JPH041857B2 - - Google Patents
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- JPH041857B2 JPH041857B2 JP59039032A JP3903284A JPH041857B2 JP H041857 B2 JPH041857 B2 JP H041857B2 JP 59039032 A JP59039032 A JP 59039032A JP 3903284 A JP3903284 A JP 3903284A JP H041857 B2 JPH041857 B2 JP H041857B2
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- Japan
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- pulse signal
- pulse
- mark
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- tape
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 16
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 14
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 2
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B3/00—Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
- G01B3/10—Measuring tapes
- G01B3/1084—Tapes combined with arrangements for functions other than measuring lengths
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01B3/10—Measuring tapes
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-
- G—PHYSICS
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-
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- G01—MEASURING; TESTING
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- G01B3/1084—Tapes combined with arrangements for functions other than measuring lengths
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-
- G—PHYSICS
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- G01B3/10—Measuring tapes
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、光学式パルスエンコーダなどに形成
されたマークの不良を検出するパルスエンコーダ
用不良マーク検出装置に関する。
されたマークの不良を検出するパルスエンコーダ
用不良マーク検出装置に関する。
従来、光学式エンコーダなどに設けられたマー
クをカウントすることによつて計測するようにな
した計測機器が数多く利用されている。しかし、
マークは、例えば開孔の場合には、該開孔の直径
は高々数mmであるので、ごみなどが詰まつて穴づ
まりを起こすことがあり、そのような穴づまりを
起こすことによつて当該計測機器の測定誤差の原
因となる。特に、屋外で使用される計測機器等の
場合には顕著にその種の穴づまりを起こす。ま
た、マークが磁気テープなどに設けられている場
合や、バーコードのような記号によつて表わされ
ている場合においても、その種のマークに傷が付
いたり、外乱によつて情報が消されたりすること
がある。
クをカウントすることによつて計測するようにな
した計測機器が数多く利用されている。しかし、
マークは、例えば開孔の場合には、該開孔の直径
は高々数mmであるので、ごみなどが詰まつて穴づ
まりを起こすことがあり、そのような穴づまりを
起こすことによつて当該計測機器の測定誤差の原
因となる。特に、屋外で使用される計測機器等の
場合には顕著にその種の穴づまりを起こす。ま
た、マークが磁気テープなどに設けられている場
合や、バーコードのような記号によつて表わされ
ている場合においても、その種のマークに傷が付
いたり、外乱によつて情報が消されたりすること
がある。
本発明はかかる点に鑑み、パルスエンコーダな
どに形成されたマークの不良状態を検出し、測定
誤差を未然に防ぐことができるパルスエンコーダ
用不良マーク検出装置を提供することを目的とす
る。
どに形成されたマークの不良状態を検出し、測定
誤差を未然に防ぐことができるパルスエンコーダ
用不良マーク検出装置を提供することを目的とす
る。
本発明の構成は、第１図で示すように、第一検
出手段ａによつてマークが検出されると、第一パ
ルス信号発生手段ｂによつて前記マークの大きさ
に対応するパルス幅を有する第一パルス信号が出
力され、一方、第二検出手段ｃによつてマークが
検出されると、第二パルス信号発生手段ｄによつ
て、正常の状態のマークを検出して発生される第
一パルス信号のパルス中縁部に同期し、しかも当
該第一パルス信号のパルス幅より小さいパルス幅
を有する第二パルス信号が出力される。そして、
不良マーク検出手段ｅでは、第一パルス信号発生
手段ｂによつて発生されるパルス幅の変化した第
一パルス信号と前記第二パルス信号との比較によ
つて不良マークが検出されるようになされてい
る。
出手段ａによつてマークが検出されると、第一パ
ルス信号発生手段ｂによつて前記マークの大きさ
に対応するパルス幅を有する第一パルス信号が出
力され、一方、第二検出手段ｃによつてマークが
検出されると、第二パルス信号発生手段ｄによつ
て、正常の状態のマークを検出して発生される第
一パルス信号のパルス中縁部に同期し、しかも当
該第一パルス信号のパルス幅より小さいパルス幅
を有する第二パルス信号が出力される。そして、
不良マーク検出手段ｅでは、第一パルス信号発生
手段ｂによつて発生されるパルス幅の変化した第
一パルス信号と前記第二パルス信号との比較によ
つて不良マークが検出されるようになされてい
る。
以下、本発明の構成を実施例について図面を参
照して説明する。
照して説明する。
本例は、電子式巻尺１に本発明に係る不良マー
ク検出装置が設けられた場合で、巻尺テープ７に
穿設された開孔８がマークとなされている。
ク検出装置が設けられた場合で、巻尺テープ７に
穿設された開孔８がマークとなされている。
第２図に電子式巻尺１を示し、該電子式巻尺１
は巻尺本体２の正面パネル３にキーボード４、デ
ジタル表示器５、ブザー６とが設けられ、巻尺テ
ープ７が前記巻尺本体２の一側面より一定スケー
ル値（例えば５ｍ）まで引出すことができ、巻尺
本体２内への収納も自在になされたものである。
そして、キーボード４からの入力によつて、通常
の四則演算が可能となされ、また、巻尺テープ７
を引出している時には前記キーボード４からの入
力に優先して巻尺テープ７の引出量が前記デジタ
ル表示器５に表示されるようになされている。
は巻尺本体２の正面パネル３にキーボード４、デ
ジタル表示器５、ブザー６とが設けられ、巻尺テ
ープ７が前記巻尺本体２の一側面より一定スケー
ル値（例えば５ｍ）まで引出すことができ、巻尺
本体２内への収納も自在になされたものである。
そして、キーボード４からの入力によつて、通常
の四則演算が可能となされ、また、巻尺テープ７
を引出している時には前記キーボード４からの入
力に優先して巻尺テープ７の引出量が前記デジタ
ル表示器５に表示されるようになされている。
巻尺テープ７の引出量は、巻尺テープ７の長さ
方向に間隔（例えば２mm）をおいて設けられる開
孔８をカウントすることによつて計測され、該開
孔８に穴づまりが発生している場合には、前記デ
ジタル表示器５に穴づまりが発生している箇所の
スケール値を表示せしめるとともにブザー６によ
つて知らせるようになされている。
方向に間隔（例えば２mm）をおいて設けられる開
孔８をカウントすることによつて計測され、該開
孔８に穴づまりが発生している場合には、前記デ
ジタル表示器５に穴づまりが発生している箇所の
スケール値を表示せしめるとともにブザー６によ
つて知らせるようになされている。
次に、上述したような各種機能を有する電子式
巻尺１のハードウエアを例示する第３図について
説明する。
巻尺１のハードウエアを例示する第３図について
説明する。
９は中央演算処理装置（以下CPUと称す）、１
０は各種入力信号をCPU９へ入力するために介
在する入力側インターフエースであり、１１は各
種出力装置へCPU９からの出力信号を送り出す
出力側インターフエースである。１２はRAM、
１３はROMであり、RAM１２の内容はバツク
アツプ用電源（図示省略）によつて電源OFF時
にも保持されている。
０は各種入力信号をCPU９へ入力するために介
在する入力側インターフエースであり、１１は各
種出力装置へCPU９からの出力信号を送り出す
出力側インターフエースである。１２はRAM、
１３はROMであり、RAM１２の内容はバツク
アツプ用電源（図示省略）によつて電源OFF時
にも保持されている。
巻尺テープ７に穿設された前記開孔８のピツチ
に等しい間隔をあけて、３つの投光器１４ａ，１
４ｂ，１４ｃが設けられ、それら投光器１４ａ，
１４ｂ，１４ｃはそれぞれ巻尺テープ７の下方に
設けられる受光器１５ａ，１５ｂ，１５ｃに対し
て光を発するものである。
に等しい間隔をあけて、３つの投光器１４ａ，１
４ｂ，１４ｃが設けられ、それら投光器１４ａ，
１４ｂ，１４ｃはそれぞれ巻尺テープ７の下方に
設けられる受光器１５ａ，１５ｂ，１５ｃに対し
て光を発するものである。
投光器１４ａ，１４ｂから発せられた光が前記
開孔８を通つて受光器１５ａ，１５ｂによつて受
光されると、当該受光器からは位相が90度異な
り、かつ、開孔８の開度に正比例するパルス幅を
有する２種のパルス信号Ｓ１，Ｓ２（第４図参
照）が発せられ、方向判別付カウンタ１６へ入力
される。
開孔８を通つて受光器１５ａ，１５ｂによつて受
光されると、当該受光器からは位相が90度異な
り、かつ、開孔８の開度に正比例するパルス幅を
有する２種のパルス信号Ｓ１，Ｓ２（第４図参
照）が発せられ、方向判別付カウンタ１６へ入力
される。
方向判別付カウンタ１６では、パルス信号Ｓ
１，Ｓ２を受けて巻尺テープ７が引出し方向に移
動しているのか、収納方向に移動しているのかを
判別するとともに、検出した開孔数に対応した逓
倍パルス信号Ｓ３を出力し、該逓倍パルス信号Ｓ
３を前記入力側インターフエース１０へ入力す
る。
１，Ｓ２を受けて巻尺テープ７が引出し方向に移
動しているのか、収納方向に移動しているのかを
判別するとともに、検出した開孔数に対応した逓
倍パルス信号Ｓ３を出力し、該逓倍パルス信号Ｓ
３を前記入力側インターフエース１０へ入力す
る。
一方、投光器１４ｃから発せられた光が前記開
孔８を通つて受光器１５ｃによつて受光される
と、受光器１５ｃからは穴づまりしていない開孔
８を検出して発生されるパルス信号Ｓ１のパルス
中縁部１７に同期し、しかも当該パルス信号Ｓ１
のパルス幅より小さいパルス幅を有するパルス信
号Ｓ４が出力される。なお、好ましくは該パルス
信号Ｓ４のパルス幅は前記パルス信号Ｓ１のパル
ス幅のおよそ90％以上に設定される。
孔８を通つて受光器１５ｃによつて受光される
と、受光器１５ｃからは穴づまりしていない開孔
８を検出して発生されるパルス信号Ｓ１のパルス
中縁部１７に同期し、しかも当該パルス信号Ｓ１
のパルス幅より小さいパルス幅を有するパルス信
号Ｓ４が出力される。なお、好ましくは該パルス
信号Ｓ４のパルス幅は前記パルス信号Ｓ１のパル
ス幅のおよそ90％以上に設定される。
また、前記受光器１５ａの出力は、リセツト優
先フリツプフロツプ１８のリセツト端子へ、受光
器１５ｃの出力は、リセツト優先フリツプフロツ
プ１８のセツト端子へ各々接続されている。
先フリツプフロツプ１８のリセツト端子へ、受光
器１５ｃの出力は、リセツト優先フリツプフロツ
プ１８のセツト端子へ各々接続されている。
さらに、リセツト優先フリツプフロツプ１８の
正出力Ｑ端子がフリツプフロツプ１９のセツト端
子に接続され、該フリツプフロツプ１９はリセツ
ト優先フリツプフロツプ１８の正出力Ｑが、一瞬
の間でも「Ｈ」レベルになつたときに、該「Ｈ」
レベルの出力状態を保持する。一方、そのような
該フリツプフロツプ１９の保持機能をクリアする
リセツト入力は、前記出力側インターフエース１
１から出力される。
正出力Ｑ端子がフリツプフロツプ１９のセツト端
子に接続され、該フリツプフロツプ１９はリセツ
ト優先フリツプフロツプ１８の正出力Ｑが、一瞬
の間でも「Ｈ」レベルになつたときに、該「Ｈ」
レベルの出力状態を保持する。一方、そのような
該フリツプフロツプ１９の保持機能をクリアする
リセツト入力は、前記出力側インターフエース１
１から出力される。
前記開孔８に穴づまりがない場合には、前記パ
ルス信号Ｓ１，Ｓ４は第４図に示す関係にあるの
で、前記リセツト優先フリツプフロツプ１８から
の出力は常に「Ｌ」レベルとなつている。しかる
に、穴づまりを検出して前記パルス信号Ｓ１のパ
ルス幅が第４図において、鎖線で示すように変化
すると、リセツト優先フリツプフロツプ１８の出
力は一瞬の間「Ｌ」レベルから「Ｈ」レベルへ変
化する。そのため、フリツプフロツプ１９の出力
は「Ｌ」レベルから「Ｈ」レベルへ変化し、出力
側インターフエース１１からセツト信号が入力さ
れるまでは「Ｈ」レベルに保持される。
ルス信号Ｓ１，Ｓ４は第４図に示す関係にあるの
で、前記リセツト優先フリツプフロツプ１８から
の出力は常に「Ｌ」レベルとなつている。しかる
に、穴づまりを検出して前記パルス信号Ｓ１のパ
ルス幅が第４図において、鎖線で示すように変化
すると、リセツト優先フリツプフロツプ１８の出
力は一瞬の間「Ｌ」レベルから「Ｈ」レベルへ変
化する。そのため、フリツプフロツプ１９の出力
は「Ｌ」レベルから「Ｈ」レベルへ変化し、出力
側インターフエース１１からセツト信号が入力さ
れるまでは「Ｈ」レベルに保持される。
すなわち、穴づまりの検出は、フリツプフロツ
プ１９の出力変化を監視すればよいことになる。
プ１９の出力変化を監視すればよいことになる。
以上述べたようなハードウエアの動作によつて
穴づまりが検出された場合のソフトウエアの手順
について以下第５図を参照して説明する。
穴づまりが検出された場合のソフトウエアの手順
について以下第５図を参照して説明する。
ステツプで、前記フリツプフロツプ１９の出
力が変化（「Ｌ」レベルから「Ｈ」レベルへ）し
たかどうかを判別し、出力変化を確認すると、ス
テツプでその時に、表示器５に表示されている
巻尺テープ７の引出量の値をホールドする。そし
て、ステツプでブザー６を鳴らして穴づまりが
検出されたことを作業者に知らせる。ステツプ
では、ブザー６の停止スイツチ２０〔第２図Ａお
よび第３図参照〕が押されたかどうかを判別し、
押されていればステツプでブザー６を停止させ
てステツプで前記フリツプフロツプ１９へリセ
ツト信号を出力してステツプへ戻る。一方、ス
テツプでブザー６の停止スイツチ２０が押され
ていなければステツプ、ステツプを繰り返
す。
力が変化（「Ｌ」レベルから「Ｈ」レベルへ）し
たかどうかを判別し、出力変化を確認すると、ス
テツプでその時に、表示器５に表示されている
巻尺テープ７の引出量の値をホールドする。そし
て、ステツプでブザー６を鳴らして穴づまりが
検出されたことを作業者に知らせる。ステツプ
では、ブザー６の停止スイツチ２０〔第２図Ａお
よび第３図参照〕が押されたかどうかを判別し、
押されていればステツプでブザー６を停止させ
てステツプで前記フリツプフロツプ１９へリセ
ツト信号を出力してステツプへ戻る。一方、ス
テツプでブザー６の停止スイツチ２０が押され
ていなければステツプ、ステツプを繰り返
す。
第６図は第４図で説明したリセツト優先フリツ
プフロツプ１８、フリツプフロツプ１９に替えて
用いられる他の回路で、前記パルス信号Ｓ１はイ
ンバータ２０を介してANDゲート２１へ接続さ
れ、一方、パルス信号Ｓ４は直接ANDゲート２
１へ接続されている。そして、穴づまりが検出さ
れると、ADNゲート２１の出力が一瞬の間「Ｈ」
レベルになるので、前記入力側インターフエース
１０側から常時その信号の変化を監視していれば
よい。なお、上述した実施例は巻尺テープ７に設
けられた開孔８をマークとなした場合を示した
が、これに限定せず磁気テープに磁極の方向によ
るマークを形成し、ホール素子を用いて該マーク
を検出するような構成においても巻尺テープ７と
同様に適用される。また、バーコードのような色
彩をつけた記号をマークとなし、光の反射量を検
出するような構成にも適用される。
プフロツプ１８、フリツプフロツプ１９に替えて
用いられる他の回路で、前記パルス信号Ｓ１はイ
ンバータ２０を介してANDゲート２１へ接続さ
れ、一方、パルス信号Ｓ４は直接ANDゲート２
１へ接続されている。そして、穴づまりが検出さ
れると、ADNゲート２１の出力が一瞬の間「Ｈ」
レベルになるので、前記入力側インターフエース
１０側から常時その信号の変化を監視していれば
よい。なお、上述した実施例は巻尺テープ７に設
けられた開孔８をマークとなした場合を示した
が、これに限定せず磁気テープに磁極の方向によ
るマークを形成し、ホール素子を用いて該マーク
を検出するような構成においても巻尺テープ７と
同様に適用される。また、バーコードのような色
彩をつけた記号をマークとなし、光の反射量を検
出するような構成にも適用される。
本発明は、パルスエンコーダに形成されるマー
クを該マークの大きさに対応するパルス幅を有す
る第一パルス信号と、正常な状態のマークを検出
して発生される第一パルス信号のパルス中縁部に
同期し、しかも当該第一パルス信号のパルス幅よ
り小さいパルス幅を有する第二パルス信号との比
較によつて不良マークを検出する極めて簡単な構
成からなる不良マーク検出装置であり、計測機器
の測定誤差を未然に防ぐことができる。
クを該マークの大きさに対応するパルス幅を有す
る第一パルス信号と、正常な状態のマークを検出
して発生される第一パルス信号のパルス中縁部に
同期し、しかも当該第一パルス信号のパルス幅よ
り小さいパルス幅を有する第二パルス信号との比
較によつて不良マークを検出する極めて簡単な構
成からなる不良マーク検出装置であり、計測機器
の測定誤差を未然に防ぐことができる。
第１図は本発明のパルスエンコーダ用不良マー
ク検出装置の構成を明示するブロツク図、第２図
Ａ，Ｂは実施例の電子式巻尺を示し、第２図Ａは
同斜視図、第２図Ｂは同巻尺テープの基端部を拡
大して示す拡大図、第３図はハードウエアを例示
するブロツク図、、第４図は第３図で示す３つの
受光器によつて出力されるパルス信号を各々例示
する波形図、第５図は第３図で示すハードウエア
によつて不良マークが検出された後の動作を示す
フローチヤート、第６図は不良マーク検出回路の
他の実施例を示す電気回路図である。 ａ……第一検出手段、ｂ……第一パルス信号発
生手段、ｃ……第二検出手段、ｄ……第二パルス
信号発生手段、ｅ……不良マーク検出手段、１…
…電子式巻尺、７……巻尺テープ、８……マー
ク、９……中央演算処理装置。
ク検出装置の構成を明示するブロツク図、第２図
Ａ，Ｂは実施例の電子式巻尺を示し、第２図Ａは
同斜視図、第２図Ｂは同巻尺テープの基端部を拡
大して示す拡大図、第３図はハードウエアを例示
するブロツク図、、第４図は第３図で示す３つの
受光器によつて出力されるパルス信号を各々例示
する波形図、第５図は第３図で示すハードウエア
によつて不良マークが検出された後の動作を示す
フローチヤート、第６図は不良マーク検出回路の
他の実施例を示す電気回路図である。 ａ……第一検出手段、ｂ……第一パルス信号発
生手段、ｃ……第二検出手段、ｄ……第二パルス
信号発生手段、ｅ……不良マーク検出手段、１…
…電子式巻尺、７……巻尺テープ、８……マー
ク、９……中央演算処理装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 間隔をおいて設けられるマークの不良を検出
する装置であつて、 マークを検出する第一および第二の検出手段
と、 該第一検出手段によつてマークを検出すると前
記マークの大きさに対応するパルス幅を有する第
一パルス信号を発生する第一パルス信号発生手段
と、 前記第二検出手段によつてマークを検出すると
正常の状態のマークを検出して発生される第一パ
ルス信号のパルス中縁部に同期し、しかも当該第
一パルス信号のパルス幅より小さいパルス幅を有
する第二パルス信号を発生する第二パルス信号発
生手段と、 前記第一パルス信号発生手段によつて発生され
る第一パルス信号と前記第二パルス信号との比較
によつて不良マークを検出する不良マーク検出手
段とを備えてなることを特徴とするパルスエンコ
ーダ用不良マーク検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59039032A JPS60181615A (ja) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | パルスエンコ−ダ用不良マ−ク検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59039032A JPS60181615A (ja) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | パルスエンコ−ダ用不良マ−ク検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60181615A JPS60181615A (ja) | 1985-09-17 |
| JPH041857B2 true JPH041857B2 (ja) | 1992-01-14 |
Family
ID=12541765
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59039032A Granted JPS60181615A (ja) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | パルスエンコ−ダ用不良マ−ク検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60181615A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2614982B1 (fr) * | 1987-05-04 | 1989-09-15 | Mercier Marie France | Metre numerique a lecture directe, travaillant en absolu avec memoire et restitution de l'information |
-
1984
- 1984-02-29 JP JP59039032A patent/JPS60181615A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60181615A (ja) | 1985-09-17 |
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