JPH0423139U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0423139U JPH0423139U JP6349390U JP6349390U JPH0423139U JP H0423139 U JPH0423139 U JP H0423139U JP 6349390 U JP6349390 U JP 6349390U JP 6349390 U JP6349390 U JP 6349390U JP H0423139 U JPH0423139 U JP H0423139U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- testing device
- different
- stock magazines
- classification
- classified
- Prior art date
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- Pending
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
第１図はこの考案の一実施例を示す正面図、第
２図は第１図の側面図、第３図はストツパの取付
構造を説明するための正面図、第４図は従来の技
術を説明するための正面図である。 １Ａ〜１Ｈ……ストツク用マガジン、２Ａ〜２
Ｈ……ＩＣ排出口、３……保持部、４……ストツ
パ。
２図は第１図の側面図、第３図はストツパの取付
構造を説明するための正面図、第４図は従来の技
術を説明するための正面図である。 １Ａ〜１Ｈ……ストツク用マガジン、２Ａ〜２
Ｈ……ＩＣ排出口、３……保持部、４……ストツ
パ。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 Ａ 試験済のＩＣを試験結果に応じて異なるスト
ツク用マガジンに分類して収納するＩＣ試験装置
において、 Ｂ 上記ストツク用マガジンの長さを各分類毎に
異ならせたことを特徴とするＩＣ試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6349390U JPH0423139U (ja) | 1990-06-15 | 1990-06-15 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6349390U JPH0423139U (ja) | 1990-06-15 | 1990-06-15 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0423139U true JPH0423139U (ja) | 1992-02-26 |
Family
ID=31593592
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6349390U Pending JPH0423139U (ja) | 1990-06-15 | 1990-06-15 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0423139U (ja) |
-
1990
- 1990-06-15 JP JP6349390U patent/JPH0423139U/ja active Pending
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