JPH0419677A - 乾式現像方法 - Google Patents
乾式現像方法Info
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- JPH0419677A JPH0419677A JP2123940A JP12394090A JPH0419677A JP H0419677 A JPH0419677 A JP H0419677A JP 2123940 A JP2123940 A JP 2123940A JP 12394090 A JP12394090 A JP 12394090A JP H0419677 A JPH0419677 A JP H0419677A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、電子写真や静電記録等に採用される一成分非
磁性現像剤を用いる乾式現像方法にかかリ、詳しくは、
静電潜像担持体に現像剤担持体上の一成分非磁性現像剤
を近接させ、この現像剤担持体に矩形波バイアスを印加
して静電潜像を可視像化する現像方法に関するものであ
る。
磁性現像剤を用いる乾式現像方法にかかリ、詳しくは、
静電潜像担持体に現像剤担持体上の一成分非磁性現像剤
を近接させ、この現像剤担持体に矩形波バイアスを印加
して静電潜像を可視像化する現像方法に関するものであ
る。
[従来の技術]
静電潜像担持体に現像剤担持体上の静電潜像と同極性に
帯電された一成分非磁性現像剤を近接させて現像を行う
技術は、特公昭41−9475号公報によって公知であ
る。これは表面に現像剤の薄層を有するドナ一部材を静
電潜像担持体に近接配置して静電潜像のみに現像剤を飛
翔させるものである。又、上記現像間隙に低周波の交番
電界を印加して現像を行う技術はジャンピング現像方式
と呼ばれ、特開昭55−18656号公報等に言己載さ
れている。この方法は磁性現像剤を現像剤担持体である
マグネットローラー上に保持して現像域に搬送し、次の
二過程を行うものである。
帯電された一成分非磁性現像剤を近接させて現像を行う
技術は、特公昭41−9475号公報によって公知であ
る。これは表面に現像剤の薄層を有するドナ一部材を静
電潜像担持体に近接配置して静電潜像のみに現像剤を飛
翔させるものである。又、上記現像間隙に低周波の交番
電界を印加して現像を行う技術はジャンピング現像方式
と呼ばれ、特開昭55−18656号公報等に言己載さ
れている。この方法は磁性現像剤を現像剤担持体である
マグネットローラー上に保持して現像域に搬送し、次の
二過程を行うものである。
第一の過程;項像部位における現像剤担持体と静電潜像
担持体の間隙において、非画像部分においても、画像部
分においても現像材粒子の転移と、現像剤担持体への逆
転移が交互に繰り返されるための低周波交番電界を印加
する過程。
担持体の間隙において、非画像部分においても、画像部
分においても現像材粒子の転移と、現像剤担持体への逆
転移が交互に繰り返されるための低周波交番電界を印加
する過程。
第二の過程;現像間隙に現像剤担持体から画像部へ一方
的に現像剤の転移を生ゼしぬ、且つ非画像部から現像剤
担持体へ一方的に現像材の逆転移を生ゼしぬる上記第一
の過程における電界とは強度の異なる低周波交番電界を
印加する過程。
的に現像剤の転移を生ゼしぬ、且つ非画像部から現像剤
担持体へ一方的に現像材の逆転移を生ゼしぬる上記第一
の過程における電界とは強度の異なる低周波交番電界を
印加する過程。
これにより良好な画像の再現か得られるとしている。し
かしながら、ジャンピング現像方式においては鉄粉を含
んだ磁性現像剤を使用することが前提となっているため
、鮮明なカラー画像が得られないという問題点かあった
。又、矩形波パルスのデユーティ比を可変にして現像剤
の飛翔を安定的に行うという考えは特開昭60−118
865号公報等に記載されているか印加バイアスの型と
その作用効果までは開示されていない。
かしながら、ジャンピング現像方式においては鉄粉を含
んだ磁性現像剤を使用することが前提となっているため
、鮮明なカラー画像が得られないという問題点かあった
。又、矩形波パルスのデユーティ比を可変にして現像剤
の飛翔を安定的に行うという考えは特開昭60−118
865号公報等に記載されているか印加バイアスの型と
その作用効果までは開示されていない。
従来の磁性現像剤を用いた飛翔現像の装置においては、
例えば第7図の正弦波もしくは第8図の矩形波が現像担
持体である現像ローラーに印加され、現像剤に静電潜像
担持体に向けて飛翔するエネルギーを与えている。これ
らの図中、VDは静電潜像の画像部電位、VLは非画像
部電位を示している。マイナスの電荷を持った磁性現像
剤によるポジ・ポジ現像(静電潜像の極性と同極性の現
像剤を用いる、所謂、正規現像)の場合に、100μm
の現像間隔(現像ローラー表面と静電潜像担持体表面と
の開講)に正弦波形のバイアスを印加したときの静電潜
像電位に対する画像反射濃度を測定した画像濃度面M(
以下、ID曲線という)は、横軸に静電潜像電位、縦軸
に画像濃度を取った第9図に示したものとなり、扁電位
部まで安定して濃度か出ている。
例えば第7図の正弦波もしくは第8図の矩形波が現像担
持体である現像ローラーに印加され、現像剤に静電潜像
担持体に向けて飛翔するエネルギーを与えている。これ
らの図中、VDは静電潜像の画像部電位、VLは非画像
部電位を示している。マイナスの電荷を持った磁性現像
剤によるポジ・ポジ現像(静電潜像の極性と同極性の現
像剤を用いる、所謂、正規現像)の場合に、100μm
の現像間隔(現像ローラー表面と静電潜像担持体表面と
の開講)に正弦波形のバイアスを印加したときの静電潜
像電位に対する画像反射濃度を測定した画像濃度面M(
以下、ID曲線という)は、横軸に静電潜像電位、縦軸
に画像濃度を取った第9図に示したものとなり、扁電位
部まで安定して濃度か出ている。
ところが非磁性の現像剤を用いた飛翔現像の装置に正弦
波形のバイアスを印加したときには第9図のような良好
なID曲線は得られず、第10図に示すものとなる。実
験条件としては、単位質量嚢りの電荷量(Q/M)がマ
イナス8μC/gの非磁性現像剤を用い、現像間隙10
0μm(4振幅15000Vの正弦波をプラス250V
の直流電圧を重畳して印加したものである。感光体上の
画像部電位プラス500V、非画像部電位プラス50■
である。第10図のID曲線を見れば、周波数が500
ヘルツのときは地力ブリがとれず濃度も上がらない。1
000ヘルツでは画像は潜像の電位の高い部分よりも電
位の中間の部分か濃度が高くなり、エツジ部が抜けたり
ライン剖がぼけるなどして、画像の鮮明度が不足してい
る。1500ヘルツでは更に潜像の電位の高い部分の濃
度か落ち画像が不鮮明になる。又、直流電界による飛翔
現像では現像効率も悪く階調性がとれない。
波形のバイアスを印加したときには第9図のような良好
なID曲線は得られず、第10図に示すものとなる。実
験条件としては、単位質量嚢りの電荷量(Q/M)がマ
イナス8μC/gの非磁性現像剤を用い、現像間隙10
0μm(4振幅15000Vの正弦波をプラス250V
の直流電圧を重畳して印加したものである。感光体上の
画像部電位プラス500V、非画像部電位プラス50■
である。第10図のID曲線を見れば、周波数が500
ヘルツのときは地力ブリがとれず濃度も上がらない。1
000ヘルツでは画像は潜像の電位の高い部分よりも電
位の中間の部分か濃度が高くなり、エツジ部が抜けたり
ライン剖がぼけるなどして、画像の鮮明度が不足してい
る。1500ヘルツでは更に潜像の電位の高い部分の濃
度か落ち画像が不鮮明になる。又、直流電界による飛翔
現像では現像効率も悪く階調性がとれない。
このようにQ/Mかマイナス8μC/gの非磁性現像剤
においては正弦波バイアスも直流バイアスも飛翔現像に
適さない。第11図に、Q/Mがマイナス17μC/g
の非磁性現像剤を用い、印加電圧の周波数が1000ヘ
ルツの場合のID曲線を、上述の第10図におけるQ/
Mがマイナス8μC/gの非磁性現像剤を用い、印加電
圧の周波数が1000ヘルツの場合のID曲線と共に示
す。同図より、Q/Mがマイナス17μC/gの非磁性
現像剤を用いた方が高電位部の現像特性は良いことが判
るが、07Mが高くなると安定的に現像ローラー上に多
層に保持する事が困難であり、又現像効率が悪くなるた
め濃度が上がらないという問題がある。
においては正弦波バイアスも直流バイアスも飛翔現像に
適さない。第11図に、Q/Mがマイナス17μC/g
の非磁性現像剤を用い、印加電圧の周波数が1000ヘ
ルツの場合のID曲線を、上述の第10図におけるQ/
Mがマイナス8μC/gの非磁性現像剤を用い、印加電
圧の周波数が1000ヘルツの場合のID曲線と共に示
す。同図より、Q/Mがマイナス17μC/gの非磁性
現像剤を用いた方が高電位部の現像特性は良いことが判
るが、07Mが高くなると安定的に現像ローラー上に多
層に保持する事が困難であり、又現像効率が悪くなるた
め濃度が上がらないという問題がある。
ここでいう07Mは、質量的30gのファラデーケージ
に10mg程度の現像ローラー上の現像剤を空気と共に
吸引して電荷量を測定したものである。
に10mg程度の現像ローラー上の現像剤を空気と共に
吸引して電荷量を測定したものである。
このように正弦波やデユーティ比が1対1の矩形波のバ
イアスを現像ローラーに印加して非磁性現像剤層に力学
的な飛翔のエネルギーを与えても、電界の強度に応答す
る現像剤の飛翔特性が得られなかった。これは、非磁性
の現像剤粒子が鉄粉を含まず一個当りの質量が磁性現像
剤粒子に比較して軽い事に加え、非磁性現像剤は現像ロ
ーラー上で磁気による拘束力を持たないためと考えられ
る。
イアスを現像ローラーに印加して非磁性現像剤層に力学
的な飛翔のエネルギーを与えても、電界の強度に応答す
る現像剤の飛翔特性が得られなかった。これは、非磁性
の現像剤粒子が鉄粉を含まず一個当りの質量が磁性現像
剤粒子に比較して軽い事に加え、非磁性現像剤は現像ロ
ーラー上で磁気による拘束力を持たないためと考えられ
る。
本発明は、従来技術の有するこのような間圧点に鑑みな
されたものであり、その目的とするところは、非磁性の
一成分現像剤層を間隙を持って保持された静電潜像担持
体に向けて飛翔現像することで、高画質の画像を得るこ
とか可能で、且つ簡便な構成でカラー化も容易な低コス
トの現像装置を提供する二とである。
されたものであり、その目的とするところは、非磁性の
一成分現像剤層を間隙を持って保持された静電潜像担持
体に向けて飛翔現像することで、高画質の画像を得るこ
とか可能で、且つ簡便な構成でカラー化も容易な低コス
トの現像装置を提供する二とである。
上記目的を達成するために、請求項(1)記載の発明は
、静電潜像担持体に現像剤担持体上の静電潜像と同極性
に帯電された一成分非磁性項像剤を近接させ、該現像剤
担持体に矩形波バイアスを印加して静電潜像を可視像化
する乾式現像方法において、該矩形波バイアスとして、
周波数が3゜Oヘルツ乃至1500ヘルツで、現像剤の
帯電極性と同極性で絶対値が100ボルト以下か又は現
像剤の帯電極性と逆極性の第一電圧部と現像剤の帯電極
性と同極性で絶対値が700ボルト以上の第二電圧部と
からなり、第一電圧部の第二電圧部に対するデユーティ
比が3対2以上で、該デユーティ比が1対1の場合より
もポテンシャルの時間平均値が現像剤の帯電極性と逆極
性に偏奇している矩形波バイアスを用い、現像剤として
、単位質量当りの電荷量が5μC/g乃至20μC/g
の現像剤を用いることを特徴とするものであり、請求項
(2)記載の発明は、静電潜像担持体に現像剤担持体上
の静電潜像と逆極性に帯電された一成分非磁性現像剤を
近接させ、該現像剤担持体に矩形波バイアスを印加して
静電潜像を可視像化する乾式現像方法において、該矩形
波バイアスとして、周波数が300ヘルツ乃至1500
ヘルツで、現像剤の帯電極性と逆極性で絶対値が600
ボルト以上の第一電圧部と現像剤の帯電極性と同極性で
絶対値が100ボルト以上の第二電圧部とからなり、第
一電圧部の第二電圧部に対するデユーティ比が3対2以
上で、該デユーティ比が1対1の場合よりもポテンシャ
ルの時間平均値が現像剤の帯電極性と逆極性に偏奇して
いる矩形波バイアスを用い、現像剤として、単位質量坐
りの電荷量が5μC/g乃至20μC/ gの現像剤を
用いることを特徴とするものである。
、静電潜像担持体に現像剤担持体上の静電潜像と同極性
に帯電された一成分非磁性項像剤を近接させ、該現像剤
担持体に矩形波バイアスを印加して静電潜像を可視像化
する乾式現像方法において、該矩形波バイアスとして、
周波数が3゜Oヘルツ乃至1500ヘルツで、現像剤の
帯電極性と同極性で絶対値が100ボルト以下か又は現
像剤の帯電極性と逆極性の第一電圧部と現像剤の帯電極
性と同極性で絶対値が700ボルト以上の第二電圧部と
からなり、第一電圧部の第二電圧部に対するデユーティ
比が3対2以上で、該デユーティ比が1対1の場合より
もポテンシャルの時間平均値が現像剤の帯電極性と逆極
性に偏奇している矩形波バイアスを用い、現像剤として
、単位質量当りの電荷量が5μC/g乃至20μC/g
の現像剤を用いることを特徴とするものであり、請求項
(2)記載の発明は、静電潜像担持体に現像剤担持体上
の静電潜像と逆極性に帯電された一成分非磁性現像剤を
近接させ、該現像剤担持体に矩形波バイアスを印加して
静電潜像を可視像化する乾式現像方法において、該矩形
波バイアスとして、周波数が300ヘルツ乃至1500
ヘルツで、現像剤の帯電極性と逆極性で絶対値が600
ボルト以上の第一電圧部と現像剤の帯電極性と同極性で
絶対値が100ボルト以上の第二電圧部とからなり、第
一電圧部の第二電圧部に対するデユーティ比が3対2以
上で、該デユーティ比が1対1の場合よりもポテンシャ
ルの時間平均値が現像剤の帯電極性と逆極性に偏奇して
いる矩形波バイアスを用い、現像剤として、単位質量坐
りの電荷量が5μC/g乃至20μC/ gの現像剤を
用いることを特徴とするものである。
上記の様に構成された本発明は、非磁性の現像剤層を、
間隙を保って対向された静電潜像担持体に向けて飛翔現
像する際に現像ローラーに印加する矩形波バイアスが、
第一電圧部の第二電圧部に対するデユーティ比が3対2
以上で、該デユーティ比が1対1の場合よりもポテンシ
ャルの時間平均値が、現像剤の帯電極性と逆極性、即ち
、静電潜像と同極性に帯電された一成分非磁性現像剤を
用いる請求項(1)の発明においては静電潜像と逆極性
、静電潜像と逆極性に帯電された一成分非磁性現像剤を
用いる請求項(2)記載の発明においては静電潜像と同
極性になり、これにより、静電潜像の電界の強度に応答
して非磁性現像剤層が飛翔するように作用するものであ
る。
間隙を保って対向された静電潜像担持体に向けて飛翔現
像する際に現像ローラーに印加する矩形波バイアスが、
第一電圧部の第二電圧部に対するデユーティ比が3対2
以上で、該デユーティ比が1対1の場合よりもポテンシ
ャルの時間平均値が、現像剤の帯電極性と逆極性、即ち
、静電潜像と同極性に帯電された一成分非磁性現像剤を
用いる請求項(1)の発明においては静電潜像と逆極性
、静電潜像と逆極性に帯電された一成分非磁性現像剤を
用いる請求項(2)記載の発明においては静電潜像と同
極性になり、これにより、静電潜像の電界の強度に応答
して非磁性現像剤層が飛翔するように作用するものであ
る。
この発明の一実施例を第1図乃至第4図に基ついて説明
する。
する。
本実施例は、07Mがマイナス8μC/gに帯電された
一成分非磁性現像剤を用いて(現像ローラー2表面の現
像剤付着量は1.0mg/a()、画像部電位プラス5
00V、非画像部電位プラス50■の静電潜像をポジ・
ポジ現像するものである。
一成分非磁性現像剤を用いて(現像ローラー2表面の現
像剤付着量は1.0mg/a()、画像部電位プラス5
00V、非画像部電位プラス50■の静電潜像をポジ・
ポジ現像するものである。
第1図は本実施例の乾式現像方法を適用した現像装置の
概略構成図である。
概略構成図である。
静電潜像担持体である、ドラム状のセレン感光体1と、
−成分非磁性現像層を担持する現像剤担持体である現像
ローラー2と、現像ローラー2に圧接して当接部て現像
ローラー2と逆方向に回転する、現像剤供給部材である
スポンジローラー3と、現像ローラー2上に回当てで当
接している、現像剤の薄層形成部材であるウレタンゴム
ブレード4とを備えており、セレン感光体lは線速度1
500mm/秒で矢印方向に回転駆動されており、現像
ローラー2はこのセレン感光体1との対向領域で線速度
が等しくなるように矢印方向に回転駆動されている。こ
こで、現像ローラー2は、アルミ素材の表面にフッ素系
樹脂が塗付されたものであり、セレン感光体1表面と1
00μmの間隔で配置されている。ホッパー6に補給さ
れた現像剤はアジテータ−5によって撹拌され、スポン
ジ状の供給部材3に渡され、現像ローラー2との摩擦に
よって帯電され、現像ローラー2の表面に付着する。ウ
レタンゴムブレード4によって、現像ローラー2に付着
している現像剤は均一な現像剤層となって現像領域に搬
送される。現像剤層とセレン感光体1は非接触で対向し
ており、現像開始時にパルス電源8から矩形波バイアス
か現像ローラー2とスポンジローラー3に同時に印加さ
れる。
−成分非磁性現像層を担持する現像剤担持体である現像
ローラー2と、現像ローラー2に圧接して当接部て現像
ローラー2と逆方向に回転する、現像剤供給部材である
スポンジローラー3と、現像ローラー2上に回当てで当
接している、現像剤の薄層形成部材であるウレタンゴム
ブレード4とを備えており、セレン感光体lは線速度1
500mm/秒で矢印方向に回転駆動されており、現像
ローラー2はこのセレン感光体1との対向領域で線速度
が等しくなるように矢印方向に回転駆動されている。こ
こで、現像ローラー2は、アルミ素材の表面にフッ素系
樹脂が塗付されたものであり、セレン感光体1表面と1
00μmの間隔で配置されている。ホッパー6に補給さ
れた現像剤はアジテータ−5によって撹拌され、スポン
ジ状の供給部材3に渡され、現像ローラー2との摩擦に
よって帯電され、現像ローラー2の表面に付着する。ウ
レタンゴムブレード4によって、現像ローラー2に付着
している現像剤は均一な現像剤層となって現像領域に搬
送される。現像剤層とセレン感光体1は非接触で対向し
ており、現像開始時にパルス電源8から矩形波バイアス
か現像ローラー2とスポンジローラー3に同時に印加さ
れる。
本実施例における矩形波バイアスは、周波数が1000
ヘルツで、横軸に時間、縦軸に電圧を取った、第2図(
b)に示す様に、第一電圧部であるプラス800ボルト
の高電圧部aと第2電圧部であるマイナス200ボルト
の低電圧部すとからなり、高電圧部aの低電圧部すに対
するデユーティ比が2対1で、該デユーティ比が1対1
(第2図(a)の矩形波バイアス)の場合よりもポテン
シャルの時間平均値(第2図中、VPと表示する)がプ
ラス側に偏奇しているものである。同図中、VDは静電
潜像の画像部電位、VLは非画像部電位を示している。
ヘルツで、横軸に時間、縦軸に電圧を取った、第2図(
b)に示す様に、第一電圧部であるプラス800ボルト
の高電圧部aと第2電圧部であるマイナス200ボルト
の低電圧部すとからなり、高電圧部aの低電圧部すに対
するデユーティ比が2対1で、該デユーティ比が1対1
(第2図(a)の矩形波バイアス)の場合よりもポテン
シャルの時間平均値(第2図中、VPと表示する)がプ
ラス側に偏奇しているものである。同図中、VDは静電
潜像の画像部電位、VLは非画像部電位を示している。
本実施例によれば、第3図中、Bで示すI/D曲線のよ
うに、高電位部でも充分な濃度が得られ、又、ID、シ
ャープ性、階調性についての画像評価の結果を示す第4
図中、Bとして示すように、画像評価も良好であった。
うに、高電位部でも充分な濃度が得られ、又、ID、シ
ャープ性、階調性についての画像評価の結果を示す第4
図中、Bとして示すように、画像評価も良好であった。
ここで、第3図、第4図においては、比較のため、上記
デユーティ比が1対1である場合をAとして示している
。
デユーティ比が1対1である場合をAとして示している
。
又、本実施例と上記デユーティ比が3対1である点での
み異なる第2図(C)に示す矩形波バイアスを用いた現
像でも、第3図、第4図中、それぞれCとしC示すよう
に、高電位部でも充分な濃度が得られ、画像評価も良好
であった。
み異なる第2図(C)に示す矩形波バイアスを用いた現
像でも、第3図、第4図中、それぞれCとしC示すよう
に、高電位部でも充分な濃度が得られ、画像評価も良好
であった。
更に、セレノ感光体1と現像ローラー2上の現像剤層と
の間隔、矩形波バイアス、現像剤の07M等を異ならせ
て実験を行ったところ、セレン感光体1と現像ローラー
2上の現像剤層との間隔が30μm乃至250μmで、
矩形波バイアスが周波数300ヘルツ乃至1500ヘル
ツで、0. 5乃至2.5ミリ秒間のプラス600ボル
ト以上の高電圧部とO,l乃至0.9ミリ秒間のマイナ
ス100ボルト以下の低電圧部とからなり、高電圧部の
低電圧部に対するデユーティ比が3対2以上で、該デュ
ーティ比が1対1の場合よりもポテンシャルの時間平均
値がプラスに偏奇しており、07Mがマイナス5μC/
g乃至マイナス20μC/gの現像剤を現像ローラー2
表面に0.3mgZ酬乃至2.0mg/a+を付着させ
たものでは、同様に、高電位部でも充分な濃度が得られ
、画像評価も良好であった。
の間隔、矩形波バイアス、現像剤の07M等を異ならせ
て実験を行ったところ、セレン感光体1と現像ローラー
2上の現像剤層との間隔が30μm乃至250μmで、
矩形波バイアスが周波数300ヘルツ乃至1500ヘル
ツで、0. 5乃至2.5ミリ秒間のプラス600ボル
ト以上の高電圧部とO,l乃至0.9ミリ秒間のマイナ
ス100ボルト以下の低電圧部とからなり、高電圧部の
低電圧部に対するデユーティ比が3対2以上で、該デュ
ーティ比が1対1の場合よりもポテンシャルの時間平均
値がプラスに偏奇しており、07Mがマイナス5μC/
g乃至マイナス20μC/gの現像剤を現像ローラー2
表面に0.3mgZ酬乃至2.0mg/a+を付着させ
たものでは、同様に、高電位部でも充分な濃度が得られ
、画像評価も良好であった。
次に、本発明の第2実施例を説明する。
この実施例は、Q / Mかマイナス8μC/gに帯電
された一成分非磁性現像剤を用いて(現像ローラー2表
面の現像剤付着量は1.0mg/a()、線速度120
mm/秒で回転駆動されるドラム状の有機感光体上に担
持されている、画像部電位マイナス150V、非画像部
電位マイナス700■の静電潜像をネガ・ポジ現像(静
電潜像の極性と同極性の現像剤で現像する、所謂、反転
現像)するものである。
された一成分非磁性現像剤を用いて(現像ローラー2表
面の現像剤付着量は1.0mg/a()、線速度120
mm/秒で回転駆動されるドラム状の有機感光体上に担
持されている、画像部電位マイナス150V、非画像部
電位マイナス700■の静電潜像をネガ・ポジ現像(静
電潜像の極性と同極性の現像剤で現像する、所謂、反転
現像)するものである。
本実施例の乾式現像方法を適用した現像装置は、現像ロ
ーラー2として、アルミ素材の表面に微細な凹部を多数
設けて、これにフッ素系樹脂を封入したものを用い、矩
形波バイアスとして、第一電圧部である0、8ミリ秒間
のプラス200ボルトの高電圧部と第二電圧部である0
、4ミリ8′闇のマイナス1200ボルトの低電圧部と
からなるものを用いるもので、これ以外の点は上記第1
実施例と同じ構成である。この実施例においても、第5
図に示すI/D曲線の様に高電位部でも充分な濃度が得
られ、又、ライン部の鮮明な解像度の良い画像が得られ
た。
ーラー2として、アルミ素材の表面に微細な凹部を多数
設けて、これにフッ素系樹脂を封入したものを用い、矩
形波バイアスとして、第一電圧部である0、8ミリ秒間
のプラス200ボルトの高電圧部と第二電圧部である0
、4ミリ8′闇のマイナス1200ボルトの低電圧部と
からなるものを用いるもので、これ以外の点は上記第1
実施例と同じ構成である。この実施例においても、第5
図に示すI/D曲線の様に高電位部でも充分な濃度が得
られ、又、ライン部の鮮明な解像度の良い画像が得られ
た。
又、有機感光体1と現像ローラー2上の現像剤層との間
隔、矩形波バイアス、現像剤の07M等を異ならせて実
験を行ったところ、有機感光体1と現像ローラー2上の
現像剤層との間隔が30μm乃至250μmで、矩形波
バイアスが周波数300ヘルツ乃至1500ヘルツで、
0.5乃至2゜5ミリ秒間のマイナス100ボルト以上
の高電圧部と0.1乃至0.9ミリ秒間のマイナス70
0ボルト以下の低電圧部とからなり、高電圧部の低電圧
部に対するデユーティ比が3対2以上で、該デューティ
比が1対1の場合よりもポテンシャルの時間平均値かプ
ラスに偏奇しており、07Mかマイナス5μC/g乃至
マイナス20μC/gの現像剤を現像ローラー2表面に
0.3mg/ad乃至2.0mg/ゴ付着させたもので
は、同様に、高電位部でも充分な濃度が得られ、画像評
価も良好であった。
隔、矩形波バイアス、現像剤の07M等を異ならせて実
験を行ったところ、有機感光体1と現像ローラー2上の
現像剤層との間隔が30μm乃至250μmで、矩形波
バイアスが周波数300ヘルツ乃至1500ヘルツで、
0.5乃至2゜5ミリ秒間のマイナス100ボルト以上
の高電圧部と0.1乃至0.9ミリ秒間のマイナス70
0ボルト以下の低電圧部とからなり、高電圧部の低電圧
部に対するデユーティ比が3対2以上で、該デューティ
比が1対1の場合よりもポテンシャルの時間平均値かプ
ラスに偏奇しており、07Mかマイナス5μC/g乃至
マイナス20μC/gの現像剤を現像ローラー2表面に
0.3mg/ad乃至2.0mg/ゴ付着させたもので
は、同様に、高電位部でも充分な濃度が得られ、画像評
価も良好であった。
次に、本発明の第3実施例を説明する。
この実施例は、07Mがプラス12μC/gに帯電され
た一成分非磁性現像剤を用いて(現像ローラー2表面の
現像剤付着量は1.○mg/7)、線速度120mm/
秒で回転駆動されるドラム状の有機感光体上に担持され
ている、画像部電位マイナス700V、非画像部電位マ
イナス150Vの静電潜像をポジ・ポジ現像するもので
ある。
た一成分非磁性現像剤を用いて(現像ローラー2表面の
現像剤付着量は1.○mg/7)、線速度120mm/
秒で回転駆動されるドラム状の有機感光体上に担持され
ている、画像部電位マイナス700V、非画像部電位マ
イナス150Vの静電潜像をポジ・ポジ現像するもので
ある。
本実施例の乾式現像方法を適用した現像装置は、現像ロ
ーラー2として、アルミ芯金の表面にフッ素系樹脂を塗
布したものを用い、矩形波バイアスとして、第一電圧部
である0、8ミリ秒間のマイナス1200ボルトの低電
圧部と第二電圧部である0、4ミリ秒間のプラス400
ボルトの高電圧部とからなるものを用いるもので、これ
以外の点は上記第1実施例と同じ構成である。この実施
例においても、第6図に示す工/D曲線の様に高電位部
でも充分な濃度が得られ、又、ライン部の鮮明な解像度
の良い画像が得られた。
ーラー2として、アルミ芯金の表面にフッ素系樹脂を塗
布したものを用い、矩形波バイアスとして、第一電圧部
である0、8ミリ秒間のマイナス1200ボルトの低電
圧部と第二電圧部である0、4ミリ秒間のプラス400
ボルトの高電圧部とからなるものを用いるもので、これ
以外の点は上記第1実施例と同じ構成である。この実施
例においても、第6図に示す工/D曲線の様に高電位部
でも充分な濃度が得られ、又、ライン部の鮮明な解像度
の良い画像が得られた。
又、有機感光体1と現像ローラー2上の現像剤層との間
隔、矩形波バイアス、現像剤の07M等を異ならせて実
験を行ったところ、有機感光体1と現像ローラー2上の
現像剤層との間隔が30μm乃至250μmで、矩形波
バイアスが周波数300ヘルツ乃至1500ヘルツで、
0.5乃至2゜5ミリ秒間のマイナス600ボルト以下
の低電圧部と0.1乃至0.9ミリ抄間のプラス100
ボルト以上の高電圧部とからなり、低電圧部の高電圧部
に対するデユーティ比が3対2以上で、該デユーティ比
が1対1の場合よりもポテンシャルの時間平均値かマイ
ナスに偏奇しており、07Mかプラス5μC/g乃至マ
イナス20μC/gの現像剤を現像ローラー2表面に0
.3mg/a+を乃至2.0mg/a+を付着させたも
のでは、同様に、高電位部でも充分な濃度か得られ、画
像評価も良好であった。
隔、矩形波バイアス、現像剤の07M等を異ならせて実
験を行ったところ、有機感光体1と現像ローラー2上の
現像剤層との間隔が30μm乃至250μmで、矩形波
バイアスが周波数300ヘルツ乃至1500ヘルツで、
0.5乃至2゜5ミリ秒間のマイナス600ボルト以下
の低電圧部と0.1乃至0.9ミリ抄間のプラス100
ボルト以上の高電圧部とからなり、低電圧部の高電圧部
に対するデユーティ比が3対2以上で、該デユーティ比
が1対1の場合よりもポテンシャルの時間平均値かマイ
ナスに偏奇しており、07Mかプラス5μC/g乃至マ
イナス20μC/gの現像剤を現像ローラー2表面に0
.3mg/a+を乃至2.0mg/a+を付着させたも
のでは、同様に、高電位部でも充分な濃度か得られ、画
像評価も良好であった。
更に、このプラス帯電の現像剤を用いて、ネガ・ポジ現
像を行ったところ、有機感光体1と現像ローラー2上の
現像剤層との間隔が30μm乃至250μmで、矩形波
バイアスが周波数300ヘルツ乃至1500ヘルツで、
0.5乃至2.5ミリ秒間のマイナス100ボルト以下
の低電圧部と01乃至0.9ミリ秒間のプラス700ボ
ルト以上の高電圧部とからなり、低電圧部の高電圧部に
対するデユーティ比が3対2以上で、該デユーティ比が
1対1の場合よりもポテンシャルの時間平均値がマイナ
スに偏奇しており、Q / Mかプラス5μC/g乃至
マイナス20μC/gの現像剤を現像ローラー2表面に
o、3mg/a+を乃至2.0mg/ad付着させたも
のでは、同様に、高電位部でも充分な濃度が得られ、画
像評価も良好であった。
像を行ったところ、有機感光体1と現像ローラー2上の
現像剤層との間隔が30μm乃至250μmで、矩形波
バイアスが周波数300ヘルツ乃至1500ヘルツで、
0.5乃至2.5ミリ秒間のマイナス100ボルト以下
の低電圧部と01乃至0.9ミリ秒間のプラス700ボ
ルト以上の高電圧部とからなり、低電圧部の高電圧部に
対するデユーティ比が3対2以上で、該デユーティ比が
1対1の場合よりもポテンシャルの時間平均値がマイナ
スに偏奇しており、Q / Mかプラス5μC/g乃至
マイナス20μC/gの現像剤を現像ローラー2表面に
o、3mg/a+を乃至2.0mg/ad付着させたも
のでは、同様に、高電位部でも充分な濃度が得られ、画
像評価も良好であった。
以上の各実施例によれば、現像剤層と静電潜像担持体の
間隙が30μm乃至250μmの範囲で好ましくは60
μm乃至140μmの範囲てあれば、安定的にライン部
の鮮明な解像度の優れた画像か得られ、更にベタ部も均
一で充分な画像濃度を達成できる。
間隙が30μm乃至250μmの範囲で好ましくは60
μm乃至140μmの範囲てあれば、安定的にライン部
の鮮明な解像度の優れた画像か得られ、更にベタ部も均
一で充分な画像濃度を達成できる。
又、現像ローラー上の単位面積当り現像剤質量が0.3
mg/am2乃至2.○mg/an”の範囲で好ましく
は0.7mg/an”乃至1.5mg/唾゛の範囲であ
れば現像ローラーと静電潜像担持体が線速度が等しく動
作しても充分な画像濃度を達成でき、更に画像の後端部
に現像剤溜りの無い均一な濃度が得られ、更に現像装置
の駆動トルクが小さくできる。
mg/am2乃至2.○mg/an”の範囲で好ましく
は0.7mg/an”乃至1.5mg/唾゛の範囲であ
れば現像ローラーと静電潜像担持体が線速度が等しく動
作しても充分な画像濃度を達成でき、更に画像の後端部
に現像剤溜りの無い均一な濃度が得られ、更に現像装置
の駆動トルクが小さくできる。
更に、現像保持ローラーは表面に比抵抗が10°乃至1
0゛°Ω・1、好ましくは10゛乃至10゛′Ω・何の
範囲で厚みが5mm以下の抵抗層、例えばフッ素系樹脂
等を被覆すれば、現像ローラーと静電潜像担持体の間隙
が狭いわりに矩形波バイアスの振幅か大きいときく例え
ば、間隙100μmで、振幅が1000Vを越えるよう
にとき)にも、現像ローラーと静電潜像担持体の間隙に
放電が起きる恐れをなくすことが出来、非磁性の現像剤
層に充分な飛翔のエネルギーを与えながら更に静電潜像
に忠実な画像が得られる。
0゛°Ω・1、好ましくは10゛乃至10゛′Ω・何の
範囲で厚みが5mm以下の抵抗層、例えばフッ素系樹脂
等を被覆すれば、現像ローラーと静電潜像担持体の間隙
が狭いわりに矩形波バイアスの振幅か大きいときく例え
ば、間隙100μmで、振幅が1000Vを越えるよう
にとき)にも、現像ローラーと静電潜像担持体の間隙に
放電が起きる恐れをなくすことが出来、非磁性の現像剤
層に充分な飛翔のエネルギーを与えながら更に静電潜像
に忠実な画像が得られる。
なお、上記各実施例においては、像担持体としてドラム
状の感光体を用でいるが、これに替え、ベルト状の感光
体を用いても良い。又、現像ローラー2にはマグネット
が不要なため低コストのローラーが使用でき、例えばア
ルミの芯金にサンドブラストをかけたものへフッ素系の
樹脂を塗布したもの、又は導電性のゴム層を持ったもの
でも良い。現像副供給部材3としてはスポンジ状部材の
他、ブラシ状部材でも良い。又、現像剤層形成部材とし
てはウレタンゴムの他、他のゴム種類のづムや金属の弾
性部材でも良い。
状の感光体を用でいるが、これに替え、ベルト状の感光
体を用いても良い。又、現像ローラー2にはマグネット
が不要なため低コストのローラーが使用でき、例えばア
ルミの芯金にサンドブラストをかけたものへフッ素系の
樹脂を塗布したもの、又は導電性のゴム層を持ったもの
でも良い。現像副供給部材3としてはスポンジ状部材の
他、ブラシ状部材でも良い。又、現像剤層形成部材とし
てはウレタンゴムの他、他のゴム種類のづムや金属の弾
性部材でも良い。
以上のように、この発明によれば、非磁性の現像剤層を
、間隙を保って対向された静電潜像担持体に向けて飛翔
現像する際に現像ローラーに印加する矩形波バイアスが
、第一電圧部の第二電圧部に対するデユーティ比が3対
2以上で、該デユーティ比が1対1の場合よりもポテン
シャルの時間平均値が、現像剤の帯電極性と逆極性、即
ち、静電潜像と同極性に帯電された一成分非磁性現像剤
を用いる請求項(1)の発明においては静電潜像と逆極
性、静電潜像と逆極性に帯電された一成分非磁性現像剤
を用いる請求項(2)記載の発明においては静電潜像と
同極性になり、これにより、静電潜像の電界の強度に応
答して非磁性現像剤層か飛翔するので、高画質の画像を
得ることが出来、且つ、前記矩形波バイアスの周波数が
300ヘルツ乃至1500ヘルツの範囲で好ましくは5
00ヘルツ乃至1200ヘルツの範囲であるので、滑ら
かな画像が得られるという優れた効果がある。
、間隙を保って対向された静電潜像担持体に向けて飛翔
現像する際に現像ローラーに印加する矩形波バイアスが
、第一電圧部の第二電圧部に対するデユーティ比が3対
2以上で、該デユーティ比が1対1の場合よりもポテン
シャルの時間平均値が、現像剤の帯電極性と逆極性、即
ち、静電潜像と同極性に帯電された一成分非磁性現像剤
を用いる請求項(1)の発明においては静電潜像と逆極
性、静電潜像と逆極性に帯電された一成分非磁性現像剤
を用いる請求項(2)記載の発明においては静電潜像と
同極性になり、これにより、静電潜像の電界の強度に応
答して非磁性現像剤層か飛翔するので、高画質の画像を
得ることが出来、且つ、前記矩形波バイアスの周波数が
300ヘルツ乃至1500ヘルツの範囲で好ましくは5
00ヘルツ乃至1200ヘルツの範囲であるので、滑ら
かな画像が得られるという優れた効果がある。
又、非磁性の一成分現像剤を用いるので、簡便な構成で
カラー化も容易な低コストの乾式現像装置を提供するこ
とが出来る。
カラー化も容易な低コストの乾式現像装置を提供するこ
とが出来る。
第1図乃至第4図は、本発明の一実施例を説明するため
の図面であり、第1図は本実施例にかかる乾式現像方法
を適用した現像装置の概略構成図、第2図(a)乃至(
C)はデユーティ−比が異なる矩形波バイアスの波形図
であり、それぞれ1対1.2対1.3対1のものを示し
、第3図は第2図(a)乃至(C)の各矩形波バイアス
を用いた場合のID直線を示す特性図、第4図は第2図
(a)乃至(c)の各矩形波バイアスを用いた場合の画
像評価結果を示す表である。第5図、第6図は、それぞ
れ本発明の第2実施例、第3実施例におけるID曲線を
示す特性図である。第7図乃至第9図は、従来技術を説
明するための図面てあり、第7図及び第8図は従来の現
像バイアスの波形図、第9図は従来の現像方法によるI
D曲線を示す特性図である。第10図及び第11図は、
従来の現像方法における現像バイアスを非磁性−成分現
像剤を用いた現像に用いた場合のID曲線を示す特性図
である。
の図面であり、第1図は本実施例にかかる乾式現像方法
を適用した現像装置の概略構成図、第2図(a)乃至(
C)はデユーティ−比が異なる矩形波バイアスの波形図
であり、それぞれ1対1.2対1.3対1のものを示し
、第3図は第2図(a)乃至(C)の各矩形波バイアス
を用いた場合のID直線を示す特性図、第4図は第2図
(a)乃至(c)の各矩形波バイアスを用いた場合の画
像評価結果を示す表である。第5図、第6図は、それぞ
れ本発明の第2実施例、第3実施例におけるID曲線を
示す特性図である。第7図乃至第9図は、従来技術を説
明するための図面てあり、第7図及び第8図は従来の現
像バイアスの波形図、第9図は従来の現像方法によるI
D曲線を示す特性図である。第10図及び第11図は、
従来の現像方法における現像バイアスを非磁性−成分現
像剤を用いた現像に用いた場合のID曲線を示す特性図
である。
Claims (2)
- (1)静電潜像担持体に現像剤担持体上の静電潜像と同
極性に帯電された一成分非磁性現像剤を近接させ、該現
像剤担持体に矩形波バイアスを印加して静電潜像を可視
像化する乾式現像方法において、該矩形波バイアスとし
て、周波数が300ヘルツ乃至1500ヘルツで、現像
剤の帯電極性と同極性で絶対値が100ボルト以下か又
は現像剤の帯電極性と逆極性の第一電圧部と現像剤の帯
電極性と同極性で絶対値が700ボルト以上の第二電圧
部とからなり、第一電圧部の第二電圧部に対するデュー
ティ比が3対2以上で、該デューティ比が1対1の場合
よりもポテンシャルの時間平均値が現像剤の帯電極性と
逆極性に偏奇している矩形波バイアスを用い、現像剤と
して、単位質量当りの電荷量が5μC/g乃至20μC
/gの現像剤を用いることを特徴とする乾式現像方法。 - (2)静電潜像担持体に現像剤担持体上の静電潜像と逆
極性に帯電された一成分非磁性現像剤を近接させ、該現
像剤担持体に矩形波バイアスを印加して静電潜像を可視
像化する乾式現像方法において、該矩形波バイアスとし
て、周波数が300ヘルツ乃至1500ヘルツで、現像
剤の帯電極性と逆極性で絶対値が600ボルト以上の第
一電圧部と現像剤の帯電極性と同極性で絶対値が100
ボルト以上の第二電圧部とからなり、第一電圧部の第二
電圧部に対するデューティ比が3対2以上で、該デュー
ティ比が1対1の場合よりもポテンシャルの時間平均値
が現像剤の帯電極性と逆極性に偏奇している矩形波バイ
アスを用い、現像剤として、単位質量当りの電荷量が5
μC/g乃至20μC/gの現像剤を用いることを特徴
とする乾式現像方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2123940A JP3033975B2 (ja) | 1990-05-14 | 1990-05-14 | 乾式現像方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2123940A JP3033975B2 (ja) | 1990-05-14 | 1990-05-14 | 乾式現像方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0419677A true JPH0419677A (ja) | 1992-01-23 |
| JP3033975B2 JP3033975B2 (ja) | 2000-04-17 |
Family
ID=14873118
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2123940A Expired - Fee Related JP3033975B2 (ja) | 1990-05-14 | 1990-05-14 | 乾式現像方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3033975B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0616267A1 (en) * | 1993-03-19 | 1994-09-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Image forming apparatus having developer carrying member supplied with oscillating voltage |
-
1990
- 1990-05-14 JP JP2123940A patent/JP3033975B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0616267A1 (en) * | 1993-03-19 | 1994-09-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Image forming apparatus having developer carrying member supplied with oscillating voltage |
| US5424812A (en) * | 1993-03-19 | 1995-06-13 | Canon Kabushiki Kaisha | Image forming apparatus having developer carrying member supplied with oscillating voltage |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3033975B2 (ja) | 2000-04-17 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090218 Year of fee payment: 9 |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |