JPH04232879A - ケーブルピボットを備えた電子装置試験システム - Google Patents
ケーブルピボットを備えた電子装置試験システムInfo
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- JPH04232879A JPH04232879A JP3186558A JP18655891A JPH04232879A JP H04232879 A JPH04232879 A JP H04232879A JP 3186558 A JP3186558 A JP 3186558A JP 18655891 A JP18655891 A JP 18655891A JP H04232879 A JPH04232879 A JP H04232879A
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
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- G01R31/20—Preparation of articles or specimens to facilitate testing
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B25—HAND TOOLS; PORTABLE POWER-DRIVEN TOOLS; MANIPULATORS
- B25J—MANIPULATORS; CHAMBERS PROVIDED WITH MANIPULATION DEVICES
- B25J19/00—Accessories fitted to manipulators, e.g. for monitoring, for viewing; Safety devices combined with or specially adapted for use in connection with manipulators
- B25J19/0025—Means for supplying energy to the end effector
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/37—Measurements
- G05B2219/37404—Orientation of workpiece or tool, surface sensor
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- G—PHYSICS
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- G05B2219/40082—Docking, align object on end effector with target
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、通常、電子試験ヘッド
が、試験される電子装置の操作部に接続されて結合され
るように配置された電子装置試験システムに関する。さ
らに詳述すれば、本発明は、ケーブルが、移動可能な試
験ヘッドに接続されて、移動可能な試験ヘッドと共に移
動されるピボットを有する電子装置試験システムに関す
る。
が、試験される電子装置の操作部に接続されて結合され
るように配置された電子装置試験システムに関する。さ
らに詳述すれば、本発明は、ケーブルが、移動可能な試
験ヘッドに接続されて、移動可能な試験ヘッドと共に移
動されるピボットを有する電子装置試験システムに関す
る。
【０００２】
【従来の技術】集積回路およびその他の電子装置を自動
的に試験するに際して、試験される装置が定位置に配置
される特別な電子装置の操作部が使用されている。電子
試験自体は、電子装置の操作部に接続して結合される試
験ヘッドを有する大型でしかも高価な自動試験システム
によって行われる。試験ヘッドは、試験中の装置に電子
回路ができるだけ近接して配置されるように、高速度の
電子タイミング信号が使用される。従って、複雑な装置
を高速で試験するために、試験ヘッドは、電子回路と密
にまとめられていなければならない。
的に試験するに際して、試験される装置が定位置に配置
される特別な電子装置の操作部が使用されている。電子
試験自体は、電子装置の操作部に接続して結合される試
験ヘッドを有する大型でしかも高価な自動試験システム
によって行われる。試験ヘッドは、試験中の装置に電子
回路ができるだけ近接して配置されるように、高速度の
電子タイミング信号が使用される。従って、複雑な装置
を高速で試験するために、試験ヘッドは、電子回路と密
にまとめられていなければならない。
【０００３】支持構造に沿って移動し得る位置決め装置
は、試験ヘッドが電子装置の操作部に接続されて結合さ
れる所望の位置まで試験ヘッドを運搬する。試験ヘッド
は、６つの自由度を成し遂げられるように、位置決め装
置に取り付けられている。
は、試験ヘッドが電子装置の操作部に接続されて結合さ
れる所望の位置まで試験ヘッドを運搬する。試験ヘッド
は、６つの自由度を成し遂げられるように、位置決め装
置に取り付けられている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】主要な問題としては、
自動試験システムの収容部キャビネットから延びる重い
ケーブルを試験ヘッドに接続させることである。試験ヘ
ッドは、所望の位置に移動することが可能でなければな
らないため、重いケーブルは、試験ヘッドと共に移動し
なければならない。
自動試験システムの収容部キャビネットから延びる重い
ケーブルを試験ヘッドに接続させることである。試験ヘ
ッドは、所望の位置に移動することが可能でなければな
らないため、重いケーブルは、試験ヘッドと共に移動し
なければならない。
【０００５】試験ヘッドとケーブルとの間に同期移動を
提供するために使用されてきた従来の配置は、通常、ケ
ーブルピボット型配置およびタンブル型配置の２つに分
類される。
提供するために使用されてきた従来の配置は、通常、ケ
ーブルピボット型配置およびタンブル型配置の２つに分
類される。
【０００６】タンブル型においては、ケーブルは試験ヘ
ッドの下につり下げられており、試験ヘッドが取り付け
られる機構に対向する試験ヘッドの側面に、ケーブルは
、その重心部にて位置決め装置に接続するようになって
いる。この配置によると、ケーブルピボット型アプロー
チの複雑さと出費を避けることができる。しかし、ケー
ブルは、試験ヘッドの多数の異なる方向への移動のため
に、試験ヘッドの側面を越えて、試験ヘッドの下につる
される。このように、ケーブルは、しばしば、試験シス
テムの作業者の邪魔になる。従って、試験ヘッドが下方
位置にある場合にケーブルが床に接触しない程度であっ
てどのように低い位置に配置するかという点において、
非常に大型な試験システムが制限される。さらに、タン
ブル型配置には、長いケーブルが必要である。なぜなら
、ケーブルが、試験ヘッドのある方向への移動のために
、試験ヘッドの底部を完全に越えて延びるからである。
ッドの下につり下げられており、試験ヘッドが取り付け
られる機構に対向する試験ヘッドの側面に、ケーブルは
、その重心部にて位置決め装置に接続するようになって
いる。この配置によると、ケーブルピボット型アプロー
チの複雑さと出費を避けることができる。しかし、ケー
ブルは、試験ヘッドの多数の異なる方向への移動のため
に、試験ヘッドの側面を越えて、試験ヘッドの下につる
される。このように、ケーブルは、しばしば、試験シス
テムの作業者の邪魔になる。従って、試験ヘッドが下方
位置にある場合にケーブルが床に接触しない程度であっ
てどのように低い位置に配置するかという点において、
非常に大型な試験システムが制限される。さらに、タン
ブル型配置には、長いケーブルが必要である。なぜなら
、ケーブルが、試験ヘッドのある方向への移動のために
、試験ヘッドの底部を完全に越えて延びるからである。
【０００７】様々なケーブルピボット型配置が知られて
いる。その１つにおいて、試験ヘッドもまた位置決め装
置によってその重心部にて保持されている。ケーブルお
よび位置決め装置は、試験ヘッドの両端において試験ヘ
ッドに取り付けられている。この型の配置の１つの欠点
は、２つの脚付きオフィスデスクのように組み立てられ
た水平操作部に下部から接近できないことである。位置
決め装置は、このようなデスクの１つが配置されるとこ
ろに位置する。
いる。その１つにおいて、試験ヘッドもまた位置決め装
置によってその重心部にて保持されている。ケーブルお
よび位置決め装置は、試験ヘッドの両端において試験ヘ
ッドに取り付けられている。この型の配置の１つの欠点
は、２つの脚付きオフィスデスクのように組み立てられ
た水平操作部に下部から接近できないことである。位置
決め装置は、このようなデスクの１つが配置されるとこ
ろに位置する。
【０００８】第２ケーブルピボット型配置には、試験ヘ
ッドが位置決め装置に取り付けられる機構を介してケー
ブルが通過するようになっている。この機構は、試験ヘ
ッドの旋回移動を可能にするために配置されている。通
常、このような機構には、内部リングを有しており、こ
の内部リングは、ベアリングを通して外部リングから間
隔を置いて配置されて外部リング内にて回転し得る。こ
れらの機構の１つの欠点は、試験ヘッドの取り付けまた
は取り外しには、ケーブルが試験システムから抜き取ら
れる必要があることである。試験システムからケーブル
を抜き取り、あるいは取り付けるためには、半日から１
日かかり、すぐには使用できない非常に高価なシステム
を使用する必要があり、さらには、損傷の危険性もある
。他の欠点は、この機構が高価なことである。ベアリン
グそれ自身、およびリング内にベアリングを搭載するた
めに必要な精密機械は、コストがかかる。
ッドが位置決め装置に取り付けられる機構を介してケー
ブルが通過するようになっている。この機構は、試験ヘ
ッドの旋回移動を可能にするために配置されている。通
常、このような機構には、内部リングを有しており、こ
の内部リングは、ベアリングを通して外部リングから間
隔を置いて配置されて外部リング内にて回転し得る。こ
れらの機構の１つの欠点は、試験ヘッドの取り付けまた
は取り外しには、ケーブルが試験システムから抜き取ら
れる必要があることである。試験システムからケーブル
を抜き取り、あるいは取り付けるためには、半日から１
日かかり、すぐには使用できない非常に高価なシステム
を使用する必要があり、さらには、損傷の危険性もある
。他の欠点は、この機構が高価なことである。ベアリン
グそれ自身、およびリング内にベアリングを搭載するた
めに必要な精密機械は、コストがかかる。
【０００９】ケーブルを抜き取る必要を避けるために、
リングを、Ｃ形クランプによって連結されたスプリット
リングとすることが知られている。連結されると、スプ
リットリング構成要素の外形によって、リングを直接試
験ヘッドに搭載することが困難になる。その代わりに、
試験ヘッドをリングの内径に搭載するために付加的構造
が必要である。
リングを、Ｃ形クランプによって連結されたスプリット
リングとすることが知られている。連結されると、スプ
リットリング構成要素の外形によって、リングを直接試
験ヘッドに搭載することが困難になる。その代わりに、
試験ヘッドをリングの内径に搭載するために付加的構造
が必要である。
【００１０】上記の議論を考慮して、試験ヘッドを試験
システムに連結するケーブルを保護する電子装置試験シ
ステムを提供することは、本発明の１つの目的である。 システムが、様々なプローブおよび操作部を試験するた
めに使用される場合には、連続曲げ、連続ねじり、およ
びこのようなケーブルの挿入／除去は、特有のものであ
る。従って、ケーブルの疲労寿命は、非常に重要な問題
である。ケーブルを構成する材料の疲労寿命は、応力が
増加するにつれて減少し、応力は、曲げまたはねじれが
起こるケーブルの長さに比例しているため、曲げまたは
ねじれを含むケーブルの長さを制御することは有利であ
る。
システムに連結するケーブルを保護する電子装置試験シ
ステムを提供することは、本発明の１つの目的である。 システムが、様々なプローブおよび操作部を試験するた
めに使用される場合には、連続曲げ、連続ねじり、およ
びこのようなケーブルの挿入／除去は、特有のものであ
る。従って、ケーブルの疲労寿命は、非常に重要な問題
である。ケーブルを構成する材料の疲労寿命は、応力が
増加するにつれて減少し、応力は、曲げまたはねじれが
起こるケーブルの長さに比例しているため、曲げまたは
ねじれを含むケーブルの長さを制御することは有利であ
る。
【００１１】他の目的は、安全性および試験ヘッド位置
決めシステムの作業を容易にすることである。関連の目
的は、試験システムから試験ヘッドケーブルを抜き取る
ことなく、試験ヘッドを取り付けまたは除去すること、
および受け入れ可能な操作を行うためのケーブルピボッ
ト配置内にて試験ヘッドの平衡を適切に保持できるシス
テムを提供することである。さらに他の目的は、脚付き
デスクのように組み立てられたものを有する、様々なプ
ローブおよび操作部を試験し得るシステムを提供するこ
と、およびケーブルが床に接触しないように、特に大き
な試験ヘッドをできるだけ低く配置することである。試
験ヘッドを直接ケーブルピボット配置に搭載することも
また、有利である。最後に、本発明の目的は、特に、ア
ライメント許容条件を減少させることによって、コスト
的に効率よく製造できるシステムを提供することである
。
決めシステムの作業を容易にすることである。関連の目
的は、試験システムから試験ヘッドケーブルを抜き取る
ことなく、試験ヘッドを取り付けまたは除去すること、
および受け入れ可能な操作を行うためのケーブルピボッ
ト配置内にて試験ヘッドの平衡を適切に保持できるシス
テムを提供することである。さらに他の目的は、脚付き
デスクのように組み立てられたものを有する、様々なプ
ローブおよび操作部を試験し得るシステムを提供するこ
と、およびケーブルが床に接触しないように、特に大き
な試験ヘッドをできるだけ低く配置することである。試
験ヘッドを直接ケーブルピボット配置に搭載することも
また、有利である。最後に、本発明の目的は、特に、ア
ライメント許容条件を減少させることによって、コスト
的に効率よく製造できるシステムを提供することである
。
【００１２】
【課題を解決するための手段】これらの目的および他の
目的を成し遂げるため、ならびにその目的を考慮して、
本発明は、支持構造および支持構造に沿って移動し得る
位置決め装置を備えた電子装置試験システムを提供する
ことである。また、実質的に円形の通路を規定し、一側
面にのみフランジを有するケーブルピボットが設けられ
ているため、通路は、部分的にその一側面において閉塞
しており、それに対向する側面において開口している。 ２つの連結したハーフリングを有する試験ヘッドアダプ
ターリングは、回転可能にハウジングの通路中に配置さ
れている。試験システムは、さらに、試験ヘッドが回転
運動できるように、試験ヘッドアダプターリングに取り
付けられた試験ヘッド、試験キャビネット、試験キャビ
ネットと試験ヘッドとの間で連結され、試験ヘッドアダ
プターリングを通過するケーブルおよび伸縮ケーブル支
持体を有している。
目的を成し遂げるため、ならびにその目的を考慮して、
本発明は、支持構造および支持構造に沿って移動し得る
位置決め装置を備えた電子装置試験システムを提供する
ことである。また、実質的に円形の通路を規定し、一側
面にのみフランジを有するケーブルピボットが設けられ
ているため、通路は、部分的にその一側面において閉塞
しており、それに対向する側面において開口している。 ２つの連結したハーフリングを有する試験ヘッドアダプ
ターリングは、回転可能にハウジングの通路中に配置さ
れている。試験システムは、さらに、試験ヘッドが回転
運動できるように、試験ヘッドアダプターリングに取り
付けられた試験ヘッド、試験キャビネット、試験キャビ
ネットと試験ヘッドとの間で連結され、試験ヘッドアダ
プターリングを通過するケーブルおよび伸縮ケーブル支
持体を有している。
【００１３】上記の一般的説明および以下の詳細な説明
は、例示を目的としており、本発明を限定するものでは
ない。
は、例示を目的としており、本発明を限定するものでは
ない。
【００１４】
【作用】本発明の電子装置の試験システムでは、試験ヘ
ッドが試験ヘッドアダプターリングに回転可能になって
いて、また、該試験アダプターヘッドリングが位置決め
装置に取り付けられていることにより自由に移動し得る
。試験ヘッドに連結されたケーブルは、試験ヘッドアダ
プターリングを通過しており、試験ヘッドの移動に対し
て、ケーブルが損傷するおそれがない。
ッドが試験ヘッドアダプターリングに回転可能になって
いて、また、該試験アダプターヘッドリングが位置決め
装置に取り付けられていることにより自由に移動し得る
。試験ヘッドに連結されたケーブルは、試験ヘッドアダ
プターリングを通過しており、試験ヘッドの移動に対し
て、ケーブルが損傷するおそれがない。
【００１５】
【実施例】図１は、本発明に従って組み立てた電子装置
試験システムの斜視図である。このシステムは、概略、
米国特許第４，８９３，０７４号および第４，５８９，
８１５号に記載され例示されているものと同様であり、
本願ではこれらの特許を参考として取り入れている。
試験システムの斜視図である。このシステムは、概略、
米国特許第４，８９３，０７４号および第４，５８９，
８１５号に記載され例示されているものと同様であり、
本願ではこれらの特許を参考として取り入れている。
【００１６】システムは、垂直方向（図１のｙ軸方向）
にメインシャフト１０および位置決め装置１２を保持す
る支持構造（図示していない）を有している。位置決め
装置１２は、ｙ軸方向においてメインシャフト１０に沿
って垂直に移動でき、θｙ方向にメインシャフト１０を
中心に回転し得る。位置決め装置１２は、メインロック
１６を使用してメインロックカラー１４を締め付けるこ
とによって、メインシャフト１０に固定される。位置決
め装置１２は、メインアーム１８、前腕アセンブリー２
０およびリストアセンブリー２２を有している。前腕ア
センブリー２０は、該前腕アセンブリー２０がｙ軸方向
においてメインシャフト１０に沿って垂直に移動し得る
ように、前腕取り付け台３４にてメインアーム１８に取
り付けられている。
にメインシャフト１０および位置決め装置１２を保持す
る支持構造（図示していない）を有している。位置決め
装置１２は、ｙ軸方向においてメインシャフト１０に沿
って垂直に移動でき、θｙ方向にメインシャフト１０を
中心に回転し得る。位置決め装置１２は、メインロック
１６を使用してメインロックカラー１４を締め付けるこ
とによって、メインシャフト１０に固定される。位置決
め装置１２は、メインアーム１８、前腕アセンブリー２
０およびリストアセンブリー２２を有している。前腕ア
センブリー２０は、該前腕アセンブリー２０がｙ軸方向
においてメインシャフト１０に沿って垂直に移動し得る
ように、前腕取り付け台３４にてメインアーム１８に取
り付けられている。
【００１７】前腕アセンブリー２０は、配置されたメイ
ンシャフト１０に沿った垂直軸からｚ軸方向に変位した
垂直エルボシャフト２８を有している。前腕アセンブリ
ー２０は、メインアーム１８に対して垂直エルボシャフ
ト２８を中心にθｙ方向に回転し得る。エルボロック３
２によって動作するロックカラー３０は、垂直エルボシ
ャフト２８上に前腕アセンブリー２０を固定する。
ンシャフト１０に沿った垂直軸からｚ軸方向に変位した
垂直エルボシャフト２８を有している。前腕アセンブリ
ー２０は、メインアーム１８に対して垂直エルボシャフ
ト２８を中心にθｙ方向に回転し得る。エルボロック３
２によって動作するロックカラー３０は、垂直エルボシ
ャフト２８上に前腕アセンブリー２０を固定する。
【００１８】リストアセンブリー２２は、前腕アセンブ
リー２０に取り付けられている。リストアセンブリー２
２は、垂直リストシャフト３８が挿通する円形部を有す
るリストハウジング３６とブロック面とを有している。 リストハウジング３６の円形部およびブロック面は、一
体型鋳物として形成される。垂直リストシャフト３８は
、垂直エルボシャフト２８およびメインシャフト１０か
らさらにｚ軸方向に変位している。３つの異なる垂直シ
ャフト１０、２８および３８に沿った回転を組み合わせ
ると、試験ヘッド５６（図２（ａ）を参照のこと）がｘ
軸およびｚ軸に沿って位置されることが理解される。 リストアセンブリー２２は、垂直リストロック４０によ
って固定されなければ、垂直リスト軸３８を中心にθｙ
方向に回転し得る。
リー２０に取り付けられている。リストアセンブリー２
２は、垂直リストシャフト３８が挿通する円形部を有す
るリストハウジング３６とブロック面とを有している。 リストハウジング３６の円形部およびブロック面は、一
体型鋳物として形成される。垂直リストシャフト３８は
、垂直エルボシャフト２８およびメインシャフト１０か
らさらにｚ軸方向に変位している。３つの異なる垂直シ
ャフト１０、２８および３８に沿った回転を組み合わせ
ると、試験ヘッド５６（図２（ａ）を参照のこと）がｘ
軸およびｚ軸に沿って位置されることが理解される。 リストアセンブリー２２は、垂直リストロック４０によ
って固定されなければ、垂直リスト軸３８を中心にθｙ
方向に回転し得る。
【００１９】リストアセンブリー２２は、また、ｚ軸（
図１を参照のこと）を中心に回転し得る。このような回
転を防止するために、水平リストロック４２が使用され
て、リストアセンブリー２２の固定水平リストシャフト
４４に固定される。ケーブルピボットアダプター４６は
、従来のスクリュー、ボルト、ピン等によって水平リス
トシャフト４４に固定されている。
図１を参照のこと）を中心に回転し得る。このような回
転を防止するために、水平リストロック４２が使用され
て、リストアセンブリー２２の固定水平リストシャフト
４４に固定される。ケーブルピボットアダプター４６は
、従来のスクリュー、ボルト、ピン等によって水平リス
トシャフト４４に固定されている。
【００２０】図２（ａ）に示されるように、ケーブルピ
ボットアダプター４６は、フランジ４８を通して水平リ
ストシャフト４４に固定されている。ケーブルピボット
アダプター４６は、フランジ４８およびビーム５０を有
している。ビーム５０は、その一端が（例えば、溶接ま
たは一体型鋳物として形成されて）フランジ４８に取り
付けられており、他端が（スクリュー、ボールト等を通
して）ケーブルピボットハウジング５２に取り付けられ
ており、それによって、フランジ４８とケーブルピボッ
トハウジング５２とを連結している。ケーブルピボット
ハウジング５２は、試験ヘッドアダプターリング５４を
保持しており、リング５４が、後述するように、ハウジ
ング５２内を（θｘ方向に）回転するようになっている
。試験ヘッド５６は、試験ヘッドアダプターリング５４
に、いくつかの可能な方法によって取り付けられており
、試験ヘッドアダプターリング５４がその移動を試験ヘ
ッド５６に伝えるようになっている。これらの可能な方
法のうち、いくつかを以下に記載する。
ボットアダプター４６は、フランジ４８を通して水平リ
ストシャフト４４に固定されている。ケーブルピボット
アダプター４６は、フランジ４８およびビーム５０を有
している。ビーム５０は、その一端が（例えば、溶接ま
たは一体型鋳物として形成されて）フランジ４８に取り
付けられており、他端が（スクリュー、ボールト等を通
して）ケーブルピボットハウジング５２に取り付けられ
ており、それによって、フランジ４８とケーブルピボッ
トハウジング５２とを連結している。ケーブルピボット
ハウジング５２は、試験ヘッドアダプターリング５４を
保持しており、リング５４が、後述するように、ハウジ
ング５２内を（θｘ方向に）回転するようになっている
。試験ヘッド５６は、試験ヘッドアダプターリング５４
に、いくつかの可能な方法によって取り付けられており
、試験ヘッドアダプターリング５４がその移動を試験ヘ
ッド５６に伝えるようになっている。これらの可能な方
法のうち、いくつかを以下に記載する。
【００２１】試験ヘッド５６は、試験されるシステム（
図示されていない）の電子インターフェース構成要素（
コネンクター、ポーゴ（ｐｏｇｏ）ピン、印刷回路基板
等）と相互作用する。試験ヘッド５６とシステムとの結
合および結合解除中に起こる破損または過度な消耗から
、こわれやすい電子インターフェース構成要素を保護す
るために、このような動作中の試験ヘッド５６の動作は
、電子インターフェース構成要素の作動シャフトと正確
に調和していなければならない。従って、試験ヘッド５
６は、結合および結合解除中に、デカルト座標系の６つ
の動作自由度のいくつかまたはすべてにおいて、正確に
、かつ容易に移動されなければならない。図１に示すよ
うに、これらの６つの自由度は、ｘ軸（水平に左から右
）、ｙ軸（垂直）およびｚ軸（水平に内側および外側）
方向の直線動作、θｘ、θｙおよびθｚ方向の各軸を中
心とした回転動作を含んでおり、これらはすべて、電子
中間連結構成要素が搭載されているインターフェース台
板が中心となっている。
図示されていない）の電子インターフェース構成要素（
コネンクター、ポーゴ（ｐｏｇｏ）ピン、印刷回路基板
等）と相互作用する。試験ヘッド５６とシステムとの結
合および結合解除中に起こる破損または過度な消耗から
、こわれやすい電子インターフェース構成要素を保護す
るために、このような動作中の試験ヘッド５６の動作は
、電子インターフェース構成要素の作動シャフトと正確
に調和していなければならない。従って、試験ヘッド５
６は、結合および結合解除中に、デカルト座標系の６つ
の動作自由度のいくつかまたはすべてにおいて、正確に
、かつ容易に移動されなければならない。図１に示すよ
うに、これらの６つの自由度は、ｘ軸（水平に左から右
）、ｙ軸（垂直）およびｚ軸（水平に内側および外側）
方向の直線動作、θｘ、θｙおよびθｚ方向の各軸を中
心とした回転動作を含んでおり、これらはすべて、電子
中間連結構成要素が搭載されているインターフェース台
板が中心となっている。
【００２２】本発明は、各軸の動作が（以下に記載する
ように）バランスを維持して、電子装置試験システムの
アダプター１２および試験ヘッドアダプターリング５４
の要素が設計されるように、６つの動作自由度を成し遂
げている。
ように）バランスを維持して、電子装置試験システムの
アダプター１２および試験ヘッドアダプターリング５４
の要素が設計されるように、６つの動作自由度を成し遂
げている。
【００２３】一般に、多数の個別ケーブルから構成され
るケーブル（図示されていない）は、試験ヘッドアダプ
ターリング５４を通して試験ヘッド５６の方へと延びて
いる。試験ヘッド５６および電力によって発生した電子
信号は、これらのケーブルに沿って、試験キャビネット
（図示されていない）へ、および試験キャビネットから
伝達される。ケーブルを運搬するために、伸縮ケーブル
支持体５８が設けられている。伸縮ケーブル支持体５８
は、各端部に、移動を自由にさせる球面ベアリングを有
している。
るケーブル（図示されていない）は、試験ヘッドアダプ
ターリング５４を通して試験ヘッド５６の方へと延びて
いる。試験ヘッド５６および電力によって発生した電子
信号は、これらのケーブルに沿って、試験キャビネット
（図示されていない）へ、および試験キャビネットから
伝達される。ケーブルを運搬するために、伸縮ケーブル
支持体５８が設けられている。伸縮ケーブル支持体５８
は、各端部に、移動を自由にさせる球面ベアリングを有
している。
【００２４】図２（ｂ）および図３（ｂ）に示されるよ
うに、ケーブルピボットハウジング５２は、試験ヘッド
アダプターリング５４を部分的に取り囲んでいる。ケー
ブルピボットハウジング５２は、２つのラジアル孔６２
を備えたリップ６０を有しており、この２つの孔６２を
通して、２つの水平カムフォロア６４が（ｘ軸方向に）
挿入される。水平カムフォロア６４と垂直に、３つのラ
ジアルカムフォロア６６が、ケーブルピボットハウジン
グ５２の内部ラジアル面６８に挿入されている。試験ヘ
ッド５６に対向するケーブルピボットハウジング５２の
壁７０は開口しており、この壁７０は、ケーブルピボッ
トハウジング５２上のリップ６０と同様のリップまたは
フランジを有していない。
うに、ケーブルピボットハウジング５２は、試験ヘッド
アダプターリング５４を部分的に取り囲んでいる。ケー
ブルピボットハウジング５２は、２つのラジアル孔６２
を備えたリップ６０を有しており、この２つの孔６２を
通して、２つの水平カムフォロア６４が（ｘ軸方向に）
挿入される。水平カムフォロア６４と垂直に、３つのラ
ジアルカムフォロア６６が、ケーブルピボットハウジン
グ５２の内部ラジアル面６８に挿入されている。試験ヘ
ッド５６に対向するケーブルピボットハウジング５２の
壁７０は開口しており、この壁７０は、ケーブルピボッ
トハウジング５２上のリップ６０と同様のリップまたは
フランジを有していない。
【００２５】ケーブルピボットハウジング５２は、試験
ヘッドアダプターリング５４、すなわち所定位置の保持
リング５４と嵌合しており、試験ヘッドアダプターリン
グ５４がケーブルピボットハウジング５２内で回転し、
位置決め装置１２の位置固定動作を試験ヘッド５６へ伝
えるようにしている。試験ヘッドアダプターリング５４
は、図２（ｂ）および図３（ｂ）にも示されるように、
スプリットリング、通常は鋼製の管体として形成される
。このスプリットリングは、合わせピン７６によって共
に保持されている２つのハーフリング７２および７４を
有している。合わせピン７６は、ハーフリング７４上に
形成されており、ハーフリング７２内の挿入部（図示さ
れていない）に嵌合している。合わせピン７６には、か
なりの荷重がかかっている。なぜなら、荷重がねじれた
りよじれたりすると、ハーフリング７２および７４をね
じるカンチレバー力がかかるためである。
ヘッドアダプターリング５４、すなわち所定位置の保持
リング５４と嵌合しており、試験ヘッドアダプターリン
グ５４がケーブルピボットハウジング５２内で回転し、
位置決め装置１２の位置固定動作を試験ヘッド５６へ伝
えるようにしている。試験ヘッドアダプターリング５４
は、図２（ｂ）および図３（ｂ）にも示されるように、
スプリットリング、通常は鋼製の管体として形成される
。このスプリットリングは、合わせピン７６によって共
に保持されている２つのハーフリング７２および７４を
有している。合わせピン７６は、ハーフリング７４上に
形成されており、ハーフリング７２内の挿入部（図示さ
れていない）に嵌合している。合わせピン７６には、か
なりの荷重がかかっている。なぜなら、荷重がねじれた
りよじれたりすると、ハーフリング７２および７４をね
じるカンチレバー力がかかるためである。
【００２６】リング保持部材７８は、合わせピン７６上
とハーフリング７２および７４が連結される際に形成さ
れる接合部上に配置される。リング保持部材７８は、通
常、スクリュー、ピン、ボルト等の部材８０を使用して
ハーフリング７２および７４上に保持される。このよう
に、リング保持部材７８は、合わせピン７６を所定位置
に保持する。２つのリング保持部材７８のみが図２（ｂ
）および図３（ｂ）に示されているが、さらに保持部材
を使用することも可能である。例えば、さらに一対のリ
ング保持部材を、ガイド８２の底部に配置することも可
能である。合わせピン７６およびリング保持部材７８を
通して、ハーフリング７２および７４が所定の位置に正
確に固定される。
とハーフリング７２および７４が連結される際に形成さ
れる接合部上に配置される。リング保持部材７８は、通
常、スクリュー、ピン、ボルト等の部材８０を使用して
ハーフリング７２および７４上に保持される。このよう
に、リング保持部材７８は、合わせピン７６を所定位置
に保持する。２つのリング保持部材７８のみが図２（ｂ
）および図３（ｂ）に示されているが、さらに保持部材
を使用することも可能である。例えば、さらに一対のリ
ング保持部材を、ガイド８２の底部に配置することも可
能である。合わせピン７６およびリング保持部材７８を
通して、ハーフリング７２および７４が所定の位置に正
確に固定される。
【００２７】ハーフリング７２および７４が結合される
と、ガイド８２が、対向側壁７０内における試験ヘッド
アダプターリング５４の外側に沿って形成される。試験
ヘッドアダプターリング５４が、ケーブルピボットハウ
ジング５２の内側に位置すると、水平カムフォロア６４
は、ガイド８２と嵌合する。同様に、ラジアル溝８４は
、試験ヘッドアダプターリング５４の周辺に沿って形成
される。試験ヘッドアダプターリング５４がハウジング
５２内部に位置すると、ラジアル溝８４は、ラジアルカ
ムフォロア６６と嵌合する。
と、ガイド８２が、対向側壁７０内における試験ヘッド
アダプターリング５４の外側に沿って形成される。試験
ヘッドアダプターリング５４が、ケーブルピボットハウ
ジング５２の内側に位置すると、水平カムフォロア６４
は、ガイド８２と嵌合する。同様に、ラジアル溝８４は
、試験ヘッドアダプターリング５４の周辺に沿って形成
される。試験ヘッドアダプターリング５４がハウジング
５２内部に位置すると、ラジアル溝８４は、ラジアルカ
ムフォロア６６と嵌合する。
【００２８】既知のスプリットリングと違って、試験ヘ
ッドアダプターリング５４は開口している。従来の「密
閉型」スプリットリングにおいて、対向側壁７０は、対
向壁側のリップ６０に対応するリップを有している。リ
ップ６０と同様に、このリップは、２つの水平カムフォ
ロア（対向カムフォロア６４）を支えている。ガイド８
２に対向するガイドは、対向側壁７０に隣接する側にあ
る試験ヘッドアダプターリング５４の外側に沿って形成
されている。対向カムフォロア６４に対向する水平カム
フォロアは、試験ヘッドアダプターリング５４がケーブ
ルピボットハウジング５２の内側に位置する際に、この
対向ガイドに嵌合する。このように、従来のスプリット
リングは、ラジアル溝８４もラジアルカムフォロアも有
していない。
ッドアダプターリング５４は開口している。従来の「密
閉型」スプリットリングにおいて、対向側壁７０は、対
向壁側のリップ６０に対応するリップを有している。リ
ップ６０と同様に、このリップは、２つの水平カムフォ
ロア（対向カムフォロア６４）を支えている。ガイド８
２に対向するガイドは、対向側壁７０に隣接する側にあ
る試験ヘッドアダプターリング５４の外側に沿って形成
されている。対向カムフォロア６４に対向する水平カム
フォロアは、試験ヘッドアダプターリング５４がケーブ
ルピボットハウジング５２の内側に位置する際に、この
対向ガイドに嵌合する。このように、従来のスプリット
リングは、ラジアル溝８４もラジアルカムフォロアも有
していない。
【００２９】水平カムフォロア６４およびラジアルカム
フォロア６６は、標準的なハードウェアであり、針状こ
ろ軸受を有する完全なユニットを形成する。従来のケー
ブルピボット配列に使用されてきた直径の大きいボール
ベアリングは、試験ヘッドアダプターリング５４のよう
な荷重の大きい操作部において有用であるが、このよう
なカムフォロアと比較すると、カムフォロアの方が安価
である。
フォロア６６は、標準的なハードウェアであり、針状こ
ろ軸受を有する完全なユニットを形成する。従来のケー
ブルピボット配列に使用されてきた直径の大きいボール
ベアリングは、試験ヘッドアダプターリング５４のよう
な荷重の大きい操作部において有用であるが、このよう
なカムフォロアと比較すると、カムフォロアの方が安価
である。
【００３０】本発明によると、２つの水平カムフォロア
６４と３つのラジアルカムフォロア６６が好ましい。水
平カムフォロウア６４は、ラジアルカムフォロア６６に
対して垂直に配置されている。さらに、２つの水平カム
フォロア６４および３つのラジアルカムフォロア６６の
うちの２つは、３番目のラジアルカムフォロア６６を、
二対の水平ラジアルカムフォロアの間の中間点に配置さ
せた状態で、交差線に沿って直線状に配置されている。
６４と３つのラジアルカムフォロア６６が好ましい。水
平カムフォロウア６４は、ラジアルカムフォロア６６に
対して垂直に配置されている。さらに、２つの水平カム
フォロア６４および３つのラジアルカムフォロア６６の
うちの２つは、３番目のラジアルカムフォロア６６を、
二対の水平ラジアルカムフォロアの間の中間点に配置さ
せた状態で、交差線に沿って直線状に配置されている。
【００３１】このようなカムフォロアの配置は有利であ
る。なぜなら、このような配置はアライメント許容条件
を最小にするためである。試験ヘッドアダプターリング
５４にかけられたカンチレバー荷重を分割するために、
カムフォロアは一列になっていなければならない。もし
、３つの水平カムフォロア６４が使用される場合には、
適切に荷重を分割するように、例えば、それらは、ラジ
アルカムフォロア６６と垂直になっていなければならず
、しかも、一列になっていなければならない。２つの水
平カムフォロア６４しか使用していないため、垂直性は
それほど重要ではなく、アライメント許容もより容易に
成し遂げられる。
る。なぜなら、このような配置はアライメント許容条件
を最小にするためである。試験ヘッドアダプターリング
５４にかけられたカンチレバー荷重を分割するために、
カムフォロアは一列になっていなければならない。もし
、３つの水平カムフォロア６４が使用される場合には、
適切に荷重を分割するように、例えば、それらは、ラジ
アルカムフォロア６６と垂直になっていなければならず
、しかも、一列になっていなければならない。２つの水
平カムフォロア６４しか使用していないため、垂直性は
それほど重要ではなく、アライメント許容もより容易に
成し遂げられる。
【００３２】試験ヘッド５６は、様々な方法で試験ヘッ
ドアダプターリング５４に取り付けられる。試験ヘッド
５６とリング試験ヘッドアダプターリング５４との連結
の３つの実施態様が図面に例示されている。まず、図２
（ｂ）から参照すると、試験ヘッド取付け台８６は、試
験ヘッドアダプターリング５４の内周面８８に取り付け
られる。試験ヘッド取付け台８６内の挿入孔９２に嵌合
するラジアルスクリュー、ピン等の部材９０は、試験ヘ
ッド取付け台８６を位置決めするために使用される。一
端が、試験ヘッド５６に取り付けられているロッド９４
は、試験ヘッド取付け台８６に取り付けられている（試
験ヘッド取付け台８６と一体となっている）。ロッド９
４は、試験ヘッド取付け台８６を越えて延びており、そ
の他端が伸縮ケーブル支持体５８に取り付けられている
。
ドアダプターリング５４に取り付けられる。試験ヘッド
５６とリング試験ヘッドアダプターリング５４との連結
の３つの実施態様が図面に例示されている。まず、図２
（ｂ）から参照すると、試験ヘッド取付け台８６は、試
験ヘッドアダプターリング５４の内周面８８に取り付け
られる。試験ヘッド取付け台８６内の挿入孔９２に嵌合
するラジアルスクリュー、ピン等の部材９０は、試験ヘ
ッド取付け台８６を位置決めするために使用される。一
端が、試験ヘッド５６に取り付けられているロッド９４
は、試験ヘッド取付け台８６に取り付けられている（試
験ヘッド取付け台８６と一体となっている）。ロッド９
４は、試験ヘッド取付け台８６を越えて延びており、そ
の他端が伸縮ケーブル支持体５８に取り付けられている
。
【００３３】図３（ａ）は、試験ヘッド５６と試験ヘッ
ドアダプターリング５４との間の異なる取付を示す。こ
の実施態様において、試験ヘッドを支持するケーブル、
ハーネスまたはヨーク９６が、試験ヘッド取付け台８６
およびロッド９４のような付加構造を使用して、直接試
験ヘッドアダプターリング５４に取り付けられている。 従来のスクリュー、ボールト、ピン等の部材９８は、ヨ
ーク９６等の要素を取り付けるために使用される。図３
（ｂ）に示されるように、スペーサー１００が試験ヘッ
ドアダプターリング５４とヨーク９６との間に設けられ
て、回転時にケーブルピボットハウジング５２およびヨ
ーク９６の間に圧接部が形成されることを防止している
。
ドアダプターリング５４との間の異なる取付を示す。こ
の実施態様において、試験ヘッドを支持するケーブル、
ハーネスまたはヨーク９６が、試験ヘッド取付け台８６
およびロッド９４のような付加構造を使用して、直接試
験ヘッドアダプターリング５４に取り付けられている。 従来のスクリュー、ボールト、ピン等の部材９８は、ヨ
ーク９６等の要素を取り付けるために使用される。図３
（ｂ）に示されるように、スペーサー１００が試験ヘッ
ドアダプターリング５４とヨーク９６との間に設けられ
て、回転時にケーブルピボットハウジング５２およびヨ
ーク９６の間に圧接部が形成されることを防止している
。
【００３４】図４は、試験ヘッド５６と試験ヘッドアダ
プターリング５４との間の取付の第３実施態様を例示す
る。突起部１０２は、試験ヘッド５６上に形成されてい
る。突起部１０２は、従来の手段によって、直接試験ヘ
ッドアダプターリング５４に取り付けられる。
プターリング５４との間の取付の第３実施態様を例示す
る。突起部１０２は、試験ヘッド５６上に形成されてい
る。突起部１０２は、従来の手段によって、直接試験ヘ
ッドアダプターリング５４に取り付けられる。
【００３５】上記の図３（ａ）に示す第２実施態様およ
び図４に示す第３実施態様において、試験ヘッド５６は
、試験ヘッド５６と最も密接に隣接する試験ヘッドアダ
プターリング５４の面１０４に直接取り付けられている
。既知のスプリットリングケーブルピボットは、図２（
ａ）に示される第１実施態様と同様に、ケーブルピボッ
トの内周面８８にのみ取り付けられるようになっている
。なぜなら、既知のケーブルピボットは閉塞しているが
、本発明のケーブルピボットハウジング５２の対向側壁
７０は開口しているため、試験ヘッドアダプターリング
５４の面１０４に接近することが可能になっているから
である。
び図４に示す第３実施態様において、試験ヘッド５６は
、試験ヘッド５６と最も密接に隣接する試験ヘッドアダ
プターリング５４の面１０４に直接取り付けられている
。既知のスプリットリングケーブルピボットは、図２（
ａ）に示される第１実施態様と同様に、ケーブルピボッ
トの内周面８８にのみ取り付けられるようになっている
。なぜなら、既知のケーブルピボットは閉塞しているが
、本発明のケーブルピボットハウジング５２の対向側壁
７０は開口しているため、試験ヘッドアダプターリング
５４の面１０４に接近することが可能になっているから
である。
【００３６】もし、面１０４の厚さが十分に厚い場合に
は、試験ヘッド５６を、既知のスプリットケーブルピボ
ット内の試験ヘッドアダプターリング５４の面に直接取
り付けることは、理論上可能である。面１０４は、露出
されるように、対向側壁７０上に形成されているリップ
を越えて延びていなければならない。さらに、周辺ガイ
ドは、既知のスプリットリングケーブルピボットにおけ
る面１０４中に形成されているため、面１０４の厚さは
、周辺ガイドの形成および試験ヘッド５６の取付の両方
を可能にするのに十分な厚さでなければならない。
は、試験ヘッド５６を、既知のスプリットケーブルピボ
ット内の試験ヘッドアダプターリング５４の面に直接取
り付けることは、理論上可能である。面１０４は、露出
されるように、対向側壁７０上に形成されているリップ
を越えて延びていなければならない。さらに、周辺ガイ
ドは、既知のスプリットリングケーブルピボットにおけ
る面１０４中に形成されているため、面１０４の厚さは
、周辺ガイドの形成および試験ヘッド５６の取付の両方
を可能にするのに十分な厚さでなければならない。
【００３７】しかし、面１０４の厚さは、システム全体
の幾何学上重要であるため、最小にしなければならない
。このように、既知のスプリットリングケーブルピボッ
ト内の試験ヘッドアダプターリング５４の面１０４に試
験ヘッド５６を直接取り付けることは可能ではない。 カンチレバー荷重の重心が試験ヘッドアダプターリング
５４の中心を通過するように、試験ヘッドアダプターリ
ング５４の外径は、試験ヘッド５６の厚さよりも小さく
なければならない。さらに、特に試験ヘッドアダプター
リング５４が試験ヘッド５６の上部に位置する結合台の
頂部表面よりも下になるように、外径は小さく保たれて
大きな操作部への結合の邪魔にならないようにしなけれ
ばならない。試験ヘッドアダプターリング５４の外径に
制限があると、試験ヘッドアダプターリング５４の内径
は、面１０４の厚さが増加するにつれて減少しなければ
ならない。しかし、内径は、比較的大きなケーブルが試
験ヘッド５６まで通過するように十分な大きさでなけれ
ばならない。開口ケーブルピボットハウジング５２を設
けることによって、本発明には、取り付けに有利な薄い
面１０４を取り入れることが可能になる。
の幾何学上重要であるため、最小にしなければならない
。このように、既知のスプリットリングケーブルピボッ
ト内の試験ヘッドアダプターリング５４の面１０４に試
験ヘッド５６を直接取り付けることは可能ではない。 カンチレバー荷重の重心が試験ヘッドアダプターリング
５４の中心を通過するように、試験ヘッドアダプターリ
ング５４の外径は、試験ヘッド５６の厚さよりも小さく
なければならない。さらに、特に試験ヘッドアダプター
リング５４が試験ヘッド５６の上部に位置する結合台の
頂部表面よりも下になるように、外径は小さく保たれて
大きな操作部への結合の邪魔にならないようにしなけれ
ばならない。試験ヘッドアダプターリング５４の外径に
制限があると、試験ヘッドアダプターリング５４の内径
は、面１０４の厚さが増加するにつれて減少しなければ
ならない。しかし、内径は、比較的大きなケーブルが試
験ヘッド５６まで通過するように十分な大きさでなけれ
ばならない。開口ケーブルピボットハウジング５２を設
けることによって、本発明には、取り付けに有利な薄い
面１０４を取り入れることが可能になる。
【００３８】受け入れ可能な操作として、他の構成要素
のなかで、ケーブルおよび試験ヘッド５６によって作ら
れたカンチレバー荷重が試験ヘッドアダプターリング５
４において平衡となるようにすることが非常に重要であ
る。例えば、ケーブルが、重心Ｃｇに対して対称に試験
ヘッド５６に接続されない場合には、カンチレバーの重
心Ｃｇは対称的に整列されない（ケーブルは、特定に設
計された試験ヘッド５６の周縁に取り付けられる）。こ
のようなミスアラインメントは、平衡性をさらに悪化さ
せる。
のなかで、ケーブルおよび試験ヘッド５６によって作ら
れたカンチレバー荷重が試験ヘッドアダプターリング５
４において平衡となるようにすることが非常に重要であ
る。例えば、ケーブルが、重心Ｃｇに対して対称に試験
ヘッド５６に接続されない場合には、カンチレバーの重
心Ｃｇは対称的に整列されない（ケーブルは、特定に設
計された試験ヘッド５６の周縁に取り付けられる）。こ
のようなミスアラインメントは、平衡性をさらに悪化さ
せる。
【００３９】図１は、平衡が成し遂げられている１つの
方法である。スプリングアセンブリ１０６は、スプリン
グハウジング１０８を通してリストハウジング３６に取
り付けられている。スプリングハウジング１０８内には
、２つの別々のスプリングが設けられてており、カンチ
レバー荷重を補償している。ケーブルピボットハウジン
グ５２の荷重側（ｘ軸の正方向）において、スプリング
ハウジング１０８は、ディスクスプリング（図示されて
いない）を有している。このディスクスプリングは、ピ
ストン（図示されていない）によってガイドされ、スプ
リングスクリュー１１０によって取り付けられている。 ジンバルピン１１２は、ディスクスプリングおよびスプ
リングアセンブリー１０６のピストンアセンブリーをリ
ストアセンブリー２２に接続している。ケーブルピボッ
トハウジング５２の荷重側と対向して（ｘ軸の負方向に
）、スプリングハウジング１０８は、コイルスプリング
（図示されていない）を有している。このコイルまたは
圧縮スプリングは、ピストン（図示されていない）によ
ってガイドされ、コイルスプリングスクリュー１１４に
よって調整されている。ジンバルピン（図示されていな
い）は、コイルスプリングおよびスプリングアセンブリ
ー１０６のピストンアセンブリをリストアセンブリー２
２に接続している。コイルスプリングは、ディスクスプ
リングに特有の許容を補償するための較正用として使用
されている。
方法である。スプリングアセンブリ１０６は、スプリン
グハウジング１０８を通してリストハウジング３６に取
り付けられている。スプリングハウジング１０８内には
、２つの別々のスプリングが設けられてており、カンチ
レバー荷重を補償している。ケーブルピボットハウジン
グ５２の荷重側（ｘ軸の正方向）において、スプリング
ハウジング１０８は、ディスクスプリング（図示されて
いない）を有している。このディスクスプリングは、ピ
ストン（図示されていない）によってガイドされ、スプ
リングスクリュー１１０によって取り付けられている。 ジンバルピン１１２は、ディスクスプリングおよびスプ
リングアセンブリー１０６のピストンアセンブリーをリ
ストアセンブリー２２に接続している。ケーブルピボッ
トハウジング５２の荷重側と対向して（ｘ軸の負方向に
）、スプリングハウジング１０８は、コイルスプリング
（図示されていない）を有している。このコイルまたは
圧縮スプリングは、ピストン（図示されていない）によ
ってガイドされ、コイルスプリングスクリュー１１４に
よって調整されている。ジンバルピン（図示されていな
い）は、コイルスプリングおよびスプリングアセンブリ
ー１０６のピストンアセンブリをリストアセンブリー２
２に接続している。コイルスプリングは、ディスクスプ
リングに特有の許容を補償するための較正用として使用
されている。
【００４０】図１、図２（ａ）、図２（ｂ）、図３（ａ
）、図３（ｂ）および図４に示される本発明の実施態様
は、カンチレバー荷重の平衡を保つために、スプリング
アセンブリー１０６を使用している。図５に示すように
、オフセット位置に試験ヘッドアダプターリング５４を
設けることによって、スプリングアセンブリーを使用せ
ずに、荷重の平衡を保つことも可能である。荷重の重心
が、ｘ軸方向に試験ヘッドアダプターリング５４の中心
およびｚ軸方向にフランジ４８の中心を確実に通過する
ように、ビーム５０がｚ型形状に形成されている。 あるいは、図３（ａ）に示すように、ヨーク９６のアー
ムを通してＣｇ軸中にＣｇをピボットを確立することに
よって、スプリングアセンブリーを使用することなく荷
重の平衡が保たれる。
）、図３（ｂ）および図４に示される本発明の実施態様
は、カンチレバー荷重の平衡を保つために、スプリング
アセンブリー１０６を使用している。図５に示すように
、オフセット位置に試験ヘッドアダプターリング５４を
設けることによって、スプリングアセンブリーを使用せ
ずに、荷重の平衡を保つことも可能である。荷重の重心
が、ｘ軸方向に試験ヘッドアダプターリング５４の中心
およびｚ軸方向にフランジ４８の中心を確実に通過する
ように、ビーム５０がｚ型形状に形成されている。 あるいは、図３（ａ）に示すように、ヨーク９６のアー
ムを通してＣｇ軸中にＣｇをピボットを確立することに
よって、スプリングアセンブリーを使用することなく荷
重の平衡が保たれる。
【００４１】図面には例示していないが、通常、本発明
のケーブルピボットの一部分として、従来のケーブルピ
ボットロックノブが存在する。このようなピボットロッ
クノブは、通常、ケーブルピボットハウジング５２内に
配置され、試験ヘッドアダプターリング５４を定位置に
あるロックリング５４に嵌合させる。本発明は、支持構
造、位置決め装置、一側面が完全に開口した実質的に円
形の通路を規定するケーブルピボットハウジング、スプ
リット試験ヘッドアダプターリング、試験ヘッド、試験
キャビネット、ケーブルおよび伸縮ケーブル支持体を有
する、装置試験システムにおける実施態様として本願中
に例示し、記載されているが、本発明は、これらの詳細
な説明に限定されるものではない。むしろ、請求の範囲
と同等の範囲内で、本発明の精神を逸脱することがなけ
れば、様々な変形が可能であり得る。特に、例えば、試
験ヘッドアダプターリングは、２つに分割されて示され
ているが、異なる多数の部分に分割することも可能であ
る。
のケーブルピボットの一部分として、従来のケーブルピ
ボットロックノブが存在する。このようなピボットロッ
クノブは、通常、ケーブルピボットハウジング５２内に
配置され、試験ヘッドアダプターリング５４を定位置に
あるロックリング５４に嵌合させる。本発明は、支持構
造、位置決め装置、一側面が完全に開口した実質的に円
形の通路を規定するケーブルピボットハウジング、スプ
リット試験ヘッドアダプターリング、試験ヘッド、試験
キャビネット、ケーブルおよび伸縮ケーブル支持体を有
する、装置試験システムにおける実施態様として本願中
に例示し、記載されているが、本発明は、これらの詳細
な説明に限定されるものではない。むしろ、請求の範囲
と同等の範囲内で、本発明の精神を逸脱することがなけ
れば、様々な変形が可能であり得る。特に、例えば、試
験ヘッドアダプターリングは、２つに分割されて示され
ているが、異なる多数の部分に分割することも可能であ
る。
【００４２】
【発明の効果】本発明の電子装置試験システムは、この
ように、試験ヘッドに連結されたケーブルが確実に保護
され、しかも、試験ヘッドの配置を適切に設定すること
ができる。
ように、試験ヘッドに連結されたケーブルが確実に保護
され、しかも、試験ヘッドの配置を適切に設定すること
ができる。
【図１】本発明に従って組み立てた装置試験システムの
支持構造を、システムの６自由度と共に示す斜視図であ
る。
支持構造を、システムの６自由度と共に示す斜視図であ
る。
【図２】（ａ）は本発明に従って組み立てた装置試験シ
ステムの試験ヘッドアダプターリング支持構造、および
テストヘッドとリングとの間の接続機構の第１実施態様
の斜視図である。 （ｂ）は（ａ）に示される装置試験システムのさらに詳
細な斜視図である。
ステムの試験ヘッドアダプターリング支持構造、および
テストヘッドとリングとの間の接続機構の第１実施態様
の斜視図である。 （ｂ）は（ａ）に示される装置試験システムのさらに詳
細な斜視図である。
【図３】（ａ）は本発明に従って組み立てた装置試験シ
ステムの試験ヘッドアダプターリング支持構造、および
テストヘッドとリングとの間の接続機構の第２実施態様
の斜視図である。 （ｂ）は（ａ）に示される装置試験システムのさらに詳
細な斜視図である。
ステムの試験ヘッドアダプターリング支持構造、および
テストヘッドとリングとの間の接続機構の第２実施態様
の斜視図である。 （ｂ）は（ａ）に示される装置試験システムのさらに詳
細な斜視図である。
【図４】本発明に従って組み立てた装置試験システムの
試験ヘッドアダプターリング支持構造、およびテストヘ
ッドとリングとの間の接続機構の第３実施態様の斜視図
である。
試験ヘッドアダプターリング支持構造、およびテストヘ
ッドとリングとの間の接続機構の第３実施態様の斜視図
である。
【図５】オフセット保持アームを有する試験ヘッドアダ
プターリング支持構造の斜視図である。
プターリング支持構造の斜視図である。
１０ メインシャフト
１２ 位置決め装置
１４ メインロックカラー
１６ メインロック
１８ メインアーム
２０ 前腕アセンブリー
２２ リストアセンブリー
２８ 垂直エルボシャフト
３６ リストハウジング
３８ 垂直リストシャフト
４０ 垂直リストロック
４２ 水平リストロック
４４ 水平リストシャフト
４６ ケーブルピボットアダプター
４８ フランジ
５０ ビーム
５２ ケーブルピボットハウジング
５４ 試験ヘッドアダプターリング
５６ 試験ヘッド
５８ 伸縮ケーブル支持体
６０ リップ
６４ 水平カム従フォロア
６６ ラジアルカムフォロア
６８ 内部ラジアル面
７２ ハーフリング
７４ ハーフリング
７６ 合わせピン
７８ リング保持部材
８２ ガイド
８４ ラジアル溝
８６ 試験ヘッド取付け台
９６ ロッド
Claims (11)
- 【請求項１】電子装置を評価するための電子装置試験シ
ステムであって、移動可能な位置決め装置と、一端にお
いて部分的に閉塞され他端においては完全に開口した実
質的に円形の通路を規定するラジアル内周面と、ハウジ
ングの一端のみに設けられたリップとを有する半円形ケ
ーブルピボットハウジングと、該ケーブルピボットハウ
ジングを前記位置決め装置に取り付ける第１取付手段と
、第１ハーフリングおよび第２ハーフリングを有する試
験ヘッドアダプターリングと、該試験ヘッドアダプター
リングの該第１ハーフリングを該試験ヘッドアダプター
リングの該第２ハーフリングに連結する連結手段と、該
ケーブルピボットハウジングの該実質的に円形の通路に
、該試験ヘッドアダプターリングを回転可能に配置する
手段と、試験ヘッドと、該試験ヘッドの回転運動のため
の該試験ヘッドアダプターリングに該試験ヘッドを取り
付ける第２取付手段と、該試験ヘッドに連結されており
、該試験ヘッドアダプターリングを通過するケーブルと
、を有する電子装置試験システム。 - 【請求項２】前記連結手段が、 （ａ）それぞれが試験ヘッドアダプターリングの前記第
１ハーフリング上に複数の挿入孔を有する一対の端面と
、 （ｂ）前記挿入孔に嵌合するように、しかも、該試験ヘ
ッドアダプターリングの第１ハーフリングと前記第２ハ
ーフリングとが連結する接続部を形成するように、該試
験ヘッドアダプターリングの前記第２ハーフ上に形成さ
れた複数の対応合わせピンと、 （ｃ）該接続部上の該試験ヘッドアダプターリングに取
り付けられ、該通路中の該合わせピンを保持する少なく
とも一対のリング保持部材と、を有する請求項１に記載
の電子装置試験システム。 - 【請求項３】前記回転可能な位置決め手段が、（ａ）前
記ケーブルピボットハウジングの前記一端上に設けられ
た前記リップに隣接しており、ガイドが形成された前記
試験ヘッドアダプターリングの面と、（ｂ）ラジアル溝
を有する前記試験ヘッドアダプターリングの周辺部と、 （ｃ）該ガイドに嵌合するように、該ケーブルピボット
ハウジングの該リップ上に位置する複数の水平カムフォ
ロアと、 （ｄ）該ラジアル溝に嵌合するように、該ケーブルピボ
ットハウジングのラジアル内周面に位置する複数のラジ
アルカムフォロアと、を有する請求項１に記載の電子装
置試験システム。 - 【請求項４】前記水平カムフォロアが該ラジアルカムフ
ォロアと垂直に配置されている請求項３に記載の電子装
置試験システム。 - 【請求項５】２つの水平カムフォロアおよび３つのラジ
アルカムフォロアが存在する請求項４に記載の電子装置
試験システム。 - 【請求項６】前記２つの水平カムフォロアおよび前記３
つのラジアルカムフォロアの２つが仮想交差線に沿って
直線状に配置される請求項５に記載の電子装置試験シス
テム。 - 【請求項７】前記第２取付手段が、 （ａ）前記試験ヘッドアダプターリング上に形成された
内周面と、 （ｂ）前記試験ヘッドアダプターリングの該内周面に取
り付けられた試験ヘッドと、 （ｃ）一端に該試験ヘッドを配置して、該試験ヘッドの
据え付け部に嵌合するロッドと、を有する請求項１に記
載の電子装置試験システム。 - 【請求項８】前記第２取付手段が、前記試験ヘッドアダ
プターリングに直接取り付けられた前記試験ヘッドを支
持し、かつ、該試験ヘッドを少なくとも部分的に覆うヨ
ークを有する請求項１に記載の電子装置試験システム。 - 【請求項９】前記第２取付手段が、前記試験ヘッド上に
形成され、前記試験ヘッドアダプターリングに直接連結
された突起部を有する請求項１に記載の電子装置試験シ
ステム。 - 【請求項１０】前記試験ヘッドアダプターリングの外径
が、前記試験ヘッドの厚さよりも小さい請求項１に記載
の電子装置試験システム。 - 【請求項１１】前記試験ヘッドアダプターリングによっ
て伝えられたカンチレバー荷重の重心が、前記スプリッ
トリングケーブルピボットの中心を通過する請求項１に
記載の電子装置試験システム。
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