JPH04211598A - スピーカー用振動板とその製造方法 - Google Patents
スピーカー用振動板とその製造方法Info
- Publication number
- JPH04211598A JPH04211598A JP4130991A JP4130991A JPH04211598A JP H04211598 A JPH04211598 A JP H04211598A JP 4130991 A JP4130991 A JP 4130991A JP 4130991 A JP4130991 A JP 4130991A JP H04211598 A JPH04211598 A JP H04211598A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- diamond
- diaphragm
- substrate
- speaker
- film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000010432 diamond Substances 0.000 claims description 57
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 claims description 55
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 6
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 6
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 claims description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 47
- 239000010408 film Substances 0.000 description 26
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 21
- 238000000034 method Methods 0.000 description 12
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 10
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 9
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 7
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 7
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 6
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 5
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 5
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910003481 amorphous carbon Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 4
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 description 4
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000001237 Raman spectrum Methods 0.000 description 3
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 3
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BYFGZMCJNACEKR-UHFFFAOYSA-N aluminium(i) oxide Chemical compound [Al]O[Al] BYFGZMCJNACEKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 2
- -1 carbon ions Chemical class 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 description 2
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 2
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 2
- 239000011259 mixed solution Substances 0.000 description 2
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 2
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 229910000521 B alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001339 C alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000676 Si alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 238000005275 alloying Methods 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QZPSXPBJTPJTSZ-UHFFFAOYSA-N aqua regia Chemical compound Cl.O[N+]([O-])=O QZPSXPBJTPJTSZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 229910052593 corundum Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000010891 electric arc Methods 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 238000010574 gas phase reaction Methods 0.000 description 1
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 1
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010583 slow cooling Methods 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
- 238000001308 synthesis method Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 231100000331 toxic Toxicity 0.000 description 1
- 230000002588 toxic effect Effects 0.000 description 1
- 231100000419 toxicity Toxicity 0.000 description 1
- 230000001988 toxicity Effects 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 238000001947 vapour-phase growth Methods 0.000 description 1
- 238000005303 weighing Methods 0.000 description 1
- 229910001845 yogo sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Diaphragms For Electromechanical Transducers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は高音域で優れた音響特
性を有するスピーカー用振動板に関する。 【0002】 【従来の技術】音響用スピーカーには各種の方式が用い
られているが、その中でもダイナミック型スピーカーが
最も多く用いられている。この型式は磁束の中で動く可
動コイルに接続した振動板で電気信号を音声に変換する
原理のものである。スピーカーは低音用、中音用、高音
用というように、いくつかの周波数域の異なるものが併
用される。それぞれ寸法が異なり、振動板に要求される
特性も異なる。振動板として最も広く用いられている材
料は紙である。これは安価、軽量であり適当な材料では
あるが、剛性が低いために数百ヘルツ以上では正確な変
換が難しくなる。これを改善するため振動板材料が種々
検討されている。 【0003】振動板材料のヤング率をE、密度をρとし
た時、E/ρの大きい材料ほど高音域での変換特性が優
れている。つまりヤング率が大きく密度の小さいものほ
ど高音特性が良いのである。例えば紙に代わるものとし
てBeが提案されている。これのE/ρは、50×10
10dyn・cm/gであって優れたものである。とこ
ろがBeは毒性が強く製造工程に於いて毒性を回避する
ための十分な配慮がなされなければならない。また加工
性が悪い。またTiも振動板として提案されている。こ
れはしかし密度が大きいためE/ρが小さい。 【0004】特公昭57−29919号はシリコンSi
を振動板として提案している。これのE/ρは50×1
010dyn・cm/g程度であり内部損失も0.01
2と大きい。またシリコンにボロンBを合金化してSi
B合金の振動板、或はシリコンに炭素を合金化したシリ
コンカーバイド合金SiCの振動板も提案している。こ
れらのE/ρは140×1010dyn・cm/g程度
に達するとしている。これらはシリコンの密度ρが小さ
い(ρ=2.3g/cm3 )事を利用しているのであ
る。 しかし、Si、SiB、SiCの振動板もE/ρがなお
小さく充分な高音特性が得られない。
【0005】特公昭55−33237号は
炭素イオンのイオンビ−ム蒸着法によって得られるダイ
ヤモンド型炭素成形物膜を振動板としたものを提案して
いる。これはE/ρを大きくするためにダイヤモンド状
炭素を用いるのである。Al、Ti、プラスチックを基
体として、これを−40Vの負電位にし、10−5〜1
0−6Torrの高真空中で、カーボン電極をアルゴン
で叩く事によって生ずる炭素イオンC+ をイオンビ−
ムとして基体に当て、基体上に炭素膜を堆積させるもの
である。しかしこれは導電性のある多孔質の炭素膜しか
できず、ダイヤモンドではなくグラファイトを主成分と
する非晶質の炭素膜と考えられる。 【0006】ダイヤモンドのE/ρは高く、300×1
010dyn・cm/g に達する。ダイヤモンドで
スピーカー用振動板ができれば、高音特性の優れたもの
になるはずである。ところが、スピーカー用振動板は2
0μm とか50μm というように薄い板でなければ
ならない。しかも直径が20〜30mmφというように
かなりの広さを要する。天然に産するダイヤモンド粒を
原料としてこのように広く薄い板を作ることはもちろん
できない。 【0007】 【課題を解決するための手段】本発明のスピーカー用振
動板は化学的気相合成法によって作られたダイヤモンド
のみからなりスピーカー用振動板の形状に加工されたも
のであることを特徴とする。 【0008】 【作用】製造方法の概要を述べると、スピーカー用振動
板の形状に加工したSiよりなる基体、或はスピーカー
用振動板の形状に加工した金属の上にSiを被覆した基
体を、真空チャンバ内に置き、基体を加熱して炭化水素
を含む原料ガスを流しながら化学的気相合成法によって
基体の上にダイヤモンド膜を成長させ、基体とダイヤモ
ンド膜を冷却して真空チャンバより取り出し、基体を溶
解除去して、振動板形状のダイヤモンド膜を得る。 【0009】振動板は半球殻(ドーム状)であるので、
このようなドーム状にした基体を用い、この上にダイヤ
モンド膜を成長させなければならない。基体は全体をシ
リコンSiで作ったものか或は、金属をドーム状に加工
しこの表面にSiを被覆したものとする。もちろん全体
をSiで作ったものが最も良い。図1は基体の形状の例
を示す。これは全体がSi多結晶でできていて例えば外
径が25.5mm、高さが7mmである。一般にド−ム
基体の外径は20〜30mmで、高さは5〜10mm程
度である。 【0010】このような基体を化学的気相合成装置(C
VD)の中に入れてダイヤモンド膜のコーティングをす
るのである。図2は工程図を示している。まず基体を用
意する。これは図1のように全体がSiであっても良い
し、図6のように金属の上にSiを付けたものであって
も良い。 【0011】次にこれをCVD装置の中で加熱し、炭素
と水素を含む原料ガスを導き何らかの方法でガスを励起
して加熱した基体の上にダイヤモンド膜を被覆するので
ある。これはかなりの膜厚がなければならず20μm
〜100μm 程度の膜厚が必要である。これがあまり
に薄いと剛性が足らず自らの形状を維持できない。あま
りに厚いと高音特性が却って悪くなるしコスト高になっ
てしまう。所定の厚さに達するとダイヤモンドの成長を
中止する。つまり原料ガスの供給を停止し、基体の加熱
温度を徐々に下げてゆく。室温になってからCVD装置
を開き、基体を取り出す。そして適当な薬品により基体
であるSiまたは金属とSiを溶解除去する。するとド
ーム状のダイヤモンド膜が残る。これがダイヤモンド単
体振動板である。 【0012】基体をSiとする理由は次の通りである。 Si以外の金属を基体とすると、ダイヤモンド膜との熱
膨張率の差が大きいため欠陥密度が極めて多くなるとい
うことである。そして基体を溶解除去した時にダイヤモ
ンド膜がバラバラに分解してしまうこともある。これで
は使いものにならない。ダイヤモンドの成長は850〜
1000℃の高温で行うが、成膜後冷却して常温に下げ
なければいけない。多くの金属は熱膨張率が大きい。冷
却の過程でダイヤモンドに強い圧縮応力が発生する。こ
の応力のため温度を下げるとダイヤモンド膜に多くのク
ラック、割れ目が縦横に生じ甚だしい場合ダイヤモンド
が分解してしまう。 【0013】ダイヤモンドの線膨張率は極めて小さく常
温(20℃)で1×10−6K−1、1380℃で5.
8×10−6K−1であり温度とともに増加している。 Siの線膨張率も十分に小さく常温で2.5×10−6
K−1、530℃で4×10−6K−1程度である。例
えば1000℃から20℃へ冷却したとすると、この過
程でのSiとダイヤモンドの線膨張率の差は、他の組み
合わせに於ける場合よりずっと小さい。従って、基体全
体をSi或は基体表面をSiとすると、徐冷過程でのダ
イヤモンドの表面に生ずる圧縮応力が小さくなり、クラ
ック、割れ、欠陥が生ずる確率も減少するのである。 【0014】化学的気相合成法(CVD)としては、■
フィラメントCVD法 ■マイクロ波プラズマCVD法 ■熱プラズマCVD法 を用いる事ができる。フィラメントCVD法はW、Ta
などのフィラメントに電流を通して熱電子を発生させ、
これによって原料ガスを励起するものである。マイクロ
波プラズマCVD法は2.45GHzのマイクロ波を誘
電体窓を通して真空チャンバ内へ導き、電子をマイクロ
波の周波数で振動させ中性原子、分子を電子によって叩
きこれをプラズマ化するものである。熱プラズマCVD
法は、ノズルを電極にしておき正負の電圧を印加して、
ノズルへ原料ガスを流すことによってア−ク放電を起こ
させてこれをプラズマとするものである。 【0015】 【 実 施 例 】[実施例1]多結晶シリコ
ンを切削によってスピーカー振動板形状に加工した。こ
の表面に公知のマイクロ波プラズマCVD法によって厚
さ25μm のダイヤモンド膜を形成した。その後常温
にしてシリコン基体を弗酸と硝酸の混合液によって溶解
した。こうして25μm 厚さのダイヤモンド振動板を
得た。この振動板の高音共振周波数は65,000Hz
であった。同じ形状のBeの振動板の高音共振周波数は
28,000Hzであり、Al2 O3 の高音共振周
波数は35,000Hzである。本発明のダイヤモンド
振動板の高音特性が極めて優れているということが分か
る。 【0016】[実施例2]Moを切削してスピーカー用
振動板形状に加工した。その表面にSi、Ti、Wをそ
れぞれ1μm の厚さで蒸着し3種類の基体を作った。 Moだけで蒸着層のないサンプルとこれら3種類の基体
を合わせて4種類のサンプルについて、公知のマイクロ
波プラズマCVD法でダイヤモンド膜を10μm の厚
さに被覆した。これを冷却しそのままの状態で欠陥密度
を測定した。この後、塩酸、弗酸、硝酸の混合液によっ
てMo基体を除去した。MoとSi、Ti、Wなどの薄
膜が溶解しダイヤモンドだけが残った。あるものはドー
ム状の形状を維持できたが、あるものはバラバラに分解
してしまった。この結果を表1に示す。 【0017】 【表1】 【0018】この結果から、基体上にSiを蒸着してダ
イヤモンド膜を形成たものは欠陥も少なく、基体を溶解
除去した後の状態も健全であり、スピーカー用振動板と
して優れていることが分かる。 【0019】[実施例3]公知のフィラメントCVD装
置によってダイヤモンドをドーム状基体の上へ成長させ
た。図3にフィラメントCVD装置の概略構成を示す。 真空チャンバ1の中に冷却支持台2が設けられる。これ
には冷却水3が通されている。冷却支持台2の上に基体
4が戴置される。基体4の上にはフィラメント5が水平
に張られていて、両端を電極6、6によって支持されて
いる。外部の電源7から、電極6、6を経てフィラメン
ト5に電流が流される。原料ガスが上方のガス導入口8
から真空チャンバ1の中へ流入する。フィラメント5が
加熱されて、熱電子が発生しこれが原料ガスをプラズマ
化する。基体はフィラメント5の輻射熱によって加熱さ
れ昇温する。排ガスは真空排気口9から排除される。工
程は図3に示す通りである。 【0020】基体としてはドーム状に加工されたSi多
結晶を基体として用いた。図1にこれを示すが、球をひ
とつの小円(中心を通らない円)で切り取ったような半
球に近い形である。直径が25.5mmφで、底面から
上頂点までの高さは7mmである。このドーム状Si基
体の表面には#600のダイヤモンドパウダーにより傷
つけ処理した。 【0021】このドーム状Si基体4を十分に冷却され
た支持台2の上に設置した。真空チャンバ1の内部を十
分な高真空に排気する。この後、真空チャンバ1の中へ
原料ガス導入口8から、水素ガス100sccm 、
メタンガス20sccmを送り込み、圧力が50Tor
rになるように保持した。フィラメント5はタングステ
ンWであり、これが2,100℃になるよう通電した。 フィラメントの輻射熱によってSi基体が加熱され気相
成長に適した温度になる。フィラメントから熱電子が放
出されるのでこれによりメタンガスが励起されて、正イ
オン、中性のラジカル(活性種)と電子とよりなるプラ
ズマとなる。これがSi基体上で気相反応しダイヤモン
ド多結晶が成長してゆく。 【0022】所定の厚みのダイヤモンド膜ができると原
料ガスの供給を停止し、基体の温度を徐々に下げる。常
温になってから、Si基体を取り出し、弗酸と硝酸とを
1:1で混合した溶液に漬けてSi基体のみを溶解除去
した。ダイヤモンドは溶けないからドーム状のダイヤモ
ンドが残った。このドーム状のダイヤモンドは60mg
の重さがあった。 【0023】これをスピーカー用の振動板として音響特
性を測定した。図4に周波数音圧特性を示す。比較のた
め同じ形状厚みのTiスピーカー用振動板の音響特性を
同じ条件で測定し図5にその結果を示している。いずれ
も横軸は周波数(Hz)で、縦軸は音圧レベル(dB)
である。 本発明になるダイヤモンド振動板は20,
000Hz以上でも十分な音圧レベルがあり、高音共振
周波数が70,000Hzである事が分かる。70,0
00Hz(70kHz )の高音まで再生する事ができ
る。 ところがTiの振動板では共振周波数が17,000H
zであり、25,000Hz以上の高音は十分な強度で
再生できないという事が分かる。 【0024】[実施例4]基体をSiコーティングした
Moとして、実施例3と同じ条件でダイヤモンド膜を作
った。フィラメントCVD装置を用いた。基体は外径3
0.5mm、高さ7.5mmの半球状に加工されたMo
の上に、スパッタリングによってSiを5,000Å(
0.5μm )被覆したものである。図6に断面図を示
す。そして#600のダイヤモンドパウダーによってド
ーム状基体の表面に傷つけ処理を行った。これを図3の
装置に設置し実施例3と同じ条件でダイヤモンド膜を成
長させた。冷却後外部に取り出し基体を溶解した。王水
(塩酸:硝酸=3:1)によってまずMoを溶解する。 この後、1:1弗硝酸によってSiを溶解除去する。こ
うして重さ60mgのダイヤモンド単体振動板を得た。 この振動板の音響特性を測定した。実施例3と同じく高
音域での再生能力が大幅に改善されていることが分かっ
た。 【0025】[実施例5]合成条件や基体の材質を変え
てダイヤモンド膜の成長を行った。これは基体の材質が
どのようにダイヤモンド膜に影響するかということを主
に調べるものである。ここではフィラメントCVD法と
、マイクロ波プラズマCVD法とを用いた。図7にマイ
クロ波プラズマCVD装置の概略図を示す。非金属の(
例えば石英)真空チャンバ11の中に支持台12によっ
て基体13が戴置されている。ガス導入口14から原料
ガスが導入され、真空排気口15から排気される。支持
台12の中にはヒータ(図示せず)があり基体13を適
当な温度に加熱する。真空チャンバ11の側方にはマグ
ネトロン16がある。ここから2.45GHzのマイク
ロ波が発生し、導波管17の中を伝搬する。反対側には
導体の板を進退自在に保持するプランジャ−18がある
。導波管17の実効長がプランジャ−18によって決ま
り、この中に最低次モード(或はそれに近いモード)の
定在波を立てるようにしている。原料ガス中の電子がマ
イクロ波によって振動するのでこれがガスを励起してプ
ラズマ19とする。 【0026】試料はNO.1からNO.7まである。基
体はNO.1がSiのみ、NO.2はSi/Mo(Mo
の上にSiをコート)、NO.3はSi/W、NO.4
はSiのみ、NO.5はMoのみ、NO.6はMoのみ
、NO.7はWのみである。原料ガスは水素とメタンで
ある。圧力を40〜80Torrの間に維持する。そし
て基体を溶解除去する時の割れの発生の有無を調べた。 さらにNO.3の試料についてはラマン分光スペクトル
を調べ第8図に分光スペクトルを示す。NO.2、NO
.3のSiコーティング層の厚みは5000Å(0.5
μm )である。表2にこの実験の結果を示す。 【0027】 【表2】 【0028】本発明の方法による試料NO.1〜NO.
4ではドーム状の良好なダイヤモンド振動板が作製でき
ている。これらはいずれも基体がSiであるか、基体表
面がSiであるものである。これに対して比較例とした
NO.5〜NO.7はいずれもSiでない基体を用いて
いる。これらはダイヤモンドコーティング中にクラック
が発生していたり、コーティング終了時ダイヤモンド膜
にクラックが発生するものがあった。そして基体を溶解
した時NO.5〜NO.7の全てのサンプルが割れてし
まい、振動板とすることができなかった。このようなこ
とから、基体は全体がSiであるか、または表面がSi
によって覆われているものでなければならないという事
が分かる。 【0029】図8は試料NO.3のラマン分光スペクト
ルである。横軸が波数(cm−1) 、縦軸が強度であ
る。 1333cm−1に鋭いピークがあるが、これは結晶質
ダイヤモンドから出る信号であり、結晶質ダイヤモンド
が多く存在することが分かる。非晶質炭素からの信号は
この波数範囲に広く分布しているのでもしも非晶質炭素
が多いと1333cm−1のピークが低く、その他の部
分が広く盛り上がったスペクトルとなる。これが殆どな
いことから、非晶質炭素が殆どない結晶質ダイヤモンド
で構成された試料であることが明らかになる。 【0030】 【発明の効果】本発明によれば高品質のダイヤモンド単
体のみからなるスピーカー用振動板を提供する事ができ
る。ダイヤモンドはE/ρが、Be、Ti、Al2 O
3 などよりも格段に大きく高音特性に優れた振動板と
することができ、80kHz(80,000Hz)の高
音も歪みなく再生できる。優れた発明である。
性を有するスピーカー用振動板に関する。 【0002】 【従来の技術】音響用スピーカーには各種の方式が用い
られているが、その中でもダイナミック型スピーカーが
最も多く用いられている。この型式は磁束の中で動く可
動コイルに接続した振動板で電気信号を音声に変換する
原理のものである。スピーカーは低音用、中音用、高音
用というように、いくつかの周波数域の異なるものが併
用される。それぞれ寸法が異なり、振動板に要求される
特性も異なる。振動板として最も広く用いられている材
料は紙である。これは安価、軽量であり適当な材料では
あるが、剛性が低いために数百ヘルツ以上では正確な変
換が難しくなる。これを改善するため振動板材料が種々
検討されている。 【0003】振動板材料のヤング率をE、密度をρとし
た時、E/ρの大きい材料ほど高音域での変換特性が優
れている。つまりヤング率が大きく密度の小さいものほ
ど高音特性が良いのである。例えば紙に代わるものとし
てBeが提案されている。これのE/ρは、50×10
10dyn・cm/gであって優れたものである。とこ
ろがBeは毒性が強く製造工程に於いて毒性を回避する
ための十分な配慮がなされなければならない。また加工
性が悪い。またTiも振動板として提案されている。こ
れはしかし密度が大きいためE/ρが小さい。 【0004】特公昭57−29919号はシリコンSi
を振動板として提案している。これのE/ρは50×1
010dyn・cm/g程度であり内部損失も0.01
2と大きい。またシリコンにボロンBを合金化してSi
B合金の振動板、或はシリコンに炭素を合金化したシリ
コンカーバイド合金SiCの振動板も提案している。こ
れらのE/ρは140×1010dyn・cm/g程度
に達するとしている。これらはシリコンの密度ρが小さ
い(ρ=2.3g/cm3 )事を利用しているのであ
る。 しかし、Si、SiB、SiCの振動板もE/ρがなお
小さく充分な高音特性が得られない。
【0005】特公昭55−33237号は
炭素イオンのイオンビ−ム蒸着法によって得られるダイ
ヤモンド型炭素成形物膜を振動板としたものを提案して
いる。これはE/ρを大きくするためにダイヤモンド状
炭素を用いるのである。Al、Ti、プラスチックを基
体として、これを−40Vの負電位にし、10−5〜1
0−6Torrの高真空中で、カーボン電極をアルゴン
で叩く事によって生ずる炭素イオンC+ をイオンビ−
ムとして基体に当て、基体上に炭素膜を堆積させるもの
である。しかしこれは導電性のある多孔質の炭素膜しか
できず、ダイヤモンドではなくグラファイトを主成分と
する非晶質の炭素膜と考えられる。 【0006】ダイヤモンドのE/ρは高く、300×1
010dyn・cm/g に達する。ダイヤモンドで
スピーカー用振動板ができれば、高音特性の優れたもの
になるはずである。ところが、スピーカー用振動板は2
0μm とか50μm というように薄い板でなければ
ならない。しかも直径が20〜30mmφというように
かなりの広さを要する。天然に産するダイヤモンド粒を
原料としてこのように広く薄い板を作ることはもちろん
できない。 【0007】 【課題を解決するための手段】本発明のスピーカー用振
動板は化学的気相合成法によって作られたダイヤモンド
のみからなりスピーカー用振動板の形状に加工されたも
のであることを特徴とする。 【0008】 【作用】製造方法の概要を述べると、スピーカー用振動
板の形状に加工したSiよりなる基体、或はスピーカー
用振動板の形状に加工した金属の上にSiを被覆した基
体を、真空チャンバ内に置き、基体を加熱して炭化水素
を含む原料ガスを流しながら化学的気相合成法によって
基体の上にダイヤモンド膜を成長させ、基体とダイヤモ
ンド膜を冷却して真空チャンバより取り出し、基体を溶
解除去して、振動板形状のダイヤモンド膜を得る。 【0009】振動板は半球殻(ドーム状)であるので、
このようなドーム状にした基体を用い、この上にダイヤ
モンド膜を成長させなければならない。基体は全体をシ
リコンSiで作ったものか或は、金属をドーム状に加工
しこの表面にSiを被覆したものとする。もちろん全体
をSiで作ったものが最も良い。図1は基体の形状の例
を示す。これは全体がSi多結晶でできていて例えば外
径が25.5mm、高さが7mmである。一般にド−ム
基体の外径は20〜30mmで、高さは5〜10mm程
度である。 【0010】このような基体を化学的気相合成装置(C
VD)の中に入れてダイヤモンド膜のコーティングをす
るのである。図2は工程図を示している。まず基体を用
意する。これは図1のように全体がSiであっても良い
し、図6のように金属の上にSiを付けたものであって
も良い。 【0011】次にこれをCVD装置の中で加熱し、炭素
と水素を含む原料ガスを導き何らかの方法でガスを励起
して加熱した基体の上にダイヤモンド膜を被覆するので
ある。これはかなりの膜厚がなければならず20μm
〜100μm 程度の膜厚が必要である。これがあまり
に薄いと剛性が足らず自らの形状を維持できない。あま
りに厚いと高音特性が却って悪くなるしコスト高になっ
てしまう。所定の厚さに達するとダイヤモンドの成長を
中止する。つまり原料ガスの供給を停止し、基体の加熱
温度を徐々に下げてゆく。室温になってからCVD装置
を開き、基体を取り出す。そして適当な薬品により基体
であるSiまたは金属とSiを溶解除去する。するとド
ーム状のダイヤモンド膜が残る。これがダイヤモンド単
体振動板である。 【0012】基体をSiとする理由は次の通りである。 Si以外の金属を基体とすると、ダイヤモンド膜との熱
膨張率の差が大きいため欠陥密度が極めて多くなるとい
うことである。そして基体を溶解除去した時にダイヤモ
ンド膜がバラバラに分解してしまうこともある。これで
は使いものにならない。ダイヤモンドの成長は850〜
1000℃の高温で行うが、成膜後冷却して常温に下げ
なければいけない。多くの金属は熱膨張率が大きい。冷
却の過程でダイヤモンドに強い圧縮応力が発生する。こ
の応力のため温度を下げるとダイヤモンド膜に多くのク
ラック、割れ目が縦横に生じ甚だしい場合ダイヤモンド
が分解してしまう。 【0013】ダイヤモンドの線膨張率は極めて小さく常
温(20℃)で1×10−6K−1、1380℃で5.
8×10−6K−1であり温度とともに増加している。 Siの線膨張率も十分に小さく常温で2.5×10−6
K−1、530℃で4×10−6K−1程度である。例
えば1000℃から20℃へ冷却したとすると、この過
程でのSiとダイヤモンドの線膨張率の差は、他の組み
合わせに於ける場合よりずっと小さい。従って、基体全
体をSi或は基体表面をSiとすると、徐冷過程でのダ
イヤモンドの表面に生ずる圧縮応力が小さくなり、クラ
ック、割れ、欠陥が生ずる確率も減少するのである。 【0014】化学的気相合成法(CVD)としては、■
フィラメントCVD法 ■マイクロ波プラズマCVD法 ■熱プラズマCVD法 を用いる事ができる。フィラメントCVD法はW、Ta
などのフィラメントに電流を通して熱電子を発生させ、
これによって原料ガスを励起するものである。マイクロ
波プラズマCVD法は2.45GHzのマイクロ波を誘
電体窓を通して真空チャンバ内へ導き、電子をマイクロ
波の周波数で振動させ中性原子、分子を電子によって叩
きこれをプラズマ化するものである。熱プラズマCVD
法は、ノズルを電極にしておき正負の電圧を印加して、
ノズルへ原料ガスを流すことによってア−ク放電を起こ
させてこれをプラズマとするものである。 【0015】 【 実 施 例 】[実施例1]多結晶シリコ
ンを切削によってスピーカー振動板形状に加工した。こ
の表面に公知のマイクロ波プラズマCVD法によって厚
さ25μm のダイヤモンド膜を形成した。その後常温
にしてシリコン基体を弗酸と硝酸の混合液によって溶解
した。こうして25μm 厚さのダイヤモンド振動板を
得た。この振動板の高音共振周波数は65,000Hz
であった。同じ形状のBeの振動板の高音共振周波数は
28,000Hzであり、Al2 O3 の高音共振周
波数は35,000Hzである。本発明のダイヤモンド
振動板の高音特性が極めて優れているということが分か
る。 【0016】[実施例2]Moを切削してスピーカー用
振動板形状に加工した。その表面にSi、Ti、Wをそ
れぞれ1μm の厚さで蒸着し3種類の基体を作った。 Moだけで蒸着層のないサンプルとこれら3種類の基体
を合わせて4種類のサンプルについて、公知のマイクロ
波プラズマCVD法でダイヤモンド膜を10μm の厚
さに被覆した。これを冷却しそのままの状態で欠陥密度
を測定した。この後、塩酸、弗酸、硝酸の混合液によっ
てMo基体を除去した。MoとSi、Ti、Wなどの薄
膜が溶解しダイヤモンドだけが残った。あるものはドー
ム状の形状を維持できたが、あるものはバラバラに分解
してしまった。この結果を表1に示す。 【0017】 【表1】 【0018】この結果から、基体上にSiを蒸着してダ
イヤモンド膜を形成たものは欠陥も少なく、基体を溶解
除去した後の状態も健全であり、スピーカー用振動板と
して優れていることが分かる。 【0019】[実施例3]公知のフィラメントCVD装
置によってダイヤモンドをドーム状基体の上へ成長させ
た。図3にフィラメントCVD装置の概略構成を示す。 真空チャンバ1の中に冷却支持台2が設けられる。これ
には冷却水3が通されている。冷却支持台2の上に基体
4が戴置される。基体4の上にはフィラメント5が水平
に張られていて、両端を電極6、6によって支持されて
いる。外部の電源7から、電極6、6を経てフィラメン
ト5に電流が流される。原料ガスが上方のガス導入口8
から真空チャンバ1の中へ流入する。フィラメント5が
加熱されて、熱電子が発生しこれが原料ガスをプラズマ
化する。基体はフィラメント5の輻射熱によって加熱さ
れ昇温する。排ガスは真空排気口9から排除される。工
程は図3に示す通りである。 【0020】基体としてはドーム状に加工されたSi多
結晶を基体として用いた。図1にこれを示すが、球をひ
とつの小円(中心を通らない円)で切り取ったような半
球に近い形である。直径が25.5mmφで、底面から
上頂点までの高さは7mmである。このドーム状Si基
体の表面には#600のダイヤモンドパウダーにより傷
つけ処理した。 【0021】このドーム状Si基体4を十分に冷却され
た支持台2の上に設置した。真空チャンバ1の内部を十
分な高真空に排気する。この後、真空チャンバ1の中へ
原料ガス導入口8から、水素ガス100sccm 、
メタンガス20sccmを送り込み、圧力が50Tor
rになるように保持した。フィラメント5はタングステ
ンWであり、これが2,100℃になるよう通電した。 フィラメントの輻射熱によってSi基体が加熱され気相
成長に適した温度になる。フィラメントから熱電子が放
出されるのでこれによりメタンガスが励起されて、正イ
オン、中性のラジカル(活性種)と電子とよりなるプラ
ズマとなる。これがSi基体上で気相反応しダイヤモン
ド多結晶が成長してゆく。 【0022】所定の厚みのダイヤモンド膜ができると原
料ガスの供給を停止し、基体の温度を徐々に下げる。常
温になってから、Si基体を取り出し、弗酸と硝酸とを
1:1で混合した溶液に漬けてSi基体のみを溶解除去
した。ダイヤモンドは溶けないからドーム状のダイヤモ
ンドが残った。このドーム状のダイヤモンドは60mg
の重さがあった。 【0023】これをスピーカー用の振動板として音響特
性を測定した。図4に周波数音圧特性を示す。比較のた
め同じ形状厚みのTiスピーカー用振動板の音響特性を
同じ条件で測定し図5にその結果を示している。いずれ
も横軸は周波数(Hz)で、縦軸は音圧レベル(dB)
である。 本発明になるダイヤモンド振動板は20,
000Hz以上でも十分な音圧レベルがあり、高音共振
周波数が70,000Hzである事が分かる。70,0
00Hz(70kHz )の高音まで再生する事ができ
る。 ところがTiの振動板では共振周波数が17,000H
zであり、25,000Hz以上の高音は十分な強度で
再生できないという事が分かる。 【0024】[実施例4]基体をSiコーティングした
Moとして、実施例3と同じ条件でダイヤモンド膜を作
った。フィラメントCVD装置を用いた。基体は外径3
0.5mm、高さ7.5mmの半球状に加工されたMo
の上に、スパッタリングによってSiを5,000Å(
0.5μm )被覆したものである。図6に断面図を示
す。そして#600のダイヤモンドパウダーによってド
ーム状基体の表面に傷つけ処理を行った。これを図3の
装置に設置し実施例3と同じ条件でダイヤモンド膜を成
長させた。冷却後外部に取り出し基体を溶解した。王水
(塩酸:硝酸=3:1)によってまずMoを溶解する。 この後、1:1弗硝酸によってSiを溶解除去する。こ
うして重さ60mgのダイヤモンド単体振動板を得た。 この振動板の音響特性を測定した。実施例3と同じく高
音域での再生能力が大幅に改善されていることが分かっ
た。 【0025】[実施例5]合成条件や基体の材質を変え
てダイヤモンド膜の成長を行った。これは基体の材質が
どのようにダイヤモンド膜に影響するかということを主
に調べるものである。ここではフィラメントCVD法と
、マイクロ波プラズマCVD法とを用いた。図7にマイ
クロ波プラズマCVD装置の概略図を示す。非金属の(
例えば石英)真空チャンバ11の中に支持台12によっ
て基体13が戴置されている。ガス導入口14から原料
ガスが導入され、真空排気口15から排気される。支持
台12の中にはヒータ(図示せず)があり基体13を適
当な温度に加熱する。真空チャンバ11の側方にはマグ
ネトロン16がある。ここから2.45GHzのマイク
ロ波が発生し、導波管17の中を伝搬する。反対側には
導体の板を進退自在に保持するプランジャ−18がある
。導波管17の実効長がプランジャ−18によって決ま
り、この中に最低次モード(或はそれに近いモード)の
定在波を立てるようにしている。原料ガス中の電子がマ
イクロ波によって振動するのでこれがガスを励起してプ
ラズマ19とする。 【0026】試料はNO.1からNO.7まである。基
体はNO.1がSiのみ、NO.2はSi/Mo(Mo
の上にSiをコート)、NO.3はSi/W、NO.4
はSiのみ、NO.5はMoのみ、NO.6はMoのみ
、NO.7はWのみである。原料ガスは水素とメタンで
ある。圧力を40〜80Torrの間に維持する。そし
て基体を溶解除去する時の割れの発生の有無を調べた。 さらにNO.3の試料についてはラマン分光スペクトル
を調べ第8図に分光スペクトルを示す。NO.2、NO
.3のSiコーティング層の厚みは5000Å(0.5
μm )である。表2にこの実験の結果を示す。 【0027】 【表2】 【0028】本発明の方法による試料NO.1〜NO.
4ではドーム状の良好なダイヤモンド振動板が作製でき
ている。これらはいずれも基体がSiであるか、基体表
面がSiであるものである。これに対して比較例とした
NO.5〜NO.7はいずれもSiでない基体を用いて
いる。これらはダイヤモンドコーティング中にクラック
が発生していたり、コーティング終了時ダイヤモンド膜
にクラックが発生するものがあった。そして基体を溶解
した時NO.5〜NO.7の全てのサンプルが割れてし
まい、振動板とすることができなかった。このようなこ
とから、基体は全体がSiであるか、または表面がSi
によって覆われているものでなければならないという事
が分かる。 【0029】図8は試料NO.3のラマン分光スペクト
ルである。横軸が波数(cm−1) 、縦軸が強度であ
る。 1333cm−1に鋭いピークがあるが、これは結晶質
ダイヤモンドから出る信号であり、結晶質ダイヤモンド
が多く存在することが分かる。非晶質炭素からの信号は
この波数範囲に広く分布しているのでもしも非晶質炭素
が多いと1333cm−1のピークが低く、その他の部
分が広く盛り上がったスペクトルとなる。これが殆どな
いことから、非晶質炭素が殆どない結晶質ダイヤモンド
で構成された試料であることが明らかになる。 【0030】 【発明の効果】本発明によれば高品質のダイヤモンド単
体のみからなるスピーカー用振動板を提供する事ができ
る。ダイヤモンドはE/ρが、Be、Ti、Al2 O
3 などよりも格段に大きく高音特性に優れた振動板と
することができ、80kHz(80,000Hz)の高
音も歪みなく再生できる。優れた発明である。
【図1】本発明のダイヤモンド振動板を製造するのに用
いるSi基体の正面図。
いるSi基体の正面図。
【図2】本発明のダイヤモンド振動板を製造する際の工
程図。
程図。
【図3】本発明のダイヤモンド振動板を製造するために
用いるフィラメントCVD装置の概略構成図。
用いるフィラメントCVD装置の概略構成図。
【図4】本発明の方法によって製作したダイヤモンド振
動板の周波数音圧特性図。
動板の周波数音圧特性図。
【図5】公知のチタン振動板の周波数音圧特性図。
【図6】金属の基材にSiを被覆してなる基体の断面図
。
。
【図7】本発明で用いるマイクロ波プラズマCVD装置
の概略構成図。
の概略構成図。
【図8】本発明の方法で製作したダイヤモンド振動板の
ラマン分光スペクトル図。
ラマン分光スペクトル図。
1 真空チャンバ
2 冷却支持台
3 冷却水
4 基体
5 フィラメント
6 電極
7 電源
8 ガス導入口
9 真空排気口
10 圧力計
11 真空チャンバ
12 支持台
13 基体
14 ガス導入口
15 真空排気口
16 マグネトロン
17 導波管
18 プランジャー
19 プラズマ
Claims (1)
- 【請求項1】 化学的気相合成法によって作られダイ
ヤモンドのみよりなりスピーカー用振動板の形状を備え
たことを特徴とするスピ−カ−用振動板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4130991A JPH04211598A (ja) | 1991-02-12 | 1991-02-12 | スピーカー用振動板とその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4130991A JPH04211598A (ja) | 1991-02-12 | 1991-02-12 | スピーカー用振動板とその製造方法 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1713983A Division JPS59143498A (ja) | 1983-02-03 | 1983-02-03 | スピ−カ−用振動板およびその製造法 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7435894A Division JPH06327091A (ja) | 1994-03-18 | 1994-03-18 | スピーカー用振動板の製造法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04211598A true JPH04211598A (ja) | 1992-08-03 |
Family
ID=12604898
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4130991A Pending JPH04211598A (ja) | 1991-02-12 | 1991-02-12 | スピーカー用振動板とその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04211598A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016506450A (ja) * | 2012-12-12 | 2016-03-03 | エレメント シックス テクノロジーズ リミテッド | Cvdによりダイヤモンド層を作製する方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5533237A (en) * | 1978-08-30 | 1980-03-08 | Toshiba Corp | Microprogram controller |
-
1991
- 1991-02-12 JP JP4130991A patent/JPH04211598A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5533237A (en) * | 1978-08-30 | 1980-03-08 | Toshiba Corp | Microprogram controller |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016506450A (ja) * | 2012-12-12 | 2016-03-03 | エレメント シックス テクノロジーズ リミテッド | Cvdによりダイヤモンド層を作製する方法 |
| US11384426B2 (en) | 2012-12-12 | 2022-07-12 | Element Six Technologies Limited | Method for making diamond layers by CVD |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4987002A (en) | Process for forming a crystalline diamond film | |
| US4725345A (en) | Method for forming a hard carbon thin film on article and applications thereof | |
| US5432004A (en) | Vibration plate of a speaker and method for producing same | |
| JPH1067596A (ja) | 透明なダイヤモンド薄膜とその製法 | |
| JP3107683B2 (ja) | ダイヤモンドの気相合成方法 | |
| JP5066651B2 (ja) | エピタキシャルダイヤモンド膜下地基板の製造方法およびこの下地基板を使用するエピタキシャルダイヤモンド膜の製造方法 | |
| CN107164740A (zh) | 一种采用微波等离子体化学气相沉积法制备金刚石膜的方法 | |
| JPH0423480B2 (ja) | ||
| JPH04958B2 (ja) | ||
| CN1402589A (zh) | 一种类金刚石复合扬声器振膜的制备方法 | |
| JPH10219430A (ja) | マグネトロンスパッタ法により得られる化合物薄膜ならびにそれを製造するための方法および装置 | |
| CN211047202U (zh) | 一种振膜 | |
| JPH06327091A (ja) | スピーカー用振動板の製造法 | |
| JP2978023B2 (ja) | 合成ダイヤモンドフィルムの製造方法 | |
| US4395814A (en) | Acoustic vibrating element of graphite and method of manufacturing same | |
| JPH07118860A (ja) | 対向電極型マイクロ波プラズマ処理装置および処理方法 | |
| JPS5915983B2 (ja) | ホウ素被膜の形成方法 | |
| JPS62210623A (ja) | 気相反応装置用電極 | |
| JP3760175B2 (ja) | ダイヤモンド膜の形成方法 | |
| JPH07189040A (ja) | 円筒状黒鉛繊維の製造方法 | |
| JPH0445580B2 (ja) | ||
| JP3189833B2 (ja) | 硬質炭素膜および表面弾性波素子用基板 | |
| US4433408A (en) | Cantilever for pickup cartridge | |
| JPH0237758B2 (ja) | ||
| JPS60186195A (ja) | 電気音響変換器用振動板の製造方法 |