンタ124及び125によつて決定され且つ
制御回路149の最初の2個のカウンタ150及
び151によつてチエツクされたパルス数は、シ
フトレジスタ9のビツト数よりも大きい。したが
つて、配列順序変更後に端子Hに現われる読出パ
ルスは、ANDゲート155に信号が印加されな
いので、ゲート157がブロツクされない状態
で、シフトレジスタ9の全内容の読出を効果的に
行うことができる。
他の変形例では、逆に、スイツチ152aによ
つて決められたサイクル数のカウント後、第3カ
ウンタ152をゼロにリセツトさせることが可能
であり、3個のカウンタ150,151及び15
2によつて設定された数に等しいクロツクパルス
が端子Hに表われる度毎に、シフトレジスタ9か
ら1ビツトの出力しかゲート157を介して出力
しないようにすることも可能である。したがつ
て、このような変化例では、シフトレジスタ9の
全内容を読み出すためには、シフトレジスタ9の
ビツト数と同数の回数だけクロツク変調回路によ
る配列順序変更を行わせる必要がある。
つて決められたサイクル数のカウント後、第3カ
ウンタ152をゼロにリセツトさせることが可能
であり、3個のカウンタ150,151及び15
2によつて設定された数に等しいクロツクパルス
が端子Hに表われる度毎に、シフトレジスタ9か
ら1ビツトの出力しかゲート157を介して出力
しないようにすることも可能である。したがつ
て、このような変化例では、シフトレジスタ9の
全内容を読み出すためには、シフトレジスタ9の
ビツト数と同数の回数だけクロツク変調回路によ
る配列順序変更を行わせる必要がある。
図示の実施例では、電子キー内に制御回路14
9を設けたが、更に簡略化した変形例では、配列
順序変更が終了する以前に、シフトレジスタ9の
内容を表わすシリアル信号の伝送を妨げる論理ゲ
ートを設けるならば、制御回路を除くことが可能
である。このような論理ゲートは、例えば、電子
錠の中に設けた1個のANDゲートで構成される。
このANDゲートは、その一方の入力端を出力端
子Sに接続し、他の入力端でクロツク変調回路1
22の出力、即ち、実際には、NANDゲート1
29から出力を受ける。この場合、比較回路25
の入力端は、このブロツキング用のANDゲート
の出力端に接続する。
9を設けたが、更に簡略化した変形例では、配列
順序変更が終了する以前に、シフトレジスタ9の
内容を表わすシリアル信号の伝送を妨げる論理ゲ
ートを設けるならば、制御回路を除くことが可能
である。このような論理ゲートは、例えば、電子
錠の中に設けた1個のANDゲートで構成される。
このANDゲートは、その一方の入力端を出力端
子Sに接続し、他の入力端でクロツク変調回路1
22の出力、即ち、実際には、NANDゲート1
29から出力を受ける。この場合、比較回路25
の入力端は、このブロツキング用のANDゲート
の出力端に接続する。
上述の説明で、ヒユーズを断線することによつ
てコードを変更することの可能性について述べ
た。EEPROM技術、即ち、何回も繰り返してプ
ログラミングできるメモリを用いてコード変更が
できるようにすることも可能である。この場合、
コードの第1部分、例えば24ビツトを固定して且
つ本発明のシステムで安全を確実にし、一方、コ
ードの第2部分、例えば48ビツトを変更可能に
し、第2部分は、例えば資金管理を行うために変
更するようにして本発明の応用範囲を広げること
が可能である。
てコードを変更することの可能性について述べ
た。EEPROM技術、即ち、何回も繰り返してプ
ログラミングできるメモリを用いてコード変更が
できるようにすることも可能である。この場合、
コードの第1部分、例えば24ビツトを固定して且
つ本発明のシステムで安全を確実にし、一方、コ
ードの第2部分、例えば48ビツトを変更可能に
し、第2部分は、例えば資金管理を行うために変
更するようにして本発明の応用範囲を広げること
が可能である。
上述の説明では、“フリツプフロツプ”という
簡略化された表現は、複合フリツプフロツプを示
すために使われた。同様に、カウンタは2進カウ
ンタを示す。
簡略化された表現は、複合フリツプフロツプを示
すために使われた。同様に、カウンタは2進カウ
ンタを示す。
本発明に係るシステムは、携帯部もしくは電子
キーのシフトレジスタの内容の複雑な変更が可能
であり、その結果、電子キーの複製が極めて難し
いことがわかる。
キーのシフトレジスタの内容の複雑な変更が可能
であり、その結果、電子キーの複製が極めて難し
いことがわかる。
第1図は本発明の読取部(固定部又は電子錠)
の主要部を示す回路図、第2図は本発明の携帯部
(電子キー)を説明するための回路図、第3図は
第2図に示したシフトレジスタの部分を詳細に示
した回路図である。 9……レジスタ、10……スイツチ、18……
ローデイング回路、20……読取回路(読出回
路)、25……シリアル・パラレル変換器、27
……連続テスト可能回路、149……制御回路。
の主要部を示す回路図、第2図は本発明の携帯部
(電子キー)を説明するための回路図、第3図は
第2図に示したシフトレジスタの部分を詳細に示
した回路図である。 9……レジスタ、10……スイツチ、18……
ローデイング回路、20……読取回路(読出回
路)、25……シリアル・パラレル変換器、27
……連続テスト可能回路、149……制御回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 電子判別コードを含む予めプログラムされた
受動メモリ・アレイと、該受動メモリ・アレイに
接続し且つ出力を入力端に帰還する読出メモリと
を有する携帯部と、 該携帯部に接続可能の固定部であつて、該固定
部は、電源と、上記携帯部にパルスを加えて上記
電子判別コードを上記携帯部の上記読出メモリに
入力する電子手段と、固定部メモリとを有し、上
記電子手段は上記携帯部の上記読出メモリの内容
を読み出して上記固定メモリに記憶させ、更に、
上記固定部は該固定部に予めプログラムされたコ
ードと上記読出メモリの内容を比較する比較器と
を有し、 上記電子手段は、上記読出メモリからの内容読
出前に一定数の準備クロツクパルスを出力し、上
記一定数は上記読出メモリ中のビツト数の倍数で
はなく、更に、上記準備クロツクパルスは上記読
出メモリの内容の配列順序を変更し、 上記一定数の準備クロツクパルスを出力した後
にのみ、上記読出メモリの内容を上記固定部メモ
リに入力する論理ゲートと を備えた電子判別装置。 2 上記携帯部は上記準備クロツクパルスの上記
セツト数を計数するための制御装置を更に有し、
上記論理ゲートは、上記一定数の準備クロツクパ
ルスを出力した後にのみ上記携帯部の上記読出メ
モリの内容を上記固定部メモリに入力するため
に、上記読出メモリの出力端と上記制御手段の出
力端に接続した 特許請求の範囲第1項に記載の電子判別装置。 3 上記固定部は、上記電子手段から出力した上
記一定数の準備クロツクパルスを計数するクロツ
ク変調回路を有し、該クロツク変調回路は読出停
止回路に接続し、上記一定数の準備クロツクパル
ス発生後に、上記携帯部の上記読出メモリ中のビ
ツト数に等しい数の他の読出パルスを発生させる
特許請求の範囲第1項に記載の電子判別装置。 4 固定された電子読取部と、該電子読取部に挿
入されて上記電子読取部と電気的に接続する携帯
可能の電子キーとを有し、 該電子キーは、再循環可能のリングカウンタと
して動作するクロツク可能の多段シフトレジスタ
を有し、上記リングカウンタは初期設定のビツト
パターンを有し且つ共通クロツク入力端とシリア
ルビツト出力端とを有し、 上記電子読取部は、 上記電子キーを上記読取部に挿入すると装置の
動作を開始させる動作開始手段と、 該動作開始手段の動作に応答し、少なくとも初
期パルスグループと読出パルスグループを含む2
種類のクロツクパルスのグループを後続の読出期
間中に出力して上記電子キーに入力し、上記初期
パルスグループのパルス数は上記シフトレジスタ
の段数の倍数ではないため上記初期パルスグルー
プが上記キーに入力された後に上記ビツトパター
ンの配列順序は変更され、上記読出パルスグルー
プのパルス数は上記シフトレジスタの段数に等し
く、配列変更した上記ビツトパターンを上記固定
電子読取部に出力するクロツクパルス発生器と、 上記読出期間中に、上記シフトレジスタからの
配列変更された上記ビツトパターンを受けて記憶
する電子メモリ手段と、 上記電子メモリ手段に記憶された配列変更後の
有効ビツトパターンに対応するように予め決めら
れたビツトパターンを上記読出期間中に出力する
メモリ・アレイ手段と、 上記電子メモリ手段及び上記メモリ・アレイ手
段とに接続し、上記電子メモリ手段に記憶された
ビツトパターンを上記メモリ・アレイ手段からの
ビツトパターンと比較し、等しいかどうかを判断
する比較手段と、 該比較手段に接続し、該比較手段で決定された
一致結果に応答する符号確認手段とを 備えた電子判別装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR8109452A FR2506047B1 (fr) | 1981-05-12 | 1981-05-12 | Systeme d'identification electronique |
| FR8109452 | 1981-05-12 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5820881A JPS5820881A (ja) | 1983-02-07 |
| JPH0418356B2 true JPH0418356B2 (ja) | 1992-03-27 |
Family
ID=9258357
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57080825A Granted JPS5820881A (ja) | 1981-05-12 | 1982-05-12 | 電子判別システム |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4486751A (ja) |
| EP (1) | EP0065182B1 (ja) |
| JP (1) | JPS5820881A (ja) |
| AT (1) | ATE35468T1 (ja) |
| CA (1) | CA1187991A (ja) |
| DE (1) | DE3278725D1 (ja) |
| ES (1) | ES8304344A1 (ja) |
| FR (1) | FR2506047B1 (ja) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| ES8502795A1 (es) * | 1983-05-11 | 1985-01-16 | Savoyet Jean L | Dispositivo de identificacion electronica |
| US4686912A (en) * | 1985-04-15 | 1987-08-18 | The Protech Partnership | Electrically controlled locking apparatus and safe utilizing same |
| JPH068162B2 (ja) * | 1986-03-20 | 1994-02-02 | 三菱重工業株式会社 | 水素ガスの吸収方法 |
| US4829296A (en) * | 1986-04-30 | 1989-05-09 | Carey S. Clark | Electronic lock system |
| US5148534A (en) * | 1986-11-05 | 1992-09-15 | International Business Machines Corp. | Hardware cartridge representing verifiable, use-once authorization |
| JPS63124154A (ja) * | 1986-11-05 | 1988-05-27 | インターナシヨナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーシヨン | 暗証情報発生装置 |
| CA1308565C (en) * | 1987-01-20 | 1992-10-13 | Ford Motor Company Of Canada, Limited | Programmable key and improved lock assembly |
| GB9215683D0 (en) * | 1992-07-23 | 1992-09-09 | Ab Electronic Components Ltd | A motor vehicle security system |
| JPH06234502A (ja) * | 1993-02-10 | 1994-08-23 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | 水素吸蔵合金スラリを用いたエネルギ貯蔵方法 |
| JPH06234501A (ja) * | 1993-02-10 | 1994-08-23 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | 水素供給方法 |
| US6442986B1 (en) | 1998-04-07 | 2002-09-03 | Best Lock Corporation | Electronic token and lock core |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3859634A (en) * | 1971-04-09 | 1975-01-07 | Little Inc A | Digital lock system having electronic key card |
| GB1337233A (en) * | 1971-04-09 | 1973-11-14 | Eastern Co | Electronic lock and key device |
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