JPH04187848A - 内燃機関の触媒劣化判定装置 - Google Patents
内燃機関の触媒劣化判定装置Info
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- JPH04187848A JPH04187848A JP2312794A JP31279490A JPH04187848A JP H04187848 A JPH04187848 A JP H04187848A JP 2312794 A JP2312794 A JP 2312794A JP 31279490 A JP31279490 A JP 31279490A JP H04187848 A JPH04187848 A JP H04187848A
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- F01N11/00—Monitoring or diagnostic devices for exhaust-gas treatment apparatus
- F01N11/007—Monitoring or diagnostic devices for exhaust-gas treatment apparatus the diagnostic devices measuring oxygen or air concentration downstream of the exhaust apparatus
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- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F02—COMBUSTION ENGINES; HOT-GAS OR COMBUSTION-PRODUCT ENGINE PLANTS
- F02D—CONTROLLING COMBUSTION ENGINES
- F02D41/00—Electrical control of supply of combustible mixture or its constituents
- F02D41/02—Circuit arrangements for generating control signals
- F02D41/14—Introducing closed-loop corrections
- F02D41/1438—Introducing closed-loop corrections using means for determining characteristics of the combustion gases; Sensors therefor
- F02D41/1439—Introducing closed-loop corrections using means for determining characteristics of the combustion gases; Sensors therefor characterised by the position of the sensor
- F02D41/1441—Plural sensors
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- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F01—MACHINES OR ENGINES IN GENERAL; ENGINE PLANTS IN GENERAL; STEAM ENGINES
- F01N—GAS-FLOW SILENCERS OR EXHAUST APPARATUS FOR MACHINES OR ENGINES IN GENERAL; GAS-FLOW SILENCERS OR EXHAUST APPARATUS FOR INTERNAL-COMBUSTION ENGINES
- F01N2550/00—Monitoring or diagnosing the deterioration of exhaust systems
- F01N2550/02—Catalytic activity of catalytic converters
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- F01N2900/04—Methods of control or diagnosing
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- Y02T—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES RELATED TO TRANSPORTATION
- Y02T10/00—Road transport of goods or passengers
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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- Mechanical Engineering (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
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- Electrical Control Of Air Or Fuel Supplied To Internal-Combustion Engine (AREA)
- Exhaust Gas After Treatment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は内燃機関の触媒劣化判定装置に関する。
特開昭61−286550号公報には、内燃機関の排気
通路に設けられた排気ガス浄化のための触媒コンバータ
と、触媒コンバータの上流側および下流側の排気通路に
夫々設けられ、排気ガス中の酸素濃度を検出する第1お
よび第2の02センサを備え、第2の0□センサの出力
信号のリッチとリーンの反転周期に対する第1の02セ
ンサの出力信号のリッチとリーンの反転周期の比が予め
定められた値以上のとき触媒劣化と判定する触媒劣化判
定装置が開示されている。
通路に設けられた排気ガス浄化のための触媒コンバータ
と、触媒コンバータの上流側および下流側の排気通路に
夫々設けられ、排気ガス中の酸素濃度を検出する第1お
よび第2の02センサを備え、第2の0□センサの出力
信号のリッチとリーンの反転周期に対する第1の02セ
ンサの出力信号のリッチとリーンの反転周期の比が予め
定められた値以上のとき触媒劣化と判定する触媒劣化判
定装置が開示されている。
しかしながらこの装置では触媒の小さい劣化(例えばH
C浄化率が80%以下になったか否か)を判定すること
ができるが、触媒の大きい劣化(例えばHC浄化率が4
0〜50%以下になったか否か)を判定することができ
ないという問題がある。
C浄化率が80%以下になったか否か)を判定すること
ができるが、触媒の大きい劣化(例えばHC浄化率が4
0〜50%以下になったか否か)を判定することができ
ないという問題がある。
即ち、通常の空燃比フィードバックにおいては、ある適
切な空燃比の制御周期を達成するための空燃比フィード
バック係数が算出され、これに基づき空燃比が制御され
るが、この空燃比フィードバック係数によれば、様々な
要求から空燃比の変化速度(よある程度早くされる。こ
のような空燃比制御下では、その空燃比制御速度が早す
ぎるために、触媒の劣化が大きい場合も小さい場合も、
劣化により少なくなっている触媒内にストアされている
酸素を早く消費してしまうために、触媒上流の空燃比変
動(特に排ガスがリッチな場合)が触媒下流の空燃比変
動につながりやすい。この空燃比変動を触媒下流側の空
燃比センサが検出してしまうた約に、触媒上流の空燃比
センサ出力のリッチとリーンの反転周期と、触媒下流の
空燃比センサ出力のリッチとリーンの反転周期との差が
大きくならず、結果、触媒の劣化が大きいのか、小さい
のかの判断ができないのである。
切な空燃比の制御周期を達成するための空燃比フィード
バック係数が算出され、これに基づき空燃比が制御され
るが、この空燃比フィードバック係数によれば、様々な
要求から空燃比の変化速度(よある程度早くされる。こ
のような空燃比制御下では、その空燃比制御速度が早す
ぎるために、触媒の劣化が大きい場合も小さい場合も、
劣化により少なくなっている触媒内にストアされている
酸素を早く消費してしまうために、触媒上流の空燃比変
動(特に排ガスがリッチな場合)が触媒下流の空燃比変
動につながりやすい。この空燃比変動を触媒下流側の空
燃比センサが検出してしまうた約に、触媒上流の空燃比
センサ出力のリッチとリーンの反転周期と、触媒下流の
空燃比センサ出力のリッチとリーンの反転周期との差が
大きくならず、結果、触媒の劣化が大きいのか、小さい
のかの判断ができないのである。
上記問題点を解決するため本発明によれば、第1図の発
明の構成図に示されるように、内燃機関の排気通路に設
けられた排気ガス浄化のための触媒コ、ンバータ12と
、触媒コンバータ12の上流側および下流側の排気通路
に夫々設けられた第1および第2の空燃比検出手段13
・15と、第1の空燃比検出手段13の出力信号に基づ
いて空燃比補正係数を計算するための空燃比補正係数計
算手段800と、空燃比補正係数に基づいて空燃比が予
め定められた目標空燃比となるように制御する空燃比制
御手段802と、機関運転状態が、触媒コンバータ12
の触媒が劣化したか否か判定可能な予約窓められた運転
状態であるか否か判定する運転状態判定手段804と、
機関運転状態が予め定められた運転状態にあるときに空
燃比補正係数の変化率を減少せしとる変化率減少手段8
06と、機関運転状態が予約窓められた運転状態にある
ときに第2の空燃比検出手段15の出力信号の反転周波
数が所定周波数より高い場合に触媒が劣化したと判定す
る触媒劣化判定手段808とを具備している。
明の構成図に示されるように、内燃機関の排気通路に設
けられた排気ガス浄化のための触媒コ、ンバータ12と
、触媒コンバータ12の上流側および下流側の排気通路
に夫々設けられた第1および第2の空燃比検出手段13
・15と、第1の空燃比検出手段13の出力信号に基づ
いて空燃比補正係数を計算するための空燃比補正係数計
算手段800と、空燃比補正係数に基づいて空燃比が予
め定められた目標空燃比となるように制御する空燃比制
御手段802と、機関運転状態が、触媒コンバータ12
の触媒が劣化したか否か判定可能な予約窓められた運転
状態であるか否か判定する運転状態判定手段804と、
機関運転状態が予め定められた運転状態にあるときに空
燃比補正係数の変化率を減少せしとる変化率減少手段8
06と、機関運転状態が予約窓められた運転状態にある
ときに第2の空燃比検出手段15の出力信号の反転周波
数が所定周波数より高い場合に触媒が劣化したと判定す
る触媒劣化判定手段808とを具備している。
機関運転状態が予め定められた運転状態にあるときに空
燃比補正係数の変化率が減少せしめられる。このため、
触媒が大きく劣化した場合にのみ、触媒上流の空燃比変
動が触媒下流で頻繁に検出されるようになる。
燃比補正係数の変化率が減少せしめられる。このため、
触媒が大きく劣化した場合にのみ、触媒上流の空燃比変
動が触媒下流で頻繁に検出されるようになる。
以下、図面により本発明の詳細な説明する。
第2図は本発明に係る内燃機関の空燃比制御装置の一実
施例を示す全体概略図である。第2図において、機関本
体1の吸気通路2にはエアフローメータ3が設けられて
いる。エアフローメータ3は吸入空気量を直接計測する
ものであって、ポテンショメータを内蔵して吸入空気量
に比例したアナログ電圧の出力信号を発生する。この出
力信号は制御回路10のマルチプレクサ内蔵A/D変換
器101 に供給されている。ディストリビュータ4に
は、その軸がたとえばクランク角に換算して720゜毎
に基準位置検出用パルス信号を発生するクランク角セン
サ5およびクランク角に換算して30°毎に基準位置検
出用パルス信号を発生するクランク角センサ6が設けら
れている。これらクランク角センサ5,6のパルス信号
は制御回路10の人出力インターフェイス102 に供
給され、このうち、クランク角センサ6の出力はCPU
103の割込み端子に供給される。
施例を示す全体概略図である。第2図において、機関本
体1の吸気通路2にはエアフローメータ3が設けられて
いる。エアフローメータ3は吸入空気量を直接計測する
ものであって、ポテンショメータを内蔵して吸入空気量
に比例したアナログ電圧の出力信号を発生する。この出
力信号は制御回路10のマルチプレクサ内蔵A/D変換
器101 に供給されている。ディストリビュータ4に
は、その軸がたとえばクランク角に換算して720゜毎
に基準位置検出用パルス信号を発生するクランク角セン
サ5およびクランク角に換算して30°毎に基準位置検
出用パルス信号を発生するクランク角センサ6が設けら
れている。これらクランク角センサ5,6のパルス信号
は制御回路10の人出力インターフェイス102 に供
給され、このうち、クランク角センサ6の出力はCPU
103の割込み端子に供給される。
さらに、吸気通路2には各気筒毎に燃料供給系から加圧
燃料を吸気ボートへ供給するための燃料噴射弁7が設け
られている。
燃料を吸気ボートへ供給するための燃料噴射弁7が設け
られている。
また、機関本体1のシリンダブロックのウォークジャケ
ット8には、冷却水の温度を検出するための水温センサ
9が設けられている。水温センサ9は冷却水の温度TH
Wに応じたアナログ電圧の電気信号を発生する。この出
力もA/D変換器101 に供給されている。
ット8には、冷却水の温度を検出するための水温センサ
9が設けられている。水温センサ9は冷却水の温度TH
Wに応じたアナログ電圧の電気信号を発生する。この出
力もA/D変換器101 に供給されている。
排気マニホールド11より下流の排気系には、排気ガス
中の3つの有害成分HC、CD 、 NOXを同時に浄
化する三元触媒を、収容する触媒コンバータ12が設け
られている。
中の3つの有害成分HC、CD 、 NOXを同時に浄
化する三元触媒を、収容する触媒コンバータ12が設け
られている。
排気マニホールド11には、すなわち触媒コンバータ1
2の上流側には第1の02センサ13が設けられ、触媒
コンバータ12の下流側の排気管14には第2の02セ
ンサ15が設けられている。02センサ13.15は排
気ガス中の酸素成分濃度に応じた電気信号を発生する。
2の上流側には第1の02センサ13が設けられ、触媒
コンバータ12の下流側の排気管14には第2の02セ
ンサ15が設けられている。02センサ13.15は排
気ガス中の酸素成分濃度に応じた電気信号を発生する。
すなわち、02センサ13.15は空燃比が理論空燃比
に対してリーン側かリッチ側かに応じて、異なる出力電
圧を制御回路10でA/D変換器101に発生する。
に対してリーン側かリッチ側かに応じて、異なる出力電
圧を制御回路10でA/D変換器101に発生する。
また、16は触媒コンバータ12の触媒が劣化したとき
に付勢されるアラームである。
に付勢されるアラームである。
制i卸回路10は、たとえばマイクロコンピュータとし
て構成され、A/D変換器101、人出力インターフェ
イス102 、CPt1103の外に、ROM104、
RAM105、バックアップRAM106、クロック発
生回路107等が設けられている。
て構成され、A/D変換器101、人出力インターフェ
イス102 、CPt1103の外に、ROM104、
RAM105、バックアップRAM106、クロック発
生回路107等が設けられている。
また、制御回路10において、ダウンカウンタ108、
フリップフロップ109、および駆動回路110は燃料
噴射弁7を制御するためのものである。
フリップフロップ109、および駆動回路110は燃料
噴射弁7を制御するためのものである。
すなわち、後述のルーチンにおいて、燃料噴射時間TA
Uが演算されると、燃料噴射時間TAUがダウンカウン
タ108 にプリセットされると共にフリップフロップ
109 もセットされる。この結果、駆動回路110が
燃料噴射弁7の付勢を開始する。
Uが演算されると、燃料噴射時間TAUがダウンカウン
タ108 にプリセットされると共にフリップフロップ
109 もセットされる。この結果、駆動回路110が
燃料噴射弁7の付勢を開始する。
他方、ダウンカウンタ108がクロック信号(図示せず
)を計数して最後にそのキャリアウド端子が“1”レベ
ルとなったときに、フリップフロップ109がセットさ
れて駆動回路110は燃料噴射弁7の付勢を停止する。
)を計数して最後にそのキャリアウド端子が“1”レベ
ルとなったときに、フリップフロップ109がセットさ
れて駆動回路110は燃料噴射弁7の付勢を停止する。
つまり、上述の燃料噴射時間TAUだけ燃料噴射弁7は
付勢され、従って、燃料噴射時間TAUに応じた量の燃
料が機関本体1の燃焼室に送り込まれることになる。
付勢され、従って、燃料噴射時間TAUに応じた量の燃
料が機関本体1の燃焼室に送り込まれることになる。
なお、CPU103の割込み発生は、A/D変換器10
1のA/D変換終了時、人出力インターフェイス102
がクランク角センサ6のパルス信号を受信した時、クロ
ック発生回路107からの割込信号を受信した時、等で
ある。
1のA/D変換終了時、人出力インターフェイス102
がクランク角センサ6のパルス信号を受信した時、クロ
ック発生回路107からの割込信号を受信した時、等で
ある。
エアフローメータ3の吸入空気量データCおよび冷却水
温データTHWは所定時間毎に実行されるA/、D変換
ルーチンによって取込まれてRAM105の所定領域に
格納される。つまり、RAM105におけるデータQお
よびTHWは所定時間毎に更新されている。また、回転
速度データNeはクランク角センサ6の30°CA毎の
割込みによって演算されてRAM105の所定領域に格
納される。
温データTHWは所定時間毎に実行されるA/、D変換
ルーチンによって取込まれてRAM105の所定領域に
格納される。つまり、RAM105におけるデータQお
よびTHWは所定時間毎に更新されている。また、回転
速度データNeはクランク角センサ6の30°CA毎の
割込みによって演算されてRAM105の所定領域に格
納される。
第3図は燃料噴射時間演算ルーチンであって、所定クラ
ンク角毎たとえば360℃A毎に実行される。ステップ
901ではRAM105より吸入空気量データQおよび
回転速度データNeを読出して基本燃料噴射時間TAU
Pを演算する。たとえばTAUP←α・Q/Ne(αは
定数)とする。ステップ902にてRAM105より冷
却水温データTHWを読出してROM104に格納され
た1次元マツプにより暖機増量値FWLを補間計算する
。ステップ903では、燃料噴射時間TAUを、 TAU −TAUP −FAF ・(FlliL+
β)+Tにより演算する。なお、β、γは他の運転状態
パラメータによって定まる補正量である。次いで、ステ
ップ904にて、燃料噴射時間TAUをダウンカウンタ
108 にセットすると共にフリップフロップ109を
セットして燃料噴射を開始させる。そして、ステップ9
05にてこのルーチンは終了する。
ンク角毎たとえば360℃A毎に実行される。ステップ
901ではRAM105より吸入空気量データQおよび
回転速度データNeを読出して基本燃料噴射時間TAU
Pを演算する。たとえばTAUP←α・Q/Ne(αは
定数)とする。ステップ902にてRAM105より冷
却水温データTHWを読出してROM104に格納され
た1次元マツプにより暖機増量値FWLを補間計算する
。ステップ903では、燃料噴射時間TAUを、 TAU −TAUP −FAF ・(FlliL+
β)+Tにより演算する。なお、β、γは他の運転状態
パラメータによって定まる補正量である。次いで、ステ
ップ904にて、燃料噴射時間TAUをダウンカウンタ
108 にセットすると共にフリップフロップ109を
セットして燃料噴射を開始させる。そして、ステップ9
05にてこのルーチンは終了する。
なお、上述のごとく、燃料噴射時間TAUに相当する時
間が経過すると、ダウンカウンタ108のキャリアウド
信号によってフリップフロップ109がリセットされて
燃料噴射は終了する。
間が経過すると、ダウンカウンタ108のキャリアウド
信号によってフリップフロップ109がリセットされて
燃料噴射は終了する。
第4図は上流側02センサ13の出力にもとづいて空燃
比補正係数FAFを演算する第1の空燃比フィードバッ
ク制御ルーチンであって、所定時間たとえば4ms毎に
実行される。
比補正係数FAFを演算する第1の空燃比フィードバッ
ク制御ルーチンであって、所定時間たとえば4ms毎に
実行される。
ステップ401では、上流側02センサ13による空燃
比の閉ループ(フィードバック)条件が成立しているか
否かを判別する。たとえば、冷却水温が所定値以下の時
、機関始動中、始動後項量中、暖機増量中、パワー増量
中、上流側0□センサ13の出力信号が一度も反転して
いない時、燃料カット中等はいずれも閉ループ条件が不
成立であり、その他の場合が閉ループ条件成立である。
比の閉ループ(フィードバック)条件が成立しているか
否かを判別する。たとえば、冷却水温が所定値以下の時
、機関始動中、始動後項量中、暖機増量中、パワー増量
中、上流側0□センサ13の出力信号が一度も反転して
いない時、燃料カット中等はいずれも閉ループ条件が不
成立であり、その他の場合が閉ループ条件成立である。
閉ループ条件が不成立のときには、ステップ427に進
んで空燃比補正係数FAFを1.0とする。他方、閉ル
ープ条件成立の場合ステップ430に進む。ステップ4
30では触媒コンバータの触媒が劣化したか否かが判定
可能な運転状態にあるか否かを判断する、判定条件が成
立したか否か判定される。例えば機関回転数Ne′iJ
<N、とN2の間にあり、吸入空気量QがQl とC2
の間にある場合、判定条件を満足すると判定される。す
なわち、アイドル状態、加減速状態、燃料増量域等を除
いた定常状態の場合判定条件を満足すると判定される。
んで空燃比補正係数FAFを1.0とする。他方、閉ル
ープ条件成立の場合ステップ430に進む。ステップ4
30では触媒コンバータの触媒が劣化したか否かが判定
可能な運転状態にあるか否かを判断する、判定条件が成
立したか否か判定される。例えば機関回転数Ne′iJ
<N、とN2の間にあり、吸入空気量QがQl とC2
の間にある場合、判定条件を満足すると判定される。す
なわち、アイドル状態、加減速状態、燃料増量域等を除
いた定常状態の場合判定条件を満足すると判定される。
判定条件不成立の場合、ステップ433に進みスキップ
値係数に1が1.0にされ、ステップ434において積
分値係数に2が1,0とされる。これによって通常の空
燃比補正係数FAFが計算される。一方、判定条件成立
の場合、ステップ431に進みスキップ値係数に1が0
.2にされ、ステップ432において積分値係数に2が
0.3とされる。これによって、後述するスキップ定数
R3R、R3L 、積分定数KIR。
値係数に1が1.0にされ、ステップ434において積
分値係数に2が1,0とされる。これによって通常の空
燃比補正係数FAFが計算される。一方、判定条件成立
の場合、ステップ431に進みスキップ値係数に1が0
.2にされ、ステップ432において積分値係数に2が
0.3とされる。これによって、後述するスキップ定数
R3R、R3L 、積分定数KIR。
KILが減少せしめられる。この理由については後述す
る。なお、スキップ値係数に、および積分値係数に2は
変数であってもよい。
る。なお、スキップ値係数に、および積分値係数に2は
変数であってもよい。
ステップ402では、上流側02センサ13の出力v1
をA/D変換して取込み、ステップ403にてVlが比
較電圧V Rl以下か否かを判別する。つまり、空燃比
がリッチかリーンかを判別する。空燃比がリーン(Vl
≦V Rl )であれば、ステップ404にて第1の
デイレイカウンタC[lLY 1が正か否かを判別し、
C0LY 1 > 0であればステップ405にてCD
LY 1をOとし、ステップ406に進む。ステップ4
06ではCDLY 1が1だけデクリメントされる。
をA/D変換して取込み、ステップ403にてVlが比
較電圧V Rl以下か否かを判別する。つまり、空燃比
がリッチかリーンかを判別する。空燃比がリーン(Vl
≦V Rl )であれば、ステップ404にて第1の
デイレイカウンタC[lLY 1が正か否かを判別し、
C0LY 1 > 0であればステップ405にてCD
LY 1をOとし、ステップ406に進む。ステップ4
06ではCDLY 1が1だけデクリメントされる。
ステップ407 、408では、第1のデイレイカウン
タCDLY 1を最小値TDL 1でガードし、この場
合、第1のデイレイカウンタCDLY 1が最小値TI
LL 1に到達したときにはステップ409にて第1の
空燃比フラグF1を”0” (リーン)とする。なお、
最小値TDL 1は上流側02センサ13の出力におい
てリッチからリーンへの変化があってもリッチ状態であ
るとの判断を保持するためのリーン遅延時間であって、
負の値で定義される。他方、リッチ(Vl >VRI
) 7Qあれば、ステップ410にて第1のデイレイカ
ウンタCDLY 1が負か否かを判別し、CDLY 1
< 0であればステップ411 にてCDLY 1を
Oとし、ステップ412に進む。ステップ412ではC
DLY 1が1だけインクリメントされる。ステップ4
13 、414では、第1のデイレイカウンタCDL
Y 1を最大値TDR1でガードし、この場合、第1の
デイレイカウンタCDLY 1が最大値TDR1に到達
したときにはステップ415にて第1の空燃比フラグF
1を“1” (リッチ)とする。なお、最大値TDRY
1は上流側02センサ13の出力においてリーンから
リッチへの変化があってもリーン状態であるとの判断を
保持するためのリッチ遅延時間であって、正の値で定義
される。
タCDLY 1を最小値TDL 1でガードし、この場
合、第1のデイレイカウンタCDLY 1が最小値TI
LL 1に到達したときにはステップ409にて第1の
空燃比フラグF1を”0” (リーン)とする。なお、
最小値TDL 1は上流側02センサ13の出力におい
てリッチからリーンへの変化があってもリッチ状態であ
るとの判断を保持するためのリーン遅延時間であって、
負の値で定義される。他方、リッチ(Vl >VRI
) 7Qあれば、ステップ410にて第1のデイレイカ
ウンタCDLY 1が負か否かを判別し、CDLY 1
< 0であればステップ411 にてCDLY 1を
Oとし、ステップ412に進む。ステップ412ではC
DLY 1が1だけインクリメントされる。ステップ4
13 、414では、第1のデイレイカウンタCDL
Y 1を最大値TDR1でガードし、この場合、第1の
デイレイカウンタCDLY 1が最大値TDR1に到達
したときにはステップ415にて第1の空燃比フラグF
1を“1” (リッチ)とする。なお、最大値TDRY
1は上流側02センサ13の出力においてリーンから
リッチへの変化があってもリーン状態であるとの判断を
保持するためのリッチ遅延時間であって、正の値で定義
される。
ステップ416では、第1の空燃比フラグF1の符号が
反転したか否かを判別する、すなわち遅延処理後の空燃
比が反転したか否かを判別する。空燃比が反転していれ
ば、ステップ417にて、第1の空燃比フラグF1の値
により、リッチからり−ンへの反転か、リーンからリッ
チへの反転かを判別する。リッチからリーンへの反転で
あれば、ステップ418にてFAF 4−PAP +
k +・R3Rとスキップ的に増大させ、逆に、リーン
からリッチへの反転であれば、ステップ419にてFA
F 4−PAF−k 、 −R3Lとスキップ的に減少
させる。つまり、スキップ処理を行う。この場合前述の
ように、判定条件不成立であればに、は1.0とされ、
判定条件が成立していればに、は0.2とされてスキッ
プ定数R3R。
反転したか否かを判別する、すなわち遅延処理後の空燃
比が反転したか否かを判別する。空燃比が反転していれ
ば、ステップ417にて、第1の空燃比フラグF1の値
により、リッチからり−ンへの反転か、リーンからリッ
チへの反転かを判別する。リッチからリーンへの反転で
あれば、ステップ418にてFAF 4−PAP +
k +・R3Rとスキップ的に増大させ、逆に、リーン
からリッチへの反転であれば、ステップ419にてFA
F 4−PAF−k 、 −R3Lとスキップ的に減少
させる。つまり、スキップ処理を行う。この場合前述の
ように、判定条件不成立であればに、は1.0とされ、
判定条件が成立していればに、は0.2とされてスキッ
プ定数R3R。
R3Lが減少せしめられる。すなわち、判定条件成立時
には判定条件不成立時に比べてスキップ定数R3R、R
3Lが十分に小さくされる。
には判定条件不成立時に比べてスキップ定数R3R、R
3Lが十分に小さくされる。
ステップ412にて第1の空燃比フラグF1の符号が反
転していなければ、ステップ420 、421 。
転していなければ、ステップ420 、421 。
422にて積分処理を行う。つまり、ステップ420に
て、F1=“O”か否かを判別し、F1=“0”(リー
ン)であればステップ421 にてFAF←FAF+に
2・KIRとし、他方、F1=“1” (リッチ)であ
ればステップ422にてFAF −FAF −k2・K
ILきする。この場合前述のように、判定条件不成立で
あればに2は1.0とされ、判定条件が成立していれば
に2は0.3とされて積分定数KIR、KILは減少せ
しめられる。すなわち、判定条件成立時には判定条件不
成立時に比べて積分定数KIR、KILが十分に小さく
される。ここで、積分定数KIR。
て、F1=“O”か否かを判別し、F1=“0”(リー
ン)であればステップ421 にてFAF←FAF+に
2・KIRとし、他方、F1=“1” (リッチ)であ
ればステップ422にてFAF −FAF −k2・K
ILきする。この場合前述のように、判定条件不成立で
あればに2は1.0とされ、判定条件が成立していれば
に2は0.3とされて積分定数KIR、KILは減少せ
しめられる。すなわち、判定条件成立時には判定条件不
成立時に比べて積分定数KIR、KILが十分に小さく
される。ここで、積分定数KIR。
KILはスキップ定数R3R、R5Lに比して十分小さ
く設定してあり、つまり、KIR(KIL) <R3R
(R3L)である。従って、ステップ421はリーン状
態(Fl=“0”)で燃料噴射量を徐々に増大させ、ス
テップ422はリッチ状態(Fl−“1″)で燃料噴射
量を徐々に減少させる。
く設定してあり、つまり、KIR(KIL) <R3R
(R3L)である。従って、ステップ421はリーン状
態(Fl=“0”)で燃料噴射量を徐々に増大させ、ス
テップ422はリッチ状態(Fl−“1″)で燃料噴射
量を徐々に減少させる。
ステップ418 、419 、421 、422にて演
算された空燃比補正係数FAFはステップ423 、4
24にて最小値たとえば0.8にてガードされ、また、
ステップ425.426にて最大値たとえば1.2にて
ガードされる。これにより、何らかの原因で空燃比補正
係数FAFが大きくなり過ぎ、もしくは小さくなり過ぎ
た場合に、その値で機関の空燃比を制御してオーバリッ
チ、オーバリーンになるのを防ぐ。
算された空燃比補正係数FAFはステップ423 、4
24にて最小値たとえば0.8にてガードされ、また、
ステップ425.426にて最大値たとえば1.2にて
ガードされる。これにより、何らかの原因で空燃比補正
係数FAFが大きくなり過ぎ、もしくは小さくなり過ぎ
た場合に、その値で機関の空燃比を制御してオーバリッ
チ、オーバリーンになるのを防ぐ。
上述のごとく演算されたFAFをRAM105に格納し
て、ステップ428にてこのルーチンは終了する。
て、ステップ428にてこのルーチンは終了する。
次に、下流側02センサ15による第2の空燃比フィー
ドバック制御について説明する。第2の空燃比フィード
バック制御としては、第1の空燃比フィードバック制御
定数としてのスキップ量R3R。
ドバック制御について説明する。第2の空燃比フィード
バック制御としては、第1の空燃比フィードバック制御
定数としてのスキップ量R3R。
R3L 、積分定数KIR,KIL遅延時間TDRI。
TDL 1、もしくは上流側02センサ13の出力V+
の比較電圧V Rlを可変にするシステムがある。
の比較電圧V Rlを可変にするシステムがある。
たとえば、リッチスキップ量R3Rを大きくすると、制
御空燃比をリッチ側に移行でき、また、リーンスキップ
量R3Lを小さくしても制御空燃比をリッチ側に移行で
き、他方、リーンスキップ量R3Lを大きくすると、制
御空燃比をリーン側に移行でき、また、リッチスキップ
側に移行できる。従って、下流側02センサ15の出力
に応じてリッチスキップ量R5Rおよびリーンスキップ
量R3Lを補正することにより空燃比が制御できる。
御空燃比をリッチ側に移行でき、また、リーンスキップ
量R3Lを小さくしても制御空燃比をリッチ側に移行で
き、他方、リーンスキップ量R3Lを大きくすると、制
御空燃比をリーン側に移行でき、また、リッチスキップ
側に移行できる。従って、下流側02センサ15の出力
に応じてリッチスキップ量R5Rおよびリーンスキップ
量R3Lを補正することにより空燃比が制御できる。
また、リッチ積分定数KIRを大きくすると、制御空燃
比をリッチ側に移行でき、また、リーン積分定数KIL
を小さくしても制御空燃比をリッチ側に移行でき、他方
、リーン積分定数KILを大きくすると、制御空燃比を
リーン側に移行でき、また、リッチ積分定数KIRを小
さくしても制御空燃比をリーン側に移行できる。従って
、下流側02センサ15の出力に応じてリッチ積分定数
KIRおよびリーン積分定数KILを補正することによ
り空燃比が制御できる。リッチ遅延時間TDR1>リー
ン遅延時間(−TDLI)と設定すれば、制御空燃比は
リッチ側に移行でき、逆に、リーン遅延時間(−TDL
I)>リッチ遅延時間(TDRl)と設定すれば、制御
空燃比はリーン側に移行できる。
比をリッチ側に移行でき、また、リーン積分定数KIL
を小さくしても制御空燃比をリッチ側に移行でき、他方
、リーン積分定数KILを大きくすると、制御空燃比を
リーン側に移行でき、また、リッチ積分定数KIRを小
さくしても制御空燃比をリーン側に移行できる。従って
、下流側02センサ15の出力に応じてリッチ積分定数
KIRおよびリーン積分定数KILを補正することによ
り空燃比が制御できる。リッチ遅延時間TDR1>リー
ン遅延時間(−TDLI)と設定すれば、制御空燃比は
リッチ側に移行でき、逆に、リーン遅延時間(−TDL
I)>リッチ遅延時間(TDRl)と設定すれば、制御
空燃比はリーン側に移行できる。
つまり、下流側02センサ15の出力に応じて遅延時間
TDR1、TDL 1を補正することにより空燃比が制
御できる。さらにまた、比較電圧V B 1を大きくす
ると制御空燃比をリッチ側に移行でき、また、比較電圧
V Rlを小さくすると制御空燃比をリーン側に移行で
きる。従って、下流側02センサ15の出力に応じて比
較電圧V Rlを補正することにより空燃比が制御でき
る。
TDR1、TDL 1を補正することにより空燃比が制
御できる。さらにまた、比較電圧V B 1を大きくす
ると制御空燃比をリッチ側に移行でき、また、比較電圧
V Rlを小さくすると制御空燃比をリーン側に移行で
きる。従って、下流側02センサ15の出力に応じて比
較電圧V Rlを補正することにより空燃比が制御でき
る。
これらスキップ量、積分定数、遅延時間、比較電圧を下
流側02センサによって可変とすることはそれぞれに長
所がある。たとえば、遅延時間は非常に微妙な空燃比の
調整が可能であり、また、スキップ量は、遅延時間のよ
うに空燃比のフィードバック周期を長くすることなくレ
スポンスの良い制御が可能である。従って、これら可変
量は当然2つ以上組み合わされて用いられ得る。
流側02センサによって可変とすることはそれぞれに長
所がある。たとえば、遅延時間は非常に微妙な空燃比の
調整が可能であり、また、スキップ量は、遅延時間のよ
うに空燃比のフィードバック周期を長くすることなくレ
スポンスの良い制御が可能である。従って、これら可変
量は当然2つ以上組み合わされて用いられ得る。
第5図を参照して空燃比フィードバック制御定数として
のスキップ量を可変にしたダブル02センサシステムに
ついて説明する。
のスキップ量を可変にしたダブル02センサシステムに
ついて説明する。
第5図は下流側02センサ15の出力にもとづいてスキ
ップ量R3R、R3Lを演算する第2の空燃比フィード
バック制御ルーチンであって、所定時間たとえばIS毎
に実行される。ステップ601では、下流側02センサ
15による閉ループ条件か否かを判別する。たとえば、
冷却水温が所定値以下の時、過渡運転時、上流側02セ
ンサ13による空燃比フィードバック制御条件不成立等
はいずれも閉ループ条件が不成立であり、その他の場合
が閉ループ条件成立である。閉ループ条件でなければス
テップ630.631 に進み、スキップ量R3R、R
3LをRAM105に格納されている値または一定値た
とえば5%、あるいはバックアップRAM106に格納
されている値とする。
ップ量R3R、R3Lを演算する第2の空燃比フィード
バック制御ルーチンであって、所定時間たとえばIS毎
に実行される。ステップ601では、下流側02センサ
15による閉ループ条件か否かを判別する。たとえば、
冷却水温が所定値以下の時、過渡運転時、上流側02セ
ンサ13による空燃比フィードバック制御条件不成立等
はいずれも閉ループ条件が不成立であり、その他の場合
が閉ループ条件成立である。閉ループ条件でなければス
テップ630.631 に進み、スキップ量R3R、R
3LをRAM105に格納されている値または一定値た
とえば5%、あるいはバックアップRAM106に格納
されている値とする。
ステップ601にて閉ループ条件が成立した場合には、
ステップ640に進み判定条件が成立しているか否か判
定される。この判定条件は第4図のステップ430に示
す判定条件と同様である。判定条件が成立している場合
にはステップ630 、631に進み、スキップ量R
3R、R3Lが一定値とされる。
ステップ640に進み判定条件が成立しているか否か判
定される。この判定条件は第4図のステップ430に示
す判定条件と同様である。判定条件が成立している場合
にはステップ630 、631に進み、スキップ量R
3R、R3Lが一定値とされる。
すなわち判定条件が成立している場合にはスキップ量R
3R、R3Lを一定値として下流側02センサ15によ
るフィードバック制御を実行しない。
3R、R3Lを一定値として下流側02センサ15によ
るフィードバック制御を実行しない。
ステップ640において判定条件不成立の場合には、ス
テップ602にて下流側02センサ15の出力V2をΔ
/D変換して取込み、ステップ603にてv2が比較電
圧V Hまたとえば0.55V以下か否かを判別する、
つまり、空燃比がリッチがリーンがを判別する。なお、
比較電圧VR2は触媒コンバータ12の上流、下流で生
ガスの影響による出力特性が異なることおよび劣化速度
が異なること等を考慮して上流側02センサ13の出力
の比較電圧VRIより高く設定される。
テップ602にて下流側02センサ15の出力V2をΔ
/D変換して取込み、ステップ603にてv2が比較電
圧V Hまたとえば0.55V以下か否かを判別する、
つまり、空燃比がリッチがリーンがを判別する。なお、
比較電圧VR2は触媒コンバータ12の上流、下流で生
ガスの影響による出力特性が異なることおよび劣化速度
が異なること等を考慮して上流側02センサ13の出力
の比較電圧VRIより高く設定される。
ステップ604〜615 は第4図のステップ404〜
415と同様、空燃比判定結果を遅延処理するためのも
のである。すなわち、リッチ遅延時間TDR2、リーン
遅延時間TDL 2をもとに第2の空燃比フラグF2が
設定される。
415と同様、空燃比判定結果を遅延処理するためのも
のである。すなわち、リッチ遅延時間TDR2、リーン
遅延時間TDL 2をもとに第2の空燃比フラグF2が
設定される。
ステップ617にて第2の空燃比フラグF2により遅延
処理後の空燃比を判別する。この結果、F2=“0”
(リーン)であればステップ618〜623に進み、他
方、F2=“1” (リッチ)であればステップ624
〜629に進む。
処理後の空燃比を判別する。この結果、F2=“0”
(リーン)であればステップ618〜623に進み、他
方、F2=“1” (リッチ)であればステップ624
〜629に進む。
ステップ618では、R3H4−R3R+△R3(一定
値たとえば0.08%)とし、つまり、リッチスキップ
量R3Rを増大させて空燃比をリッチ側に移行させる。
値たとえば0.08%)とし、つまり、リッチスキップ
量R3Rを増大させて空燃比をリッチ側に移行させる。
ステップ619.620ではR3Hを最大値MAXたと
えば6.2%にてガードする。さらに、ステップ621
にてR3H−R3L−△R3とし、つまり、リッチス
キップ量R5Lを減少させて空燃比をリッチ側に移行さ
せる。ステップ622.623では、R3Lを最小値M
INたとえば2.5%にてガードする。
えば6.2%にてガードする。さらに、ステップ621
にてR3H−R3L−△R3とし、つまり、リッチス
キップ量R5Lを減少させて空燃比をリッチ側に移行さ
せる。ステップ622.623では、R3Lを最小値M
INたとえば2.5%にてガードする。
他方、F2=“1” (リッチ)のときには、ステップ
624 にてR2H−R2H−△R8とし、つまり、リ
ッチスキップ1iR3Rを減少させて空燃比をリーン側
に移行させる。ステップ625 、626では、R3
Hを最小値MINにてガードする。さらに、ステップ6
27 にてR3L←R3L+△R5とし、つまり、リー
ンスキップ量R5Lを増加させて空燃比をリーン側に移
行させる。ステップ628.629では、R3Lを最大
値MAXにてガードする。
624 にてR2H−R2H−△R8とし、つまり、リ
ッチスキップ1iR3Rを減少させて空燃比をリーン側
に移行させる。ステップ625 、626では、R3
Hを最小値MINにてガードする。さらに、ステップ6
27 にてR3L←R3L+△R5とし、つまり、リー
ンスキップ量R5Lを増加させて空燃比をリーン側に移
行させる。ステップ628.629では、R3Lを最大
値MAXにてガードする。
上述のごとく演算されたR3H、R3LはRAM105
に格納された後に、ステップ632にてこのルーチンは
終了する。
に格納された後に、ステップ632にてこのルーチンは
終了する。
なお、空燃比フィードバック中に演算されたFAF 、
R2H、R3Lは一旦他の値FAF’ 、 R3R
’ 。
R2H、R3Lは一旦他の値FAF’ 、 R3R
’ 。
R3L’に変換してバックアップRAM106に格納す
ることもでき、これにより、再始動時等における運転性
向上にも役立つものである。第5図における最小値MI
Nは過渡追従性がそこなわれないレベルの値であり、ま
た、最大値MAXは空燃比変動によりドライバビリティ
の悪化が発生しないレベルの値である。
ることもでき、これにより、再始動時等における運転性
向上にも役立つものである。第5図における最小値MI
Nは過渡追従性がそこなわれないレベルの値であり、ま
た、最大値MAXは空燃比変動によりドライバビリティ
の悪化が発生しないレベルの値である。
このように、第5図のルーチンによれば、下流側02セ
ンサ15の出力がリーンであれば、リッチスキップ量R
3Rが徐々に増大され、且つリーンスキップ量R3Lが
徐々に減少され、これにより、空燃比はリッチ側へ移行
される。また、下流側02センサ15の出力がリッチで
あれば、リッチスキップ量R3Rが徐々に減少され、且
つリーンスキップ量R3Lが徐々に増大され、これによ
り、空燃比はリーン側へ移行される。
ンサ15の出力がリーンであれば、リッチスキップ量R
3Rが徐々に増大され、且つリーンスキップ量R3Lが
徐々に減少され、これにより、空燃比はリッチ側へ移行
される。また、下流側02センサ15の出力がリッチで
あれば、リッチスキップ量R3Rが徐々に減少され、且
つリーンスキップ量R3Lが徐々に増大され、これによ
り、空燃比はリーン側へ移行される。
次に従来の触媒劣化の判定について説明する。
第6図を参照すると、上流側0.センサ13の出力信号
は比較電圧V Rlの周りをリッチ側とリーン側に交互
に振れており、これに応じて空燃比補正係数FAFも変
化している。触媒の02ストレージ量は上流側02セン
サ13の出力に対し遅れて変化する。t1時点でリーン
からす・ソチに変化すると、触媒上流側空燃比はリーン
方向へ制御され、02ストレージ量は次第に増加し、や
がて触媒の劣化程度が小程、大となる0゜ストレージ最
大量に達する。t2時点で、上流側02センサ信号がリ
ッチからリーンに反転すると、上流側空燃比はリッチ方
向に制御され、よって、触媒内02ストレージ量も次第
に減少し始める。t3時点にて02ストレージ量が0に
なると、下流側02センサ15の出力信号が増大し始め
る。次いで上流側0□センサ13の出力信号がリーンか
らり・ソチに変化すると、t9時点で02ストレージ量
が増大し始め、下流側0゜センサ15の出力信号はOと
なる。
は比較電圧V Rlの周りをリッチ側とリーン側に交互
に振れており、これに応じて空燃比補正係数FAFも変
化している。触媒の02ストレージ量は上流側02セン
サ13の出力に対し遅れて変化する。t1時点でリーン
からす・ソチに変化すると、触媒上流側空燃比はリーン
方向へ制御され、02ストレージ量は次第に増加し、や
がて触媒の劣化程度が小程、大となる0゜ストレージ最
大量に達する。t2時点で、上流側02センサ信号がリ
ッチからリーンに反転すると、上流側空燃比はリッチ方
向に制御され、よって、触媒内02ストレージ量も次第
に減少し始める。t3時点にて02ストレージ量が0に
なると、下流側02センサ15の出力信号が増大し始め
る。次いで上流側0□センサ13の出力信号がリーンか
らり・ソチに変化すると、t9時点で02ストレージ量
が増大し始め、下流側0゜センサ15の出力信号はOと
なる。
触媒の劣化がない場合、02をストレージできる最大量
、すなわち0゜ストレージ最大量が大きいために、触媒
の02ストレージ量がOとなる時間(t3 t4間)
が短かくなり、このため下流側02センサ15の出力信
号が比較電圧V R2を越える機会はほとんどない。従
って、触媒が劣化していない場合には、上流側02セン
サ13の出力信号がリッチ側とリーン側に反転する周波
数に比較して下流側02センサ15の出力信号がリッチ
側とIJ−ン側に反転する周波数(以下「反転周波数」
という)がかなり低くなる。
、すなわち0゜ストレージ最大量が大きいために、触媒
の02ストレージ量がOとなる時間(t3 t4間)
が短かくなり、このため下流側02センサ15の出力信
号が比較電圧V R2を越える機会はほとんどない。従
って、触媒が劣化していない場合には、上流側02セン
サ13の出力信号がリッチ側とリーン側に反転する周波
数に比較して下流側02センサ15の出力信号がリッチ
側とIJ−ン側に反転する周波数(以下「反転周波数」
という)がかなり低くなる。
一方、触媒が劣化してHCの浄化率が例えば80%とな
った場合には、第7図に示すように、02ストレージ最
大量がかなり低下するために、触媒の02ストレージ量
が0となる時間(i3 j。
った場合には、第7図に示すように、02ストレージ最
大量がかなり低下するために、触媒の02ストレージ量
が0となる時間(i3 j。
間)が増大し、このため下流側02センサ15の出力信
号が比較電圧VR2を越える機会が増大する。
号が比較電圧VR2を越える機会が増大する。
従って、触媒が劣化すると、下流側02センサ15の出
力信号の反転周波数が増大する。従って上流側02セン
サ13の反転周波数と下流側02センサ15の反転周波
数との比をとれば触媒の劣化を検出することができる。
力信号の反転周波数が増大する。従って上流側02セン
サ13の反転周波数と下流側02センサ15の反転周波
数との比をとれば触媒の劣化を検出することができる。
触媒がさらに劣化してHC浄化率が例えば40%〜50
%となった場合には、第8図に示すように、0□ストレ
ージ最大量はさらに低下するが、0□ストレージ量が0
となる時間(t3 tt間)は第7図同様光分に長く
、この間に下流側02センサ出力は比較電圧を越えてし
まう。これは、FAFの変化率、すなわちスキップ定数
および積分定数が大きいために、空燃比の変化率が大き
くなり、このため触媒の02ストレージ量の変化率が大
きいためである。従って触媒が大きく劣化した場合(第
8図)を、触媒の劣化が比較的小さい場合(第7図)と
区別して判定することができないという問題を生ずる。
%となった場合には、第8図に示すように、0□ストレ
ージ最大量はさらに低下するが、0□ストレージ量が0
となる時間(t3 tt間)は第7図同様光分に長く
、この間に下流側02センサ出力は比較電圧を越えてし
まう。これは、FAFの変化率、すなわちスキップ定数
および積分定数が大きいために、空燃比の変化率が大き
くなり、このため触媒の02ストレージ量の変化率が大
きいためである。従って触媒が大きく劣化した場合(第
8図)を、触媒の劣化が比較的小さい場合(第7図)と
区別して判定することができないという問題を生ずる。
このため本実施例では触媒劣化を判定する場合には、空
燃比補正係数FAFの変化率、すなわちスキップ定数お
よび積分定数を減少せしめ、これによって空燃比の変化
率を小さくすることによって、触媒の02ストレージ量
の変化率が小さくなるようにしている。すなわち、第4
図に示すルーチンにおいて、触媒の劣化判定条件成立時
には、ステップ431においてに1を0.2とし、ステ
ップ432においてに2を0.3とすることによってス
キップ定数および積分定数を減少せしめている。
燃比補正係数FAFの変化率、すなわちスキップ定数お
よび積分定数を減少せしめ、これによって空燃比の変化
率を小さくすることによって、触媒の02ストレージ量
の変化率が小さくなるようにしている。すなわち、第4
図に示すルーチンにおいて、触媒の劣化判定条件成立時
には、ステップ431においてに1を0.2とし、ステ
ップ432においてに2を0.3とすることによってス
キップ定数および積分定数を減少せしめている。
これによって第9図に示されるように、空燃比補正係数
FAFの変化率が小さくなり、上流側02センサ13の
出力信号の変化率も小さくなる。
FAFの変化率が小さくなり、上流側02センサ13の
出力信号の変化率も小さくなる。
従って02ストレージ量の変化率も小さくなり、触媒が
劣化しても、劣化程度が小さい場合には02ストレージ
量がOとなる時間が短くなり、このため下流側02セン
サ15の出力信号が比較電圧VR2を越える機会はほと
んどない。従って、触媒の劣化が小さい場合には、上流
側02センサ13の出力信号の反転周波数に比較して下
流側02センサ15の出力信号の反転周波数はかなり低
くなる。
劣化しても、劣化程度が小さい場合には02ストレージ
量がOとなる時間が短くなり、このため下流側02セン
サ15の出力信号が比較電圧VR2を越える機会はほと
んどない。従って、触媒の劣化が小さい場合には、上流
側02センサ13の出力信号の反転周波数に比較して下
流側02センサ15の出力信号の反転周波数はかなり低
くなる。
一方、触媒の劣化が大きくなった場合には、第10図に
示すように、02ストレージ最大量が低下するために、
触媒の02ストレージ量が0となる時間(t3 ta
間)が増大し、このため下流側○2センサ15の出力信
号が比較電圧VR2を越える機会が増大する。従って上
流側02センサ13の反転周波数と下流側02センサ1
5の反転周波数との比をとれば触媒の大きな劣化を判定
することができる。
示すように、02ストレージ最大量が低下するために、
触媒の02ストレージ量が0となる時間(t3 ta
間)が増大し、このため下流側○2センサ15の出力信
号が比較電圧VR2を越える機会が増大する。従って上
流側02センサ13の反転周波数と下流側02センサ1
5の反転周波数との比をとれば触媒の大きな劣化を判定
することができる。
第11図には触媒劣化判定ルーチンを示す。このルーチ
ンは例えば4ms毎の割込みによって実行される。第4
図を参照すると、まずステップ501 において判定条
件が成立したか否か判定される。この判定条件は第4図
のステップ430に示す判定条件と同様である。判定条
件が不成立の場合、ステップ516および517に進み
第1カウンタCMおよび第2カウンタC8がクリアされ
る。判定条件成立の場合ステップ502に進み、上流側
02センサ13ノ出力V、が比較電圧V Rl、例、t
ば0.45V以下か否か、すなわち、空燃比がリーンか
リッチか判定される。Vl ≦VRIであればステップ
503 に進み、前回の処理サイクルにおける上流側0
2センサ13の出力VIBが比較電圧V Rl以下か否
か判定される。V ) B > V HIのとき、ステ
ップ504 に進み、第1カウンタCMが1だけインク
リメントされる。
ンは例えば4ms毎の割込みによって実行される。第4
図を参照すると、まずステップ501 において判定条
件が成立したか否か判定される。この判定条件は第4図
のステップ430に示す判定条件と同様である。判定条
件が不成立の場合、ステップ516および517に進み
第1カウンタCMおよび第2カウンタC8がクリアされ
る。判定条件成立の場合ステップ502に進み、上流側
02センサ13ノ出力V、が比較電圧V Rl、例、t
ば0.45V以下か否か、すなわち、空燃比がリーンか
リッチか判定される。Vl ≦VRIであればステップ
503 に進み、前回の処理サイクルにおける上流側0
2センサ13の出力VIBが比較電圧V Rl以下か否
か判定される。V ) B > V HIのとき、ステ
ップ504 に進み、第1カウンタCMが1だけインク
リメントされる。
VIB≦VRIのとき、ステップ504はスキップされ
る。一方、ステップ502において、v、>V、、と判
定された場合、ステップ505に進み、V1B≦V R
lか否か判定される。VIB≦Vil+のとき、ステッ
プ504に進み第1カウンタCMが1だけインクリメン
トされる。VIB>VRIのとき、ステップ504はス
キップされる。すなわち、前回の処理サイクルと今回の
処理サイクルの間で、上流側02センサ13によって検
出された空燃比がリーンからリッチにあるいはリッチか
らリーンに反転した場合だけ第1カウンタCMが1だけ
インクリメントされる。すなわち、カウンタCMは上流
側02センサ13の出力信号の反転回数を示し、単位時
間で見れば、反転周波数を示すことになる。
る。一方、ステップ502において、v、>V、、と判
定された場合、ステップ505に進み、V1B≦V R
lか否か判定される。VIB≦Vil+のとき、ステッ
プ504に進み第1カウンタCMが1だけインクリメン
トされる。VIB>VRIのとき、ステップ504はス
キップされる。すなわち、前回の処理サイクルと今回の
処理サイクルの間で、上流側02センサ13によって検
出された空燃比がリーンからリッチにあるいはリッチか
らリーンに反転した場合だけ第1カウンタCMが1だけ
インクリメントされる。すなわち、カウンタCMは上流
側02センサ13の出力信号の反転回数を示し、単位時
間で見れば、反転周波数を示すことになる。
ステップ506では今回の処理サイクルにおける上流側
0□センサ13の出力vIがVIBに格納される。ステ
ップ507では下流側02センサ15の出力V2が比較
電圧VR2、例えば0.45V以下か否か、すなわち、
空燃比がリーンかリッチか判定される。
0□センサ13の出力vIがVIBに格納される。ステ
ップ507では下流側02センサ15の出力V2が比較
電圧VR2、例えば0.45V以下か否か、すなわち、
空燃比がリーンかリッチか判定される。
V2≦VR2てあればステップ508に進み、前回の処
理サイクルにおける下流側02センサ15の出力V2B
が比較電圧VR2以下か否か判定される。V2゜〉■、
2のとき、ステップ509に進み、第2カウンタC3が
1だけインクリメントされる。V2B≦VR2のとき、
ステップ509 はスキップされる。−方、ステップ5
07 において、V2 >Vl2と判定された場合、ス
テップ510に進み、V2B≦VR2か否か判定される
。V2B≦VR2のとき、ステップ509に進み第2カ
ウンタC8が1だけインクリメントされる。V 2B
> Vl2のとき、ステップ509 はスキップされる
。すなわち、前回の処理サイクルと今回の処理サイクル
の間で、下流側02センサ15によって検出された空燃
比がリーンからリッチにあるいはリッチからリーンに反
転した場合だけ第2カウンタC3が1だけインクリメン
トされる。すなわち、カウンタC8は下流側02センサ
15の出力信号の反転回数を示し、単位時間で見れば、
反転周波数を示すことになる。
理サイクルにおける下流側02センサ15の出力V2B
が比較電圧VR2以下か否か判定される。V2゜〉■、
2のとき、ステップ509に進み、第2カウンタC3が
1だけインクリメントされる。V2B≦VR2のとき、
ステップ509 はスキップされる。−方、ステップ5
07 において、V2 >Vl2と判定された場合、ス
テップ510に進み、V2B≦VR2か否か判定される
。V2B≦VR2のとき、ステップ509に進み第2カ
ウンタC8が1だけインクリメントされる。V 2B
> Vl2のとき、ステップ509 はスキップされる
。すなわち、前回の処理サイクルと今回の処理サイクル
の間で、下流側02センサ15によって検出された空燃
比がリーンからリッチにあるいはリッチからリーンに反
転した場合だけ第2カウンタC3が1だけインクリメン
トされる。すなわち、カウンタC8は下流側02センサ
15の出力信号の反転回数を示し、単位時間で見れば、
反転周波数を示すことになる。
ステップ511では今回の処理サイクルにおける下流側
0□センサ15の出力V2がV2Bに格納される。ステ
ップ512では第1カウンタCMが判定可能な設定値n
に達したか否か判定される。ここでnは例えば50とさ
れる。CM<nの場合には本ルーチンを終了する。一方
、CM≧nの場合、ステップ513に進んで第2カウン
タC8と第1カウンタCMの比C3/CMが予め定めら
れた値に以上か否か判定される。触媒が劣化していない
状態では下流側02センサ15の出力信号の反転周波数
は低く、従って第2カウンタC8は第1カウンタCMに
比較して十分に小さい。このためC3/CMはに以下と
なり、ステップ515に進んで正常判定がなされる。一
方、触媒が劣化すると下流側0□センサ15の出力信号
の反転周波数が高くなるためC3/CMはに以上となる
。このためステップ514に進んで異常判定がなされア
ラーム16が点灯せしめられる。次いでステップ516
で第1カウンタCMがクリアされ、ステップ517で第
2カウンタC8がクリアされる。
0□センサ15の出力V2がV2Bに格納される。ステ
ップ512では第1カウンタCMが判定可能な設定値n
に達したか否か判定される。ここでnは例えば50とさ
れる。CM<nの場合には本ルーチンを終了する。一方
、CM≧nの場合、ステップ513に進んで第2カウン
タC8と第1カウンタCMの比C3/CMが予め定めら
れた値に以上か否か判定される。触媒が劣化していない
状態では下流側02センサ15の出力信号の反転周波数
は低く、従って第2カウンタC8は第1カウンタCMに
比較して十分に小さい。このためC3/CMはに以下と
なり、ステップ515に進んで正常判定がなされる。一
方、触媒が劣化すると下流側0□センサ15の出力信号
の反転周波数が高くなるためC3/CMはに以上となる
。このためステップ514に進んで異常判定がなされア
ラーム16が点灯せしめられる。次いでステップ516
で第1カウンタCMがクリアされ、ステップ517で第
2カウンタC8がクリアされる。
以上のように本実施例によれば、触媒劣化判定時にはス
キップ定数および積分定数を減少せしすることによって
、触媒の大きな劣化(HC浄化率40〜50%以下)を
判定することができる。
キップ定数および積分定数を減少せしすることによって
、触媒の大きな劣化(HC浄化率40〜50%以下)を
判定することができる。
尚、本実施例では、02センサ出力の反転回数(反転周
波数)を検出したが、02センサ出力の反転に要する時
間(反転周期)でも同様に、触媒の劣化を検出できる。
波数)を検出したが、02センサ出力の反転に要する時
間(反転周期)でも同様に、触媒の劣化を検出できる。
又、触媒劣化判定の為の第11図の比較電圧V R2は
、第5図のフィードバックの為の比較電圧VR2と異な
る値としてもよい。
、第5図のフィードバックの為の比較電圧VR2と異な
る値としてもよい。
更に、第11図の比較電圧VR2を複数有し、おのおの
の比較電圧を下流側02センサ出力が横切る周波数によ
り、触媒の劣化の程度を識別し、表示することも可能で
ある。同様に、第11図の比較電圧VR2は、一つにし
ておき、第4図のスキップ値係数に1積分値係数に2を
複数持たせ、その各々の係数で空燃比制御した場合の下
流02センサ出力の反転回数から触媒の劣化の程度を識
別することも可能である。また、本実施例では、下流側
02センサ出力反転周波数と上流側02センサ出力反転
周波数の比をとって、その比が所定値より大か否かで触
媒の劣化を判断しているが、単に下流側02センサ出力
反転周波数が所定値より大か否かを判断し、大の時、触
媒が大きく劣化したと判断してやることも出来る。
の比較電圧を下流側02センサ出力が横切る周波数によ
り、触媒の劣化の程度を識別し、表示することも可能で
ある。同様に、第11図の比較電圧VR2は、一つにし
ておき、第4図のスキップ値係数に1積分値係数に2を
複数持たせ、その各々の係数で空燃比制御した場合の下
流02センサ出力の反転回数から触媒の劣化の程度を識
別することも可能である。また、本実施例では、下流側
02センサ出力反転周波数と上流側02センサ出力反転
周波数の比をとって、その比が所定値より大か否かで触
媒の劣化を判断しているが、単に下流側02センサ出力
反転周波数が所定値より大か否かを判断し、大の時、触
媒が大きく劣化したと判断してやることも出来る。
また、本実施例においては触媒劣化判定時にはスキップ
定数および積分定数の両者を減少せしめるようにしてい
るが、いずれか一方だけを減少せしめるようにしてもよ
い。
定数および積分定数の両者を減少せしめるようにしてい
るが、いずれか一方だけを減少せしめるようにしてもよ
い。
触媒の02ストレージ量の変化率が小さくなるために、
第2の空燃比検出手段の出力信号の反転周波数によって
、触媒の大きい劣化を判定することができる。
第2の空燃比検出手段の出力信号の反転周波数によって
、触媒の大きい劣化を判定することができる。
第1図は発明の構成図、第2図は本発明の触媒劣化判定
装置を備えた内燃機関の全体図、第3図は燃料噴射時間
を計算するだめのフローチャート、第4図は第1の空燃
比フィードバック制御を実行するためのフローチャート
、第5図は第2の空燃比フィードバック制御を実行する
ためのフローチャート、第6図から第8図は従来の触媒
劣化判定を説明するための図、第9図および第10図は
本発明の一実施例の触媒劣化判定を説明するための図、
第11図は触媒劣化判定を実行するためのフローチャー
トである。 1・・・機関本体、 12・・・触媒コンバータ、1
3・・・上流側02センサ、 15・・・下流側02センサ。
装置を備えた内燃機関の全体図、第3図は燃料噴射時間
を計算するだめのフローチャート、第4図は第1の空燃
比フィードバック制御を実行するためのフローチャート
、第5図は第2の空燃比フィードバック制御を実行する
ためのフローチャート、第6図から第8図は従来の触媒
劣化判定を説明するための図、第9図および第10図は
本発明の一実施例の触媒劣化判定を説明するための図、
第11図は触媒劣化判定を実行するためのフローチャー
トである。 1・・・機関本体、 12・・・触媒コンバータ、1
3・・・上流側02センサ、 15・・・下流側02センサ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 内燃機関の排気通路に設けられた排気ガス浄化のための
触媒コンバータと、 該触媒コンバータの上流側および下流側の排気通路に夫
々設けられた第1および第2の空燃比検出手段と、 前記第1の空燃比検出手段の出力信号に基づいて空燃比
補正係数を計算するための空燃比補正係数計算手段と、 該空燃比補正係数に基づいて空燃比が予め定められた目
標空燃比となるように制御する空燃比制御手段と、 機関運転状態が、前記触媒コンバータの触媒が劣化した
か否か判定可能な予め定められた運転状態であるか否か
判定する運転状態判定手段と、前記機関運転状態が前記
予め定められた運転状態にあるときに前記空燃比補正係
数の変化率を減少せしめる変化率減少手段と、 前記機関運転状態が前記予め定められた運転状態にある
ときに前記第2の空燃比検出手段の出力信号の反転周波
数が所定周波数より高い場合に前記触媒が劣化したと判
定する触媒劣化判定手段と、を具備する内燃機関の触媒
劣化判定装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2312794A JPH0726580B2 (ja) | 1990-11-20 | 1990-11-20 | 内燃機関の触媒劣化判定装置 |
| US07/793,103 US5165230A (en) | 1990-11-20 | 1991-11-15 | Apparatus for determining deterioration of three-way catalyst of internal combustion engine |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2312794A JPH0726580B2 (ja) | 1990-11-20 | 1990-11-20 | 内燃機関の触媒劣化判定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04187848A true JPH04187848A (ja) | 1992-07-06 |
| JPH0726580B2 JPH0726580B2 (ja) | 1995-03-29 |
Family
ID=18033488
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2312794A Expired - Lifetime JPH0726580B2 (ja) | 1990-11-20 | 1990-11-20 | 内燃機関の触媒劣化判定装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5165230A (ja) |
| JP (1) | JPH0726580B2 (ja) |
Cited By (3)
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|---|---|---|---|---|
| JPH06317144A (ja) * | 1992-08-27 | 1994-11-15 | Nippondenso Co Ltd | エンジン用触媒劣化検出装置 |
| JP2000314344A (ja) * | 1992-08-27 | 2000-11-14 | Denso Corp | エンジン用触媒劣化検出装置 |
| JP2009524756A (ja) * | 2005-12-05 | 2009-07-02 | ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | 内燃機関の排ガス領域内に配置された触媒を診断する方法、および、該方法を実施するための装置 |
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| JPH06129285A (ja) * | 1992-10-20 | 1994-05-10 | Honda Motor Co Ltd | 内燃機関の空燃比制御装置 |
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| JP2626433B2 (ja) * | 1992-12-09 | 1997-07-02 | トヨタ自動車株式会社 | 触媒劣化検出装置 |
| JP3493698B2 (ja) * | 1993-01-26 | 2004-02-03 | 株式会社デンソー | 内燃機関の点火時期制御装置 |
| JP3179920B2 (ja) * | 1993-02-12 | 2001-06-25 | 株式会社日立製作所 | 内燃機関の触媒診断装置 |
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