JPH041859B2 - - Google Patents
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- JPH041859B2 JPH041859B2 JP58181277A JP18127783A JPH041859B2 JP H041859 B2 JPH041859 B2 JP H041859B2 JP 58181277 A JP58181277 A JP 58181277A JP 18127783 A JP18127783 A JP 18127783A JP H041859 B2 JPH041859 B2 JP H041859B2
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- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 22
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 7
- 230000005457 Black-body radiation Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/52—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using comparison with reference sources, e.g. disappearing-filament pyrometer
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は各種のセンサとして利用される２次
元赤外線検出装置に関する。
元赤外線検出装置に関する。
周知のように、２次元赤外線検出素子は一般の
光検知素子のように、検知素子本体から発生され
る電気的雑音および本来の目標が有する温度によ
る黒体放射信号以外に、検知素子が使用される周
囲の温度による黒体放射信号が混入される。これ
は所謂バツクグランド雑音と称されるものであ
る。このバツクグランド雑音は検知素子本体から
発生される電気的なランダム雑音に対して、有効
時間内において一定の大きさの雑音である。した
がつて、この雑音は信号処理によつて除去するこ
とが可能である。
光検知素子のように、検知素子本体から発生され
る電気的雑音および本来の目標が有する温度によ
る黒体放射信号以外に、検知素子が使用される周
囲の温度による黒体放射信号が混入される。これ
は所謂バツクグランド雑音と称されるものであ
る。このバツクグランド雑音は検知素子本体から
発生される電気的なランダム雑音に対して、有効
時間内において一定の大きさの雑音である。した
がつて、この雑音は信号処理によつて除去するこ
とが可能である。
一方、２次元赤外線検知素子の各画素は、同一
赤外線強度に対して感度（入力赤外線の強度に対
する出力電気信号の大きさ）が一定でない。した
がつて、目標を２次元で評価する場合、正確な評
価ができない不都合を有している。
赤外線強度に対して感度（入力赤外線の強度に対
する出力電気信号の大きさ）が一定でない。した
がつて、目標を２次元で評価する場合、正確な評
価ができない不都合を有している。
ところで、従来バツクグランド雑音および感度
の補正は全く別々に異なる試験装置を２次元赤外
線検出素子に正体させて行つていた。したがつ
て、各補正毎に試験装置を交換しなければならな
いため、補正作業が極めて煩雑なものであつた。
の補正は全く別々に異なる試験装置を２次元赤外
線検出素子に正体させて行つていた。したがつ
て、各補正毎に試験装置を交換しなければならな
いため、補正作業が極めて煩雑なものであつた。
この発明は上記事情に基づいてなされたもので
あり、その目的とするところはバツクグランド雑
音および感度誤差の補正を容易に行うことが可能
な２次元赤外線検出装置を提供しようとするもの
である。
あり、その目的とするところはバツクグランド雑
音および感度誤差の補正を容易に行うことが可能
な２次元赤外線検出装置を提供しようとするもの
である。
この発明は２次元赤外線検知器の受光部に対向
して透明部、黒体部、発熱部を有する校正体を設
け、この校正体の黒体部、発熱部を前記受光部に
それぞれ対向してバツクグランド雑音および感度
誤差の補正信号を求め、この補正信号を前記校正
体の透明部を前記受光部に対向して得られた信号
に演算することにより、この信号よりバツクグラ
ンド雑音および感度誤差を除去しようとするもの
である。
して透明部、黒体部、発熱部を有する校正体を設
け、この校正体の黒体部、発熱部を前記受光部に
それぞれ対向してバツクグランド雑音および感度
誤差の補正信号を求め、この補正信号を前記校正
体の透明部を前記受光部に対向して得られた信号
に演算することにより、この信号よりバツクグラ
ンド雑音および感度誤差を除去しようとするもの
である。
先ず、第１図乃至第３図を用いてこの発明の原
理について説明する。
理について説明する。
第１図はバツクグランド雑音補正部を示すもの
である。２次元赤外線検知器１１の受光部１１1
の前面には円盤状の校正体１２が設けられる。こ
の校正体１２は第２図に示す如く、中心軸Ｏを中
心として図示せぬ駆動部によつて図示矢印CW方
向に120°づつ回転可能とされている。この校正体
１２には120°間隔で校正体１２を透過し得る円形
状透明部１２1、黒体部１２2および所定温度の熱
を発生する発熱部１２3が設けられており、校正
体１２が120°づつ回転される毎に透明部１２1、
黒体部１２2、発熱部１２3が前記２次元赤外線検
知器１１の受光部１１1に対向されるようになつ
ている。バツクグランド雑音の補正を行う場合、
先ず、校正体１２の黒体部１２2が２次元赤外線
検知器１１の受光部１１1に対向される。黒体部
１２2は周囲温度に相当する赤外線を放射してお
り、２次元赤外線検知器１１ではこの赤外線が検
知され、検知器１１の各画素毎に電気信号に変換
される。この画素毎に変換された信号はクロツク
信号によつて順次読出され、Ａ／Ｄ（アナログ／
デイジタル）変換器１３に供給される。このＡ／
Ｄ変換器１３においてデイジタル化された信号は
前記クロツク信号に同期して、閉状態とされたス
イツチ１４を介して順次記憶部１５に記憶され
る。次に、実際の補正を行う場合、前記スイツチ
１４が開状態とされるとともに、校正体１２が回
転され、２次元赤外線検知器１１の受光部１１1
に透明部１２1が対向される。この状態では図示
せぬ目標からの赤外線とバツクグランド雑音とが
透明部１２1を介して２次元赤外線検知器１１に
入射される。したがつて、この検知器１１からは
これらが重畳された信号が出力され、この信号は
前記と同様にＡ／Ｄ変換器１３においてデイジタ
ル化される。このデイジタル化された信号は減算
器１６に順次供給される。この減算器１６には前
記記憶部１５に記憶されたバツクグランド雑音に
相当する信号がクロツク信号に同期して順次供給
されており、前記デイジタル化された信号中より
バツクグランド雑音に相当する信号が減算され
る。この減算処理はクロツク信号に同期して対応
する画素毎に行われる。しかして、この減算器１
６からはバツクグランド雑音が殆んど除去された
目標信号が出力される。
である。２次元赤外線検知器１１の受光部１１1
の前面には円盤状の校正体１２が設けられる。こ
の校正体１２は第２図に示す如く、中心軸Ｏを中
心として図示せぬ駆動部によつて図示矢印CW方
向に120°づつ回転可能とされている。この校正体
１２には120°間隔で校正体１２を透過し得る円形
状透明部１２1、黒体部１２2および所定温度の熱
を発生する発熱部１２3が設けられており、校正
体１２が120°づつ回転される毎に透明部１２1、
黒体部１２2、発熱部１２3が前記２次元赤外線検
知器１１の受光部１１1に対向されるようになつ
ている。バツクグランド雑音の補正を行う場合、
先ず、校正体１２の黒体部１２2が２次元赤外線
検知器１１の受光部１１1に対向される。黒体部
１２2は周囲温度に相当する赤外線を放射してお
り、２次元赤外線検知器１１ではこの赤外線が検
知され、検知器１１の各画素毎に電気信号に変換
される。この画素毎に変換された信号はクロツク
信号によつて順次読出され、Ａ／Ｄ（アナログ／
デイジタル）変換器１３に供給される。このＡ／
Ｄ変換器１３においてデイジタル化された信号は
前記クロツク信号に同期して、閉状態とされたス
イツチ１４を介して順次記憶部１５に記憶され
る。次に、実際の補正を行う場合、前記スイツチ
１４が開状態とされるとともに、校正体１２が回
転され、２次元赤外線検知器１１の受光部１１1
に透明部１２1が対向される。この状態では図示
せぬ目標からの赤外線とバツクグランド雑音とが
透明部１２1を介して２次元赤外線検知器１１に
入射される。したがつて、この検知器１１からは
これらが重畳された信号が出力され、この信号は
前記と同様にＡ／Ｄ変換器１３においてデイジタ
ル化される。このデイジタル化された信号は減算
器１６に順次供給される。この減算器１６には前
記記憶部１５に記憶されたバツクグランド雑音に
相当する信号がクロツク信号に同期して順次供給
されており、前記デイジタル化された信号中より
バツクグランド雑音に相当する信号が減算され
る。この減算処理はクロツク信号に同期して対応
する画素毎に行われる。しかして、この減算器１
６からはバツクグランド雑音が殆んど除去された
目標信号が出力される。
次に、第３図を用いて感度誤差補正部について
説明する。尚、第１図と同一部分には同一符号を
付す。この場合、先ず校正体１２の発熱部１２3
が２次元赤外線検知器１１の受光部１１1に対向
される。この発熱部１２3は常温より２〜30Kほ
ど高く設定されており、この温度に相当する黒体
放射による赤外線が２次元赤外線検知器１１によ
つて検知される。この検知器１１の出力信号は順
次Ａ／Ｄ変換器１３に供給され、画素毎にデイジ
タル化される。このデイジタル化された信号はス
イツチ３１を介して記憶部３２に記憶される。即
ち、スイツチ３１は可動接片３１1が固定接点３
１2に接続されている。Ａ／Ｄ変換器１３の出力
信号が総べて記憶されると、前記スイツチ３１の
可動接片３１1が固定接点３１3に接続され、記憶
部３２の出力端に設けられたスイツチ３３の可動
接片３３1は固定接点３３3に接続される。そし
て、このスイツチ３３を介して記憶部３２より読
出された全画素に対応する信号が演算器３４に供
給される。この演算器３４では入力された全画素
に対応する信号の平均値が演算され、この後、求
められた平均値と前記記憶された各画素に対応す
る信号との比、即ち、感度補正信号Ｋ(i)が各画素
毎に求められる。つまり、記憶部３２よりある画
素に対応する信号が読出され、この信号と前記平
均値との比が求められる。この比、即ち、感度補
正信号Ｋ(i)はスイツチ３１を介して前記記憶部３
２の対応する画素位置に記憶される。このような
動作が記憶部３２に記憶された総べての画素に対
応した信号について行われる。このようにして、
記憶部３２の画素に対応した信号が総べて各画素
に対応した感度補正信号Ｋ(i)に書換えられる。次
に、実際の補正を行う場合は、スイツチ３１の可
動接片３１1が第３図に示す中立位置とされ、ス
イツチ３３の可動接片３３1が固定接片３３2に接
続されるとともに、校正体１２が回転され、透明
部１２1が２次元赤外線検知器１１の受光部１１1
に対向される。この状態において、２次元赤外線
検知器１１では透明部１２1を介して図示せぬ目
標からの赤外線およびバツクグランド雑音が検知
される。この検知器１１の出力信号はＡ／Ｄ変換
器１３を介して掛算器３５に供給される。この掛
算器３５には前記記憶部３２より対応する画素毎
に感度補正信号Ｋ(i)が供給されており、この感度
補正信号Ｋ(i)と対応するＡ／Ｄ変換出力信号との
乗算が行われる。したがつて、この掛算器３５か
らは感度が平均化された信号が出力される。尚、
これらの一連の処理は２次元赤外線検出器１１の
信号読出しクロツク信号に同期して各画素毎に行
われる。また、校正体１２と２次元赤外線検出器
１１との距離は黒体部１２2、発熱部１２3からの
黒体放射による赤外線の強度が各画素毎にほぼ均
一と見なせるような位置とされる。
説明する。尚、第１図と同一部分には同一符号を
付す。この場合、先ず校正体１２の発熱部１２3
が２次元赤外線検知器１１の受光部１１1に対向
される。この発熱部１２3は常温より２〜30Kほ
ど高く設定されており、この温度に相当する黒体
放射による赤外線が２次元赤外線検知器１１によ
つて検知される。この検知器１１の出力信号は順
次Ａ／Ｄ変換器１３に供給され、画素毎にデイジ
タル化される。このデイジタル化された信号はス
イツチ３１を介して記憶部３２に記憶される。即
ち、スイツチ３１は可動接片３１1が固定接点３
１2に接続されている。Ａ／Ｄ変換器１３の出力
信号が総べて記憶されると、前記スイツチ３１の
可動接片３１1が固定接点３１3に接続され、記憶
部３２の出力端に設けられたスイツチ３３の可動
接片３３1は固定接点３３3に接続される。そし
て、このスイツチ３３を介して記憶部３２より読
出された全画素に対応する信号が演算器３４に供
給される。この演算器３４では入力された全画素
に対応する信号の平均値が演算され、この後、求
められた平均値と前記記憶された各画素に対応す
る信号との比、即ち、感度補正信号Ｋ(i)が各画素
毎に求められる。つまり、記憶部３２よりある画
素に対応する信号が読出され、この信号と前記平
均値との比が求められる。この比、即ち、感度補
正信号Ｋ(i)はスイツチ３１を介して前記記憶部３
２の対応する画素位置に記憶される。このような
動作が記憶部３２に記憶された総べての画素に対
応した信号について行われる。このようにして、
記憶部３２の画素に対応した信号が総べて各画素
に対応した感度補正信号Ｋ(i)に書換えられる。次
に、実際の補正を行う場合は、スイツチ３１の可
動接片３１1が第３図に示す中立位置とされ、ス
イツチ３３の可動接片３３1が固定接片３３2に接
続されるとともに、校正体１２が回転され、透明
部１２1が２次元赤外線検知器１１の受光部１１1
に対向される。この状態において、２次元赤外線
検知器１１では透明部１２1を介して図示せぬ目
標からの赤外線およびバツクグランド雑音が検知
される。この検知器１１の出力信号はＡ／Ｄ変換
器１３を介して掛算器３５に供給される。この掛
算器３５には前記記憶部３２より対応する画素毎
に感度補正信号Ｋ(i)が供給されており、この感度
補正信号Ｋ(i)と対応するＡ／Ｄ変換出力信号との
乗算が行われる。したがつて、この掛算器３５か
らは感度が平均化された信号が出力される。尚、
これらの一連の処理は２次元赤外線検出器１１の
信号読出しクロツク信号に同期して各画素毎に行
われる。また、校正体１２と２次元赤外線検出器
１１との距離は黒体部１２2、発熱部１２3からの
黒体放射による赤外線の強度が各画素毎にほぼ均
一と見なせるような位置とされる。
次に、上記原理に基づくこの発明の一実施例に
ついて説明する。尚、第１図乃至第３図と同一部
分には同一符号を付す。
ついて説明する。尚、第１図乃至第３図と同一部
分には同一符号を付す。
第４図は第１図に示したバツクグランド雑音補
正部と第３図に示した感度誤差補正部の共通部分
を一体化し、他の部分を縦続接続したものであ
る。この装置は例えば図示せぬ校正スイツチを操
作すると、数秒のうちにバツクグランド雑音と感
度誤差の補正が終了されるようになされている。
正部と第３図に示した感度誤差補正部の共通部分
を一体化し、他の部分を縦続接続したものであ
る。この装置は例えば図示せぬ校正スイツチを操
作すると、数秒のうちにバツクグランド雑音と感
度誤差の補正が終了されるようになされている。
即ち、校正スイツチが操作されると、先ずスイ
ツチ１４が閉状態とされるとともに、校正体１２
が回転され、黒体部１２2が２次元赤外線検知器
１１の受光部１１1に対向される。そして、前述
した動作によつて記憶部１５にバツクグランド雑
音に相当する信号が記憶される。次に、前記スイ
ツチ１４が開状態とされ、スイツチ３１の可動接
片３１1が固定接点３１2に接続され、校正体１２
が回転されて発熱部１２3が受光部１１1に対向さ
れる。そして、発熱部１２3より放射される赤外
線に対応した信号が記憶部３２に記憶される。
尚、最初に発熱部１２3に対応する信号を読込む
場合は減算器１６の負（−）側の値は零とされ
る。次に、スイツチ３１の可動接片３１1が固定
接片３１3に接続され、スイツチ３３の可動接片
３３1が固定接片３３3に接続され、演算器３４を
介して記憶部３２に感度補正信号Ｋ(i)が記憶され
る。次に、スイツチ３３の可動接片３３1が固定
接片３３2に接続されるとともに、スイツチ３１
の可動接片３１1が中立位置とされ、且つ校正体
１２が回転されて透明部１２1が受光部１１1に対
向される。したがつて、目標から放射された信号
は２次元赤外線検知器１１によつて受光された
後、デイジタル化され、この信号より減算器１６
において記憶部１５に記憶されたバツクグランド
雑音に相当する信号が減算される。さらに、この
バツクグランド雑音が除去された信号は掛算器３
５において記憶部３２に記憶された感度補正信号
Ｋ(i)と乗算される。したがつて、この掛算器３５
からはバツクグランド雑音および感度誤差が補正
された信号が出力される。この動作は校正スイツ
チが操作される毎に繰返えされる。
ツチ１４が閉状態とされるとともに、校正体１２
が回転され、黒体部１２2が２次元赤外線検知器
１１の受光部１１1に対向される。そして、前述
した動作によつて記憶部１５にバツクグランド雑
音に相当する信号が記憶される。次に、前記スイ
ツチ１４が開状態とされ、スイツチ３１の可動接
片３１1が固定接点３１2に接続され、校正体１２
が回転されて発熱部１２3が受光部１１1に対向さ
れる。そして、発熱部１２3より放射される赤外
線に対応した信号が記憶部３２に記憶される。
尚、最初に発熱部１２3に対応する信号を読込む
場合は減算器１６の負（−）側の値は零とされ
る。次に、スイツチ３１の可動接片３１1が固定
接片３１3に接続され、スイツチ３３の可動接片
３３1が固定接片３３3に接続され、演算器３４を
介して記憶部３２に感度補正信号Ｋ(i)が記憶され
る。次に、スイツチ３３の可動接片３３1が固定
接片３３2に接続されるとともに、スイツチ３１
の可動接片３１1が中立位置とされ、且つ校正体
１２が回転されて透明部１２1が受光部１１1に対
向される。したがつて、目標から放射された信号
は２次元赤外線検知器１１によつて受光された
後、デイジタル化され、この信号より減算器１６
において記憶部１５に記憶されたバツクグランド
雑音に相当する信号が減算される。さらに、この
バツクグランド雑音が除去された信号は掛算器３
５において記憶部３２に記憶された感度補正信号
Ｋ(i)と乗算される。したがつて、この掛算器３５
からはバツクグランド雑音および感度誤差が補正
された信号が出力される。この動作は校正スイツ
チが操作される毎に繰返えされる。
上記した実施例によれば、校正体１２に透明部
１２1、黒体部１２2、発熱部１２3を設け、この
うち、黒体部１２2、発熱部１２3をそれぞれ２次
元赤外線検知器１１の受光部１１1に対向した状
態において、記憶部１５，３２に所定の補正信号
を記憶し、校正体１２の透明部１２1を検知器１
１の受光部１１1に対向した状態において、前記
記憶された校正信号によつてバツクグランド雑音
および感度誤差の補正を行つている。したがつ
て、校正体１２を所定位置に回転することにより
容易にバツクグランド雑音および感度誤差の補正
を行うことが可能であり、従来のように、各補正
毎に試験装置を交換する必要がない利点を有して
いる。
１２1、黒体部１２2、発熱部１２3を設け、この
うち、黒体部１２2、発熱部１２3をそれぞれ２次
元赤外線検知器１１の受光部１１1に対向した状
態において、記憶部１５，３２に所定の補正信号
を記憶し、校正体１２の透明部１２1を検知器１
１の受光部１１1に対向した状態において、前記
記憶された校正信号によつてバツクグランド雑音
および感度誤差の補正を行つている。したがつ
て、校正体１２を所定位置に回転することにより
容易にバツクグランド雑音および感度誤差の補正
を行うことが可能であり、従来のように、各補正
毎に試験装置を交換する必要がない利点を有して
いる。
尚、この発明は上記実施例に限定されるもので
はなく、この装置を他のシステムに組込む場合、
検知器１１の時間的特性変動が予じめ予測できれ
ば、タイマを用いてこの特性変動に同期して校正
スイツチを動作させることにより、常に適正な補
正が行われ、非常に安定した２次元データを得る
ことができる。
はなく、この装置を他のシステムに組込む場合、
検知器１１の時間的特性変動が予じめ予測できれ
ば、タイマを用いてこの特性変動に同期して校正
スイツチを動作させることにより、常に適正な補
正が行われ、非常に安定した２次元データを得る
ことができる。
また、検知器１１に例えば集光レンズ等の光学
系を用いる場合は、検知器１１と光学系との間に
校正体１２を設けることにより、検知器１１の出
力信号を安定化することができる。
系を用いる場合は、検知器１１と光学系との間に
校正体１２を設けることにより、検知器１１の出
力信号を安定化することができる。
その他、この発明の要旨を変えない範囲で種々
変形実施可能なことは勿論である。
変形実施可能なことは勿論である。
以上、詳述したようにこの発明によれば、バツ
クグランド雑音および感度誤差の補正を容易に行
うことが可能な２次元赤外線検知装置を提供でき
る。
クグランド雑音および感度誤差の補正を容易に行
うことが可能な２次元赤外線検知装置を提供でき
る。
第１図乃至第３図はこの発明の原理を説明する
ために示すものであり、第１図はバツクグランド
雑音補正部を示す構成図、第２図は校正体の構成
を説明するために示す図、第３図は感度誤差補正
部を示す構成図、第４図はこの発明に係わる２次
元赤外線検知装置の一実施例を示す構成図であ
る。 １１……２次元赤外線検知器、１２……校正
体、１２1……透明部、１２2……黒体部、１２3
……発熱部、１３……Ａ／Ｄ変換器、１５，３２
……記憶部、１６……減算器、３４……演算器、
３５……掛算器。
ために示すものであり、第１図はバツクグランド
雑音補正部を示す構成図、第２図は校正体の構成
を説明するために示す図、第３図は感度誤差補正
部を示す構成図、第４図はこの発明に係わる２次
元赤外線検知装置の一実施例を示す構成図であ
る。 １１……２次元赤外線検知器、１２……校正
体、１２1……透明部、１２2……黒体部、１２3
……発熱部、１３……Ａ／Ｄ変換器、１５，３２
……記憶部、１６……減算器、３４……演算器、
３５……掛算器。
Claims (1)
- １ ２次元赤外線検知器と、この検知器の受光部
にそれぞれ対向される透明部、黒体部および所定
温度の熱を発生する発熱部を有する校正体と、前
記検知器の出力信号を画素毎にデイジタル化する
Ａ／Ｄ変換器と、前記校正体の黒体部を検知器の
受光部に対向した状態におけるＡ／Ｄ変換器の出
力信号を画素毎に記憶する第１の記憶部と、前記
校正体の透明部を検知器の受光部に対向した状態
におけるＡ／Ｄ変換器の出力信号から前記第１の
記憶部に記憶された信号を各画素毎に減算しバツ
クグランド雑音を除去する減算器と、前記校正体
の発熱部を検知器の受光部に対向した状態におい
て前記減算器の出力信号を画素毎に記憶する第２
の記憶部と、この記憶部に記憶された信号の平均
値を求めるとともに、この平均値と各画素の信号
との比（補正信号）を求め前記第２の記憶部の対
応する部分に記憶させる減算器と、前記校正体の
透明部を検知器の受光部に対向した状態で得られ
る前記減算器の出力信号と前記第２の記憶部に記
憶された補正信号とを画素毎に乗算し感度補正を
行う掛算器とを具備したことを特徴とする２次元
赤外線検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58181277A JPS6071919A (ja) | 1983-09-29 | 1983-09-29 | ２次元赤外線検知装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58181277A JPS6071919A (ja) | 1983-09-29 | 1983-09-29 | ２次元赤外線検知装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6071919A JPS6071919A (ja) | 1985-04-23 |
| JPH041859B2 true JPH041859B2 (ja) | 1992-01-14 |
Family
ID=16097877
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58181277A Granted JPS6071919A (ja) | 1983-09-29 | 1983-09-29 | ２次元赤外線検知装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6071919A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3336498A1 (en) | 2016-12-13 | 2018-06-20 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Information processing method, information processing system, mobile terminal, infrared detector, and non-transitory computer readable recording medium storing program |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5631466A (en) * | 1995-06-16 | 1997-05-20 | Hughes Electronics | Apparatus and methods of closed loop calibration of infrared focal plane arrays |
-
1983
- 1983-09-29 JP JP58181277A patent/JPS6071919A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3336498A1 (en) | 2016-12-13 | 2018-06-20 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Information processing method, information processing system, mobile terminal, infrared detector, and non-transitory computer readable recording medium storing program |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6071919A (ja) | 1985-04-23 |
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