JPH041929B2 - - Google Patents
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- JPH041929B2 JPH041929B2 JP2274284A JP2274284A JPH041929B2 JP H041929 B2 JPH041929 B2 JP H041929B2 JP 2274284 A JP2274284 A JP 2274284A JP 2274284 A JP2274284 A JP 2274284A JP H041929 B2 JPH041929 B2 JP H041929B2
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 32
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 17
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 11
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 9
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
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Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、光ビームを光学的に読取り可能な情
報記録担体に集束照射して記録情報を再生する方
法に係り、特に情報トラツクを追従走査する為に
必要なトラツキング誤差信号生成方法に関する。
報記録担体に集束照射して記録情報を再生する方
法に係り、特に情報トラツクを追従走査する為に
必要なトラツキング誤差信号生成方法に関する。
一般に、音声・映像及び各種データの情報を光
学的形態の変化、例えばピツトの有無の形で記録
担体に記録し、これに光ビームを微小スポツトで
照射して記録されている情報を読取るものとして
光学式情報再生（記録）装置が知られている。こ
のような装置としては、例えばコンパクトデイス
ク、ビデオデイスクの呼称で知られる光デイスク
がある。この光デイスク等の光学式情報再生装置
に於いては、情報記録担体上の情報を正確に読み
取るための条件の一つとして、光ビームが情報ト
ラツク（ピツト列）の中心を正確に走査するよう
に光ビームの照射位置を制御する、いわゆる自動
トラツク走査制御（以下トラツキングサーボと称
する）を行なうことが必要である。このトラツキ
ングサーボには、トラツク中心と光ビームの照射
位置とのずれ（トラツキング誤差）に応じたトラ
ツキング誤差信号を必要とする。このトラツキン
グ誤差信号を得る方法として、トラツクの接線方
向で２分された受光面をもつ光検出器で情報記録
担体からの反射光を検出し、その出力信号の差動
信号をトラツキング誤差信号とする方法（Push
−Pull法）が知られている。
学的形態の変化、例えばピツトの有無の形で記録
担体に記録し、これに光ビームを微小スポツトで
照射して記録されている情報を読取るものとして
光学式情報再生（記録）装置が知られている。こ
のような装置としては、例えばコンパクトデイス
ク、ビデオデイスクの呼称で知られる光デイスク
がある。この光デイスク等の光学式情報再生装置
に於いては、情報記録担体上の情報を正確に読み
取るための条件の一つとして、光ビームが情報ト
ラツク（ピツト列）の中心を正確に走査するよう
に光ビームの照射位置を制御する、いわゆる自動
トラツク走査制御（以下トラツキングサーボと称
する）を行なうことが必要である。このトラツキ
ングサーボには、トラツク中心と光ビームの照射
位置とのずれ（トラツキング誤差）に応じたトラ
ツキング誤差信号を必要とする。このトラツキン
グ誤差信号を得る方法として、トラツクの接線方
向で２分された受光面をもつ光検出器で情報記録
担体からの反射光を検出し、その出力信号の差動
信号をトラツキング誤差信号とする方法（Push
−Pull法）が知られている。
しかしながら差動信号をトラツキング誤差信号
とする方法は、記録担体の傾きやトラツキングサ
ーボの駆動方式による駆動部の偏位の影響が本来
のトラツキング誤差に重畳されてしまう場合があ
る。以下このことを第１図、第２図を用いて説明
する。第１図はデイスク等の記録担体の傾きの影
響がトラツキング誤差に重畳される場合を示して
いる。この場合の光学系は、先ず第１図ａに示す
ように光源１から出射された光ビームがコリメー
シヨンレンズ２で平行ビームとされた後ビームス
プリツタ３を経て対物レンズ４で集束されて情報
記録担体５に照射される。情報記録担体５から反
射された反射光は再び対物レンズ４を経た後ビー
ムスプリツタ３で反射されて第１図ｂに示すよう
に光検出器６へ導かれて検出される。光検出器６
の受光面は少なくとも情報記録担体５の情報トラ
ツクの接線方向で２分されており、２分された各
部６ａ，６ｂの光電流の差動信号を得ることでト
ラツキング誤差信号を得るようになつている。と
ころが、デイスク等の記録担体５が第１図ａに示
すように傾いているとすると光検出器６の受光面
６ａ，６ｂ上に照射される光ビームは第１図ｂに
破線で示すように中央からシフトしてしまう。こ
のため光検出器６から得られるトラツキング誤差
信号に上記シフトによる差分が重畳されてしま
う。第２図は駆動部の偏差の影響がトラツキング
誤差に重畳される場合を示している。光学系は第
１図に示すものと同様のものであるが、トラツキ
ングサーボの駆動方式として対物レンズを駆動さ
せる駆動部７を設けている。ところが、この駆動
部７により対物レンズ４がトラツキング方向（ト
ラツクの接線方向に垂直な方向）に偏位している
と、第２図ｂに破線で示すように受光面６ａ，６
ｂ上に照射される光ビームは中央からシフトし、
トラツキング誤差信号にこのシフトによる差分が
重畳されてしまう。
とする方法は、記録担体の傾きやトラツキングサ
ーボの駆動方式による駆動部の偏位の影響が本来
のトラツキング誤差に重畳されてしまう場合があ
る。以下このことを第１図、第２図を用いて説明
する。第１図はデイスク等の記録担体の傾きの影
響がトラツキング誤差に重畳される場合を示して
いる。この場合の光学系は、先ず第１図ａに示す
ように光源１から出射された光ビームがコリメー
シヨンレンズ２で平行ビームとされた後ビームス
プリツタ３を経て対物レンズ４で集束されて情報
記録担体５に照射される。情報記録担体５から反
射された反射光は再び対物レンズ４を経た後ビー
ムスプリツタ３で反射されて第１図ｂに示すよう
に光検出器６へ導かれて検出される。光検出器６
の受光面は少なくとも情報記録担体５の情報トラ
ツクの接線方向で２分されており、２分された各
部６ａ，６ｂの光電流の差動信号を得ることでト
ラツキング誤差信号を得るようになつている。と
ころが、デイスク等の記録担体５が第１図ａに示
すように傾いているとすると光検出器６の受光面
６ａ，６ｂ上に照射される光ビームは第１図ｂに
破線で示すように中央からシフトしてしまう。こ
のため光検出器６から得られるトラツキング誤差
信号に上記シフトによる差分が重畳されてしま
う。第２図は駆動部の偏差の影響がトラツキング
誤差に重畳される場合を示している。光学系は第
１図に示すものと同様のものであるが、トラツキ
ングサーボの駆動方式として対物レンズを駆動さ
せる駆動部７を設けている。ところが、この駆動
部７により対物レンズ４がトラツキング方向（ト
ラツクの接線方向に垂直な方向）に偏位している
と、第２図ｂに破線で示すように受光面６ａ，６
ｂ上に照射される光ビームは中央からシフトし、
トラツキング誤差信号にこのシフトによる差分が
重畳されてしまう。
従来、光検出器の受光面上での上述のような光
ビームのシフトの影響を軽減する方法として、特
開昭57−164448号公報に開示されているものがあ
る。これは、第１図に示す光検出器６の各受光面
６ａ，６ｂから夫々得られる信号S1及びS2の一方
の利得をS1，S2の両信号の無ピツト部の差動信号
SAに応じて可変制御した後の差動信号S′Bをトラ
ツキング誤差信号とすることでS1とS2の差動信号
SBに含まれるシフト成分を減少させるものであ
る。すぬわち、S′Bは S′B＝S1−β・S2 ……(1) となる。ここで、βはSAの関数β＝ｆ（SA）であ
る。
ビームのシフトの影響を軽減する方法として、特
開昭57−164448号公報に開示されているものがあ
る。これは、第１図に示す光検出器６の各受光面
６ａ，６ｂから夫々得られる信号S1及びS2の一方
の利得をS1，S2の両信号の無ピツト部の差動信号
SAに応じて可変制御した後の差動信号S′Bをトラ
ツキング誤差信号とすることでS1とS2の差動信号
SBに含まれるシフト成分を減少させるものであ
る。すぬわち、S′Bは S′B＝S1−β・S2 ……(1) となる。ここで、βはSAの関数β＝ｆ（SA）であ
る。
今、集束光ビームがトラツク中心線上を正確に
照射している場合に、上述のように受光面上の光
ビームがシフトしているとすると各受光面６ａ，
６ｂから得られる信号S1及びS2は第３図ａ，ｂに
示すようになる。S1，S2の各ピークレベルをS1p，
S2pとし、ピツトにより高周数変調された時の底
レベルをS1L，S2Lとすると、SA及びS′Bのトラツ
キングサーボに必要な低周波成分は、 SA＝S1p−S2p ……(2) S′B＝S1p＋S1L／２−βS2p＋S2L／２ ……(3) となる。ここで、光ビームのシフト量がビーム径
に比べて小さいとし無ピツト部における和信号
S0pを１とすると、 S0p＝S1p＋S2p＝１ ……(4) となり、ピツト部における和信号をS0Lとすると、 S0L＝S1L＋S2L ……(5) となる。次に、光ビームが受光面６ａから６ｂに
移動した割合をαとすると上記(2)、(3)式は、 SA＝（１／２＋α）−（１／２−α）＝2α ……(6) S′B≒１／２〔｛（１／２＋α） ＋（１／２＋α）S0L｝ −β｛（１／２−α）＋（１／２−α）S0L｝〕 ＝１／２｛（１／２＋α）−β（１／２−α）｝ ・（１＋S0L） ……(7) となる。光ビームのシフト量を除去するにはS′B
＝０でなければならないから(7)式よりもβは、 β＝１／２＋α／１／２−α ……(8) となる。上記特開昭57−164448号公報にはSAか
らβへの変換については具体的には何ら開示され
ていないが、この方法によれば、(1)式に於けるS2
のGain可変回路が必要となり、さらには(8)式に
於ける割算回路を必要とする。このように特開昭
57−164448号公報開示の技術では、アナログ・マ
ルチ・プレクサ等のアナログ乗算器の演算回路を
必要とするなどの原因でIC等の素子数が増加し、
他のトラツキング誤差信号生成方法に比し付加す
べき回路が多くかつ複雑となり、Push−Pull法
の光学系が簡易であるという利点を相殺してしま
うという問題を有している。
照射している場合に、上述のように受光面上の光
ビームがシフトしているとすると各受光面６ａ，
６ｂから得られる信号S1及びS2は第３図ａ，ｂに
示すようになる。S1，S2の各ピークレベルをS1p，
S2pとし、ピツトにより高周数変調された時の底
レベルをS1L，S2Lとすると、SA及びS′Bのトラツ
キングサーボに必要な低周波成分は、 SA＝S1p−S2p ……(2) S′B＝S1p＋S1L／２−βS2p＋S2L／２ ……(3) となる。ここで、光ビームのシフト量がビーム径
に比べて小さいとし無ピツト部における和信号
S0pを１とすると、 S0p＝S1p＋S2p＝１ ……(4) となり、ピツト部における和信号をS0Lとすると、 S0L＝S1L＋S2L ……(5) となる。次に、光ビームが受光面６ａから６ｂに
移動した割合をαとすると上記(2)、(3)式は、 SA＝（１／２＋α）−（１／２−α）＝2α ……(6) S′B≒１／２〔｛（１／２＋α） ＋（１／２＋α）S0L｝ −β｛（１／２−α）＋（１／２−α）S0L｝〕 ＝１／２｛（１／２＋α）−β（１／２−α）｝ ・（１＋S0L） ……(7) となる。光ビームのシフト量を除去するにはS′B
＝０でなければならないから(7)式よりもβは、 β＝１／２＋α／１／２−α ……(8) となる。上記特開昭57−164448号公報にはSAか
らβへの変換については具体的には何ら開示され
ていないが、この方法によれば、(1)式に於けるS2
のGain可変回路が必要となり、さらには(8)式に
於ける割算回路を必要とする。このように特開昭
57−164448号公報開示の技術では、アナログ・マ
ルチ・プレクサ等のアナログ乗算器の演算回路を
必要とするなどの原因でIC等の素子数が増加し、
他のトラツキング誤差信号生成方法に比し付加す
べき回路が多くかつ複雑となり、Push−Pull法
の光学系が簡易であるという利点を相殺してしま
うという問題を有している。
本発明の目的は、Push−Pull法を用いた光学
系が簡易であるという利点を生かし、トラツキン
グ誤差信号に重畳されるビームシフト成分を簡易
にかつ確実に補正するトラツキング誤差信号生成
方法を提供することにある。
系が簡易であるという利点を生かし、トラツキン
グ誤差信号に重畳されるビームシフト成分を簡易
にかつ確実に補正するトラツキング誤差信号生成
方法を提供することにある。
本発明は、情報記録担体からの反射光を情報記
録担体のトラツク接線方向で２分された受光面を
有する光検出器で光検出し、この２分された受光
面から得られる２出力信号の差動信号及び２出力
信号の高周波成分の平均値検波した信号の差動信
号Ｂ或いは各出力信号の高周波成分の包絡線検波
した信号の差動信号Ｃを生成した後、差動信号Ａ
と差動信号Ｂとの比を略１：πとして或いは差動
信号Ａと差動信号Ｃとの比を略１：１として両信
号の差信号を生成してトラツキング誤差信号とす
るトラツキング誤差信号生成方法を得ることにあ
る。
録担体のトラツク接線方向で２分された受光面を
有する光検出器で光検出し、この２分された受光
面から得られる２出力信号の差動信号及び２出力
信号の高周波成分の平均値検波した信号の差動信
号Ｂ或いは各出力信号の高周波成分の包絡線検波
した信号の差動信号Ｃを生成した後、差動信号Ａ
と差動信号Ｂとの比を略１：πとして或いは差動
信号Ａと差動信号Ｃとの比を略１：１として両信
号の差信号を生成してトラツキング誤差信号とす
るトラツキング誤差信号生成方法を得ることにあ
る。
本発明によればPush−Pull法により得られる
光検出器の２出力信号の差動信号SAと２出力信
号の高周波成分の平均値検波した信号の差動信号
SBとを略１：πとしてその差信号S′Bを生成し、
或いは差動信号SAと２出力信号の高周波成分の
包絡線検波した信号の差動信号SCとを略１：１と
してその差信号S′Cを生成してトラツキング誤差
信号とすることにより、シフト成分を含まない、
又は減少させたトラツキング誤差信号を簡易な演
算回路のみで生成することができ、しかも安定で
確実なトラツキングサーボを行なうことができ
る。
光検出器の２出力信号の差動信号SAと２出力信
号の高周波成分の平均値検波した信号の差動信号
SBとを略１：πとしてその差信号S′Bを生成し、
或いは差動信号SAと２出力信号の高周波成分の
包絡線検波した信号の差動信号SCとを略１：１と
してその差信号S′Cを生成してトラツキング誤差
信号とすることにより、シフト成分を含まない、
又は減少させたトラツキング誤差信号を簡易な演
算回路のみで生成することができ、しかも安定で
確実なトラツキングサーボを行なうことができ
る。
以下、本発明によるシフト補償を第４図、第５
図に示す信号生成回路とともに説明する。ここで
第１図に示す如き光学系に於いて、今集束光ビー
ムが情報記録担体のトラツク中心を正確に走査し
ている状態で、前述した如き理由により光検出器
の受光面上で光ビームがシフトしているものとす
る。先ず本発明の第１の方法は第４図に示す如き
信号生成回路を用いるもので、光検出器６の２受
光面６ａ，６ｂからの各出力信号S1，S2の差動信
号SAを補償率調整回路１０によりβB＝１／π倍す
るとともに、各出力信号S1，S2を夫々高域フイル
タ（High Pass Filter）１１に通して高周波成
分を取り出し、さらにこれを夫々平均値検波回路
１２に通して両信号の差動信号SBを生成した後、
上記差動信号SAと差動信号SBとの差信号S′Bをト
ラツキング誤差信号とするものである。次に本発
明の第２の方法は第５図に示す如き信号生成回路
を用いるもので、光検出器６の２受光面６ａ，６
ｂからの各出力信号S1，S2の差動信号SAを補償
率調整回路１０によりβC＝１倍するとともに、各
出力信号S1，S2を夫々高域フイルタ（High Pass
Filter）１１に通して高周波成分を取り出しさら
にこれを夫々包絡線検波回路１３に通して両信号
の差動信号SCを生成した後、差動信号SAと差動
信号SCとの差信号S′Cをトラツキング誤差信号と
するものである。
図に示す信号生成回路とともに説明する。ここで
第１図に示す如き光学系に於いて、今集束光ビー
ムが情報記録担体のトラツク中心を正確に走査し
ている状態で、前述した如き理由により光検出器
の受光面上で光ビームがシフトしているものとす
る。先ず本発明の第１の方法は第４図に示す如き
信号生成回路を用いるもので、光検出器６の２受
光面６ａ，６ｂからの各出力信号S1，S2の差動信
号SAを補償率調整回路１０によりβB＝１／π倍す
るとともに、各出力信号S1，S2を夫々高域フイル
タ（High Pass Filter）１１に通して高周波成
分を取り出し、さらにこれを夫々平均値検波回路
１２に通して両信号の差動信号SBを生成した後、
上記差動信号SAと差動信号SBとの差信号S′Bをト
ラツキング誤差信号とするものである。次に本発
明の第２の方法は第５図に示す如き信号生成回路
を用いるもので、光検出器６の２受光面６ａ，６
ｂからの各出力信号S1，S2の差動信号SAを補償
率調整回路１０によりβC＝１倍するとともに、各
出力信号S1，S2を夫々高域フイルタ（High Pass
Filter）１１に通して高周波成分を取り出しさら
にこれを夫々包絡線検波回路１３に通して両信号
の差動信号SCを生成した後、差動信号SAと差動
信号SCとの差信号S′Cをトラツキング誤差信号と
するものである。
以下、さらに上記本発明の第１及び第２の方法
により光ビームのシフト補償が行なわれることを
数値的に説明する。今、２受光面６ａ，６ｂから
の各出力信号S1，S2が上述した如き第３図に示す
ような信号である場合にそのシフト量が受光面上
での光ビーム径に比べて小さいとすると、先ずS1
及びS2の差動信号SAは、 SA＝１／２｛（S1p＋S1L）−（S2p＋S2L
）｝≒α（１＋S0L）……(9) となり、第１の方法によるS1及びS2の振幅成分の
差動信号SBは、 SB＝１／2π｛（S1p−S1L）−（S2p−S2L
）｝≒α／π（１−S0L）……(10) となる。また、第２の方法によるS1及びS2の振幅
成分の包絡検波信号の差動信号SCは、 SC＝１／２｛（S1p−S1L）−（S2p−S2L）
｝≒α（１−S0L）……(12) となる。従つて、SB及びSCに含まれるシフト成分
をSAでもつて打消すには第１の方法による補償
率をβB、第２の方法による補償率をβCとすると、 S′B＝SB−βBSA＝α／π（１−S0L）−βB
α（１＋S0L）＝０……(12) S′C＝SC−βCSA＝α（１−S0L）−βCα（
１＋S0L）＝０……（13） となれば良い。すなわち、（12）、（13）式よりβB，
βCを βB＝１／π・１−S0L／１＋S0L ……（14） βC＝１−S0L／１＋S0L ……（15） とすればシフト成分は零となる。この場合、S0L
は S0L＝S1L＋S2L であり、この値は情報記録担体による変調度のバ
ラツキにより変化するため、補償率βB，βCを各情
報記録担体に応じて変化させることが考えられる
が、このS0Lは光ビームの移動量αとは無関係な
のでβB或いはβCを固定しておいても安定したトラ
ツキングサーボが得られる。このときのβB，βCは
（14）、（15）式に於いてS0L＝０とした場合に近づ
き、 βB＝１／π，βC＝１ となる。従つて、このβB，βCの値は記録担体の仕
様、トラツキングサーボに係わるシステム仕様に
よつて若干異なるが、その許容幅は±50％とする
ことができる。
により光ビームのシフト補償が行なわれることを
数値的に説明する。今、２受光面６ａ，６ｂから
の各出力信号S1，S2が上述した如き第３図に示す
ような信号である場合にそのシフト量が受光面上
での光ビーム径に比べて小さいとすると、先ずS1
及びS2の差動信号SAは、 SA＝１／２｛（S1p＋S1L）−（S2p＋S2L
）｝≒α（１＋S0L）……(9) となり、第１の方法によるS1及びS2の振幅成分の
差動信号SBは、 SB＝１／2π｛（S1p−S1L）−（S2p−S2L
）｝≒α／π（１−S0L）……(10) となる。また、第２の方法によるS1及びS2の振幅
成分の包絡検波信号の差動信号SCは、 SC＝１／２｛（S1p−S1L）−（S2p−S2L）
｝≒α（１−S0L）……(12) となる。従つて、SB及びSCに含まれるシフト成分
をSAでもつて打消すには第１の方法による補償
率をβB、第２の方法による補償率をβCとすると、 S′B＝SB−βBSA＝α／π（１−S0L）−βB
α（１＋S0L）＝０……(12) S′C＝SC−βCSA＝α（１−S0L）−βCα（
１＋S0L）＝０……（13） となれば良い。すなわち、（12）、（13）式よりβB，
βCを βB＝１／π・１−S0L／１＋S0L ……（14） βC＝１−S0L／１＋S0L ……（15） とすればシフト成分は零となる。この場合、S0L
は S0L＝S1L＋S2L であり、この値は情報記録担体による変調度のバ
ラツキにより変化するため、補償率βB，βCを各情
報記録担体に応じて変化させることが考えられる
が、このS0Lは光ビームの移動量αとは無関係な
のでβB或いはβCを固定しておいても安定したトラ
ツキングサーボが得られる。このときのβB，βCは
（14）、（15）式に於いてS0L＝０とした場合に近づ
き、 βB＝１／π，βC＝１ となる。従つて、このβB，βCの値は記録担体の仕
様、トラツキングサーボに係わるシステム仕様に
よつて若干異なるが、その許容幅は±50％とする
ことができる。
このようにβB，βCを固定できるということはSA
のGain可変回路が不要となり、また従来必要と
されたβB，βCを生成する演算回路を必要とせずに
ビームシフト成分の重畳が補正されたトラツキン
グ誤差信号を得ることができる。
のGain可変回路が不要となり、また従来必要と
されたβB，βCを生成する演算回路を必要とせずに
ビームシフト成分の重畳が補正されたトラツキン
グ誤差信号を得ることができる。
尚、上記実施例ではトラツキング誤差信号を
S′B＝SB−βB・SA，S′C＝SC−βC・SAとしたがこれ
はS″B＝SA−SB／βB，S″C＝SA−SC／βCであつても
良い。さらに、本発明の実施にあたつては、光学
ヘツド、受光面の形状等は図示するものに限られ
るものではなく、またその適用も光学式情報再生
装置のみではなく、光学式情報記録装置、記録再
生装置はもちろんトラツキング誤差検出を要する
システムに於いて光学的に検出する際にも適用で
きる。
S′B＝SB−βB・SA，S′C＝SC−βC・SAとしたがこれ
はS″B＝SA−SB／βB，S″C＝SA−SC／βCであつても
良い。さらに、本発明の実施にあたつては、光学
ヘツド、受光面の形状等は図示するものに限られ
るものではなく、またその適用も光学式情報再生
装置のみではなく、光学式情報記録装置、記録再
生装置はもちろんトラツキング誤差検出を要する
システムに於いて光学的に検出する際にも適用で
きる。
第１図乃至第３図は従来方法を説明するための
図、第４図及び第５図は本発明方法の一実施例を
説明するための図である。 １……光源、２……コリメーシヨンレンズ、３
……ビームスプリツタ、４……対物レンズ、５…
…情報記録担体、６……光検出器、７……トラツ
キングサーボ駆動機構、１０……補償率調整回
路、１１……高域フイルタ（High Pass
Filter）、１２……平均値検波回路、１３……包
絡線検波回路。
図、第４図及び第５図は本発明方法の一実施例を
説明するための図である。 １……光源、２……コリメーシヨンレンズ、３
……ビームスプリツタ、４……対物レンズ、５…
…情報記録担体、６……光検出器、７……トラツ
キングサーボ駆動機構、１０……補償率調整回
路、１１……高域フイルタ（High Pass
Filter）、１２……平均値検波回路、１３……包
絡線検波回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 情報記録担体に集束照射した光の反射光を少
なくとも前記情報記録担体の情報トラツク接線方
向で２分された受光面を有する光検出器で光検出
し、前記２分された受光面から得られる２出力信
号の差動信号Ａ及び前記２出力信号の高周波成分
の平均値検波した信号の差動信号Ｂを生成した
後、前記差動信号Ａと前記差動信号Ｂとの比を略
１：πとして両信号の差信号を生成してトラツキ
ング誤差信号とすることを特徴とするトラツキン
グ誤差信号生成方法。 ２ 情報記録担体は、光デイスクであることを特
徴とする特許請求の範囲第１項記載のトラツキン
グ誤差信号生成方法。 ３ 集束照射した光の光源は、半導体レーザであ
ることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の
トラツキング誤差信号生成方法。 ４ 情報記録担体に集束照射した光の反射光を少
なくとも前記情報記録担体の情報トラツク接線方
向で２分された受光面を有する光検出器で光検出
し、前記２分された受光面から得られる２出力信
号の差動信号Ａ及び前記２出力信号の高周波成分
の包絡線検波した信号の差動信号Ｃを生成した
後、前記差動信号Ａと前記差動信号Ｃとの比を略
１：１として両信号の差信号を生成してトラツキ
ング誤差信号とすることを特徴とするトラツキン
グ誤差信号生成方法。 ５ 情報記録担体は、光デイスクであることを特
徴とする特許請求の範囲第１項記載のトラツキン
グ誤差信号生成方法。 ６ 集束照射した光の光源は、半導体レーザであ
ることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の
トラツキング誤差信号生成方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2274284A JPS60170036A (ja) | 1984-02-13 | 1984-02-13 | トラッキング誤差信号生成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2274284A JPS60170036A (ja) | 1984-02-13 | 1984-02-13 | トラッキング誤差信号生成方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60170036A JPS60170036A (ja) | 1985-09-03 |
| JPH041929B2 true JPH041929B2 (ja) | 1992-01-14 |
Family
ID=12091159
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2274284A Granted JPS60170036A (ja) | 1984-02-13 | 1984-02-13 | トラッキング誤差信号生成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60170036A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20050058358A (ko) * | 2002-08-21 | 2005-06-16 | 코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. | 트랙킹 시스템 및 방법 |
| JP7430134B2 (ja) | 2020-12-22 | 2024-02-09 | 本田技研工業株式会社 | 航空機用推進システム |
-
1984
- 1984-02-13 JP JP2274284A patent/JPS60170036A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60170036A (ja) | 1985-09-03 |
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