JPH041942A - 反射光測定用素子 - Google Patents
反射光測定用素子Info
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- JPH041942A JPH041942A JP10251090A JP10251090A JPH041942A JP H041942 A JPH041942 A JP H041942A JP 10251090 A JP10251090 A JP 10251090A JP 10251090 A JP10251090 A JP 10251090A JP H041942 A JPH041942 A JP H041942A
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- light
- reflected light
- reflected
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- Pending
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title abstract description 13
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 11
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 4
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
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- 238000005192 partition Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Optical Head (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、反射光測定用素子に関する。より詳細には、
光ディスク等に光をあて、反射光を測定する反射光測定
用素子に関するものである。
光ディスク等に光をあて、反射光を測定する反射光測定
用素子に関するものである。
従来の技術
第5図に、反射光測定に使用される従来の装置の一例を
示す。第5図の装置は、特公平1−58453号公報に
開示されている装置であり、光源51と、光源51の発
する光の状態を調整し、試料台56上の試料55に誘導
するコンデンサレンズ52、絞り53、ハーフミラ−5
7およびレンズ54と、試料55からの反射光を光検知
器61に誘導するハーフミラ−58と、光検知器61に
接続されたパワーメータ62とを具備する。ハーフミラ
−58を透過した光は、撮像管59に入射し、ブラウン
管60て画像として表示される。
示す。第5図の装置は、特公平1−58453号公報に
開示されている装置であり、光源51と、光源51の発
する光の状態を調整し、試料台56上の試料55に誘導
するコンデンサレンズ52、絞り53、ハーフミラ−5
7およびレンズ54と、試料55からの反射光を光検知
器61に誘導するハーフミラ−58と、光検知器61に
接続されたパワーメータ62とを具備する。ハーフミラ
−58を透過した光は、撮像管59に入射し、ブラウン
管60て画像として表示される。
上記の装置では、光源51の発する光をコンデンサレン
ズ52、絞り53、ハーフミラ−57およびレンズ54
を使用して試料55に適当な光を当てる。ブラウン管6
0で試料55の測定部位を確認しながら、試料台56を
操作し、反射光の測定を行う。
ズ52、絞り53、ハーフミラ−57およびレンズ54
を使用して試料55に適当な光を当てる。ブラウン管6
0で試料55の測定部位を確認しながら、試料台56を
操作し、反射光の測定を行う。
発明が解決しようとする課題
上記従来の装置では、光源と光検知器が離れて配置され
ていた。そのため、光源から発した光を、試料表面の測
定部位で適性に反射させ、光検知器まで誘導するのに、
精密な光軸調整が必要であった。例えば、上記の装置で
は、ハーフミラ−を用いて、光軸を精密に調整する必要
があった。また、光学系のS品点数が多5)だと1小型
化、モジュール化が困難であった。
ていた。そのため、光源から発した光を、試料表面の測
定部位で適性に反射させ、光検知器まで誘導するのに、
精密な光軸調整が必要であった。例えば、上記の装置で
は、ハーフミラ−を用いて、光軸を精密に調整する必要
があった。また、光学系のS品点数が多5)だと1小型
化、モジュール化が困難であった。
そこで、本発明の目的は、上記従来技術の問題点を解決
して、反射光測定装置を小型化できる反射光測定用素子
を提供することにある。
して、反射光測定装置を小型化できる反射光測定用素子
を提供することにある。
課頌を解決するための手段
本発明に従うと、対象物に対して光を照射する発光素子
と該対象物かろの反射光を測定する受光素子とが、単一
の筺体内に近接して配置されていることを特徴とする反
射光測定用素子が提供される。
と該対象物かろの反射光を測定する受光素子とが、単一
の筺体内に近接して配置されていることを特徴とする反
射光測定用素子が提供される。
作用
本発明の反射光測定用素子は、光源の発光素子と測定用
受光素子とが、単一の筺体内に近接して配置されている
ところにその主要な特徴がある。
受光素子とが、単一の筺体内に近接して配置されている
ところにその主要な特徴がある。
本発明の反射光測定用素子は、光源の発光素子と測定用
受光素子とが近接しているので、光源の照射光の光軸を
調整すると、自動的に測定用受光素子に反射光が入射す
るよう光軸が調整される。
受光素子とが近接しているので、光源の照射光の光軸を
調整すると、自動的に測定用受光素子に反射光が入射す
るよう光軸が調整される。
出力モニタ用受光素子を同一の筺体内に具備する従来の
発光素子を使用して、本発明の反射光測定用素子の動作
の確認を行った。第3図に、使用した装置を示す。第3
図の装置では、電源9および電流計lOが接続された従
来の発光素子18が具備する8カモニタ用受光素子と、
電流計17が接続された受光素子16とで発光素子18
が発する光の反射光の測定を同時に行う。発光素子18
が発する光は、ハーフミラ−15により、図面下方へ屈
折され、レンズ11で集光されて試料12の表面に達し
、試料12の表面で反射されて、ハーフミラ−15で反
射光測定用素子1および受光素子16に振り分けられる
。
発光素子を使用して、本発明の反射光測定用素子の動作
の確認を行った。第3図に、使用した装置を示す。第3
図の装置では、電源9および電流計lOが接続された従
来の発光素子18が具備する8カモニタ用受光素子と、
電流計17が接続された受光素子16とで発光素子18
が発する光の反射光の測定を同時に行う。発光素子18
が発する光は、ハーフミラ−15により、図面下方へ屈
折され、レンズ11で集光されて試料12の表面に達し
、試料12の表面で反射されて、ハーフミラ−15で反
射光測定用素子1および受光素子16に振り分けられる
。
試料12は、試料台13に搭載され、マイクロコンピュ
ータ14は、電源9および試料台13を制御し、電流計
10および17の測定値を記録する。
ータ14は、電源9および試料台13を制御し、電流計
10および17の測定値を記録する。
第3図の装置を使用して、表面の一部がクロム蒸着され
ているガラス板の表面の反射光を測定した。試料台13
にガラス板を搭載して、ガラス板を微速で移動させ、表
面のクロムが蒸着されていない部分からクロム蒸着され
ている部分へかけて、連続的に反射光を測定したつ第4
図に測定結果を示す。発光素子18に内蔵された受光素
子を使用した測定でも、従来のものと同様、グラフはガ
ラス面からクロム蒸着面の境界線を境に鋭く立ち上がっ
ている。発光素子18に内蔵された受光素子は、上述の
ように、本来発光素子18の出力モニタ用であり、反射
光測定用ではない。本発明の反射光測定用素子では、測
定専用の受光素子を具備するので、より容易に反射光を
測定することが可能である。
ているガラス板の表面の反射光を測定した。試料台13
にガラス板を搭載して、ガラス板を微速で移動させ、表
面のクロムが蒸着されていない部分からクロム蒸着され
ている部分へかけて、連続的に反射光を測定したつ第4
図に測定結果を示す。発光素子18に内蔵された受光素
子を使用した測定でも、従来のものと同様、グラフはガ
ラス面からクロム蒸着面の境界線を境に鋭く立ち上がっ
ている。発光素子18に内蔵された受光素子は、上述の
ように、本来発光素子18の出力モニタ用であり、反射
光測定用ではない。本発明の反射光測定用素子では、測
定専用の受光素子を具備するので、より容易に反射光を
測定することが可能である。
尚、第4図のグラフにおいて、発光素子18に内蔵され
た受光素子による測定結果が、A→BおよびC−Dにか
けて下降するのは、光源の発光素子を定電流制御したた
めであり、定電流制御では発光素子の光出力が、時間と
ともに減少するからである。
た受光素子による測定結果が、A→BおよびC−Dにか
けて下降するのは、光源の発光素子を定電流制御したた
めであり、定電流制御では発光素子の光出力が、時間と
ともに減少するからである。
本発明の反射光測定用素子では、反射光が光源の発光素
子に入射せず、測定用受光素子に効率よく入射する構成
となっていることが好ましい。また、本発明の反射光測
定用素子は、測定用受光素子に加えて、発光素子の出力
モニタ用の受光素子を備えることも好ましい。
子に入射せず、測定用受光素子に効率よく入射する構成
となっていることが好ましい。また、本発明の反射光測
定用素子は、測定用受光素子に加えて、発光素子の出力
モニタ用の受光素子を備えることも好ましい。
以下、本発明を実施例により、さらに詳しく説明するが
、以下の開示は本発明の単なる実施例に過ぎず、本発明
の技術的範囲をなんら制限するものではない。
、以下の開示は本発明の単なる実施例に過ぎず、本発明
の技術的範囲をなんら制限するものではない。
実施例
第1図(a)に、本発明の反射光測定用素子の一例の概
念図を示す。第1図(a)の反射光測定用素子は、窓8
を備える気密な半導体パッケージ7内に光源の発光素子
2および測定用受光素子3を具備する。
念図を示す。第1図(a)の反射光測定用素子は、窓8
を備える気密な半導体パッケージ7内に光源の発光素子
2および測定用受光素子3を具備する。
発光素子2は、気密を保ったまま半導体パッケージ7を
貫通しているアノード電極4およびコモンカソード電極
5に接続されている。一方、受光素子3は、同様に気密
を保って半導体パッケージ7を貫通しているアノード電
極6およびコモンカソード電極5に接続されている。ア
ノード電極4およびコモンカソード電極5の間には電源
9が接続され、アノード電極6およびコモンカソード電
極5の間には電流計10が接続されている。
貫通しているアノード電極4およびコモンカソード電極
5に接続されている。一方、受光素子3は、同様に気密
を保って半導体パッケージ7を貫通しているアノード電
極6およびコモンカソード電極5に接続されている。ア
ノード電極4およびコモンカソード電極5の間には電源
9が接続され、アノード電極6およびコモンカソード電
極5の間には電流計10が接続されている。
発光素子2と受光素子3とは、半導体パッケージ7の中
心線を間にはさんで発光面および受光面が互いに内側に
傾斜して配置されており、発光素子2の発する光がレン
ズ11で集光されて、試料12表面で反射して、窓8か
ら受光素子3の受光面に入射するようになっている。
心線を間にはさんで発光面および受光面が互いに内側に
傾斜して配置されており、発光素子2の発する光がレン
ズ11で集光されて、試料12表面で反射して、窓8か
ら受光素子3の受光面に入射するようになっている。
第1図ら)に、本発明の反射光測定用素子のより具体的
な構成例を示す。第1図(b)の反射光測定用素子は、
窓8を備える気密な半導体パッケージ7内に光源の発光
素子2、測定用受光素子31およびモニタ用受光素子3
2を具備する。発光素子2と受光素子31とは、半導体
パッケージ7の中心線を間にはさんで発光面および受光
面が互いに内側に傾斜して配置されている。これにより
、発光素子2の発する光が試料に反射して戻ってきた時
に、窓8から受光素子31の受光面に効率よく入射する
ようになっている。一方、受光素子32は、発光素子2
の後側に配置され、発光素子2の出力をモニタする。発
光素子2、受光素子31および32は、遮光隔壁21〜
23により、不用な光が入射しないよう隔てられている
。また、図示されていないが、発光素子2、受光素子3
1および32は、気密を保って半導体パッケージ7を貫
通している電極5に接続されている。
な構成例を示す。第1図(b)の反射光測定用素子は、
窓8を備える気密な半導体パッケージ7内に光源の発光
素子2、測定用受光素子31およびモニタ用受光素子3
2を具備する。発光素子2と受光素子31とは、半導体
パッケージ7の中心線を間にはさんで発光面および受光
面が互いに内側に傾斜して配置されている。これにより
、発光素子2の発する光が試料に反射して戻ってきた時
に、窓8から受光素子31の受光面に効率よく入射する
ようになっている。一方、受光素子32は、発光素子2
の後側に配置され、発光素子2の出力をモニタする。発
光素子2、受光素子31および32は、遮光隔壁21〜
23により、不用な光が入射しないよう隔てられている
。また、図示されていないが、発光素子2、受光素子3
1および32は、気密を保って半導体パッケージ7を貫
通している電極5に接続されている。
第2図に、本発明の反射光測定用素子を使用した反射光
測定装置の概略図を示す。第2閏の反射光測定装置は、
電源9および電流計10が接続された本発明の反射光測
定用素子1と、反射光測定用素子1が発する光を試料1
2表面に集光するレンズ11と、試料12を搭載し、試
料12を微小な距離で移動させることが可能な試料台1
3と、電源9および試料台13を制御し、電流計10の
測定値を記録するマイクロコンピュータ14を具備する
。
測定装置の概略図を示す。第2閏の反射光測定装置は、
電源9および電流計10が接続された本発明の反射光測
定用素子1と、反射光測定用素子1が発する光を試料1
2表面に集光するレンズ11と、試料12を搭載し、試
料12を微小な距離で移動させることが可能な試料台1
3と、電源9および試料台13を制御し、電流計10の
測定値を記録するマイクロコンピュータ14を具備する
。
発明の詳細
な説明したように、本発明の反射光測定用素子は、同一
の筺体内に照射用発光素子と測定用受光素子とが近接し
て配置されている。従って、単一の素子で光照射と反射
光受光を実現でき、光軸合せが容易になるとともに、系
を小型化することが可能になる。
の筺体内に照射用発光素子と測定用受光素子とが近接し
て配置されている。従って、単一の素子で光照射と反射
光受光を実現でき、光軸合せが容易になるとともに、系
を小型化することが可能になる。
第1図(a)およびら)は、それぞれ本発明の反射光測
定用素子の概念図であり、 第2図は、本発明の反射光測定用素子を使用した反射光
測定装置の概略図であり、 第3図は、本発明の反射光測定装置の有効性を確認する
ために使用した装置の概略図であり、第4図は、第3図
の装置による測定結果を示すグラフであり、 第5図は、従来の反射光測定装置の概略図である。 〔主な参照番号〕 l・・・反射光測定用素子、 2・・・発光素子、 3・・・受光素子、4.6・・・
アノード電極、 5 ・ 7 ・ 8 ・ lO・ 12・ 14・ ・コモンカソード ・半導体パッケージ、 ・窓、 9・・・電源、 ・電流計、 11・・・レンズ、 ・試料、 13・・・試料台、 ・マイクロコンピュータ 特許出願人 住友電気工業株式会社
定用素子の概念図であり、 第2図は、本発明の反射光測定用素子を使用した反射光
測定装置の概略図であり、 第3図は、本発明の反射光測定装置の有効性を確認する
ために使用した装置の概略図であり、第4図は、第3図
の装置による測定結果を示すグラフであり、 第5図は、従来の反射光測定装置の概略図である。 〔主な参照番号〕 l・・・反射光測定用素子、 2・・・発光素子、 3・・・受光素子、4.6・・・
アノード電極、 5 ・ 7 ・ 8 ・ lO・ 12・ 14・ ・コモンカソード ・半導体パッケージ、 ・窓、 9・・・電源、 ・電流計、 11・・・レンズ、 ・試料、 13・・・試料台、 ・マイクロコンピュータ 特許出願人 住友電気工業株式会社
Claims (1)
- 対象物に対して光を照射する発光素子と該対象物から
の反射光を測定する受光素子とが、単一の筺体内に近接
して配置されていることを特徴とする反射光測定用素子
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10251090A JPH041942A (ja) | 1990-04-18 | 1990-04-18 | 反射光測定用素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10251090A JPH041942A (ja) | 1990-04-18 | 1990-04-18 | 反射光測定用素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH041942A true JPH041942A (ja) | 1992-01-07 |
Family
ID=14329383
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10251090A Pending JPH041942A (ja) | 1990-04-18 | 1990-04-18 | 反射光測定用素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH041942A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07110981A (ja) * | 1993-07-08 | 1995-04-25 | Tandberg Data Storage As | 磁気テープレコーダ |
| JPH07130044A (ja) * | 1993-07-08 | 1995-05-19 | Tandberg Data Storage As | 磁気テープレコーダのテープ駆動モータ支持機構 |
| WO2014156697A1 (ja) * | 2013-03-25 | 2014-10-02 | 日立建機株式会社 | 作業機械のエンジン回転数制御装置 |
-
1990
- 1990-04-18 JP JP10251090A patent/JPH041942A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07110981A (ja) * | 1993-07-08 | 1995-04-25 | Tandberg Data Storage As | 磁気テープレコーダ |
| JPH07130044A (ja) * | 1993-07-08 | 1995-05-19 | Tandberg Data Storage As | 磁気テープレコーダのテープ駆動モータ支持機構 |
| WO2014156697A1 (ja) * | 2013-03-25 | 2014-10-02 | 日立建機株式会社 | 作業機械のエンジン回転数制御装置 |
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