JPH0418377U - - Google Patents

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JPH0418377U
JPH0418377U JP5980290U JP5980290U JPH0418377U JP H0418377 U JPH0418377 U JP H0418377U JP 5980290 U JP5980290 U JP 5980290U JP 5980290 U JP5980290 U JP 5980290U JP H0418377 U JPH0418377 U JP H0418377U
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edges
test
logic device
predetermined number
test patterns
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JP5980290U
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  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

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【図面の簡単な説明】
第１図はこの考案の実施例を示すブロツク図、
第２図はその動作を説明するためのタイムチヤー
ト、第３図は小レベル不要パルスの問題を説明す
るための波形図、第４図は従来の試験装置を示す
ブロツク図、第５図は不要パルスの例を示す図、
第６図は従来の不要パルスの検出法を示す図、第
７図はその問題点を説明するための図、第８図は
第７図の問題を解決した従来の不要パルス検出法
を示す図である。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 被測定論理デバイスにテストパターンを印加す
    るパターン発生器と、 上記被測定論理デバイスの出力波形のエツジの
    数を計数するカウンタと、 所定数のテストパターンの印加後に、上記カウ
    ンタから得られる、その所定数のテストパターン
    の間におけるエツジ数が、その所定数のテストパ
    ターンに対する期待波形のエツジ数と一致してい
    るか否かを検出する手段と、 を有する論理デバイス試験装置。
JP5980290U 1990-06-06 1990-06-06 Pending JPH0418377U (ja)

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JP5980290U JPH0418377U (ja) 1990-06-06 1990-06-06

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JPH0418377U true JPH0418377U (ja) 1992-02-17

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