JPH04208873A - コンデンサの寿命検出装置 - Google Patents
コンデンサの寿命検出装置Info
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- JPH04208873A JPH04208873A JP2340318A JP34031890A JPH04208873A JP H04208873 A JPH04208873 A JP H04208873A JP 2340318 A JP2340318 A JP 2340318A JP 34031890 A JP34031890 A JP 34031890A JP H04208873 A JPH04208873 A JP H04208873A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/64—Testing of capacitors
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的］
〔産業上の利用分野〕
本発明は、例えば原子力発電所等において、高信頼性が
要求される放射線計ｆｌｌｌｌシステム等の電気回路等
に組込まれたコンデンサの寿命を検出するだめの寿命検
出装置に関する。
要求される放射線計ｆｌｌｌｌシステム等の電気回路等
に組込まれたコンデンサの寿命を検出するだめの寿命検
出装置に関する。
電源、電子回路等に使用される電解コンデンサは、一般
的に他の電子部品（トランジスタ、抵抗体、ＩＣ等）に
比べて寿命が短く、電解コンデンサを使用する装置の寿
命を決める大きな要因となっていた。電解コンデンサが
劣化する原因は、時経過と共に電解液が封口部より徐々
に透過することによって起こる静電容量の減少によるも
のである。この電解液の拡散は、周囲温度やコンデンサ
自身の発熱温度に比例して進行する。
的に他の電子部品（トランジスタ、抵抗体、ＩＣ等）に
比べて寿命が短く、電解コンデンサを使用する装置の寿
命を決める大きな要因となっていた。電解コンデンサが
劣化する原因は、時経過と共に電解液が封口部より徐々
に透過することによって起こる静電容量の減少によるも
のである。この電解液の拡散は、周囲温度やコンデンサ
自身の発熱温度に比例して進行する。
従来は、設計時にコンデンサの寿命を予想して、電子回
路内に組み込まれたコンデンサの予想Ｒ命が近付いたな
らば、そのコンデンサを交換してコンデンサの劣化に対
処していた。
路内に組み込まれたコンデンサの予想Ｒ命が近付いたな
らば、そのコンデンサを交換してコンデンサの劣化に対
処していた。
ところで、放射線計測システム等の極めて高い信頼性が
要求される装置でも電解コンデンサが使用されており、
この様な高信頼性か要求される装置では、電解コンデン
サが寿命となって“容量ぬけ”があると、装置全体に大
きな影響を与える可能性が高い。例えば、電解コンデン
サの“容量ぬけ”によって、ｄＦＩ定データにノイズが
含まれると、このノイズに起因して誤警報が出力される
可能性がある。したがって、高信頼性が要求される装置
では、使用している電解コンデンサの寿命を正確に予ｆ
ｉｌ Ｌで、その電解コンデンサの寿命が来る前に確実
に交換する必要がある。
要求される装置でも電解コンデンサが使用されており、
この様な高信頼性か要求される装置では、電解コンデン
サが寿命となって“容量ぬけ”があると、装置全体に大
きな影響を与える可能性が高い。例えば、電解コンデン
サの“容量ぬけ”によって、ｄＦＩ定データにノイズが
含まれると、このノイズに起因して誤警報が出力される
可能性がある。したがって、高信頼性が要求される装置
では、使用している電解コンデンサの寿命を正確に予ｆ
ｉｌ Ｌで、その電解コンデンサの寿命が来る前に確実
に交換する必要がある。
ところが、電解コンデンサは使用される周囲温度の変動
やコンデンサ自身の負荷変動等により、設計時に予想さ
れる寿命を大幅に下回ることがある。
やコンデンサ自身の負荷変動等により、設計時に予想さ
れる寿命を大幅に下回ることがある。
従って、従来はコンデンサの寿命を正確に予想すること
ができず、コンデンサの“容量ぬけ０等によるトラブル
か発生する恐れがあり、コンデンサを使用した装置の信
頼性を低下させる−っ゛の要因となっていた。
ができず、コンデンサの“容量ぬけ０等によるトラブル
か発生する恐れがあり、コンデンサを使用した装置の信
頼性を低下させる−っ゛の要因となっていた。
本発明は以上のような実情に鑑みてなされたもので、電
気回路内に使用されているコンデンサの寿命を検出でき
て、“容量ぬけ“等によるトラブルの発生を有効に防止
でき、コンデンサを使用している装置の信頼性を向上さ
せることのできるコンデンサの寿命検出装置を提供する
ことを目的とする。
気回路内に使用されているコンデンサの寿命を検出でき
て、“容量ぬけ“等によるトラブルの発生を有効に防止
でき、コンデンサを使用している装置の信頼性を向上さ
せることのできるコンデンサの寿命検出装置を提供する
ことを目的とする。
［発明の構成］
〔課題を解決するための手段〕
上記目的を達成するために、第１の発明に係るコンデン
サの寿命検出装置は、所定の電気回路に組込まれたコン
デンサの寿命検査時に、該コンデンサに接続されその蓄
積電荷量に応じた電圧を検出してそのコンデンサの容量
値に変換する容量値検出手段と、前記コンデンサに対し
て並列に配置され、コンデンサの寿命検査時に、このコ
ンデンサに代わって前記電気回路内に組込まれるバック
アップ用コンデンサと、検査対象となるコンデンサとそ
のバックアップ用コンデンサとの切替えを行うための切
替スイッチと、前記容量値検出手段によって検出された
コンデンサの容量値がしきい値以下のとき、前記切替ス
イッチをバックアップ用コンデンサに切替えると共に、
検査対象となったコンデンサか寿命となった旨を報知す
るアラーム手段とを具備してなるものとし、 第２の発明に係るコンデンサの寿命検出装置は、所定の
電気回路に組込まれたコンデンサの近傍に設置された温
度センサと、前記温度センサから出力される温度データ
をモニタし、時間の経過と共に蓄積された温度変化量か
ら前記コンデンサが受けるダメージを算出するダメージ
量算出手段と、このダメージ量算出手段で算出されたダ
メージ量がそのコンデンサの許容値を超えたとき、その
コンデンサが寿命となった旨を報知するアラーム手段と
を具備してなるものとした。
サの寿命検出装置は、所定の電気回路に組込まれたコン
デンサの寿命検査時に、該コンデンサに接続されその蓄
積電荷量に応じた電圧を検出してそのコンデンサの容量
値に変換する容量値検出手段と、前記コンデンサに対し
て並列に配置され、コンデンサの寿命検査時に、このコ
ンデンサに代わって前記電気回路内に組込まれるバック
アップ用コンデンサと、検査対象となるコンデンサとそ
のバックアップ用コンデンサとの切替えを行うための切
替スイッチと、前記容量値検出手段によって検出された
コンデンサの容量値がしきい値以下のとき、前記切替ス
イッチをバックアップ用コンデンサに切替えると共に、
検査対象となったコンデンサか寿命となった旨を報知す
るアラーム手段とを具備してなるものとし、 第２の発明に係るコンデンサの寿命検出装置は、所定の
電気回路に組込まれたコンデンサの近傍に設置された温
度センサと、前記温度センサから出力される温度データ
をモニタし、時間の経過と共に蓄積された温度変化量か
ら前記コンデンサが受けるダメージを算出するダメージ
量算出手段と、このダメージ量算出手段で算出されたダ
メージ量がそのコンデンサの許容値を超えたとき、その
コンデンサが寿命となった旨を報知するアラーム手段と
を具備してなるものとした。
第１の発明によれば、電気回路内に組込まれたコンデン
サの寿命検査時には、バックアップ用コンデンサがその
コンデンサに代わって電気回路に組込まれ、コンデンサ
には容量値検出手段が接続されて容量値が検出される。
サの寿命検査時には、バックアップ用コンデンサがその
コンデンサに代わって電気回路に組込まれ、コンデンサ
には容量値検出手段が接続されて容量値が検出される。
そして、この検出された容量値がしきい値以下のとき、
即ち寿命が近付いているときにはアラームが出力される
。よって、コンデンサが使用されている装置に欠測を生
じることなく任意の時期に又は所定の周期でコンデンサ
の寿命を検出することができる。
即ち寿命が近付いているときにはアラームが出力される
。よって、コンデンサが使用されている装置に欠測を生
じることなく任意の時期に又は所定の周期でコンデンサ
の寿命を検出することができる。
第２の発明によれば、電気回路に組込まれたコンデンサ
の寿命に影響を与える温度変化が温度センサによって検
出され、この検出された温度変化量からコンデンサが受
けるダメージ量が算出され、このダメージ量がそのコン
デンサの許容値を超えたときアラームが出力される。よ
って、コンデンサの“容量ぬけ”が発生する前にコンデ
ンサの寿命が近付いたことが正確に報知され、寿命とな
る前にコンデンサを交換できる。
の寿命に影響を与える温度変化が温度センサによって検
出され、この検出された温度変化量からコンデンサが受
けるダメージ量が算出され、このダメージ量がそのコン
デンサの許容値を超えたときアラームが出力される。よ
って、コンデンサの“容量ぬけ”が発生する前にコンデ
ンサの寿命が近付いたことが正確に報知され、寿命とな
る前にコンデンサを交換できる。
以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第１図は本発明の第１実施例を示す図である。
本実施例は、放射線計測システムの電源部に用いられる
直流電源回路に設けられた平滑用電解コンデンサ（以下
、「平滑コンデンサ」と呼ぶ）の寿命検出装置の例であ
る。
直流電源回路に設けられた平滑用電解コンデンサ（以下
、「平滑コンデンサ」と呼ぶ）の寿命検出装置の例であ
る。
直流電源回路は、交流電源１で発生した交流電圧が、ダ
イオードブリッジ回路からなる全波整流回路２て全波整
流される。この余波整流回路２の両出力端子間に平滑コ
ンデンサ３が設けられている。同様に、両端子間に３端
子レギユレータ４の２端子か接続されていて、この３端
子レギユレータ４の残りの端子と金波整流回路２の（−
）側端子との間に平滑コンデンサ５が設けられている。
イオードブリッジ回路からなる全波整流回路２て全波整
流される。この余波整流回路２の両出力端子間に平滑コ
ンデンサ３が設けられている。同様に、両端子間に３端
子レギユレータ４の２端子か接続されていて、この３端
子レギユレータ４の残りの端子と金波整流回路２の（−
）側端子との間に平滑コンデンサ５が設けられている。
平滑コンデンサ３の（＋）電極側は、全波整流回路２の
（＋）側端子に対して、切替えスイッチＳＷ１を介して
接続されると共に、この切替えスイッチＳＷＩをバイパ
スする抵抗Ｒａ、切替えスイッチＳＷ２を介して接続さ
れている。また、平滑コンデンサ５は、その（＋）側電
極が切替えスイッチＳＷ３を介して３端子レギユレータ
４に接続されている。また、この切替えスイッチＳＷ２
をバイパスするようにして抵抗Ｒｂ、切替えスイッチＳ
Ｗ４を介して３端子レギユレータ４に接続されている。
（＋）側端子に対して、切替えスイッチＳＷ１を介して
接続されると共に、この切替えスイッチＳＷＩをバイパ
スする抵抗Ｒａ、切替えスイッチＳＷ２を介して接続さ
れている。また、平滑コンデンサ５は、その（＋）側電
極が切替えスイッチＳＷ３を介して３端子レギユレータ
４に接続されている。また、この切替えスイッチＳＷ２
をバイパスするようにして抵抗Ｒｂ、切替えスイッチＳ
Ｗ４を介して３端子レギユレータ４に接続されている。
この様に構成された直流電源回路に対して、本実施例の
寿命検出装置は、平滑コンデンサ３．５に対して、これ
と並列にバックアップ用コンデンサ１．０．１１が設け
られている。バックアップ用コンデンサ１０の一方の電
極が平滑コンデンサ３と同様に全波整流回路２の（−）
側出力端子に接続され、他方の電極が切替えスイッチＳ
ＷＩを介して全波整流回路２の（−）側出力端子に接続
され、さらに切替えスイッチＳＷ２を介して抵抗Ｒａに
接続されている。もう一方のバックアップ用コンデンサ
１１は、一方の電極が平滑コンデンサ５と共に全波整流
回路２の（−）側出力端子に接続され、他方の電極が切
替えスイッチＳＷ３を介して３＠子レギユレータ４の出
力端子に接続され、さらに切替えスイッチＳＷ４を介し
て抵抗Ｒｂに接続されている。
寿命検出装置は、平滑コンデンサ３．５に対して、これ
と並列にバックアップ用コンデンサ１．０．１１が設け
られている。バックアップ用コンデンサ１０の一方の電
極が平滑コンデンサ３と同様に全波整流回路２の（−）
側出力端子に接続され、他方の電極が切替えスイッチＳ
ＷＩを介して全波整流回路２の（−）側出力端子に接続
され、さらに切替えスイッチＳＷ２を介して抵抗Ｒａに
接続されている。もう一方のバックアップ用コンデンサ
１１は、一方の電極が平滑コンデンサ５と共に全波整流
回路２の（−）側出力端子に接続され、他方の電極が切
替えスイッチＳＷ３を介して３＠子レギユレータ４の出
力端子に接続され、さらに切替えスイッチＳＷ４を介し
て抵抗Ｒｂに接続されている。
平滑コンデンサ３，５の容量値を検出するためのキャパ
シタチエツク回路１２が、選択スイッチＳＷ５を介して
平滑コンデンサ３，５の（＋）側に接続されている。こ
のキャパシタチエツク回路１２は、選択スイッチＳＷ５
を介して接続された平滑コンデンサ３又は５の容量値に
応じた電圧を発生させる。このキャパシタチエツク回路
１２の出力電圧はコンパレータ１３の一方の入力端子に
印加される。コンパレータ１３の他方の入力端子には平
滑コンデンサ３，５の容量値の許容値に対応した電圧レ
ベルが設定さていて、キャパシタチエツク回路１２の出
力電圧が設定電圧以下となったときアラーム発生回路］
４にアクティブ信号を出力する。
シタチエツク回路１２が、選択スイッチＳＷ５を介して
平滑コンデンサ３，５の（＋）側に接続されている。こ
のキャパシタチエツク回路１２は、選択スイッチＳＷ５
を介して接続された平滑コンデンサ３又は５の容量値に
応じた電圧を発生させる。このキャパシタチエツク回路
１２の出力電圧はコンパレータ１３の一方の入力端子に
印加される。コンパレータ１３の他方の入力端子には平
滑コンデンサ３，５の容量値の許容値に対応した電圧レ
ベルが設定さていて、キャパシタチエツク回路１２の出
力電圧が設定電圧以下となったときアラーム発生回路］
４にアクティブ信号を出力する。
キャパシタチエツク回路１２は、第２図に示すように、
インピーダンス７１ＰＩ定回路１５と、インピーダンス
変換回路１６とを組合わせて構成することかできる。イ
ンピーダンス４ｐｊ定回路１５に平滑用コンデンサ３．
５の（＋）側電極電圧を入力し、インピーダンスに応じ
た電圧がインピーダンス変換回路１６に入力される。図
示の如く構成されたインピーダンス変換回路１６の抵抗
Ｒ，，Ｒ２゜Ｒ９，容量 ＣＲを調整することにより、
入力インピーダンスに応じた平滑用コンデンサ３，５の
容量値と一致するＣｘを設定することができ、この検出
容量値Ｃｘに応じた電圧が発生される。
インピーダンス７１ＰＩ定回路１５と、インピーダンス
変換回路１６とを組合わせて構成することかできる。イ
ンピーダンス４ｐｊ定回路１５に平滑用コンデンサ３．
５の（＋）側電極電圧を入力し、インピーダンスに応じ
た電圧がインピーダンス変換回路１６に入力される。図
示の如く構成されたインピーダンス変換回路１６の抵抗
Ｒ，，Ｒ２゜Ｒ９，容量 ＣＲを調整することにより、
入力インピーダンスに応じた平滑用コンデンサ３，５の
容量値と一致するＣｘを設定することができ、この検出
容量値Ｃｘに応じた電圧が発生される。
次に、以上の様に構成された本実施例の動作として、平
滑コンデンサ３の寿命検出動作を例に説明する。
滑コンデンサ３の寿命検出動作を例に説明する。
通常、切替えスイッチＳＷ１は平滑コンデンサ３側端子
に接続されていて、寿命検出時にバックアップ用コンデ
ンサ１０側端子に切替えられる。
に接続されていて、寿命検出時にバックアップ用コンデ
ンサ１０側端子に切替えられる。
切替えスイッチＳＷ２は、切替えスイッチＳＷＩと同じ
コンデンサ側に接続され、切替えスイッチＳＷＩが切替
わるときには常にそのコンデンサ側に接続されているよ
うに操作される。これにより、スイッチＳＷＩが切替わ
るときに発生するサージノイズが防止される。
コンデンサ側に接続され、切替えスイッチＳＷＩが切替
わるときには常にそのコンデンサ側に接続されているよ
うに操作される。これにより、スイッチＳＷＩが切替わ
るときに発生するサージノイズが防止される。
平滑コンデンサ３の寿命検出時には、外部操作によって
ＳＷＩ、２がそれぞれバックアップ用コンデンサ１０側
に切替えられ、選択スイッチＳＷ５が平滑コンデンサ３
側に切替えられる。寿命検出動作中はバックアップ用コ
ンデンサ］０によって平滑処理が行われる。一方、検査
対象となる平滑コンデンサ３に蓄積されている電荷量に
応じた電圧か、キャパシタチエツク回路１２へ入力され
る。キャパシタチエツク回路１２は、平滑コンデンサ３
の現在の容量値を示す電圧をコンパレータ１３へ出力す
る。コンパレータ１３は、平滑コンデンサ３の現在の容
量値を示す電圧が設定値以下のとき、即ち平滑コンデン
サ３の許容容量値を下回っているときにアラーム出力回
路１４へ信号を出力してアラームを出力する。
ＳＷＩ、２がそれぞれバックアップ用コンデンサ１０側
に切替えられ、選択スイッチＳＷ５が平滑コンデンサ３
側に切替えられる。寿命検出動作中はバックアップ用コ
ンデンサ］０によって平滑処理が行われる。一方、検査
対象となる平滑コンデンサ３に蓄積されている電荷量に
応じた電圧か、キャパシタチエツク回路１２へ入力され
る。キャパシタチエツク回路１２は、平滑コンデンサ３
の現在の容量値を示す電圧をコンパレータ１３へ出力す
る。コンパレータ１３は、平滑コンデンサ３の現在の容
量値を示す電圧が設定値以下のとき、即ち平滑コンデン
サ３の許容容量値を下回っているときにアラーム出力回
路１４へ信号を出力してアラームを出力する。
なお、アラームが出力された場合には切替えスイッチＳ
ＷＩ、２の状態をそのまま保持して、平滑コンデンサ３
を交換する。また、アラームが出力されない場合には、
切替えスイッチＳＷＩ、２を平滑コンデレザ３側に戻し
て、通常の状態に戻る。
ＷＩ、２の状態をそのまま保持して、平滑コンデンサ３
を交換する。また、アラームが出力されない場合には、
切替えスイッチＳＷＩ、２を平滑コンデレザ３側に戻し
て、通常の状態に戻る。
また、平滑コンデンサ５についても同様にして寿命検出
が実行される。
が実行される。
このように本実施例は、検査対象となる各平滑コンデン
サ３．５の各々にバックアップ用コンデンサ１０．１１
を設けておき、寿命検査時にはバックアップ用コンデン
サ１０．１１で平滑処理を行い、一方で、検査対象とな
る平滑コンデンサの容量値をキャパシタチエツク回路１
２て検出して、この容量値％（許容値以下のときにアラ
ームを出力するようにした。その結果、電気回路内に組
込まれた平滑コンデンサ３，５の容量値を必要に応じて
又は定期的にチエツクすることができ、平滑コンデンサ
３．５の寿命を事前に検出できて“容量ぬけ”を未然に
防止できる。よって、装置の信頼性を向上することがで
きる。
サ３．５の各々にバックアップ用コンデンサ１０．１１
を設けておき、寿命検査時にはバックアップ用コンデン
サ１０．１１で平滑処理を行い、一方で、検査対象とな
る平滑コンデンサの容量値をキャパシタチエツク回路１
２て検出して、この容量値％（許容値以下のときにアラ
ームを出力するようにした。その結果、電気回路内に組
込まれた平滑コンデンサ３，５の容量値を必要に応じて
又は定期的にチエツクすることができ、平滑コンデンサ
３．５の寿命を事前に検出できて“容量ぬけ”を未然に
防止できる。よって、装置の信頼性を向上することがで
きる。
次に、本発明の第２実施例について第３図を参照して説
明する。
明する。
第３図は本実施例のブロック図である。図中の符号２０
は、装置内に設置された寿命検査対象の電解コンデンサ
を示している。本実施例は、温度センサ２１がこの電解
コンデンサ２０の近傍に設置され、そのセンサ出力がＡ
／Ｄ変換器２２を介して演算処理部２３へ入力される。
は、装置内に設置された寿命検査対象の電解コンデンサ
を示している。本実施例は、温度センサ２１がこの電解
コンデンサ２０の近傍に設置され、そのセンサ出力がＡ
／Ｄ変換器２２を介して演算処理部２３へ入力される。
データベース２４には、実験等によって予め求められた
使用コンデンサの推定寿命や、この推定寿命に対応した
アラーム設定値が蓄積されている。演算処理部２３は、
所定の周期でＡ／Ｄ変換器２２出力を取込み、その温度
データから後述する演算にてコンデンサ２０が受けるダ
メージを算出する。そして、所定周期毎に算出されるダ
メージ量を加算していき、蓄積ダメージ量（加算値）が
アラーム設定値以上となったときアラーム出力指令信号
を出力する。アラーム出力回路２５はアラーム出力指令
信号を受信するとアラームを発生する。
使用コンデンサの推定寿命や、この推定寿命に対応した
アラーム設定値が蓄積されている。演算処理部２３は、
所定の周期でＡ／Ｄ変換器２２出力を取込み、その温度
データから後述する演算にてコンデンサ２０が受けるダ
メージを算出する。そして、所定周期毎に算出されるダ
メージ量を加算していき、蓄積ダメージ量（加算値）が
アラーム設定値以上となったときアラーム出力指令信号
を出力する。アラーム出力回路２５はアラーム出力指令
信号を受信するとアラームを発生する。
ここで、演算処理部２３におけるダメージ演算について
説明する。
説明する。
７に解コンデンサ２０の寿命が周辺温度で決定されると
すると、推定寿命ＬＴは、 Ｌ Ｔ、、 Ｌ ｏＸ ２ｔＴｏ−Ｔ） ” Ｉ Ｏと
なる。なお、Ｔは周辺温度、Ｔｏは最大定格温度である
。Ｌｏは最大定格温度（Ｔｏ）での推定寿命であり、予
めル１定してデータベース２４に格納される値である。
すると、推定寿命ＬＴは、 Ｌ Ｔ、、 Ｌ ｏＸ ２ｔＴｏ−Ｔ） ” Ｉ Ｏと
なる。なお、Ｔは周辺温度、Ｔｏは最大定格温度である
。Ｌｏは最大定格温度（Ｔｏ）での推定寿命であり、予
めル１定してデータベース２４に格納される値である。
演算処理部２３では、設π１温度（Ｔｓ）の時の寿命Ｌ
ｓと、実際に測定される周辺温度（Ｔ）での寿命ＬＴと
の比、Ｌ ｓ ／ Ｌ ７を′ｌ−１定時の周辺温度で
のダメージ量として算出する。
ｓと、実際に測定される周辺温度（Ｔ）での寿命ＬＴと
の比、Ｌ ｓ ／ Ｌ ７を′ｌ−１定時の周辺温度で
のダメージ量として算出する。
この様な本実施例によれば、温度センサ２］によって電
解コンデンサ２０の周辺温度が所定の周期で検出され、
演算処理部２３においてその検出された周辺温度データ
に基づいてその温度で電解コンデンサ２０が受けるダメ
ージが算出される。
解コンデンサ２０の周辺温度が所定の周期で検出され、
演算処理部２３においてその検出された周辺温度データ
に基づいてその温度で電解コンデンサ２０が受けるダメ
ージが算出される。
周辺温度が検出される度に電解コンデンサ２０のダメー
ジが算出され、算出されたダメージ量の合計値がアラー
ム設定値を超えたときに、アラーム出力指令信号が出力
されて、アラーム発生回路２５からアラームが発生され
る。
ジが算出され、算出されたダメージ量の合計値がアラー
ム設定値を超えたときに、アラーム出力指令信号が出力
されて、アラーム発生回路２５からアラームが発生され
る。
従って、電解コンデンサ２０が寿命となる前に、コンデ
ンサを確実に交換することかでき、“容量ぬけ”等によ
るトラブルの発生を防止でき、装置の信頼性を向上させ
ることかできる。
ンサを確実に交換することかでき、“容量ぬけ”等によ
るトラブルの発生を防止でき、装置の信頼性を向上させ
ることかできる。
なお、上記各実施例では電解コンデンサを例に説明した
が、電解コンデンサは容量値の変動幅が他のものに比べ
て大きいため、“容量ぬけ“が発生した場合にはトラブ
ルか発生ずる確率が高いため、この様なコンデンサに適
用することは特に有効である。なお、他のコンデンサで
あっても適用できるのは勿論である。
が、電解コンデンサは容量値の変動幅が他のものに比べ
て大きいため、“容量ぬけ“が発生した場合にはトラブ
ルか発生ずる確率が高いため、この様なコンデンサに適
用することは特に有効である。なお、他のコンデンサで
あっても適用できるのは勿論である。
［発明の効果］
以上詳記したように本発明によれば、電気回路内に使用
されているコンデンサの寿命を検出でき、適当なときに
コンデンサを交換することができて、“容量ぬけ”等に
よるトラブルの発生を有効に防止でき、コンデンサを使
用している装置の信頼性を向上させることのできるコン
デンサの寿命検出装置を提供できる。
されているコンデンサの寿命を検出でき、適当なときに
コンデンサを交換することができて、“容量ぬけ”等に
よるトラブルの発生を有効に防止でき、コンデンサを使
用している装置の信頼性を向上させることのできるコン
デンサの寿命検出装置を提供できる。
第１図は本発明の第１実施例の構成図、第２図は同実施
例に使用されるキャパシタチエツク回路の構成図、第３
図は第２実施例の構成図である。 ３．５・・・平滑用電解コンデンサ、４・・３端子レギ
ユレータ、１０．１１・・・バックアップ用キャパシタ
、１２・・・キャパシタチエツク回路、１３・・コンパ
レータ、１４．２５・・・アラーム発生回路、２１・温
度センサ、２３・・・演算処理部。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦
例に使用されるキャパシタチエツク回路の構成図、第３
図は第２実施例の構成図である。 ３．５・・・平滑用電解コンデンサ、４・・３端子レギ
ユレータ、１０．１１・・・バックアップ用キャパシタ
、１２・・・キャパシタチエツク回路、１３・・コンパ
レータ、１４．２５・・・アラーム発生回路、２１・温
度センサ、２３・・・演算処理部。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦
Claims (2)
- （１）所定の電気回路に組込まれたコンデンサの寿命検
査時に、該コンデンサに接続されその蓄積電荷量に応じ
た電圧を検出してそのコンデンサの容量値に変換する容
量値検出手段と、 前記コンデンサに対して並列に配置され、コンデンサの
寿命検査時に、このコンデンサに代わって前記電気回路
内に組込まれるバックアップ用コンデンサと、 検査対象となるコンデンサとそのバックアップ用コンデ
ンサとの切替えを行うための切替スイッチと、 前記容量値検出手段によって検出されたコンデンサの容
量値がしきい値以下のとき、前記切替スイッチをバック
アップ用コンデンサに切替えると共に、検査対象となっ
たコンデンサが寿命となった旨を報知するアラーム手段
と、 を具備したことを特徴とするコンデンサの寿命検出装置
。 - （２）所定の電気回路に組込まれたコンデンサの近傍に
設置された温度センサと、 前記温度センサから出力される温度データをモニタし、
時間の経過と共に蓄積された温度変化量から前記コンデ
ンサが受けるダメージを算出するダメージ量算出手段と
、 このダメージ量算出手段で算出されたダメージ量がその
コンデンサの許容値を超えたとき、そのコンデンサが寿
命となった旨を報知するアラーム手段と、 を具備したことを特徴とするコンデンサの寿命検出装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2340318A JPH04208873A (ja) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | コンデンサの寿命検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2340318A JPH04208873A (ja) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | コンデンサの寿命検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04208873A true JPH04208873A (ja) | 1992-07-30 |
Family
ID=18335802
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2340318A Pending JPH04208873A (ja) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | コンデンサの寿命検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04208873A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2008016050A1 (fr) * | 2006-07-31 | 2008-02-07 | Mitsubishi Electric Corporation | Dispositif d'alimentation et système de séquenceur |
| JP2008306850A (ja) * | 2007-06-07 | 2008-12-18 | Mitsubishi Electric Corp | 電源装置および寿命検出方法 |
| JP2013078172A (ja) * | 2011-09-29 | 2013-04-25 | Hitachi Ltd | ディジタル保護制御装置 |
| JP2021001743A (ja) * | 2019-06-20 | 2021-01-07 | 株式会社日本製鋼所 | エンコーダの寿命予測方法 |
| JP2021083147A (ja) * | 2019-11-14 | 2021-05-27 | 三菱電機エンジニアリング株式会社 | 電源回路 |
| EP4087120A1 (en) * | 2021-05-07 | 2022-11-09 | Nanjing Chervon Industry Co., Ltd. | Power tool |
-
1990
- 1990-11-30 JP JP2340318A patent/JPH04208873A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2008016050A1 (fr) * | 2006-07-31 | 2008-02-07 | Mitsubishi Electric Corporation | Dispositif d'alimentation et système de séquenceur |
| JPWO2008016050A1 (ja) * | 2006-07-31 | 2009-12-24 | 三菱電機株式会社 | 電源装置およびシーケンサシステム |
| US8093905B2 (en) | 2006-07-31 | 2012-01-10 | Mitsubishi Electric Corporation | Power supply device and sequencer system |
| JP2008306850A (ja) * | 2007-06-07 | 2008-12-18 | Mitsubishi Electric Corp | 電源装置および寿命検出方法 |
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| EP4087120A1 (en) * | 2021-05-07 | 2022-11-09 | Nanjing Chervon Industry Co., Ltd. | Power tool |
| US11942888B2 (en) | 2021-05-07 | 2024-03-26 | Nanjing Chervon Industry Co., Ltd. | Power tool |
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