JPH0436666A - コンデンサの劣化検出装置 - Google Patents
コンデンサの劣化検出装置Info
- Publication number
- JPH0436666A JPH0436666A JP2144201A JP14420190A JPH0436666A JP H0436666 A JPH0436666 A JP H0436666A JP 2144201 A JP2144201 A JP 2144201A JP 14420190 A JP14420190 A JP 14420190A JP H0436666 A JPH0436666 A JP H0436666A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- capacitor
- detection device
- value
- hold circuit
- deterioration
- Prior art date
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- Pending
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明はコンデンサの劣化検出装置、特に発電所など
産業上重要なプラントの工業計器に使用されモ七るコン
デンサの劣化を検出する装置に関する。
産業上重要なプラントの工業計器に使用されモ七るコン
デンサの劣化を検出する装置に関する。
発電所など産業上重要なプラントで使用されている工業
計器では、その計器の故障によシブラント等に重大な損
害を及ぼすことがある。
計器では、その計器の故障によシブラント等に重大な損
害を及ぼすことがある。
このために、工業計器の回路電源の平滑回路のコンデン
サは信頼性の高いアルミ電解コンデンサが使用されてい
る。しかしながら、このコンデンサは環境による劣化が
考えられ、他の電子部品に比べて寿命が短いため１通常
は予防保全としてあらかじめ推定寿命がくる前に定期的
に新しい部品と交換するという措置がとられている。
サは信頼性の高いアルミ電解コンデンサが使用されてい
る。しかしながら、このコンデンサは環境による劣化が
考えられ、他の電子部品に比べて寿命が短いため１通常
は予防保全としてあらかじめ推定寿命がくる前に定期的
に新しい部品と交換するという措置がとられている。
従来の予防保全はその部品の寿命を推定し、それ以前に
部品を交換するものである。たとえば火力プラントなど
では一定期間ごとに対象となるシステムの装置全体の予
防保全を行っている。ところがアルミ電解コンデンサは
周囲温度が１０度下がると寿命が２倍になるという性質
があるため使用環境によってはまだまだ寿命に達してい
ないにもかかわらず交換されるものもあった。かといっ
て一つ一つのコンデンサについて寿命に達しているかを
調べるには、従来はオシロスコープで平滑回路のりップ
ルを測定し、それがある程度以上になったばあいに交換
するといった方法をとっていたため１作業が大変であり
、また、リップルの値がどの程度の大きさになればコン
デンサが寿命に達しているかという判定も波形を見なが
ら行うため作業者によるばらつきがあるなど正確さに欠
けるものであった。
部品を交換するものである。たとえば火力プラントなど
では一定期間ごとに対象となるシステムの装置全体の予
防保全を行っている。ところがアルミ電解コンデンサは
周囲温度が１０度下がると寿命が２倍になるという性質
があるため使用環境によってはまだまだ寿命に達してい
ないにもかかわらず交換されるものもあった。かといっ
て一つ一つのコンデンサについて寿命に達しているかを
調べるには、従来はオシロスコープで平滑回路のりップ
ルを測定し、それがある程度以上になったばあいに交換
するといった方法をとっていたため１作業が大変であり
、また、リップルの値がどの程度の大きさになればコン
デンサが寿命に達しているかという判定も波形を見なが
ら行うため作業者によるばらつきがあるなど正確さに欠
けるものであった。
また、アルミ電解コンデンサが計器内部の発熱場所に位
置しているとか、計器のキャビネット内の設置場所によ
っては作業者による測定が困難で。
置しているとか、計器のキャビネット内の設置場所によ
っては作業者による測定が困難で。
予防保全を完全にすることができず、壕だ危険であるＯ
さらに、使用期間を長くするために、交換周期を長くす
ると、実際に故障するものが現われ、危険である。
ると、実際に故障するものが現われ、危険である。
この発明は上記に鑑み、工業計器内のコンデンサの劣化
を検出し、コンデンサの交換時期を容易。
を検出し、コンデンサの交換時期を容易。
且つ、正確に管理することのできるコンデンサの劣化検
出装置を提供することを目的とする。
出装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、この発明のコンデンサ劣化
検出装置は、平滑回路の接続された電源に接続されたピ
ークホールド回路と、前記平滑回路のコンデンサの出方
電圧と、ピークホールド回路の出方電圧の平均値を測定
し、演算する演算器とを備えている。
検出装置は、平滑回路の接続された電源に接続されたピ
ークホールド回路と、前記平滑回路のコンデンサの出方
電圧と、ピークホールド回路の出方電圧の平均値を測定
し、演算する演算器とを備えている。
平滑回路のコンデンサが劣化するとその出方電圧のリッ
プルが大きくなり、その結果出力電圧の平均値が小さく
なる。
プルが大きくなり、その結果出力電圧の平均値が小さく
なる。
一方ビークホールド回路のコンデンサとしてアルミ電解
コンデンサよシ長寿命のものを使用しておけば、ピーク
ホールド回路の出力電圧の平均値はほぼ一定である。
コンデンサよシ長寿命のものを使用しておけば、ピーク
ホールド回路の出力電圧の平均値はほぼ一定である。
したがって１両出力電圧を減算ないし加算演算すれば平
滑回路のコンデンサの劣化状態が検知できる。
滑回路のコンデンサの劣化状態が検知できる。
以下９図面に示す実施例について説明する。
第１図はこの発明の実施例のブロック図で、（１）は電
源トランス、（２）は電源トランス（１）の２次側に接
続された整流器（３）とアルミ電解コンデンサ（４）か
らなる平滑回路、（５）は平滑回路（１）の接続された
２次側の同じタップに接続された整流器（６）とコンデ
ンサ（７）からなるピークホールド回路で、コンデンサ
（７）ｌ−１ニアルミ電解コンデンサ（４）に比べて長
寿命で。
源トランス、（２）は電源トランス（１）の２次側に接
続された整流器（３）とアルミ電解コンデンサ（４）か
らなる平滑回路、（５）は平滑回路（１）の接続された
２次側の同じタップに接続された整流器（６）とコンデ
ンサ（７）からなるピークホールド回路で、コンデンサ
（７）ｌ−１ニアルミ電解コンデンサ（４）に比べて長
寿命で。
且つ環境による劣ｆヒの少ない１例えばマイラコンデン
サである。なお、その容量はリップルさえ小さければ小
さくてもよく、小さい程実装に有利である。
サである。なお、その容量はリップルさえ小さければ小
さくてもよく、小さい程実装に有利である。
（８）は平滑回路（２）とピークホールド回路（５）の
出力電圧の平均値Ｖａ 、 ｖｐをそれぞれ測定する電
圧測定器で、この電圧測定器（８）としてはデジタルボ
ルトメータ（ＤＶＭ）を用い、それを直流電圧レンジで
使用することにより平均値が測定できる。（９）はＶａ
と■、の差を演算する減算診で、その出力ｖ（−ｖ、−
Ｖａ）はコンデンサの劣化判定の基準値Ｖｃｅ一方の入
力とする比較器００）に供給される。
出力電圧の平均値Ｖａ 、 ｖｐをそれぞれ測定する電
圧測定器で、この電圧測定器（８）としてはデジタルボ
ルトメータ（ＤＶＭ）を用い、それを直流電圧レンジで
使用することにより平均値が測定できる。（９）はＶａ
と■、の差を演算する減算診で、その出力ｖ（−ｖ、−
Ｖａ）はコンデンサの劣化判定の基準値Ｖｃｅ一方の入
力とする比較器００）に供給される。
第１図の劣（ｂ検出装置の動作を説明する。
トランスの２次側タップ電圧、アルミ電解コンデンサの
容量および負荷抵抗の大きさは計器の回路構成によって
異なるが、−例としてタップ電圧１２ｖ、負荷抵抗の大
きさ１００Ωとする。アルミ電解コンデンサの容量は劣
化前の初期値を４７０μＦとする。アルミ電解コンデン
サの容量が劣（ヒによって減少した場合を想定してアル
ミ電解コンデンサの値を４７０μＦ、１００μＦ、４７
μＦとすると。
容量および負荷抵抗の大きさは計器の回路構成によって
異なるが、−例としてタップ電圧１２ｖ、負荷抵抗の大
きさ１００Ωとする。アルミ電解コンデンサの容量は劣
化前の初期値を４７０μＦとする。アルミ電解コンデン
サの容量が劣（ヒによって減少した場合を想定してアル
ミ電解コンデンサの値を４７０μＦ、１００μＦ、４７
μＦとすると。
平滑回路（２）ならびにピークホールド回路（５）の出
力点Ａ、Ｂの電圧波形は第２図のようになり、その際の
Ｄ Ｖ Ｍ （８）の測定値ｖｐ、 Ｖａを次表に示す
。
力点Ａ、Ｂの電圧波形は第２図のようになり、その際の
Ｄ Ｖ Ｍ （８）の測定値ｖｐ、 Ｖａを次表に示す
。
コンデンサ（４）の静電容量が劣化によって下がるにし
たがい第２図の波形図で明らかなようにリップルが大き
くなると共に平滑回路（２）の出力点ＡのＤ Ｖ Ｍ
（８）での測定値ｖａが表に示す通シ小さくなっている
が、ピークホールド回路（５）の出力点ＢのＤ Ｖ Ｍ
（８）での測定値Ｖ、はトランスの２次電圧の５倍の
電圧を示しほぼ一定である。Ｄ Ｖ Ｍ （８）の出力
Ｖａ 、 Ｖｐは減算器（９）で、 Ｖｐ −Ｖａが演
算され、その出力Ｖ （＝ Ｖｐ Ｖａ ）は比較器
００）に入力され、比較器α０）はこの値■をコンデン
サの劣化判定値Ｖｃと比較する。
たがい第２図の波形図で明らかなようにリップルが大き
くなると共に平滑回路（２）の出力点ＡのＤ Ｖ Ｍ
（８）での測定値ｖａが表に示す通シ小さくなっている
が、ピークホールド回路（５）の出力点ＢのＤ Ｖ Ｍ
（８）での測定値Ｖ、はトランスの２次電圧の５倍の
電圧を示しほぼ一定である。Ｄ Ｖ Ｍ （８）の出力
Ｖａ 、 Ｖｐは減算器（９）で、 Ｖｐ −Ｖａが演
算され、その出力Ｖ （＝ Ｖｐ Ｖａ ）は比較器
００）に入力され、比較器α０）はこの値■をコンデン
サの劣化判定値Ｖｃと比較する。
この判定値ＶＣは計器の回路電流とコンデンサ（４）の
初期値と寿命に到達したときの値からあらかじめ決めた
値であシ、寿命が近いと判断するための値である。そし
てｖ ＞ ＶＣとなると比較器（１０１が警報器（１１
１に信号を出力し、警報器ａＤがコンデンサ（４）の寿
命が終わシに近すいたこと、すなわち劣下したことを報
知する。この警報が出された時点でコンデンサ（４）を
新品と交換すれば良い。
初期値と寿命に到達したときの値からあらかじめ決めた
値であシ、寿命が近いと判断するための値である。そし
てｖ ＞ ＶＣとなると比較器（１０１が警報器（１１
１に信号を出力し、警報器ａＤがコンデンサ（４）の寿
命が終わシに近すいたこと、すなわち劣下したことを報
知する。この警報が出された時点でコンデンサ（４）を
新品と交換すれば良い。
なお、平滑回路とピークホールド回路の出力電圧の測定
は連続的に行なっても、また、タイマと組み合わせ一定
期間毎に測定するようにしてもよい。
は連続的に行なっても、また、タイマと組み合わせ一定
期間毎に測定するようにしてもよい。
また、実施例では演算器として減算器を用いたが加算器
であってもよい。
であってもよい。
さらに、比較器と警報器を設ける代わりに、減算器の出
力ｆｉｉＩＶ、ないし、出力値Ｖより換算した寿命時間
の表示器を設け１表示器の表示値によシコンデンサの交
換時期を判定することもできる。
力ｆｉｉＩＶ、ないし、出力値Ｖより換算した寿命時間
の表示器を設け１表示器の表示値によシコンデンサの交
換時期を判定することもできる。
この発明によれば、平滑回路とピークホールド回路の電
圧を測定することにより、工業計器内のコンデンサの劣
化を検出ないし残シ寿命を判定することができ、警報が
出された時点でコンデンサを交換すればよいので、コン
デンサの交換時期の管理を大幅に簡略化できる。
圧を測定することにより、工業計器内のコンデンサの劣
化を検出ないし残シ寿命を判定することができ、警報が
出された時点でコンデンサを交換すればよいので、コン
デンサの交換時期の管理を大幅に簡略化できる。
また、平滑回路ならびにピークホールド回路の出力端子
、あるいは演算器の出力端子を安全な位置に設けること
が可能であることから１作業者の安全も確保できる。
、あるいは演算器の出力端子を安全な位置に設けること
が可能であることから１作業者の安全も確保できる。
第１図はこの発明の一実施例の構成を示すブロック図、
第２図は第１図の動作説明用波形図である。 １ ・）ランス ２・・・平滑回路（３：整流器、４ニアルミ電解コンデ
ンサ） ５・・・ピークホールド回路（６：整流器、７：マイク
コンデンサ） ８ ・・・ デ ジ ダ ルポ ！し ト メ − タ
（ＤＶＭ）９・・・減算器（演算器） １０−・・比較器 １１・・・警報器第１図 第２図
第２図は第１図の動作説明用波形図である。 １ ・）ランス ２・・・平滑回路（３：整流器、４ニアルミ電解コンデ
ンサ） ５・・・ピークホールド回路（６：整流器、７：マイク
コンデンサ） ８ ・・・ デ ジ ダ ルポ ！し ト メ − タ
（ＤＶＭ）９・・・減算器（演算器） １０−・・比較器 １１・・・警報器第１図 第２図
Claims (1)
- （１）整流器を介してコンデンサが接続された電源に接
続された整流器と、コンデンサからなるピークホールド
回路と、前記コンデンサの出力電圧と前記ピークホール
ド回路の出力電圧の平均値を測定し演算する演算器とを
備えたことを特徴とするコンデンサの劣化検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2144201A JPH0436666A (ja) | 1990-05-31 | 1990-05-31 | コンデンサの劣化検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2144201A JPH0436666A (ja) | 1990-05-31 | 1990-05-31 | コンデンサの劣化検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0436666A true JPH0436666A (ja) | 1992-02-06 |
Family
ID=15356573
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2144201A Pending JPH0436666A (ja) | 1990-05-31 | 1990-05-31 | コンデンサの劣化検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0436666A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0603540A3 (de) * | 1992-12-19 | 1995-06-14 | Bosch Gmbh Robert | Schaltungsanordnung zum Messen eines pulsierenden Gleichstroms. |
| JP2000059992A (ja) * | 1998-08-07 | 2000-02-25 | Keihin Corp | 電源供給装置 |
| JP2007163141A (ja) * | 2005-12-09 | 2007-06-28 | Yazaki Corp | 状態検出方法及び絶縁抵抗低下検出器 |
-
1990
- 1990-05-31 JP JP2144201A patent/JPH0436666A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0603540A3 (de) * | 1992-12-19 | 1995-06-14 | Bosch Gmbh Robert | Schaltungsanordnung zum Messen eines pulsierenden Gleichstroms. |
| JP2000059992A (ja) * | 1998-08-07 | 2000-02-25 | Keihin Corp | 電源供給装置 |
| JP2007163141A (ja) * | 2005-12-09 | 2007-06-28 | Yazaki Corp | 状態検出方法及び絶縁抵抗低下検出器 |
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