JPH0420146B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （発明の目的） この発明は、電子機器用部品として生産された
プリント配線板（以下配線板という）を機器に組
込む事前に、配線板における回路断線および回路
短絡の有無を検査するのに使用する治具に関する
もので、配線板における全電極がオングリツド配
置の場合はもちろん、オフグリツド配置の電極を
含む場合や、特にフラツトパツケージ電極を有す
る場合のすべてについて簡単に検査を行うことが
可能であるとともに、被検査配線板（以下検体と
いう）の変更にも簡単に対処できるような検査手
段を提供するのがその目的である。

従来、配線板の検査には、検体の各電極に対応
する治具板上の位置にピンを植立し、測定装置に
接続されるリード線をそれらのピンにハンダづけ
した検査用ジグ、すなわち、特定した配線板に対
する専用治具が使用されており、このような専用
治具は多数の電極数に対応するものの場合非常に
高価であるが、量産される配線板についてはその
１枚あたりの治具の償却費は比較的小さい。しか
しながら、電子機器の多様化にしたがい、１種類
の配線板が少量生産される例も増加し、その場
合、配線板１枚あたりの前記専用治具のコストは
著しく高価なものとなる。

そこで、異種の配線板に対応するため、治具の
ベース板上におけるモジユールピツチのマトリツ
クスの全位置において、弾性的に伸縮できるスプ
リングピンを植立し、任意種類の検体を上方から
押しつけた場合、検体の電極位置に対応する位置
にあるスプリングピンのみが通電できるようにし
た、いわゆる汎用治具が使用されるようになつ
た。

現在、前記したモジユール間隔は2.54mmに統一
されているが、従来のほとんどの配線板ではその
電極位置がこのモジユールにしたがつたマトリツ
クス位置に設定されていた。このような電極配置
は「オングリツド」とよばれているが、現在はオ
ングリツドではない電極配置すなわち「オフグリ
ツド」の電極をも含む配線板の種類も増加してお
り、このオフグリツド電極には前記汎用治具のス
プリングピンが係合しないので、前記した汎用治
具は使用できない。

そこで、このようなオフグリツド電極を含む配
線板に対する汎用治具として、最近、第２図に示
すようなオフグリツド電極つき配線板用の汎用治
具が開発された。すなわち、この新治具は下記す
るプローブピン１と、ベース板２と、上位案内板
３と下位案内板４とを組にしてなつている。

ここで、プローブピン１は一例を第３図に示す
が、脱け止め用のつば１１を中間部に張出した直
筒状の頸部１２およびたがいに電気的に接続され
ているピン頭１３およびピン脚１４をそなえてい
る。ピン頭１３が伸縮可能に、ピン脚１４は伸縮
および屈曲可能に、それぞれ頸部１２により弾支
されている。

ベース板２はピン脚１４に対するソケツト７１
を一定モジユールピツチのマトリツクス状に固設
したソケツト板７の各ソケツト７１に対応する位
置にピン脚１４に対する通孔２１を穿つた絶縁板
からなつている。

上位案内板３および下位案内板４は、ベース板
２から隔離された上下の位置においてベース板２
により支持固定されている。そして、上位案内板
３および下位案内板４のそれぞれは、検体８の各
電極に対応する位置にプローブピンの頸部１２案
内用の通孔３１，４１が穿たれている。

なお、第２図において図示されていないが、検
体８の位置ぎめピンが下位案内板４、ベース板２
のいずれかにより上位案内板３の上方に穿設され
ているのはいうまでもない。

ここに述べたようなオフグリツド電極つき配線
板用汎用治具を使用して検査を行う場合、ベース
板２をオングリツドのソケツト板７に対応させて
載置し、上位案内板の通孔３１および下位案内板
の通孔４１にプローブピン１を挿通する。通孔３
１，４１が検体８のオングリツド電極８１に対応
するものである場合は、プローブピン１は図中の
ａ，ｄで示すように垂直性を保ち、そのピン脚１
４の末端は対応するソケツト７１に受容係合され
る。通孔３１，４１がオフグリツド電極８２に対
応するものである場合は、直状のプローブピン１
のピン脚１４の末端がオングリツドに配置されて
いるどのソケツト７１にも受容されないので、そ
の場合ピン脚１４の末端の着床位置の最寄りのソ
ケツト７２にピンセツトなどで挿入する。この状
態は図中のｂ，ｃで示されている。この場合、頸
部１２は垂直に保持されたままであるが、下半部
が弾性的に屈曲するので、そのような着床位置の
最寄りのソケツト７２への係合は容易である。か
くして検体８を圧下することにより、各プローブ
ピン１のピン頭１３が検体８の対応する電極に係
合するので測定を開始し、その検体８の検査が終
われば他の検体の検査に移る。なお、図示を省略
したが、図中のソケツト板７の各ソケツト７１，
７２は、リード線によりすべて測定装置に接続さ
れている。

さて、上記のようなオフグリツド電極つき配線
用汎用治具によれば、オングリツド電極のみをも
つ配線板、オフグリツド電極のみをもつ配線板、
または、オングリツド電極とオフグリツド電極の
両方をもつ配線板のいずれも検査対象となるが、
最近はこれらの電極のほか第４図に底面図を示す
ようなフラツトパツケージ電極８３をそなえる配
線板が用いられるようになつた。フラツトパツケ
ージ電極の隣接する電極８３，８３′はその中心
距離が非常に小さく、かつオフグリツド電極配置
に属するので、第２図で示したオフグリツド電極
８２を含む配線板８におけるオフグリツド電極８
２と同様に取扱い、下半部を屈曲させてソケツト
７２に係合させたプローブピン１′のピン頭１３
に対応する電極８３を押圧係合させて測定を行う
ことができる。ところが、第１図に示すようにフ
ラツトパツケージの電極８３は浅い凹所であるの
に対し、標準仕様であるオングリツド電極８１お
よびオフグリツド電極８２は通孔を有する環状の
電極であるため、検体８を圧下したときオングリ
ツド電極８１またはオフグリツド電極８２に係合
するプローブピン１よりもフラツトパツケージ電
極８３に係合するプローブピン１′の方が下方に
押され、全長の圧縮の割合が大きい。かくして、
最初の検体８の検査が終つてこれを取除いたと
き、圧縮割合が大きいプローブピン１′の弾性に
よる復位反動が大きく、この反動に起因し、しば
しばピン脚１４がソケツト７１からとび出し、時
により他の近隣のソケツトに移転係合する。この
ようにソケツトからとび出たり、他のソケツトに
移転したりしたプローブピンの発見や原位置への
修復は、プローブピン相互の間隔がきわめて小さ
く、かつ一般に多数の本数であるため、事実上不
可能に近い。かくして、検体８がフラツトパツケ
ージ電極を含む場合はコストの著しく高い従来の
専用治具によるよりほかはない。

（発明の構成） この発明は、このように、専用治具によるほか
手段のなかつたフラツトパツケージ電極つきの検
体の検査を汎用治具によつて行うことを可能とす
るように工夫改良したもので、以下第１図に示し
た実施例によりこの発明を説明する。

すなわち、この発明にかかる治具はプローブピ
ン１，１′と、ベース板２と、上位案内板３と、
下位案内板４と、上部マスク５と、下部マスク６
とを組にしてなつている。そして、プローブピン
１，１′、ベース板２、上位案内板３、および下
位案内板４の構成は、前述しかつ第２図に示した
オフグリツド電極つき配線板検査用汎用治具のも
のと全く同様であるから、それらの構成を繰返す
のを省略する。

上位マスク５は、上位案内板３および下位案内
板４と同じく、検体８の各電極に対応する位置に
プローブピン１，１′のピン頭１３案内用の通孔
５１を穿つたもので、ベース板２、上位案内板
３、下位案内板４のいずれかによつて弾支される
検体位置ぎめピン９により、上位案内板３の上方
において検体８に対応してこれを位置ぎめ支承で
きるように位置ぎめ孔５２を穿つた絶縁板からな
つている。

下位マスク６は、検体８の各電極に対応する位
置にプローブピン１の頸部１２の上部案内用の通
孔６１を穿つた絶縁板からなり、下位マスク６は
上位マスク５と上位案内板３の間に挿入可能に形
成されている。

なお、図示の実施例において、位置ぎめピン９
は上位案内板３によつて弾支されているが、下位
案内板４またはベース板２により弾支されるよう
に設計しても差支えないことは自明である。ま
た、図示の実施例の下位マスク６は、前記した位
置ぎめピン９に対応する位置に、上位マスク５支
持用のつば９１よりも大径の通孔６２が穿つてあ
るが、これは後述するように、上位マスク５と上
位案内板３の間に下位マスク６を挿入する必要上
設けたもので、下位マスク６をプローブピン１の
頸部１２に差込むときに下位マスク６が位置ぎめ
ピンのつば９１に触れないようなサイズである場
合は、通孔６２は不要である。

ところで、前記したように、この発明におい
て、上位案内板３、下位案内板４、上位マスク
５、下位マスク６のそれぞれに、符号３１，４
１，５１，６１で示すような通孔が、検体８の各
電極に対応する位置に穿つてあるが、第５図に
は、検体８の電極が第４図に示すようなフラツト
パツケージ電極８３，８３′である場合において、
前記上位案内板３、下位案内板４、上位マスク
５、下位マスク６にそれぞれ穿つた通孔３１，４
１，５１，６１の底面図の態様を示してある。す
なわち、図示例のたがいに隣接する電極８３，８
３′の中心距離が0.7mmと小さく、かつ前記各通孔
３１，４１，５１，６１の径が1.0ｍと大きく、
したがつて、これらの通孔を一列に設けることが
できない場合、隣接する通孔をちどり状に穿ち、
これらの通孔に挿入されたプローブピン間の接触
による短絡の防止を容易にしたものである。

さて、この発明は前記のようにしてなるので、
この治具を用いて検体８の検査を行うには、前記
したオフグリツド電極つき配線板汎用検査ジグと
同じく、まず、上位案内板３、下位案内板４の対
応する通孔３１，４１を通じてプローブピン１を
上方から挿入すれば、それらの通孔がオングリツ
ド電極に対応する場合はプローブピン１は直状の
まま、そのピン脚１４の先端は対応するベース板
２の通孔２１をへてソケツト７１に受容される。
また、前記通孔がオフグリツド電極に対応する場
合は、ソケツト７１には係合せず、ピン脚１４の
先端がソケツト板７の板面に着床するため、ピン
頭１３の位置が高くなつている。そこで、プロー
ブピン１′の下半部を僅かに屈曲させ、その着床
位置の最寄りのソケツト７２にピン脚１４の先端
を挿入する。通孔３１，４１がフラツトパツケー
ジ電極８３に対応する場合についても同様であ
る。このようにしてセツトした各プローブピン
１，１′は下半部が屈曲した状態にセツトされて
いるものも含め、その頸部１２は垂直状に保たれ
ている。

つぎに、このようにセツトされたプローブピン
１，１′の上方から、下位マスク６の通孔６１を
プローブピン１の頸部１２は直筒状で中間部には
める。頸部１２には脱け止め用のつば１１が張り
出しているので、下位マスク６はつば１１に着床
し、つば１１が上位案内板３と下位マスクとには
さまれて固定され、従つてプローブピンの頸部が
固定されている。そこで。さらに、上位マスク５
を検体位置ぎめピン９によつてセツトし、治具の
セツトを完了する。

検体８の検査を開始する場合、前記した上位マ
スク５のセツトと同様にして、上位マスクの上に
検体８を重ねてセツトする。第１図にはこのよう
にして検体８がセツトされた、検査開始前の状態
が示されている。

このようにして、治具にセツトした検体８に対
して上方から圧力を加えれば、検体８とともに上
位マスク５が想像線位置まで下降する。上位マス
クに穿たれている通孔５１はピン頭１３の挿通を
許すので、検体８の各電極８１，８２，８３はそ
れぞれ対応するプローブピンのピン頭１３に係合
し、ピン頭１３の圧下によりプローブピン１の全
長が短縮する。かくして、それらの電源はプロー
ブピン１，１′を介し、プローブピンのピン脚１
４が係合しているソケツト７１，７２，７３に接
続され、したがつてそれらのソケツトを通じ、検
査に所要の電圧を各電極に印加することができ
る。

検体８への加圧を解除して検体８を除去すると
ともに、つぎの検体を前記と同様にしてセツトし
て検査を行い、このようにして複数の検体の回路
断線および回路短絡の検査を行うのであるが、前
記した一般のオングリツド電極８１、オフグリツ
ド電極８２は中心孔をもつているのに対し、フラ
ツトパツケージ電極８３は浅い凹所によつて形成
されているので、一般のオングリツド電極８１お
よびオフグリツド電極８２とフラツトパツケージ
電極８３とでは、フラツトパツケージ電極８３に
対応するプローブピン１′の方が大きい圧力を受
け、したがつて、加圧が解除される際、このプロ
ーブピン１′は特に弾発して飛びあがろうとする
が、プローブピン１の頸部に設けられた脱け止め
用のつば１１が下位マスク６によつて押さえられ
ているので、前記のように弾発があつても、ピン
脚１４の末端がソケツト７３から脱出するおそれ
がなく、かくして、検体８の交換による検査成績
への信頼性の低下は全く発生しない。

（発明の効果） かくしてこの発明によれば、オングリツド電極
のみを有するプリント配線板、オフグリツド電極
のみを有するプリント配線板、オングリツド電極
とオフグリツド電極との両種の電極を有するプリ
ント配線板の検査はもちろん、従来、専用治具に
よるよりほか検査手段のなかつた、フラツトパツ
ケージ電極を有するプリント配線板の検査を円滑
に実施できる。すなわち、各種プリント配線板に
対する検査用汎用治具が提供され、したがつて、
電子機器において現在もつとも要求されている多
機種少量生産におけるプリント配線板の検査コス
トの顕著な低減ならびに検査成績の信頼性の確保
を同時に達成することが可能になつた。

【図面の簡単な説明】

第１図は、フラツトパツケージ電極をもつプリ
ント配線板の検査開始の際におけるこの発明にか
かる治具の一実施例の要部縦断面図、第２図はオ
フグリツド電極つきプリント配線板検査用汎用治
具の要部縦断面図、第３図はフローブピンの一例
の軸断面図、第４図はフラツトパツケージ電極を
そなえるプリント配線板の要部を示す底面図、第
５図は第４図に示すフラツトパツケージ電極に対
応する通孔を穿つた上位案内板、下位案内板、上
位マスクまたは下位マスクの要部を示す底面図で
ある。 １，１′はプローブピン、１２は頸部、１３は
ピン頭、１４はピン脚、２はベース板、３は上位
案内板、４は下位案内板、５は上位マスク、５２
は位置ぎめ孔、６は下位マスク、７はソケツト
板、７１，７２，７３はソケツト、８は検体、８
１はオングリツド電極、８２はオフグリツド電
極、８３，８３′はフラツトパツケージ電極、９
は検体位置ぎめピン、２１，３１，４１，５１，
６１，６２は通孔、１１，９１はつばである。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 脱け止め用のつば１１を中間部に張出した直
   筒状の頸部１２およびたがいに電気的に接続され
   ているピン頭１３およびピン脚１４をそなえ、ピ
   ン頭１３が伸縮可能、かつピン脚１４が伸縮およ
   び屈曲可能にそれぞれ頸部１２に弾支されている
   直状のプローブピン１，１′と、 前記ピン脚１４に対するソケツト７１を一定ピ
   ツチのマトリツクス状に固設したソケツト板７の
   各ソケツト７１に対応する位置にピン脚１４に対
   する通孔２１を穿つた絶縁板からなるベース板２
   と、ベース板２から隔離された上方のたがいに隔
   離された上下の位置においてベース板２により支
   持固定されておりかつそれぞれ検体８の各電極に
   対応する位置にプローブピンの頸部１２案内用の
   通孔３１，４１を穿つた絶縁板からなる上位案内
   板３および下位案内板４と、 検体８の各電極に対応する位置にプローブピン
   のピン頭１３案内用の通孔５１を穿つとともに、
   ベース板２、上位案内板３、下位案内板４のいず
   れかにより弾支される検体位置ぎめピン９によ
   り、上位案内板３の上方において検体８に対応し
   てこれを位置ぎめ支承できるよううに、位置ぎめ
   孔５２を穿つた絶縁板からなる上位マスク５と、 検体８の各電極に対応する位置にプローブピン
   の頸部１２の上部案内用の通孔６１を穿つととも
   に、上位マスク５、上位案内板３間に挿入可能な
   絶縁板からなる下位マスク６とを組にしてなるプ
   リント配線板検査用治具。