JPS61161460A - プリント配線板検査用治具 - Google Patents
プリント配線板検査用治具Info
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- JPS61161460A JPS61161460A JP59278652A JP27865284A JPS61161460A JP S61161460 A JPS61161460 A JP S61161460A JP 59278652 A JP59278652 A JP 59278652A JP 27865284 A JP27865284 A JP 27865284A JP S61161460 A JPS61161460 A JP S61161460A
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 35
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 4
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 13
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 2
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 2
- 238000004070 electrodeposition Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000002513 implantation Methods 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 1
- 239000004575 stone Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(発明の目的)
この発明は、電子機器用部品として生産されたプリント
配線板(以下配m板という)を機器に組込む事前に、配
線板における回路IFr線および回路短絡の何無を検査
するのに使用する治具に関するもので、配線板における
全電極がオングリッド配置の場合はもちろん、オングリ
ッド配置の電極を含む場合や、特にフラットパッケージ
電極を有する場合のすべてについて簡単に検査を行うこ
とがいう)の変更にも簡単に対処できるような検査手段
を提供するのが−の目的である。
配線板(以下配m板という)を機器に組込む事前に、配
線板における回路IFr線および回路短絡の何無を検査
するのに使用する治具に関するもので、配線板における
全電極がオングリッド配置の場合はもちろん、オングリ
ッド配置の電極を含む場合や、特にフラットパッケージ
電極を有する場合のすべてについて簡単に検査を行うこ
とがいう)の変更にも簡単に対処できるような検査手段
を提供するのが−の目的である。
従来、配線板の検査には、検体の各電極に対応する治具
板上の位置にピンを植立し、測定装置に接続されるリー
ド線をそれらのピンにハンダづけした検査用ジグ、すな
わち、特定した配線板に対する専用治具が使用されてお
り、このような専用治具は多数の電極数に対応するもの
の場合非常に高価であるが、量産される配線板について
はその1枚あたりの治具の償却費は比較的小さい。しか
しながら、電子機器の多様化にしたがい、1種類の配線
板が少量生産される例も増加し、その場合、配線板1枚
あたりの前記専用治具のコストは著しく高価なものとな
る。
板上の位置にピンを植立し、測定装置に接続されるリー
ド線をそれらのピンにハンダづけした検査用ジグ、すな
わち、特定した配線板に対する専用治具が使用されてお
り、このような専用治具は多数の電極数に対応するもの
の場合非常に高価であるが、量産される配線板について
はその1枚あたりの治具の償却費は比較的小さい。しか
しながら、電子機器の多様化にしたがい、1種類の配線
板が少量生産される例も増加し、その場合、配線板1枚
あたりの前記専用治具のコストは著しく高価なものとな
る。
そこで、異種の配線板に対応するため、治具のベース板
上におけるモジュールピッチのマトリックスの全位置に
おいて、弾性的に伸縮できるスプリングピンを植立し、
任M種類の検体を上方から押しつけた場合、検体の電極
位置に対応する位置にあるスプリングピンのみが通電で
きるようにした、い、わゆる汎用治具が使用されるよう
になった。
上におけるモジュールピッチのマトリックスの全位置に
おいて、弾性的に伸縮できるスプリングピンを植立し、
任M種類の検体を上方から押しつけた場合、検体の電極
位置に対応する位置にあるスプリングピンのみが通電で
きるようにした、い、わゆる汎用治具が使用されるよう
になった。
現在、前記したモジュール間隔は2.54 m思に統一
されているが、従来のほとんどの配線板ではその電極位
置がこのモジュールにしたがったマトリックス位置に設
定されていた。このようなm極配置は「オングリッド」
とよばれているが、現在はオングリッドではないm極配
置すなわち「オフグリッド」の電極をも含む配線板の踵
類も増加しており、このオフグリッド電極には前記汎用
治具のスプリングピンが係合しないので、前記した汎用
治具は使用できない。
されているが、従来のほとんどの配線板ではその電極位
置がこのモジュールにしたがったマトリックス位置に設
定されていた。このようなm極配置は「オングリッド」
とよばれているが、現在はオングリッドではないm極配
置すなわち「オフグリッド」の電極をも含む配線板の踵
類も増加しており、このオフグリッド電極には前記汎用
治具のスプリングピンが係合しないので、前記した汎用
治具は使用できない。
そこで、このようなオフグリッド電極を含む配線板に対
する汎用治具として、最近、第2図に示すようなオフグ
リッド電極つき配線板用の汎用治具が開発された。すな
わち、この新治臭は下記するプローブピン1と、ベース
板2と、上位案内板3と下位案内板4とを組にしてなっ
ている。
する汎用治具として、最近、第2図に示すようなオフグ
リッド電極つき配線板用の汎用治具が開発された。すな
わち、この新治臭は下記するプローブピン1と、ベース
板2と、上位案内板3と下位案内板4とを組にしてなっ
ている。
ここで、プローブピン1は一例を第3図に示す゛ が、
脱け止め用のっば11を有する直状の頚部12およびた
がいに電気的に接続されているピン頭13およびピン脚
14をそなえ、全長が弾性的に伸縮可能であるとともに
少くとも下半部が弾性的に屈曲可能に形成されたもので
ある。
脱け止め用のっば11を有する直状の頚部12およびた
がいに電気的に接続されているピン頭13およびピン脚
14をそなえ、全長が弾性的に伸縮可能であるとともに
少くとも下半部が弾性的に屈曲可能に形成されたもので
ある。
ベース板2はピン脚14に対するソケット71を一定モ
ジュールピッチのマトリックス状に固設したソケット板
7の各ソケット71に対応する位置にピン814に対す
る通孔21を穿った絶縁板からなっている。
ジュールピッチのマトリックス状に固設したソケット板
7の各ソケット71に対応する位置にピン814に対す
る通孔21を穿った絶縁板からなっている。
上位案内板3および下位案内板4は、ベース板2から隔
離された上下の位置においてベース板2により支持固定
されている。そして、上位案内板3および下位案内板の
それぞれは、検体8の各電極に対応する位nにプローブ
ピンの頚部12に対する通孔31,41が穿たれている
・。
離された上下の位置においてベース板2により支持固定
されている。そして、上位案内板3および下位案内板の
それぞれは、検体8の各電極に対応する位nにプローブ
ピンの頚部12に対する通孔31,41が穿たれている
・。
なお、第2図において図示されていないが、検体8の位
置きめピンが下位板4、ベース板2のいずれかにより上
位案内板3の上方に突設されているのはいうまでもない
。
置きめピンが下位板4、ベース板2のいずれかにより上
位案内板3の上方に突設されているのはいうまでもない
。
ここに述べたようなオフグリッド電極つき配線プレート
2をオングリッドのソケット板7に対応させてfa置し
、上位案内板の通孔31および下位案内板の通孔41に
プローブピン1を挿通する。
2をオングリッドのソケット板7に対応させてfa置し
、上位案内板の通孔31および下位案内板の通孔41に
プローブピン1を挿通する。
通孔31 、41が検体8のオフグリッドll極81に
対応するものである場合は、プローブピン1は図中の(
aL(d)で示すように垂直性を保ち、そのピン脚14
の末端は対応するソケット71に受容係合される。通孔
31 、41がオフグリッド電極82に対応するもので
ある場合は、直状のプローブピン1のピン脚14の末端
がオングリッドに配置されているどのソケット71にも
受容されないので、その堤合ピン脚14の末端の着床位
置の最寄りのソケット72にピンゼットなどで挿入する
。この状態は図中の(b)+(c>で示されている。こ
の場合、頚部12は垂直に保持されたままであるが、下
半部が弾性的に屈曲するので、そのような着床位置の最
寄りのソケット72への係合は容易である。かくして検
体8を圧下することにより、各10〜プピン1のピン頭
13が検体8の対応する電極に係合するので測定を開始
し、その検体8の検査tfSxわれば他の検体の検査に
移る。なお、図示を省略したが、図中のソケット板7の
各ソケット71 、72は、リード線によりすべて測定
装置に接続されている。
対応するものである場合は、プローブピン1は図中の(
aL(d)で示すように垂直性を保ち、そのピン脚14
の末端は対応するソケット71に受容係合される。通孔
31 、41がオフグリッド電極82に対応するもので
ある場合は、直状のプローブピン1のピン脚14の末端
がオングリッドに配置されているどのソケット71にも
受容されないので、その堤合ピン脚14の末端の着床位
置の最寄りのソケット72にピンゼットなどで挿入する
。この状態は図中の(b)+(c>で示されている。こ
の場合、頚部12は垂直に保持されたままであるが、下
半部が弾性的に屈曲するので、そのような着床位置の最
寄りのソケット72への係合は容易である。かくして検
体8を圧下することにより、各10〜プピン1のピン頭
13が検体8の対応する電極に係合するので測定を開始
し、その検体8の検査tfSxわれば他の検体の検査に
移る。なお、図示を省略したが、図中のソケット板7の
各ソケット71 、72は、リード線によりすべて測定
装置に接続されている。
さて、上記のようなオフグリッド電極つき配線用汎用治
具によれば、オングリッド電極のみをもつ配線板、オフ
グリッド電極のみをもつ配線板、または、オングリツー
電極とオフグリッド電極の両方をもつ配線板のいずれも
検査対象となるが、最近はこれらの電極のほか第4図に
底面図を示すようなフラットパッケージ電極83をそな
える配線板が用いられるようになった。フラットパッケ
ージ電極の隣接する11極83 、83 /はその中心
距離が非常に小さく、かつオフグリッド電極配置に属す
るので、第2図で示したオフグリッド電極82を含む配
線板8におけるオフグリッド電極82と同様に取扱い、
下半部を屈曲させてソケット72に係合させたプ0−プ
ピン11のピン類13に対応する電極83を押圧係合さ
せて測定を行うことができる。ところが、第1図に示す
ようにフラットパッケージの電極83は浅い凹所である
のに対し、標準仕様であるオングリッド電極81および
オフグリッド電極82は通孔を有する環状の電極である
ため、検体8を圧下したときオングリッド電極81また
はオフグリッド電極82に係合するブO−プピン1より
もフラットパッケージ電極83に係合するプローブピン
11の方が下方に押され、全長の圧縮の割合が太きい。
具によれば、オングリッド電極のみをもつ配線板、オフ
グリッド電極のみをもつ配線板、または、オングリツー
電極とオフグリッド電極の両方をもつ配線板のいずれも
検査対象となるが、最近はこれらの電極のほか第4図に
底面図を示すようなフラットパッケージ電極83をそな
える配線板が用いられるようになった。フラットパッケ
ージ電極の隣接する11極83 、83 /はその中心
距離が非常に小さく、かつオフグリッド電極配置に属す
るので、第2図で示したオフグリッド電極82を含む配
線板8におけるオフグリッド電極82と同様に取扱い、
下半部を屈曲させてソケット72に係合させたプ0−プ
ピン11のピン類13に対応する電極83を押圧係合さ
せて測定を行うことができる。ところが、第1図に示す
ようにフラットパッケージの電極83は浅い凹所である
のに対し、標準仕様であるオングリッド電極81および
オフグリッド電極82は通孔を有する環状の電極である
ため、検体8を圧下したときオングリッド電極81また
はオフグリッド電極82に係合するブO−プピン1より
もフラットパッケージ電極83に係合するプローブピン
11の方が下方に押され、全長の圧縮の割合が太きい。
かくして、最初の検体8の検査が終ってこれを取除いた
とき、圧縮割合が大きいプローブピン11の弾性による
復位反動が大きく、この反動に起因し、しばしばピン脚
14がソケット71からとび出し、時により他の近隣の
ソケットに移転係合する。このようにソケットからとび
出たり、他のソケットに移転したりしたプローブピンの
発見や原位置への修復は、プローブピン相互の間隔がき
わめて小さく、かつ一般に多数の本数であるため、事実
上不可能に近い。
とき、圧縮割合が大きいプローブピン11の弾性による
復位反動が大きく、この反動に起因し、しばしばピン脚
14がソケット71からとび出し、時により他の近隣の
ソケットに移転係合する。このようにソケットからとび
出たり、他のソケットに移転したりしたプローブピンの
発見や原位置への修復は、プローブピン相互の間隔がき
わめて小さく、かつ一般に多数の本数であるため、事実
上不可能に近い。
かくして、検体8がフラットパッケージ電極を含む場合
はコストの著しく高い従来の専用治具によるよりほかは
ない。
はコストの著しく高い従来の専用治具によるよりほかは
ない。
(発明の構成)
この発明は、このように、専用治具によるほか手段のな
かったフラットパッケージ電極つきの検体の検査を汎用
治具によってイテうことを可能とするように工夫改良し
たもので、以下第1図に示した実施例によりこの発明を
説明する。
かったフラットパッケージ電極つきの検体の検査を汎用
治具によってイテうことを可能とするように工夫改良し
たもので、以下第1図に示した実施例によりこの発明を
説明する。
すなわち、この発明にかかる治具はプローブピン1,1
/と、ベース板2と、上位案内板3と、下位案内板4と
、上部マスク5と、下部マスク6とを組にしてなってい
る。そして、プローブピン1.1’ 、ベース板2、上
位案内板3、および下位案内板4の構成は、前述しかつ
第2図に示したオフグリッド電極つき配線板検査用汎用
治具のものと全く同様であるから、それらの構成を繰返
すのを省略する。
/と、ベース板2と、上位案内板3と、下位案内板4と
、上部マスク5と、下部マスク6とを組にしてなってい
る。そして、プローブピン1.1’ 、ベース板2、上
位案内板3、および下位案内板4の構成は、前述しかつ
第2図に示したオフグリッド電極つき配線板検査用汎用
治具のものと全く同様であるから、それらの構成を繰返
すのを省略する。
上位マスク5は、上位案内板3および下位案内ったもの
で、ベース板2、上位案内板3、下位案内板4のいずれ
かによって弾支される検体位置ぎ体8に対応して位置ぎ
め支承できるように位置ぎめ孔51を穿った絶縁板から
なっている。
で、ベース板2、上位案内板3、下位案内板4のいずれ
かによって弾支される検体位置ぎ体8に対応して位置ぎ
め支承できるように位置ぎめ孔51を穿った絶縁板から
なっている。
下位マスク6は、検体8の各電極に対応する位置にプロ
ーブピン1の頚部12に対する通孔61を穿った絶縁板
からなっている。
ーブピン1の頚部12に対する通孔61を穿った絶縁板
からなっている。
なお、図示の実施例において、位置きめピン9は上位案
内板3によって弾支されているが、下位案内板4または
ベース板2により弾支されるように設計しても差支えな
いことは自明である。また、図示の実施例の下位マスク
6は、前記した位置きめピン9に対応する位1mに、上
位マスク5支持用のつば91よりも大径の通孔62が穿
っであるが、これは後述するように、上位マスク5と上
位案内板3の間に下位7スク6を挿入する必要上設けた
もので、下位マスク6をプローブピン1の頚部12に差
込むときに下位マスク6が位置ぎめピンのつば91に触
れないようなサイズである場合は、通孔62は不要であ
る。
内板3によって弾支されているが、下位案内板4または
ベース板2により弾支されるように設計しても差支えな
いことは自明である。また、図示の実施例の下位マスク
6は、前記した位置きめピン9に対応する位1mに、上
位マスク5支持用のつば91よりも大径の通孔62が穿
っであるが、これは後述するように、上位マスク5と上
位案内板3の間に下位7スク6を挿入する必要上設けた
もので、下位マスク6をプローブピン1の頚部12に差
込むときに下位マスク6が位置ぎめピンのつば91に触
れないようなサイズである場合は、通孔62は不要であ
る。
ところで、前記したように、この発明において、上位案
内板3、下位案内板4、上位マスク5、下位マスク6の
いずれも、プローブピン1の頚部12挿通用の通孔が、
通孔31 、41 、51 、61のように、検体8の
各電極に対応する位置に穿っであるが、第5図には、検
体8の電極が第4図に示すようなフラットパッケージ電
極83 、83 ’である場合において、前記上位案内
板3、下位案内板4、上位マスク5、下位マスク6にそ
れぞれ穿った通孔31゜41 、51 、61の底面図
の態様を示している。すなわち、図示例のたがいに隣接
する電極83 、83 ’の中心距屓dが0.7 mm
と小さく、かつ前記各通孔31 、41 、51 、6
1の径が1.0 mと大きく、したがって、これらの通
孔を一列に設けることができないので、隣接する通孔を
ちどり状に穿ち、これらの通孔に挿入されたブO−プピ
ン間の接触による短絡を防止しである。
内板3、下位案内板4、上位マスク5、下位マスク6の
いずれも、プローブピン1の頚部12挿通用の通孔が、
通孔31 、41 、51 、61のように、検体8の
各電極に対応する位置に穿っであるが、第5図には、検
体8の電極が第4図に示すようなフラットパッケージ電
極83 、83 ’である場合において、前記上位案内
板3、下位案内板4、上位マスク5、下位マスク6にそ
れぞれ穿った通孔31゜41 、51 、61の底面図
の態様を示している。すなわち、図示例のたがいに隣接
する電極83 、83 ’の中心距屓dが0.7 mm
と小さく、かつ前記各通孔31 、41 、51 、6
1の径が1.0 mと大きく、したがって、これらの通
孔を一列に設けることができないので、隣接する通孔を
ちどり状に穿ち、これらの通孔に挿入されたブO−プピ
ン間の接触による短絡を防止しである。
さて、この発明は前記のようにしてなるので、この治具
を用いて検体8の検査を行うには、前記したオフグリッ
ド電極つき配線板汎用検査ジグと同じく、ます、上位案
内板3、下位案内板4の対応する通孔31 、41を通
じてプローブピン1を上刃から挿入すれば、それらの通
孔がオングリッド電極に対応する場合はプローブピン1
は直状のまま、そのピン脚14の先端は対応するペース
板2の通孔21をへてソケット71に受容される。また
、前記通孔がオフグリッド電極に対応する場合は、ソケ
ット71には係合せず、ピン脚14の先端がソケット板
7の板面に着床するため、ピン頭13の位置が高くなっ
ている。そこで、プローブピン11の下半部を僅かに屈
曲させ、その着床位置の最寄りのソケット72にピン脚
14の先端を挿入する。
を用いて検体8の検査を行うには、前記したオフグリッ
ド電極つき配線板汎用検査ジグと同じく、ます、上位案
内板3、下位案内板4の対応する通孔31 、41を通
じてプローブピン1を上刃から挿入すれば、それらの通
孔がオングリッド電極に対応する場合はプローブピン1
は直状のまま、そのピン脚14の先端は対応するペース
板2の通孔21をへてソケット71に受容される。また
、前記通孔がオフグリッド電極に対応する場合は、ソケ
ット71には係合せず、ピン脚14の先端がソケット板
7の板面に着床するため、ピン頭13の位置が高くなっ
ている。そこで、プローブピン11の下半部を僅かに屈
曲させ、その着床位置の最寄りのソケット72にピン脚
14の先端を挿入する。
通孔31 、41がフラットパッケージ電極83に対応
する場合についても同様である。このようにしてセット
した各プローブピン1+1’は下半部が屈曲した状態に
セットされているものも含め、その頚部12は垂直状に
保たれている。
する場合についても同様である。このようにしてセット
した各プローブピン1+1’は下半部が屈曲した状態に
セットされているものも含め、その頚部12は垂直状に
保たれている。
つぎに、このようにセットされたプローブピン1.1′
の上方から、下位マスク6の通孔61をプローブピンl
の頚部12にはめる。頚部12には脱け止め用のつば1
1が設けであるので、下位マスク6はつば11に着床し
てゼットされる。さらに、上Q7スク5を検体位置ぎめ
ピン9によってセットし、治具のセットを完了する。
の上方から、下位マスク6の通孔61をプローブピンl
の頚部12にはめる。頚部12には脱け止め用のつば1
1が設けであるので、下位マスク6はつば11に着床し
てゼットされる。さらに、上Q7スク5を検体位置ぎめ
ピン9によってセットし、治具のセットを完了する。
検体8の検査を開始する場合、前記した上位マスク5の
とットと同様にして、上位マスクの上に検体8を重ねて
セットする。第1図にはこのようにして検体8がゼット
された、検査開始前の状態が示されている。
とットと同様にして、上位マスクの上に検体8を重ねて
セットする。第1図にはこのようにして検体8がゼット
された、検査開始前の状態が示されている。
このようにして、治具にセットした検体8に対して上方
から圧力を加えれば、検体8とともに上位マスク5が想
像線位置まで下降する。上位マスクに穿たれている通孔
51はピン頭13の挿通を許すので、検体8の各電極8
1 、82 、83はそれぞれ対応するプO−プピンの
ピン頭13に係合し、ピン頭13の圧下によりブO−プ
ピン1の全長が短縮する。かくして、それらの電極はプ
O−プビソ1.11を介し、プローブピンのピン脚14
が係合しているソケット71 、72 、73に接続さ
し、シたがってそれらのソケットを通じ、検査に所要の
電圧を各電極に印加することができる。
から圧力を加えれば、検体8とともに上位マスク5が想
像線位置まで下降する。上位マスクに穿たれている通孔
51はピン頭13の挿通を許すので、検体8の各電極8
1 、82 、83はそれぞれ対応するプO−プピンの
ピン頭13に係合し、ピン頭13の圧下によりブO−プ
ピン1の全長が短縮する。かくして、それらの電極はプ
O−プビソ1.11を介し、プローブピンのピン脚14
が係合しているソケット71 、72 、73に接続さ
し、シたがってそれらのソケットを通じ、検査に所要の
電圧を各電極に印加することができる。
ともに、つきの検体を前記と同様にしてセットして検査
を行い、このようにして複数の検体の回路断線および回
路短絡の検査を行うのであるが、前記した一般のオング
リッド電[81、オフグリッド電極82は中心孔をもっ
ているのに対し、フラットパッケージ電極83は浅い凹
所によって形1aされているので、一般のオングリッド
電極81およびオフグリッド電極82とフラットパッケ
ージ電極83とでは、フラットパッケージ電M83に対
応するプO−プピン1)の方が大きい圧力を受け、した
がって、加圧が解除される際、このプローブピン11は
特に弾発して飛びあがろうとするが、プローブピン1の
gR部に設けられた脱け止め用のつば11が下位マλり
6によって押さえられているので、前記のように弾発が
あっても、ピン脚14の末端がソケット73から脱出す
るおそれがなく、かくして、検体8の交換による検査成
績への信頼性の低下は全く発生しない。
を行い、このようにして複数の検体の回路断線および回
路短絡の検査を行うのであるが、前記した一般のオング
リッド電[81、オフグリッド電極82は中心孔をもっ
ているのに対し、フラットパッケージ電極83は浅い凹
所によって形1aされているので、一般のオングリッド
電極81およびオフグリッド電極82とフラットパッケ
ージ電極83とでは、フラットパッケージ電M83に対
応するプO−プピン1)の方が大きい圧力を受け、した
がって、加圧が解除される際、このプローブピン11は
特に弾発して飛びあがろうとするが、プローブピン1の
gR部に設けられた脱け止め用のつば11が下位マλり
6によって押さえられているので、前記のように弾発が
あっても、ピン脚14の末端がソケット73から脱出す
るおそれがなく、かくして、検体8の交換による検査成
績への信頼性の低下は全く発生しない。
(発明の効果)
hs / l 、アr /r15Cg nn t、r
h 41tJr −4−%I H++ 、、、
u 瀞層のみを有するプリント配線板、オフグリッ
ド電極のみを有するプリント配線板、オングリッド電極
とオフグリッド電極との両種の電極を有するプリント配
線板の検査はもちろん、従来、専用治具によるよりほか
検査手段のなかった、フラットパッケージ電極ををする
プリント配線板の検査を円滑に実施できる、各種プリン
ト配線板に対する検査用汎用治具が提供され、したがっ
て、電子機器において現在もっとも要求されている多機
種少量生産におけるプリント配線板の検査コストの顕著
な低減ならびに検査成績の信頼性の確保を同時に達成す
ることが可能になった。
h 41tJr −4−%I H++ 、、、
u 瀞層のみを有するプリント配線板、オフグリッ
ド電極のみを有するプリント配線板、オングリッド電極
とオフグリッド電極との両種の電極を有するプリント配
線板の検査はもちろん、従来、専用治具によるよりほか
検査手段のなかった、フラットパッケージ電極ををする
プリント配線板の検査を円滑に実施できる、各種プリン
ト配線板に対する検査用汎用治具が提供され、したがっ
て、電子機器において現在もっとも要求されている多機
種少量生産におけるプリント配線板の検査コストの顕著
な低減ならびに検査成績の信頼性の確保を同時に達成す
ることが可能になった。
第1図は、フラットパッケージ電極をもつプリント配線
板の検査開始の際におけるこの発明にがかる治具の一実
施例の要部縦断面図、第2図はオフグリッド電極つきプ
リント配線板検査用汎用治具の要部縦断面図、第3図は
プ0−プピンの一例の軸石面図、第4図はフラットパッ
ケージ電極をそなえるプリント配線板の要部を示す底面
図、第5図は第4図に示すフラットパッケージ電極に対
応する通孔を穿った上位案内板、下位案内板、上位マス
クおよび下位マスクの要部を示す底面図である。 1.11はプローブピン、12は頚部、13はピン頭、
14はピン脚、2はベース板、3は上位案内板、4は下
位案内板、5は上位マスク、52は位置ぎめ孔、6は下
位マスク、7はソケット板、71.72,73はンケッ
ト、8は検体、81はオングリッド電極、82はオフグ
リッド電極、83.837はフラ・ントパッケージ電極
、9は検体位置きめピン、21.31.41 、51.
61.62は通孔、11.91はっばである。 第1図
板の検査開始の際におけるこの発明にがかる治具の一実
施例の要部縦断面図、第2図はオフグリッド電極つきプ
リント配線板検査用汎用治具の要部縦断面図、第3図は
プ0−プピンの一例の軸石面図、第4図はフラットパッ
ケージ電極をそなえるプリント配線板の要部を示す底面
図、第5図は第4図に示すフラットパッケージ電極に対
応する通孔を穿った上位案内板、下位案内板、上位マス
クおよび下位マスクの要部を示す底面図である。 1.11はプローブピン、12は頚部、13はピン頭、
14はピン脚、2はベース板、3は上位案内板、4は下
位案内板、5は上位マスク、52は位置ぎめ孔、6は下
位マスク、7はソケット板、71.72,73はンケッ
ト、8は検体、81はオングリッド電極、82はオフグ
リッド電極、83.837はフラ・ントパッケージ電極
、9は検体位置きめピン、21.31.41 、51.
61.62は通孔、11.91はっばである。 第1図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 脱け止め用のつば11を有する直状の頚部12およびた
がいに電気的に接続されているピン頭13およびピン脚
14をそなえ、全長が弾性的に伸縮可能かつ少くとも下
半部が弾性的に屈曲可能に形成された直状のプローブピ
ン1、1′と、 前記ピン脚14に対するソケット71を一定ピッチのマ
トリックス状に固設したソケット板7の各ソケット71
に対応する位置にピン脚14に対する通孔21を穿つた
絶縁板からなるベース板2と、ベース板2から隔離され
た上方のたがいに隔離された上下の位置においてベース
板2により支持固定されておりかつそれぞれ検体8の各
電極に対応する位置にプローブピンの頚部12に対する
通孔31、41を穿つた絶縁板からなる上位案内板3お
よび下位案内板4と、 検体8の各電極に対応する位置にプローブピンのピン頭
13に対する通孔51を穿つとともに、ベース板2、上
位案内板3、下位案内板4のいずれかにより弾支される
検体位置ぎめピン9により、上位案内板3の上方におい
て検体8に対応して位置ぎめ支承できるように、位置ぎ
め孔51を穿つた絶縁板からなる上位マスク5と、 検体8の各電極に対応する位置にプローブピンの頚部1
2に対する通孔61を穿つた絶縁板からなる下位マスク
6とを組にしてなるプリント配線板検査用治具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59278652A JPS61161460A (ja) | 1984-12-29 | 1984-12-29 | プリント配線板検査用治具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59278652A JPS61161460A (ja) | 1984-12-29 | 1984-12-29 | プリント配線板検査用治具 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61161460A true JPS61161460A (ja) | 1986-07-22 |
| JPH0420146B2 JPH0420146B2 (ja) | 1992-03-31 |
Family
ID=17600263
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59278652A Granted JPS61161460A (ja) | 1984-12-29 | 1984-12-29 | プリント配線板検査用治具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61161460A (ja) |
-
1984
- 1984-12-29 JP JP59278652A patent/JPS61161460A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0420146B2 (ja) | 1992-03-31 |
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