JPH0423316A - Developing apparatus - Google Patents
Developing apparatusInfo
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- JPH0423316A JPH0423316A JP2123276A JP12327690A JPH0423316A JP H0423316 A JPH0423316 A JP H0423316A JP 2123276 A JP2123276 A JP 2123276A JP 12327690 A JP12327690 A JP 12327690A JP H0423316 A JPH0423316 A JP H0423316A
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- temperature
- developer
- liquid
- distribution
- regulators
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- Pending
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- Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は半導体製造プロセスや光メモリーのマスタリン
グに用いられる現像装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a developing device used in semiconductor manufacturing processes and optical memory mastering.
[従来の技術]
従来から、半導体の製造プロセスや光メモリーのマスタ
リングにおいては、ウェハやガラス原盤上に塗布したレ
ジストをレーザー光等の光で感光させたのち、第8図に
示すようにターンテーブル上にウェハまたはガラス原盤
を載せ、ターンテーブルを回転させながら、一定温度の
現像液をガラス原盤上に吐出する現像装置が用いられて
きた。[Prior Art] Conventionally, in semiconductor manufacturing processes and optical memory mastering, a resist coated on a wafer or glass master is exposed to light such as a laser beam, and then a turntable is used as shown in Figure 8. A developing device has been used in which a wafer or a glass master is placed thereon, and a turntable is rotated to discharge a developer at a constant temperature onto the glass master.
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、従来の現像装置は光メモリーのマスタリ
ングにおけるレーザーカッティング工程で、レーザーパ
ワーに面内変動が生じた場合、その面内パワー変動がそ
のまま現像上がりの特性に面内変動として反映され、結
果として面内の均一性を保つことができないという問題
点を有していた。また、現像条件が面内で均一であると
いう前提のもとでは、光メモリーのマスタリングにおけ
るレーザーカッティングで多用される角速度一定(回転
数一定)のレーザーカッティングにおいては、ガラス原
盤の内周側より外周側のほうが線速度が大きいため、カ
ッティング条件を面内で一定に保つには、レーザーパワ
ーが線速度に比例した値になるように制御しなければな
らないという問題点を有していた。[Problems to be Solved by the Invention] However, with conventional developing devices, when in-plane fluctuations occur in the laser power during the laser cutting process in optical memory mastering, the in-plane power fluctuations directly affect the characteristics of the finished development. This is reflected as intra-plane variation, and as a result, there is a problem in that in-plane uniformity cannot be maintained. Furthermore, under the premise that the development conditions are uniform within the plane, in laser cutting at a constant angular velocity (constant rotation speed), which is often used in laser cutting for optical memory mastering, it is possible to Since the linear velocity is higher on the outer circumferential side, there was a problem in that in order to keep the cutting conditions constant within the plane, the laser power had to be controlled to a value proportional to the linear velocity.
そこで本発明はこのような課題を解決しようとするもの
で、その目的とするところは、ウェハやガラス原盤の感
光面の現像上がりの面性状が均一となるように現像する
ことのできる現像装置を安価に提供するところにある。The present invention aims to solve these problems, and its purpose is to provide a developing device that can develop the photosensitive surface of a wafer or glass master so that the surface quality after development is uniform. It is available at a low price.
[課題を解決するための手段]
本発明の現像装置は半導体製造プロセスや光メモリーの
マスタリングに用いられる現像装置において、複数の現
像液液温調節機構を有し、現像液吐出口が1つまたは複
数であって、該吐出口の各々から吐出される現像液が温
度勾配を有することを特徴とする。[Means for Solving the Problems] The developing device of the present invention is a developing device used in a semiconductor manufacturing process or optical memory mastering, and has a plurality of developer liquid temperature adjustment mechanisms, and has one or more developer discharge ports. It is characterized in that the developer discharged from each of the plurality of discharge ports has a temperature gradient.
[作用コ
本発明の現像装置によれば、現像液吐出口の現像液の液
温分布を制御することによって現像能力の面内分布を制
御することができるから、レーザーカッティング時のレ
ーザーパワーの面内変動を打ち消すように現像を行い、
面内で均一な性状の現像上がり品を得ることができる。[Function] According to the developing device of the present invention, the in-plane distribution of the developing ability can be controlled by controlling the temperature distribution of the developer at the developer discharge port. Developed to cancel out internal fluctuations,
It is possible to obtain a developed product with uniform properties within the surface.
[実施例] 以下に、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。[Example] Embodiments of the present invention will be described below based on the drawings.
第1図において、ガラス原盤1はターンテーブル2上に
固定されており、ターンテーブル2の回転に伴って回転
する。現像液吐804から現像液9がガラス原盤1上に
滴下され、レジスト層3が現像される。現像液はチャン
バー5から分配バイブロa〜6eを通って液温調節器7
a〜7eに分配される。チャンバー5は厳密な室温制御
がなされた室温環境中に設置されるか、チャンバー自体
が温度調節機構を有し、現像液の温度を一定に保ってい
る。分配バイブロa〜6eに分配される現像液は全て同
一温度、同一濃度である。分配バイブロa〜6eを通っ
た現像液は、温度調節器7a〜7eに入って液温の制御
を受ける。液温制御方法は、ヒーターとクーラーの組合
せによるものが一般的であるが、ヒーターのみまたは、
クーラーのみであってもある程度の制御は可能である。In FIG. 1, a glass master disk 1 is fixed on a turntable 2, and rotates as the turntable 2 rotates. The developer 9 is dripped onto the glass master 1 from the developer discharge 804, and the resist layer 3 is developed. The developer passes from the chamber 5 through the distribution vibros a to 6e to the liquid temperature controller 7.
Distributed to a to 7e. The chamber 5 is installed in a room temperature environment with strict room temperature control, or the chamber itself has a temperature adjustment mechanism to keep the temperature of the developer constant. The developing solutions distributed to the distribution vibros a to 6e are all at the same temperature and have the same concentration. The developer that has passed through the distribution vibros a to 6e enters temperature regulators 7a to 7e, where the temperature of the developer is controlled. The liquid temperature control method generally uses a combination of a heater and a cooler;
A certain degree of control is possible even with only a cooler.
温度調節器7a、7b、7c、7d及び7eはそれぞれ
独立した温度調節器であって、温度の設定は、独立に行
うことができる。液温の調節を受けた現像液は連絡バイ
ブ8a〜8eを通って吐出口4に達し、ガラス原盤1上
に吐出現像液9として滴下される。現像液9は吐出口4
で混合し合っているため、現像時のa−eの現像液の温
度分布は連続した緩やかなものとなる。The temperature regulators 7a, 7b, 7c, 7d, and 7e are independent temperature regulators, and the temperature can be set independently. The developing solution whose liquid temperature has been adjusted reaches the discharge port 4 through the communication vibrators 8a to 8e, and is dripped onto the glass master 1 as a developing solution 9. The developer 9 is discharged from the discharge port 4.
Since they are mixed together, the temperature distribution of the developing solutions a to e during development becomes continuous and gradual.
第2図に、レーザーカッティング時にレーザーパワーが
カッティング対象物の面内で変動した例を示す。この場
合、半径位置が変化するにつれてレーザーパワーが変動
している。内周Aからカッティングを開始し、外周に行
くに従ってレーザーパワーが小さくなり、Bを過ぎて、
Cで極小を示し、Cを過ぎると増大し始め、外周に行く
にしたがって大きくなる。点A−Eがそれぞれ第1図の
レジスト層3における点a−eに対応するとすれば、第
1図のレジスト層3の中では、点Cが受けたレーザーパ
ワーが最も小さいことになる。従来の現像装置で、第2
図のようにカッティングされたレジスト付きガラス原盤
を現像した場合、全面が同一現像条件で現像されるため
、現像後の面性状は、不均一になってしまう。第2図点
C付近の溝やビットは点Aや点E付近の溝やビットに較
べて、細くなってしまう現象が起こるのである。特にカ
ッティング時のレーザーパワーを通常より小さくして、
レジスト層の厚さよりも浅い溝やビットを形成する場合
、レーザーパワーのわずかな変動が溝やビットの形状に
大きな影響を及ぼすため、所望の溝やビットの形状を形
成するためには、レーザーカッティング時のレーザーパ
ワーの管理が大きな課題となっていた。こういったレー
ザーパワーの変動が生じた場合、第3図のように現像液
の現像能力を半径位置に応じて変動させることによって
、均一な面性状のスタンバを得ることができる。一般的
に現像液は、現像最適温度で使用する事が原則であり、
液温か最適温度から外れると現像能力が落ちる。従って
、第3図の様な現像能力の分布を得るためには、第4図
に示したように、点Cが現像最適温度アとなり、レーザ
ーパワーが大きい場所はど現像最適温度から外れるよう
に現像液の液温を管理すれば良いのである。このように
現像液の温度分布をカッティング時のレーザーパワーの
分布に応じて制御することによって、厳密にビット及び
グループの幅、形状、深さを制御することが可能となる
。FIG. 2 shows an example in which the laser power fluctuates within the plane of the object to be cut during laser cutting. In this case, the laser power is varying as the radial position changes. Cutting starts from the inner circumference A, and the laser power decreases toward the outer circumference until it passes B.
It shows a minimum at C, begins to increase after C, and increases toward the outer periphery. If points A-E correspond to points a-e in resist layer 3 of FIG. 1, respectively, then point C receives the smallest laser power in resist layer 3 of FIG. With a conventional developing device, the second
When a resist-coated glass master disc that has been cut as shown in the figure is developed, the entire surface is developed under the same development conditions, so the surface quality after development becomes non-uniform. A phenomenon occurs in which the grooves and bits near point C in the second figure become thinner than the grooves and bits near points A and E. Especially when cutting the laser power is lower than usual,
When forming grooves or bits that are shallower than the thickness of the resist layer, slight fluctuations in laser power have a large effect on the shape of the grooves or bits, so laser cutting is required to form the desired groove or bit shape. Managing laser power during this time was a major issue. When such a variation in laser power occurs, a stand bar with uniform surface quality can be obtained by varying the developing ability of the developer according to the radial position as shown in FIG. In general, the general rule is to use the developer at the optimum temperature for development.
If the liquid temperature deviates from the optimum temperature, the developing ability will decrease. Therefore, in order to obtain the distribution of developing ability as shown in Fig. 3, as shown in Fig. 4, point C should be the optimum developing temperature A, and points where the laser power is high should deviate from the optimum developing temperature. All you have to do is control the temperature of the developer. By controlling the temperature distribution of the developer according to the distribution of laser power during cutting in this manner, it becomes possible to precisely control the width, shape, and depth of the bits and groups.
また、カッティング時の回転数制御方法には、線速度一
定に保つ方法と角速度一定(回転数−定)に保つ方法が
ある。線速度一定でカッティングする方法は、セクター
マーク等の信号をカッティングするには同期をとる技術
が複雑になる反面、カッティングレーザーパワーが一定
でよいという面を有する。音楽用のコンパクトディスク
はこの方式でカッティングしている。これに対して、角
速度一定でカッティングする方法は、セクターマーク等
の信号をカッティングする場合の同期は容易にとること
ができるが、内周側より外周側の方が線速度が大きいた
め、第5図に示すようにカッティングレーザーパワーを
線速度に比例した値に制御する必要がある。このように
カッティングレーザーパワーを漸増させる制御をするに
は、複雑な制御系が必要になる。そこで、角速度一定で
カッティングする場合、レーザーパワーを一定に保ちな
がら面内で均一な面性状を得るために、第6図に示すよ
うな現像方法をとると良い。すなわち、現像液の現像能
力を外周に向かうほど高くするのである。レーザーパワ
ーを一定に保ちながら角速度一定でレーザーカッティン
グされたレジスト付きガラス原盤は、外周へ向かうほど
照射された実質レーザーパワーが小さくなっているから
、第6図に示したような現像方法をとることによって、
面内均一性を有する現像上がりのガラス原盤を得ること
ができる。Furthermore, methods for controlling the rotational speed during cutting include a method of keeping the linear velocity constant and a method of keeping the angular velocity constant (rotational speed - constant). The method of cutting at a constant linear velocity requires a complicated technique for synchronization when cutting signals such as sector marks, but has the advantage that the cutting laser power can be kept constant. Compact discs for music are cut using this method. On the other hand, with the method of cutting at a constant angular velocity, synchronization can be easily achieved when cutting signals such as sector marks, but since the linear velocity is higher on the outer circumference side than on the inner circumference side, As shown in the figure, it is necessary to control the cutting laser power to a value proportional to the linear velocity. In order to control the cutting laser power to be gradually increased in this way, a complicated control system is required. Therefore, when cutting at a constant angular velocity, it is preferable to use a developing method as shown in FIG. 6 in order to obtain uniform surface texture within the surface while keeping the laser power constant. That is, the developing ability of the developer is increased toward the outer periphery. For a resist-coated glass master disc that has been laser cut at a constant angular velocity while keeping the laser power constant, the effective laser power irradiated becomes smaller toward the outer periphery, so the developing method shown in Figure 6 should be used. By,
A developed glass master having in-plane uniformity can be obtained.
第7図に本発明の現像装置の他の実施例を示す。FIG. 7 shows another embodiment of the developing device of the present invention.
現像液はチャンバー5からバイブ10を通って液温調節
器11a〜lleに分配される。液温調節器11a〜1
1eは吐出口4の直前に設置し、吐出する現像液の経路
を短くする。こうすることによって、液温調節器によっ
て液温調節された現像液の温度が変動しにくくなる。こ
の方式は特に、現像する環境温度が変化し易い場合に適
している。The developing solution is distributed from the chamber 5 through the vibrator 10 to the solution temperature regulators 11a to 11le. Liquid temperature regulator 11a-1
1e is installed just before the discharge port 4 to shorten the path of the developer to be discharged. This makes it difficult for the temperature of the developer whose temperature is adjusted by the liquid temperature regulator to fluctuate. This method is particularly suitable when the environmental temperature for development tends to change.
[発明の効果コ
以上述べた本発明の現像装置によれば、レーザーカッテ
ィング時のレーザーパワー変動に起因する面内不均一を
なくすことができる上、角速度−定でレーザーカッティ
ングする場合に、線速に応じたレーザーパワー制御を行
う必要がなくなるため、レーザーカッティング装置のレ
ーザーパワー制御装置を簡単なものにすることができる
。光メモリーのマスタリングにおけるレーザーカッティ
ング装置のコストは非常に大きく、レーザーパワーの制
御装置を簡単なものにすることができると、レーザーカ
ッティング装置のコストを低く抑えることができるから
、マスタリングにかかるコストを大幅に削減することが
可能となる。[Effects of the Invention] According to the developing device of the present invention described above, it is possible to eliminate in-plane non-uniformity caused by laser power fluctuations during laser cutting, and when laser cutting is performed at a constant angular velocity, the linear velocity can be reduced. Since there is no need to perform laser power control according to the laser power, the laser power control device of the laser cutting device can be simplified. The cost of laser cutting equipment for optical memory mastering is extremely large, and if the laser power control equipment can be simplified, the cost of laser cutting equipment can be kept low, which can significantly reduce the cost of mastering. This makes it possible to reduce the amount to
第1図は、本発明の現像装置の構成図。
第2図は、カッティング中のカッティングレーザーパワ
ーの変動を表す模式図。
第3図は、現像液の現像能力の半径位置に対する分布を
表す模式図。
第4図は、現像液の温度の半径位置に対する分布を表す
模式図。
第5図は、角速度一定時のカッティングレーザーパワー
と半径位置の関係を表す模式図。
第6図は、角速度一定時の現像液の現像能力と半径位置
の関係を表す模式図。
第7図は、本発明の現像装置の液温調節器を吐出口近く
に置いた場合の模式図。
第8図は、従来の現像装置を表す模式図。
ガラス原盤
4 a〜4 e −−−−−−−−−6a〜6
e −−−−−−−−−7a〜7 e −−−−−
−一−−
8a〜8 e −−−−−−−−−
9a〜9 e −−−−−−−−−11a〜 1
1 e −−−
ターンテーブル
レジスト層
現像液吐出口
チャンバー
分配バイブ
液温調節器
連絡バイブ
吐出現像液
バイブ
液温調節器
現像液吐出口
呂願人 セイコーエプソン株式会社
代理人 弁理士 鈴木 喜三部(他1名)v411!1
径
位
置
第2図
要@警C要縫雪F
ト
要
肇
制
鴨
郵
B
半
径
位
置
第5図
半
径
位
置
第7図FIG. 1 is a configuration diagram of a developing device of the present invention. FIG. 2 is a schematic diagram showing fluctuations in cutting laser power during cutting. FIG. 3 is a schematic diagram showing the distribution of the developing ability of the developer with respect to the radial position. FIG. 4 is a schematic diagram showing the distribution of the temperature of the developer with respect to the radial position. FIG. 5 is a schematic diagram showing the relationship between cutting laser power and radial position when the angular velocity is constant. FIG. 6 is a schematic diagram showing the relationship between the developing ability of the developer and the radial position when the angular velocity is constant. FIG. 7 is a schematic diagram of the developing device of the present invention when the liquid temperature regulator is placed near the discharge port. FIG. 8 is a schematic diagram showing a conventional developing device. Glass master 4 a~4 e -----------6a~6
e --------7a~7 e -------
-1-- 8a~8 e ---------- 9a~9 e ----------11a~ 1
1 e --- Turntable resist layer developer discharge outlet chamber distribution vibrator liquid temperature regulator communication vibrator discharge developing solution vibrator liquid temperature regulator developer discharge outlet applicant Seiko Epson Corporation agent Patent attorney Kizobe Suzuki ( 1 other person) v411!1 Radial position Fig. 2 required @ police C required Nuisetsu F To required 过 紲 紩 Post B Radial position Fig. 5 Radial position Fig. 7
Claims (1)
いられる現像装置において、複数の現像液液温調節機構
を有し、現像液吐出口が1つまたは複数であって、該吐
出口の各々から吐出される現像液が温度勾配を有するこ
とを特徴とする現像装置。A developing device used in a semiconductor manufacturing process or optical memory mastering has a plurality of developer liquid temperature adjustment mechanisms, one or more developer discharge ports, and a developer discharged from each of the developer discharge ports. A developing device characterized in that a liquid has a temperature gradient.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2123276A JPH0423316A (en) | 1990-05-14 | 1990-05-14 | Developing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2123276A JPH0423316A (en) | 1990-05-14 | 1990-05-14 | Developing apparatus |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0423316A true JPH0423316A (en) | 1992-01-27 |
Family
ID=14856563
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2123276A Pending JPH0423316A (en) | 1990-05-14 | 1990-05-14 | Developing apparatus |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0423316A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000228349A (en) * | 1999-02-08 | 2000-08-15 | Tokyo Electron Ltd | Substrate processing equipment |
| JP2002118057A (en) * | 2000-10-12 | 2002-04-19 | Oki Electric Ind Co Ltd | Photoresist developing nozzle, photoresist developing apparatus, and photoresist developing method |
-
1990
- 1990-05-14 JP JP2123276A patent/JPH0423316A/en active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000228349A (en) * | 1999-02-08 | 2000-08-15 | Tokyo Electron Ltd | Substrate processing equipment |
| JP2002118057A (en) * | 2000-10-12 | 2002-04-19 | Oki Electric Ind Co Ltd | Photoresist developing nozzle, photoresist developing apparatus, and photoresist developing method |
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