JPH04209596A - 回路基板用素材 - Google Patents

回路基板用素材

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Publication number
JPH04209596A
JPH04209596A JP40622690A JP40622690A JPH04209596A JP H04209596 A JPH04209596 A JP H04209596A JP 40622690 A JP40622690 A JP 40622690A JP 40622690 A JP40622690 A JP 40622690A JP H04209596 A JPH04209596 A JP H04209596A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
nickel
copper
chromium
buffer layer
Prior art date
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Pending
Application number
JP40622690A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenichi Otani
健一 大谷
Toshio Mugishima
利夫 麦島
Osamu Seki
関 収
Eiichi Taguchi
栄一 田口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Furukawa Electric Co Ltd
Original Assignee
Furukawa Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Furukawa Electric Co Ltd filed Critical Furukawa Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
[00017
【産業上の利用分野]本発明は、コンピューター、ワー
ドプロセッサー等の電子回路基板に使用される回路基板
用素材に関する。 [0002] 【従来技術】従来、回路基板用素材としては、ガラスエ
ポキシ、ポリイミド、ポリエステル等の高分子フィルム
上に銅層を設けた素材が用いられていた。 [0003]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記の
高分子フィルム上に銅層を設けた素材は高分子フィルム
と銅層との密着性が低い為、回路形成の為のエツチング
処理、錫メツキの前処理、穴あけ等の機械加工、半田付
は時の熱処理等によって双方が剥離してしまうという問
題があった。このようなことから、素材として用いる高
分子フィルムについての表面処理法が種々研究されたが
十分な改善に到らず、又高分子フィルムと銅層の間にク
ロム又はニッケルをバッファとして介在させる方法が提
案されたが、クロムを用いた場合はクロム層と銅層の間
が剥離し易く、又ニッケルを用いた場合はニッケル層と
高分子フィルムとの間が剥離し易いというような問題が
あった。 [0004]
【課題を解決する為の手段】本発明はかかる状況に鑑み
鋭意研究を行った結果なされたもので、その目的とする
ところは、導体となす銅層の基材との密着性が良好な、
高分子フィルムを基材とする回路基板用素材を提供する
ことにある。即ち、本発明の回路基板用素材は、高分子
フィルム上に、クロム層又はクロムを50重量部以上含
有するニッケルクロム合金層、及びニッケル層又はニッ
ケルを50重量部以上含有する銅ニッケル合金層、及び
銅層を順次設けたことを特徴とするものである。本発明
の回路基板用素材は、高分子フィルム上に高分子フィル
ムと密着性のよいクロム層又はクロムを50重量部以上
含有するニッケルクロム合金層(以下第1バッファ層と
称す)を設け、その上に銅層及び上記第1バッファ層と
の密着性に優れたニッケル層又はニッケルを50重量部
以上含有する銅ニッケル合金層(以下第2バッファ層と
称す)を設け、この第2バッファ層上に銅層を設けて、
基材の高分子フィルムと回路を形成する為の銅層とを強
固に密着させるようにしたものである。 [00051本発明の回路基板用素材において、基材と
なる高分子フィルムには、ガラス−エポキシ、ポリイミ
ド、ポリエステル、エチレン・フロロエチレン共重合体
等のフィルム体が適用し得るが、特にポリイミドフィル
ムが第1バッファ層との密着性に優れている。父上記の
高分子フィルム上に第1バッファ層を設けるに先立ち、
高分子フィルムを窒素ガス、酸素ガス、アルゴンガス等
の雰囲気中でプラズマ処理して活性化しておくと高分子
フィルムと第1バッファ層との密着性が向上するので望
ましい。本発明の回路基板用素材の基材である高分子フ
ィルム上に設ける第1バッファ層及び第2バッファ層の
それぞれの厚さは、1000Aを超えると素材を巻取っ
たりする際、上記の第1バッファ層や第2バッファ層に
クラックが入るので、いずれの層も1000八以下、更
に言えば、それぞれの厚さが300人を超えると高分子
フィルムとの熱膨張差で得られる素材がカールすること
があるので、300八以下とするのが好ましい。又第1
バッファ層及び第2バッファ層のそれぞれの厚さは、5
A未満では第1バッファ層及び第2バッファ層を均一な
厚さに設けるのが困難になる。このようなことから、第
1バッファ層及び第2バッファ層のそれぞれの厚さは、
300A〜5人の範囲にするのが最も好ましい。又、基
材である高分子フィルム上に第1バッファ層及び第2バ
ッファ層を設ける方法としては、化学蒸着法やスパッタ
蒸着法等が用いられるが、特にスパッタ蒸着法によると
密着性に優れたものが形成でき好ましい。又第1バッフ
ァ層と第2バッファ層とはインラインで連続してスパッ
タ蒸着により設けるのが密着性が向上して好ましい。又
銅層は第2バッファ層上にスパッタ蒸着法等で0. 1
〜1μm程度薄く予備コーティングしておいて、あとか
ら電気メツキ等の方法により必要厚さに形成するのが、
銅層と第2バッファ層との密着性が向上して好ましい。 又銅層の予備コーティングも第1バッファ層及び第2バ
ッファ層に続けてインラインで連続して行うのが相互の
密着性が向上して好ましい。 [0006]
【実施例】以下に本発明を実施例により詳細に説明する
。 実施例1 厚さ50μmのポリイミドフィルムをアルゴン雰囲気中
でプラズマ処理して活性化したのち、このフィルム上に
クロムを50A、ニッケルを50A、銅を1μm厚さに
順次スパッタ蒸着して複合素材となし、次にこの複合素
材の銅層上に銅を35μm厚さに電気メツキして回路基
板用素材となした。尚、クロム、ニッケル、銅のスパッ
タ蒸着はインラインで連続して行い、又スパッタ蒸着の
キャリアガスにはアルゴンガスを用いた。 実施例2 実施例1において、クロム、ニッケル、銅のスパッタ蒸
着を別々にバッチ式に行った他は、実施例1と同じ方法
により回路基板用素材を製造した。 実施例3 実施例1において、ポリイミドフィルム上に設けたクロ
ム層及びニッケル層を、それぞれクロムを50重量部以
上含有するニッケルクロム合金及びニッケルを50重量
部以上含有する銅ニッケル合金を用いて形成した他は、
実施例1と同じ方法により回路基板用素材を製造した。 比較例1 実施例1において、クロム層又は/及びニッケル層を設
けなかった他は、実施例1と同じ方法により回路基板用
素材を製造した。 [0007]このようにして製造した各々の回路基板用
素材について、引張りによる銅層の剥離試験、フォトリ
ソグラフィ法による銅層への導体パターンの形成、前記
形成した導体パターンの粘着テープを用いた剥離試験を
行って銅層の密着性を調べた。結果は表1に示した。 尚、引張りによる銅層の剥離試験は、上記素材を10m
m巾に切出して試験片となし、この試験片の一端はポリ
イミドフィルムを残して除去し、又他端は銅層を残して
除**去して、両端のポリイミドフィルムと銅層をそれ
ぞれチャックに噛ませて引張って、破断時の荷重を測定
して行った。又フォトリソグラフィ法による銅層上への
導体パターンの形成は、銅層をアルカリ現像タイプのレ
ジスト膜で覆い、次いで巾50μm、ピッチ1100I
Lの導体パターンをカセイソーダとカセイカリの混合ア
ルカリ液にて現像したのち、露出した銅層を塩化第二鉄
水溶液でエツチングして除去し、次いでレジスト膜をア
セトンにて除去し、最後に塩酸とテトラフルオロ硼酸に
て酸性化フ した塩化第一錫水溶液中に浸漬して導体パ
ターン上に錫を無電解メツキして行った。又上記導体パ
ターンの粘着テープによる剥離試験は、導体パターン上
に500g/cm相当の粘着力を有する粘着テープを張
り付け、このテープを引き剥がす方法で行った。 [0008]
【表1】 表1より明らかなように、本発明品(No1〜3)は、
いずれの試験によっても銅層の密着性は良好であった。 特にバッファ金属層をインラインで連続してスパッタ蒸
着したもの(Nol、3)は、バッチ式のもの(No 
2 )に較べて引張試験で高い値を示した。又バッファ
金属の種類では純金属と合金とで差がなかった。これに
対し、比較品(No 4〜6)はいずれも密着性に劣る
もので、フォトリソグラフィ法による導体パターン形成
においては、形成後導体パターンに剥離が認められ、又
この導体パターンは粘着テープによる剥離試験で全て剥
離してしまった。尚、No5又はNo6の剥離部位は、
それぞれニッケル層とポリイミド層間又はクロム層と銅
層間であった。 [0009]
【効果】以上述べたように、本発明の回路基板用素材は
基材の高分子フィルムと銅層の密着性が良好であり、電
子回路基板に用いて高い信頼性が得られ、工業上顕著な
効果を奏する。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】高分子フイルム上に、クロム層又はクロム
    を50重量部以上含有するニッケルクロム合金層、及び
    ニッケル層又はニッケルを50重量部以上含有する銅ニ
    ッケル合金層、及び銅層を順次設けたことを特徴とする
    回路基板用素材。
JP40622690A 1990-12-07 1990-12-07 回路基板用素材 Pending JPH04209596A (ja)

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JP40622690A JPH04209596A (ja) 1990-12-07 1990-12-07 回路基板用素材

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JP40622690A JPH04209596A (ja) 1990-12-07 1990-12-07 回路基板用素材

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JPH04209596A true JPH04209596A (ja) 1992-07-30

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JP40622690A Pending JPH04209596A (ja) 1990-12-07 1990-12-07 回路基板用素材

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JP (1) JPH04209596A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006159632A (ja) * 2004-12-07 2006-06-22 Furukawa Circuit Foil Kk 銅メタライズド積層板及びその製造方法
JP2006159631A (ja) * 2004-12-07 2006-06-22 Furukawa Circuit Foil Kk 銅メタライズド積層板及びその製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006159632A (ja) * 2004-12-07 2006-06-22 Furukawa Circuit Foil Kk 銅メタライズド積層板及びその製造方法
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