JPH0422307Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 ［技術分野］ この考案は、電力線など主として電源回路の電
流や電圧等を測定するクランプテスタに組み込ま
れ、設備、装置類の電気回路に対して導通状態の
良否を調べるのに利用される導通チエツク回路に
関するものである。

［技術的背景］ 電源回路に接続された装置類が異状動作を起こ
したりあるいは動作しなくなつたような場合に
は、例えばクランプテスタなどを用いて電源回路
の電流や電圧等を測定し、その結果電源回路が正
常であると判断されれば故障した装置に対してそ
の原因調査が行われることになる。しかしなが
ら、装置の種類や現場の設置状態によつては簡単
に調査ができないこともままあり、また、ユーザ
側に各種の測定器類が備えられているとは限らな
い。このような場合に、例えば設置の電源入力部
や外側から触れることができる箇所にある電気回
路に対して断線や接触不良等の有無を調べるいわ
ゆる導通チエツクという調査がある。この調査は
比較的簡単で、かつ、故障原因を発見する有力な
手段の一つにされている。そのため、一般ユーザ
からは取扱いの簡便な導通チエツク用のテスタが
望まれていた。

［考案の目的］ この考案は上記のようなユーザの要望にこたえ
るためになされたもので、その目的は、クランプ
テスタ本体内にマイクロコンピユータで制御され
る導通チエツク用の回路を組み込み、この回路を
例えば電流や電圧等他の電気量の測定と共用でき
るようにしたクランプテスタの導通チエツク回路
を実現することにある。

［実施例］ 以下、この考案を添付図面に示された実施例に
より詳細に説明する。

第１図にはこの考案が適用されたクランプテス
タが示されている。同図を参照すると、このクラ
ンプテスタの本体１には、２本のテストリード
２，３が図示しないバナナプラグ等により抜き差
しできるように装着されている。

フアンクシヨン切換器４を例えば「導通チエツ
ク」の位置にセツトし、上記テストリード２，３
の先端部にある導体５，６を図示しない被チエツ
ク回路にて当てると、このテストリード２，３を
介して上記本体１から被チエツク回路に電圧が加
えられるようになつている。被チエツク回路が導
通状態であれば一定の電流が流され、被チエツク
回路の抵抗分とこの一定電流により、上記テスト
リード２，３の導体部５，６間には比較的低レベ
ルの電圧が発生する。被チエツク回路が断線状態
であれば、導体部５，６間には本体１から加えら
れる比較的高いレベルの電圧が現われる。これら
の電圧は本体１内で検出され、高レベルの電圧に
対しては表示器７に例えば回路の断線を意味する
ものと約束した「１」が表示され、低レベルの電
圧に対しては導体状態を意味するものと約束した
「０」が表示されるようになつている。また、小
形ブザーなどを組み込んで導体状態のときは鳴音
を発するようにしてもよい。

なお、電源回路の電流などを測定する場合に
は、上記フアンクシヨン切換器４を所定の位置に
セツトした後ノブ８を押してクランプコア９，１
０を開き、通常のクランプテスタと同様に被測定
電線に外包させて表示器７の値を読み取るように
する。

第２図にはこの導通チエツク回路の一実施例が
示されている。信号源１５からは例えば抵抗／電
圧変換信号が発せられ、フアンクシヨン切換器４
を介してコンパレータ１６に入力されるようにな
つているが、この抵抗／電圧変換信号は、上記第
１図におけるテストリード２，３の導体部５，６
間に現われる電圧を指したものである。

上記フアンクシヨン切換器４が例えば導通チエ
ツクの位置にセツトされると、このフアンクシヨ
ン切換器４からマイクロコンピユータ１７へ基準
電圧を形成するための制御信号が送出される。マ
イクロコンピユータ１７においてはこの制御信号
により導通チエツクのプログラムがスタートし、
あらかじめ設定されたデイジタル値の基準電圧信
号がＤ／Ａ変換器１８へ送出されるようになつて
いる。上記Ｄ／Ａ変換器１８においては、このデ
イジタル値の基準電圧信号がアナログ電圧信号に
変換され、このＤ／Ａ変換器１８から上記コンパ
レータ１６へ送られる。上記コンパレータ１６に
おいては、この基準電圧信号と上記抵抗／電圧変
換信号とのレベル比較がなされ、抵抗／電圧変換
信号のレベルが基準電圧信号のレベルより大きけ
れば、上記マイクロコンパレータ１７からはレベ
ル「１」の電圧信号が表示器７へ送出される。こ
れにより、表示器７には上記したように例えば被
測定回路の断線を意味する「１」が各桁に表示さ
れる。また、抵抗／電圧変換信号のレベルが基準
電圧信号のレベルより小さければ、マイクロコン
ピユータ１７からはレベル「０」の電圧信号が出
力され、表示器７の各桁には被測定回路が導通状
態にあることを意味する例えば「０」が表示され
る。

この場合、従来においては導通状態の抵抗値が
比較的小さい回路に適用される低抵抗導通テスト
と、その抵抗値が比較的大きい回路に適用される
高抵抗導通テストがあるが、低抵抗導通テストに
おいては、例えば多少抵抗分を含む回路素子が被
測定回路中に介在していると往々にして導通不良
の判定が出やすい。また、高抵抗導通テストにお
いては上記のような誤判定はないが、例えば回路
の一部が断線しかかつていたり接触不良等がある
ような場合でも良の判定になることがある。この
導通チエツク回路においては、上記マイクロコン
ピユータ１７からＤ／Ａ変換器１８に加えられる
デイジタル信号は、必要によりその値が多段階に
設定できるようにされている。そのためＤ／Ａ変
換器１８から出力される基準電圧のレベルも可変
となり、上記コンパレータ１６においては被測定
回路の導通状態の良否を細かくチエツクすること
ができる。この場合、マイクロコンピユータ１７
は、抵抗測定に使用されるオームレンジのフルス
ケール値、例えば１オームとか10オームなどやそ
れらの半値等を読み込んで上記Ｄ／Ａ変換器１８
に出力しコンパレータ１６のしきい値とすること
もできる。第３図には、この導通チエツク回路の
動作が上記のようにマイクロコンピユータ１７に
よつて制御される場合のフローチヤートの一例が
示されている。

なお、例えば電流測定などのように測定対象と
する電気量が導通チエツクと異なる場合には、そ
の被測定信号は信号源２０から入力される。この
信号源２０は、上記第１図から見るとクランプコ
ア９，１０に誘起される電流又は電圧などに相当
する。上記フアンクシヨン切換器４は、導通チエ
ツクの場合とは異なる所定の位置、例えば「電
流」などと標記された位置にセツトされる。これ
により、上記マイクロコンピユータ１７は電流測
定のプログラムに従つて動作を開始する。この場
合、マイクロコンピユータ１７からは、例えは
MSBに相当するレベルのデイジタル信号がＤ／
Ａ変換器１８に送出される。このデイジタル信号
はＤ／Ａ変換器１８においてアナログ値に変換さ
れ、基準電圧としてコンパレータ１６に加えられ
る。被測定電流信号は、例えばフアンクシヨン切
換器４に内蔵された図示しない入力回路を介して
電圧信号に変換されてからコンパレータ１６に送
られるようになつている。この信号電圧と上記基
準電圧とが比較され、コンパレータ１６の出力の
１又は０に応じてマイクロコンピユータ１７から
はLSB方向へ減少するデイジタル信号が発せら
れる。この信号はＤ／Ａ変換器において上記同様
基準電圧に変換され、コンパレータ１６により被
測定信号と比較される。このようにしてLSBま
で順次比較され、その結果被測定信号はデイジタ
ル値に変換されて表示器７に表示される。上記の
ように、この導通チエツク回路は例えば電流測定
など他の電気良の測定にも共用できるようになつ
ている。

［効果］ 以上、説明したように、クランプテスタ内にお
いて、この導通チエツク回路はコンパレータ１６
とマイクロコンピユータ１７、およびＤ／Ａ変換
器１８等を備えており、電源回路など被チエツク
回路の有する抵抗成分の大きさに比例した電圧信
号を受け、この電圧信号がコンパレータ１６にお
いてあらかじめ設定された基準電圧と比較された
後、その比較出力のレベル差によつて被チエツク
回路の導通、非導通がわかるようにされている。
すなわち、コンパレータ１６の出力がもし「０」
レベルであれば入力信号電圧は基準電圧より低い
レベルであるから被チエツク回路は導通状態にあ
り、コンパレータ１６の出力が例えば「１」レベ
ルなら入力信号電圧が基準電圧より高レベルなの
で断線状態にある。このコンパレータ１６の出力
レベル「０」又は「１」を表示器７に表示すれ
ば、被チエツク回路の導通、非導通の状態が容易
に判別できる。

また、コンパレータ１６の基準電圧は、マイク
ロコンピユータ１７から発せられるデイジタル値
の信号電圧をＤ／Ａ変換器１８によりアナログ値
に変換して形成するようになつているが、この基
準電圧のレベルは必要により切換器４の切換操作
に関連して多段階に変えられるので、導通状態の
良否に対する誤判定をほとんど防止することがで
きる。なお、この導通チエツク回路は、測定対象
に応じて適宜プログラムを選択することにより多
種類の電気良の測定に共用可能であり、クランプ
テスタの小形化や多機能化にも大きく貢献するこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

添付図面はいずれもこの考案の実施例に係り、
第１図はこの考案を適用したクランプテスタの概
略平面図、第２図はその導通チエツク回路のブロ
ツク線図、第３図は上記導通チエツク回路の動作
をマイクロコンピユータで制御した場合のフロー
チヤートである。 図中、１はクランプテスタ本体、４はフアンク
シヨン切換器、７は表示器、１５は信号源、１６
はコンパレータ、１７はマイクロコンピユータ、
１８はＤ／Ａ変換器である。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 クランプテスタ本体内に、電流や電圧などの他
   の電気量の測定と共用できるように組み込まれる
   クランプテスタの導通チエツク回路において、 測定対象とする電気量を選択する切換器を介し
   て被測定回路の有する抵抗の大きさにほぼ比例し
   た電圧信号を受け、該電圧信号と所定レベルの基
   準電圧とを比較してＬレベルまたはＨレベルの信
   号を出力するコンパレータと、 上記所定レベルの基準電圧を形成して上記コン
   パレータに出力するＤ／Ａ変換器と、 上記切換器の選択動作に関連して上記所定レベ
   ルの基準電圧に対応するデイジタル信号を上記
   Ｄ／Ａ変換器に加えるとともに、上記コンパレー
   タから出力されるレベルまたはＨレベルの信号に
   応じて被測定回路の導通または非導通の識別信号
   を表示気に送出するマイクロコンピユータとを備
   えていることを特徴とするクランプテスタの導通
   チエツク回路。