JPH0421991A - Storage device - Google Patents
Storage deviceInfo
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- JPH0421991A JPH0421991A JP2126015A JP12601590A JPH0421991A JP H0421991 A JPH0421991 A JP H0421991A JP 2126015 A JP2126015 A JP 2126015A JP 12601590 A JP12601590 A JP 12601590A JP H0421991 A JPH0421991 A JP H0421991A
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- refresh
- logic
- normal operation
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Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 5
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims description 3
- 238000003708 edge detection Methods 0.000 abstract description 11
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 abstract description 3
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は記憶装置に関し、特にCA S (Coluo
+nAddress 5trobe )ビフォアRA
S (Row Addrcss 5trobe)リフレ
ッシュ方式によりリフレッシュを行う記憶装置における
リフレッシュ回路の異常終了検出方式に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Technical Field The present invention relates to a storage device, and in particular to a storage device such as a CA S (Coluo
+nAddress 5trobe) Before RA
The present invention relates to a method for detecting abnormal termination of a refresh circuit in a storage device that performs refresh using the S (Row Addrcss 5 trobe) refresh method.
従来技術
従来、この種の記憶装置においては、データ読出し動作
時にデータのエラーを検出しており、リフレッシュ動作
が正常に終了したかあるいは異常に終了したかの検出を
行っていなかった。BACKGROUND ART Conventionally, in this type of storage device, data errors have been detected during a data read operation, but whether a refresh operation has ended normally or abnormally has not been detected.
このような従来の記憶装置では、データ読出し動作時の
データエラーの検出でのみエラー発生を検出しているの
で、そのデータエラーがリフレッシュ制御系の故障によ
るものか、あるいは記憶部制御系および記憶部系の故障
によるものかを判別するのが難しいという欠点がある。In such conventional storage devices, the occurrence of an error is detected only by detecting a data error during a data read operation, so it is difficult to determine whether the data error is due to a failure in the refresh control system or whether the storage control system and storage The drawback is that it is difficult to determine whether the problem is due to a system failure.
発明の目的
本発明は上記のような従来のものの欠点を除去すべくな
されたもので、リフレッシュ制御系の故陣を検出するこ
とができ、データエラーがリフレッシュ制御系の故障に
よるものかあるいは記憶部制御系および記憶部系の故障
によるものかの判別を可能とする記憶装置の提供を目的
とする。OBJECTS OF THE INVENTION The present invention has been made to eliminate the above-mentioned drawbacks of the conventional system.It is possible to detect a faulty part of the refresh control system, and to determine whether a data error is due to a failure in the refresh control system or whether the data error is due to a failure in the refresh control system or whether the data error is due to a failure in the refresh control system or whether the data error is due to a failure in the refresh control system or whether the data error is due to a The object of the present invention is to provide a storage device that makes it possible to determine whether a failure is due to a failure in a control system or a storage system.
発明の構成
本発明による記憶装置は、予め設定されたタイミングで
有効および無効となるカラムアドレスストローブ信号お
よびローアドレスストローブ信号によりリフレッシュ動
作を行う記憶装置であって、前記ローアドレスストロー
ブ信号の有効および無効のタイミングと、前記リフレッ
シュ動作が行われていることを示すリフレッシュ中信号
の有効および無効のタイミングとにより前記リフレッシ
ュ動作が終了してから予め設定された所定時間経過後に
通常動作が開始されたか否かを検出する検出手段と、前
記検出手段により前記所定時間経過前に前記通常動作が
開始されたことが検出されたときに前記リフレッシュ動
作の異常を通知する手段とを設けたことを特徴とする。Composition of the Invention A storage device according to the present invention performs a refresh operation using a column address strobe signal and a row address strobe signal that are enabled and disabled at preset timing, and the memory device performs a refresh operation using a column address strobe signal and a row address strobe signal that are enabled and disabled at preset timings, and whether the normal operation is started after a predetermined period of time has elapsed from the end of the refresh operation based on the timing of the refresh operation and the validity/invalid timing of the refresh signal indicating that the refresh operation is being performed. and means for notifying an abnormality in the refresh operation when the detection means detects that the normal operation has started before the predetermined time elapses.
実施例
次に、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。Embodiment Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。図において、エツジ検出回路1はRA S (Ro
w Address 5trobe)信号iooと、C
AS(Column Address 5trobe
)信号101 と、リフレッシュ動作が行われているこ
とを示すリフレッシュ中信号102とを入力し、リフレ
ッシュ動作の終了を示すリフレッシュ終了信号103と
、通常動作の起動を示す通常動作起動信号104とを出
力する。FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention. In the figure, the edge detection circuit 1 is RA S (Ro
w Address 5trobe) signal ioo and C
AS(Column Address 5trobe)
) signal 101 and a refresh in progress signal 102 indicating that a refresh operation is being performed, and outputs a refresh end signal 103 indicating the end of the refresh operation and a normal operation start signal 104 indicating the start of the normal operation. do.
フリップフロップ(以下F/Fとする)2はエツジ検出
回路1からのリフレッシュ終了信号103によりセット
され、通常動作起動信号104によりリセットされる。A flip-flop (hereinafter referred to as F/F) 2 is set by a refresh end signal 103 from the edge detection circuit 1 and reset by a normal operation start signal 104.
また、F/F2はその内容の反転値をコンブリメント出
力信号105としてアンドゲート4に出力する。Further, the F/F 2 outputs the inverted value of its contents to the AND gate 4 as a concomitant output signal 105.
カウンタ3はエツジ検出回路1からのリフレッシュ終了
信号103によりカウントを開始し、カウント値が所定
値となったときにRAS間隔チエツク信号10Bをアン
ドゲート4に出力するとともに、該RAS間隔チエツク
信号10Bによりカウントを停止してそのカウント値を
リセットする。The counter 3 starts counting in response to the refresh end signal 103 from the edge detection circuit 1, and when the count value reaches a predetermined value, outputs the RAS interval check signal 10B to the AND gate 4, and also outputs the RAS interval check signal 10B to the AND gate 4. Stops counting and resets the count value.
尚、カウンタ3からのRAS間隔チエツク信号108は
該記憶装置に使用されるDRAM (図示せず)の特性
により出力タイミング、すなわちカウンタ3における所
定値は任意に設定することかできる。Note that the output timing of the RAS interval check signal 108 from the counter 3, that is, the predetermined value in the counter 3, can be arbitrarily set depending on the characteristics of a DRAM (not shown) used in the storage device.
アンドゲート4はF/F2からのコンブリメント出力信
号1’05とカウンタ3からのRAS間隔チエツク信号
108とのアンドをとり、その結果をエラー検出信号1
07として出力する。The AND gate 4 performs an AND operation between the concomitant output signal 1'05 from the F/F 2 and the RAS interval check signal 108 from the counter 3, and sends the result to the error detection signal 1'05.
Output as 07.
エツジ検出回路1はリフレッシュ終了信号103として
通常論理“0“を出力しており、RAS信号+00が論
理“1”から論理“0”に変化し、かつりフレッシュ中
信号102がリフレッシュ動作中を示す論理“1”をと
ったときに論理“1”を出力する。The edge detection circuit 1 normally outputs logic "0" as the refresh end signal 103, the RAS signal +00 changes from logic "1" to logic "0", and the refreshing signal 102 indicates that the refresh operation is in progress. It outputs logic "1" when it takes logic "1".
また、エツジ検出回路1は通常動作起動信号IO4とし
て通常論理“O”を出力しており、RAS信号101が
論理“0”から論理“1”に変化し、かつリフレッシュ
中信号102がリフレッシュ動作中でないことを示す論
理“0″をとったときに論理“1”を出力する。Further, the edge detection circuit 1 outputs the normal logic "O" as the normal operation start signal IO4, the RAS signal 101 changes from logic "0" to logic "1", and the refresh in progress signal 102 indicates that the refresh operation is in progress. When the logic value is "0" indicating that the signal is not present, a logic "1" is output.
第2図および第3図は本発明の一実施例の動作を示すタ
イミングチャートである。第2図はリフレッシュ動作か
ら通常動作への移行が正常に行われた場合のタイミング
チャートを示し、第3図はリフレッシュ動作終了後の通
常動作が規定時間より早く始まった場合のタイミングチ
ャートを示している。FIGS. 2 and 3 are timing charts showing the operation of one embodiment of the present invention. Figure 2 shows a timing chart when the transition from refresh operation to normal operation is performed normally, and Figure 3 shows a timing chart when normal operation starts earlier than the specified time after the refresh operation ends. There is.
これら第1図〜第3図を用いて本発明の一実施例の動作
について説明する。The operation of one embodiment of the present invention will be explained using these FIGS. 1 to 3.
まず、リフレッシュ中信号102が論理“1゜”で、R
AS信号JOOが論理″1″から論理“0”に変化する
と、エツジ検出回路1はリフレッシュ終了信号I03を
論理“1”とするので、F/F2に論理“1″がセット
されるとともに、カウンタ3がカウントアツプを開始す
る。First, the refresh signal 102 is logic “1°” and R
When the AS signal JOO changes from logic "1" to logic "0", the edge detection circuit 1 sets the refresh end signal I03 to logic "1", so logic "1" is set in F/F2 and the counter 3 starts counting up.
RAS信号100が論理“0”に変化してから、次に論
理“O“から論理″1#に変化するまで、つまりリフレ
ッシュ動作が終了してから通常動作が開始されるまでの
間隔が十分に広い場合、すなわちリフレッシュ動作から
通常動作への移行が正常に行われた場合には、エツジ検
出回路1からの通常動作起動信号104が論理“1”と
なってF/F2がリセットされる前に、カウンタ3のカ
ウント値が所定値となってRAS間隔チエツク信号10
Bが論理“1”となるので、カウンタ3のカウント値が
リセットされる。There is a sufficient interval from when the RAS signal 100 changes to logic "0" until it changes from logic "O" to logic "1#", that is, from the end of the refresh operation to the start of normal operation. In the wide case, that is, when the transition from the refresh operation to the normal operation is performed normally, the normal operation start signal 104 from the edge detection circuit 1 becomes logic "1" and before the F/F 2 is reset. , when the count value of the counter 3 reaches a predetermined value, the RAS interval check signal 10 is output.
Since B becomes logic "1", the count value of the counter 3 is reset.
よって、F/F 2がリセットされてコンブリメント出
力信号105が論理“1”になっても、カウンタ3での
カウントが停止されているのでRAS間隔チエツク信号
10Bが論理“1″となることはなく、アンドゲート4
からはアントゲ−1・出力信号107として論理“O”
が出力され、エラーの発生は検出されない(第2図参照
)。Therefore, even if the F/F 2 is reset and the concomitant output signal 105 becomes logic "1", the RAS interval check signal 10B will not become logic "1" because the counter 3 has stopped counting. Naku, And Gate 4
Logic “O” is output as the output signal 107 from Antogame 1.
is output, and no error is detected (see Figure 2).
尚、カウンタ3からのRAS間隔チエツク信号106が
論理“1”となったときには、F/F2からのコンブリ
メント出力信号105が論理“0”なので、アンドゲー
ト4からアンドゲート出力信号107として論理“O”
が出力される。Note that when the RAS interval check signal 106 from the counter 3 becomes logic "1", the concomitant output signal 105 from the F/F 2 is logic "0", so the AND gate output signal 107 from the AND gate 4 becomes logic "1". O"
is output.
ここで、リフレッシュ動作終了後の通常動作が規定時間
より早く始まった場合、カウンタ3のカウント値が所定
値となってRAS間隔チエツク信号106が論理“1”
となる前に、エツジ検出回路1からの通常動作起動信号
104が論理“1”となってF/F2がリセットされ、
アンドゲート4へのコンブリメント出力信号105が論
理“1“となる。Here, if the normal operation after the end of the refresh operation starts earlier than the specified time, the count value of the counter 3 becomes the specified value and the RAS interval check signal 106 becomes logic "1".
Before this occurs, the normal operation start signal 104 from the edge detection circuit 1 becomes logic "1" and the F/F 2 is reset.
Combiment output signal 105 to AND gate 4 becomes logic "1".
この状態で、カウンタ3のカウント値が所定値となって
RAS間隔チエツク信号1011が論理“1”となると
、アンドゲート4からエラー検出信号107として論理
“1”が出力され、リフレッシュ動作異常終了のエラー
が通知される(第3図参照)。In this state, when the count value of the counter 3 reaches a predetermined value and the RAS interval check signal 1011 becomes logic "1", the AND gate 4 outputs logic "1" as the error detection signal 107, indicating that the refresh operation has ended abnormally. An error is notified (see Figure 3).
このときのリフレッシュ動作はDRAMのプリチャージ
時間、つまりDRAMのコンデンサがチャージされなお
されるのに必要な時間が不足となり、DRAMに記憶さ
れたデータが破壊される可能性がある。The refresh operation at this time may result in a shortage of DRAM precharge time, that is, the time required for recharging the DRAM capacitor, and the data stored in the DRAM may be destroyed.
このように、エツジ検出回路1とF/F 2とカウンタ
3とアンドゲート4とによりリフレッシュ動作から通常
動作に移行するときの時間間隔を監視するようにするこ
とによって、リフレッシュ動作の終了状態の異常を検出
することができる。In this way, by monitoring the time interval when transitioning from refresh operation to normal operation using edge detection circuit 1, F/F 2, counter 3, and AND gate 4, abnormalities in the end state of refresh operation can be detected. can be detected.
よって、記憶部(図示せず)からデータを続出すときの
データエラーの原因が、リフレッシュ制御系の故障によ
るものかあるいは記憶部制御系および記憶部系の故障に
よるものかを判別することができる。Therefore, it is possible to determine whether the cause of a data error when continuously outputting data from the storage unit (not shown) is due to a failure in the refresh control system or a failure in the storage unit control system and the storage unit. .
また、カウンタ3における所定値、つまりRAS間隔チ
エツク信号106の出力タイミングはDRAMの特性に
応じて設定することができるので、どのようなりRAM
においても本発明を対応させることかできる。Furthermore, since the predetermined value in the counter 3, that is, the output timing of the RAS interval check signal 106, can be set according to the characteristics of the DRAM,
The present invention can also be applied to
発明の効果
以」−説明したように本発明によれば、リフレッシュ制
御系のRAS信号およびリフレッシコ中信号によりリフ
レッシュ動作から通常動作に移行するときの時間間隔を
監視するようにすることにより
って、リフレッシュ制御系の故障を検出することができ
、データエラーがリフレッシュ制御系の故障によるもの
かあるいは記憶部制御系および記憶部系の故障によるも
のかの判別を可能とすることができるという効果がある
。Effects of the Invention - As described, according to the present invention, by monitoring the time interval when transitioning from refresh operation to normal operation using the RAS signal and the refresh control signal of the refresh control system, This has the effect of being able to detect a failure in the refresh control system and making it possible to determine whether a data error is due to a failure in the refresh control system or a failure in the storage control system and storage system. .
第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図、第
2図および第3図は本発明の一実施例の動作を示すタイ
ミングチャートである。
主要部分の符号の説明
1・・・・・・エツジ検出回路
2・・・・・・フリップフロップ
3・・・・・・カウンタ
4・・・・・・アンドゲートFIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention, and FIGS. 2 and 3 are timing charts showing the operation of the embodiment of the invention. Explanation of symbols of main parts 1... Edge detection circuit 2... Flip-flop 3... Counter 4... AND gate
Claims (1)
るカラムアドレスストローブ信号およびローアドレスス
トローブ信号によりリフレッシュ動作を行う記憶装置で
あって、前記ローアドレスストローブ信号の有効および
無効のタイミングと、前記リフレッシュ動作が行われて
いることを示すリフレッシュ中信号の有効および無効の
タイミングとにより前記リフレッシュ動作が終了してか
ら予め設定された所定時間経過後に通常動作が開始され
たか否かを検出する検出手段と、前記検出手段により前
記所定時間経過前に前記通常動作が開始されたことが検
出されたときに前記リフレッシュ動作の異常を通知する
手段とを設けたことを特徴とする記憶装置。(1) A memory device that performs a refresh operation using a column address strobe signal and a row address strobe signal that are enabled and disabled at preset timings, the timing of enabling and disabling the row address strobe signal and the refresh operation a detection means for detecting whether or not normal operation is started after a predetermined period of time has elapsed from the end of the refresh operation based on the validity and invalidity timings of a refresh in progress signal indicating that the refresh operation is being performed; A storage device comprising: means for notifying an abnormality in the refresh operation when the detection means detects that the normal operation has started before the predetermined time elapses.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2126015A JPH0421991A (en) | 1990-05-16 | 1990-05-16 | Storage device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2126015A JPH0421991A (en) | 1990-05-16 | 1990-05-16 | Storage device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0421991A true JPH0421991A (en) | 1992-01-24 |
Family
ID=14924616
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2126015A Pending JPH0421991A (en) | 1990-05-16 | 1990-05-16 | Storage device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0421991A (en) |
-
1990
- 1990-05-16 JP JP2126015A patent/JPH0421991A/en active Pending
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