JPH04229802A - 固体撮像装置及びその製造方法 - Google Patents
固体撮像装置及びその製造方法Info
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- JPH04229802A JPH04229802A JP2408422A JP40842290A JPH04229802A JP H04229802 A JPH04229802 A JP H04229802A JP 2408422 A JP2408422 A JP 2408422A JP 40842290 A JP40842290 A JP 40842290A JP H04229802 A JPH04229802 A JP H04229802A
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- JP
- Japan
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- incident light
- photosensitive
- solid
- state imaging
- imaging device
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/10—Integrated devices
- H10F39/12—Image sensors
- H10F39/15—Charge-coupled device [CCD] image sensors
- H10F39/153—Two-dimensional or three-dimensional array CCD image sensors
- H10F39/1534—Interline transfer
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B3/00—Simple or compound lenses
- G02B3/0006—Arrays
- G02B3/0037—Arrays characterized by the distribution or form of lenses
- G02B3/0056—Arrays characterized by the distribution or form of lenses arranged along two different directions in a plane, e.g. honeycomb arrangement of lenses
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/80—Constructional details of image sensors
- H10F39/806—Optical elements or arrangements associated with the image sensors
- H10F39/8063—Microlenses
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】[発明の目的]
【0002】
【産業上の利用分野】この発明は、入射光を集光するマ
イクロレンズを備えている固体撮像装置に関する。
イクロレンズを備えている固体撮像装置に関する。
【0003】
【従来の技術】半導体基板に形成された固体撮像装置に
おいて、入射光を集光するマイクロレンズを備えた構造
としては、例えば図11に示すようなものがある。
おいて、入射光を集光するマイクロレンズを備えた構造
としては、例えば図11に示すようなものがある。
【0004】図11において、固体撮像装置は、半導体
基板1に入射光を光電変換して電荷を生成する例えばフ
ォトダイオードからなる感光部2と、生成された電荷を
外部に転送する転送部3が形成されている。
基板1に入射光を光電変換して電荷を生成する例えばフ
ォトダイオードからなる感光部2と、生成された電荷を
外部に転送する転送部3が形成されている。
【0005】また、感光部2と転送部3との上部には、
表面を平坦にする透明な平坦化層4が形成されている。 さらに、この平坦化層4の上には、それぞれの感光部2
に対応して、島状あるいはストライプ状にパターニング
されたレンズ材料を溶融してアニール硬化させてなるマ
イクロレンズ5が形成されている。このような構造は、
文献「Y.Ishihara et al;IED
M 83 P497(1983)」に記載されてお
り、マイクロレンズを形成しない場合に比して、感度を
2倍程度に向上させることが可能になる。
表面を平坦にする透明な平坦化層4が形成されている。 さらに、この平坦化層4の上には、それぞれの感光部2
に対応して、島状あるいはストライプ状にパターニング
されたレンズ材料を溶融してアニール硬化させてなるマ
イクロレンズ5が形成されている。このような構造は、
文献「Y.Ishihara et al;IED
M 83 P497(1983)」に記載されてお
り、マイクロレンズを形成しない場合に比して、感度を
2倍程度に向上させることが可能になる。
【0006】このような構造の固体撮像装置は、ビデオ
カメラ等のカメラに用いられて、レンズを介して入射光
が与えられる場合には、固体撮像装置の感度あるいはス
ミア特性が変化することになる。すなわち、カメラのレ
ンズのF値(F=f/D、F:カメラレンズの明るさ、
f:カメラレンズの焦点距離、D:カメラレンズの口径
)によって上記特性が変化する。
カメラ等のカメラに用いられて、レンズを介して入射光
が与えられる場合には、固体撮像装置の感度あるいはス
ミア特性が変化することになる。すなわち、カメラのレ
ンズのF値(F=f/D、F:カメラレンズの明るさ、
f:カメラレンズの焦点距離、D:カメラレンズの口径
)によって上記特性が変化する。
【0007】固体撮像装置の相対的な感度とカメラレン
ズのF値との関係は図12に示すようになり、図12で
はマイクロレンズの膜厚を2.3〜2.8(μm)の間
で変化させた場合を示している。図12から明らかなよ
うに、カメラレンズのF値が小さくなると、固体撮像装
置における相対的な感度が低下することになる。
ズのF値との関係は図12に示すようになり、図12で
はマイクロレンズの膜厚を2.3〜2.8(μm)の間
で変化させた場合を示している。図12から明らかなよ
うに、カメラレンズのF値が小さくなると、固体撮像装
置における相対的な感度が低下することになる。
【0008】このことは、カメラレンズの口径Dが、図
13に示すように画角θと関係していることに寄因し、
カメラレンズのF値が小さくなるということは、画角θ
が大きくなり、入射光が斜め方向から入射することを意
味し、例えばF=1.4では画角θ=19.7°に相当
し、F=11では画角θ=2.6°に相当する。これに
より、F値が小さくなるにしたがって画角が大きくなる
と、図14に示すように、F値が大きい場合に比して入
射光の光路が変わり、入射光が固体撮像装置の感光部2
に入射しなくなる。したがって、感光部2に与えられる
光量が減少し、感度が低下することになる。
13に示すように画角θと関係していることに寄因し、
カメラレンズのF値が小さくなるということは、画角θ
が大きくなり、入射光が斜め方向から入射することを意
味し、例えばF=1.4では画角θ=19.7°に相当
し、F=11では画角θ=2.6°に相当する。これに
より、F値が小さくなるにしたがって画角が大きくなる
と、図14に示すように、F値が大きい場合に比して入
射光の光路が変わり、入射光が固体撮像装置の感光部2
に入射しなくなる。したがって、感光部2に与えられる
光量が減少し、感度が低下することになる。
【0009】しかしながら、ビデオカメラ等の固体撮像
装置を使用したカメラにあっては、小型化にともなって
F値が小さくかつ感度の高いものが要求されている。
装置を使用したカメラにあっては、小型化にともなって
F値が小さくかつ感度の高いものが要求されている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】以上説明したように、
マイクロレンズを備えた従来の固体撮像装置にあっては
、ビデオカメラ等に組込んだ場合に、カメラレンズのF
値が小さくなるにともなって、相対的な感度が低下して
いた。このため、ビデオカメラ等のカメラレンズの小型
化にともなって、小さなF値で高感度が要求されている
が、この要求を満足させることができないといった不具
合を招いていた。
マイクロレンズを備えた従来の固体撮像装置にあっては
、ビデオカメラ等に組込んだ場合に、カメラレンズのF
値が小さくなるにともなって、相対的な感度が低下して
いた。このため、ビデオカメラ等のカメラレンズの小型
化にともなって、小さなF値で高感度が要求されている
が、この要求を満足させることができないといった不具
合を招いていた。
【0011】そこで、この発明は、上記に鑑みてなされ
たものであり、その目的とするところは、比較的小さな
F値であっても高感度が得られ、ビデオカメラ等の画像
カメラの小型化及び高感度化に寄与することができる固
体撮像装置を提供することにある。
たものであり、その目的とするところは、比較的小さな
F値であっても高感度が得られ、ビデオカメラ等の画像
カメラの小型化及び高感度化に寄与することができる固
体撮像装置を提供することにある。
【0012】[発明の構成]
【0013】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、この発明は、半導体基板上に形成された複数の感光
部におけるそれぞれの感光部に、入射光をそれぞれ対応
した感光部に集光させる複数の集光用レンズが配設され
て構成される。
に、この発明は、半導体基板上に形成された複数の感光
部におけるそれぞれの感光部に、入射光をそれぞれ対応
した感光部に集光させる複数の集光用レンズが配設され
て構成される。
【0014】
【作用】上記構成において、この発明は、複数の集光用
レンズによって、それぞれの感光部に入射する入射光量
を増加させるようにしている。
レンズによって、それぞれの感光部に入射する入射光量
を増加させるようにしている。
【0015】
【実施例】以下、図面を用いてこの発明の実施例を説明
する。
する。
【0016】図1はこの発明の一実施例に係る固体撮像
装置の断面構造を示す図である。同図に示す実施例の固
体撮像装置は、1つの感光部に対して単層の2つのマイ
クロレンズを対応させて配設形成するようにしたもので
ある。
装置の断面構造を示す図である。同図に示す実施例の固
体撮像装置は、1つの感光部に対して単層の2つのマイ
クロレンズを対応させて配設形成するようにしたもので
ある。
【0017】図1において、固体撮像装置は、半導体基
板11に多数の感光部12と電荷転送部13が形成され
ており、その上部には平坦化層14が形成されている。
板11に多数の感光部12と電荷転送部13が形成され
ており、その上部には平坦化層14が形成されている。
【0018】また、1つの感光部12に対応して2つの
マイクロレンズ15が平坦化層14上に形成されている
。
マイクロレンズ15が平坦化層14上に形成されている
。
【0019】このような構造を例えば32万画素でPL
A方式(走査線本数625本)のテレビジョン方式の固
体撮像装置に適用した場合には、図2に示すように、6
.4μ×9.6μの面積を有する単位セル16に対して
、感光部12のフォトダイオードの占有面積は、3.0
μ×3.5μとなる。なお、単位セル16と感光部12
との面積は、NTSC方式あるいはハイビジョン方式の
テレビジョン方式や設計方法等によって変化するが、本
発明はそれらの面積の関係に依存することはない。この
ような単位セル16と感光部12に対して、図1に示す
1つの感光部12に対する2つのマイクロレンズ15の
平面配置関係は、図3に示すようになる。
A方式(走査線本数625本)のテレビジョン方式の固
体撮像装置に適用した場合には、図2に示すように、6
.4μ×9.6μの面積を有する単位セル16に対して
、感光部12のフォトダイオードの占有面積は、3.0
μ×3.5μとなる。なお、単位セル16と感光部12
との面積は、NTSC方式あるいはハイビジョン方式の
テレビジョン方式や設計方法等によって変化するが、本
発明はそれらの面積の関係に依存することはない。この
ような単位セル16と感光部12に対して、図1に示す
1つの感光部12に対する2つのマイクロレンズ15の
平面配置関係は、図3に示すようになる。
【0020】次に、このような構造を得るための一製造
方法を図4及び図5の製造工程断面図を参照して説明す
る。
方法を図4及び図5の製造工程断面図を参照して説明す
る。
【0021】まず、半導体基板11に感光部12と転送
部13を形成した後、表面を平坦にするための平坦化層
14を5.0μm程度の厚さに形成する(図4)。
部13を形成した後、表面を平坦にするための平坦化層
14を5.0μm程度の厚さに形成する(図4)。
【0022】次に、平坦化層17上にマイクロレンズ1
5となるレンズ材料18を2.0μm程度の厚さに塗布
し、1つの感光部12に対して2つのマイクロレンズ1
5が形成されるように、図3に示すように、レンズ材料
18をパターニングする。この時、i線によるステッパ
露光装置によって400ms程度の露光を行ない、0.
5%程度のTMAH水溶液にて現像を行なうと、図3に
示すように、1つの感光部12に対して0.6μm間隔
でパターニングされたレンズ材料18の島状ブロックが
得られる(図5)。
5となるレンズ材料18を2.0μm程度の厚さに塗布
し、1つの感光部12に対して2つのマイクロレンズ1
5が形成されるように、図3に示すように、レンズ材料
18をパターニングする。この時、i線によるステッパ
露光装置によって400ms程度の露光を行ない、0.
5%程度のTMAH水溶液にて現像を行なうと、図3に
示すように、1つの感光部12に対して0.6μm間隔
でパターニングされたレンズ材料18の島状ブロックが
得られる(図5)。
【0023】最後に、後露光によりレンズ材料18を透
明化した後、レンズ材料18を150℃の温度で10分
間のベーキングを行なって熱硬化処理し、これにより、
マイクロレンズ15を形成し、図1に示すような構造が
得られる。
明化した後、レンズ材料18を150℃の温度で10分
間のベーキングを行なって熱硬化処理し、これにより、
マイクロレンズ15を形成し、図1に示すような構造が
得られる。
【0024】このようにして得られる構造にあっては、
小さなF値、すなわち入射光の画角が大きくなった場合
でも、複数のマイクロレンズ15によって斜め方向から
の入射光が感光部12に入射するように入射光の光路が
制御されるので、従来に比して入射光量が増加し、感度
を向上させることが可能となる。
小さなF値、すなわち入射光の画角が大きくなった場合
でも、複数のマイクロレンズ15によって斜め方向から
の入射光が感光部12に入射するように入射光の光路が
制御されるので、従来に比して入射光量が増加し、感度
を向上させることが可能となる。
【0025】次に、本発明の他の実施例としては、例え
ば、1つの感光部12に形成されるマイクロレンズ15
の個数を4つとして、図6に示すように配置したり、あ
るいは図7に示すようなパターンでマイクロレンズ15
を形成するようにしたものがある。
ば、1つの感光部12に形成されるマイクロレンズ15
の個数を4つとして、図6に示すように配置したり、あ
るいは図7に示すようなパターンでマイクロレンズ15
を形成するようにしたものがある。
【0026】また、マイクロレンズ15を多層化して、
多層レンズ構造としたものがある。例えば2層構造では
、図8に示すように、1.3μm程度の膜厚のV方向の
ストライプ状に1層目のマイクロレンズを形成し、その
後それぞれの単位セル毎16に2層目のマイクロレンズ
を形成した2重レンズ構造や、図9に示すように、2層
目のマイクロレンズを図6に示すように単位セル16に
対して4分割するようにしたものがある。
多層レンズ構造としたものがある。例えば2層構造では
、図8に示すように、1.3μm程度の膜厚のV方向の
ストライプ状に1層目のマイクロレンズを形成し、その
後それぞれの単位セル毎16に2層目のマイクロレンズ
を形成した2重レンズ構造や、図9に示すように、2層
目のマイクロレンズを図6に示すように単位セル16に
対して4分割するようにしたものがある。
【0027】このような構造にあっては、F=1.2に
対する相対的な感度が図10に示すように、いずれも従
来の構造に比して向上している。
対する相対的な感度が図10に示すように、いずれも従
来の構造に比して向上している。
【0028】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれば
、それぞれの感光部に対して複数の集光用レンズを設け
て、それぞれの感光部に入射する入射光量を増加させる
ようにしたので、比較的小さなF値であっても高感度を
達成することが可能となり、小型で高感度のビデオカメ
ラ等の画像カメラを提供することができるようになる。
、それぞれの感光部に対して複数の集光用レンズを設け
て、それぞれの感光部に入射する入射光量を増加させる
ようにしたので、比較的小さなF値であっても高感度を
達成することが可能となり、小型で高感度のビデオカメ
ラ等の画像カメラを提供することができるようになる。
【図1】この発明の一実施例に係る固体撮像装置の断面
構造を示す図である。
構造を示す図である。
【図2】図1に示す装置の一部平面図である。
【図3】図1に示す装置の一部平面図である。
【図4】図1に示す装置の一製造方法を示す断面工程図
である。
である。
【図5】図1に示す装置の一製造方法を示す断面工程図
である。
である。
【図6】この発明の他の実施例に係る固体撮像装置の一
部平面構造を示す図である。
部平面構造を示す図である。
【図7】この発明の他の実施例に係る固体撮像装置の一
部平面構造を示す図である。
部平面構造を示す図である。
【図8】この発明の他の実施例に係る固体撮像装置の一
部平面構造を示す図である。
部平面構造を示す図である。
【図9】この発明の他の実施例に係る固体撮像装置の一
部平面構造を示す図である。
部平面構造を示す図である。
【図10】図1及び図6乃至図9に示すこの発明の一実
施例に係る装置におけるF値と相対感度との関係を示す
図である。
施例に係る装置におけるF値と相対感度との関係を示す
図である。
【図11】従来の固体撮像装置の一断面構造を示す図で
ある。
ある。
【図12】図11に示す装置における相対的感度特性を
示す図である。
示す図である。
【図13】図11に示す従来の装置におけるF値と画角
との関係を説明するための図である。
との関係を説明するための図である。
【図14】図11に示す従来の装置におけるF値と画角
との関係を示す図である。
との関係を示す図である。
1,11 半導体基板
2,12 感光部
3,13 転送部
4,14 平坦化層
5,15 マイクロレンズ
16 単位セル
18 レンズ材料
Claims (3)
- 【請求項1】 半導体基板上に形成された複数の感光
部におけるそれぞれの感光部に、入射光をそれぞれ対応
した感光部に集光させる複数の集光用レンズが配設され
てなることを特徴とする固体撮像装置。 - 【請求項2】 前記複数の集光用レンズは、多層化さ
れてなることを特徴とする請求項1記載の固体撮像装置
。 - 【請求項3】 集光用レンズ材料を塗布し、塗布され
た集光用レンズ材料を1つの感光部に対して複数のブロ
ックにパターニングし、パターニングされた集光用レン
ズ材料を熱硬化させてレンズ化し、1つの感光部に対し
て複数の集光用レンズを配置形成することを特徴とする
固体撮像装置の製造方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2408422A JPH04229802A (ja) | 1990-12-27 | 1990-12-27 | 固体撮像装置及びその製造方法 |
| KR1019910024102A KR960000905B1 (ko) | 1990-12-27 | 1991-12-24 | 고체촬상장치 및 그 제조방법 |
| US07/813,037 US5250798A (en) | 1990-12-27 | 1991-12-24 | Solid state image sensor device with microlenses |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2408422A JPH04229802A (ja) | 1990-12-27 | 1990-12-27 | 固体撮像装置及びその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04229802A true JPH04229802A (ja) | 1992-08-19 |
Family
ID=18517877
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2408422A Pending JPH04229802A (ja) | 1990-12-27 | 1990-12-27 | 固体撮像装置及びその製造方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5250798A (ja) |
| JP (1) | JPH04229802A (ja) |
| KR (1) | KR960000905B1 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013143431A (ja) * | 2012-01-10 | 2013-07-22 | Toppan Printing Co Ltd | 固体撮像素子および固体撮像素子の製造方法 |
| JP2017034280A (ja) * | 2016-10-31 | 2017-02-09 | 凸版印刷株式会社 | 固体撮像素子 |
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| JPH08107194A (ja) * | 1994-10-03 | 1996-04-23 | Fuji Photo Optical Co Ltd | 固体撮像装置 |
| US5739548A (en) * | 1995-05-02 | 1998-04-14 | Matsushita Electronics Corporation | Solid state imaging device having a flattening layer and optical lenses |
| US5973844A (en) * | 1996-01-26 | 1999-10-26 | Proxemics | Lenslet array systems and methods |
| US6124974A (en) * | 1996-01-26 | 2000-09-26 | Proxemics | Lenslet array systems and methods |
| KR100310102B1 (ko) * | 1998-03-05 | 2001-12-17 | 윤종용 | 고체 컬러 이미지 소자 및 그의 제조 방법 |
| US6534340B1 (en) * | 1998-11-18 | 2003-03-18 | Analog Devices, Inc. | Cover cap for semiconductor wafer devices |
| GB0029947D0 (en) * | 2000-12-08 | 2001-01-24 | Sgs Thomson Microelectronics | Solid state image sensors and microlens arrays |
| US6744032B1 (en) * | 2001-10-17 | 2004-06-01 | Ess Technology, Inc. | Arrangement of microlenses in a solid-state image sensor for improving signal to noise ratio |
| US7102185B2 (en) * | 2004-06-21 | 2006-09-05 | Eastman Kodak Company | Lightshield architecture for interline transfer image sensors |
| US7789304B2 (en) * | 2006-08-16 | 2010-09-07 | International Business Machines Corporation | Child lock for electronic device |
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|---|---|---|---|---|
| US4467195A (en) * | 1977-12-08 | 1984-08-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Information detecting apparatus |
| US4667092A (en) * | 1982-12-28 | 1987-05-19 | Nec Corporation | Solid-state image device with resin lens and resin contact layer |
| US5118924A (en) * | 1990-10-01 | 1992-06-02 | Eastman Kodak Company | Static control overlayers on opto-electronic devices |
-
1990
- 1990-12-27 JP JP2408422A patent/JPH04229802A/ja active Pending
-
1991
- 1991-12-24 US US07/813,037 patent/US5250798A/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-12-24 KR KR1019910024102A patent/KR960000905B1/ko not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR920013740A (ko) | 1992-07-29 |
| US5250798A (en) | 1993-10-05 |
| KR960000905B1 (ko) | 1996-01-15 |
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