JPH04207528A - 光折り返し試験器 - Google Patents
光折り返し試験器Info
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- JPH04207528A JPH04207528A JP2336470A JP33647090A JPH04207528A JP H04207528 A JPH04207528 A JP H04207528A JP 2336470 A JP2336470 A JP 2336470A JP 33647090 A JP33647090 A JP 33647090A JP H04207528 A JPH04207528 A JP H04207528A
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- terminal
- line
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- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
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- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
（産業上の利用分野）
本発明は、光加入者伝送系における光折り返し試験を行
う光折り返し試験器に関する。
う光折り返し試験器に関する。
（従来の技術）
図８は光ファイバによる双方向光伝送路においてＣＣＩ
ＴＴて規定されているループバックを示す図である。同
図に示すようにループバックとしては、交換機（ＥＴ）
側のラインターミナル（Ｌ Ｔ）におけるループ１試験
、電話機（ＴＥ）側のネットワークターミナル１ （Ｎ
ＴＩ）におけるループ２試験およびループＣ試験等があ
る。
ＴＴて規定されているループバックを示す図である。同
図に示すようにループバックとしては、交換機（ＥＴ）
側のラインターミナル（Ｌ Ｔ）におけるループ１試験
、電話機（ＴＥ）側のネットワークターミナル１ （Ｎ
ＴＩ）におけるループ２試験およびループＣ試験等があ
る。
従来、加入者伝送系の試験法としては、図９に示すよう
に、２種類の試験方法がある。第１の方法は、媒体試験
であり、図９に示すように光パルス試験器（ＯＴＤＲ）
７から光パルスを媒体試験用光方向結合器３を介して光
ファイバ４に送出し、切り分はフィルタ２（通信用波長
の光信号を通し、試験用波長の光信号を反射する波長選
択フィルタ）で反射される信号を前記光パルス試験器７
で受信し、これにより方向性結合器３からユーザ／ネッ
トワーク分界点までの区間（１１）の媒体試験を行うも
のである。この媒体試験方法は、光パルス試験器（ＯＴ
ＤＲ）７から出力されるサービス提供用波長とは異なる
波長の光信号を方向性結合器を通し、ファイバに入力し
、ユーザ／ネットワーク分界点の切り分はフィルタ２て
試験用の波長のろを反射し、光パルス試験器７に戻って
くる光信号を測定している。第２の方法は、ループ２試
験と呼ばれ、ラインターミナル（ＬＴ）］から送出した
ディジタル信号をネットワークターミナル（ＮＴ）５と
端末６との間のＴ点で折り返すものである。
に、２種類の試験方法がある。第１の方法は、媒体試験
であり、図９に示すように光パルス試験器（ＯＴＤＲ）
７から光パルスを媒体試験用光方向結合器３を介して光
ファイバ４に送出し、切り分はフィルタ２（通信用波長
の光信号を通し、試験用波長の光信号を反射する波長選
択フィルタ）で反射される信号を前記光パルス試験器７
で受信し、これにより方向性結合器３からユーザ／ネッ
トワーク分界点までの区間（１１）の媒体試験を行うも
のである。この媒体試験方法は、光パルス試験器（ＯＴ
ＤＲ）７から出力されるサービス提供用波長とは異なる
波長の光信号を方向性結合器を通し、ファイバに入力し
、ユーザ／ネットワーク分界点の切り分はフィルタ２て
試験用の波長のろを反射し、光パルス試験器７に戻って
くる光信号を測定している。第２の方法は、ループ２試
験と呼ばれ、ラインターミナル（ＬＴ）］から送出した
ディジタル信号をネットワークターミナル（ＮＴ）５と
端末６との間のＴ点で折り返すものである。
（発明が解決しようとする課８）
上述したような構成のために、従来、次に示すような問
題点があった。
題点があった。
（１）区間（ＩＩ）の媒体試験のみであるため、ネット
ワークターミナル（Ｎ Ｔ）−ユーザ／ネットワーク分
界点の区間（１）、およびラインターミナル（ＬＴ）一
方向性結合器３の間の区間（ＩＮ）の試験を行うことが
できず、故障時の切り分けに時間がかかる。
ワークターミナル（Ｎ Ｔ）−ユーザ／ネットワーク分
界点の区間（１）、およびラインターミナル（ＬＴ）一
方向性結合器３の間の区間（ＩＮ）の試験を行うことが
できず、故障時の切り分けに時間がかかる。
（２）上述した（１）で示す各区間に前記光パルス試験
器（ＯＴＤＲ）を適用しても、伝送ロスと反射減衰量の
みの測定であるため、光伝送回路（送信／受信装置等）
の伝送特性（光パルス幅、消光比、受信部のノイズ等）
を試験できない。
器（ＯＴＤＲ）を適用しても、伝送ロスと反射減衰量の
みの測定であるため、光伝送回路（送信／受信装置等）
の伝送特性（光パルス幅、消光比、受信部のノイズ等）
を試験できない。
（３）ループ２試験は区間（ｉ）、（ｉｆ）、（１ｊＤ
の全体を通して機能試験はできるが、各区間を切り分け
ることができない。
の全体を通して機能試験はできるが、各区間を切り分け
ることができない。
（４）ラインターミナル（ＬＴ）でループ１を実施する
ための光デバイスが存在しなかったため、ネットワーク
ターミナル（ＮＴ）内の光伝送回路の故障に関する試験
は人為的な手段によらざるを得ない。
ための光デバイスが存在しなかったため、ネットワーク
ターミナル（ＮＴ）内の光伝送回路の故障に関する試験
は人為的な手段によらざるを得ない。
（５）Ｔ点がユーザ／ネットワークの責任分界点である
場合にはループ２試験により、故障を修理すべき責任が
どちらにあるかを特定できるが、ネットワークターミナ
ル（ＮＴ）をユーザが所有する場合には、ループ２試験
では故障修理の責任の所在を明確化できないため、電話
機（Ｔ Ｅ）側からのユーザ／ネットワーク分界点折り
返しによるループＣ試験の実現手段が要望されている。
場合にはループ２試験により、故障を修理すべき責任が
どちらにあるかを特定できるが、ネットワークターミナ
ル（ＮＴ）をユーザが所有する場合には、ループ２試験
では故障修理の責任の所在を明確化できないため、電話
機（Ｔ Ｅ）側からのユーザ／ネットワーク分界点折り
返しによるループＣ試験の実現手段が要望されている。
そして、従来技術で、上述したループ１試験またはルー
プＣ試験を実現するには、光方向性結合器と光スイッチ
とかあればよいか、結合比をネットワークターミナル−
ラインターミナル間の光損失設計値を含んだ光折り返し
系を構成しないと伝送能力を保証できないし、またルー
プＣ試験を実現するための手段を各々を個別部品で構成
すると必要となる光コネクタの数の増大等により高価か
つ大形化するという問題がある。
プＣ試験を実現するには、光方向性結合器と光スイッチ
とかあればよいか、結合比をネットワークターミナル−
ラインターミナル間の光損失設計値を含んだ光折り返し
系を構成しないと伝送能力を保証できないし、またルー
プＣ試験を実現するための手段を各々を個別部品で構成
すると必要となる光コネクタの数の増大等により高価か
つ大形化するという問題がある。
本発明は、上記に鑑みてなされたもので、その目的とす
るところは、経済的にかつ低挿入損失で伝送特性能力を
保証できる光折り返し機能を有するループ１またはルー
プＣ試験を行うことができる光折り返し試験器を提供す
ることにある。
るところは、経済的にかつ低挿入損失で伝送特性能力を
保証できる光折り返し機能を有するループ１またはルー
プＣ試験を行うことができる光折り返し試験器を提供す
ることにある。
〔発明の構成〕
（課題を解決するための手段）
上記目的を達成するため、本発明の光折り返し試験器は
、１本の光ファイバによる双方向光伝送路におけるネッ
トワークターミナルおよびラインターミナルの少なくと
も一方のライン側に結合比を非対称にして結合比が小さ
い側の光損失がネットワークターミナルおよびラインタ
ーミナル間の光損失よりも僅かに小さくなるように構成
した光方向性結合器と該結合器の結合比が大きい方の端
子出力を入力とした１×２光スイ・ソチとを縦続接続し
、該光スイッチの出力の一方をラインとし、他方を前記
結合器の結合比が小さい側の端子に接続し、折り返し試
験用制御信号が入力した場合には光送信信号がネットワ
ークターミナルおよびラインターミナル間の光損失にほ
ぼ等しい損失で前記結合器に折り返るように構成したこ
とを要旨とする。
、１本の光ファイバによる双方向光伝送路におけるネッ
トワークターミナルおよびラインターミナルの少なくと
も一方のライン側に結合比を非対称にして結合比が小さ
い側の光損失がネットワークターミナルおよびラインタ
ーミナル間の光損失よりも僅かに小さくなるように構成
した光方向性結合器と該結合器の結合比が大きい方の端
子出力を入力とした１×２光スイ・ソチとを縦続接続し
、該光スイッチの出力の一方をラインとし、他方を前記
結合器の結合比が小さい側の端子に接続し、折り返し試
験用制御信号が入力した場合には光送信信号がネットワ
ークターミナルおよびラインターミナル間の光損失にほ
ぼ等しい損失で前記結合器に折り返るように構成したこ
とを要旨とする。
また、本発明の光折り返し試験器は、２本の光ファイバ
による双方向光伝送方式におけるネットワークターミナ
ルおよびラインターミナルの少なくとも一方のライン側
の光ファイバにぞれぞれ１×２光スイッチを設け、送信
ファイバ側に設けた光スイッチの出力端子と受信ファイ
バ側に設けた光スイッチの入力端子とを接続し、折り返
し制御信号が入力した場合にはネットワークターミナル
およびラインターミナル間の光損失にほぼ等しい損失に
なるように送信光信号が受信ファイバに折り返るように
構成したことを要旨とする。
による双方向光伝送方式におけるネットワークターミナ
ルおよびラインターミナルの少なくとも一方のライン側
の光ファイバにぞれぞれ１×２光スイッチを設け、送信
ファイバ側に設けた光スイッチの出力端子と受信ファイ
バ側に設けた光スイッチの入力端子とを接続し、折り返
し制御信号が入力した場合にはネットワークターミナル
およびラインターミナル間の光損失にほぼ等しい損失に
なるように送信光信号が受信ファイバに折り返るように
構成したことを要旨とする。
（作用）
本発明の光折り返し試験器では、ネットワークターミナ
ル−ラインターミナル間の光損失配分にほぼ合致するよ
うに結合比を設定した光方向性結合器と光スイッチとを
縦続接続し、光送信信号がネットワークターミナルおよ
びラインターミナル間の光損失にほぼ等しい損失で結合
器に折り返るようにしている。
ル−ラインターミナル間の光損失配分にほぼ合致するよ
うに結合比を設定した光方向性結合器と光スイッチとを
縦続接続し、光送信信号がネットワークターミナルおよ
びラインターミナル間の光損失にほぼ等しい損失で結合
器に折り返るようにしている。
また、本発明の光折り返し試験器では、送信ファイバ側
に設けた光スイッチの出力と受信ファイバ側に設けた光
スイッチの入力とを接続し、ネットワークターミナルお
よびラインターミナル間の光損失にほぼ等しい損失にな
るように送信光信号が受信ファイバに折り返るようにし
ている。
に設けた光スイッチの出力と受信ファイバ側に設けた光
スイッチの入力とを接続し、ネットワークターミナルお
よびラインターミナル間の光損失にほぼ等しい損失にな
るように送信光信号が受信ファイバに折り返るようにし
ている。
（実施例）
以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。
図１は本発明の第１の実施例を説明する図である。同図
は１本の光ファイバによる双方向伝送時の例を示してい
る。この実施例は、ネットワークターミナル（ＮＴ）５
の光ファイバ４に光コネクタ１３Ａ、１３Ｂを設け、こ
の間に光方向性結合器９および１×２光スイッチ１０を
縦続接続したものである。光方向性結合器９は点線Ａで
示す方向には低損失であり、点線Ｂで示す方向にはＮＴ
（ネットワークターミナル） −ＬＴ （ラインターミ
ナル）間の光損失に同等の損失となるように結合比が設
定されている。すなわち、結合比がＮＴ−ＬＴ間の光損
失配分の設計値に合致するように設定されている。また
、結合器９は、光スイッチ制御回路８により手動または
ＮＴからの制御信号により切り替え制御される。前記光
スイッチ１０の一方の端子は光コネクタ１３Ｂに接続さ
れ、他方の端子は折り返し用光ファイバ１１または光導
波路１１を介して結合器９に接続されている。
は１本の光ファイバによる双方向伝送時の例を示してい
る。この実施例は、ネットワークターミナル（ＮＴ）５
の光ファイバ４に光コネクタ１３Ａ、１３Ｂを設け、こ
の間に光方向性結合器９および１×２光スイッチ１０を
縦続接続したものである。光方向性結合器９は点線Ａで
示す方向には低損失であり、点線Ｂで示す方向にはＮＴ
（ネットワークターミナル） −ＬＴ （ラインターミ
ナル）間の光損失に同等の損失となるように結合比が設
定されている。すなわち、結合比がＮＴ−ＬＴ間の光損
失配分の設計値に合致するように設定されている。また
、結合器９は、光スイッチ制御回路８により手動または
ＮＴからの制御信号により切り替え制御される。前記光
スイッチ１０の一方の端子は光コネクタ１３Ｂに接続さ
れ、他方の端子は折り返し用光ファイバ１１または光導
波路１１を介して結合器９に接続されている。
このような構成において、通常は点線Ａで示す方向で通
信を行っており、切り分は試験を行う場合には、光スイ
ッチ１０を切り替え、ＮＴ５からの送信光信号は点線Ｂ
で示す方向に流れるように制御される。折り返し用光フ
ァイバ１１を流れる信号はＮＴ−ＬＴ間の光損失と同等
の損失を光方向性結合器９により与えられ、ＮＴ５に折
り返される。ＮＴ５は自ら送出した光信号を通常使用時
の受信レベルで受信することができ、ループＣ試験を容
易に行うことができる。光スイッチ１０として、熱光学
（ＴＯ：Ｔｈｅｒｍａｌ ０ｐｔｉＣ）効果を使用す
ると、結合器９と光スイッチ１０とを同一のＳｉ基板上
に集積化することができるので、光コネクタ１３Ａ、Ｂ
は入出力部のみでよく、小形かつ低挿入損失である。
信を行っており、切り分は試験を行う場合には、光スイ
ッチ１０を切り替え、ＮＴ５からの送信光信号は点線Ｂ
で示す方向に流れるように制御される。折り返し用光フ
ァイバ１１を流れる信号はＮＴ−ＬＴ間の光損失と同等
の損失を光方向性結合器９により与えられ、ＮＴ５に折
り返される。ＮＴ５は自ら送出した光信号を通常使用時
の受信レベルで受信することができ、ループＣ試験を容
易に行うことができる。光スイッチ１０として、熱光学
（ＴＯ：Ｔｈｅｒｍａｌ ０ｐｔｉＣ）効果を使用す
ると、結合器９と光スイッチ１０とを同一のＳｉ基板上
に集積化することができるので、光コネクタ１３Ａ、Ｂ
は入出力部のみでよく、小形かつ低挿入損失である。
図２は本発明の第２の実施例を説明する図であって、１
本の光ファイバによる双方向伝送時の例である。光方向
性結合器９は点線Ａで示す方向には低損失で点線Ｂで示
す方向にはＮＴ−ＬＴ間の光損失に同等の損失となるよ
うに結合比が設定されている。つまり、通常はＡ方向で
通信を行っており、切り分は試験を行う際は光スイッチ
１０を切り替え、ＬＴからの送信光信号はＢ方向に流れ
るようにする。折り返し用光ファイバ１１を流れる信号
はＮＴ−ＬＴ間の光損失と同等の損失を光方向性結合器
９により与えられ、ＬＴＩに折り返される。ＬＴＩでは
自ら送り出した光信号を通常使用時の受信レベルで受信
することで、ループ１試験を容易にできる。光スイッチ
１０としてＴＯ効果を利用した光スイッチを用いると結
合器と光スイッチ１０とを同一８１基板上に集積化でき
るので、光コネクタ１３Ａ、１３Ｂは入出力部のみで良
く、小型かつ低挿入損失である。また、光スイッチ制御
回路８は手動またはＬＴからの制御信号により、光スイ
ッチを切替制御する。
本の光ファイバによる双方向伝送時の例である。光方向
性結合器９は点線Ａで示す方向には低損失で点線Ｂで示
す方向にはＮＴ−ＬＴ間の光損失に同等の損失となるよ
うに結合比が設定されている。つまり、通常はＡ方向で
通信を行っており、切り分は試験を行う際は光スイッチ
１０を切り替え、ＬＴからの送信光信号はＢ方向に流れ
るようにする。折り返し用光ファイバ１１を流れる信号
はＮＴ−ＬＴ間の光損失と同等の損失を光方向性結合器
９により与えられ、ＬＴＩに折り返される。ＬＴＩでは
自ら送り出した光信号を通常使用時の受信レベルで受信
することで、ループ１試験を容易にできる。光スイッチ
１０としてＴＯ効果を利用した光スイッチを用いると結
合器と光スイッチ１０とを同一８１基板上に集積化でき
るので、光コネクタ１３Ａ、１３Ｂは入出力部のみで良
く、小型かつ低挿入損失である。また、光スイッチ制御
回路８は手動またはＬＴからの制御信号により、光スイ
ッチを切替制御する。
図３は本発明の第３の実施例を説明する図であって、２
本の光ファイバによる双方向伝送時の例である。従来は
ＮＴ内で電気的にループＣ試験を゛行っていたが、この
第３の実施例では先般でのループＣを可能にした例であ
る。送信用光ファイバ４Ｓ及び受信用光ファイバ４Ｒに
それぞれ１×２光スイッチ１０５．ＩＯＲを配備する構
成である。
本の光ファイバによる双方向伝送時の例である。従来は
ＮＴ内で電気的にループＣ試験を゛行っていたが、この
第３の実施例では先般でのループＣを可能にした例であ
る。送信用光ファイバ４Ｓ及び受信用光ファイバ４Ｒに
それぞれ１×２光スイッチ１０５．ＩＯＲを配備する構
成である。
通常はＡ方向で通信を行っており、切り分は試験を行う
際は光スイッチ１０５．ＩＯＲを同時に切り替え、Ｂ方
向に流れるようにする。ここて、１４はＮＴ−ＬＴ間の
光損失に同等の損失を与える減衰器であり、光方向性結
合器９と同様に設定した光方向性結合器にて製作できる
。また、光スイッチ１０５．ＩＯＲが図４に示すＴＯ効
果を用いた光スイッチの場合にはスイッチ内の方向性結
合器をＡ方向は低挿入損失でＢ方向の損失はＮＴ〜ＬＴ
間と等しくなるよう設計できるので、減衰器１４は不要
となる。これにより、ＮＴ５で自ら送り出した光信号を
通常使用時の受信レベルて受信することで、ループＣ試
験を容易に実施できる。
際は光スイッチ１０５．ＩＯＲを同時に切り替え、Ｂ方
向に流れるようにする。ここて、１４はＮＴ−ＬＴ間の
光損失に同等の損失を与える減衰器であり、光方向性結
合器９と同様に設定した光方向性結合器にて製作できる
。また、光スイッチ１０５．ＩＯＲが図４に示すＴＯ効
果を用いた光スイッチの場合にはスイッチ内の方向性結
合器をＡ方向は低挿入損失でＢ方向の損失はＮＴ〜ＬＴ
間と等しくなるよう設計できるので、減衰器１４は不要
となる。これにより、ＮＴ５で自ら送り出した光信号を
通常使用時の受信レベルて受信することで、ループＣ試
験を容易に実施できる。
本構成も第１の実施例と同様に同−Ｓｉ基板上に集積化
できるため、小型かつ低挿入損失である。
できるため、小型かつ低挿入損失である。
なお、８は光スイッチ制御回路である。
図５は本発明の第４の実施例を説明する図であって、２
本の光ファイバによる双方向伝送時の例である。従来は
ＬＴ内で電気的にループ１試験を行っていたが、この第
４の実施例では先般でのループ１を可能にした例である
。送信用光ファイバ４Ｓ及び受信用光ファイバ４Ｒにそ
れぞれ１×２光スイッチＩＯ９，ＩＯＲを配備する構成
である。
本の光ファイバによる双方向伝送時の例である。従来は
ＬＴ内で電気的にループ１試験を行っていたが、この第
４の実施例では先般でのループ１を可能にした例である
。送信用光ファイバ４Ｓ及び受信用光ファイバ４Ｒにそ
れぞれ１×２光スイッチＩＯ９，ＩＯＲを配備する構成
である。
通常はＡ方向で通信を行っており、故障が発生し、切り
分は試験を行う際は光スイッチＩＯ８，１０Ｒを同時に
切り替え、Ｂ方向に流れるようにする。
分は試験を行う際は光スイッチＩＯ８，１０Ｒを同時に
切り替え、Ｂ方向に流れるようにする。
ここで、１４はＮＴ−ＬＴ間の光損失に同等の損失を与
える減衰器であり、光方向性結合器９と同様に適当に設
定した光方向性結合器にて製作できる。また、光スイッ
チＩＯＳ、ＩＯＲはＴＯ効果を用いた光スイッチの場合
にはスイッチ内の方向性結合器をＡ方向は低挿入損失で
Ｂ方向の損失はＮＴ−ＬＴ間と等しくなるよう設計でき
るので、減衰器１４は不要となる。これにより、ＬＴＩ
で自ら送り出した光信号を通常使用時の受信レベルで受
信することで、ループ１試験を容易に実施できる。本構
成も第１の実施例と同様に同−Ｓｉ基板上に集積化でき
るため、小型かつ低挿入損失である。なお、８は光スイ
ッチ制御回路である。
える減衰器であり、光方向性結合器９と同様に適当に設
定した光方向性結合器にて製作できる。また、光スイッ
チＩＯＳ、ＩＯＲはＴＯ効果を用いた光スイッチの場合
にはスイッチ内の方向性結合器をＡ方向は低挿入損失で
Ｂ方向の損失はＮＴ−ＬＴ間と等しくなるよう設計でき
るので、減衰器１４は不要となる。これにより、ＬＴＩ
で自ら送り出した光信号を通常使用時の受信レベルで受
信することで、ループ１試験を容易に実施できる。本構
成も第１の実施例と同様に同−Ｓｉ基板上に集積化でき
るため、小型かつ低挿入損失である。なお、８は光スイ
ッチ制御回路である。
図６および７はそれぞれ第１，２実施例および第３，４
実施例をまとめた図であって、図６は１本の光ファイバ
による双方向伝送の場合、図７は２本の光ファイバによ
る双方向伝送の場合を表している。これにより、通常、
試験が行われていなかった（ １ ） （ｉｉｉ）の区
間も試験可能となる。
実施例をまとめた図であって、図６は１本の光ファイバ
による双方向伝送の場合、図７は２本の光ファイバによ
る双方向伝送の場合を表している。これにより、通常、
試験が行われていなかった（ １ ） （ｉｉｉ）の区
間も試験可能となる。
上述したように、本発明においては、ＮＴ−ユーザ／ネ
ットワーク分界点（ループＣ） 、ＬＴ−媒体試験用光
方向性結合器（ループ１）間の試験を光損失（ＮＴ−Ｌ
Ｔ間の損失に等しい）を含んだ状態にて折り返すことで
光折り返し試験を実施できるとともに、また同−Ｓｉ基
板上に集積できるので実装性、経済性、低挿入損失性の
点で従来に比較して優れている。
ットワーク分界点（ループＣ） 、ＬＴ−媒体試験用光
方向性結合器（ループ１）間の試験を光損失（ＮＴ−Ｌ
Ｔ間の損失に等しい）を含んだ状態にて折り返すことで
光折り返し試験を実施できるとともに、また同−Ｓｉ基
板上に集積できるので実装性、経済性、低挿入損失性の
点で従来に比較して優れている。
以上説明したように、本発明によれば、光加入者伝送系
において光スイッチとＮＴ−ＬＴ間の光損失と等しくな
るように結合比を設定した光方向性結合器からなる光折
り返し試験器を用いることにより、少−ブ１およびルー
プＣ試験を伝送能力を保証した状態にて試験することが
でき、また切り分は区間が明確になるため、故障検索、
故障時間の短縮につながるとともに、更に同−Ｓｉ基板
」二に集積化して、小型および経済化を図ることができ
る。
において光スイッチとＮＴ−ＬＴ間の光損失と等しくな
るように結合比を設定した光方向性結合器からなる光折
り返し試験器を用いることにより、少−ブ１およびルー
プＣ試験を伝送能力を保証した状態にて試験することが
でき、また切り分は区間が明確になるため、故障検索、
故障時間の短縮につながるとともに、更に同−Ｓｉ基板
」二に集積化して、小型および経済化を図ることができ
る。
図１は本発明の第］の実施例の説明図、図２は本発明の
第２の実施例の説明図、図３は本発明の第３の実施例の
説明図、図４は図３の実施例に使用されるＴＯ型光スイ
ッチを示す図、図５は本発明の第４の実施例の説明図、
図６および図７はそれぞれ第１，２および第３．４の実
施例をまとめた全体構成図、図８は光ファイバによる双
方向光伝送路においてＣＣＩＴＴで規定されているルー
プバックを示す図、図９は従来の光加入者系の媒体試験
システム構成図である。 １・・・ラインターミナル（ＬＴ） ４・・・光ファイバ ５・・・ネットワークターミナル（ＮＴ）６・・・端末 ８・・・光スイッチ制御回路 ９・・・光方向性結合器 １０・・・光スイッチ １３Ａ、１３Ｂ・・・光コネクタ
第２の実施例の説明図、図３は本発明の第３の実施例の
説明図、図４は図３の実施例に使用されるＴＯ型光スイ
ッチを示す図、図５は本発明の第４の実施例の説明図、
図６および図７はそれぞれ第１，２および第３．４の実
施例をまとめた全体構成図、図８は光ファイバによる双
方向光伝送路においてＣＣＩＴＴで規定されているルー
プバックを示す図、図９は従来の光加入者系の媒体試験
システム構成図である。 １・・・ラインターミナル（ＬＴ） ４・・・光ファイバ ５・・・ネットワークターミナル（ＮＴ）６・・・端末 ８・・・光スイッチ制御回路 ９・・・光方向性結合器 １０・・・光スイッチ １３Ａ、１３Ｂ・・・光コネクタ
Claims (3)
- （１）１本の光ファイバによる双方向光伝送路における
ネットワークターミナルおよびラインターミナルの少な
くとも一方のライン側に結合比を非対称にして結合比が
小さい側の光損失がネットワークターミナルおよびライ
ンターミナル間の光損失よりも僅かに小さくなるように
構成した光方向性結合器と該結合器の結合比が大きい方
の端子出力を入力とした１×２光スイッチとを縦続接続
し、該光スイッチの出力の一方をラインとし、他方を前
記結合器の結合比が小さい側の端子に接続し、折り返し
試験用制御信号が入力した場合には光送信信号がネット
ワークターミナルおよびラインターミナル間の光損失に
ほぼ等しい損失で前記結合器に折り返るように構成した
ことを特徴とする光折り返し試験器。 - （２）２本の光ファイバによる双方向光伝送方式におけ
るネットワークターミナルおよびラインターミナルの少
なくとも一方のライン側の光ファイバにそれぞれ１×２
光スイッチを設け、送信ファイバ側に設けた光スイッチ
の出力端子と受信ファイバ側に設けた光スイッチの入力
端子とを接続し、折り返し制御信号が入力した場合には
ネットワークターミナルおよびラインターミナル間の光
損失にほぼ等しい損失になるように送信光信号が受信フ
ァイバに折り返るように構成したことを特徴とする光折
り返し試験器。 - （３）前記光スイッチは同一シリコン基板上に集積化さ
れ、熱光学（ＴＯ）効果を用いた光スイッチで構成され
ることを特徴とする請求項（１）または（２）記載の光
折り返し試験器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2336470A JPH04207528A (ja) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | 光折り返し試験器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2336470A JPH04207528A (ja) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | 光折り返し試験器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04207528A true JPH04207528A (ja) | 1992-07-29 |
Family
ID=18299473
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2336470A Pending JPH04207528A (ja) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | 光折り返し試験器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04207528A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010193363A (ja) * | 2009-02-20 | 2010-09-02 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 宅側予備応答装置及び宅側装置並びに光線路の検査方法 |
| JP2013005388A (ja) * | 2011-06-21 | 2013-01-07 | Nec Corp | 光ノード装置及び光ノード装置の制御方法 |
-
1990
- 1990-11-30 JP JP2336470A patent/JPH04207528A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010193363A (ja) * | 2009-02-20 | 2010-09-02 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 宅側予備応答装置及び宅側装置並びに光線路の検査方法 |
| JP2013005388A (ja) * | 2011-06-21 | 2013-01-07 | Nec Corp | 光ノード装置及び光ノード装置の制御方法 |
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